CETOL公差分析流程
CETOL 公差分析流程
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gdutang
CETOL 公差分析流程 从 3D 上测量出，槽的宽度为 20mm，轴的直径为 19.5mm. 为了让轴顺利的能装配进槽里面，轴要放多大公差？槽要放多大公差？哪个公差对装配的影响大？ 下面通过 CETOL 的分析，寻找以上的答案。
（1） 启动 Pro/E。设定工作目录到指定位置。打开要分析的文件。
（2）启动 CETOL， 点 read form Por/E。 读取 Pro/E 中的数据并与 Pro/E 同步。 如果还没有 Pro/E 启动文件的连接，点 ADD 增加进去就可以了。
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在 CETOL 模型树里已经看到数据读进去了。
（3）定义测量。 因为我们要考虑轴要顺利装配到槽里面，决定性的因素就是槽与轴之间的间隙。 后面就对这个间隙进行分析。
选取槽的一个面按住 CTRL 再选轴的表面。
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选择测量尺寸的类型（这里是 linear）
测量特征的选取，如果选错可以重新选取。
在 variation 把类型选成 limits.把下限设为 0，因为少于 0 就干涉了，装配不进去。上限设成比最大间隙大 就可以了。
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可以双击重命名。
（4）定义连接约束 在 CETOL 里面必须把连接约束定义好才能进行后续的分析。 要在轴里加入连接约束，首先把轴激活。 （激活后图标会变成黄色）
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增加一个连接。
选取槽下平面后，按 CTRL 再选轴的下平面。
可以点选图标来改变约束类型，也可以直接从下接菜单来选取约束类型。
增加一个约束，选取槽的右边直面，按 CTRL 选取轴的圆柱面。 约束类型如下图。
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如下图，状态栏显示 DOF 为 0，如果有过约束或者欠约束必须调整约束的类型来使 DOF 为 0。否则是不能进行分析的。
选上测量的尺寸，然后点 show part location. 就可以看到零件在约束后的位置移动范围。
为了方便观看，把模型树全部展开。
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把尺寸设成槽宽的一半。轴要测的是半径。
把公差设为±0.2 （为什么设成 0.2 而不是 0.1？这里是开始的设置，以后跟据分析结果可以改的）
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（5）对测量执行分析
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看测量的变化范围，如下图可知： Worst-case 最小有 0.2 干涉，最大有 0.6 间隙 可变范围的极限由 0~1 蓝图区域为间隙在公差范围内的分布 红色区域为间隙在公差范围内分布干涉部分（从此区域的面积可知发生干涉的概率）
如下图： 槽宽一半那尺寸对测量间隙的敏感度为 1mm/mm. 意思是 half-thickness 增加 1mm， 间隙增加 1mm. Radius 增加 1mm,间隙减少 1mm.(所以是负的敏感度)
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统计贡献度百分比 Radius 和 half-thickness 对间隙的贡献度都是 50%
Worst-case 贡献度百分比 Radius 和 half-thickness 对间隙的贡献度都是 50%
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以上的分析是 half-thicknesst 和 Radius 这两个尺寸的 sigma=3。
对供应商的要求采用 CPK 来控制。Edit rule 来换成用 CPK 来控制。
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（1） 调整 CPK 看干涉情况（公差不变） 把 half-thicknesst 和 Radius 这两个尺寸的 CPK 加严到 1.33。 （因为这两个尺寸的贡献度一样） 如果有贡献度小的尺寸可以不用加严
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对尺寸加严后（公差没变还是±0.2） ，统计超差的红色区域明显减少了。
如果把 CPK 加到 1.33,供应商可能制程能力可能没有那么高。这样会造成很多废品。 （2） 调整公差看干涉情况（CPK 不变） 为了达到能顺利装配目的，可以把 CPK 降低，把公差加严。 把 half-thicknesst 和 Radius 这两个尺寸的 CPK 降到 1。把公差由±0.2 加严到±0.15.
统计超差的红色区域已经没有了。零件可能顺利装配。
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通过以上两种的分析可知 调整公差看干涉情况（CPK 不变） 更容易达到装配的目的。 所以最后采用把 half-thicknesst 和 Radius 这两个尺寸的 CPK 降到 1。把公差由±0.2 加严到±0.15.
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公差分析
例子1公差(Tolerancing) 1-1概论 公差分析将有系统地分析些微扰动或色差对光学设计性能的影响。公差分析的目的在于定义误差的类型及大小，并将之引入光学系统中，分析系统性能是否符合需求。Zemax内建功能强大的公差分析工具，可帮助在光学设计中建立公差值。公差分析可透过简易的设罝分析公差范围内，参数影响系统性能的严重性。进而在合理的费用下进行最容易的组装，并获得最佳的性能。 1-2公差 公差值是一个将系统性能量化的估算。公差分析可让使用者预测其设计在组装后的性能极限。设罝公差分析的设罝值时，设计者必须熟悉下述要点： ●选取合适的性能规格 ●定义最低的性能容忍极限 ●计算所有可能的误差来源(如：单独的组件、组件群、机械组装等等…) ●指定每一个制造和组装可允许的公差极限 1-3误差来源 误差有好几个类型须要被估算 制造公差 ●不正确的曲率半径 ●组件过厚或过薄 ●镜片外型不正确 ●曲率中心偏离机构中心
●不正确的Conic值或其它非球面参数 材料误差 ●折射率准确性 ●折射率同质性 ●折射率分布 ●阿贝数(色散) 组装公差 ●组件偏离机构中心(X,Y) ●组件在Z.轴上的位置错误 ●组件与光轴有倾斜 ●组件定位错误 ●上述系指整群的组件 周围所引起的公差 ●材料的冷缩热胀(光学或机构) ●温度对折射率的影响。压力和湿度同样也会影响。 ●系统遭冲击或振动锁引起的对位问题 ●机械应力 剩下的设计误差 1-4设罝公差 公差分析有几个步骤须设罝： ●定义使用在公差标准的」绩效函数」：如RMS光斑大小，RMS波前误差，MTF需求， 使用者自定的绩效函数，瞄准…等 ●定义允许的系统性能偏离值 ●规定公差起始值让制造可轻易达到要求。ZEMAX默认的公差通常是不错的起始点。 ●补偿群常被使用在减低公差上。通常最少会有一组补偿群，而这一般都是在背焦。 ●公差设罝可用来预测性能的影响 ●公差分析有三种分析方法: ?灵敏度法 ?反灵敏度法
工程光学课程设计
工程光学课程设计 设计名称：工程光学课程设计 院系名称： 专业班级： 学生姓名： 学号： 指导教师： XXX教务处制 20 13 年12 月
工程光学课程设计评分表 最后成绩的以优（90~100）、良（80~89）、中（70~79）、及格（60~69）和不及格（少于60分）五级给出。
第1章引言 1.1 简单介绍 对于实际的光学系统来说，它的成像往往是非完善成像，对于怎样来判断一个光学系统的性能的优劣，是光学设计中遇到的一个重要问题.在当前计算机辅助科研、教学的迅猛发展过程中，计算机辅助光学系统设计已成为光学设计不可缺少的一种重要手段.其中，由美国焦点软件公司所发展出的光学设计ZEMAX，可做光学组件设计与照明系统的照度分析，也可建立反射，折射，绕射等光学模型，并结合优化，公差等分析功能，是可以运算Sequential及Non-Sequential的软件.其主要特色有分析：提供多功能的分析图形，对话窗式的参数选择，方便分析，且可将分析图形存成图文件，例如：*.BMP, *.JPG等，且多种优化方式供使用者使用；公差分析：表栏式Tolerance参数输入和对话窗式预Tolerance参数，方便使用者定义；报表输出：多种图形报表输出，可将结果存成图文件及文字文件。 但是，这里必须强调一点的是，ZEMAX软件只是一个光学设计辅助软件，也就是说，该软件不能教你怎么去进行光学设计，而只是能对你设计的光学系统进行性能的优化以达最佳成像质量所以，在应用本教程进行光学辅助设计之前，您最好先学习一下光学设计的有关知识：首先是几何光学基础，几何光学是光学设计的基础，要做光学设计必须懂得各种光学仪器成像原理，外形尺寸计算方法，了解各种典型光学系统的设计方法和设计过程.实际光学系统大多由球面和平面构成。记住共轴球面系统光轴截面内光路计算的三角公式，了解公式中各参数的几何意义是必要的，具体公式可参考有关光学书籍，在此就不一一介绍了。对于平面零件有平面反射镜和棱镜，它们的主要作用多为改变光路方向，使倒像成为正像，或把白光分解为各种波长的单色光.在光学系统中造成光能损失的原因有三点：透射面的反射损失、反射面的吸收损失和光学材料内部的吸收损失。其次是像差理论知识，对于一个光学系统，一般存在7种几何像差，他们分别是球差、彗差、像散、场曲、畸变和位置色差以及倍率色差.另外，还必须了解一点材料的选择和公差的分配方面的知识，以及一些光学工艺的知识，包括切割，粗磨，精磨，抛光和磨边，最后还有镀膜和胶合等。
统计公差分析方法概述
统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类：公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类：一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差；另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC)，也叫最差分析法，即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop：E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D（Max.）=(20+0.3)+(15+0.25)+(10+0.15)=45.7,出现在A、B、C偏上限之状况 D（Min.）=(20-0.3)+(15-0.25)+(10-0.2)=44.3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0.7适合拿来作设计吗? Worst Case Analysis缺陷： ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难； ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。
以上例Part A +Part B+ Part C，假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平，则每个部材的不良机率为1-0.9973=0.0027；在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为：0.0027^3=0.000000019683。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三.统计公差分析法 ?由制造观点来看,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。 ?统计公差方法的思想是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析和计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造和生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的是『变异』值。 四.方和根法 计算公式（平方相加开根号） 假设每个尺寸的Ppk 指标是1.33并且制程是在中心
3DCS公差分析工作规范
3DCS公差分析工作规范 1范围 本标准规定了基于CATIA V5软件（以下简称CATIA）进行乘用车整车3DCS公差分析（以下简称公差分析）时的一般性规范，给出了公差分析的方法及流程。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 《3DCS Analyst 培训教程中文版》 3术语和定义 3.13DCS 3DCS即3维尺寸控制系统(3-Dimensional Control Systems)的简称。 3.23DCS公差分析 3DCS公差分析简单的说就是使用3维尺寸控制软件，通过对数模添加公差从而将数模模拟为真实状态下的工装件，进行公差分析时对软件模拟出的工装件（含公差）进行随机抽样并进行装配，最终分析出零部件中哪些公差设置得不合理的一种方法。 目前我们只对刚性零部件（钣金件或不易变形的硬塑料件等）进行分析。在公差分析时我们一般假定零部件无焊接变形、冲压变形、加工变形和装配变形，将它们均考虑为刚性体。并按各自图纸中的要求对相关零件的固定点、固定面添加尺寸公差和形位公差后进行分析。 3.33DCS装配 在公差分析时需要使用3DCS装配将零部件装配到一起，进行公差分析。 我们常用的3DCS装配均按照3-2-1定位方法进行装配，下面简要介绍一下3-2-1定位方法，以图1中的白色方块为例，若想将它定位至少需要6个定位销(图1中黑色的圆柱)，实际上在软件中可以将这6个定位销抽象为6个点(下图中的绿色圆点)，即至少需要6个点才能将白色方块定位。我们将这6个点分为三组，第一组是指底面的三个点，限制上下方向的移动，三个点可不在一个平面中但其方向向量需要平行。第二组是指后侧面的两个点，限制前后方向的移动。第三组是指左侧面的一个点，限制左右方向的移动。且这三组点所在的平面方向（圆柱轴线方向)要相互垂直，这种定位方法就叫做3-2-1定位方法。
公差模型和公差分析方法的研究
生 产现场 S H O P S O L U T I O N S 金属加工 汽车工艺与材料 A T&M 2009年第7期 50 机械装配过程中，在保证各组成零件适当功能的前提下，各组成零件所定义的、允许的几何和位置上的误差称为公差。公差的大小不仅关系到制造和装配过程，还极大影响着产品的质量、功能、生产效率以及制造成本。公差信息是产品信息库中的重要 内容，公差模型就是为表示公差信息而建立的数学及物理模型，它是进行公差分析的理论基础。 公差分析或称偏差分析，即通过已知零部件的尺寸分布和公差，考虑偏差的累积和传播，以计算装配体的尺寸分布和装配公差的过程。公差分析的目的在于判断零部件的公差分布是否满足装配功能要求，进而评价整个装配的可行性。早期公差分析方法面向的是一维尺寸公差的分析与计算。Bjorke 则将公差分析拓展到三维空间。Wang 、C h a s e 、P a b o n 、H o f f m a n 、Lee 、Turner 、Tsai 、Salomons 、Varghese 、Connor 等许多学者也分别提出了各自的理论和方法开展公差分析的研究。此后，人工智能、专家系统、神经网络、稳健性理论等工具被引入公差分析领域当中，并分别构建了数学模型以解决公差分析问题。 1 公差模型 公差模型可分为零件层面的公差信息模型和装配层面的公差拓扑关系模型。Shan 提出了完整公差模型的建模准则，即兼容性和可计算性准则。兼容性准则是指公差模型满足产品设计过程的要求，符合ISO 和ASME 标准，能够完整表述所有类型的公差。可计算性准则是指公差模型可实现与CAD 系统集成、支持过/欠约束、可提取隐含尺寸信息、可识别公差类型，以检查公差分配方案的可行性等。目前已经提出了很多公差模型表示法，但每一种模型都是基于一些假设，且只部分满足了公差模型的建模准则，至今尚未出现统一的、公认的公差模型。以下将对几种典型的公差模型加以介绍和评价。1.1 尺寸树模型 Requicha 最早研究了零件层面的公差信息表示，并首先提出了应用于一维公差分析的尺寸树模型。该模型中，每一个节点是一个水平特征，节点间连线表示尺寸，公差值附加到尺寸值后。由于一维零件公差不考虑旋转偏差，所有公差都可表示为尺寸值加公差值的形式。该模型对于简单的一维公差分析十 分有效，但却使尺寸和公差的概念模糊不清，而且没有考虑到形状和位置公差的表示。1.2 漂移公差带模型 Requicha 从几何建模的角度，于20世纪80年代提出了漂移公差带模型以定义形状公差。在这个模型中，形状公差域定义为空间域，公差表面特征需位于此空间域中，同时采用边界表示法（Breps ）建立传统的位置和尺寸公差模型。对于表面特征和相关公差信息则运用偏差图（VGraph ）来表示。VGraph 主要是作为一种分解实体表面特征的手段，将实体的边界部分定义为特征，公差信息则封装在特征的属性中。漂移公差带模型很好地表达了轮廓公差，轮廓公差包含了所有实际制造过程中的偏差。该模型提供了公差的通用理论且易于实现，但是不能区分不同类型的形状公差。1.3 矢量空间模型 Hoffmann 提出了矢量空间模型，Turner 扩展了这一模型。矢量空间模型首先需要定义公差变量、设计变量和模型变量。公差变量表示零件名义尺寸的偏差。设计变量由设计者确定，用以表示最终装配体的多目标优化函数。模型变量是控制零件各个公差的独立变量。由 公差模型和公差分析方法的研究 讨论了目前工程设计、制造中具有代表性的公差模型的建模、描述和分析的方法。在此基础上，对于面向刚性件和柔性件装配的公差分析方法的研究现状分别进行了综述和评价，通过对比说明各种分析方法的算法、应用范围及不足。最后，展望了公差模型和公差分析方法的研究方向及其发展动态。 奇瑞汽车股份有限公司 葛宜银 李国波
CAD特殊符及公差上下标注法
在CAD多行文字或是单行文字时，在字体为宋体的时候，输入字符串可以代替某些符号： \u+00b3------------------------ 立方 \u+00b2------------------------ 平方 \u+03b4------------------------ δ \u+2248------------------------ ≈ \u+2220------------------------ ∠ %%d ------------------------- ° %%c ------------------------- φ %%p ------------------------- ± CAD机械制图中尺寸上、下偏差的标注 在机械制图进行标注时，经常用到上下偏差的标注，有些初用CAD 者可能找不到方法，现总结两种方法如下，仅供参考。 一、利用特性法 首先用标注命令来标注你所需要标注的尺寸，现在标注完的是基本尺寸，标注完毕后双击尺寸线，或是如图1所示选中尺寸后单击特性（或是按Ctrl+1）弹出特性对话框，在对话框中选择公差选项如图2所示。
图1
图2 在公差选项中“显示公差”中选“极限偏差”，如图3所示；在“公差文字高度”中输入“0.6”，如图4所示；在公差精度中选“0.000”，如图5所示。
图3
图4 图5 图6 水平放置公差中选“中”；在公差上、下偏差中输入你所需偏差回车即可得到想要的结果，如图7所示。
图7 如果上下偏差有为“0”标注时，有可能出现“0”前带有“+、-”的情况，如图8所示；此时你只要在上、下偏差中输入“空格+0”就OK！如图9。
镀锌钢管的国标厚度及上下公差
标准外径公差壁厚公差D<50 ±0.5mm S≤4mm ±12.5% D≥50 ±1% 4mm
VSA尺寸公差分析---Visualization Basics Tutorial帮助文件
Visualization Basics Tutorial Teamcenter lifecycle visualization の基本を学習する 本チュートリ?ルについて关于本教程 タスク 1:はじめに任务1：开始 1.1フ??ルを開き、表示する文件显示 1.1.1フ??ルを開く文件 1.2部品を表示する配件显示 1.2.1モデルを表示する显示模式 1.2.2個々の部品を表示する一个零件的显示 1.3?ンターフェ?スを検索する接口搜索 1.3.1?ンタフェースの概要接口概要 1.3.2ツールバーを表示し、移動する工具栏显示，移动1.4ヘルプの取得获取帮助 1.4.1ツールヒントを表示する显示提示工具 1.4.2ヘルプを検索する搜索帮助 タスク 2:3D ?センブリを調査する 2.1モデルをナビゲートする 2.1.1ナビゲーションのモード 2.1.2ナビゲーションツールを適用する 2.1.33D モデルをパンする 2.1.43D モデルを回転する 2.1.53D モデルを拡大/縮小表示する 2.1.6画面の新しい中心を設定します。 2.2部品を選択する 2.2.1部品の選択 2.2.2部品の表示/非表示を変更する 2.2.2.1選択範囲を非表示にする 2.3.2.2部品にジャンプする 2.3.2.3選択した部品のみ表示する 2.3モデルを切断し見やすくする 2.3.1セクショニングツールを表示する 2.3.2切断面を定義する 2.3.3断面を作成する 2.43D モデル上の距離を測定する 2.4.1計測ツールを開く 2.4.2測定の種類 2.4.3パーツフ?ーチャを選択する 2.4.4計測の基本設定 2.4.5距離を測定する 2.4.5.1点から点を測定する 2.4.5.2面から面を計測する 2.4.6計測を管理する 2.5?センブリをマーク?ップする
统计公差分析方法概述
统计公差分析方法概述 一、引言 公差设计问题可以分为两类:一类就是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸与公差,确定装配后需要保证的封闭环公差;另一类就是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸与公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法与统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环与组成环公差的分析方法称为统计公差法、本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二、Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC),也叫最差分析法,即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop:E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D(Max、)=(20+0、3)+(15+0、25)+(10+0、15)=45、7,出现在A、B、C偏上限之状况 D(Min、)=(20-0、3)+(15-0、25)+(10-0、2)=44、3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0、7适合拿来作设计不? Worst Case Analysis缺陷: ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难; ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。 以上例Part A +Part B+ Part C,假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平,则每个部材的不良机率为1-0、9973=0、0027;在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为:0、0027^3=0、3。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都就是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三、统计公差分析法 ?由制造观点来瞧,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。?统计公差方法的思想就是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析与计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造与生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的就是『变异』值。
常用公差
1.几何特性名词与符号 (a)几何特性符号 符号名词类别形体区分直度,真直度(Straightness) 平面度,真平度(Flatness) 真圆度(Roundness) 圆柱度(Cylindrically) 曲线轮廓度(Profile of a line) 曲线轮廓度 平行度(Parallelism) 垂直度(Perpendicularity) 倾斜度(Angularity) 正位度,位置度(Position) 同心度(Concentricity) 对称度（Symmetry） (1982年起由取代) 圆周偏转度,圆形偏转度 (Circular runout) 总偏转度,全面偏转度
(b) 其它符号 符 号 名 词 直径符号(Diameter symbol) 不考虑形体呎寸加添条件,和特性的尺寸无关 (Regardless of feature size modifier) 最多留料情况之加添条件,最大材料条件 (Maximum material condition modifier) 最小留情况加添条件,最小材料条件 (Least material condition modifier) 基本尺寸,精密尺寸(Basic dimension) 基准形体符号,基准识别符号(Datum feature symbol) 最多留料情况(MMC),Maximum- Material Condition 最多留料情况是指一个形体包容最大的材料量,即零件重量最重的时候。例如最小孔的尺寸或最大轴的尺寸。如下面图示，直径为0.490~0.510的销子,当直径 为0.510时的重量比直径为0.490时重。一个零件包含一个直径为0.490~0.510的孔,则零件当直径 为0.490时比0.510时,包含更多中更重. A1 .100 -A-
统计公差分析方法概述
统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类：一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差；另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC)，也叫最差分析法，即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop：E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D（Max.）=(20+0.3)+(15+0.25)+(10+0.15)=45.7,出现在A、B、C偏上限之状况 D（Min.）=(20-0.3)+(15-0.25)+(10-0.2)=44.3,出现在A,B、C偏下限之状况 45±0.7适合拿来作设计吗? Worst Case Analysis缺陷： ?设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难； ?公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。 以上例Part A +Part B+ Part C，假设A、B、C三个部材,相对于公差规格都有3σ的制程能力水平，则每个部材的不良机率为1- 0.9973=0.0027；在组装完毕后所有零件都有缺陷的机率为：0.0027^3=0.000000019683。这表明几个或者多个零件在装配时,同一部件的各组成环,恰好都是接近极限尺寸的情况非常罕见。 三.统计公差分析法 ?由制造观点来看,零件尺寸之误差来自于制程之变异,此变异往往呈现统计分布的型态,因此设计的公差规格常被视为统计型态。?统计公差方法的思想是考虑零件在机械加工过程中尺寸误差的实际分布,运用概率统计理论进行公差分析和计算,不要求装配过程中100 %的成功率(零件的100 %互换) ,要求在保证一定装配成功率的前提下,适当放大组成环的公差,降低零件(组成环) 加工精度,从而减小制造和生产成本。 ?在多群数据的线性叠加运算中,可以进行叠加的是『变异』值。
公差等级及配合表
自由尺寸公差 公差等于上下偏差的绝对值 旧国标（HG）159-59中，在基准件公差上，把精度等级分成 12级。取自其中8、9两级精度基准件公差，称为自由尺寸公差。将偏差分为；单向（+）或（-）、双向（±）二种。 在自由尺寸公差的注解中提示； ①自由尺寸公差仅适用于机械加工表面。 ②自由尺寸公差在工作图上不标注。 ③单向偏差对于轴用（-）号，对于孔、孔深、槽宽、螬深及槽长用（+）号，其余均用双向正负偏差（±）。 ④不能纳入上述明确原则的自由尺寸，且有单向偏差要求时，设计者应在工图中注出，否则按双向偏差制造。修定后国标（GB）1800-79中，标准公差分20级。 即；IT01、IT0、IT1至IT18。IT表示标准公差，公差等级的代号用阿拉伯数字表示，从IT01至IT18等级依次降低。并制定（GB）1804-79未注公差尺寸的极限偏差，规定有三条； ①规定的极限偏差适用于金属切削加工的尺寸，也可用于非切削加工的尺寸， ②图样上未注公差尺寸的偏差，按本标准规定的系列，由相应的技术文件作出具体规定。 ③未注公差尺寸的公差等级规定为IT12至IT18。一般孔用H（+）；轴用h（-）；长度用（±） IT（即Js或js）。必要时，可不分孔、轴或长度，均采用 IT（即Js或js）。 50~80mm IT1 0.002mm，IT2 0.003mm，IT3 0.005mm，IT4 0.008mm，IT5 0.013mm，IT6 0.019mm，IT7 0.030mm，IT8 0.046mm，IT9 0.074mm，IT10 0.12mm，IT11 0.19mm，IT12 0.3mm，IT13 0.46mm，IT14 0.74mm，IT15 1.2mm，IT16 1.9mm，IT17 3mm，IT18 4.6mm 80~120mm IT1 0.0025mm，IT2 0.004mm，IT3 0.006mm，IT4 0.01mm，IT5 0.015mm，IT6 0.022mm，IT7 0.035mm，IT8 0.054mm，IT9 0.087mm，IT10 0.14mm，IT11 0.22mm，IT12 0.35mm，IT13 0.54mm，IT14 0.87mm，IT15 1.4mm，IT16 2.2mm，IT17 3.5mm，IT18 5.4mm 一、GB/T1804－2000 线形尺寸的极限偏差数值 公差等级基本尺寸分段 ～3 ＞3～6 ＞6～30 ＞30～120 ＞120～400 ＞400～1000 ＞1000～2000 ＞2000～4000 精密f ± ± ± ± ± ± ± 中等m ± ± ± ± ± ± ± ±2 粗糙c ± ± ± ± ± ±2 ±3 ±4 最粗v ± ±1 ± ± ±4 ±6 ±8 二、(GB/T1804－2000)倒圆半径和倒角高度尺寸的极限偏差数值 公差等级基本尺寸分段 ～3 ＞3～6 ＞6～30 ＞30 精密f ± ± ±1 ±2
统计公差分析方法概述
统计公差分析方法概述(总5 页) -CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1 -CAL-本页仅作为文档封面，使用请直接删除
统计公差分析方法概述(2012-10-23 19:45:32) 分类：公差设计统计六标准差 统计公差分析方法概述 一.引言 公差设计问题可以分为两类：一类是公差分析(Tolerance Analysis ,又称正计算) ,即已知组成环的尺寸和公差,确定装配后需要保证的封闭环公差；另一类是公差分配(Tolerance Allocation ,又称反计算) ,即已知装配尺寸和公差,求解组成环的经济合理公差。 公差分析的方法有极值法和统计公差方法两类,根据分布特性进行封闭环和组成环公差的分析方法称为统计公差法.本文主要探讨统计公差法在单轴向(One Dimension)尺寸堆叠中的应用。 二.Worst Case Analysis 极值法(Worst Case ,WC)，也叫最差分析法，即合成后的公差范围会包括到每个零件的最极端尺寸,无论每个零件的尺寸在其公差范围内如何变化,都会100% 落入合成后的公差范围内。 <例>Vector loop：E=A+B+C,根据worst case analysis可得 D（Max.）=(20++(15++(10+=,出现在A、B、C偏上限之状况 D（Min.）=++=,出现在A,B、C偏下限之状况 45±适合拿来作设计吗 Worst Case Analysis缺陷： 设计Gap往往要留很大,根本没有足够的设计空间,同时也可能造成组装困难； 公差分配时,使组成环公差减小,零件加工精度要求提高,制造成本增加。
PROE中公差分析参考指南
Parametric Technology Corporation Pro/ENGINEER? Wildfire? 4.0 Tolerance Analysis Extension Powered by CETOL?Technology 参考指南
? 2008 Parametric Technology Corporation 版权所有。保留所有权利。 Parametric Technology Corporation 及其子公司 (通称“PTC”) 的用户和培训文档受美国和其它国家/地区版权法的保护，并受许可协议的约束，复制、公开发行和使用此文档受到严格限制。PTC 在此同意，依据适用软件的许可协议规定，拥有软件使用权的用户允许以印刷形式复制本文档 (如果软件媒介中提供)，并且仅限内部/个人使用。任何复印件都应包括 PTC 版权通告和由 PTC 提供的其它专利通告。未经 PTC 明确授权许可，不得复制培训材料。未经 PTC 事先书面许可，本文档不得公开、转让、修改或简化为任何形式 (包括电子媒介)，也不允许以任何手段传播、公开发行或出于此目的进行复制。 此处所描述的信息仅作为一般信息提供，如有更改恕不另行通知，并且不能将其解释为 PTC 的担保或承诺。本文档中如有错误或不确切之处，PTC 概不负责。 本文档中所述软件在有书面许可协议的条件下提供，其中包括重要的商业秘密和专利信息，并受美国和其它国家/地区版权法的保护。未经 PTC 事先书面许可，本软件不能以任何形式在任何媒介中复制或分发、公开至第三方，或者以任何软件许可证协议所不允许的方式使用。 未经授权使用软件或其文档，将会引起民事赔偿和刑事诉讼。 若需了解重要的版权、商标、专利和授权信息，请考虑如下选项：针对 Windchill 产品，请选择产品页面底部的“关于Windchill”。针对 InterComm 产品，请在“帮助”主页上单击 2007 年版权信息链接。其他产品，则单击产品主菜单上的“帮助”>“关于”。 美国政府有限权利说明 依据FAR 12.212(a)-(b) (1995年10月) 或 DFARS 227.7202-1(a) 和227.7202-3(a)(1995年6月)，本文档以及其中所述的软件属于商用计算机文档和软件，只在有限商业许可下提供给政府。对于上述条款规定日期之前政府获得的文档资料和软件，其使用、复制或公开受 DFARS 252.227-7013(1988 年 10 月)中“技术资料和计算机软件条款权利”(Rights in Technical Data and Computer Software Clause) 下的 (c)(1)(ii) 子条款或 FAR 52.227-19(c)(1)-(2)(1987 年 6 月) 中“商用计算机软件限制权 利”(Commercial Computer Software-Restricted Rights) 所适用限制条件的约束。 01012008 Parametric Technology Corporation, 140 Kendrick Street, Needham, MA 02494 USA
公差分析的方法与比较
公差分析的方法與比較 PSBU-RDD4-MDD 工程師朱誠璞 alex.chu@https://www.360docs.net/doc/a710974291.html, 2002/11/14 PM 04:32 version 1.1 A.公差分析的傳統方法( I)----Worst Case 法 首先,必須解釋在公差分析時所用的兩種方法: 公差合成與公差分配. 而在以下兩個例子中用來運算公差範圍的數學方法為 Worst Case 法,這是傳統的做法 : 1.公差的合成(使用Worst Case 法運算) Part A 與 Part B 必須接合在一起,合成後的尺寸與公差範圍會是如何呢? 在這個例子中,可以得到一個很直觀的結果------當Part A 與 Part B相接後所得到的 Part A+B 長度和公差範圍都是Part A + Part B 的結果. 也就是說：合成後的公差範圍會包括到每個零件的最極端尺寸,無論每個零件的尺寸在其公差範圍內如何變化,都會 100% 落入合成後的公差範圍內. 聽起來相當合理,不是嗎? 稍後會解釋這樣做的缺點.
2.公差的分配(使用Worst Case 法運算) 現在 Part A+B 必須放入 Part C 的開口處,而開口的尺寸與公差如圖所示,那麼 Part A 與 B 的分別的公差範圍又應該是多少呢? 我們以最簡單的方法 : 平均分配給其中所有的零件,所以 Part A 與 B 各得50 %,當然也可以按照其他的比例來調整,並沒有絕對的優劣之分. B. Worst Case法的問題 1.控制公差範圍難以被控制在設計的需求範圍中. 由於 Worst Case 法合成時要求100 % 的可以容許單一零件的公差變化,會造成合成後的公差範圍變的較大,對設計者而言,是非常容易造成零件組裝後相互干涉或間隙過大. 在以上的例子中,如果要將 Part A+B 放入 Part C 時,會發生過緊干涉的情況,因為 Part C 最窄只有 10.75 mm,但是 Part A+B 卻可能有 11.50 mm的情況則有 0.75 mm 的干涉;另一方面,當 Part C 最寬11.25 mm,而 Part A+B 為10.5 mm 的最小值時,又有 0.75 mm的間隙產生.由此可知公差範圍過大所造 成的難以控制的缺點. 2.決定公差範圍的過程缺乏客觀及合邏輯的程序 以此類方式決定的公差範圍尺寸,必須仰賴設計者的經驗,且必須經過多次的試作才可真正決定;若生產條件改變:如更換生產廠商,模具修改…等,皆有可能使原訂之公差範圍無法達成,而被迫放寬或產生大量不良品的損失.
CST2013视频培训课程讲义-CST简介
CST微波工作室入门与应用详解 中文视频教程 微波EDA网(https://www.360docs.net/doc/a710974291.html,)、易迪拓培训(https://www.360docs.net/doc/a710974291.html,) 联合出品 第二讲：CST工作室套装和CST微波工作室 主讲：李明洋
概述 CST——Computer Simulation Technology ?总部位于德国，全球最大的时域电磁场仿真软件开发公司，具有完备的三维全波电磁场仿真技术 CST工作室套装 ?是CST公司集三十余年在3D电磁场算法研究和软件开发经验的基础上开发出来的，面向3D电磁、电路、温度和结构应力设计工程师的一款全面精确的专业仿真软件包。整个套装包含八个称为工作室的子软 件，集成在同一用户界面内。可以为用户提供从芯片级到系统级的完整的数值仿真分析 CST微波工作室——CST Microwave Studio ?是一款无源三维电磁仿真软件，CST公司旗舰产品，主要用于无源微波器件、天线的仿真设计，RCS、SAR的分析计算，以及EMC/EMI的分析
CST发展历程 ?1975 开始研究有限积分法(Finite Integration) ?1992 成立CST公司 ?1998 发布CST微波工作室—CST Microwave Studio1.0 ?2000 发布CST设计工作室—CST Design Studio1.0 ?2001 发布CST电磁工作室—CST EM Studio 1.0 ?2004 发布CST MicroWave Studio5.0、CST Design Studio 3.0、CST EM Studio 2.0 ?2006 发布CST工作室套装CST Studio Suite 2006，把上述三个软件集成在一个工作环境中?2013 发布CST Studio Suite 2013 包含如下八个子软件：CST Microwave Studio、CST Design Studio、CST EM Studio CST Mphysics Studio、CST Particle Studio、CST PCB Studio CST Cable Studio、CST Microstripes
三坐标测量机培训教程
三坐标测量机基础 培训教程 无锡职业技术学院 2008 年6 月
前言 机械设计、制造及检测是机械工程领域的三大技术支柱及研究内容。随着计算机辅助技术的发展，计算机辅助设计、制造及检测的应用日益普及，尤其是计算机辅助设计和制造技术，在目前的机械类课程教学中起到越来越重要的作用。 随着我国机械工业的迅速发展和市场竞争的日益激烈，计算机辅助检测技术作为提高产品质量的重要手段以及逆向工程技术的发展，也日渐形成为一门独立的学科获得了迅速的发展。在工业应用上，各种计算机辅助检测工艺及系统推陈出新。除传统的三坐标测量机外，近几年发展起来许多新的检测工艺如激光扫描测量、影像测量、照相测量等等。检测设备除传统的台式机外，还涌现了关节臂式、手持式等测量设备。而目前高校机械工程教学中对检测领域的教学还仅限于传统的工具阶段，虽有“互换性及技术测量基础”，“几何量精度设计与检测”，“形状与位置公差”等与检测相关的课程，但这些课程的教学还局限于传统的游标卡尺、千分尺、水平仪等简单检测工具的教学。对基于计算机辅助检测技术的新一代高精度、高柔性、数字化的检测原理及工业应用领域几乎没有涉及。显然这是今后机械和仪器仪表类课程教学和改革中必须加强的内容，以提高学生的实际动手能力和适应社会需要的能力。 本校本教程过小容负责编辑整理，在编写过程中得到了三坐标测量机生产厂家其他有关高等院校和职业技术学院的大力支持与帮助，同时还参阅了几十种相关的书籍及其他文章资料，谨在此予以致谢。由于编者的水平所限，书中难免存在着缺点或疏漏，恳请批评指正。
目录 第一章计算机辅助检测技术概论 1.1 计算机辅助检测的基本概念 1.2 计算机辅助检测技术与系统 1.3 三坐标测量机 1.4 计算机辅助检测技术的应用 1.5 计算机辅助检测技术的发展趋势 1.6 标准球定义与检验 1.7 几何元素构造 第二章三坐标测量软件MWorks-DMIS简介 2.1 MWorks-DMIS 软件的主要功能特性 2.2 MWorks-DMIS 软件的安装与启动 2.3 MWorks-DMIS 软件的用户界面 2.4 软件的环境、视图与窗口 第三章三坐标测量机测头系统配置 3.1 分步式配置测头系统 3.2 向导式创建测头系统 第四章三坐标测量机坐标系的建立与变换 4.1 坐标系的建立 4.2 坐标系的旋转、平移、清零与转换 4.3 坐标系的存储、调用与删除 第五章零件几何特征的测量 5.1 点线面测量 5.2 圆圆柱圆锥的测量 5.3 球椭圆的测量 5.4 曲线曲面的测量 5.6 点云与数模对比测量 第六章几何特征的构造 6.1 求交
线性尺寸的公差分析方法概述
Tolerance Analysis of Linear Dimensional Chains
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线性尺寸链公差分析. 性尺寸链公差分析
程序设计用于（1D）线性尺寸链公差分析。程序解决以下问题： 1. 公差分析，使用算术法"WC"（最差条件worst case）综合和最优化尺寸链，也可以使用统计学计算"RSS"(Root Sum Squares)。 2. 温度变化引起的尺寸链变形分析。 3. 使用"6 Sigma"的方法拓展尺寸链统计分析。 4. 选择装配的尺寸链公差分析，包含组装零件数的最优化。 所有完成的任务允许在额定公差值内运行，包括尺寸链的设计和最优化。 计算中包含了ANSI, ISO, DIN以及其他的专业文献的 数据，方法，算法和信息。标准参考表： ANSI B4.1, ISO 286, ISO 2768, DIN 7186
计算的控制，结构及语法。 算的控制，
计算的控制与语法可以在此链接中找到相关信息 "计算的控制，结构与语法".
项目信息。 目信息。
“项目信息”章节的目的，使用和控制可以在"项目信息"文档里找到.
理论－原理。 原理。
一个线性尺寸链是由一组独立平行的尺寸形成的封闭环。他们可以是一个零件的相互位置尺寸(Fig.A)或是组装单元中各 个零件尺寸 (Fig. B).
一个尺寸链由分开的部分零件（输入尺寸）和一个封闭零件（结果尺寸）组成。部分零件（A,B,C...）可以是图面中的直 接尺寸或者是按照先前的加工工艺，组装方式。 所给尺寸中的封闭零件（Z）表现为加工工艺或组装尺寸的结果，结果 综合了部分零件的加工尺寸，组装间隙或零件的干涉。结果尺寸的大小，公差和极限直接取决于部分尺寸的大小和公 差，取决于部分零件的变化对封闭零件变化的作用大小，在尺寸链中分为两类零件： - 增加零件 - 部分零件，该零件的增加导致封闭零件的尺寸增加 - 减少零件 - 部分零件，封闭零件尺寸随着该零件的尺寸增加而减小 在解决尺寸链公差关系的时候，会出现两类问题： 1. 公差分析 - 直接任务，控制 使用所有已知极限偏差的部分零件，封闭零件的极限偏差被设置。直接任务在计算中是明确的同时通常用于在给 定图面下检查零件的组装与加工。 2. 公差合成 - 间接任务，设计 出于功能需要使用封闭零件的极限偏差，来设计部分零件的极限偏差。间接任务用来解决设计功能组及组装。 公差计算方法的选择以及尺寸链零件的极限偏差影响组装精度和零件的组装互换性。因此，产品的经济性和运转性取决 于此。在尺寸链中解决公差关系，工程实践使用三个基本方法： 算数计算法 统计学计算法 成组交替性计算方法 术计算方法 算术计算方法 - WC method (Worst Case). 最常使用的方法，有时叫做最大－最小计算方法。它用于在任何部分零件的实际尺寸的任意组合下保证封闭零件的所需 极限偏差，也就是最大和最小极限尺寸。 这个方法保证了零件的完全装配和工作交替性。但是，由于封闭零件的高精 度要求，导致部分零件的公差值太极限，因此带来高的加工成本。因此WC方法主要适合用于计算小数量零件尺寸链或 结果尺寸的公差是可以接受的 情况。最常用于单间或小批量生产。 WC 方法计算得出的结果尺寸是部分尺寸的算术和。因此封闭零件的尺寸决定于其中心值：
2013/4/7