汇能测试系统功能简介

汇能测试系统功能简介

一、电路板故障检测

1、检测电路板故障的主要步骤

a. 导入电路板图像

用手机或相机给被检测电路板拍照、把照片文件转存在电脑、打开汇能测试软件导入照片文件。参见下面示例:

b. 学习好板

从一块确信无故障的电路板上,采集各器件管脚的ASA曲线;电阻、电容、电感的数值,存在电脑中。采集过程十分简单:用鼠标在屏幕图像的元件上画一个矩形、输入适当信息后,用鼠标双击该矩形启动测试,再用测试探棒测试电路板上的相应元器件即可。参见下图:

采集电路节点的ASA曲线。注意被测试点(红圈内)在闪烁。

采集电阻值。注意被测电阻(红圈内)在闪烁。

下面是采集了部分元器件示例(局部):

c.检测故障板

选择对照功能后,双击被测试节点或元件,用探棒测试板上相应节点或元件。参见下面示例:

比较节点ASA曲线。蓝线是学习好板的曲线、红线是故障板上测到的曲线。明显有故障。

比较电阻值。好、坏板上测到的相等

2、记录检测过程

参见下面示例:

张工在2016-1-1的检测记录

红圈中是“张工2016-1-1”,记录了某人——张工、某时——2016-1-1的检测结果。单击选中后,右面把当时的检测结果显示出来。

红色——比较失败;绿色——比较通过;黄色——没有执行比较测试。

李工在2016-2-2的检测记录

王工在2016-3-3的检测记录

3、故障导航信息

把每一次成功的维修经验记录下来,就成为后人的故障导航信息。

本系统为每个元器件、元器件的每个管脚、以及每个电路节点关联一个支持图像、文字的文件,用来记录维修经验、测试注意事项等。当测试到该元件、电路节点的时候,按一个键、或点击一下鼠标,

就能弹出已经输入的导航信息。参见下面一个电路节点的导航信息:

测试到该节点,比较曲线不一致,按TAB键弹出该节点的故障导航信息如上,发现与上一次的故障曲线完全相同,因此,有理由采用上一次的处理方法。

4、使用模拟通道(不支持测试仪型号:CFT)

a. 经验表明,应用中损坏的电路板,故障多数出现在接口器件上——与电路板引脚直接连接的器件上。通过转接板把模拟通道相连接,数秒钟内即可测试完电路板所有外引脚的ASA曲线;

b. 在一些老板子上,还有很多双列直插、标准表贴封装的器件。使用在线测试夹,通过模拟通道,可以在数秒钟测试完器件所有管脚的ASA曲线。

c. 支持ASA曲线的“多端口”测试方式,对于N个脚的器件,一次操作可学习、或比较100根(所有管脚之间的)曲线,有效提高ASA曲线测试的故障检出率。

二、IC器件测试(不支持测试仪型号:CFT、CFT-I、TH4040、HN1600/4840)

目前在电路板维修及小批量电子产品生产业界常用的IC测试仪,或者搭建简单电路测试器件(比如光耦),都只能实现对IC的功能测试。在很多情况下,功能测试的深度不能满足实际要求。本系统能够对许多种IC进行性能测试(直流参数测试),能够发现许多简单的功能测试不能发现的IC故障。

本功能不支持“在线测试”。

1.测试光耦

以PC817为例。下面是PC817的PDF资料局部。举两例:

输入端(Input):

正向电压(Forward voltage)VF,在正向电流IF=20mA时,最大(MAX)不得超过1.4V;

输出端(Output):

电流转换系数(Current transfer ratio)CTR,在IF=5mA,Vce=5V时,最小(Min)不小于50%,最大不大于600%;

下面是实际测试结果:

在上面测试结果中,对VF的测试结果在第四行、对CTR的测试结果在最后一行、左上角是IF从0到最大允许电流值的CTR曲线。

2.测试比较器

以LM393为例。参见下面的PDF资料。举一例:

饱和电压(Saturation Voltage)Vsat,也就是输出低电压,当灌入输出端最大4mA电流时,该电压最大不得大于400mV(25度时)。下面是对LM393的实际测试结果:

分别在最大、最小允许的输入电压下,测试输入脚的漏电大小。CFT-II的最小可测试电流为1微安。小于1微安时不能判断;

左上角中是比较器的转换曲线。蓝线是加在正输入的电压曲线、绿线是负输入的电压曲线、红线是输出曲线。

3.测试逻辑器件

以74LS373 为例。下面是它的PDF资料局部:

下面是实际测试结果:

4.测试运算放大器

对运算放大器实现了功能测试。在规定的共模输入电压范围内,检查是否有足够的开环增益。具体方法是:将运放通过测试仪接成一个跟随器,在正输入端,施加一个幅度等于最大输入共模电压的正弦波。如果在此范围内,保持跟输入、输出跟随特性,就认为器件是好的。最后测试运放的工作电源电流是否超标。

下面是测试LM324的结果:

4.其它IC测试

目前正在开发对多种类型的IC的测试,但是主要限于AD、DA、通讯接口、模拟开关类的IC。器件库在经常扩充之中。

5.ASA曲线测试

实际上,总有一些IC器件,由于各种各样的原因,无法建立功能测试或直流参数测试。在这种情况下,可建立对这些IC的ASA曲线测试。

建立IC的ASA曲线测试库向用户开放。采用这种方法,理论上可以测试任何种类的IC。

三、逻辑器件在线/离线功能测试(不支持测试仪型号:CFT、CFT-I、CFT-II)

输入被测器件型号,单击,库中符合搜索条件的器件都会列在下面。将测试夹夹在被测器件上,双击列表中与之相对应的器件行,即可对该器件执行测试。本功能包括三项测试模式:

1.在线测试: 使用“后驱动隔离技术”和“自适应”计算技术,在器件库的配合下,测试焊在电

路板上的逻辑器件的功能好坏;

2.离线测试: 测试脱离电路板的器件功能好坏;

3.型号识别:在逻辑器件库中查找逻辑功能与被测器件相同的器件型号;

功能特色

在线测试时,被测试器件的外电路会干扰测试,导致把好器件测成坏器件。对器件外部电路情况的识别能力,是衡量此项测试实现水平的重要方面。汇能测试仪提高在线测试可信度的措施包括:1.接触检查:当器件管脚氧化、或涂层未打磨干净,测试夹与管脚接触不上时,提示“开路”

2.加电延迟时间:给电路板加电后,板上电压上升到稳定值所需时间,与电路板上电源滤波电容相关。本功能允许设置加电后至测试的延迟时间。

3.电源电压检查:当被测器件电源脚上的电压过低或过高时,给出警告,或停止测试。

4.非法电平检查:当被测器件管脚上有超过电压区间20%的电平值时,提示后终止测试。

5.总线竞争识别提示:两个以上三态器件的输出接在一起构成总线结构。总线竞争会导致好器件测试失败。本功能可在测试前自动侦测三态器件是否处于总线竞争状态,给出警告提示6.八路总线竞争屏蔽信号(BDS信号):发现有总线竞争后,要用BDS信号屏蔽竞争总线的器件,才能正确测试。汇能测试仪参照进口产品,设置了八路BDS,每个信号可分别定义“高”或“低”

有效,以满足不同器件要求。

7.提取并显示器件管脚的模拟在线特征

a.器件各管脚对地的正反向电阻;

b.器件各管脚的测前电平值;

c.器件管脚之间的自联接。

8.提取并显示器件管脚的数字在线特征

a.浮动态:多数情况为输入脚悬空;

b.翻转态:该管脚上有其它数字信号;

c.信号态:该管脚以及与之相连的其它管脚中至少有一个为输出;

d.锁定态(恒高、不可高、恒低、不可低):管脚状态被外电路锁定;

e.电源态:管脚接电源;

f.地态:管脚接地。

参见下图一个实际测试的例子。

施加的测试波形:测试仪施加在器件输入脚上的信号。图中1、4、2、3脚;

器件的输出波形:每个输出有两条输出信号波形,比如第6、5脚。上面黄色的称为期望波形,是根据输入波形计算出来的;下面青色的叫做实测波形,是从器件的输出脚上读回来的。当期望波形和实测波形完全重合时,提示测试成功。

七、存储器件在线/离线功能测试(不支持测试仪型号:CFT、CFT-I、CFT-II)

除了测试代码长之外,在线处理与逻辑器件基本相同。可测试SRAM、DRAM、PRPM、EPROM约3000余种型号。下面对存储器件的测试方法进行说明。

1.只读存储器(PROM,EPROM)

学习:从好的器件中,读出所存储的内容,存成数据文件,作为测试的参照标准;

测试:读出被测器件中的内容,与学习内容进行逐字节比较,完全一致说明被测器件物故障;否则详细显示出错地址、该地址中的正确内容和当前出错内容。

2.读写存储器(SRAM,DRAM)

先写入01010101,读出检查、再写入10101010,再读出检查。两次正确说明该存储单元功能正常。

对于电池支持的SRAM存储器,除非有办法恢复原有内容,否则不能测试。

在维修测试中,常常不需要检测存储器件的每一个存储地址。为此设施了两种测试方案:

1.快速测试

从存储器的全部地址单元中,按一定算法选取其中若干单元进行测试。

2.完全测试

对每一个存储单元都要进行检测。优点是测得仔细,缺点是测试时间较长。

参见下面的EPROM学习界面。界面中以反汇编形式显示的学习内容。

八、用户自定义测试(不支持测试仪型号:CFT、CFT-I、CFT-II、TH4040)

本功能用于用户建立对器件库中没有的器件、局部电路的功能测试,使用本功能。用户自己需要知道施加怎样的激励信号。被测对象正确的输出可由用户定义、或者从好的被测对象的输出采集得到。

在UDT的支持下,汇能测试仪开放了所有数字和模拟通道。在屏幕上“画”出测试信号,指定给测试仪输出通道,测试时加载器件输入、与器件输出关联的通道指定为输入通道,读回被测试对象的响应。

1.测试文件:

为了简化测试信号设计,提高故障定位精度,可以分多次完成对一个器件/电路的测试——每次只检

查它的部分功能。比如,对模数转换器,一次测试它的电压工作模式,另一次测试它的电流工作模式。一次测试所需要的信息组合,叫做一个子测试。子测试由名字、激励信号、标准(正确)响应信号、故障导航信息组成。一个电路或器件的所有子测试存放在一个文件中,称为该电路或器件的UDT测试文件。

2. 子测试执行方式:

a.执行指定子测试

从头至尾执行指定子测试,显示实际输出、输

入信号以及库中的标准输出、输入信号;

b.执行到指定节拍

从头开始执行指定子测试,停止在指定节拍。此时并不关闭测试通道,所有激励信号依然保持。通过这个功能,可以把电路或器件驱动到所需状态,此时可用其它测试仪器进行观察;

c.循环执行指定子测试

反复执行指定子测试直至被中断;

d.执行全部子测试

执行当前测试文件中的全部子测试,并给出哪些子测试执行正常,哪些异常的提示;

e.器件输出波形替换

用当前测试到的器件输出波形,替换已经存在的器件输出,作为下次测试的比较标准。

例:数模转换器7524的测试结果(见右图):

a.状态I表示测试仪输出施加到器件输入

的信号;

b.对数字信号(信号3到12),测试仪在按

要求输出时(每个信号第一行所表示),

还将实际输出读回(第三行)。如果两者

不一致,说明该信号没有正确施加。

c.模拟信号(信号2)显示两条。第一条是

标准,第二条是实测。如果标准和实测比

较超差,提示“测试失败”。可结合失败

波形和相关导航信息,进一步分析判断,

或确定器件有故障。

汇能维测(北京)仪器有限公司

电话:010-********

网址:https://www.360docs.net/doc/023394751.html,

邮箱:thdza@https://www.360docs.net/doc/023394751.html,

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