测试方案书
广东省消防总队智能化综合布线系统
测
试
方
案
书
2004年10月29日
目录
一.布线系统测试 (3)
二.系统测试所用工具 (5)
三.测试组织结构： (6)
四.系统测试： (7)
一.布线系统测试概述
为确保综合布线系统性能，确认布线系统的元器件性能及安装质量，工程完工后需按综合布线系统测试说明进行有关的测试。
综合布线系统测试包括：
·水平铜缆链路测试；
·垂直干线铜缆链测试；
·垂直干线光缆链测试；
·端对端信道联合测试
系统测试完毕后，即组织有关技术及管理人员对整个系统进行验收。
千兆比水平铜缆的测试说明
千兆比水平铜缆系统采用专用测试仪器进行测试，测试指标包括：
1．极性、连续性、短路、断路测试及长度
2．信号全程衰减测试
3．信号近、远串音衰耗测试
4．结构回转衰耗SRL
5．特性阻抗
6．传输延时
本方案中，采用下列布线测试仪表进行测试：
Microtest QmniScanner
FLUKE
国际标准组织（ISO）及Lucent推荐下列布线测试仪表：
1、fluke （Fluke Corporation）
2、PenaScanner (Microtest Inc)
本方案中，我公司建意采用以下铜缆测试仪器：
Microtest
Lucent KS23763L1 (连接性测试)
FLUKE （特性指标测试）
STPl 六类100-150 双绞线，250 MHz FTP；阻燃特性NFC32070 2.1标准
用网络测试仪，测试线路是否安装完好，将测线报告整理，归档。
二.系统测试所用工具
测试所用工具主要是：FLUCK
DSP FLUCK网络测试仪操作规程：
根据测量的种类是通道还是链路，选择相对的适配器；
测量前将仪器校准；
测量时，将主机和智能远端的旋钮打开；
输入测量时间、地点、测试姓名；
在AUTOTEST项开始测试，储存结果；
将测试结果转换成电子文档；
将主机和智能远端关机；
将仪器收好，检查是否有遗漏配件。
注意事项：插接时一定要将插头和插口对齐，将线路接通；注意轻拔轻插，一定要将头弹起按下再拔出；注意仪器和线路远离电力线和强电场。其他工具如下表：
三.测试人员组织结构：
该工程由于牵涉诸多政府部门，综合布线工程质量的好坏直接关系到政府部门信息化办公的实施，我公司组织了以下人员进行测试，具体结构见下表：
测试人员安排:
技术总负责：吕可（工程师）020-******** 139******** 项目经理：周勇（工程师）020-******** 135******** 现场负责：朱德益（工程师）020-******** 136******** 其他测试人员不作具体介绍
四.系统测试：
测试内容
为确保综合布线系统性能，确认布线系统的元器件性能及安装质量，工程完工后需按EIA/TIA-568A之TSB-75规定的CAT3标准对三类链路系统进行测试，包括以下几项内容：
●极性、连续性、短路、断路测试及长度
●信号全程衰减测试
●信号近、远串音衰耗测试
●结构回转衰耗SRL
●特性阻抗
●传输延时
测试指标要求如下表：
ps总能量近端串扰，ACR pp为衰减串扰比，ACR ps为总能量衰减串扰比，return loss为回波损耗，ELFEXT为远端串扰，ELFEXT ps为总能量远端串扰，dB为单位分贝。
综合布线系统数据链路延迟和延迟偏移测试应满足或高于以下指标：
注：Fepuency为频率，Cable Propagation Delay为电缆传输延时，Connector propagation delay 为连接器传输延时，Channel propagation delay为通道链路延时，Permanent link propagation delay为永久链路延时。
光纤系统的测试
测试项目：
●连通性测试
●全程衰减及ST/SC连接头衰减测试
具体测试方法如下：
●多模光纤水平子系统需要测试端的参数；
●沿一个方向在波长850nm或1300nm处测试衰耗值
●多模光纤主干系统及混合方式需要测试的参数；
●沿一个方向在波长850nm及1300nm处测试衰耗值
●单模光纤水平子系统需要测试端的参数；
沿一个方向在波长1310nm或1550nm处测试衰耗值
（注：由于不同方向的测试的数值之差，一般会很小，而且多半由测试仪器的精度或测试手法而引起，所以单方向测试已足够。而水平子系统的距离标准极限很短（90米），所以其在不同波长处测试值的差别不大，因而单波长测试已足够）。
为符合TIA/EIA528-14A关于"多模光纤的安装及光功率损耗的测试"及
TIA/EIA526-7关于"单模光纤的安装及光功率损耗的测试"等要求，光纤测试采用Lucent938A型测试仪进行测试，对于光纤系统，测试指标可由以下公式计算得出：
全程链路衰耗值=光缆的衰耗值+耦合器光纤连接头损耗+熔接头衰耗值+光功率比校正值
注：耦合连接具体依据其连接插头型号有多种方式，如ST、SC、LC等连接方式，其衰耗值不同。相关的一些测试指标如下：
●光纤线缆的损耗=光纤线缆长度（km）×(3.40dB/km在850nm处或
1.00dB/km在1300nm处)
●耦合器的衰耗(ST或SC连接器)=(连接器的数目×0.39dB)+0.42dB
●耦合器的衰耗(LC连接器)= (连接器的数目×0.14dB)+0.24dB
●光熔接头的衰耗值(CSL或熔接)=接头数目×0.30dB
根据测试内容和工作量，完成测试需用5个公历日。