手机测试号大全

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三星Galaxy Note2购机小技巧,教你识别手机真伪

浏览:29792012年10月16日我要评论(0)

最近看了很多Note2的教程,现在分享来,教大家如何检验Note2,如配件,生产日期,是否有网络锁,销售地等信息!希望对大家有帮助

1-大家打开盒子的时候一定要注意开启方向,不要拿反了,否则手机会很悲剧的摔出来;

2-查看机器外观是否有损坏,按几下电源键,音量键,HOME键,看是否异常,看耳机孔,USB接口是否有灰,有被插过的痕迹;

3-检查充电器,电池,耳机是否外观完好,主要是电池,Note刚上市,电池应该不会有假,主要看触点是否有痕迹;

如果叫卖家帮刷机有可能电池会被使用过,电池芯片这边**的部分有磨砂感,另外一边则非常光滑,发亮

大家也可以扫描二维码进行确认.;

4-记下电池仓的串号,装上电池,开机,在拨号界面输入*#06#看是否一致;

5-再进入拨号界面,输入*#197328640# 进入工程模式,依次选择第二项,第二项,第四项,就可以查看机器的出厂日期;

6-再次打开拨号盘,输入*# 7465625#,可以查看手机是否有锁,off为无锁;

7-还是进入拨号盘,输入*#272*手机串号#,手机串号为*#06#查询出的串号,会出现3个字母,此为销售地,刷机可以改变此结果;

8-其他检测:*#0*# 里面有包括屏幕亮点检测,震动,重力感应,距离感应,光线感应等检测.

其他代码查询

获取/更改设备信息

*#06#(显示IMEI 号码)

*#1234#(显示当前固件)

* 2767* 4387264636#(要显示产品代码)

* IMEI号*#272#*(显示/更改地区代码)或*#272#** HHMM

*#12580* 369#(软件&硬件信息)

*#44336#(软件版本信息)

复位

*#*#7780#*#*或*#7780#(厂软复位)

* 2767* 3855#(工厂硬复位的ROM 固件默认设置)(

固件工具

*#2663#(重起固件更新)

*#34971539#(相机固件更新)

*#7412365#(相机固件菜单)或*#*#34971539#*#*

*#03#(NAND 快闪记忆体的S / N)

通用测试/调试

*#0 *#(综合测试模式)

*#*#4636#*#*(诊断和模式一般设置)

*#*#197328640#*#*(服务模式下的主菜单)

*#7353#(快速测试菜单);

无线

*#232337#(蓝牙地址)

*#232331#(蓝牙测试模式)!

*#232338#(无线局域网MAC地址)

*#232339#(WLAN 测试模式)

*#526#(无线局域网工程模式)

*#528#(无线局域网工程模式)

全球定位系统# ^- r, K5 G/ g, `' r%J

*#1575#(G P S 控制菜单)

*#*#1472365 *#*#(GPS 测试设置)

传感器

*#0588#(接近传感器测试模式)

*#0589#(光感应器测试模式)

音频

*#0673#(音频测试模式)

*#0283#(音频回传控制)

*#0289#(旋律测试模式)

按钮

( Q*#7594#(重映射关机以结束通话邓肇坚)* O0 [! U: ^ \ W& g% x. e 电池" B4 p( q! C, `2 P

*#0228#(电池状态:容量,电压,温度)

其他测试/调试

*#32489#(通话加密信息)

*#0842#(抑振电机测试模式)

*#0782#(实时时钟测试

*#2263#(射频波段选择)

*#9090#(诊断配置)

*#7284#(I2C 模式的USB 控制)

*#872564#(记录的USB 控制)

*#4238378#(GCF 的配置)

*#3214789650#(磅测试模式)

*#745#(RIL的转储菜单)

*#746#(调试转储菜单)

*#9900#(系统转储模式)

*#273283 * 255 * 3282 *#(数据创建菜单)

*#273283 * 255 * 663282 *#(数据创建SD 卡)

*#3282 * 727336 *#(资料使用情况)

*#80#(未知)

*#07#(测试历史)

*#3214789#(GCF 的模式状态)

*#272886#(自动应答选择)

*#8736364#(OTA 更新菜单)

*#301279#(HSDPA / HSUPA 的控制菜单)

* 2767* 4387264636#(出卖短信/ PCODE 观点)

*#7465625#(查看手机锁定状态)

*7465625 * 638 *#(配置网络锁定的MCC /跨国公司)

#7465625* 638 *#(插入网络锁密码)

*7465625 * 782 *#(配置网络锁定新型干法)

* 782 *#(插入Partitial 网络锁定密码)

* 77 *#(插入网络锁定密钥号码S P 法)

* 77 *#(插入操作锁密码)

*7465625 * 27 *#(插入网络锁定密钥号码新型干法/处长)#7465625* 27 *#(插入内容提供商密码)

转载自历趣:https://www.360docs.net/doc/317326715.html,/article/91589.shtml

手机基本功能测试方式

手机基本功能测试 手机基本测试软件测试 关于手机软件测试的工具应用 手机软件测试是否也和以下联系起来: 漫谈人机界面测试 【正文】本文列数了软件黑盒测试过程中,在被测试软件中可能存在的常见软件问题。本文不会详细讨论基本的软件测试思想与常用技术,仅针对在软件黑盒测试过程中若干的问题做描述,并提供个人的参考测试意见与防范意见,希望可以为初学者提供些许帮助。 俗话说“人靠衣裳马靠鞍”,良好的外观往往能够吸引眼球,激发顾客(用户)的购买欲望,最终达成商业利益的实现。软件的设计亦如此,Window XP 在商业上的巨大成功很大一方面来自于它一改往日呆板,以突出“应用”的灰色界面,从“用户体验”角度来设计界面,使界面具有较大的亲和力。就目前的软件设计的发展趋势来说,良好的人机界面设计越来越受到系统分析、设计人员的重视。但是如何对设计的人机界面(包括帮助等)进行测试,给出客观、公正的评价,却鲜见于报端。本文试从共性分析和个性分析的角度,给出一些测试意见和原则,简单且易于上手。起到一个抛砖引玉的目的、以飨读者。 我们知道:“不立规矩无以成方圆”。在软件界面设计强调张扬个性的同时,我们不能忘记软件界面的设计先要讲求规矩-简洁、一致、易用,这是一切软件界面设计和测试的必循之道,是软件人机界面在突出自我时的群体定位。美观、规整的软件人机界面破除新用户

对软件的生疏感,使老用户更易于上手、充分重用已有使用经验,并尽量少犯错误。由此我们在对软件人机界面进行测试时(设计评审阶段和系统测试阶段结合进行),不妨从下列一些角度测试软件的人机界面。 一致性测试 一致性使软件人机界面的一个基本要求。目的是使用户在使用时,很快熟悉软件的操作环境,同时避免对相关软件操作发生理解歧义。这要求我们在进行测试时,需要判断软件的人机界面是否可以作为一个整体而存在。下面是进行一致性测试的一些参考意见:――提示的格式是否一致 ――菜单的格式是否一致 ――帮助的格式是否一致 ――提示、菜单、帮助中的术语是否一致 ――各个控件之间的对齐方式是否一致 ――输入界面和输出界面在外观、布局、交互方式上是否一致 ――命令语言的语法是否一致 ――功能类似的相关界面是否在在外观、布局、交互方式上是否一致(比如商品代码检索和商品名称检索) ――存在同一产品族的时候,是否与其他产品在外观、布局、交互方式上是否一致(例:Office产品族)

电脑主板测试点(图文并茂)

主板测试点 转载: 测试点的概念 测试点是在主板维修中需要测量的各总线、接口中的关键点,其实也就是主板各接口中的特定引脚。 学习测试点的目的: ①通过测量测试点的电压、波形及对地阻值,与正常主板做比较,从而在差异中找到故障部位。 ②通过对测试点的测量,来判断某些大型集成芯片或电路中的某个回路是否存在严重短路、断路的地方。 总线的概念 PC的组成部件都是通过数据总线、地址总线和控制总线这三组,总线连接在一起并完成和实现它们之间的通信与数据传送,因此总线的概念是理解PC和主板的组成结构、工作原理及部件之间的相互关系的基础。 4.2.1概述 1.地址总线AB(Address Bus) 地址总线是用来传送地址信息的信号线,其特点是: (1)地址信号一般都是由CPU发出,当采用DMA(Direct Memory Access,即直接内存访问)方式访问内存和I/O设备时,地址信号也可以由DMA控制器发生,并被送往各个有关 的内存单元或I/O接口,实现CPU对内存或I/O设备的寻址(在PC中,内存和I/O设 备的寻址都是采用统一编址方式进行的),即采用单向传输,动态控制(在计算机中, 由于采用二进制工作方式,一般只有两种状态,即“1”和“0”,但是当计算各总线上, 显示“0”状态时,在电气上的效果相当于与总线脱离。 (2)CPU能够直接寻找内存地址的范围是由地址线的数目(由于一条地址总线一次传送一位二进制数的地址,故也叫地址总线的位数)决定的,即PC系统中所能安装内存容量上 限由CPU的地址总线的数目决定,并且符合如下关系:CPU能够直接寻址的内存范围 上限=2n(n是CPU的地址线数目)。如:目前PⅡ以上的CPU为36条地址线,即CPU 能直接寻址的内存上限为236=64G。 2.数据总线DB(DataBus) 是用来传送数据信息的信号线,这些数据信息可以是原始数据或程序。数据总线来往于CPU、内存和I/O设备之间,其特点是: ①双向传输(既可以由CPU送往内存也可以由I/O设备送往CPU)三态控制。 ②数据总线的数目(由于一条数据线一次可传送一位二进制数,故也称位数)称为数据宽度, 数据总线的宽度决定了CPU一次传的数据量,它决定了CPU的类型与档次。 3.控制总线CB(Control Bus) 控制总线是用来传送控制信息的信号线,这些控制信息包括CPU对内存和I/O接口的读/写信号,I/O接口对CPU提出的中断请求或DMA请求信号,CPU对这些I/O接口回答与响应信号,I/O 接口的各种工作状态信号以及其他各种功能控制信号。控制总线来往于CPU、内存和I/O设备

笔记本主板六大测试点

笔记本主板维修关键测试点六项详解(维修人员必知)公共点关键测试点 公共点对地打阻值正常在400---600欧之间,这个数值能反映出各个单元电路是否正常,通过公共点可以快速检测笔记本主板上的主供电是否短路。 1.公共点阻值为0 。这种情况为严重短路,各个元件之间任意一 个点都会短路。排除方法:将与主供电相连的滤波电容一个个 地断开排查,根据主板上各个单元电路,可以先找单元电路所 在电容较少的开始查起,像CPU供电的滤波电容,有20多 个,一般不会容易击穿。这类故障只要找到引起短路的原件, 更换之后就好了。 2.公共点对地阻值为几十欧到一百欧左右。这种情况为微短路, 可能是某个单元电路与主供电相连的场管击穿或阻值偏小所 致。排除方法:把与主供电相连的单元电路电感测试一下,看 哪个与公共点阻值接近,这就是重点排查对象,看一下场管是 否击穿或阻值变小,最后更换。 3.公共点对地阻值为200欧左右。这种情况一般为单元电路中 的供电芯片损坏或是相连的场管损坏,阻值偏低。排除方法: 把各单元电路中与主供电相连的场管的D极和S极之间的阻

值都测试一遍,看是否是500---600左右,然后供电芯片测 试一下,是不是短路所致。 3V和5V单元电路的电感 3V和5V单元电路的电感正常的对地读值在80---120欧之间,他们可以反映出与此相连的各个芯片、单元电路、元件是否正常,还可以快速判断3V5V是否短路造成不输出。 1.电感的对地读值为0。说明单元电路严重短路,3V、5V保护 状态,无法工作。排除方法:将与3V5V相连的电子元件一一 拿掉,或者可以按照经验,排查故障高的,比如场管、供电芯 片、网卡声卡芯片。 2.电感对地阻值为7-30欧。说明单元电路有微短路的地方。 排除方法:将相连电子元件一一拿掉,或者根据经验,排查故 障高的,如:场管、电容、供电芯片等。 CPU单元电路的电感

电脑主板测试卡代码说明大全

电脑主板测试卡代码说明大全 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA 初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM 第1位故障。 12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。 13 测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。 16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计

史上最全的手机硬件测试用例

XXX手机硬件测试列表 1.1.1 LCD测试 1.数量:2pcs以上; 2.测试方法及内容:手机正常开机后,距离30cm,与水平成45o角并在各个方向15o范围内观察LCD工作是否正常。 a. LCD显示是否正常,是否存在斑点、阴影等; b.彩屏LCD各种颜色能否正常显示,分辨率、色素、响应时间等性能指标是否符合要求; c.分别在暗室、荧光(约750Lux)和阳光(大于3500Lux)下测试LCD显示是否正常,各性能指标是否符合要求; d.将电源设置成高(4.2v)、中(3.8v)、低(3.5v)不同电压,LCD显示是否有差异或异常。 3.预期结果: a. LCD显示正常,不存在斑点、阴影等; b.彩屏LCD各种颜色正常显示,分辨率、色素、响应时间等性能指标符合要求(结合项目的具体指标规定); c.在暗室、荧光(约750Lux)和阳光(大于3500Lux)下测试LCD显示均应正常,各项性能符合项目的具体指标要求; d.在高、中、低不同电压下,LCD显示应正常且基本一致。 1.1.2 LCD背光及键盘背光测试 1.数量:2pcs以上; 2.测试方法及内容:手机正常开机后,选择进入手机功能菜单中的相应设置进行测试。 a.测试手机背光及LED能够正常工作; b.分别在暗室、荧光(约750Lux)和阳光(约2000Lux)下测试LED亮度是否正常; c.背光亮度是否符合要求,测试在不同电池电压情况下,背灯的亮度是否具有一致性; d. LED是否能够按照要求打开和关闭。 3.预期结果: a.手机背光及LED工作正常; b.在暗室、荧光(约750Lux)和阳光(约2000Lux)下,LED亮度均应正常; c.背光亮度应符合要求且在不同电池电压情况下,背灯亮度基本一致; d. LED能够按照要求打开和关闭,且亮度正常。 1.1.3 TP触摸屏承重能力测试 4.数量:5pcs以上; 5.测试方法及内容:重压头25kg,静压30秒之后,等待30秒,再重新放置重压头。 6.预期结果: a. 200次重压后样品不出现牛顿环,则为良品; 1.1.4 Camera测试 1.数量:4pcs以上; 2.测试方法及内容:手机正常开机后,选择手机功能菜单进入拍照状态,对标准测试板进行拍照。 a. Camera是否能够正常工作; b. 拍摄的照片效果是否符合规范要求; c. 用标准色板照片色块的对比测试; d. 测试Digital Camera的反应时间; e. 开启闪光灯功能,看闪光灯是否正常工作。 3.预期结果: a. Camera工作正常,能正常开启与关闭; b.照片效果符合规范要求,参考Camera Spec; c.反应时间达到规范要求;

主板检测卡代码大全40848

主板检测卡代码大全一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显 示26 C1、C6 如显示 . 01 02 03 检查部件正 04 使 05 ROM。DMA 06 器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA 初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT 命令。RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM 芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN 0D 13、视频 64K RAM 0E 0F 10 第一个 11 第一个64DK RAM第 12 B 13 化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。

手机app测试方法

1 APP测试基本流程 1.1流程图 仍然为测试环境

1.2测试周期 测试周期可按项目的开发周期来确定测试时间,一般测试时间为两三周(即15个工作日),根据项目情况以及版本质量可适当缩短或延长测试时间。正式测试前先向主管确认项目排期。 1.3测试资源 测试任务开始前,检查各项测试资源。 --产品功能需求文档; --产品原型图; --产品效果图; --行为统计分析定义文档; --测试设备(ios3.1.3-ios5.0.1;Android1.6-Android4.0;Winphone7.1及以上;Symbian v3/v5/Nokia Belle等); --其他。 1.4日报及产品上线报告 1)测试人员每天需对所测项目发送测试日报。 2)测试日报所包含的内容为: --对当前测试版本质量进行分级; --对较严重的问题进行例举,提示开发人员优先修改; --对版本的整体情况进行评估。 3)产品上线前,测试人员发送产品上线报告。 4)上线报告所包含的内容为: ---对当前版本质量进行分级; ---附上测试报告(功能测试报告、兼容性测试报告、性能测试报告以及app可用性能标准结果); --总结上线版本的基本情况。若有遗留问题必须列出并记录解决方案。 2 App测试点 2.1安全测试 2.1.1软件权限 1)扣费风险:包括发送短信、拨打电话、连接网络等

2)隐私泄露风险:包括访问手机信息、访问联系人信息等 3)对App的输入有效性校验、认证、授权、敏感数据存储、数据加密等方面进行检测 4)限制/允许使用手机功能接人互联网 5)限制/允许使用手机发送接受信息功能 6)限制/允许应用程序来注册自动启动应用程序 7)限制或使用本地连接 8)限制/允许使用手机拍照或录音 9)限制/允许使用手机读取用户数据 10) 限制/允许使用手机写人用户数据 11) 检测App的用户授权级别、数据泄漏、非法授权访问等 2.1.2安装与卸载安全性 1)应用程序应能正确安装到设备驱动程序上 2)能够在安装设备驱动程序上找到应用程序的相应图标 3)是否包含数字签名信息 4)JAD文件和JAR包中包含的所有托管属性及其值必需是正确的 5)JAD文件显示的资料内容与应用程序显示的资料内容应一致 6)安装路径应能指定 7)没有用户的允许,应用程序不能预先设定自动启动 8)卸载是否安全,其安装进去的文件是否全部卸载 9)卸载用户使用过程中产生的文件是否有提示 10)其修改的配置信息是否复原 11)卸载是否影响其他软件的功能 12)卸载应该移除所有的文件 2.1.3数据安全性 1)当将密码或其他的敏感数据输人到应用程序时,其不会被储存在设备中,同时密码也不会被解码 2)输人的密码将不以明文形式进行显示 3)密码,信用卡明细,或其他的敏感数据将不被储存在它们预输人的位置上 4)不同的应用程序的个人身份证或密码长度必需至少在4一8个数字长度之间 5)当应用程序处理信用卡明细,或其他的敏感数据时,不以明文形式将数据写到其它单独的文件或者临时文件中。以防止应用程序异常终止而又没有侧除它的临时文件,文件可能遭受人侵者的袭击,然后读取这些数据信息。 6)当将敏感数据输人到应用程序时,其不会被储存在设备中 7)备份应该加密,恢复数据应考虑恢复过程的异常通讯中断等,数据恢复后再使用前应该经过校验 8)应用程序应考虑系统或者虚拟机器产生的用户提示信息或安全替告 9)应用程序不能忽略系统或者虚拟机器产生的用户提示信息或安全警告,更不能在安全警

电脑主板故障诊断卡代码大全

电脑主板故障诊断卡代码大全 代码对照表 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA 初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA 初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。. 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT 命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。. 10 测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。

手机号码吉凶测算

大展鸿图.可获成功吉 2 一盛一衰.劳而无功凶 3 蒸蒸日上.百事顺遂吉 4 坎坷前途.苦难折磨凶 5 生意欣荣.名利双收吉 6 天降幸运.可成大功吉 7 和气致祥.必获成功吉 8 贯彻志望.成功可期吉 9 独营无力.财利无望凶 10 空费心力.徒劳无功凶 11 稳健着实.必得人望吉 12 薄弱无力.谋事难成凶 13 天赋吉运.能得人望吉 14 是成是败.惟靠坚毅凶 15 大事成就.一定兴隆吉 16 成就大业.名利双收吉 17 有贵人助.可得成功吉 18 顺利昌隆.百事亨通吉 19 内外不合.障碍重重凶 20 历尽艰难.焦心忧劳凶 21 专心经营.善用智慧吉 22 怀才不遇.事不如意凶

23 名显四方.终成大业吉 24 须靠自力.能奏大功吉 25 天时地利.再得人格吉 26 波澜起伏.凌驾万难凶 27 一盛一衰.可守成功凶带吉 28 极好之数.能得成功吉 29 青云直上.才略奏功吉 30 吉凶参半.得失相伴凶 31 名利双收.大业成就吉 32 池中之龙.成功可望吉 33 智慧慎始.必可昌隆吉 34 灾难不绝.难望成功凶 35 中吉之数.进退保守吉 36 波澜重叠.常陷穷困凶 37 逢凶化吉.风调雨顺吉 38 名虽可得.利则难获凶带吉 39 光明坦途.指日可待吉 40 一盛一衰.浮沉不定吉带凶 41 天赋吉运.前途无限吉 42 事业不专.十九不成吉带凶 43 忍耐自重.转凶为吉吉带凶 44 事难遂愿.贪功好进凶

45 绿叶发枝.一举成名吉 46 坎坷不平.艰难重重凶 47 有贵人助.可成大业吉 48 名利俱全.繁荣富贵吉 49 遇吉则吉.遇凶则凶凶 50 吉凶互见.一成一败吉带凶 51 一盛一衰.浮沉不常吉带凶 52 雨过天青.即获成功吉 53 盛衰参半.先吉後凶吉带凶 54 虽倾全力.难望成功凶 55 外观隆昌.内隐祸患吉带凶 56 事与愿违.终难成功凶 57 努力经营.时来运转吉 58 浮沉多端.始凶终吉凶带吉 59 遇事犹疑.难望成事凶 60 心迷意乱.难定方针凶 61 云遮半月.百隐风波吉带凶 62 烦闷懊恼.事事难展凶 63 万物化育.繁荣之象吉 64 十九不成.徒劳无功凶 65 吉运自来.能享盛名吉 66 内外不和.信用缺乏凶

电脑主板故障诊断检测卡代码表与解决方案

电脑主板故障诊断检测卡代码表 BIOS 灯:为 BIOS 运行灯,正常工作时应不停闪动 CLK丁:为时钟灯。正常为常亮. OSC丁:为基准时钟灯,正常为常亮。 RESET丁仅为复位灯,正常为开机瞬间闪一下,然后熄灭。 RUN丁:为运行灯,工作时就不停闪动。 +12V, -12V, +5V, +3.3V 灯正常为常亮 1.检测卡跑00, CO CF,FF或D1 原因:CPUS槽脏。针脚坏,接触不好。CPU内存超频了。CPU供电不良。某芯片发热,硬件某部分资源不正常,在 CMOSI把其关闭或更换该集成资源的芯片 2.C1,C2, C6, C7或 E1: 内存接触不良,(用镊子划)。 测内存工作电压( SDRAM 3.3V, DDR 2.5和 1.6V。)测时钟CPU旁排阻是否有损坏。 测CPU地址线和数据线。 北桥坏 3.C 1 ~05循环跳变: BIOS损坏 I/O 坏或者南桥坏 . 4.C1,C3,C6: 刷 BIOS 换电源,换CPU换转接卡有可以解决问题. 检查BIOS座. PCE断线,板上粘有导电物.清洗内存和插槽. 换内存条 . 换内存插槽 .. 换 I/O. 北桥虚焊或者坏 . 5循环显示C1~C3或者C1~C5等 刷 BIOS. 换 I/O 有时可解决问题 . PCE断线,板上粘有导电物 可考虑换电容.换CPU换内存南桥坏 . 6.显BO代码: 看内存电压,清CMOS北桥坏 7.显示25 代码 北桥问题.' 8.跑 0D 后不亮 : 外频, 倍频跳线 9.显 2B 代码后不亮 刷BIOS.清除BIOS.时钟发生器不良.北桥供电不正常或者北桥坏 10.跑 50 代码: I/O 错, 南北桥 ,BIOS 坏 11.跑 41 代码: BIOS刷新.PCB坏或者上面有导电物

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. 主板检测卡代码大全 一般来说代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显示26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 00 .已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA 电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS 检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT 命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核专业资料Word . 实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP 命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接

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主板维修关键测试点的频率以及电压值

主板维修关键测试点的频率以及电压值 2006-4-9 8:13:45来源: 进入论坛添加到收藏夹 可POWER ON 時先量測基本電壓各項CLK 基本之RESET 1.基本電壓含: VCC3: 3.3V VTT: 1.5V VCC25: 2.5V VCC333: 3.3V VCC: 5V VCORE: CPU之工作電壓(是CPU OR 電壓治具而定) POWER_OK OR POWER_GOOD: 3.3V CPU 之參考電壓: EX: VGTL:1V 可POWER ON 時先量測基本電壓 VIA SOCKET462 系列 2.各個RST含: PCIRST : 由HI準位到LOW準位 (5 V or 3V) AGPRST : 由HI準位到LOW準位 (5V or 3V) CPURST:可分 (1)586 : 由LOW準位到HI準位 (3V) (2)686 : 由HI準位到LOW準位 (1. 5V) (3)Socket 462系列: 由HI準位到LOW 準位 (1.7V) (4)Socket 478 系列: 由HI準位到LOW 準位(1.5V) CRESET : 由HI準位到LOW準位 ( 3. 3V) RST_BT : 由HI準位到LOW準位 (3V) IDE_RST : 由HI準位到LOW準位 (5V) 3.各項CLK含: (1)ISA: 14.318MHz(OSC 由CLKGEN來) 8MHz(BCLK 由南橋產生) (2)PCI: 33MHz

(3)AGP: 1X: 33MHz 2X: 66MHz 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (4)DIMM: 66MHz ,100MHz ,133MHz. (5)DDR: 100MHz,133MHz,166MHz,200MHz. (6)CPU: 66MHz,100MHz ,133MHz. (7)北橋: 66MHz,100MHz,133MHz,200MHz. (南橋: 14.318MHz. 48MHz. 33MHz. (9)I/O: 48MHz or 24MHz INTEL 478 系列: (1)PCI: 33MHz (2)AGP: 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (3)DIMM: 100MHz,133MHz (4)CPU: 100MHz,133MHz (5)北橋: 66MHz ,100MHz ,133MHz (5)南橋: 14.318MHz 48MHz 33MHz 66MHz (6)LPC I/O: 33MHz,24MHz,48MHz. *以上皆正常後才上CPU AND DIMM 測試是否開機Socket 462 系列: (1)PCI: 33MHz (2)AGP: 4X: 133MHz(UAGP 有132PIN) (3)DIMM: 100MHz or 133MHz (4)DDR: 100MHz,133MHz,166MHz,200MHz. (5)CPU: 100MHz or 133MHz (6)北橋: 100MHz or 133MHz (7)南橋: 14.318MHz 48MHz 33MHz 66MHz (LPC I/O: 33MHz AND 24MHz *以上皆正常後才上CPU AND DIMM 測試是否開機

主板诊断卡代码大全17页

主板诊断卡代码大全 主板诊断卡也叫POST卡(Power On Self Test加电自检),其工作原理是利用主板中BIOS内部程序的检测结果,通过主板诊断卡代码一一显示出来,结合诊断卡的代码含义速查表就能很快地知道电脑故障所在。尤其在PC机不能引导操作系统、黑屏、喇叭不叫时,使用本卡更能体现其便利,事半功倍。 主板上的BIOS在每次开机时,会对系统的电路、存储器、键盘、视频部分、硬盘、软驱等各个组件时行严格测试,并分析硬盘系统配置,对已配置的基本I/O设置进行初始化,一切正常后,再引导操作系统。其显著特点是以是否出现光标为分界线,先对关键性部件进行测试,关键性部件发生故障强制机器转入停机,显示器无光标,则屏幕无任何反应。然后,对非关键性部件进行测试如有故障机器也继续运行,同时显示器显示出错信息当机器出现故障。当计算机出现关键性故障,屏幕上无显示时,很难判断计算机故障所在,此时可以将本卡插入扩充槽内,根据卡上显示的代码,参照计算机所所属的BIOS种类,再通过主板诊断卡的代码含义速查表查出该代码所表示的故障原因和部位,就可清楚地知道故障所在。 主板诊断卡的功能很强大,报告错误的能力远远超过BIOS自身通过铃声报错的能力,既适合于电脑爱好者个人使用,也可以适合于主板维修行业。 诊断卡也叫POST卡(Power On Self Test),其工作原理是利用主板中BIOS内部程序的检测结果,通过代码一一显示出来,结合本书的代码含义速查表就能很快地知道电脑故障所在。尤其在PC机不能引导操作系

统、黑屏、喇叭不叫时,使用本卡更能体现其便利,使您事半功倍。 诊断卡代码及所对应故障如下 代码 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。 06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS 检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 .

主板插槽测试点

AGP插槽及测试点 一、AGP简介 AGP(Accelerated Graphics Port)即加速图形端口。它用于连接显示设备的接口,是为了提高视频带宽而设计的一种接口规范。 AGP1.0规格中,有1x、2x两种工作模式,数据传输率分别为266MB/s、533MB/s。 AGP2.0规格中,有4x的工作模式,数据传输率为1064MB/s AGP8x是Intel公司新发布的图形端口规格,AGP8x被定义为一条32位宽的并行总线,运行于533-MHz,总带宽大约在2.1GB/s。 AGP Pro接口是一种为了满足显示设备功耗日益加大的现实而研发的图形接口标准,应用该技术的图形接口主要的特点是比AGP4x略长一些,其加长部分可容纳更多的电源引脚,使得这种接口可以驱动功耗更大(25-110w)或者处理能力更强大的AGP显卡。这种标准其实是专为高端图形工作站而设计的,完全兼容AGP4x规范,使得AGP4x的显卡也可以插在这种插槽中正常使用。AGP Pro在原有AGP插槽的两侧进行延伸,提供额外的电能。它是用来增强,而不是取 代现有AGP 插槽的功能。 兼容原则:1、370主板上的AGP槽只有2X、4X,4X一般兼容2X显卡 2、478主板上的AGP槽只有4X和8X,478主板上的4X槽一般不兼容2X显卡 AGP槽关键测试点

说明:上图所示为AGP槽的总线及重要测试点,其中8个信号测试点和PCI是一样的。 图中测试点的电压:12V由黄线提供,5.0V由红线提供,3.3V由橙线提供 RST:复位测试点,正常电压3.3V~0V

CLK:时钟测试点,正常电压1.1V~1.6V,66MHZ,P3主板多由北桥提供,P4主板大多由时钟芯片提供 VCC:表示直流电 VDDQ:电压识别脚,不同规格的AGP槽,VDDQ电压也不一样,2X显卡3.3V,4X显卡4.5V,8X显卡0.8V。 PCI插槽及测试点 一、实物图 上图为主板上的PCI插槽实物图,左边三个是PCI插槽,中间最长的是PCI Express X16插槽,右边两个是PCI Express X1插槽 PCI总线图及测试点(正面图)点击查看大图

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主板诊断卡代码大全 主板诊断卡全部代码 代码:FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也没有表示CPU没通过 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示内存不过 24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示显卡不过 某些集成显卡主板23、24、25表示可以正常点亮,某些VIA芯片组显示13则表示可以点亮,某些品牌机里的主板显示0B则表示正常,某些主板显示4E表示正常点亮,某些INTEL芯片组的主板显示 26或16则表示可以正常点亮。 C1、C6、C3、01、02这个组合循环跳变大部分是I/0坏或刷BIOS 如显示05、ED、41则直接刷BIOS 特殊代码“00”、“FF”及其它起始码有三种情况出现: 1、已由一系列其它代码出现之后再出现“00”或“FF”,则主板OK。 2、如果CMOS中设置无错误,则不严重的故障不会影响BIOS自检的继续,而最终出现“00”或“FF”。 3、一开机就出现“00”或“FF”或其它起始代码并且不变化,则为主板没有运行起来。 00 co cf ff d1 都是CPU不工作,查相关电路及bios有无片选 c1 c3 c6 a7 e1都是内存不过,查相关路线 c1-05循环跳变时钟坏,bios坏,南桥或I/O坏 c1 c3 c6 内存-bios-北桥 bo 北桥坏 25 AGP供电,北桥坏 0d后不亮显卡部分 2d 打AGP的AD线,初始化intr信号,查北桥供电 显2b后不亮刷bios,时钟发生器坏,北桥供电不正常或已挂 50 I/O供电或I/O坏,南桥供电或南桥坏,bios坏 41 刷bios,A18跳线.PCB断线,I/O,南桥 如果出现以上代码以外的代码,就是乱码,不用管他说明书写的是什么,先刷bios再说 这些都是我的笔记归结出的,但毕竟有些代码碰到的次数不多,不能保证都对 补充一下,如果bios内部程序有问题,则以上代码都可能不成立,所以如果遇到不常见的代码,比如ff,c1,以外的最好是先刷bios c0 2a cpu已发出寻址指令,bios未工作 c1 d3 d4 bo cpu已工作,检测内存 26 85 8e 7f 4e 42 32 检测显卡 c1-05 20循环跳变 I/O坏或接口有故障 31 显卡故障 结合人品兄的,慢慢背吧。。。 如果是Award BISO的话是内存自检没过,查主板的内存控制电路及内存槽和内存条 如果是Phoenix BISO的话查引导扇区中的“55、AA”标记DE是无意义,可能是没自检

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