综合布线系统的测试

综合布线系统的测试

布线系统的测试

很多用户在选布线系统时，通常都只着眼于该产品是否符合认可标准，质量及价钱等；虽然以上各点的确是重要的一环，但是其实在施工过程中，假如施工队伍没有足够的专业知识，执行了不符合标准的施工程序，使得最终的结果与设计要求相差甚远。

将布线作为一个单独的实体来表征其特性，可以为今后应用设备的设计提供有用的数据。通过现场测试来验证电缆出厂的传输性能，可以使符合专业技术要求的布线交到用户手中。这将提高建筑物网络方案的整体有效性，使用户更加满意。

基于上述理由，测试工作以及测试报告是绝对不能忽视的一环。而EIA/TIA 568A TSB 67亦是针对测试而制定的标准。测试范围主要是水平布线系统测试：

对于每一个五类信息端口都会执行基本连接测试(Basic Link Test)，其测试项目包括：

l 工作区的信息口和连接器

l 工作区到电讯间的水平线

l 电讯间的配线架接口

在测试过程之中，以下所有参数必需达到EIA/TIA 568A TSB 67所定之标准：

l 线路连接图(wire map)

l 水平双绞线长度(length)

l 线路衰减(Attenuation)

l 近端串扰(Near End Cross-Talk / NEXT)

而以上之测试方面，在从配线架连接到数据网络设备之间所有双绞线电缆都要执行。

整个测试过程均采用合符EIA/TIA 568A TSB 67所设定之二级超五类便携式测试仪器Fluke-DSP4000进行。

在测试过程中，如有任何信息端口或主干章不能通过检定，即时便需作出检查，维修或更换，直至全部通过测试为止。而当整个布线工程完成后，全部之测试报告则会连同其他文件一并交到用户手上作为纪录。

结构化布线系统的测试由以下过程完成：

1. 测试对象：工程信息点100%进行测试。

2. 测试设备：采用AMP公司认可的能够测试155MHZ带宽的智能型测试设备，有美

国MICROTEST ,Fluke等。建议采用Fluke DSP4000,测试带宽可达155MHZ。

3. 测试参数：EIA/TIA568A标准为依据，测试分两章：双绞线和光纤。

（1）双绞线主要测试以下参数;

阻抗：变化范围在100+/-15%，即85--115欧姆；

衰减：

频率（MHZ） 1.0 4.0 10.0 16.0 20.0 31.25 62.5 100.0

最大衰减（DB） 2.5 4.8 7.5 9.4 10.5 13.1 18.4 23.2

100米范围内回路直流电阻小于9.38欧。

近端串绕：最小近端串绕损耗应大于下列值：

频率（MHZ） 1.0 4.0 10.0 16.0 20.0 31.25 62.5 100.0

近端串绕损耗 DB 54 45 39 36 35 32 27 24

最大距离：小于90米。

分布电容：1KHZ小于或等于330PF/100米。

（2）光纤

光纤的测试内容主要为连续性和衰减/损耗测试，进行光纤测试前必须仔细清洗光纤连接器的表面，以免影响光纤的耦合。光纤连接需要测试测试项目如下：

l 多模光纤测试波长: 1300 nm 或 850 nm

l 单模光纤测试波长：1310nm或1550nm

ISO/IEC TR1476-3定义了光纤测试的具体要求

布线系统连接长度衰减（小于等于DB）

850nm 1300nm

水平子系统 100米 2.5DB 2.2DB

垂直子系统 500米 3.9 DB 2.6 DB

园区子系统 1500米 7.4 DB 3.6 DB

对于光纤系统，测试指标可由以下公式计算得出：

全程链路衰耗值＝光缆的衰耗值＋耦合器损耗值＋连接器衰耗值＋熔接（或拼接损耗值）+光功率比校正值

注：耦合连接具体依据其连接插头型号有多种方式，如ST、SC、MT-RJ等连接方式，其衰耗值不同，ST光纤连接器的典型衰减为0.3DB， SC光纤连接器的典型衰减为0.3DB，MT-RJ光纤连接器的典型衰减为0.2DB，耦合器的典型衰减为0.75DB，熔接的最大衰减不超过0.1DB,机械拼接的最大衰减不超过0.3DB。

另外，根据ISO/IEC建议，

? 对于两端只有连接器件的光纤系统测试，只需单向测试；当光纤系统两端包括拼接（Splice）或连接器时，需要从进行两端测试。

? 为了获得指定的光源发射条件，测试多模光纤系统时需使用一个特制的卷轴装置。（IEC61300-3-4及TIA/EIA-526-B.1规定测试对于光纤外有缓冲层的62.5/125微米的光纤要在25mm的卷轴上盘绕5圈，对于光纤外有缓冲层的50/125微米的光

纤测试时要在20mm的卷轴上盘绕5圈。

测试结果：将测试结果存储在智能型测试仪内，通过打印机打印或拷贝到磁盘上。