边界扫描测试

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10JTAG边界扫描测试

CYIV-51010-1.2 ? 2011 Altera Corporation. All rights reserved. ALTERA, ARRIA, CYCLONE, HARDCOPY, MAX, MEGACORE, NIOS, QUARTUS and STRATIX words and logos are trademarks of Altera Corporation and registered in the U.S. Patent and Trademark Office and in other countries. All other words and logos identified as trademarks or service marks are the property of their respective holders as described at https://www.360docs.net/doc/3818492920.html,/common/legal.html . Altera warrants performance of its semiconductor products to current specifications in accordance with Altera's standard warranty, but reserves the right to make changes to any products and services at any time without notice. Altera assumes no responsibility or liability arising out of the application or use of any information, product, or service described herein except as expressly agreed to in writing by Altera. Altera customers are advised to obtain the latest version of device specifications before relying on any published information and before placing orders for products or services. Cyclone IV 器件手册，卷1 2011年11月 Subscribe ISO 9001:2008 Registered 10.Cyclone IV 器件的JTAG 边界扫描测试本章介绍了Cyclone ?IV 器件所支持的边界扫描测试(BST)功能。这些BST 功能与Cyclone III 器件中的相类似，除非另有说明。 Cyclone IV 器件(Cyclone IV E 器件和Cyclone IV GX 器件)支持IEEE Std.1149.1。Cyclone IV GX 器件也支持IEEE Std.1149.6。IEEE Std.1149.6 (AC JTAG)仅被Cyclone IV GX 器件中的高速串行接口(HSSI)收发器支持。IEEE Std.1149.6用于使能AC 耦合的发送器与接收器之间的板级连接检查。本章节含盖以下几方面内容： ■IEEE Std.1149.6边界扫描寄存器(第10-2页)■BST 操作控制(第10-3页) ■JTAG 链中I/O 电压支持(第10-5页)■ 边界扫描描述语言支持(第10-6页) f 欲了解关于JTAG 指令代码描述以及IEEE Std.1149.1 BST 指南的详细信息，请参考 IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary -Scan Testin g for Cyclone III Devices 章节。f 欲了解以下方面的内容，请参考AN 39: IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing in Altera Devices ： ■IEEE Std. 1149.1 BST 体系结构与电路系统■TAP 控制器状态机■ 指令模式

什么是边界扫描(boundary scan)

什么是边界扫描(boundary scan)? 边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个： 1．TDI (测试数据输入) 2．TDO (侧试数据输出) 3．TMS (测试模式选择输入) 4．TCK (测试时钟输入) 5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的) TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。在不了解 IC内部逻辑的情况下快速的开发出优秀的测试程序。在未来的测试领域，边界扫描将会得到广泛的应用。