低温预冷步骤

低温预冷步骤

预冷主要步骤

一、先用低温氮气预冷(1)检查卸车金属软管完好状况, 管内无雨水、垃圾等杂物。将金属软管连接到槽车上, 并检查连接是否牢固。(2)打开槽车自增压器( 或使用卸车增压器) , 使槽车压力升高至0.3MPa。缓慢打开槽车气相阀门, 检查软管连接处有无泄漏。(3)向储罐内缓慢冲入低温氮气, 待储罐压力上升至0.2MPa 左右。关闭卸车台卸液阀门, 储罐保冷15min 后, 打开储罐测满阀, 排出氮气, 该过程重复进行。(4)判断储罐内部温度, 通过测满阀放出气体, 用温度计测定, 当气体温度到达预期值后( - 70°C~- 100°C) , 气体预冷工作完成。

二、液氮预冷(1)将储罐压力放空至微正压, 关闭下部进液阀。关闭液位计平衡阀, 投用液位计。(2)缓慢打开槽车液相阀至较小开度, 缓慢关小槽车气相阀, 使液氮从储罐上部进液。控制卸车台阀门开度, 使压力保持在0.3MPa。等储罐压力升高至0.2 MPa~0.3MPa, 要及时关闭卸车台阀门, 打开储罐气相手动放空泄压, 反复进行此操作。(3)细听储罐内的声音并同时观测储罐的压力, 等声音减小, 压力不再上升时, 可慢慢打开储罐下部进液紧急切断阀前后阀, 上下同时进液。进液过程中要密切观察记录储罐压力, 防止压力升高。压力升高时要及时关闭槽车的出液阀, 同时打开储罐气相手动放空泄压。

(4)储罐的液位计达到一定值时( 一般为储罐的20%) , 进液结束。(5)进液任务完成后, 关闭槽车液相阀门, 打开槽车气相阀门, 向储罐吹扫卸液管线。(6)关闭槽车阀门及卸车台卸液阀门, 卸下软管。关闭卸车台阀门后应将此阀与止回阀间的液体放空。(7)关闭储罐气相手动放空阀、储罐下部进液紧急切断阀前截止阀。储罐上部进液阀待卸车LNG 管道恢复常温后再关闭。(8)利

用储罐内的液氮对增压器、空浴式气化器及其它低温管道进行预冷。

三、放空低温氮气的利用液氮预冷时需要通过气相管放空低温氮气, 这些低温氮气可以通过与其他罐相连的气相管道, 对其他储罐进行预冷, 可以节约液氮。

高低温试验

高低温试验 一、概念:高低温箱具有较宽的温度控制范围,其性能指标均达到国家标准GB/T10592高低温试验箱技术条件,适用于按GB/T2 423.1、2《电工电子产品环境试验试验A:低温试验方法,试验B:高温试验方法》对产品进行低温及高温试验。适用于电工电子产品(包括元件、设备及其它产品)的高低温度试验; 2). 本产品设计先进合理,能适应长期、稳定、安全、可靠的试验要求, 同时配有真空透明视窗,能清晰看到工作室试验状态,采用高级进口数显 温控仪,显示直观、操作简便,具有国际先进水平。 3). 该类产品主要部件采用进口件,性能优异,外观美观,可靠性好,是实验室环境试验设备的理想选择。 高低温试验箱 二、设备的用途

该设备主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。 该试验设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。 三、设备的结构特征 该设备主要由箱体、制冷系统、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成。 箱体的外壳为采用冷轧钢板静电喷塑,内胆采用优质304SUS不锈钢板,箱门中间设大面积观察窗,并配有观察灯,使用户可以清晰地看到试样的试验情况。外型整体美观大方。保温层为硬质聚氨脂发泡加上少量的超细玻璃棉,具有强度高,保温性有好等特点。 该设备主要温度控制仪采用智能数显温湿度控制仪,人性化设计的操作方法,易学易用,并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。输入采用数字校正系统,内置常用热电偶和热电阻非线性校正表格,测量精确稳定。具备位式调节和AI人工智能调节功能,0.2级精度,多种报警模式。升温、降温、加湿、去湿独立,独特的BTHC平衡调温调湿方式。 制冷系统采用法国“泰康”全封闭进口压缩机组,机械式单级制冷或复迭低温回路系统,全自动控制与安全保护协调系统。加热采用不锈钢翅片加热管。

环境试验的基础知识

环境试验的基础知识 一、温度试验: 电工电子产品在温度应力的作用下会造成塑料、树脂的老化、分解、变形、甚至燃烧;金属短路、断路、损坏;焊剂流动、焊接不实形成噪声。根据“10℃规则”,当环境温度上升10℃时,产品寿命会减少一半;当环境温度上升10℃时,产品寿命会减少到四分之一。根据这一现象,我们可以升高环境温度,加速失效现象的发生。这就是我们进行的加速寿命老化试验。还必须对早期失效的不合格的产品进行筛选测试。 二、湿热试验: 试验样品在高温高湿条件下,会造成水气吸附和扩散。许多材料吸湿后体积膨胀、强度降低、电性能下降、金属腐蚀、离子迁移、造成开路或短路。

湿热试验的注意事项: 1、试验目的明确,进行与目的相符的试验。积累每一次的失效数据,为以后的试验能有效地进行。 2、关心测试数据的准确性,湿球纱布变质变赃会导致测量精度偏差5%~10%:要使用脱脂的干净纱布和蒸 馏水。 3、在进行温度-湿度偏压试验(THB)时,因试件内部发热,试样表面附近的相对湿度会降低,影响试验的 准确性。试验方式可调整为:通电1小时断电3小时,断续电试验。 4、试验箱内的温湿度条件应与试样内部的温湿度条件保持一致,且均匀度要好。在高湿度试验中,如果某一 点的温度低1℃,这一点的湿度就可能变成100%RH,就会有凝结的水珠出现,使试验数据发生很大变 化。 5、防止试验箱顶部凝露水滴到度样上,造成不必要的损失。 6、在压力蒸煮锅试验结束后,要冷却后再取出。防止试样受到压力冲击和温度冲击,造成样品破裂损坏。 三、高低温温度冲击试验: 航空器起飞或降落时,机载外部器材会出现温度的急剧变化;设备从高温区移到低温区或从低温区移到高温区;设备通电与断电;采用锡焊焊接;整机小型化,元件密集,元器件更容易受热,等等。都会引起高低温温度的冲击。元器件都是由不同材料构成,由热膨胀系数不同引起的故障时有发生。为此,对产品进行高低温温度冲击试验,在较短时间内确认产品特性的变化,发现在常温状态下难以发现的潜在故障,是提高产品可靠性的有力措施。 在美国,高低温温度冲击试验经常作为筛选试验形式对出厂前的产品进行100%的检查。在日本,高低温温度冲击试验则作为加速可靠性试验的一种形式广泛用于产品的开发阶段。将元器件暴露于迅速交替的超高温和超低温的试验环境中。在早期,就将不良品筛选出去。保证后面的工作顺利进行。 高低温温度冲击试验与温度循环试验的区别:

常规气候类环境试验规范V3.0

常规气候类环境试验规范 拟制:________________ 日期:__________ 审核:________________ 日期:__________ 规范化审查:________________ 日期:__________ 批准:________________ 日期:__________

更改信息登记表 规范名称: 常规气候类环境试验规范规范编码:TS-S100002015

目录 1.目的 (4) 2.适用范围 (4) 3.定义 (4) 4.引用/参考标准或资料 (4) 5. 规范内容 (4) 5.1 试验分类 (4) 5.2 环境条件等级 (5) 5.3 对试验箱的要求 (5) 5.4 环境试验方法 (5) 5.4.1低温工作试验 (5) 5.4.2高温工作试验 (7) 5.4.3 高温贮存试验 (9) 5.4.4 低温贮存试验 (10) 5.4.5 恒定湿热试验 (12) 5.4.6 交变湿热试验 (14) 5.4.7 温度循环试验 (16) 5.5 判定标准 (17) 5.6 试验中断处理 (18) 5.7 试验报告 (18)

1.目的 1) 评定产品在常规气候类环境因素(温度、湿度)及其组合的规定限值内的工作能力,评定产品对贮存、使用环境的适应性; 2) 暴露产品薄弱环节,为改进产品设计提供信息。 2.适用范围 二次电源和通迅电源、一次电源、变频器、监控产品、UPS、空调、蓄电池及PLC等硬件产品的开发试验、型式试验、批量抽样试验、质量检查试验等类型试验。 3.定义 引用IEC60068-5-2 《环境试验第5部分:试验方法编写导则-术语与定义》。 4.引用/参考标准或资料 IEC60068 《Environmental testing》 IEC60721 《Classification of Environmental Conditions》 GR-63-CORE 《NEBS Requirements: Physical protection》 MIL-HDBK-338B 《Electronic Reliability Design Handbook》,1998.10 5. 规范内容 5.1 试验分类 本规范的内容只涉及常规气候类环境试验。 气候类环境条件包括:高温、低温、湿度、气压、风、雨、阳光辐射等。相应的环境试验分为单因素试验和综合试验。本规范的内容包括了我司产品在有关行业标准和国家标准中规定的经常采用的试验项目,主要包括:

低温贮藏食品的基本原理

食品的低温保藏可以防止或减缓食品变质。 人们很早就知道在冬天寒冷季节,食品不易变质且能保存较长的时间。目前在食品制造,贮存和运输系统中,则普遍采用人工制冷的方式来保持食品的质量。使食品原料或制品从生产到消费的全过程中,始终保持低温的方式和工具称为冷链,包括制冷系统、冷却冷冻系统、冷库、冷藏车船以及冷冻销售系统等。 冷却和冷冻不仅可以保存食品,也可以和其他食品制造过程结合起来,达到改变食品性能和功能的目的。例如,冻结浓缩、冻结干燥、冻结粉碎等方法,已得到普遍应用。而冷饮及冰淇淋制品等则早已成为大众食品。目前在我国方便食品体系中,冷冻方便食品也已逐渐普及,可望在近期有很大的增长。 食品在低温下不易变质的原因主要有以下几个方面。 1、在低温下水变成冰,水的活度降低,食品的保水能力大大增强。有许多水分食品及原料的保鲜,其水分的保持是质量保证的重要原因之一。 2、在低温下可抑制微生物的生长和繁殖。通常在10℃以下大多数微生物便难以繁殖,在-10℃就几乎不再发育。虽然个别或少数嗜冷性微生物还能活动,但可以说,在-10℃以下,实际上已不至因微生物的侵染而导致食品的变质。不过值得注意的是,低温并不导致微生物的灭绝。 3、在低温下,食品内原有的酶的活性大大降低。大多数酶的适宜活动温度为30℃—40℃,一般来说,如将温度维持在18℃以下,酶的活性将受到很大程度的抑制,从而延缓了食品的变质和腐败。 低温保藏一般可以分为冷冻和冷藏两种方式。前者要将保藏物降温到冰点以下,使水部分或全部分成冻结状态,动物性食品通常用此法。后者无冻结过程,通常降温至微生物和酶活力较小的温度,新鲜果蔬类常用此法。食品变质的原因是多样的,如果把食品进行冷冻加工,食品的生化反应速度大大减慢,使食品可以在较长时间内贮藏而不变质,这就是低温贮藏食品的基本原理

低温环境试验

低温环境试验 低温试验的目的是确定军民用设备在高温条件下储存和工作的适应性。 实验室低温试验的标准有: GB/T2423.2-2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温》; GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》; MIL-STD-883D 《微电子器件试验方法和程序》; MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》; MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》; GJB150.3-86《军用设备环境试验方法高温试验》; GJB548A-96 《微电子器件试验方法和程序》; 本实验室试验参数范围: 低温试验小于0.4立方米试验 箱 室温~-70℃1立方米试验箱室温~-70℃2立方米试验箱室温~-150℃8立方米试验箱室温~-40℃45立方米试验箱室温~-40℃ 咨询电话:02 0- 66 83 70 67 138 08 84 00 60 李工地址:广州市天河区黄埔大道西平云路163号

广州广电计量检测股份有限公司(简称GRGT)始建于1964年,是以计量校准、产品测试、产品认证、技术培训与咨询为主要业务,具有独立法人资格的第三方专业技术服务机构,是信息产业部军工电子602计量测试站、广东省导航产业创新平台校准与检测实验室,通过了国家实验室(CNAS)、国防实验室(DILAC)和总装军用实验室认可,以及中国计量认证(CMA),是广东省中小企业公共服务示范平台。 环境可靠性试验设备是模拟各类环境气候,运输、搬运、振动、等条件下,是企业或机构为验证原材料、半成品、成品质量的一种方法。目的是通过使用各种环境试验设备做试验,来验证材料和产品是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标。广泛用于大专院校、航空、航天、军事、造船、电工、电子、医疗、仪器仪表、石油仪表、石油化工、医疗、汽摩等领域。是验证产品在未来的使用环境中的可靠性程度的重要手段。 环境可靠性试验设备能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各种标准或用户要求进行高温、低温、温度冲击(气态及液态)、浸渍、温度循环、低气压、高低温低气压、恒定湿热、交变湿热、高压蒸煮、砂尘、耐爆炸、盐雾腐蚀、气体腐蚀、霉菌、淋雨、太阳辐射、光老化等。 咨询:02 0- 66 83 70 67 138 08 84 00 60 李工

高低温环境试验箱

产品介绍: 馥勒FLWK-Y系列高低温环境试验箱适用于拉伸试验机、电子万能试验机、液压万能试验机、电液伺服动静万能试验机等。可为高、低温拉伸、压缩、弯曲试验提供长时间、稳定的试验温度环境。 液氮高低温试验箱包含不锈钢箱体、温度控制系统、成套电气控制板、液氮制冷系统、保温连接管道、耐用的液氮电磁阀、配有温度通讯端口。 主要技术规格参数: 试验箱规格型号:FLWK4350Y,FLWK7350Y,FLWK18350,FLWK19350; 试验温度范围可选:-40~350℃,-70~350℃,-180~350℃,-196~350℃; 温度波动度:≤±1℃±2℃; 温度偏差:标距100mm内≤±2℃,(>200℃时,±3.5℃); 温度均匀度:标距100mm内≤±2℃,(>200℃时,±3.5℃); 温控表精度:0.2级、0.3级; 制冷方式:液氮制冷,冷端输出控制方式; 加热方式:优质镍铬合金电加热器; 箱体材料:304不锈钢板可选; 保温材料:硅酸铝保温绵; 可选配试验机规格:FL4000系列、FL5000系列、FL7000系列; 可选高低温试验夹具:高低温拉伸夹具、高低温压缩夹具、高低温弯曲夹具等; 通风调节方式:强制通风内循环,平衡调温法(BTCH),该方法在制冷系统连续工作的情况下,中央控制系统根据所采集到的箱内温湿度信号进行放大、模/数转换、非线性校正后与温湿度的设定值(目标值)进行比较,得出的偏差信号经PID运算,输出调节信号,自动控制加热器的输出功率,最终使箱内的温度达到一种动态平衡。 空气循环装置:内置空调间、循环风道及长轴离心式通风机,通过高效通风机进行有效的热交换,达到实现温度变化之目的。通过改善空气的鼓风气流,提高了空气流量及加热器表面与空气的热交换能力,通过出风孔口的调节,从而大幅改善了试验箱的温度均匀性。 高低温环境试验箱可靠的安全保护装置: 1)馥勒高低温试验箱满足国家电工安全标准,布线规范,各接线端口均有明确标注,无裸露; 2)工作室与各电源绝对绝缘,安全可靠; 3)可靠的接地保护装置:整机电源漏电/断路/缺相/过压/欠压保护 4)工作室超温保护。 备注:更多关于高低温环境试验箱的技术规格选型,请咨询馥勒仪器科技公司技术工程师。馥勒FULETEST公司保留试验设备升级的权利,更新后恕不另行通知,如有问题请在线咨询或致电详细情况。未经授权,请勿复制。

GB2423标准系列大全(环境试验要求)

HG/T 2423-2008 工业对苯二甲酸二辛酯(单行本完整清晰扫描版) 367KB GB/T 2423.39-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ee:弹跳440KB GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验Ed自由跌落257KB GB/T 2423.32-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ta 润湿称量法可焊性(横版扫描色淡不太清晰)- 990KB GB 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z-AM低温-低气压综合试验.pdf 1445KB GBT 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验Sa 模拟地面上的太阳辐射.pdf 176KB GB 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd 宽频带随机振动一般要求(单行本完整清晰扫描版).pdf 3007KB GBT 2423.57-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ei 冲击冲击响应谱合成.pdf 24000KB GB/T 2423.102-2008 电子电子产品环境试验第2部分:试验方法试验:温度(低温、高温)低气压振动(正弦)综合998KB GB/T 2423.101-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验:倾斜和摇摆329KB GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验第2-80部分试验方法试验Fi 振动混合模式3461KB GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db 交变湿热(12h +12h循环)4604KB GB/T 2423.43-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装3736KB GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka:盐雾(单行本完整清晰扫描版) 836KB GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ga和导则稳态加速度2833KB GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)8313KB QB/T 2423-1998 聚氯乙烯(PVC)电气绝缘压敏胶粘带157KB GB/T 2423.9-2001 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Cb 设备用恒定湿热207KB GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验77:结构强度与撞击223KB GB/T 2423.34-2005 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验347KB GB/T 2423.53-2005 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Xb 由手的摩擦造成标记和印刷文字的磨损185KB GB/T 2423.38-2005 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验R:水试验方法和导则827KB

GB_T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试...

GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法 GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品) GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落 GB/T 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦) GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动-一般要求 GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-高再现性 GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-中再现性 GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-低再现性 GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验J和导则:长霉 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程第2部分:试验方法试验Ka;盐雾试验方法 GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第2部分:试验试验Kb:盐务,交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法 GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法 GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法 GB/T 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法 GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封[part1] GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封[part2] GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验试验Sa:模拟地面上的太阳辅射 GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验 GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验 GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验 GB/T 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法 GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验U:引出端及整体安装件强度 GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍 GB/T 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法 GB/T 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法 GB/T 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法 GB/T 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法 GB/T 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/Afc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综 合试验方法 GB/T 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程试验ZBFc: 散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法 GB/T 2423.371989 电工电子产品基本环境试验规程试验L:砂尘试验方法 GB/T 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验R:水试验方法 GB/T 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee:弹跳试验方法 GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热 GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法 GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法 GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法元件\设备和其它产品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fd)和稳态加速度(Ga)等动力学试验中的安装要求和导则 GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eg:撞击弹簧锤

低温贮藏保鲜技术的发展概况

低温贮藏保鲜技术的发展概况 摘要:本文叙述了低温贮藏保鲜技术的基本原理,包括动植物性食品低温贮原理。介绍了制冷技术、低温技术、低温贮藏的冷却冷冻保鲜技术、冷藏链的发展概况。最后针对实际存在的问题,提出了今后低温贮藏保鲜技术的发展建议。 关键词:低温贮藏;速冻;保鲜技术;冷藏链 正文:目前,随着科学技术的进步和经济的发展,人们对食物要求越来越高,人们的饮食已从温饱型向营养型转变,对食品的需求不但追求数量,而且关心质量和花色品种,经济、实惠、方便的食品必将成为消费者选择的对象]1[。近年来,低温贮藏食品愈来愈多,它在人们的生活中占据越来越重要的地位,冻鸡、冻鸭、速冻蔬菜等低温贮藏食品都可以见到,深受消费者的欢迎。 1 食品的低温贮藏原理 食品低温贮藏就是利用低温技术将食品温度降低,并维持在低温状态以阻止食品腐败变质,延长食品保存期。低温保藏不仅可以用,新鲜食品物料的贮藏,也可以用于食品加工品、半成品的贮藏]2[。食品低温保藏的一般工艺过程为:食品物料→前处理→冷却或冻结→冷藏或冻藏→回热或解冻。这是低温保藏食品需要大概工艺流程,因为不同物料的特性不一定相同,所以具体的工艺条件也不一定相同,具体操作具体对待。低温保藏食品的原理是:在温度较低的范围内,当温度高于食品的冰点时,食品中微生物的生长速率减缓,低于冰点以下时一般微生物都停止生长。 1.1 动物性食品低温贮藏原理 动物性食品变质的主要原因是微生物和酶的作用。变质过程中主要发生了微生物活动和食品抗病性(抵抗微生物的能力)的问题,要解决这个主要问题,须控制微生物的活动和酶对食品的作用。动物性食品放在低温条件下,微生物和酶对食品的作用就微小了。当食品在低温下发生冻结后,其水分结晶成冰,使微生物的活力丧失而不能繁殖,酶的反应受到严重抑制,这样生物体内的化学反应会变慢,食品就可以较长时间的贮藏。所以动物性食品可以通过低温来维持它的新鲜状态。 1.2

GB_T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试...之欧阳家百创编

GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基 本环境试验规程试验A:低温试验方法 欧阳家百(2021.03.07) GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea 和导则:冲击 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb 和导则:碰撞 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec 和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品) GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落 GB/T 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦) GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动-一般要求 GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-高再现性 GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-中再现性 GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-低再现性 GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验J 和导则:长霉 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程第2部分:试验

低温贮藏条件下胡萝卜品质变化的研究

化工与生物技术学院毕业论文 低温贮藏条件下胡萝卜品质变化的研究Study on Carrot Quality Change under the Condition of Low Temperature Storage 吉林化工学院 Jilin Institute of Chemical Technology

摘要 胡萝卜是伞形科二年生草本植物,以呈肉质的根作蔬菜食用,且其肉质根富含多种营养素。本试验以胡萝卜作为研究对象,研究在低温和冷冻贮藏条件下其品质的变化规律,包括水分含量、总糖含量、果胶含量、纤维素含量、维生素C 含量的变化。该研究对胡萝卜保鲜贮藏的方法具有指导意义,用于实际食品生产过程中优质原料的采集,尽可能降低采后损失,避免运销过程中的大量腐烂,保证消费市场的正常供应需求,指导食品加工生产,更好的为生产服务。试验材料购买后立即运回实验室,先随机抽取三根检测其各项品质指标的含量,其余试样预处理后三根一组装入自封袋中,每个自封袋用牙签扎18-20个通气孔,然后标号后分别置于冰箱的冷藏室和冷冻室贮藏贮藏量均为18根。贮藏期设为28d,每隔7d,对两种贮藏温度下的胡萝卜均取三根样品(即一个自封袋)进行各项指标的测定,每个指标测定3次,取平均值。结果表明,4℃条件下对胡萝卜的低温贮藏可以减缓胡萝卜的失水率、Vc损失率、果胶损失率以及粗纤维的增长率,而-20℃的冷冻贮藏条件则能减缓胡萝卜还原糖损失率。总之,4℃的的低温贮藏条件能有效地维持胡萝卜的品质。 关键词:胡萝卜;贮藏;低温;冷冻;品质

Abstract The carrot is a umbelliferae biennial herb with fleshy roots of various nutrients which can be eaten as a vegetable. This experiment, taking the carrot as the research object, researches the change rule of water content, total sugar content, pectin content, cellulose content, and vitamin C content in state of low temperature and frozen storage. The research has guiding significance for the method of carrot storage, which can be used to collect high quality raw materials in actual food production process, to reduce postharvest loss as far as possible to avoid a lot of rot in marketing process, to ensure the normal supply demand for the consumer market ,and to guide food processing production, in a word, to offer better service for production. Take test materials back to the lab immediately after the purchase. Firstly, choose three roots to detect the content of each quality index. After the pretreatment of the other samples, put each three of them as a group into several valve bags. Use a toothpick to make 18-20 punctures on each valve bag as spiracles. Label them and storages 18 roots into the cold closet and another 18 roots into the freezing chamber of the refrigerator. The storage period is set to be 28d. Every 7D, take out three carrot root samples (i.e. a zip lock bag) from each storage temperature to detect the content of each quality index. Each index was measured for 3 times, and took the average value. The results showed that low temperature storage at 4 ℃ can slow down the loss rate of water , loss rate of Vc, loss rate pectin and the growth rate of crude fiber of the carrots , while frozen storage at -20 ℃ can slow down the carrot reducing sugar loss rate. In short, low temperature storage at 4 ℃ can effectively maintain the quality of the carrot. Keywords: carrots; storage; temperature; freezing; quality

高低温贮存试验规范

毒麻柜高低温贮存试验规范 1范围 本规范规定了***的高低温贮存试验方法及标准。 本规范适用于***的高低温贮存试验。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准。然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T 14710—2009 医用电气设备环境要求及试验方法 3产品环境分组 3.1 ***按气候环境分组为Ⅰ组。 Ⅰ组:在良好的环境中使用。通常指设备在具有空调等设备的可控环境中使用。 3.2 环境试验条件 基准实验条件:温度23℃±2℃,湿度45%~75%,大气压860hPa~1060 hPa。 低温储存试验温度为-40℃。 高温储存试验温度为55℃。 4机械环境试验顺序 按下列顺序进行试验: a)低温贮存试验 b)高温贮存试验 c)运输试验 d)跌落试验 e)冲击试验 5试验方法 5.1低温贮存试验 5.1.1预处理 将设备放置基准实验条件下,使之达到温度稳定。 5.1.2初始检测

设备达到温度稳定点后,接通设备电源,按产品标准规定的检测项目对设备进行检测。 5.1.3试验 将设备放入试验室,设备电源处于断开位置,然后以平均速率为0.3℃/min~1℃/min的温度变化将试验室温度降到低温储存温度值并保持4h。 5.1.4恢复 试验结束后,设备仍留在实验室内,将试验室的温度回升到基准实验条件,为保证设备不致凝水,可降低温度回升率,或采取其他不违背温度试验目的的措施,使设备达到温度稳定,恢复时间为12h。 5.1.5最后检测 设备按规定时间恢复后,接通设备电源,经预热后按产品标准所规定的检测项目对设备进行检测。 5.2高温贮存试验 5.2.1预处理 将设备放置基准实验条件下,使之达到温度稳定。 5.2.2初始检测 设备达到温度稳定点后,接通设备电源,按产品标准规定的检测项目对设备进行检测。 5.2.3试验 将设备放入试验室,设备电源处于断开位置,然后以平均速率为0.3℃/min~1℃/min的温度变化将试验室温度升到高温储存温度值并保持4h。 5.2.4恢复 试验结束后,设备仍留在实验室内,然后以平均速率为0.3℃/min~1℃/min 的温度变化将试验室的温度降到基准试验条件,恢复时间为12h。 5.2.5最后检测 设备按规定时间恢复后,接通设备电源,经预热后按产品标准所规定的检测项目对设备进行检测。

我国果蔬低温贮藏保鲜技术现状与展望

我国果蔬低温贮藏保鲜技术 张涛 摘要:本文首先叙述了果蔬低温贮藏保鲜技术的基本原理及工艺流程,然后以鲜切果蔬为例,介绍了一下低温贮藏保鲜技术的应用现状,最后介绍了一些新技术在果蔬低温保藏过程中的应用,并对这一技术的发展提出了展望。 关键词:低温;果蔬保鲜;现状;展望 目前,随着科学技术的进步和经济的发展,人们对食物要求越来越高,近年来,低温贮藏食品愈来愈多,它在人们的生活中占据越来越重要的地位。果蔬低温贮藏保鲜产业是果蔬生产的继续,是可持续果蔬产业发展的重要保证,同时,发展果蔬低温贮藏保鲜产业,对果品和蔬菜的采后增值、保值,农民致富和促进农村的经济发展都具有十分重要的意义。 一、果蔬低温贮藏保鲜技术的基本原理 食品低温贮藏就是利用低温技术将食品温度降低,并维持在低温状态以阻止食品腐败变质,延长食品保存期。低温保藏不仅可以用于新鲜食品物料的贮藏,也可以用于食品加工品、半成品的贮藏[3]。 二、果蔬低温贮藏保鲜技术的工艺流程 食品低温保藏的一般工艺过程为:食品物料→前处理→冷却或冻结→冷藏或冻藏→回热或解冻[6]。这是低温保藏食品的大概工艺流程,因为不同物料的特性不一定相同,所以具体的工艺条件也不一定相同,具体操作具体对待。 对果蔬而言,其前处理主要包括将新鲜蔬菜清洗、切分、烫漂、沥干等工序。 三、我国冷藏场所及相关设施的发展状况 冷藏场所及装置是果蔬贮藏保鲜最关键的设施,它们的最关键点在于对温度的控制,其次是在特殊构造条件下还能够对气体成分、压力和湿度进行控制,以满足果蔬产品贮藏保鲜的要求。现代温贮藏主要包括机械冷藏、机械气调冷藏、机械减压冷藏和机械湿冷冷藏等。四、低温贮藏保鲜技术在鲜切果蔬方面的应用 鲜切果蔬,指新鲜果蔬原料经过分级、整理、挑选、清洗、整修、去皮、切分、包装等一系列工序后,用塑料薄膜袋或塑料托盘盛装外覆塑料薄膜包装,供消费者直接食用或餐饮业使用的一种新型果蔬。 由于鲜切果蔬具有清洁、卫生、新鲜、方便、可食率高达100%等特点,其生产与消费量必将进入一个快速发展阶段,但由于去皮、切分等处理工序会对果蔬组织产生机械损伤,诱导鲜切果蔬褐变,极易出现变色、变味、质地劣变等质量问题。因此,保持品质、延长保鲜期是鲜切果蔬加工技术的关键·。 1、鲜切果蔬贮藏过程中发生的不良变化 鲜切果蔬因果蔬表皮被去除,细胞发生破裂,腾作用和呼吸作用急剧上升,造成鲜切果蔬内水分大量流失,如果不即时进行处理,鲜切果蔬产品就会迅速萎蔫、皱缩、干化,迅速失去其新鲜品质。 由于人为的机械伤,造成鲜切果蔬的呼吸强度急剧上升,能量物质消耗加剧,鲜切果蔬产品其品质急剧下降。 果蔬组织因机械损伤,造成伤乙烯产生速率迅速增加,诱导果胶酶、纤维素酶、脂氧合酶、过氧化物酶等细胞降解类酶活性增加,使植物组织发生崩溃,因而鲜切果蔬产品其组织极易发生软化现象。

GB_T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试...

GB/T 2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A: 低温试验方法 GB/T 2423.2-1989电工电子产品基本环境试验规程试验B: 高温试验方法 GB/T 2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca: 恒定湿热试验方法 GB/T 2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法 GB/T 2423.5-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ea和导则: 冲击 GB/T 2423.6-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Eb和导则: 碰撞 GB/T 2423.7-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒(主要用于设备型样品) GB/T 2423.8-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落

GB/T 2423.9-1989电工电子产品基本环境试验规程试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法 GB/T 2423.10-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦)GB/T 2423.11-1997电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动-一般要求GB/T 2423.12-1997电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-高再现性GB/T 2423.13-1997电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-中再现性GB/T 2423.14-1997电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动-低再现性GB/T 2423.15-1995电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.16-1999电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验J和导则: 长霉 GB/T 2423.17-1993电工电子产品基本环境试验规程第2部分:

低温环境试验

1. 2. 3. 4. 3.1溫度箱 試驗方法分類 IEC68-2-1?基本環境試驗規程試驗A:寒冷>>. 試驗目的:檢測樣品被暴露在極低溫度下的抵抗力。 適用范圍:本廠馬達及各種電工電子類產品,零件或組件設備

A 和 B 。 制定日期: 實施日期: 4.1非散熱試驗樣品低溫試驗:試驗 Aa 溫度突變;試驗Ab 溫度漸變 4.2散熱試驗樣品低溫試驗:試驗 Ad 溫度漸變 注:條件試驗期間試驗樣品溫度達到穩定後,在自由空氣條件(即沒有強迫空 氣循環)下測量時,試驗樣品表面上最熱點溫度高於周圍大氣溫度 5C 以上的即 認為是散熱的,否則為非散熱試驗樣品。 所有貯存試驗及試驗期間不通電或不加負載的,試驗樣品均為非散熱試驗樣 品,試驗采用低溫試驗方法 Ab (本廠馬達產品通常采用低溫試驗方法 Ab ) 5.各試驗方法的定義 5.1非散熱試驗樣品溫度突變試驗 Aa:先將試驗箱溫度調到規定試驗溫度,然 後放入具有室溫的試驗樣品。本試驗方法適用於已知溫度突變對試驗樣品不產 生損傷時。 5.2非散熱試驗樣品溫度漸變試驗 Ab:先將具有室溫的試驗樣品放入亦為室 溫的試驗箱內,然後開動冷源將箱溫逐漸冷卻到規定試驗溫度。此種方法不會 因溫度變化而對試驗樣品產生損傷作用 5.3散熱試驗樣品分有和無強迫空氣循環試驗 5.3.1無強迫空氣循環試驗方法:是模擬自由空氣條件影響的一種試驗 532有強迫空氣循環的試驗方法Ad:當不采用強迫空氣循環就難於或 不能保證規定的試驗條件時采用,它又分兩種情況 A.用於試驗箱大到可不用強迫空氣循環也能滿足試驗要求,但在箱內不用強 制定 審核

作業指引 開發部 低溫環境試驗 制定日期:日 迫空氣循環就不能保持規定的低溫時,即試驗箱的冷卻 (或加熱)要求采用強迫 空氣循環時 B.用於試驗箱太小或基於別的原因,不用強迫空氣循環就不能符合試驗要求 時? 6.試驗步驟:(方法Ab,試驗過程中樣品不被起動) 6.1初始檢測:按試驗要求對樣品進行外觀,電性能和機械性能及其它性能檢 測 6.2溫度箱的溫度調到-40 C±3C (優先選取-65, -55 , -40,-25 , -10 , -5 , +5C )。 6.3將樣板放在該溫度箱中儲存72小時(優先選取2, 16, 72, 96小時),測 試過程中溫度箱溫度保持在-40 C 。若試驗目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時 能否起動,則試驗時間只限於使樣品溫度達到穩定,但在任何情況下不應少於 30分鐘。(試驗持續時間從試驗樣品達溫度穩定時開始計算,特殊情況下,如 果條件試驗期間樣品達不到溫度穩定,則持續時間從試驗箱達到規定試驗溫度 時開始計算) 6.4置未啟動樣板於室溫條件下,解凍並恢復。 6.5.待樣品恢復到足以使其達到溫度穩定後(1小時左右,不得多於2小時)加 工作電壓,啟動被測試樣板,記錄失敗的項目。 6.6檢查低溫效果如:最後加工的破裂和變形,嵌入物及其他材料,端子圭寸口 的開口部分和大殼接縫等。記錄所有結果。 6.7試驗後檢測:對試驗後樣品重復進行 6.1項目測試 6.8整理試驗數據,出試驗報告。 注:1.若客戶有要求,則嚴格按客要求進行試驗 2.中間檢測:有關標准可規定在條件試驗期間或結束時 (樣品仍在箱內)加負載和進行測量。若需要時應規定測量項目和時間。測量時樣品不應從試驗箱中 取 出。同時要遵循以下兩點: 審核

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