晶体的择优取向与LiCoO_2正极材料X射线衍射峰的强度比

晶体的择优取向与LiCoO_2正极材料X射线衍射峰的强度比
晶体的择优取向与LiCoO_2正极材料X射线衍射峰的强度比

晶体的择优取向与LiCoO2正极材料X射线衍射峰的强度比+

陈永羽中1,2,*徐兴军1崔宏芝1代克化2

宋兆爽2江卫军3其鲁2,3

(1山东科技大学材料科学与工程学院,固态反应与扩散实验室,山东青岛

266510;

北京大学化学与分子工程学院,

应用化学系,新能源材料与技术实验室,北京

100871;

中信国安盟固利新能源科技有限公司,北京102200)

摘要:

采用高温固相反应法合成了锂离子电池正极材料LiCoO2,用粉末X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜

(SEM)等技术对材料的形貌与结构进行分析.平面反射和透射X射线粉末衍射数据表明,目前商品LiCoO2样品XRD图谱的(104)和(003)衍射峰强度比(I(104)/I(003))主要反映了LiCoO2晶体c轴方向的择优取向,而不是Li、Co原

子的占位有序程度.I(104)/I(003)比值越小,晶体择优取向度越高.晶体无择优取向LiCoO2粉末材料的衍射峰强度比I(104)/I(003)应为95%左右.因此,不能用I(104)/I(003)的比值大小作为实际LiCoO2材料晶体内Li、Co原子排列是否有序的主要证据.澄清了长期有争议的关于锂离子二次电池正极材料LiCoO2的X射线衍射峰强度比问题.关键词:

锂离子电池;

正极材料;

LiCoO2;择优取向

中图分类号:O646;O614

PreferredOrientationofCrystalsandtheIntensityRatiosofXRDPeaksofCathodeMaterialLiCoO2

CHENYong-Chong1,2,*XUXing-Jun1CUIHong-Zhi1DAIKe-Hua2

SONGZhao-Shuang2JIANGWei-Jun3QILu2,3

(1SolidStateReaction&DiffusionLaboratory,CollegeofMaterialsScience&Engineering,ShandongUniversityofScience&

Technology,Qingdao266510,ShandongProvince,P.R.China;2NewEnergyMaterial&TechnologyLaboratory,Departmentof

AppliedChemistry,CollegeofChemistry&MolecularEngineering,PekingUniversity,Beijing100871,P.R.China;

CITICGUOANMengguliNewEnergyTechnologyCompanyLtd.(MGL),Beijing102200,P.R.China)

Abstract:LiCoO2samplesweresynthesizedbyhightemperaturesolid-statereactionmethod,characterizedbyX-raydiffraction(XRD)andscanningelectronicmicroscopy(SEM).ThereflectionandtransmissionXRDdataofdifferentcommercialLiCoO2materialsprovedthattheintensityratioof(104)to(003)(I(104)/I(003))reflectsthedegreeofcrystalorientation,nottheorderofLiandCopositionsinLiCoO2crystals.Thehigherthecrystalorientationdegreewas,thesmallertheratioI(104)/I(003)wouldbe.Experimentaldataalsoindicatedthisratiovalueshouldbeabout95%fortheLiCoO2crystalswithnopreferredorientations.Therefore,theintensityratioI(104)/I(003)cannotbeconsideredasthemainevidenceforthepositionorderofLiandCoinLiCoO2crystals.TheconfusionontheintensityratiosofXRDpeaksofcathodematerialLiCoO2forLi-ionbatterieswasclarified.KeyWords:

Li-ionbattery;Cathodematerial;LiCoO2;Preferredorientation

[Note]

www.whxb.pku.edu.cn

物理化学学报(WuliHuaxueXuebao)

ActaPhys.-Chim.Sin.,2007,23(12):1948-1953December

Received:September17,2007;Revised:October8,2007;PublishedonWeb:October24,2007.*

Correspondingauthor.Email:matscichen@126.com;Tel:+86532-80691746.山东省教育厅科技计划(J06A04)和国家863计划(2006AA06Z381)资助项目

2007年动力锂离子电池技术及产业发展国际论坛会议论文

!EditorialofficeofActaPhysico-ChimicaSinica

目前,锂离子二次电池及相关材料产业正处于一个快速发展的时期[1].虽然由于资源、价格及安全

性等因素的影响,以钴酸锂为正极的锂离子电池的应用范围受到限制,但由于LiCoO2正极材料具有优

1948

No.12陈永翀等:晶体的择优取向与LiCoO2正极材料X射线衍射峰的强度比良的化学稳定性和工艺可靠性,LiCoO2仍是目前小型商品锂离子电池的正极活性材料.

X射线衍射(XRD)是测定粉末材料晶体结构的

重要手段.文献[2]报道,不同商品LiCoO2材料XRD

图谱的衍射峰强度比可以差别很大,如(104)和(003)衍射峰强度比(I(104)/I(003))的比值可以在20%-67%范围变化.文献[3-9]认为,I(104)/I(003)比值反映了Li、Co原子在LiCoO2晶体中的占位有序度,并把XRD图谱中

I(104)/I(003)比值作为LiCoO2材料电化学性能的判据之

一.Li等[10]认为,在LiCoO2的XRD谱线中,I(104)/I(003)比值较小时,材料结晶程度和层状结构越好,循环电压特性也越好.Wang等[11]用Rietveld分析法研究

LiCoO2正极材料的微结构信息,认为通过调整原子坐标位置参数和占有率,可以解释(104)和(003)衍射

峰强度的异常变化,I(104)/I(003)的值较小时,Li、Co原子占位有序度较高.

层状结构LiCoO2的空间群为R3m,其中的氧原子以面心立方排列,即以ABCABC…方式排列,而锂原子和钴原子在氧原子的[111]密排方向以层状排列的方式交替占据八面体空隙(图1).通过锂离子在LiCoO2正极材料晶体中的二维迁移,锂电池的充放电过程得以实现.显然,对于层状结构LiCoO2晶体材料而言,Co在Li迁移平面的互混占位很不利于充放电过程中Li的嵌入与脱出,并将严重影响

LiCoO2正极材料的电化学性能尤其是倍率充放电性能.因此,文献[9-11]认为,I(104)/I(003)比值较高即Li、Co原子的占位有序度较低的LiCoO2正极材料,其电化学性能较差.

文献[2]报道了一种新方法合成的LiCoO2材料,

XRD分析显示I(104)/I(003)比值很大(约为67%),但电

化学性能却大大优于强度比值很低(20%左右)的其

它两种商品LiCoO2材料,100次循环充放电后仍保持高比容量和较高的电压平台.

因此,有可能是其它因素而不是Li、Co原子的有序占位程度影响了实际LiCoO2材料XRD峰的相对强度比值.对于层状结构晶体材料,如层状硅酸盐矿物蒙脱石粘土、高岭石粘土等,晶体择优取向现象非常普遍[12].LiCoO2晶体属于!-NaFeO2层状岩盐型结构,因此实际LiCoO2粉末材料XRD峰的强度比值反映的可能是LiCoO2晶粒的择优取向程度,而不是Li、Co原子的占位有序度.为了证明上述猜想,本文采用不同测试方法比较商品LiCoO2样品的XRD图谱,并从实验方面设计合成了衍射峰强度比相差悬殊的不同LiCoO2材料,用XRD和

SEM等技术对材料的形貌和结构进行了分析.

实验部分

1.1

原料和仪器

Li2CO3、

无水乙醇为分析纯,北京化学试剂厂产品;Co3O4为工业纯,比利时UM公司产品.

日本JEOL公司JSM-5600LV型扫描电子显微镜(SEM);日本Rigaku公司MultiFlex型X射线衍射仪(样品台固定,射线源和探测器同时旋转,平面反射方式,光源为铜靶,K!1和K!2射线,管电压50kV,管电流30mA,扫描速率4(°)·min-1,扫描范围10°-90°);德国Brucker公司的D8Advance型高分辨X射线粉末衍射仪(射线源固定,样品台和探测器旋转,透过衍射方式,光源为铜靶,K!1射线,管电压40kV,管电流40mA,扫描步长0.0144°,每步时间:40s,扫描范围15°-75°).

1.2

LiCoO2材料制备

将Li2CO3和Co3O4按n(Li)∶n(Co)=1∶1混合,在

图1

LiCoO2层状岩盐型晶体结构和主要衍射晶面示意图

Fig.1

Schematicoflayeredrock-saltstructureandthreediffractionplanesofLiCoO

1949

ActaPhys.-Chim.Sin.,2007

Vol.23

650-950℃的温度范围加热5-20h,然后缓慢冷却至室温.样品研磨过筛200目后进行形貌结构分析.

共合成了三种LiCoO2材料,分别记为样品A、样品

B和样品C.三种样品的合成原料相同,终了加热温

度和时间亦相同,所不同的只是中间合成工艺的处理.其中,样品A的原料混合不添加溶剂;样品B的原料混合添加适量的无水乙醇;样品C的原料混合后,再压制成粉末块体于600-950℃热处理.另外三种商品LiCoO2样品分别来源于比利时UM公司、美国FMC公司和中信国安盟固利(MGL)公司(以下分别简称为UM样品、FMC样品和MGL样品).文献[2]给出了它们的电化学性能测试数据.

1.3XRD样品制备

为了判断样品粉末晶体是否择优取向,平面反

射XRD分析采用了两种制样方法进行比较.一种是标准制样方法,即将中间有浅槽的玻璃样品板擦拭干净后,待测LiCoO2粉末样品放入样品板浅槽中,用另一个玻璃板将粉末压平且与样品板表面相平.另一种是非标准制样方法,即玻璃板轻轻刮压样品后,用细针划分网格三次,然后用镊子轻轻敲击样品板底部,直至样品划痕消失.透过衍射XRD分析的粉末样品随机粘落在有机薄膜上,在测试过程中样品台连续旋转,因此可以基本消除晶体择优取向对衍射峰相对强度的影响.

2结果与讨论

图2为三种商品LiCoO2样品的SEM照片.可

以看出,UM和FMC样品的颗粒结晶相对完整,每个颗粒基本上就是一个单晶体,而MGL样品颗粒形貌不规则,每个颗粒由多晶构成.

图3为三种商品LiCoO2样品按标准制样方法得到的XRD图谱(平面反射方式).与MGL样品不同,

UM和FMC样品的(003)衍射峰强度相对于(104)衍射

峰强度明显偏高(I(104)/I(003)分别为20%-22%).图4为三种商品LiCoO2样品按非标准制样方法测得的XRD图谱.可以看出,三种样品XRD图谱的(104)

图2

不同商品LiCoO2样品的SEM照片

Fig.2SEMimagesofdifferentLiCoO2commercialsamples

(a,b)sampleUM(BelgiumUMcompany);(c,d)sampleFMC(AmericanFMCcompany);(e,f)sampleMGL(ChinaCiticGuoanMGLcompany)

图3

不同商品LiCoO2样品按标准制样方法测得的XRD图谱

Fig.3XRDpatternsmeasuredbythestandardmethodofdifferentLiCoO2samples

Putthesamplepowderonaglassplatewithshallowreceptacle,thentakeanotherglassplateslideonthesamplewithpressure.

(a)sampleUM;(b)sampleFMC;(c)sample

MGL

1950

No.12陈永翀等:晶体的择优取向与LiCoO2正极材料X射线衍射峰的强度比衍射峰与(003)衍射峰的相对强度比极为接近.UM和FMC样品I(104)/I(003)分别为93%和118%,与图3相比

(003)衍射峰相对强度明显下降.

由于非标准制样方法得到的试样表面未经压实,因此X射线衍射峰绝对强度有所下降,相对标准峰位置也会有轻微漂移.但如果粉末样品的晶体取向完全随机,那么这两种方法测得的衍射峰相对强度比应大致相同.将图3和图4对比可以看出,

MGL样品的I(104)/I(003)比值变化不大,因此可以判断该样品晶粒的择优取向程度很小;对于UM样品和FMC样品,XRD图谱中反映LiCoO2晶体c轴择优取向的(003)衍射峰相对强度变化很大,因此可以认为UM和FMC样品的晶体择优取向明显.这与扫描电镜的形貌分析结果是一致的.

为了进一步判断衍射峰强度比反映的究竟是晶体的择优取向还是Li、Co原子的占位有序度,采用高分辨X射线粉末衍射仪分析UM样品的晶体结构(透过衍射方式).如果样品晶粒的择优取向程度很低,那么无论是普通衍射方式还是高分辨率透过衍射方式,XRD图谱衍射峰的相对强度应该基本不变.也就是说,如果UM样品标准制样普通XRD图谱(图3a)I(104)/I(003)比值(20%)很小,反映的是LiCoO2晶体中Li、Co原子的高度有序占位,而不是晶粒c轴方向的高度择优取向,那么UM样品的高分辨

XRD图谱中I(104)/I(003)比值也应该很低.但实验结果恰好与此相反,如图5所示,UM样品高分辨XRD图谱中I(104)/I(003)强度比很大,约95%,与非标准制样

获得的平面反射XRD衍射峰强度比(93%)接近(图

4a),这就充分证明了UM样品标准制样普通XRD衍射图谱(图3a)极低的I(104)/I(003)强度比反映的是LiCoO2晶粒c轴方向的高度择优取向,而不是晶体中Li、Co

原子的高度有序占位,晶体无择优取向LiCoO2粉末

材料的衍射峰强度比I(104)/I(003)应为95%左右,同时也说明采用非标准制样方法可以基本消除LiCoO2晶粒择优取向对衍射峰强度比的影响.

从结晶学角度来说,LiCoO2晶体结构属于层状岩盐结构,c轴方向是晶体最密排面方向,因此在平衡或近平衡生长条件下,(003)最密排晶面应该是优先显露的[13].根据LiCoO2层状结构生长特点,我们进一步合成出了XRD衍射峰强度比相差悬殊的

LiCoO2材料.其中,样品A的LiCoO2颗粒由细小的

粉晶构成,晶粒择优取向程度很低,因此A样品按标准制样方法得到的I(104)/I(003)比值也较大,约为71%(图6);而B样品中的LiCoO2颗粒基本由单晶构成,晶体c轴方向择优取向非常明显,因此,与商品LiCoO2样品UM和FMC相似,XRD图谱中反映c轴择优取向的(003)衍射峰相对强度也异常偏大,I(104)/I(003)约为17%(图7).当采用非标准方法制样时,A样品的衍射峰相对强度变化不大(I(104)/I(003)=86%),而样品B的(003)衍射峰相对强度则急剧下降(I(104)/I(003)=138%),如图8所示.

因此,实际LiCoO2样品XRD图谱的I(104)/I(003)

图4

不同商品LiCoO2样品按非标准制样方法测得的XRD图谱

Fig.4XRDpatternsmeasuredbythenon-standardmethodofdifferentLiCoO2samples

Putthesamplepowderonaglassplatewithshallowreceptacleandtakeanotherglassplateslideonthesamplewithpressure.Afterthat,drawagridscracthonthesamplesurfacewithaneedleandthenbeatthebackofthesampleplategentlyuntilthegridscracthdisappears.(a)sampleUM;

(b)sampleFMC;(c)sampleMGL

图5样品UM的高分辨XRD图谱

Fig.5ThehighresolutionXRDpatternofsample

UM

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ActaPhys.-Chim.Sin.,2007

Vol.23

比值大小主要反映的是样品晶粒的择优取向程度,而不是晶体内Li、Co原子的占位有序度.当采用一定合成条件时,我们还可以得到如图9所示层状结

构明显的大颗粒LiCoO2单晶(样品C).可以看出,

LiCoO2单晶颗粒的粒径为15-30!m.

图6

固相反应法合成LiCoO2样品A的SEM照片(a,b)和按标准方法制样测得的XRD图谱(c)

Fig.6

SEMimagesofsampleAsynthesizedbysolidstatereaction(a,b)and

XRDpatternmeasuredbythestandardmethod(c)

图7

固相反应法合成LiCoO2样品B的SEM照片(a,b)和按标准方法制样测得的XRD图谱(c)

Fig.7

SEMimagesofsampleBsynthesizedbysolidstatereaction(a,b)and

XRDpatternmeasuredbythestandardmethod(c)

图8样品A(a)和样品B(b)按非标准制样方法测得的XRD图谱

Fig.8XRDpatternsofsampleA(a)andsampleB(b)measuredbythenon-standardmethod

图9

样品C的单晶LiCoO2颗粒的SEM照片

Fig.9SEMimagesofLiCoO2singlecrystalsofsample

1952

No.12陈永翀等:晶体的择优取向与LiCoO2正极材料X射线衍射峰的强度比

3结论

三种商品LiCoO2样品及实验室样品的平面反射和透射X射线衍射数据证明,LiCoO2材料的I(104)/I(003)比值实际上主要反映的是LiCoO2晶体c轴的择优取向程度,而不是晶体内Li、Co原子的占位有序度.I(104)/I(003)比值越小,晶体择优取向程度越高.因此,不能用I(104)/I(003)的比值大小作为实际LiCoO2样品晶体内Li、Co原子排列是否有序的唯一证据.

根据层状LiCoO2晶体生长特点,本文采用固相反应法合成了衍射峰强度比相差悬殊的LiCoO2材料.非标准制样X射线衍射数据证明,衍射峰强度比的不同主要是由LiCoO2晶体的择优取向引起的.

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1953

X射线衍射分析讲解的问题

X 射线衍射分析讲解的问题,应用及分析过程 一、X 射线衍射分析讲解的问题 X 射线衍射分析从X 射线的物理学基础讲起,分析了X 射线的物理性质如X 射线波长范围在约0.01~0.1nm ,而用于衍射的约在0.05~0.25nm ;振动方程为)(2cos 0t y A A νλπ-=等。然后说明了X 射线的产生方式,即二极管的装置原理,电气线路和所产生的两种线谱——连续谱和特征谱。其中连续谱的强度公式为21)(ZU K d I I SWL λλλλ==?∞连,特征谱的强度为m n U U i K I )(3-=特。随后讲述了X 射线与物体的相互作用方式,其中分别讲述了X 射线的透射,吸收和散射。透射系数为t l e I I μ-=0,质量吸收系数为ρ μμl m =,相干散射的强度公式为φπμ222 2020sin )()4(m e R I I e =(入射线偏振),22cos 1)()4(22220 20θ πμ+=m e R I I e (入射 线偏振),非相干散射的波长变化为θθλλλ2'sin 0486.0)2cos 1(00243.0=-=-=?。 之后讨论了X 射线的衍射问题,分别讨论了X 射线衍射方向,X 射线衍射方法,X 射线的衍射强度的影响因素。最后阐述了X 射线衍射分析的方法。单晶衍射法——劳埃法,周转晶体法;多晶体衍射法——照相法,衍射仪法;双晶体衍射法。 二、X 射线衍射分析的应用 1、物相分析: 由于不同的物质各具有自己特定的原子种类、原子排列方式和点阵参数,进而呈现出特定的衍射花样;多相物质的衍射花样互不干扰,相互独立,只是机械地叠加;衍射花样可以表明物相中元素的化学结合态,这就是X 射线衍射物相分析的原理。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,就成为物相定性分析的基本方法。鉴定出各个相后,根据各相花样的强度正比于该组分存在的量(需要做吸收校正者除外),就可对各种组分进行定量分析。这种方法是由J.D.Hanawalt 于1963年创立的。目前常用衍射仪法得到衍射图谱,用“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”负责编辑出版的“粉末衍射卡片(PDF 卡片)”进行物相分析。目前,物相分析存在的问题主要有:(1)待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线,而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果。这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片。(2)在众多卡片中找出满足条件的卡片,十分复杂而繁锁。虽然可以利用计算机辅助检索,但仍难以令人满意。(3)定量分析过程中,配制试样、绘制定标曲线或者K 值测定及计算,都是复杂而艰巨的工作。为此,有人提出了可能的解决办法,认为从相反的角度出发,根据标准数据(PDF 卡片)利用计算机对定性分析的初步结果进行多相拟合显示,绘出衍射角与衍射强度的模拟衍射曲线。通过调整每一物相所占的比例,与衍射仪扫描所得的衍射图谱相比较,就可以更准确地得到定性和定量分析的结果,从而免去了一些定性分析和整个定量分析的实验和计算过程

X射线衍射分析习题..

X射线衍射分析 习题及参考答案 一、判断题 1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×) 2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1旳长 (√) 3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×) 4、X射线强度总是与管电流成正比 (√) 5、辐射线波长愈长则物质对X射线旳吸收系数愈小 (×) 6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×) 7、衍射强度实际是大量原子散射强度旳叠加 (√) 8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√) 9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√) 10、倒易矢量代表对应正空间中旳晶面 (√) 11、大直径德拜相机旳衍射线分辨率高但暴光时间长(√) 12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠旳 (×) 13、定性物相分析中旳主要依据是d值和I值 (√) 14、定量物相分析可以确定样品中旳元素含量 (×) 15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√) 16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√) 17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√) 18、丝织构对称轴总是沿着试样旳法线方向 (×) 19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√) 20、板织构有时也具有一定旳对称性 (√) 21、材料中织构不会影响到各晶面旳衍射强度 (×) 22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×) 23、常规衍射仪X射线穿透金属旳深度通常在微米数量级 (√) 24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√) 25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)

26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×) 27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√) 28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√) 29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×) 30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形旳代数叠加 (×) 二、选择题 1、与入射X射线相比相干散射旳波长 (A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定 2、连续X射线旳总强度正比于 (A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是 3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生 (A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B 4、多晶样品可采用旳X射线衍射方法是 (A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B 5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面旳 (A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B 6、基于X射线衍射峰位旳测量项目是 (A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是 7、基于X射线衍射强度旳测量项目是 (A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是 8、测定钢中奥氏体含量时旳X射线定量物相分析方法是 (A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法 9、X射线衍射仪旳主要部分包括 (A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是 10、Cu靶X射线管旳最佳管电压约为 (A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV 11、X射线衍射仪旳测量参数不包括 (A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间

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