器件功能测试方案的优化设计

器件功能测试方案的优化设计

请特别注意：论文电子档提交截止时间为：5月24日早上8：00，纸质论文提交时间为：5月24日中午14：00。

在设计电子产品时，测试人员要对电路板设计测试方案。一个电路板包含很多器件，而且一个电路板上的同一类器件可能有多个。器件之间一般有电路导线（引脚）连接。已知每种器件一般有多个可能发生的故障（称为故障模式或失效模式），并且通过已有积累的测试知识，获得了每种故障模式发生的概率、及其对应的检测方式(即功能检测编码)、检测成本、检测有效率等。在设计测试方案时，往往要求测试方案的故障模式覆盖率不低于90%。一个测试方案的故障模式的覆盖率=测试方案覆盖的失效模式总数/所有失效模式总数。

现有一个电子产品的电路板数据，其基本信息见附件1--附件5。

请针对该电路板数据，建立模型完成以下工作：

1.请给出一个计算办法，计算所设计的检测方案覆盖的失效模式总数；

2.根据器件连接（不含引脚信息）的数据，建立数学模型，设计测试方案的优化策略，

并给出具体的测试方案。

3.如果还要考虑测试成本，请进一步优化你的测试方案。

4.如果测试方案要细化到器件的引脚，请根据器件连接及其引脚连接等数据，建立数学

模型，设计测试方案的优化策略，并给出具体的测试方案。如果还要考虑测试成本，请进一步优化你的测试方案。

附件1：电路板包含的器件编号、器件名称及器件种类编号，见文件board_device.csv。

注：器件编号按自然数顺序编排。

附件2：电路板包含的器件引脚编号、器件引脚名称，见文件board_devicepin.csv。

注：器件引脚编号按自然数顺序编排，器件引脚名称格式为“器件名称.”和“引脚名”

组成，如R90.3，表示器件名称为R90，引脚为3；器件引脚R2409.U4，表示器件名称为R2409，引脚为U4。

附件3: 电路板器件信息，见文件deviceobject.csv，包含器件种类编码、器件的失效模式、失效发生概率、功能检测编码及功能检测有效率、功能检测成本等。

注意：每类器件可能有多个失效模式。

附件4：器件之间连接信息，见文件connect_device.csv。

该文件每行包含器件连接序号和2个连接的器件编号。

附件5：器件引脚之间连接信息，见文件connect_devicepin.csv。

每行包含器件引脚的连接序号和2个有直接连接的器件引脚编号。