PCBA焊点脱落分析案例

手机用印制线路板化金板焊接不良失效分析

案例1.

1）.失效背景信息：

X公司出现了一批某型号的手机，品质部门反馈手机软板上SMT元件焊接后易脱落，不良率约为3.3%，PCB焊盘上的断裂面在电子显微镜下观察，表现为平整的断裂面。SMQ环境与可靠性实验室利用自身的设备及技术资源，与该公司品质人员确定了试验方案，协作分析出了失效原因并确定了改善对策，最大程度的减少了企业的经济损失。

2）.分析过程：

A．确定了试验方案后我们针对失效样品做了如下的分析：

备注：AuSn4是一种很脆的金属间化合物，是引起“金脆”现象的主要原因﹐对焊点强度影响较大。

B．找到导致焊点易脱落的失效机理后，与该公司工艺人员沟通后，得知其焊接时的TOL 长达70s，但由于该款产品即小又薄，且零部件布局密度也较低。这样过长的TOL时间导

致焊点IMC结构粗大、松散，富P层过厚并形成了Ni-Sn-P层。

3）.分析结论：

由以上分析结果可以导致焊点易脱落的原因是多方面因素造成的，总结如下：

a). 失效元件的焊点形成了大结构的(Ni,Cu)3Sn4IMC，过多的易脆的IMC的生成会导致焊接强度偏低，在受到应力时焊点容易在IMC于PAD上的富P层之间开裂。

b). 同时焊点的富P层也很厚，富P层内由于Ni扩散而形成的裂缝会降低焊点的强度。

c). 焊点焊接界面附近残留的AuSn4合金（可能是PCB PAD金层过厚或焊点锡量过少不

利Au的熔融导致），这种合金可能会引起“金脆”，对焊点强度也有一定影响。

d). 焊点在富P层与(Ni,Cu)3Sn4IMC间形成了对焊接强度危害极大的Ni-Sn-P合金，焊

点的断裂主要发生在Ni-Sn-P层附近。

4）. 改善对策:

减少回流时间到45s~55s，以抑制Ni-Sn-P层的形成，减少焊点IMC、富P层厚度。改善PCB表面处理制程，杜绝“黑镍”现象发生。减薄PCB PAD金层厚度或增加焊点锡量以防止“金脆”发生。

最后X公司根据SMQ对工艺及制程的改善建议，对该产线的工艺及制程进行了更新后，成功的解决了该产品焊接后焊点易脱落的问题。为企业挽回了很大的经济损失。

杨振英

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