ESD 测试流程

ESD 測試流程圖

ESD 測試SOP

測試場地注意要點:

1.測試前必須確認Ground Plane接地螺絲未松脫,HCP/VCP之接地阻

抗470KΩ是否正確.

2.測試場地必須控制溫濕度,標準值為:

Ambient Temperature:15℃-35℃

Relative Humidity:30%-60%

3.測試桌上除待測物件外,請勿擺放不相干物件以免影響測試場地

之準確性.

4.Ground Reference Plane必須置於地上,且其大小必須大於EUT

coupling plane的四周至少50cm以上.

5.EUT和測試空間的牆壁及任何金屬物必須保持1m以上.

6.HCP大小為1.6m*0.8m(VCP大小為50cm*50cm),且必須置於木質桌

上,EUT和HCP間必須以一0.5mm的絕緣物質阻隔.

7.必須定時充電的元件,使用後請隨即充電,並請使用原廠之Power

Adapter

8.靜電槍之Grounding metal strap必須確實接地.(通常長度為2

米以內)

9.桌上型待測物必須置於一80cm高之木質桌上且此桌子必須於

Ground Reference Plane上,落地型待測物則必須置於Ground Reference Plane上且以10cm高之絕緣物支撐.

10.E UT於HCP間保持10cm距離.

11.測試完畢請做好清潔整理工作,靜電槍歸位.

一準備工作

1.依測試要求選擇正確的電極

尖頭電極

圓頭電極

2.使用測試軟體DTEST(參數要求請預約測試人員提出)

(1)Scan method setting : 圈選欲測試之item.

●Flatbed ○ADF ○Trans(P) ○Trans(N)

(2)Scan parameter setting:

□ Fixed Scan Mode (圈選): 4 .(表示color scan) Remark: 0.Linear 1.Halftone 2.Error Diffusion

3.Gray 4 .Color.

二接觸放電

視待測物是否有金屬裸露於外而定,若有則將尖頭放電電極直接碰觸於金屬表面進行放電,若無則略過

1.靜電槍使用尖頭電極

2.對桌面放電一次,以確定靜電槍功能正常

3.選擇測試點逕行測試(在隨機測試中至少選取四點可放電點,若無

則增加電壓或結束)

鋁板

注意:每打一槍,請對靜電槍和機台接地一次三空氣放電

1. 靜電槍使用圓頭電極

2.對桌面放電一次,以確定靜電槍功能正常

3. 選擇測試點逕行測試(在隨機測試中選取可放電點,若無則增加電

壓或結束)

4.每個可以放入電的測試位置需要連續放電10次,放電結束後請分

別對靜電槍和機台接地一次

四間接放電(使用尖頭放電電極)

1.機台按法規規定擺放(機台離水平耦合板, 離垂直耦合板都為

10cm)

水平與垂

直都10cm

2.靜電槍接觸水平耦合板邊緣逕行測試,機台分別以

Front,Right,Left,Rear擺放USER面至少取四點每點正負電荷各放電25次

3.機台(Front,Right,Left,Rear)離垂直耦合板10cm,靜電槍在耦合

板中央逕行測試

注意:每打完一槍,請對於機台,靜電槍,和耦合板接地一次機台分別以Front,Right,Left,Rear擺放

ESD静电产品检测规范

1.目的: 1.1编拟本静电防护外围环境设施检测办法是要以一有系统之管制方式,以求达到本厂静电防护设备之完善管理检测系统. 1.2避免经过长时间使用,防护设备或材料由于自然或人为之破坏以致丧失其 ESD作用. 2.范围: 适用于XX电子有限公司,保护ESD敏感性电子组件及产品所使用的所有相关材料. 3.权责: 3.1工程部:负责制订静电防护外围设施材料检测规范. 3.2各相关部门:依循静电防护外围设施材料检测办法实施,及相关资料归档. 4.参考文件: 4.1 ANSI/EIA-625 4.2 ANSI/ESD S20.20-1999 5.定义及相关朮语: 5.1 ESD(Electrostatic Discharge):静电放电 5.2 EOS(Electrical Over Stress):电压过应力 5.3CGP(Common Ground Point)共同接地点 5.4 EPA(ESD Protected Area)静电防护区 6 流程图:

6.1 无. 7 内容 7.1.导电地板测试 Floor Materials test spec: Resistance to Ground point : 104Ω~ 106Ω Resistance top to top :104Ω~ 106Ω 测试仪器:数显式双锤表面阻抗测试器(测试电压:10V) 7.1.1测试方法 7.1.1.1将表面阻抗测试仪拨至10伏檔位. 7.1.1.2用潮湿的抹布将地面和双锤擦拭干凈. 7.1.1.3连接表面阻抗测试仪,分别将双锤放在地板上或一端放在地板上另一端接接地测试点.(注意两测试点的距离不可超过90cm) 7.1.1.4按住测试键(约3秒)后,读取仪器上所显示的数值. 7.1.2作业规范 7.1.2.1平均每1000平方英尺必须有壹个测试点. 7.1.2.2地板检测及清洗周期为每30天1次. 7.1.2.3地板清洗时需先用洗地机将地板澈底洗干净,再进行打腊将地板

静电放电测试规范

静电放电测试规范 1.测试目的：为使静电干扰耐受性测试时,能有一统一之规范及流程可供依循,特订定本程序书,本试验的目的是仿真静电对电子产品所造成的干扰,并判别其耐受性。 2.适用范围：执行静电干扰耐受性测试时,适用之。 3. 4. 4.2 场地维护。 4.3 提供相关信息于测试服务上。

5.办法： 5.1 试验等级：试验等级如下

5.3 实验室之测试场地配置：实验室之地面应有一铜或铝制的金属GRP,其厚度至少0.25mm。如果使用别种金属材料，其厚度至少应有0.65mm。GRP尺寸至少1m×1m，依EUT大小而定。其每一面应超出EUT或HCP、VCP至少0.5m并连接至接地系统。EUT依使用状态架设及连接。EUT与实验室墙面及其他金属结构的距离至少1m。EUT除了所规定接地系统外，不可再有其他之接地。ESD产生器的放电回路电缆长度为2m，需连接至GRP，测试时放电回路电缆距离其他导电部分至少0.2m。HCP、VCP之材质与厚度应与GRP相同且使用两端接有470KΩ之接地线连接至GRP。其他规定如下： 5.3.1 EUT为桌上型设备之场地配置：使用高0.8m之木桌立于RGP作测试，并使用一长1.6m ×宽0.8m之HCP置于桌面，EUT及电缆以0.5mm绝缘垫与HCP隔离。EUT距离HCP各边至少0.1m。若EUT过大可使用相同之HCP以较短边相距0.3m连接，可用较大尺寸之桌面或两组桌子，此两组HCP不可搭在一起，并由两端各接470KΩ电阻之接地线个别接至RGP。如下图所示。

5.3.2 EUT属于没有接地系统之设备的测试方法：EUT 是属于设备或设备的一部份、其装设规格或设计是不可连接至任何接地系统设备、包括可携式、电池操作双重绝缘设备 (class II equipment)。其一般性配置与5.3.1相同，但为了模凝单一静电放电，在每次放电前必须将EUT的电荷消去，EUT的金属部分，例如连接器的外壳、电池充电点、金属天线等，在实施放电前必须将电荷消除。因此需使用具有470KΩ的泄放电阻器之电缆，类似HCP、VCP所用之接地电缆。其中一颗电阻需尽量靠近EUT的测试点，最好小于20mm的距离连接，第二颗电阻需连接在电缆靠近HCP的末端(桌上型)或RGP 的末端(落地型)。使用具有泄放电阻器之电缆，会影响某些EUT的测试结果。有争议时，在测试中如果电荷在连续放电之间有足够的衰减，则优先考虑以电缆不连接的状况作测试。可以使用下列的替换方法： -在连续放电间的时间间隔，必须延长到容许从待测物的电荷自然衰减所需的时间。 -在接地电缆中有碳纤维刷的泄放电阻器(例如2×470KΩ)。 -使用空气离子器以加速待测物在其环境的自然放电过程(使用空气放电作测试时，空气离子器必须关闭)。

各类esd相关技术标准.docx

各类ESD相关技术标准微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法标准号：IEC/PAS 62162 Edition 1.0-2000 发布时间：2000-08 微电子元件静电放电容许阈的场感应带电设备模型试验方法标准号：IEC/PAS 62162-2000 发布时间：2000-08 静电放电(ESD)感应试验人体模型(HBM) 标准号：IEC/PAS 62179 Edition 1.0-2000 发布时间：2000-08 静电放电(ESD)感应试验机器模型(HBM) 标准号：IEC/PAS 62180 Edition 1.0-2000 发布时间：2000-08 静电.第2-2部分:测量方法.荷电率的测量标准号：IEC/TR 61340-2-2-2000 发布时间：2000-07 静电学.第5-1部分:有静电现象的电子设备的保护.总要求标准号：IEC/TR2 61340-5-1-1998 发布时间：1998-12 静电学.第5-2部分:电子设备防静电现象防护.用户指南标准号：IEC/TS 61340-5-2-1999 发布时间：1999-02 静电学.第2-1部分:材料和产品损耗静电荷的能力的测量方法标准号：IEC 61340-2-1-2002 发布时间：2002-06 静电学.第2-3部分:用于避免静电放电积累的固体二维材料的电阻和电阻率测定的试验方法标准号：IEC 61340-2-3-2000 发布时间：2000-03 静电学.第3-1部分:静电效果的模拟方法.人体模型.元部件测试标准号：IEC 61340-3-1-2002 发布时间：2002-03 静电学.第3-2部分:静电效果的模拟方法.机械模型.元部件测试标准号：IEC 61340-3-2-2002 发布时间：2002-03 静电学.第4部分:基本应用的标准试验方法.第1节:地板覆盖物和装修地板的静电特性标准号：IEC 61340-4-1-2003 发布时间：2003 静电.第4-3部分:对于专门用途的标准试验方法.鞋靴标准号：IEC 61340-4-3-2001 发布时间：2001-08 静电学.第4-5部分:专用的标准试验方法.与人配合的鞋靴和地板材料静电防护的表征方法标准号：IEC 61340-4-5-2004 发布时间：2004 电声学.声强测量仪器.电磁和静电兼容性要求和试验程序标准号：IEC/TS 62370-2004 发布时间：2004 电磁兼容性.第4-2部分:试验和测量技术.静电放电干扰实验.修改件2 标准号：IEC 61000-4-2 AMD 2-2000 发布时间：2000-11

电子产品ESD测试及要求

1 试验对象：该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备 2 试验内容静电放电的起因有多种，但该标准主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使操作者积累了静电，电子和电气设备遭受直接来自操作者的静电放电和对临近物体的静电放电时的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言，因操作者的静电放电造成受设备干扰或损坏的几率相对其他静电放电起因大得多。若电子产品能提高针对因操作者的静电放电的抗扰性，则针对因其他因素的静电放电的抗扰性也会有相应的提高。 3 试验目的试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟：（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。（2）人或物体对邻近物体的放电。 4 ESD的模拟下图ESD发生器的基本线路其中高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速的放电波形的器件（放电开关）。放电线路中的储能电容CS代表人体电容，现公认150pF比较合适。放电电阻Rd为330Ω，用以代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻。现已证明，用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够严酷的。下面为ESD发生器的放电电流的波形参数及波形。图中Im表示电流峰值，上升时间tr=（0.7～1）ns

5 试验方法该标准规定的试验方法有两种：接触放电法和空气放电法。接触放电法：试验发生器的电极保持与受试设备的接触并由发生器内的放电开关激励放电的一种试验方法。空气放电法：将试验发生器的充电电极靠近受试设备并由火花对受试设备激励放电的一种试验方法。接触放电是优先选择的试验方法，空气放电则用在不能使用接触放电的场合中。

6 试验等级及其选择试验电平以最切合实际的安装环境和条件来选择，表2提供了一个指导原则。表2同时也给出了静电放电试验等级的优先选择范围，试验应满足该表所列的较低等级。标准中接触放电之所以可以用比较低的试验电压来进行试验，是因为接触放电有着极其陡峭的上升时间，其谐波成分更丰富，对设备的考核也更严格。等级的选择取决于环境等因素，对具体的产品来说，往往已在相应的产品或产品族标准中加以规定。

ESD测试标准

ESD测试标准一、对于相关测试标准的查询 ESD是电磁兼容（EMC）中EMS的一部分 EMS相关标准为：（GB是中国国家标准，IEC是国际电工委员会标准，EN是欧洲标准，JDEC是美 ESD对应的标准为： GB/T 17626.2 IEC61000-4-2 EN61000-4-2 ，之间关系也是等同的详细文件见附件。西门子的GSM无线模块在规格书中还提到EN301489-7 EN301489是欧盟单独针对无线产品（GSM、CDMA）的EMC标准二、标准中相关的内容 1、测试设备

2、测试环境（空气放电） 3、测试方法测试方法有接触放电、空气放电、直接放电、间接放电四种手机一般采用直接接触放电和直接空气放电：

4、测试点选择 5、台式设备的测试台布置 6、测试计划

7、参考标准国家CTA对手机的测试要求为：典型工作条件插充电器，通话状态；台式设备；放电点手机尾插，键盘、显示屏四周，手机两侧、侧键、Speaker、Reciver、MIC等有间隙的部位、RF测试口和手机天线附近；每点正负各十次； ±4K接触放电和±8K空气放电；三、无线模块的ESD测试标准（暂定）状况：目前没有针对无线模块的国家或行业标准。（无线模块一般都要做成终端产品才会去做入网检测）可以参考西门子GSM模块和华为CDMA2000模块的ESD规格。拟定大唐移动针对无线模块的ESD测试标准： 1、待测试模块在ESD试验之前要通过RF测试和功能测试。 2、模块装在测试板上，作为台式设备进行试验。 3、典型工作条件是：插充电器，连接计算机，在通话状态下测试。 4、放电点选择：SIM卡、RF测试口。 5、测试方法：直接接触放电和直接空气放电。 6、试验等级：±4K接触放电和±8K空气放电。 7、测试次数：每点接触放电和空气放电正负各十次。 8、测试模块在完成ESD试验之后，必须能够通过RF测试和功能测试。附件： D:\工作\ESD\G B 17626.2-98.pdf D:\工作\ESD\I EC 61000-4-2.PD F

ESD测试标准总览

E S D测试标准总览 The latest revision on November 22, 2020

ESD测试标准一、对于相关测试标准的查询 ESD是电磁兼容（EMC）中EMS的一部分 EMS相关标准为：（GB是中国国家标准，IEC是国际电工委员会标准，EN是欧洲标准，JDEC是美国标准） ESD对应的标准为： GB/T IEC61000-4-2 EN61000-4-2 ，之间关系也是等同的详细文件见附件。西门子的GSM无线模块在规格书中还提到EN301489-7 EN301489是欧盟单独针对无线产品（GSM、CDMA）的EMC标准二、标准中相关的内容 1、测试设备

2、测试环境（空气放电） 3、测试方法测试方法有接触放电、空气放电、直接放电、间接放电四种手机一般采用直接接触放电和直接空气放电： 4、测试点选择

5、台式设备的测试台布置 6、测试计划

esd测试规范

竭诚为您提供优质文档/双击可除 esd测试规范篇一：esd环境测试规范 esd环境测试规范北京蛙视通信技术有限责任公司二00八年7月更改页 esd环境测试规范一、防静电接地电阻测试 1.将被测试地极用导线与仪器端子e连接； 2.将p和c的接地钉打到潮湿地的深处，彼此间隔5-10米远，连接方式如下图 3．将量程选择开关，换至200Ω开始按“test”键，若显示值过小，在依20Ω/2Ω档顺序切换，此时显示值即为被测试地电阻值；按“pResstotest”键，状态指示灯会点亮，标示正处于测试状态中。（注：1.若接地钉的电阻值太大，则显示“ol”，或“---”。）(esd测试规范) 4.简单测量（这种方法是当地钉不方便使用时），可以

将一个外漏的接地电阻物体做一个极，如金属水槽、水管、供电线路公共地、建筑物接地端等都可以，连接方法参照下图。 5.测试方法参照步骤3。二、电阻测试标准 1.点对点电阻测试时，应将产品（材料）放置在绝缘地面上或以实际使用状态放置，台面表面电阻、体积电阻分别大于1x1013Ω，某几何周边尺寸均大于被测试材料10cm。地面测试时，电极之间距离900mm至1000mm。始施加的测试电压为50V；3.测试方法 --如果R≤1x105Ω，则测量值为结果；如果R>1x105Ω，则把电压改为1000V。施加电压为100V—如果1x105 4.地板和工作表面的电阻超出本规范的范围时，有必要采用较高的电压来测量电阻，但不适用于epa（防静电保护区）的测量。活动地板工程检测指标中的系统电阻为5x10-1010Ω。三、椅面与靠背之间点对点电阻测试标准参照《电阻测试标准》。测试位置见下图。1.测试方法，根据所测试材料的绝缘程度，将兆欧表的功能旋转开关设置到相应电压的档位，（当不知绝缘电阻大概阻值时可以依 50V/100/250V/500V/1000V的顺序进行尝试）。把测试表笔或夹子连接到被测试物，按下测试按钮“test”，进入测试状态，此时蜂鸣器会发出声音，测试值显示在lcd屏幕上。 2.椅面于脚轮之间系统电阻测试标准参照《电阻测试标

ESD测试及要求

2.1 人體放電模式(Human-Body Model, HBM) : 人體放電模式(HBM)的ESD是指因人體在地上走動磨擦或其他因素在人體上已累積了靜電，當此人去碰觸到IC 時，人體上的靜電便會經由IC的腳(pin)而進入IC內，再經由IC放電到地去，如圖2.1-1(a)所示。此放電的過程會在短到幾百毫微秒(ns)的時間內產生數安培的瞬間放電電流，此電流會把IC內的元件給燒毀。不同HBM靜電電壓相對產生的瞬間放電電流與時間的關係顯示於圖2.1-1(b)。對一般商用IC的2-KV ESD放電電壓而言，其瞬間放電電流的尖峰值大約是1.33 安培。圖2.1-1(a) HBM的ESD發生情形

圖2.1-1(b) 在不同HBM靜電電壓下，其靜電放電之電流與時間的關係有關於HBM的ESD已有工業測試的標準，為現今各國用來判斷IC之ESD可靠度的重要依據。圖2.1-2顯示此工業標準(MIL-STD-883C method 3015.7)的等效電路圖，其中人體的等效電容定為100pF，人體的等效放電電阻定為1.5K Ω。另外在國際電子工業標準(EIA/JEDEC STANDARD)中，亦對此人體放電模式訂定測試規範(EIA/JESD22-A114-A) ，詳細情形請參閱該工業標準。

因為測試機台導線的雜散等效電感與電容互相耦合而引起的。圖2.2-2 人體放電模式(2-KV) 與機器放電模式(200V) 放電電流的比較圖另外在國際電子工業標準(EIA/JEDEC STANDARD) 中，亦對此機器放電模式訂定測試規範(EIA/JESD22-A115-A) ，詳細情形請參閱該工業標準。 2.3 元件充電模式(Charged-Device Model, CDM) 此放電模式是指IC先因磨擦或其他因素而在IC內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中IC並未被損傷。此帶有靜電的IC在處理過程中，當其pin去碰觸到接地面時，IC內部的靜電便會經由pin自IC內部流出來，而造成了放電的現象。