光纤式积分视场光谱仪实验研究

光纤式积分视场光谱仪实验研究
光纤式积分视场光谱仪实验研究

Vol.8No.2 Apr.,2011

天文研究与技术

ASTRONOMICAL RESEARCH&TECHNOLOGY

第8卷第2期

2011年4月

CN53-1189/P ISSN1672-7673

光纤式积分视场光谱仪实验研究*

张居甲,程向明,宋佳阳,白金明

(中国科学院国家天文台云南天文台,云南昆明650011)

摘要:在几种适合用来对面天体进行分光测量的仪器中,积分视场光谱仪(Integral Field Spectrograph,IFS)因为能同时获得面源的光谱信息而备受关注。基于对IFS的初步研究,在

实验室中进行光纤式IFS实验,取得一定进展后再将实验设备用于云南天文台2.4m望远

镜,对特定的天体进行测量,从而为科学级IFS的研制积累经验。目前已经完成实验设备研

制、光路调试、光谱定标以及太阳光的吸收谱测量等工作,并在2.4m望远镜上对特定目标

进行了实验观测,获得了初步数据,发现了光纤制作等方面的一些问题,为下一步工作奠定

基础。

关键词:光谱;积分视场光谱仪;光纤;积分视场单元

中图分类号:P111.33文献标识码:A文章编号:1672-7673(2011)02-0139-07

天文学中常常把那些能够在一个空间解析的二维视场中进行分光测量的仪器称为成像光谱仪(Imaging Spectrograph)、面光谱仪(Area Spectrograph)、二维光谱仪(2D Spectrograph)或者三维设备(3D Instrumentation)[1],其中包括法布里—泊罗干涉仪(Fabry-Perot Interferometry,FPI)、成像傅里叶变换光谱仪(Imaging Fourier Transform Spectrograph,IFTS)以及积分视场光谱仪(Integral Field Spectrograph,IFS)。

FPI和IFTS都是通过在时域中对波长空间进行扫描的方式来获取二维视场内的光谱信息,而IFS 则是在同一时刻按照积分视场单元(Integral Field Unit,IFU)的空间采样方式获得面源的光谱信息,同时保留各采样点的空间信息。一般来说,FPI及IFTS的特点是大视场、高色散、较小的波长覆盖范围;IFS特点是小视场、低色散、很大的波长覆盖范围。当然,如果有巨额的经费做支持,IFS也能在保证带宽的同时拥有大视场、高色散[2-3]。综上所述,IFS相比FPI、IFTS而言最大的优点是,同时获得目标天体在很宽波段内的光谱信息,避免了多次测量时因环境变化带来的影响,并且提高工作效率。

另外,通过使用长缝光谱仪对二维视场进行多次扫描的办法也能实现二维光谱测量。IFS比起这种方式具有以下几点优势[4]:

(1)没有狭缝损失;

(2)不需要精确定位;

(3)通过图像重建能够精确获得目标的位置信息;

(4)避免了因观测者选择不同的狭缝位置以及方向对全局速度场测量带来的影响;

(5)通过处理三维数据在无光能损耗的前提下来矫正大气色散的影响;

(6)在较差的视宁度情况下依然可以工作。

和窄带滤波片一样,IFS、FPI、IFTS都能很好地从较强的背景中提取出较小目标的光谱信息,而这也是长缝光谱仪所不能企及的。

*基金项目:国家自然科学基金(1100341)资助.

收稿日期:2009-12-24;修定日期:2010-03-21

作者简介:张居甲,男,硕士,研究方向:天文光谱学,Email:jujia@https://www.360docs.net/doc/4b4920535.html,

天文研究与技术8卷

基于IFS的这些特点,从其概念提出之日起就是天文仪器和天文观测领域的热门方向。自1987年第1台科学级积分视场光谱仪TIGER[5]诞生以来,经过20多年的发展,IFS已经成为4米以上级光学/近红外望远镜的标准配件,近年一些2米级的望远镜也开始添置该设备[6]。通过前期的调研工作,在丽江2.4m望远镜上配置一台积分视场光谱仪可以开展很多有意义的研究工作,而在研制科学级的设备之前有必要开展一系列实验性研究工作。

1积分视场光谱仪

1.1积分视场光谱仪概述

IFS由IFU以及色散单元两部分组成,它能在一次曝光中按照IFU的采样方式对目标进行分光测量,获得较宽波段的光谱信息,同时保留各采样单元的空间位置信息。

IFU作为IFS的核心部件,其作用是对焦面上的图像进行分割,再由一套光学系统将分割后的图像单元按照一定顺序排成一列进入色散单元,从而得到每一个采样单元的光谱,最后经过图像重建等一系列信息处理流程获得面光源的光谱信息。

IFU可分为透镜阵、透镜阵加光纤、像切割器以及微型像切割器等4种,各自的工作原理见图1[4](关于这4种IFU的介绍见参考文献[7])。

透镜阵加光纤式IFU,它通过微透镜阵实现望远镜与光纤的耦合,微透镜阵由若干微型透镜按照特定的方式排成一个面型,对望远镜焦面上的像进行分割;光纤入射端排成相应面型接收经过微透镜后的图像,出射端的光纤排成一列进入色散单元,从而实现从二维到一维的变换。部分IFU采用裸光纤设计,即去掉前端的微透镜阵,直接用光纤与望远镜耦合,比如PMAS(Potsdam Multi-Aperture Spectrophotometer)的PPAK[8-9],本文采用的就是类似PPAK形式的IFU设计。采用光纤式IFU的好处是设计灵活、成本较低,并且能够很好地与多目标光纤光谱仪(Multi-Object Spectrograph,MOS)结

合起来,做成一套系统,如GMOS[2]以及AAOmega[10](the AAT multi-purpose fiber-fed spectrograph)

图1积分视场光谱仪的4种主要技术原理示意图

Fig.1A summary of the four main techniques for an Integral Field Spectrograph

1.2在天文中的应用

IFS广受天文学家青睐的一个最重要原因是可以用它研究很多面天体,获得目标上某些参数在空间上的分布,以及各种参量平均值。

常见的研究目标有:各种常规星系元素丰度平均值及其空间分布或者研究星系速度场弥散[11];通过速度场信息进而可以研究星系级大质量黑洞;致密星团元素丰度;通过测量HII区中某些发射线比值研究它的平均电子温度、电子密度及其分布[12];利用IFS面光谱仪的特点研究河外星云状星云[13-14]以及超新星[15]等致密天体;对类星体宿主星系进行形态学比较,或者研究潮汐作用对恒星形成、演化以及成团的影响[16];对AGN中心引擎、喷流等问题的研究也是IFS擅长的工作。

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2期张居甲等:光纤式积分视场光谱仪实验研究并不是某一台望远镜配置一台IFS 就能完成上述所有研究,实际工作中一台望远镜常常会配备几台IFS 对某几类目标进行研究。对丽江2.4m 望远镜而言,可以配备一台中小视场、中低色散的IFS 对HII 区、行星状星云、常规星系、致密星团、超新星等目标进行研究,有望取得一批有价值的成果。2

光纤式积分视场光谱仪实验设备的设计与制造2.1积分视场光谱仪实验概述

丽江2.4m 望远镜建成后,国内很多天文学家认为有必要为其配备一系列终端设备以最大程度地发挥望远镜的能力,其中IFS 为不少专家所青睐。在这种情况下进行IFS 实验研究可为今后科学级IFS 的设计、制造积累必要的经验。

经过讨论,决定对原2.16m 望远镜上工作的通用光栅光谱仪进行适当改造,制作一套IFS 实验系统。考虑到光谱仪性能,选用19根光纤集成一束做成裸光纤式IFU 实现望远镜与光谱仪的耦合。实验参数如表1。

表1

实验参数Table 1

The parameters of this experiment 光纤

纤芯

包层数值孔径空间采样(用于丽江2.4m 望远镜时光纤包层直径对应的角宽度)IFU 视场(19根光纤排成六边形)CCD1像元尺寸16μm ?16μm ,用于天文观测CCD2像元尺寸8.6μm ?8.3μm ,用于实验室调试130μm 143μm 0.08 1.5?8??10?512?512

550?752光栅(闪耀光栅)色散λ=550nm ,光谱分辨率R ≈3000光谱覆盖范围

(工作波段400 780nm )

1302gl /mm λ=0.182nm 一次覆盖48nm 2.2IFU 设计与加工

IFU 入射端排成六边形,相比于四边形的排列方式,可以获得更高的空间填充率,减少光能损失。IFU 端面如图2

图2

IFU 端面照片。左图为入射端,由19根光纤排列成六边形,位于中心;右图为出射端,将19根光纤由2维面型重新排列成1维光纤狭缝后进入光谱仪Fig.2Photos of the two sides of the IFU.Left :Top view onto the fiber bundle with 19fibers in the central hexagon.

Right :At the other end ,the fibers are re-arranged from the 2D configuration in the focal plane to a 1D fiber-slit

attached to the spectrograph

IFU 入射端六边形结构对机械加工及之后的光纤排列提出了较高的要求,在没有专门加装工具的情况下,难以保证光纤的排列精度。另外由于光纤老化等因素的影响,每根光纤之间透过率差别很大;光纤老化也使得光纤变得易断,在使用一段时间后有3根光纤发生断裂。

1

41

天文研究与技术8卷

在科学级IFU 研制时,可以通过一些措施有效解决上述问题。首先,研制专门的光纤加装工具,如显微镜、可微调的光纤夹具、光纤安装平台等,保证光纤排列精度。其次,选用全新的光纤将大大减小光纤之间透过率的差异,并且在IFU 制作阶段要对每根光纤的透过率进行测量,标记之间的差值。再次,通过改进IFU 包装方式结合减压设计来保证光纤安全。

2.3光谱仪改造

为了实现IFU 与光谱仪耦合,对光谱仪进行了一系列机械和光学改造,其中包括:(1)采用六维光纤调整平台防止光纤出射端面倾斜、离焦,并使尽可能多的光纤位于光谱仪视场中心;(2)为了使用1号CCD ,必须延长光谱仪成像镜的焦点,才能使像面与CCD 靶面重合,因此选用两块相同的透镜使焦点外延;(3)两个CCD 安装接口;(4)光谱仪安放用的钢架;(5)IFU 与望远镜的接口。整个系统光路图及总装图如图3

图3

IFS 设计图,左图:系统光路图;右图:系统总装图Fig.3Design diagram for the IFS.Left :Optics layout.Right :The overall mechanical configuration of the IFS

3

实验调试及观测3.1光路调试

3.1.1

成像部分先用低压钠灯拍摄的光纤像,如图4左图,可以看到出射端的光纤存在一些问题:光纤透过率不均匀,这对相对谱线强度测量以及速度测量的影响不大;光纤在垂直色散方向上排列不均匀,在色散方向上同轴度较低,这些可以通过简单的数据处理解决

图4

CCD2接收到的图像,左图为低压钠灯照明下;右图为阳光下,Na D 线附近Fig.4Images received by the CCD2.Left :from the irradiation of the IFU with low-pressure sodium-vapor lamps.Right :

from the irradiation of the IFU with sunlight at wavelengths around the Na D line.

3.1.2波长定标

a (sin α-sin β0)=λ0(1)

其中a 是光栅常数;α是入射角;β0是CCD 接收到的光谱中心波长对应的衍射角。光谱仪上光栅转角刻度盘读数为θ,有α-θ=30',通过钠灯定出θ=48?30'时中心波长为584.5nm ,根据公式(1)就可以通过转动θ角来选择中心波长。经过多次测量得出单纯通过这种方法进行波长定标的误差为?0.5nm ,如果需要精确进行谱线定标,可以用铁空心阴极灯结合上述方法进行[17]。在实验室中对

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2期张居甲等:光纤式积分视场光谱仪实验研究国产铁空心阴极灯进行了测试,发现该灯氩气发射线很强,而铁发射线很弱,一般只在需要进行精确定标时才选用该灯。

3.2

拍摄吸收光谱3.2.1太阳吸收光谱

将IFU 入射端置于户外接受阳光,采用CCD2进行接收,单次曝光覆盖33nm 的波长范围,根据公式(1),转动光栅对400nm 到700nm 范围内的光谱进行扫描。CCD2接收到的光谱图像如图4右图;经过平场以及连续谱归一化处理后得到如图5的吸收光谱(以MgI 517.3nm 、518.4nm ;NaI 589nm 、589.6nm 以及H α656.3nm 为例)

图5

处理后的太阳吸收光谱。上图:MgI 517.3nm ,518.4nm ;中图:NaI 589nm ,589.6nm ;下图:H α656.3nm

Fig.5The reduced solar absorption-line spectra.Up panel :MgI 517.3nm ,518.4nm.Middle panel :NaI :589nm ,589.6nm.Bottom panel :H α656.3nm

3.3丽江2.4m 望远镜实地测试的初步结果

在丽江2.4m 望远镜进行实验测量,分别对木星、火星、月球、猎户座星云M42等目标进行了光谱测量,现场照片如图6

图6

与2.4m 望远镜卡焦连接Fig.6The instrument attached to the Cassegrain focus of the 2.4m telescope

火星、木星、月球等目标的光谱和早前拍摄的太阳吸收光谱相似,在此不做具体介绍。观测的主要目标是M42,它有许多很强的发射线,是理想的光谱实验测试对象。经过10s 曝光,其中如OIII (500.7nm )、H α等一些很强的发射线接近饱和。图7为拍摄M42中心区域时,在波长495nm 附近的发射线平均强度。图中可以明显看到3条发射线,从左到右分别是H β、OIII (495.9nm )以及OIII (500.7nm )。由于数据没有经过处理,谱线强度比值与文献[12]有所差别,这些将在下一步工作

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天文研究与技术8卷中加以改进

图7

M42发射线积分光谱,波长从475nm 到515nm Fig.7The integral emission-line spectrum of the galaxy M42at wavelengths from 480nm to 510nm

4结论

通过IFS 实验研究,初步掌握了光纤光谱仪研制的基本技术,了解了光纤式IFU 研制的基本流程和其中的关键技术,在对加工时遇到困难进行深入探讨的过程中找到了解决问题的方法,所有这些为科学级光纤式积分视场光谱仪制作奠定基础。下一步将致力于提高系统效率,改善成像质量,并且通过改进光纤排列技术实现空间位置信息还原,最终使现有的实验系统具有更大的实用价值。

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2期张居甲等:光纤式积分视场光谱仪实验研究

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An Experimental Optical-Fiber Integral Field Spectrograph

Zhang Jujia,Cheng Xiangming,Song Jiayang,Bai Jinming

(National Astronomical Observatories/Yunnan Observatory,Chinese Academy of Sciences,

Kunming650011,China,Emial:jujia@https://www.360docs.net/doc/4b4920535.html,)

Abstract:Among several types of instruments used to study extended astronomical objects the Integral Field Spectroscopy has been received wide attention because of its capability of obtaining spectra across the surface of an extended object simultaneously.We aim to build an Integral Field Spectrograph(IFS)for the Lijiang2.4m Telescope of the Yunnan Observatory.We decide to carry out an experiment of IFS in laboratory.As the first step,we have also finished some tests with the experimental IFS system including optical adjustment,spectral calibration,and measurement of some solar absorption-line spectra.We have subsequently attached this instrument to the2.4m telescope and have obtained some useful data.Through the experiment we have found some problems with the manufacturing of the optical fibers used.These should provide the basis of our work ahead.

Key words:Spectrograph;IFS;Fiber;IFU

光谱成像技术的分类

光谱成像技术的分类 光谱成像技术,有时又称成像光谱技术,融合了光谱技术和成像技术,交叉涵盖了光谱学、光学、计算机技术、电子技术和精密机械等多种学科,能够同时获得目标的两维空间信息和一维光谱信息。 光谱成像技术发展到今天,出现的光谱成像仪的种类和数量己经具有较大规模,因而可以从光谱分辨率、信息获取方式(扫描方式)、分光原理和重构理论等不同的视角对光谱成像技术进行分类。 1基于光谱分辨率分类 光谱成像技术针对光谱分辨能力的不同,可分为多光谱(Multi-spectral),高光谱(Hyper- spectral)以及超光谱(Ultra-spectral)。多光谱的谱段数一般只有几十个,高光谱的谱段数可达到几百个,而超光谱一般指谱段数上千个。它们的区别如表1所示。 表1多、高、超光谱的比较 分类分辨 率 通道数光谱典型例子 多光谱(Multi-spectral)10-1λ 量级 5—30ETM+ ASTER 高光谱(Hyper-spectral)10-2λ 量级 100— 200 AVIRIS 超光谱(Ultra-spectral)10-3λ 量级 1000— 10000 GIFTS

2 基于信息获取方式分类 光谱成像仪需要对三维“数据立方”进行探测,而现今的探测器最多能进行二维探测。要想获得完整的三维数据,理论上至少需增加一维的空间扫描或光谱扫描。光谱成像技术获取图谱信息的主要方式有:挥扫式(Whiskbroom )、推扫式(Pushbroom)、凝视式(Staring)以及快照式(Snapshot)。 挥扫式成像光谱仪的光谱成像系统只对空间中某点进行光谱探测,通过沿轨和穿轨两个方向扫描获取完整的二维空间信息,其信息获取方式如图1a所示。AVIRIS就是通过挥扫成像[1]。 推扫式光谱成像系统探测空间中一维线视场(图1b中的X方向)的光谱,通过沿轨方向(Y方向)扫描实现二维空间信息的获取,芬兰国立技术研究中心实验室研制的AISA就是典型的推扫式成像光谱仪[2]。 凝视式光谱成像系统可对固定窗口目标成像,采用滤光的方式分离并获取不同波段的图像信息,再将不同波段的图像堆叠成“数据立方”。如图1c中所示,该类成像光谱仪实际上是采用光谱维扫描的方式实现图谱“数据立方”的获取。 图1 典型的光谱成像过程:a挥扫式;b推扫式;c凝视式;d快照式 快照式是一种新兴的图谱信息获取方式,它不需扫描便可获取三维图谱信息。快照式光谱成像技术实现方式主要有三种:一种是视场分割三维成像的方式,利用玻璃堆进视场分割,再利用分光器件将三维信息展开到二维平面进行面探测

成像光谱仪及其应用概述

成像光谱仪简介及其应用概述 成像光谱仪:将成像技术和光谱技术结合在一起,在探测物体空间特征的同时并对每个空间像元色散形成几十个到上百个波段带宽为10nm左右的连续光谱覆盖。它以高光谱分辨率获取景物或目标的高光谱图像。在陆地、大气、海洋等领域的研究观测中有广泛的应用。 成像光谱仪–概述 成像光谱仪是20世纪80年代开始在多光谱遥感成像技术的基础上发展起来的,它以高光谱分辨率获取景物或目标的高光谱图像,在航空、航天器上进行陆地、大气、海洋等观测中有广泛的应用,高成像光谱仪可以应用在地物精确分类、地物识别、地物特征信息的提取。建立目标的高光谱遥感信息处理和定量化分析模型后,可提高高光谱数据处理的自动化和智能化水平.。由于成像光谱仪高光谱分辨率的巨大优势,在空间对地观测的同时获取众多连续波段的地物光谱图像,达到从空间直接识别地球表面物质的目的,成为遥感领域的一大热点,正在成为当代空间对地观测的主要技术手段。地面上采用成像光谱仪也取得了很大的成果,如科学研究、工农林业环境保护等方面。 成像光谱仪主要性能参数是:(1)噪声等效反射率差(NE?p),体现为信噪比(SNR);(2)瞬时视场角(IFOV),体现为地面分辨率;(3)光谱分辨率,直观地表现为波段多少和波段谱宽。 高光谱分辨率遥感信息分析处理,集中于光谱维上进行图象信息的展开和定量分析,其图象处理模式的关键技术有:⑴超多维光谱图象信息的显示,如图像立方体(见图一)的生成;⑵光谱重建,即成像光谱数据的定标、定量化和大气纠正模型与算法,依此实现成像光谱信息的图象-光谱转换;⑶光谱编码,尤其指光谱吸收位置、深度、对称性等光谱特征参数的算法;⑷基于光谱数据库的地物光谱匹配识别算法; ⑸混合光谱分解模型;⑹基于光谱模型的地表生物物理化学过程与参数的识别和反演算法。 高光谱分辨率成像光谱遥感起源于地质矿物识别填图研究,逐渐扩展为植被生态、海洋海岸水色、冰雪、土壤以及大气的研究中。 成像光谱仪的基本原理

各种光谱原理解读

紫外吸收光谱 UV 分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁 谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化 提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结构的信息 荧光光谱法 FS 分析原理:被电磁辐射激发后,从最低单线激发态回到单线基态,发射荧光 谱图的表示方法:发射的荧光能量随光波长的变化 提供的信息:荧光效率和寿命,提供分子中不同电子结构的信息 红外吸收光谱法 IR 分析原理:吸收红外光能量,引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁 谱图的表示方法:相对透射光能量随透射光频率变化 提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率 拉曼光谱法 Ram 分析原理:吸收光能后,引起具有极化率变化的分子振动,产生拉曼散射 谱图的表示方法:散射光能量随拉曼位移的变化 提供的信息:峰的位置、强度和形状,提供功能团或化学键的特征振动频率 核磁共振波谱法 NMR 分析原理:在外磁场中,具有核磁矩的原子核,吸收射频能量,产生核自旋能级的跃迁 谱图的表示方法:吸收光能量随化学位移的变化 提供的信息:峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数,提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息 电子顺磁共振波谱法 ESR 分析原理:在外磁场中,分子中未成对电子吸收射频能量,产生电子自旋能级跃迁 谱图的表示方法:吸收光能量或微分能量随磁场强度变化 提供的信息:谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数,提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息 质谱分析法 MS 分析原理:分子在真空中被电子轰击,形成离子,通过电磁场按不同m/e分离 谱图的表示方法:以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化 提供的信息:分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度,提供分子量,元素组成及结构的信息 气相色谱法 GC 分析原理:样品中各组分在流动相和固定相之间,由于分配系数不同而分离 谱图的表示方法:柱后流出物浓度随保留值的变化 提供的信息:峰的保留值与组分热力学参数有关,是定性依据;峰面积与组分含量有关 反气相色谱法 IGC

光谱仪的工作原理

光谱仪的工作原理-标准化文件发布号:(9556-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII

光谱仪的工作原理元素的原子在激发光源的作用下发射谱线,谱线经光栅分光后形成光谱,每种元素都有自己的特征谱线,谱线的强度可以代表试样中元素的含量,用光电检测器将谱线的辐射能转换成电能。检测输出的信号,经加工处理,在读出装置上显示出来。然后根据相应的标准物质制作的分析曲线,得出分析试样中待测元素的含量。 表面轮廓仪介绍 表面轮廓仪 - 简介 表面轮廓仪LK-200M型表面轮廓仪采用广精精密最新的基于windows版本的测量软件,具有强大卓越的数据处理分析功能。测量时,零件装夹位置即使任意放置,也能得到满意的测量结果;即使需要测量长度为220mm的工件,测量软件也能保证其1μm的采样步长。 LK-200H型表面轮廓仪采用耐用可靠的16位A/D功能板,其极高的分辨率量程比(1/65536),用户即使需要大量程测量,仍能保持极高的测量精度。 LK-200M型表面轮廓仪采用工控计算机处理测量数据及仪器控制操作。其高质量、高可靠性及突出的防尘、防振、防油、防静电能力使广精精密用户将使用维护成本降至最低。 表面轮廓仪 - 原理 表面轮廓仪LK-200M型表面轮廓仪采用直角坐标法,传感器移动式。直线运动导轨采用高精度气浮导轨,作为测量基准; 电器部分由高级计算机组成;测量软件采用基于中文版Windows操作系统平台的系统测量软件,完成数据采集、处理及测量数据管理等工作。 表面轮廓仪 - 功能 角度处理:两直线夹角、直线与Y轴夹角、直线与X轴夹角 点线处理:两直线交点、交点到直线距离、交点到交点距离、交点到圆心距离、交点到点距离 圆处理:圆心距离、圆心到直线的距离、交点到圆心的距离、直线到切点的距离线处理:直线度、凸度、LG凸度、对数曲线 表面轮廓仪 - 技术规格 表面轮廓仪测量长度:≤200mm

光谱仪的原理、功能以及分类【详尽版】

光谱仪的原理光谱仪的主要功能以及具体的分类 内容来源网络,由SIMM深圳机械展整理 更多相关展示,就在深圳机械展! 光谱仪器是进行光谱研究和物质结构分析,利用光学色散原理及现代先进电子技术设计的光电仪器,光谱仪的主要功能是什么,在它工作原理的基础上怎么对其进行分类的,本文将详细的为大家介绍。 光谱仪的主要功能 它的基本作用是测量被研究光(所研究物质反射、吸收、散射或受激发的荧光等)的光谱特性,包括波长、强度等谱线特征。因此,光谱仪器应具有以下功能: (1)分光:把被研究光按一定波长或波数的发布规律在一定空间内分开。 (2)感光:将光信号转换成易于测量的电信号,相应测量出各波长光的强度,得到光能量按波长的发布规律。 (3)绘谱线图:把分开的光波及其强度按波长或波数的发布规律记录保存或显示对应光谱图。 要具备上述功能,一般光谱仪器都可分成四部分组成:光源和照明系统,分光系统,探测接收系统和传输存储显示系统。 主要分类 根据光谱仪器的工作原理可以分成两大类:一类是基于空间色散和干涉分光的光谱仪;另一类是基于调制原理分光的新型光谱仪。本设计是一套利用光栅分光的光谱仪,其基本结构如

图。 光源和照明系统可以是研究的对象,也可以作为研究的工具照射被研究的物质。一般来说,在研究物质的发射光谱如气体火焰、交直流电弧以及电火花等激发试样时,光源就是研究的对象;而在研究吸收光谱、拉曼光谱或荧光光谱时,光源则作为照明工具(如汞灯、红外干燥灯、乌灯、氙灯、LED、激光器等等)。为了尽可能多地会聚光源照射的光强度,并传递给后面的分光系统,就需要设计照明系统。 分光系统是任何光谱仪的核心部分,它一般是由准直系统、色散系统、成像系统三部分组成,作用是将照射来的光在一定空间内按照一定波长规律分开。如图2-1所示,准直系统一般由入射狭缝和准直物镜组成,入射狭缝位于准直物镜的焦平面上。光源和照明系统发出的光通过狭缝照射到准直物镜,变成平行光束投射到色散系统上。色散系统的作用是将入射的单束复合光分解为多束单色光。多束单色光经过成像物镜按照波长的顺序成像在透镜焦平面上;这样,单束的复合光经过分光系统后变成了多束单色光的像。目前主要的色散系统主要有物质色散(如棱镜)、多缝衍射(如光栅)和多光束干涉(如干涉仪)。 探测接收系统的作用是将成像系统焦平面上接收的光谱能量转换成易于测量的电信号,并测

光谱仪

光谱仪 光谱仪,又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。 根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪.经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器.经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器.调制光谱仪是非空间分光的,它采用圆孔进光. 根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为:棱镜光谱仪,衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.光学多道分析仪OMA(OpticalMulti-channelAnalyzer)是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器,它集信息采集,处理, 存储诸功能于一体.由于OMA不再使用感光乳胶,避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理,测量工作,使传统的光谱技术发生了根本的改变,大大改善了工作条件,提高了工作效率;使用OMA分析光谱,测量准确迅速,方便,且灵敏度高,响应时间快,光谱分辨率高,测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机,绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研究工作中,

特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测. 一台典型的光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分: 1.入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。 2.准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。 3.色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。 4.聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。 5.探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。 光谱仪应用很广,在农业、天文、汽车、生物、化学、镀膜、色度计量、环境检测、薄膜工业、食品、印刷、造纸、喇曼光谱、半导体工业、成分检测、颜色混合及匹配、生物医学应用、荧光测量、宝石成分检测、氧浓度传感器、真空室镀膜过程监控、薄膜厚度测量、LED测量、发射光谱测量、紫外/可见吸收光谱测量、颜色测量等领域应用广泛。

实验室常用光谱仪及其它们各自的原理

实验室常用光谱仪及其它们各自的原理 光谱仪,又称分光仪。以光电倍增管等光探测器在不同波长位置,测量谱线强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。 下面就介绍几种实验室常用的光谱仪的工作原理,它们分别是:荧光直读光谱仪、红外光谱仪、直读光谱仪、成像光谱仪。 荧光直读光谱仪的原理: 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为(10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态 跃迁到能量低的状态.这个过程称为发射过程.发射过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁. 当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子.它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关.当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差.因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系. K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,ad4yjmk从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线: 由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射.如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα 射线,同样还可以产生Kβ射线,L系射线等. 莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础.此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析. 红外光谱仪的原理: 红外光谱与分子的结构密切相关,是研究表征分子结构的一种有效手段,与其它方法相比较,红外光谱由于对样品没有任何限制,它是公认的一种重要分析工具。在分子构型和构象研究、化学化工、物理、能源、材料、天文、气象、遥感、环境、地质、生物、医学、药物、农业、食品、法庭鉴定和工业过程控制等多方面的分析测定中都有十分广泛的应用。

基于Offner结构分视场成像光谱仪光学设计

第!!卷! 第"期!!!!!!!!!!!!光谱学与光谱分析#$%&!!!'$&"!(( )),)-)),=)*+!年"月!!!!!!!!!!!!.(/012$30$(4567.(/0125%865%43938:; :31!)*+!!基于"::425结构分视场成像光谱仪光学设计 吴从均+ ) 颜昌翔+" 刘!伟+ 代!虎+ )+<中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学一部!吉林长春!+!**!! )<中国科学院大学!北京! +***J I 摘!要!为满足航天应用中仪器小型和轻量化)大视场的观测要求!通过分析现有C R R 6/2成像光谱仪!给出了一种简单的采用凸面光栅设计成像光谱仪的方法"并据此方法设计了一应用于J **^P 高度!波段范围为*&J " +*P !焦距为,)*P P !E 数为L !全视场大小为J &!V 的分视场成像光谱仪系统"分视场采用光纤将望远系统的细长像面连接到光谱仪的三个不同狭缝而实现"三狭缝光谱面共用一个像元数为+*)J c +*)J !像元大小+"*Pc +"*P 的B B E 探测器"通过g H S 8N 软件优化和公差分析后!系统在)"%(+P P \+处S ?>优于*&=)!光谱分辨率优于L 6P !地面分辨率小于+*P !能很好的满足大视场应用要求!该光学系统 刈幅宽度相当于国内已研制成功的同类最好仪器的三倍"关键词!C R R 6/2 %成像光谱仪%分视场%光学设计中图分类号 C J !!!!文献标识码 8!!!%"& +*&!I =J K &9336&+***-*L I ! )*+! *"-)),)-*L !收稿日期 )*+)-++-)+ 修订日期 )*+!-*)-+=!基金项目 国家# "=!计划$项目#)*++88+)8+*!$资助!作者简介 吴从均!+I "=年生!中国科学院长春光学精密机械与物理研究所博士研究生!!/-P 59%&Q :0$6;K :6,"I ! +=!<0$P "通讯联系人!!/-P 59%&4560j ! 09$P (<50<06引!言 !!星载超光谱成像仪按地面像元分辨率分为中分辨率和高 分辨率!中分辨率超光谱成像仪地面分辨率为数百米至数千 米量级!高分辨率超光谱成像仪为数十米量级' +("目前制约星载成像光谱仪发展的主要是探测器和分光方式!国内星载设备探测器一般都通过国外购买!价格昂贵!而且购买的渠道越来越窄%分光方式上!光栅和棱镜作为传统的分光元件!各自存在一定的缺点"傅里叶变换光谱仪虽然是一种比较理想的成像光谱仪形式!但环境要求非常高!往往信噪比并不是很高%基于8C ?>)T B ?> )波带片等二元光学元件和折衍射系统组合的分光在星载应用中相对还不成熟')!!("传 统光谱仪系统包括准直和成像系统!一些独特结构的光谱仪系统采用汇聚光路!这种方法在很大程度上都采用了准直和成像对称形式!C R R 6/2结构就是一种对称严格的结构形式"C R R 6/2光栅成像光谱仪在)*世纪I *年代初就已经被提 出了!随着光栅制造水平的提高!其结构简单)利于小型化 的突出优势逐渐被放大!已经在应用中崭露头角'J ("文献 'L !=(分别从如何消除像散等离轴像差上分析了C R R 6/2成像 光谱仪的设计方法!文献',(给出了在汇聚光路中和在发散光路中分别采用光栅和曲面棱镜设计成像光谱仪的光学系统 并比较了两者的优缺点!程欣等' "(采用在汇聚光路中加入>p 24棱镜作为分光元件设计了光谱范围在* &J ")&L *P 的成像光谱仪"一些相关文献中还对C R R 6/2成像光谱仪的机械结构设计'I ()图像数据压缩)装调方法'+*(和杂散光'++(的分 析研究" 分视场成像光谱仪#3:Z -R 9/%79P 5;96;3(/012$P /1/2!.>@. $能有效增大地面刈副宽度!利用视场分割思想!将望远镜宽线视场分割)折叠成窄线视场阵列!通过一个光谱仪进行分光!充分发挥面阵探测器的优势!各窄线视场的光谱图像数据按序首尾相连!便得到了宽线视场情况下的高分辨率超光谱成像数据"早期的宽视场大部分采用视场分离器分 别进入不同光谱仪系统' +)(!这种情况下光谱仪必须根据视场分离的结果置很多台!而且体积大"本方法大大减小了仪器的体积和重量" +!C R R 6/2光谱仪的设计方法!!对于C R R 6/2结构的数值分析设计在文献'L !=(中给出了详细的设计过程!而且这些结构都是通过离轴形式对其进行分析!过程极为繁琐"下面从同轴结构出发进行分析!可以很快得到这种初始结构"'('!确定凸面光栅的曲率半径

光谱仪器原理

Spectrographys are optical instruments that form images S2(λ) of the entrance slit S1;the images are laterally separated for different wavelengths λof the incident radiation. Ω=F/f 12受棱镜的有效面积F=h.a的限制,它代表光 的限制孔径. 的方式成像到入射狭缝上是有利的,虽然会聚透镜 可以缩小光源在入射狭经上所成的像,使更多的来自扩展光源的辐射功率通过入射狭缝:但是发散度增大了.在接收角外的辐射不能被探测到,反而增大了由透镜支架和分光计

任何色散型仪器的光谱分辨本领的定义为 和λ 2 间的最小间隔. -λ 2)在二个最大间显示出明显的凹 陷,则可以认为强度分布是由具有强度轮廓为I 1(λ-λ 1 )和I 2 1(λ-λ 2 )的二条 )依赖于比率I 1/I 2 和二个分量的轮廓,因此最小 对于不同的轮廓将是不相同. 2 的第一最小重合,则认为两条谱线 (a)Diffraction in a spectrometer by the limiting aperture with diameter a f1f2 :angular dispersion[rad/nm] 成像在平面B上 )间的距离△x 2 为 =(dx/dλ)△λ :linear dispersion of the instrument,[mm/nm]为了分辨λ和λ+△λ的二条线,上式中的间距△x 2 至少应为二个狭缝象的宽度 (λ)+δx 2 (λ+△λ),由于宽度x2由下式与入射狭缝宽度相联系: δx 2 =(f2/f1) δx1 所以减小δx 1 便能增大分辨本领λ/△λ,可惜存在着由衍射造成的理论极限.由于分辨极限十分重要.我们将对这点作更详细的讨论. (b)Limitation of spectral resolution by diffraction

成像光谱技术简介

成像光谱技术 1.成像光谱技术发展简述 光谱技术是指利用光与物质的相互作用研究分子结构及动态特性的学科,即通过获取光的发射、吸收与散射信息可获得与样品相关的化学信息,成像技术则是获取目标的影像信息,研究目标的空间特性信息。这两个独立的学科在各自的领域里已有数百年的发展历史,但是知道上个世纪六十年代,遥感技术兴起,空间探测和地表探测一时成为科学界研究的热点,人们希望得到的不单纯是目标的影响信息或者目标的光谱信息,而是同时得到影像信息和光谱信息,这一需求极大的导致了成像技术和光谱技术的结合,催生出了成像光谱技术。 所谓光谱成像技术,其本质是充分利用了物质对不同电磁波谱的吸收或辐射特性,在普通的二维空间成像的基础上,增加了一维的光谱信息。由于地物物质组成的不同,其对应的光谱之间存在差异(即指纹效应),从而可以利用地物目标的光谱进行识别和分类。光谱成像技术可以在电磁波段的紫外、可见光、近红外和中红外区域,获取许多窄并且光谱连续的图像数据,为每个像元提供一条完整并且连续的光谱曲线。 图1 成像光谱技术示意图 图1.1就是成像光谱技术的示意图,成像光谱仪得到一个三维的数据立方体,从每个空间象元都可以提取一条连续的光谱曲线,通过谱线的特征分析,继而用于后续的测探等目的。 2.成像光谱仪的分类 成像光谱仪是成像光谱技术发展的必然产物,是可以同时获取影像信息与像元的光谱信息的光学传感器,是成像光谱技术得以实现的实物载体,根据不同的分类标准可以进行多种分类,主要有以下几种: (1)根据成像光谱仪的光谱分辨率不同,可以分为多光谱成像仪

(Multispectral Imager, MSI),高光谱成像仪(Hyperspectral Imager, HSI),超光谱成像仪(Hyperspectral Imager, USI)。 多光谱成像仪:获得的目标物的波段在3~12之间,光谱分辨率一般在 100nm左右,主要用于地带分类等方面。 高光谱成像仪:获得的目标物的波段在100~200之间,光谱分辨率在10nm 左右,被广泛用于遥感中。 超光谱成像仪:获得的目标物的波段在1000~10000之间,光谱分辨率在 1nm以下,通常用于大气微粒探测等精细探测领域。 (2)按照分光原理的不同可以分为棱镜色散型、光栅衍射型、滤光片型、干涉 型以及计算层析型。 棱镜色散型和光栅衍射型分别是利用棱镜的色散和光栅的衍射来获取目标物的光谱,这两类光谱仪都是直接型光谱仪,即可以直接得到目标物的光谱曲线,具有原理简单和性能稳定等优点。 滤光片型光谱仪是采用相机加滤光片的方案,分光元件为滤光片,有多种形式,有线性滤光片、旋转滤光片等。这种光谱仪也是一种间接成像光谱仪,需要调制才能获得整个数据立方体 干涉型光谱仪是采用干涉仪实现两束相干光的干涉,从而获得目标物的干涉图。该类型的光谱仪其采集到干涉图和最终需要反演得到光谱图之间存在傅里叶变换关系,故其也称傅里叶变换光谱仪。 (3)按照扫描方式不同,成像光谱技术可分为挥扫式(Whiskbroom)、推扫式(Pushbroom)和凝视(Staring)成像光谱仪。 挥扫视:主要利用扫描镜,将空间信息按照一定的顺序输入,再由光谱仪对各点进行光谱分光,这类光谱仪的探测器一般为线阵。 推扫式:采用一个垂直于运动方向的面阵探测器,先将扫描成像于光谱仪的狭缝上,在通过运动获得另一维的光谱数据。 凝视型:无需探测器的运动,在任意时刻即可获取目标的二维空间信息以及一维光谱信息。 此外,还有多种分类方法,比如按照数据称重理论和调制方式以及搭载平台的不同等等。 3.成像光谱技术的应用 成像光谱技术应用方向可以分为两大类:军用和民用。在军用方面,由于成像光谱仪特别是高光谱成像仪具有在光谱上区分地物类型的能力,因此它在地物的精细分类、目标检测和变化检测上体现出较强的优势,成为一种重要的战场侦察手段。早在20世纪末,美国军方就有实验表明高光谱图像可以分辨出

航天成像光谱仪CHRIS辐射与光谱性能评价

中国科学E辑技术科学 2006, 36(增刊): 85~93 85 航天成像光谱仪CHRIS辐射 与光谱性能评价* 张霞**张兵胡方超童庆禧 (中国科学院遥感应用研究所遥感科学国家重点实验室, 北京 100101) 摘要 CHRIS是欧空局于2001年10月成功发射的PROBA卫星上搭载的探索性高光谱遥感器, 它共有5种可选择的作业模式, 在可见光到近红外(0.4~1.05 μm)范围, 最多可以获取62个波段. 文中采用基于图像自身的大气校正方法(模型法ACORN和经验法), 在图像上选取最具代表性的植被和土壤光谱, 对CHRIS 这一新型的航天成像光谱仪进行了光谱与辐射性能评价. 计算显示, ACORN校正得到的玉米反射率在498~750 nm波长区间能够较好地表征植被的反射率光谱特征(如红边特征), 尤其是在对气溶胶敏感的蓝光部分比经验方法更有优势, 但是在750 nm之后就有很大偏差, 表明CHRIS在750 nm之后的波段存在光谱定标误差; 土壤光谱反射率在800 nm之后有递减的误差趋势, 表明CHRIS在部分波长区间还不能满足模型法大气校正的要求; ACORN反演得到的水汽含量分布图上存在的竖条纹, 则表明CHRIS的辐射定标性能的不足. CHRIS仪器作为欧空局第一个真正意义上的航天高光谱遥感器在光谱和辐射性能上仍有待改善. 关键词CHRIS高光谱定标性能大气自校正 为更好地理解地表的方向性反射特性, 欧空局(ESA)于2001年10月22日发射了PROBA-1(PROject for On Board Autonomy 1)小卫星, PROBA应用了星上自治示范技术, 适用于小区域的科学和应用任务[1]. 其上搭载有多角度紧密型高分辨率成像光谱仪CHRIS, 该光谱仪由Sira 技术公司研制, 可提供5个角度(0, ±36°, ±55°)的高光谱反射率数据, 从而为大气、陆地和海洋的二向性反射(BRDF)研究提供了宝贵的数据. 但是在CHRIS服务于科学应用之前, 有必要对其性能, 收稿日期: 2005-11-16; 接受日期: 2006-04-10 *国家自然科学基金项目(批准号: 40271085)和国家重点基础研究发展规划项目(批准号: 2002CB412506)资助 ** E-mail: zx_0101@https://www.360docs.net/doc/4b4920535.html,

X荧光光谱分析仪工作原理

X荧光光谱分析仪工作原理 用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。 用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。 现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下: 1.X射线管

两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。笥?SPAN lang=EN-US>lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。 X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。 2.分光系统

【CN110057449A】基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910354155.8 (22)申请日 2019.04.29 (71)申请人 上海卫星工程研究所 地址 201109 上海市闵行区元江路3666号 (72)发明人 张波 周爱明 舒锐 杜冬 王凯  唐琪佳 曹亮 秦雷 谢少彪  (74)专利代理机构 上海航天局专利中心 31107 代理人 余岢 (51)Int.Cl. G01J 3/28(2006.01) (54)发明名称基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法(57)摘要本发明涉及一种基于视场分光高光谱成像探测的空中动目标的高度及速度计算方法,包括:对同一场景下的不同视场的多台光谱仪成像探测数据进行预处理;对不同光谱仪的成像探测数据分别进行动目标检测,确定动目标在探测图像中的位置;计算不同光谱仪探测到的目标投影在大地坐标系下X、Y方向的位置差、成像时间差以及相应时刻目标投影处成像视轴的方位角、俯仰角;计算得到目标的高度;计算得到目标速度及航向。本发明利用了不同视场的多台光谱仪对同一动目标的成像关系求解动目标的高度和速度值,解决了准确实施高光谱探测数据大气校正所需要的动目标高度、动目标状态准确描述所需的速度的问题,有利于获得更为准确的空中动目 标光谱特征。权利要求书1页 说明书4页 附图2页CN 110057449 A 2019.07.26 C N 110057449 A

权 利 要 求 书1/1页CN 110057449 A 1.一种基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤1,对同一场景下不同视场的多台光谱仪探测成像数据进行预处理; 步骤2,对多台光谱仪的探测成像数据进行目标检测,并确定动目标投影在图像中的位置; 步骤3,计算多台光谱仪探测到的目标投影在大地坐标系下X、Y方向的位置差、成像时间差以及成像时目标投影处视轴的方位角、俯仰角; 步骤4,计算得到空中动目标的高度; 步骤5,计算得到空中动目标的速度及航向。 2.如权利要求1的基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法,其特征在于,大地坐标系下X、Y方向的位置差可以通过先计算目标投影在大地坐标系下的坐标,再进行直接坐标相减的方法得到。 3.如权利要求1的基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法,其特征在于,大地坐标系下X、Y方向的位置差还可以先对不同视场的多台光谱仪探测图像进行图像配准,得到不同动目标投影在大地坐标系统X、Y方向的像元差,再乘以探测图像的空间分辨率得到。 4.如权利要求1的基于视场分光高光谱探测的空中目标高度和速度计算方法,其特征在于,所述动目标高度和速度的计算方法也适用于同一仪器或设备对目标的多次成像场景的目标高度计算。 2

光谱仪的发展历史与现状

光谱仪的发展历史与现状 【摘要】光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质量控制等方面发挥了重要作用。本文主要从光谱仪原理、光谱仪基本特性、发展历程、重要发明(UVS、AAS)以及未来展望等几个方面进行简要的阐述。 【关键词】光谱仪原理、基本特性、发展历程、UVS、AAS 1.光谱仪基本原理 光谱仪器是进行光谱研究和物质结构分析,利用光学色散原理及现代先进电子技术设计的光电仪器。它的基本作用是测量被研究光(所研究物质反射、吸收、散射或受激发的荧光等)的光谱特性,包括波长、强度等谱线特征[1]。因此,光谱仪器应具有以下功能: (1)分光:把被研究光按一定波长或波数的发布规律在一定空间分开。(2)感光:将光信号转换成易于测量的电信号,相应测量出各波长光的强度,得到光能量按波长的发布规律。 (3)绘谱线图:把分开的光波及其强度按波长或波数的发布规律记录保存或显示对应光谱图。 要具备上述功能,一般光谱仪器都可分成四部分组成:光源和照明系统,分光系统,探测接收系统和传输存储显示系统。 根据光谱仪器的工作原理可以分成两大类:一类是基于空间色散和干涉分光的经典光谱仪;另一类是基于调制原理分光的新型光谱仪。

经典光谱仪结构图 光源和照明系统可以是研究的对象,也可以作为研究的工具照射被研究的物质。一般来说,在研究物质的发射光谱如气体火焰、交直流电弧以及电火花等激发试样时,光源就是研究的对象;而在研究吸收光谱、拉曼光谱或荧光光谱时,光源则作为照明工具(如汞灯、红外干燥灯、乌灯、氙灯、LED、激光器等等)。为了尽可能多地会聚光源照射的光强度,并传递给后面的分光系统,就需要专门设计照明系统[2]。 分光系统是任何光谱仪的核心部分,它一般是由准直系统、色散系统、成像系统三部分组成,主要作用是将照射来的光在一定空间按照一定波长规律分开。如图2-1所示,准直系统一般由入射狭缝和准直物镜组成,入射狭缝位于准直物镜的焦平面上。光源和照明系统发出的光通过狭缝照射到准直物镜,变成平行光束投射到色散系统上。色散系统的作用是将入射的单束复合光分解为多束单色光。多束单色光经过成像物镜按照波长的顺序成像在透镜焦平面上;这样,单束的复合光经过分光系统后成功变成了多束单色光的像。目前主要的色散系统主要有物质色散(如棱镜)、多缝衍射(如光栅)和多光束干涉(如干涉仪)探测接收系统的作用是将成像系统焦平面上接收的光谱能量转换成易于测量的电信号,并测量出对应光谱组成部分的波长和强度,从而获得被研究物质的特性参数如物质的组成成分及其含量以及物质的温度、星体的运动速度等等。目前光谱仪器的接收系统可以分为目视系统、摄谱系统和光电系统。经典光谱仪器根据设计需要可以选择其中一种,但干涉调制光谱仪器只能采用光电接收系统。 传输存储显示系统是将探测接收系统测量出来的电信号经过初步处理后存储或通过高速传输接口上传给上位机,在上位机上对光谱数据进行进一步数据处理及显示等。 2.光谱仪基本特性 光谱仪器的基本特性主要包括:工作光谱围、色散率、分辨率、光强度以及工作效率等五个方面。 (1)工作光谱围 指使用光谱仪器所能记录的光谱围。它主要决定于仪器中光学零件的光谱透

光谱仪工作原理+图

海洋光纤光谱特有的信息 1.光谱仪的工作原理 CCD探测器型的海洋光学光谱仪的工作原理如动画展示。光通过光纤有效的耦合到光谱仪中,经球面镜将进入光谱仪中的发散光束会聚准直到衍射光栅上,衍射分光后又经第二面球面镜会聚聚焦,光谱像投射到线性CCD阵列上,数据信号经A/D转换传至计算机上。 光子撞击CCD像素上的光敏二极管后,这些反向偏置的二极管释放出与光通量成比例的电容器,当探测器积分时间结束,一系列开关关闭并传输电荷至移位寄存器中。当传输完成,开关打开并且与二极管关联的电容器又重新充电开始一个新的积分周期。同时,光能被累积,通过A/D转换数据被读出移位寄存器。数字化的数据最后显示在计算机上。 2.光学分辨率

单色光源的光学分辨率以半高全宽值(FWHM)来表征,它依赖于光栅刻槽密度(mm-1)及光学入瞳直径(光纤或狭缝)。海洋光纤光谱配置客户所要求的系统时,必须平衡两个重要的因素: 1) 光栅刻槽密度增加,分辨率增大,但光谱范围及信号强度会减小。 2) 狭缝宽度或光纤直径变窄,分辨率增大,但信号强度会减小。 如何估算光学分辨率(nm,FWHM) 2. 1. 确定光栅光谱范围,找到光栅的光谱范围通过: 选择光栅:“S”光学平台;选择光栅:“HR”光学平台;选择光栅:“NIR”光学平台。(有想详细了解的,烦请光纤专家予以解释) 2. 2. 光栅光谱范围除以探测器像元数,结果为Dispersion。Dispersion (nm/pixel) = 光谱范围/像元数 探测器像元素见图2

3.像素分辨率 下表列出了不同狭缝(或光纤直径)尺寸下的像素分辨率。尽管狭缝入射宽度不同,但高度一致(1000um)。有想深入了解的版友直接向专家提问。 4.计算光学分辨率(nm) Dispersion (Step 2) x Pixel Resolution (Step 3) 举例:确定光学分辨率,光谱仪型号:USB4000,光栅型号:#3,狭缝宽度:10um 650nm(#3光栅光谱范围)/3648(USB4000探测器像元数)X5.6(像素分辨率)=0.18X5.6nm=1.0nm(FWHM) 5.海洋光纤光谱仪的系统灵敏度 海洋光纤光谱仪对系统灵敏度的定义打破常规,不需要对影响光谱幅度的各种因素进行校正。他们提供一种更有用的方法:NIST-traceable 辐射标准(LS-1-CAL),它可以用能量项来标准化光谱数据。在他们的SpectraSuite操作软件中,可以使用“I”模式下相对能量分布(0到1)或绝对值(以 W/cm2/nm或流明或勒克斯/单位面积为单位)来标准化光谱数据。对透射或反射实验,可以使一个物理标准来标准化(归一化)数据如利用空气中的传播或漫射白板来确定。 6.海洋光纤光谱解决影响光谱幅度值的因素

光谱仪知识-高光谱成像光谱仪简介及应用

高光谱成像光谱仪简介及应用 高光谱成像光谱仪将成像技术和光谱技术结合在一起,在探测物体空间特征的同时并对每个空间像元色散形成几十个到上百个波段带宽为 10nm 左右的连续光谱覆盖。它以高光谱分辨率获取景物或目标的高光谱图像。在陆地、大气、海洋等领域的研究观测中有广泛的应用。 高光谱高光谱成像光谱仪–概述 高光谱高光谱成像光谱仪是 20 世纪 80 年代开始在多光谱遥感成像技术的基础上发展起来的,它以高光谱分辨率获取景物或目标的高光谱图像,在航空、航天器上进行陆地、大气、海洋等观测中有广泛的应用,高高光谱成像光谱仪可以应用在地物精确分类、地物识别、地物特征信息的提取。建立目标的高光谱遥感信息处理和定量化分析模型后,可提高高光谱数据处理的自动化和智能化水平.。由于高光谱成像光谱仪高光谱分辨率的巨大优势,在空间对地观测的同时获取众多连续波段的地物光谱图像,达到从空间直接识别地球表面物质的目的,成为遥感领域的一大热点,正在成为当代空间对地观测的主要技术手段。地面上采用高光谱成像光谱仪也取得了很大的成果,如科学研究、工农林业环境保护等方面。 高光谱成像光谱仪主要性能参数是: (1)噪声等效反射率差(NE?p),体现为信噪比(SNR); (2)瞬时视场角(IFOV),体现为地面分辨率; (3)光谱分辨率,直观地表现为波段多少和波段谱宽。 高光谱分辨率遥感信息分析处理,集中于光谱维上进行图象信息的展开和定量分析,其图象处理模式的关键技术有: ⑴超多维光谱图象信息的显示,如图像立方体的生成; ⑵光谱重建,即成像光谱数据的定标、定量化和大气纠正模型与算法,依此实现成像光谱信息的图象-光谱转换; ⑶光谱编码,尤其指光谱吸收位置、深度、对称性等光谱特征参数的算法; ⑷基于光谱数据库的地物光谱匹配识别算法; ⑸混合光谱分解模型; ⑹基于光谱模型的地表生物物理化学过程与参数的识别和反演算法。 高光谱分辨率成像光谱遥感起源于地质矿物识别填图研究,逐渐扩展为植被生态、海洋海岸水色、冰雪、土壤以及大气的研究中。高光谱成像光谱仪的基本原理 1、系统工作原理与结构:高高光谱成像光谱仪将成像技术和光谱技术结合在一起,在探测物体空间特征的同时并对每个空间像元色散形成几十个到上百个波段带宽为 10nm 左右(目前美国产 SOC730 高光谱成像光谱仪的带宽已达到2nm)的连续光谱覆盖。根据高光谱成像光谱仪的扫描方式,其工作原理也不尽相同,作为光学成像仪成像的一个例子,这里简述一下焦平面探测器推扫成像原理。 1.1、系统工作原理:焦平面探测器推扫成像原理,地面物体的反射光通过物镜成像在狭缝平面,狭缝作为光栏使穿轨方向地面物体条带的像通过,挡掉其他部分光。地面目标物的辐射能通过指向镜,由物镜收集并通过狭缝增强准直照射到色散元件上,经色散元件在垂直条带方向按光谱色散,用会聚镜会聚成像在传感器使用的二维 CCD 面阵列探测元件被分布在光谱仪的焦平面上。焦平面的水平方向平行于狭缝,称空间维,每一行水平光敏元上是地物条带一个光谱波段的像;焦平面的垂直方向是色散方向,称光谱维,每一列光敏元上是地物

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