微喷带水量分布特性试验分析

微喷带水量分布特性试验分析
微喷带水量分布特性试验分析

中科大半导体器件原理考试重点

《半导体器件原理》课程复习提纲 2017.12 基础:半导体物理、半导体器件的基本概念、物理效应。 重点:PN结、金半结、双极型晶体管、JFET、MESFET、MOSFET。根据物理效应、物理方程、实验修正等,理解半导体器件的工作原理和特性曲线,掌握器件的工作方程和各种修正效应,了解器件的参数意义,能够进行器件设计、优化、应用、仿真与建模等。 第一章:半导体物理基础 主要内容包括半导体材料、半导体能带、本征载流子浓度、非本征载流子、本征与掺杂半导体、施主与受主、漂移扩散模型、载流子输运现象、平衡与非平衡载流子。 半导体物理有关的基本概念,质量作用定律,热平衡与非平衡、漂移、扩散,载流子的注入、产生和复合过程,描述载流子输 运现象的连续性方程和泊松方程。(不作考试要求) 第二章:p-n结 主要内容包括热平衡下的p-n结,空间电荷区、耗尽区(耗尽层)、内建电场等概念,p-n结的瞬态特性,结击穿,异质结与高低结。 耗尽近似条件,空间电荷区、耗尽区(耗尽层)、内建电势等概念,讨论pn结主要以突变结(包括单边突变结)和线性缓变结为例,电荷分布和电场分布,耗尽区宽度,势垒电容和扩散电容的概念、定义,直流特性:理想二极管IV方程的推导;

对于考虑产生复合效应、大注入效应、温度效应对直流伏安特性的简单修正。PN的瞬态特性,利用电荷控制模型近似计算瞬变时间。结击穿机制主要包括热电击穿、隧道击穿和雪崩击穿。要求掌握隧道效应和碰撞电离雪崩倍增的概念,雪崩击穿条件,雪崩击穿电压、临界击穿电场及穿通电压的概念,异质结的结构及概念,异质结的输运电流模型。高低结的特性。 第三章:双极型晶体管 主要内容包括基本原理,直流特性,频率响应,开关特性,异质结晶体管。 晶体管放大原理,端电流的组成,电流增益的概念以及提高电流增益的原则和方法。理性晶体管的伏安特性,工作状态的判定,输入输出特性曲线分析,对理想特性的简单修正,缓变基区的少子分布计算,基区扩展电阻和发射极电流集边效应,基区宽度调制,基区展宽效应,雪崩倍增效应,基区穿通效应,产生复合电流和大注入效应,晶体管的物理模型E-M模型和电路模型G-P 模型。跨导和输入电导参数,低频小信号等效电路和高频等效电路,频率参数,包括共基极截止频率fα和共射极截止频率fβ的定义,特征频率f T的定义,频率功率的限制,其中少子渡越基区时间,提高频率特性的主要措施。开关特性的参数定义,开关时间的定义和开关过程的描述,利用电荷控制方程简单计算开关时间。 开关晶体管中最重要的参数是少子寿命。异质结双极型晶体管的结构及优点。

半导体特性分析实验

半导体特性分析实验(PN结I-V特性测试) 在微电子和固态电子学领域,半导体PN结几乎是构成一切有源器件以及像二极管一些无源器件的最基本单元。本实验的目的是了解PN结的基本I-V特性,包括有非线性、整流性质,学习曲线拟合方法,求出波尔兹曼常数。 一、实验目的 了解PN结的基本特性,掌握PN结的伏安特性,学习曲线拟合方法,求出波尔兹曼常数。 二、实验内容 测试未封装PN结的I-V特性曲线,进行曲线拟合,求出波尔兹曼常数。三、仪器设备 4200-SCS半导体特性测试系统,二极管,探针台 四、实验原理 1、PN结的伏安特性 在半导体材料中,P型区域与N型区域的交界处附近会形成一个特殊的区域,这个区域叫PN结。PN结是半导体器件的核心,检测半导体器件实际上就是通过外部引脚测量内部PN结。PN结具有三个重要参数:单向导电;正向导通压降;反向击穿电压,它们是判断PN结好坏、识别无标识的半导体器件类型和各引脚电极的主要依据。二极管就是一个单独封装的PN结。在未封装前检测PN结,进行实时监控,可以更及时迅速发现质量问题,减少浪费。 单向导电:当给PN结施加正向电压时,即正极(连接到P区)接正、负极接负(联结到N区)接负。PN结呈现为导通状态,有正向电流流过,并且该电流将随着正向电压的增加,急剧增大。当给PN结施加相反的电压时,二极管呈现为截止状态,只有少量的穿透电流I BO(μA级以下)流过。 正向导通压降:PN结上加上正向电压导通后,会保持一个相对固定的端电压VF,VF称为“正向导通压降”,其数值依选用的半导体基材不同而有别,锗半导体约为0.3V;硅半导体约为0.7V。

反向击穿电压:当给PN 结施加的反向电压值达到其所能承受的极限值(反向击穿电压VZ ,大小因不同的PN 结有别)时,二极管呈现为导通状态,且在允许的反向电流范围内,其端电压会基本保持为VZ ,即PN 结反向击穿后具有“稳压特性”。 这些参数都可以在伏安特性曲线也就是PN 结的I-V 特性曲线上可以得到。在直角坐标系中,如果以PN 结的端电压V 为横坐标,电流I 为纵坐标,得到一条曲线,该曲线就被称为PN 结的伏安特性曲线,见图1。从图中可以看到,在给二极管加上的正向电压数值必须大于Vr 时才可以导通,Vr 称为死区电压。 图 1 2、由PN 结的伏安特性拟合波尔兹曼常数 从固体理论可知,理想的PN 结的正向电流-电压关系满足下式 1T k eU exp [I I B 0???? ?????= (1) 其中,I 是通过PN 结的正向电流,I 0是反向饱和电流(与半导体的性质和掺杂有关),U 是加在PN 结上的正向电压,T 为绝对温度,k B 为波尔兹曼常数,e 为基本电荷。常温下,38T k /e B ≈,()1T k /eU exp B >>,则(1)式可以近似写成 ??? ?????=T k eU exp I I B 0 (2) 在常温下,PN 结的正向电流随正向电压按e 指数规律变化。测量得到了PN 结的伏安特性以及温度T 后,可以利用基本电荷值,求得波尔兹曼常数k B 。将式 (2)两边取对数,即可得到

实验四 控制系统频率特性的测试(实验报告)

实验四 控制系统频率特性的测试 一. 实验目的 认识线性定常系统的频率特性,掌握用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法,根据开环系统的对数频率特性,确定系统组成环节的参数。 二.实验装置 (1)微型计算机。 (2)自动控制实验教学系统软件。 三.实验原理及方法 (1)基本概念 一个稳定的线性定常系统,在正弦信号的作用下,输出稳态与输入信号关系如下: 幅频特性 相频特性 (2)实验方法 设有两个正弦信号: 若以)(t x ω为横轴,以)(y t ω为纵轴,而以t ω作为参变量,则随t ω的变化,)(t x ω和 )(y t ω所确定的点的轨迹,将在 x--y 平面上描绘出一条封闭的曲线(通常是一个椭圆)。这 就是所谓“李沙育图形”。 由李沙育图形可求出Xm ,Ym ,φ,

四.实验步骤 (1)根据前面的实验步骤点击实验七、控制系统频率特性测试菜单。 (2)首先确定被测对象模型的传递函数, 预先设置好参数T1、T2、ξ、K (3)设置好各项参数后,开始仿真分析,首先做幅频测试,按所得的频率范围由低到高,及ω由小到大慢慢改变,特别是在转折频率处更应该多取几个点 五.数据处理 (一)第一种处理方法: (1)得表格如下: (2)作图如下: (二)第二种方法: 由实验模型即,由实验设置模型根据理论计算结果绘制bode图,绘制Bode图。

(三)误差分析 两图形的大体趋势一直,从而验证了理论的正确性。在拐点处有一定的差距,在某些点处也存在较大的误差。 分析: (1)在读取数据上存在较大的误差,而使得理论结果和实验结果之间存在。 (2)在数值应选取上太合适,而使得所画出的bode图形之间存在较大的差距。 (3)在实验计算相角和幅值方面本来就存在着近似,从而使得误差存在,而使得两个图形之间有差异 六.思考讨论 (1)是否可以用“李沙育”图形同时测量幅频特性和想频特性 答:可以。在实验过程中一个频率可同时记录2Xm,2Ym,2y0。 (2)讨论用“李沙育图形”测量频率特性的精度,即误差分析(说明误差的主要来源)答:用“李沙育图形”测量频率特性的精度从上面的分析处理上也可以看出是比较高的,但是在实验结果和理论的结果之间还是存在一定的差距,这些误差主要来自于从“李沙育图形”上读取数据的时候存在的误差,也可能是计算机精度方面的误差。 (3)对用频率特性测试系统数学模型方法的评测 答:用这种方法进行此次实验能够让我们更好地了解其过程,原理及方法。但本次实验的数据量很大,需要读取较多坐标,教学软件可以更智能一些,增加一些自动读取坐标的功能。 七.实验总结 通过本次实验,我加深了对线性定常系统的频率特性的认识,掌握了用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法。使我把书本知识与实际操作联系起来,加深了对课程内容的理解。在处理数据时,需要进行一定量的计算,这要求我们要细心、耐心,作图时要注意不能用普通坐标系,而是半对数坐标系进行作图。

品质评价实验报告——描述性检验法(1)

食品品质评价 —描述检验法 一、实验目的 通过实验了解定量描述检验法的定义、特点及其应用;初步学会定量描述检验的方法。本实验是利用定量描述检验法评价两种品牌的西红柿薯条和薯片的总体品质,分析其感官差异。 二、实验方法原理 制定具体实验方案、对实验的样品进行准备,组织同学进行品尝并参加样品的品尝,根据人的感觉包括味觉、嗅觉、视觉、听觉和触觉等,用语言、文字、符号或数据进行记录,再运用概率统计原理进行统计分析,画出风味剖面图并对剖面图进行分析从而得出结论,对食品的色、香、味、形、质地、口感等各项指标做出评价。 三、样品及器具 1.样品:两种番茄味薯片(可比克,上好佳) 2.器具:被子,托盘,纸条,笔,纸巾 四、方法步骤 1.召开信息会,熟悉产品,确定产品特性特征及强度等级,采用GB12313-90 标度A(数字); 2.确定评价方法:独立方法; 3.评价组长按定量描述检验法程序做好样品的‘描述检验问卷’;

4两种薯条/片样品以随机三位数编号,放在托盘内,呈递给评价员; 5.评价员在熟悉薯条/片产品的各项特性特征,独立品评,并填写问卷表; 5.数据处理 分组:按编号分成两大组进行数据统计分析,其中: 1-22号为第一大组(薯条),23-44号为第二大组(薯片),结果报告形式:用QDA图报告总体评价结果; 用方差分析报告样品间和评价员差异。 五、心得体会 本次实验我对描述检验方法有了更进一步的认识,初步学会了定量描述检验的方法。作为实验员,从样品特性特征的鉴定、感觉顺序的确定、采用数字法进行强度评价、余味和滞留度的测定、综合印象的评估,到实验的前期准备工作以及本次实验的内容——利用定量描述检验法评价两种品牌的番茄薯片的总体品质,整个过程我都参与了。虽然多花了许多时间,但也有很多收获。我对定量描述检验法的整个流程有了深层理解和深刻印象,同时也交到了很多朋友。只有亲自动手实践,理论联系实际,才能更好地掌握理论知识,将所学内容应用于实践当中。 六、实验结果报告 1. 涉及的问题; 评价两种品牌的西红柿薯条/片的总体品质分析及品质差异, 2. 使用的方法(检验技术);

半导体激光器pi特性测试实验

太原理工大学现代科技学院 课程实验报告 专业班级 学号 姓名 指导教师

实验名称 半导体激光器P-I 特性测试实验 同组人 专业班级 学号 姓名 成绩 一、 实验目的 1. 学习半导体激光器发光原理和光纤通信中激光光源工作原理 2. 了解半导体激光器平均输出光功率与注入驱动电流的关系 3. 掌握半导体激光器P (平均发送光功率)-I (注入电流)曲线的测试方法 二、 实验仪器 1. ZY12OFCom13BG 型光纤通信原理实验箱 1台 2. 光功率计 1台 3. FC/PC-FC/PC 单模光跳线 1根 4. 万用表 1台 5. 连接导线 20根 三、 实验原理 半导体激光二极管(LD )或简称半导体激光器,它通过受激辐射发光,(处于高能级E 2的电子在光场的感应下发射一个和感应光子一模一样的光子,而跃迁到低能级E 1,这个过程称为光的受激辐射。所谓一模一样,是指发射光子和感应光子不仅频率相同,而且相位、偏振方向和传播方向都相同,它和感应光子是相干的。)是一种阈值器件。由于受激辐射与自发辐射的本质不同,导致了半导体激光器不仅能产生高功率(≥10mW )辐射,而且输出光发散角窄(垂直发散角为30~50°,水平发散角为0~30°),与单模光纤的耦合效率高(约30%~50%),辐射光谱线窄(Δλ=0.1~1.0nm ),适用于高比特工作,载流子复合寿命短,能进行高速信号(>20GHz )直接调制,非常适合于作高速长距离光纤通信系统的光源。 P-I 特性是选择半导体激光器的重要依据。在选择时,应选阈值电流I th 尽可能小,I th 对应P 值小,而且没有扭折点的半导体激光器,这样的激光器工作电流小,工作稳定性高,消光比(测试方法见实验四)大, ……………………………………装………………………………………订…………………………………………线………………………………………

系统频率特性的测试实验报告

东南大学自动化学院课程名称:自动控制原理实验 实验名称:系统频率特性的测试 姓名:学号: 专业:实验室: 实验时间:2013年11月22日同组人员: 评定成绩:审阅教师:

一、实验目的: (1)明确测量幅频和相频特性曲线的意义; (2)掌握幅频曲线和相频特性曲线的测量方法; (3)利用幅频曲线求出系统的传递函数; 二、实验原理: 在设计控制系统时,首先要建立系统的数学模型,而建立系统的数学模型是控制系统设计的重点和难点。如果系统的各个部分都可以拆开,每个物理参数能独立得到,并能用物理公式来表达,这属机理建模方式,通常教材中用的是机理建模方式。如果系统的各个部分无法拆开或不能测量具体的物理量,不能用准确完整的物理关系式表达,真实系统往往是这样。比如“黑盒”,那只能用二端口网络纯的实验方法来建立系统的数学模型,实验建模有多种方法。此次实验采用开环频率特性测试方法,确定系统传递函数。准确的系统建模是很困难的,要用反复多次,模型还不一定建准。另外,利用系统的频率特性可用来分析和设计控制系统,用Bode 图设计控制系统就是其中一种。 幅频特性就是输出幅度随频率的变化与输入幅度之比,即)()(ωωi o U U A =。测幅频特性时, 改变正弦信号源的频率,测出输入信号的幅值或峰峰值和输输出信号的幅值或峰峰值。 测相频有两种方法: (1)双踪信号比较法:将正弦信号接系统输入端,同时用双踪示波器的Y1和Y2测量系统的输入端和输出端两个正弦波,示波器触发正确的话,可看到两个不同相位的正弦波,测出波形的周期T 和相位差Δt ,则相位差0360??=ΦT t 。这种方法直观,容易理解。就模拟示波 器而言,这种方法用于高频信号测量比较合适。 (2)李沙育图形法:将系统输入端的正弦信号接示波器的X 轴输入,将系统输出端的正弦信号接示波器的Y 轴输入,两个正弦波将合成一个椭圆。通过椭圆的切、割比值,椭圆所在的象限,椭圆轨迹的旋转方向这三个要素来决定相位差。就模拟示波器而言,这种方法用于低频信号测量比较合适。若用数字示波器或虚拟示波器,建议用双踪信号比较法。 利用幅频和相频的实验数据可以作出系统的波Bode 图和Nyquist 图。 三、预习与回答: (1)实验时,如何确定正弦信号的幅值?幅度太大会出现什么问题,幅度过小又会出现什 么问题? 答:根据实验参数,计算正弦信号幅值大致的范围,然后进行调节,具体确定调节幅值时,首先要保证输入波形不失真,同时,要保证在频率较大时输出信号衰减后人能够测量出来。如果幅度过大,波形超出线性变化区域,产生失真;如果波形过小,后续测量值过小,无法精确的测量。

自动控制原理控制系统的频率特性实验报告

肇庆学院 工程学院 自动控制原理实验报告 12 年级 电气一班 组员:王园园、李俊杰 实验日期 2014/6/9 姓名:李奕顺 学号:201224122130老师评定 ________________ 实验四:控制系统的频率特性 一、实验原理 1.被测系统的方块图:见图4-1 将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化, 并施加于 被测系统的输人端[r(t)],然后分别测量相应的反馈信号 [b(t)]和误差信号[e(t)]的对数幅 值和 相位。频率特性测试仪测试数据经相关运算器后在显示器中显示。 根据式(4 — 3)和式(4 — 4)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位, 在半对数座标 纸上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。 系统(或环节)的频率特性 幅值和相角: G (j 3)是一个复变量,可以表示成以角频率 3为参数的 G(j 3)= G(j 3)|/G(j 3) (4 — 1) 本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特牲。 图4-1所示系统的开环频率特性为: G 1(j 3)G 2(j 3) B(j 3) 」 B(j 3) E(j 3) E(j 3) E(j 3) (4—2) 采用对数幅频特性和相频特性表示,则式( 20lgG1(j 3) G2(j 3)H(j 3)= 2 叫鵲 = 20lgB(j 3) -20lg E(j 3) (4— 3) G 1(j 3)G 2(j 3)H(j 3) 二 B(j 3)- . E(j 3) (4—4) 图4-1 被测系统方块图 4— 2 )表示 为:

根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转 角频确定频率特性(或传递函数)。所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与由确定的频率特牲(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符,如果测量所得的相位在高频 (相 对于转角频率)时不等于-90 ° (q —p)[式中p和q分别表示传递函数分子和分母的阶次], 那么,频率特性(或传递函数)必定是一个非最小相位系统的频率特性。 2.被测系统的模拟电路图:见图4-2 图4-2被测系统 二、实验内容 (1)将U21 DAC单元的OUT端接到对象的输入端。 ⑵将测量单元的CH1 (必须拨为乘I档)接至对象的输出端。 ⑶将Ul SG单元的ST和S端断开,用排线将ST端接至U26控制信号单元中的PB0。(由于在每次测量前,应对对象进行一次回零操作,ST即为对象锁零控制端,在这里,我们用8255的PB0 口对ST进行程序控制) ⑷在PC机上分别输入角频率为1, 10,100,300,并使用“ +”、“―”键选择合适的幅值,按ENTER键后,输入的角频率开始闪烁,直至测量完毕时停止,屏幕即显示所测对象的输出及信号源,移动游标,可得到相应的幅值和相位,得到的实验波形图如图4-3到图4-10所示: 图4-3输入频率为1的波形图1

建筑工程材料检测试验及常见问题分析 李林

建筑工程材料检测试验及常见问题分析李林 发表时间:2017-11-29T15:31:51.427Z 来源:《建筑学研究前沿》2017年第18期作者:李林[导读] 建筑材料无疑是非常关键的一个因素,因此想要保障建筑工程的质量,对建筑工程材料进行检测与试验,从而确保材料的质量。南通大瑞建设工程质量检测有限公司江苏南通 226010 摘要:随着我国的经济发展,建筑施工项目如雨后春笋般层出不穷,大大促进了工程材料的改革与研发。为了适应经济的发展,新型的建筑工程材料逐渐被广泛使用,在缩短工程建设的周期的同时,进一步促进了我国建筑业的持续发展。文章分析了建筑工程材料检测试验常见的问题及应对方法,以期能够为以后的建筑工程的实践工作起到借鉴作用。 关键词:建筑工程材料;检测试验;常见同题 影响建筑工程质量的因素有很多,建筑材料无疑是非常关键的一个因素,因此想要保障建筑工程的质量,对建筑工程材料进行检测与试验,从而确保材料的质量。 1强化检测及试验的必要性在建设工程中,加大工程材料的检测试验已经成为已汇总建筑施工的发展趋势。一方面为工程质量达标提供基础;另一方面可以有效保障施工单位的成本控制,以此避免后期工作中不必要的施工麻烦。通过专业的检测方法和强有力的检测力度,可以充分保障建筑施工材料在投入使用前的质量,可以有效保障整个建设项目的安全可靠性。第一,在材料供应行业中,在进行选材时,必须符合选材制度的科学标准,一定要以市场检验标准为出发点,确保所有材料都能与质检标准要求相符合,作为建筑工程材料,务必按照“三检一验”制度进行材料检验;第二,在形式各样的新型材料方面,一定要在固有检测方法的基础上多加试验和检测,通过实际的数据资料分析,将工作核心点与建筑工程质量紧密联系起来,层层优化工作质量和程序;第三,通过大量的实践和检验,与行之有效的材料规范化管理相结合,坚决不接受不符合质检标准的建筑材料。以此避免因材料问题而引起的质量不合格问题,能够有效杜绝后期施工的不必要经济纠纷,为企业的发展打下坚实的基础,实现企业利益的最大化。 2建筑工程材料检测试验常见问题的分析 2.1配件缺乏质量保障 建筑材料以及配件、装饰建材等内容都包含在施工中的试验检测工作中。在工程项目进行建造的过程中,对建筑体进行建材的检测工作往往容易被忽视,检测工作不仅是建筑管理的重要执行内容之一,更是与建筑的质量问题息息相关。因此为了能够保证建筑工程的安全性,一定要科学地进行建筑配件的检测试验工作,对施工质量进行整体把握,不仅要做好主体建材质量检测,更要做好建材型号、批次以及规格配件质量的抽取验测工作,只有将各方面的材料检测工作做好,才能确保建筑工程材料的正常使用,整个建筑工程项目的质量才能得到有效保障。 2.2检验人员的综合素质 影响建筑工程施工材料检测质量的另一个重要因素就是施工材料检测的工作人员综合素质比较低。所有从事施工材料试验检测的的工作人员,都必须具有相应的上岗资格证,并且有一定的工作经验,在施工材料试验检测的过程中,检测工作人员的专业技能与相关理论基础的掌握程度都会影响到建筑工程施工材料试验检测的准确性。大部分的工作人员认为工程施工材料的检测是一项非常简单的重复性工作,所以在实际工作的过程中,并没有加强对这一方面的重视。同时因为我国并没有加强对施工材料检测工作人员的培养,这样就严重制约了我国建筑施工材料检测工作的进步。这样就充分地证明了想要提升建筑工程施工材料检测的质量,就必须加强对施工材料检测工作人员的培养。 2.3施工材料的可适用性问题 建筑在施工之前,应当要准备好所需要的建筑材料,但是新型材料种类繁多、形式各样,而且像房屋、水利、桥梁以及隧道等领域的材料更是复杂多样,对这些材料适用性的界定也是模棱两可,这就在根源上埋下了安全的隐患。除此之外,我国地广人多,各省份之间存在着较大的气候差异,同一种建筑材料在南方很是受用,但是到了北方往往就会适得其反,这些因素往往就可能导致了建筑材料的不确定性,出现材料混乱的局面。针对材料的科学性、适用性问题,相关地方建设部门应当深入实践工作当中,以每个地方的气候条件为出发点,充分发挥“领头羊”的作用,制定出相对应的政策法规,以便能够从根源上解决建筑材料的可适用问题。 3建筑工程材料检测优化措施 3.1制定全面、科学的试验检测标准 要根据工程的规模、等级制定检测标准,即确保标准适用于该工程,如果不考虑这一项引用其他工程的标准,就无法保证检测结果的可靠性;制定检测工作的标准,即使工作流程规范化、全面化,通过这一流程,能够让工作人员有一定的约束力,进而不会出现工作消极、马虎的问题;将实验标准具体化,细致化,争取能够涉及到每一个关键点。 3.2操作过程中取样的具体方法及数量 在对建筑工程施工材料进行试验检测的过程中,工作人员应该科学、合理进行施工材料的选择,保证选择的施工材料具有一定的代表性。在对施工材料进行具体的取样过程中,需要遵循不同的批次、不同的生产厂家、不同规格、型号的施工材料进行随机的选取,增加施工材料选取数量的科学性。比如,在对建筑工程施工中需要的钢筋材料进行取样的时候,可以选择不同部位的材料进行试验检测,这样可以有效地保证材料试验检测数据的准确性。此外,为了保证施工材料取样结果的准确性,需要合理的控制取样的数量,保证施工材料取样位置的合理性。 3.3完善质量检测机制 做好建筑工程材料检测工作的基础是拥有一套较为完善的质量检测机制。一方面,能够在制度的基础上,有规范有程序地进行材料的质量检测,保障检测工作能够顺畅展开;另一方面,通过完善的工程材料质量检测机制有助于建筑工程监督工作的展开,可以有效进行工程材料的控制管理工作。两方面相结合可有效保证材料质量检测数据的科学合理性,可以最大限度地保障材料质量检测工作的可靠性和完善性。

频域分析实验报告

频域分析实验报告 班级: 学号: 姓名:

一、实验内容: 1利用计算机作出开环系统的波特图; 2、观察记录控制系统的开环频率特性; 3、控制系统的开环频率特性分析。 二、仿真原理: 对数频率特性图(波特图): 对数频率特性图包括了对数幅频特性图和对数相频特性图。横坐标为频率w,采用对数分度,单位为弧度/秒;纵坐标均匀分度,分别为幅值函数20lgA(w),以dB表示;相角,以度表示。MATLAB提供了函数bode()来绘制系统的波特图,其用法如下: (1)bode(num,den):可绘制出以连续时间多项式传递函数表示的系统的波特图。 (2)当带输出变量[mag,pha,w]或[mag,pha]引用函数时,可得到系统波特图相应的幅值mag、相角pha及角频率点w矢量或只是返回幅值与相角。相角以度为单位,幅值可转换为分贝单位:magdb=20×log10(mag) 二、实验验证 1、用Matlab作Bode图。要求:画出对应Bode图。 (1)G(S)=25/S2+4s+25 (7)G(S)=9(s2+0.2s+1)/s(s2+1.2s+9);

图 1 图 2 (1)G(S)=25/S2+4s+25 可以看成是一个比例环节和一个振荡环节组成,所以k=1,T1=0.04,因为v=0,所以在转折频率之前都为20lgk,因为k=1所以斜率为0,经过转折频率,分段直线斜率的变化量为-40db/dec。

(7)G(S)=9(s2+0.2s+1)/s(s2+1.2s+9); 可以看成是一个二阶微分环节和一个积分环节和一个振荡环节组成,化常数为1后,v=1,t1=1,t2=1/3,所以我们可以看到,在起始阶段是-20*vdb/dec,所以一开始斜率为-20db/dec。当经过1/3的转折频率之后分段直线的改变量为40db/dec,当经过1的转折频率之后分段直线的改变量为-40db/dec。故图像如图所示。 第二题: 典型二阶系统Gs=Wn2/s2+2ζWns+Wn2,试绘制取不同值时的Bode图。取Wn=8,ζ=0.1,0.2,0.3,,0.5,0.6; 图 3 如图所示。

食品质量分析与检验实验指导书.doc

食品质量分析与检验实验指导书 1 《食品质量分析与检验》 实验与实训指导书蒋红英编

农业与生物工程学院现代农业部 2010年10月 食品质量分析与检验实验指导书 2 目录 项目(实验)一味觉敏感度测定................................................3 项目(实验)二排序实验 (7) 项目(实验)三密度的测定 (10) 项目(实验)四物理检验实验 (11) 项目(实验)五酱油中氨基态氮含量的测定 (14)

食品质量分析与检验实验指导书 3实验一味觉敏感度测定 1-1 味觉敏感度测定 一、实验原理 酸、甜、苦、咸是人类的四种基本味觉,取四种标准味感物质按算数系列或几何系列稀 释,以浓度递增的顺序向评价员提供,品尝后记录味感。 二、实验目的 感官评价员不仅应能够区别不同产品之间的性质差异,而且应能够区别相同产品某项性能的差别程度或强弱。通过实验评价学生是否具有正常的感官功能及其味觉敏感度,测定学生对基本味道的识别能力及察觉阈、识别阈和差别阈值。 三、实验材料与用具 (1)四种基本味感物质的储备液和稀释溶液,按表1配制。 (2)容量瓶、电子天平、试剂瓶、移液管、量筒、吸耳球、试饮杯、洗瓶、吐液杯

四、实验方法及操作步骤 (1)评价员将收到一种具有某味特征(酸甜苦咸)的样品浓度系列,样品按浓度递增(递 减)的顺序排列。按照指定顺序对这些样品依次评估,不要将样品咽下。先用清水洗漱口腔,然后取第一个试饮杯,喝一小口试液含于口中(注意请勿咽下),活动口腔,使试液充分接触整个舌头。 (2)仔细辨别味道,然后吐去试液,用清水洗漱口腔。在表2中记下试样编号和味觉判别。 食品质量分析与检验实验指导书 4表2 味觉敏感度测定实验记录

半导体特性测试仪

4200-SCS半导体特性分析系统- 集成前沿的脉冲能力和精密DC测量,用于65nm节点及更小尺寸 Document Actions 型号:4200-SCS 主要特点及优点 直观的、点击式Windows?操作环境 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA 新的脉冲和脉冲I-V能力用于先进半导体测试 新的示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能

内置stress/measure、looping和数据分析用于点击式可靠性测试,包括五个符合JEDEC 的范例测试 支持多种LCR表、吉时利开关矩阵配置与吉时利3400系列和安捷伦81110脉冲发生器等多种外围设备 包括驱动软件,支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200和PA-300、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台 先进半导体支持包括吉时利提供的IC-CAP器件建模包驱动程序并支持Cadence BSIM ProPlus/Virtuoso 和Silvaco UTMOST器件建模工具 容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC 机,Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。更多特性使stress-measure能力适合广泛的可靠性测试。 相关应用 半导体器件 片上参数测试 晶圆级可靠性 封装器件特性分析 C-V/I-V 特性分析,需选件4200-590高频C-V分析器 高K栅电荷俘获 受自加热效应影响的器件和材料的等温测试 Charge pumping用于MOSFET器件的界面态密度分析 电阻性的或电容性的MEM驱动器特性分析 光电子器件

电路实验__电路频率特性的研究要点说明

东南大学电工电子实验中心 实验报告 课程名称:电路实验 第二次实验 实验名称:电路频率特性的研究 院(系):仪器科学与工程学院专业: 姓名:学号: 实验室: 实验组别: 同组人员:实验时间: 评定成绩:审阅教师:

电路频率特性的研究 一、 实验目的 1. 掌握低通、带通电路的频率特性; 2. 应用Multisim 软件测试低通、带通电路频率特性及有关参数; 3. 应用Multisim 软件中的波特仪测试电路的频率特性。 二、 实验原理 研究电路的频率特性,即是分析研究不同频率的信号作用于电路所产生的响应函数与激励函数的比值关系。通常情况下,研究具体电路的频率特性,并不需要测试构成电路所有元件上的响应与激励之间的关系,只需要研究由工作目的所决定的某个元件或支路的响应与激励之间的关系。本实验主要研究一阶RC 低通电路,二阶RLC 低通、带通电路的频率特性。 (一):网络频率特性的定义 电路在一个正弦电源激励下稳定时,各部分的响应都是同频率的正弦量,通过正弦量的相量,网络函数|()|H jw 定义为:. ().|()||()|j w Y H w H jw e X ?== 其中Y 为输出端口的响应,X 为输入端口的激励。由上式可知,网络函数是频率的函数,其中网络函数的模|()|H jw 与频率的关系称为幅频特性,网络函数的相角()w ?与频率的关系称为相频特性,后者表示了响应与激励的相位差与频率的关系。 (二):网络频率特性曲线 1. 一阶RC 低通网络 网络函数: 其模为: 辐角为: 显然,随着频率的增高,|H(j ω)|将减小, 即响应与激励的比值减小,这说明低频信 4590 (a) RC低通网络(b) 幅频特性 (c) 相频特性 ()H j ω()) RC ?ω=().0.1/1 1/1i U j c H j R j C j RC U ωωωω=== ++

4200-SCS 半导体特性分析系统

4200-SCS 半导体特性分析系统 主要特点及优点: ? 直观的、点击式Windows 操作环境 ? 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA ? 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 ? 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 ? 支持Keithley590 型与Agilent 4284 型C-V 仪、Keithley 开关矩阵与Agilent 81110 脉冲发生器等多种外围设备 ? 硬件由Keithley 交互式测试环境(KITE)来控制 ? 用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充? 包括驱动软件,支持Cascade Microtech Summit12K 系列、Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自动和手动探针台 容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows NT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。4200-SCS 提供了很大的灵活性,其硬件选项包括开关矩阵、Keithley 与Agilent C-V 仪以及脉冲发生器等多种选择。 4200-SCS为模块化结构配置非常灵活。系统最多可支持八个源-测量单元,包括最多四个具有1A/20W能力的大功率SMU。远端前置放大器选件4200-PA,可以有效地减少长电缆所贡献的噪声,且使SMU扩大五个小电流量程,使其测量能力扩展到0.1fA。前置放大器模块同系统有机地组合成一体,从使用者看来,相当于扩充了SMU的测量分辨率。 *欲了解更详细信息(英文)-您可以在搜索栏中输入型号的号码进行查询。

一阶RC电路频率特性的研究实验报告

北京交通大学电子信息工程学院2011~2012 实验报告 实验题目:一阶RC电路频率特性的研究。 实验内容及结果: 1.低通电路的研究 实验电路: 实验数据: 低通电路数据 频率电平频率 a b 相位差100 -0.1 100 0.6 4.8 7.1808 300 -0.9 200 1.2 4.4 15.8266 475 -2 300 1.9 4.2 26.8965 560 -2.5 400 2.2 4 33.367 641 -3 500 2.4 3.6 41.8103 704 -3.5 600 2.4 3.2 51.3752 788 -4 700 2.4 3 53.1301 849 -4.5 800 2.4 2.8 58.9973 926 -5 1000 2 2.4 56.4427 1000 -5.5 2000 3.2 3.4 70.2501 1072 -6 3000 2.1 2.2 72.6586 1149 -6.5 5000 1.2 1.2 90 1240 -7 1340 -7.5 1430 -8 1520 -8.5 1600 -9 1660 -9.5 1860 -10 2400 -12 3040 -14 3780 -16 4700 -18 5000 -19

电平图: 相位差图:

2.高通电路研究 实验数据: 高通电路数据 频率电平频率 a b 相位差5000 0 5000 0.6 4.6 7.4947 1500 -0.4 4000 0.8 4.6 10.0154 1200 -0.8 3000 1 4.5 12.8396 1030 -1 2000 1.4 4.5 18.1262 899 -1.4 1000 2 4 30 740 -2 600 2.4 3.2 48.5904 663 -2.4 500 2.4 3.1 50.732 588 -3 400 2.1 2.4 61.045 532 -3.5 300 2 2.1 72.2472 481 -4 100 0.8 0.8 90 440 -4.5 400 -5 372 -5.5 344 -6 339 -6.5 325 -7 261 -8 227 -9 200 -10 165 -11 100 -16

信号与系统实验报告实验三 连续时间LTI系统的频域分析

实验三 连续时间LTI 系统的频域分析 一、实验目的 1、掌握系统频率响应特性的概念及其物理意义; 2、掌握系统频率响应特性的计算方法和特性曲线的绘制方法,理解具有不同频率响应特性的滤波器对信号的滤波作用; 3、学习和掌握幅度特性、相位特性以及群延时的物理意义; 4、掌握用MA TLAB 语言进行系统频响特性分析的方法。 基本要求:掌握LTI 连续和离散时间系统的频域数学模型和频域数学模型的MATLAB 描述方法,深刻理解LTI 系统的频率响应特性的物理意义,理解滤波和滤波器的概念,掌握利用MATLAB 计算和绘制LTI 系统频率响应特性曲线中的编程。 二、实验原理及方法 1 连续时间LTI 系统的频率响应 所谓频率特性,也称为频率响应特性,简称频率响应(Frequency response ),是指系统在正弦信号激励下的稳态响应随频率变化的情况,包括响应的幅度随频率的变化情况和响应的相位随频率的变化情况两个方面。 上图中x(t)、y(t)分别为系统的时域激励信号和响应信号,h(t)是系统的单位冲激响应,它们三者之间的关系为:)(*)()(t h t x t y =,由傅里叶变换的时域卷积定理可得到: )()()(ωωωj H j X j Y = 3.1 或者: ) () ()(ωωωj X j Y j H = 3.2 )(ωj H 为系统的频域数学模型,它实际上就是系统的单位冲激响应h(t)的傅里叶变换。即 ? ∞ ∞ --= dt e t h j H t j ωω)()( 3.3

由于H(j ω)实际上是系统单位冲激响应h(t)的傅里叶变换,如果h(t)是收敛的,或者说是绝对可积(Absolutly integrabel )的话,那么H(j ω)一定存在,而且H(j ω)通常是复数,因此,也可以表示成复数的不同表达形式。在研究系统的频率响应时,更多的是把它表示成极坐标形式: ) ()()(ω?ωωj e j H j H = 3.4 上式中,)j (ωH 称为幅度频率相应(Magnitude response ),反映信号经过系统之后,信号各频率分量的幅度发生变化的情况,)(ω?称为相位特性(Phase response ),反映信号经过系统后,信号各频率分量在相位上发生变换的情况。)(ωj H 和)(ω?都是频率ω的函数。 对于一个系统,其频率响应为H(j ω),其幅度响应和相位响应分别为)(ωj H 和)(ω?,如果作用于系统的信号为t j e t x 0)(ω=,则其响应信号为 t j e j H t y 0)()(0ωω= t j j e e j H 00)(0)(ωω?ω=))((000)(ω?ωω+=t j e j H 3.5 若输入信号为正弦信号,即x(t) = sin(ω0t ),则系统响应为 ))(sin(|)(|)sin()()(00000ω?ωωωω+==t j H t j H t y 3.6 可见,系统对某一频率分量的影响表现为两个方面,一是信号的幅度要被)(ωj H 加权,二是信号的相位要被)(ω?移相。 由于)(ωj H 和)(ω?都是频率ω的函数,所以,系统对不同频率的频率分量造成的幅度和相位上的影响是不同的。 2 LTI 系统的群延时 从信号频谱的观点看,信号是由无穷多个不同频率的正弦信号的加权和(Weighted sum )所组成。正如刚才所述,信号经过LTI 系统传输与处理时,系统将会对信号中的所有频率分量造成幅度和相位上的不同影响。从相位上来看,系统对各个频率分量造成一定的相位移(Phase shifting ),相位移实际上就是延时(Time delay )。群延时(Group delay )的概念能够较好地反

光谱分析培训资料

光谱分析培训资料 2006年9月

原子吸收光谱分析培训资料 说明:以下内容仅是该类检测人员需要掌握的最基本知识,还涉及到的理论知识需用业余时间学习,实际经验需在操作中去积累。有关实验室认可内容将以质量手册和程序文件为依据进行专题培训。 理论知识 一、原子吸收光谱分析的基本原理 1.原理: 原子吸收分光光度法,又称原子吸收光谱法,是基于从光源发出的被测元素特征辐射通过元素的原子蒸气时被其基态原子吸收,由辐射的减弱程度测定元素含量的一种现代仪器分析方法2.分类:通常分为2类 a).火焰原子吸收分析:由火焰将试样分解成自由原子。 b).石墨炉无火焰原子吸收分析:依靠电加热的石墨管将试样气化及分解。 3.优点: a).检出限低。可达ng.ml-1级。 b).选择性好,原子吸收光谱是元素的固有特征。 c).精密度高,相对标准偏差达到1%没有困难,最好可以达到0.3%或更好。 d).抗干扰能力强,一般不存在共存元素的光谱干扰。干扰主要来自化学干扰。 e).分析速度快,使用自动进样器,每小时测定几十个样品没有任何困难。 f).应用范围广,可分析周期表中绝大多数的金属与非金属元素。 g).进样量小,一般进样量3~6ml.min-1 h).仪器设备相对简单,操作简便。 4.不足: 主要用于单元素的定量分析,标准曲线的动态范围通常小于2个数量级。 二、原子吸收光谱分析的定量方法 吸光度与试样中被测元素含量成正比

A=Kc(A—吸光度;c—被测元素的含量;) 常用的定量方法: 有标准曲线法——最基本的定量方法 标准加入法 浓度直读法。 1.标准曲线法: 用标准物质配制标准系列溶液,在标准条件下,测定各标准样品的吸光度值Ai,对被测元素的含量ci。在同样条件下,测定样品的吸光度值Ax,根据被测元素的吸光度值Ax,从校正曲线求得其含量ci。 2.标准加入法: 分取几份等量的被测试样,在其中分析加入不等量的被测元素标准溶液,依次在标准条 件下测定它们的吸光度值,制作吸光度值对加入量的校正曲线,用外推法求得样品溶液的浓度3.浓度直读法: 在标准曲线为直线的浓度范围内,先用一个标样定标,通过标尺扩展,将测定吸光度值 调整为浓度值,以后测定试样时直接得到它的浓度值。 三、原子吸收光谱仪的组成 光源 原子化器、氢化物发生器 分光系统 检测系统 1.光源——空心阴极灯:由待测元素本身或其合金制成,内充惰性气体。 2.火焰原子化器:由雾化器、雾化室及燃烧器三部分组成 a). 雾化器:通过毛细管由气流的负压吸入溶液,并将溶液分散成非常细的雾滴。 b). 雾化室:预混室,燃气、助燃气、分散雾滴在此充分地混合均匀。 c).燃烧器:用于混合气燃烧之用。一般是单缝燃烧器。我们所使用的是空气乙炔火焰燃烧器与氧化亚氮乙炔燃烧器。 3.氢化物发生器:用于易形成氢化物的元素测定,As、Se、Sb、Hg元素 4.光学系统:单色器,分单光束与双光束。 5.检测系统:接收被火焰吸收后信号输入到光电倍增管,变成电讯号,最后经过转换由记记录

相关文档
最新文档