测试测量技术发展趋势.doc
准确 高速 标准 广泛 电子测试测量技术发展趋势
产品之 间的互操作性也是无线测试中重要 的内 容， 由于Ｒ 射频芯片组和模块器件的设计 比较 Ｆ
无线 测量的挑战
渐占据了人们 的生活。如何洞悉这 些高速信号 的一切细节 ，成为摆在所有测试测量仪器厂商 面前的难题。即将 在全球大规模布 网的 ３ Ｇ和
复杂 ，因此即使是通 用的标准也无法确保产 品
的新 工艺、新材料、新产品 的质量保证 ，离开测试测量的保障 ，
我们 面对的将是一个危机四伏的 高科技世界 。
随 着 被 测试 系统 、 品 的 发展 水 平 日趋 提 格 过 于 昂 贵 ， 线基 站 的维 护 也 是个 不 小 的问 产 无
高一 速度越来越快 、体积 越来越小 、应用覆盖 题 。
强弱。
当 然 ，没 有 采 集就 没有 分 析 ，再好 的分 析
迅速、频率跳跃 不定、尖锐和短暂消失等特点 能 力 如 果无 法 采 集 到信 号也 没 有 意 义 。比如 泰
让 传 统 采 用 扫 频 分 析仪 和 矢 量 分 析 仪 （ Ａ 测 克的频率外触发技 术，通过高性能 的探头 ，可 ＶＳ ） 量 的 方法 无 所 适 从 。 如何 实 时 捕 获 ２４ ｚ ． ＧＨ 的高 以轻松侦 测到高频小功 率信 号，从而保证分析
区 分 不 同信 号 的出 现 概 率 。为 了 能 够 每 秒处 理 容。 力科公司推 出了Ｚ Ｓ系列有源探头 ， 探头增 ４０ ０个频 谱 ，Ｄ Ｘ采 用 专 用 的 实 时硬 件处 理 加 了前端 放大器 ，在高频 时确保 了较高 的阻 ８０ Ｐ 进 入 的信 号 。通 过 使 信 号 间 隔达 到最 小 ，为用 抗，从而同时实现可高阻抗和低电容的苛刻要
维普资讯
准确 高速 标准 广泛
测试测量技术发展趋势
过 重 新 包 装 的 虚 拟 仪 器 技 术 ， 将 软 件 的开 放 性 和 硬 件 的模 块 化 重 新 结 合 在 了 一 起 。 在媒 体界 ， 电 子 系 统 设 计 》 杂 志 的 编 辑
软 件 定 义 的 仪 器 系统 也 称 作 虚 拟 仪 器 ， 包 含 了 模 块 化 硬 件 和 用 户 自定 义 的 软 件 ，使 工 程 师 可 以 通 过 通 用 硬 件 模 块 将 标 准 仪 器 与 包 含 数 据 处 理 的 用 户 自定 义 的 测 试 设 备 整 合 起 来 。 对 于 某 些 电 子 设 备 ， 如 下 一 代 导 航 系 统 以 及 集 成 不 同功 能 并 能 快 速 应 用 新 通 信 协 议 的 智 能 电 话 ，仪 器 的 灵 活 性 就 显 得 尤 为 重 要 。利 用 软 件 定 义 的 仪 器 系 统 ，工 程 师 可 以 通 过 更 新 软 件 算 法 ，快 速 对 测 试 设 备 进 行 重 新 配 置 ， 以 满 足 不
Ｎ 中国分公 司技术 市场工程 Ｉ 师徐赞 化 仪 器 系 统 能 够 赋
利用其他仪 器无法测试 的无线应用 中得到具体
体现。”
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现代检测技术发展趋势复习总结.
1,现代检测技术发展趋势;智能化,虚拟化,网络化,微型化,软测量技术。
2,测试系统;完成某个物理量的测量而由具有某一种或多种变换特性的物理装置构成的总体。
3,静态特性指标;漂移,测量仪器在规定条件下其特性随时间而缓慢变化的现象。
回程误差;相同条件下,被测量不变,测量仪器的行程方向不同,而同一出入量值对应的示值之差的绝对值,或者此绝对值与满程输出之比。
4,交流电压的表征方法;峰值,平均值,有效值。
5,频率的测量;直接测频法原理;在一定的时间间隔T内,对输入的周期信号脉冲进行计数,若得到的计数值为N,则信号的频率为f=N/T。
系统组成;有脉宽为T的标准时基脉冲信号通过门控电路控制计数闸门的开启关闭,当时基脉冲信号上升沿到来或为高电平时门控电路打开闸门,被测信号通过,此时计数器开始计数,为低电平时反之停止计数,此时在时间间隔T内被测信号的周期为N,由公式可以计算出被测信号的频率。
6,阿贝原则;长度测量时,被测量的尺寸线段应与标准量的尺寸线段重合,或在其延长线上。
7,纳米测量技术;扫描隧道显微镜,针尖探头安置在可实现三维运动的压电陶瓷支架上,通过控制加在三个压电陶瓷臂上的电压分别控制针尖在xyz方向杀个运动,若以针尖为以电极,被测表面为另一电极,则当两者间隔距离小到纳米级是即会产生隧道电流。
原子力显微镜;一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。
扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分率获得表面结构信息。
8,形状误差评定三种基准体现方法;模拟法,分析法,直接法。
9,圆周封闭原则;即利用整圆周上所有角间隔的误差之和等于零这一自然封闭特性,进行测量方案的选定和数据处理,从而提高测量精度。
浅谈精密测量技术现状及发展
浅谈精密测量技术现状及发展1. 引言1.1 精密测量技术的定义精密测量技术是一种通过精确的测量和分析技术来获取准确数据的方法。
它可以实现在微观和宏观尺度上对各种参数的测量，包括长度、温度、压力、速度等。
精密测量技术的准确性和可靠性通常高于传统测量方法，这使得它在科学研究、工程设计、生产制造等领域具有重要的应用意义。
精密测量技术的定义必须具备高精度、高灵敏度、高稳定性和高可靠性等特征。
它是现代科学技术的重要支撑，可以帮助人们更好地理解和控制自然界的规律，促进工业生产的精细化和智能化发展。
通过精密测量技术，人们可以对物体的特性、结构、性能等进行准确地评价和描述，为科学研究和工程技术提供可靠的数据支持。
精密测量技术是现代科学技术的基础和重要组成部分，它在各个领域发挥着不可替代的作用。
随着科学技术的不断进步和发展，精密测量技术也将不断拓展应用领域，提高测量的精确性和可靠性，促进人类社会的发展进步。
1.2 精密测量技术的重要性精密测量技术在现代工业生产和科学研究中扮演着至关重要的角色。
其重要性主要体现在以下几个方面：精密测量技术可以提高产品质量。
在生产过程中，精密测量技术可以帮助企业实时监测产品的参数和性能，及时发现问题并进行调整，从而保证产品达到最优质的状态。
这对于提升企业竞争力和客户满意度至关重要。
精密测量技术可以提高生产效率。
通过精准的测量，可以避免资源的浪费和重复加工，提高生产效率和节约成本。
精密测量技术还可以减少人为错误的发生，提高工作效率。
精密测量技术对于科学研究也具有重要意义。
在领域如制造、材料、生物等方面，精密测量技术可以帮助科研人员获取准确的数据和实验结果，推动科学的发展和创新。
精密测量技术的重要性不可低估。
它不仅对于产品质量和生产效率有着直接影响，也为科学研究提供了重要的支持。
随着社会的发展和科学技术的进步，精密测量技术将会变得更加重要和必不可少。
1.3 本文目的与意义本文旨在探讨精密测量技术的现状及发展趋势，通过对其发展历程、主要技术及应用领域、现状分析、发展趋势以及挑战与机遇的分析，旨在全面了解该领域的发展现状，为相关研究人员和企业提供参考。
示波器测试技术应用的现状和未来发展趋势
示波器测试技术应用的现状和未来发展趋势示波器（Oscilloscope）是电子工程师手中必备的一种工具，它可以直观地显示电流和电压的波形，可以帮助工程师更轻松地理解电路的工作方式和问题所在。
随着电子技术的不断发展，示波器的测试技术也在不断进步。
本文将介绍示波器测试技术的现状和未来发展趋势。
一、示波器测试技术的现状1. 数字示波器在示波器的发展历程中，数字示波器（Digital Oscilloscope）是一个重要的节点。
相比于模拟示波器，数字示波器采用了数字信号处理技术，可以实现更高精度和更强的抗干扰能力。
数字示波器还可以支持多种触发方式和自动测量功能，使得工程师更轻松地捕获和分析波形。
2. 宽带、高精度现代电子系统的频率越来越高，对示波器的带宽和精度也提出了更高的要求。
目前市场上的示波器带宽已经达到了数十 GHz，而且分辨率也在不断提升。
高带宽和高精度的示波器可以更准确地捕获高频信号，更好地满足工程师的需求。
3. 自动化测试现代电子系统越来越复杂，测试工作也变得越来越繁琐。
自动化测试技术可以帮助工程师更轻松地完成测试任务，提高测试效率和质量。
目前市场上的示波器都支持了多种自动化测试功能，包括模式识别、自动触发和自动测量等。
4. 网络连接网络连接已经成为现代电子工程的一个重要环节，利用网络连接可以将多台设备连接在一起，形成一个智能化的测试系统。
现代示波器也开始支持网络连接功能，可以方便地与其他设备、软件、云平台等进行数据交换和远程控制。
二、示波器测试技术的未来发展趋势1. 高速通信测试5G时代已经到来，高速通讯技术如火如荼地发展着。
随着5G、Wi-Fi6等新一代通信技术的普及，对高带宽、高精度的示波器提出了更高的要求。
未来示波器的发展方向也将越来越趋向于高速通信测试，以提供更好的支持和服务。
2. 便携化移动互联网时代已经成为当下的主流，越来越多的行业开始追求便携化、远程化的方向。
这也使得便携化成为了未来示波器发展的一个趋势方向。
测试技术的发展现状以及未来的发展趋势
测试技术的发展现状以及未来的发展趋势姓名：赵新班级：机械5-1班学号： 10号测试技术的发展现状以及未来的发展趋势概述测试是测量与试验的简称。
测量内涵：对被检测对象的物理、化学、工程技术等方面的参量做数值测定工作。
试验内涵：是指在真实情况下或模拟情况下对被研究对象的特性、参数、功能、可靠性、维修性、适应性、保障性、反应能力等进行测量和度量的研究过程。
试验与测量技术是紧密相连，试验离不开测量。
在各类试验中，通过测量取得定性定量数值，以确定试验结果。
而测量是随着产品试验的阶段而划分的，不同阶段的试验内容或需求则有相对应的测量设备和系统，用以完成试验数值、状态、特性的获取、传输、分析、处理、显示、报警等功能。
产品测试是通过试验和测量过程，对被检测对象的物理、化学、工程技术等方面的参量、特性等做数值测定工作，是取得对试验对象的定性或定量信息的一种基本方法和途径。
测试的基本任务是获取信息。
因此，测试技术是信息科学的源头和重要组成部分。
信息是客观事物的时间、空间特性，是无所不在，无时不存的。
但是人们为了某些特定的目的，总是从浩如烟海的信息中把需要的部分取得来，以达到观测事物某一本值问题的目的。
所需了解的那部分信息以各种技术手段表达出来，提供人们观测和分析，这种对信息的表达形式称之为“信号”，所以信号是某一特定信息的载体。
信息、信号、测试与测试系统之间的关系可以表述为：获取信息是测试的目的，信号是信息的载体，测试是通过测试系统、设备得到被测参数信息的技术手段。
同时，在军事装备及产品全寿命周期内要进行试验测试性设计与评价，并通过研制相应的试验检测设备、试验测试系统（含软、硬件）确保军事装备和产品达到规定动作的要求，以提高军事装备和产品的完好性、任务成功性，减少对维修人力和其它资源要求，降低寿命周期费用，并为管理提供必要的信息。
全寿命过程又称为全寿命周期，是指产品从论证开始到淘汰退役为止的全过程。
产品全寿命过程的划分，各国有不同的划分。
检测技术的发展趋势
检测技术的发展趋势摘要: 随着世界各国现代化步伐的加快，对检测技术的要求越来越高。
而科学技术，尤其是大规模集成电路技术、微型计算机技术、机电一体化技术、微机械和新材料技术的不断进步，则大大促进了现代检测技术的发展。
目前，现代检测技术发展的...随着世界各国现代化步伐的加快，对检测技术的要求越来越高。
而科学技术，尤其是大规模集成电路技术、微型计算机技术、机电一体化技术、微机械和新材料技术的不断进步，则大大促进了现代检测技术的发展。
目前，现代检测技术发展的总趋势大体有以下几个方面。
1．不断拓展测量范围，努力提高检测精度和可靠性随着科学技术的发展，对检测仪器和检测系统的性能要求，尤其是精度、测量范围、可靠性指标的要求愈来愈高。
以温度为例，为满足某些科研实验的需求，不仅要求研制测温下限接近绝对零度（-273.15℃），且测温量程尽可能达到15 K（约-258℃）的高精度超低温检测仪表；同时，某些场合需连续测量液态金属的温度或长时间连续测量2 500～3 000℃的高温介质温度，目前虽然已能研制和生产最高上限超过2 800℃的热电偶，但测温范围一旦超过2 500℃，其准确度将下降，而且极易氧化从而严重影响其使用寿命与可靠性；因此，寻找能长时间连续准确检测上限超过2 000℃被测介质温度的新方法、新材料和研制（尤其是适合低成本大批量生产）出相应的测温传感器是各国科技工作者多年来一直努力要解决的课题。
目前，非接触式辐射型温度检测仪表的测温上限，理论上最高可达100 000℃以上，但与聚核反应优化控制理想温度约l08℃相比还相差3 个数量级，这就说明超高温检测的需求远远高于当前温度检测所能达到的技术水平。
仅十余年前，如果在长度、位移检测中达到微米级的测量精度，则一定会被大家认为是高精度测量；但随着近几年许多国家大力开展微机电系统、超精细加工等高技术研究，“微米（10-6m）、纳米（10-9m）技术”很快成了人们熟知的词汇，这就意味着科技的发展迫切需要有达到纳米级，甚至更高精度的检测技术和检测系统。
测井技术及发展趋势
Induction Sonic Dipmeter FDC
HiRes Dipmeter
PNMT CSI
CMR CMR-Plus ASI
地震 光学 系统 机械 爬行器
VSI 3D-VSP HFM GHOST LFA CFA
OFA IPLT PEx
Xtreme SlimX MSCT MaxTRAC TuffTRAC
测井技术及发展趋势
2014年6月4日
二、 “十一五”以来测井行业进展和现 状 国外测井管理体制发展趋势
国外三大测井公司建立研究、开发和服务一体化的体制
技术研发－仪器装备制造－技术服务－产品销售一体化发展经营模式
成像测井成为主力技术装备，核磁共振、阵列声波、 元素能谱和动态地层测试器等成为重要的测井技术，向 三维成像扫描、能谱化发展，过套管电阻率测井、三分 量感应测井和井下永久传感器等高端技术已研制成功并 得到应用；
高分辨 上天线 高分辨 下天线 主天线
S N
特点： - 测量壳形区域 - 探测深 - MRF连续测量 - 多重探测深度 - 测速快（250-3000ft/h）
天线
测量壳型区
Hi-Res Main 1 Main 2 Main 3 Main 4 Main 8
1.25 in. 1.5 in. 1.9 in. 2.3 in. 2.7 in. 4.0 in.
IFA井下流体实时分析仪
分光计 (组分, 气油比)
荧光计 (流体类型识别)
压力/温度
密度
电阻率
Isolation Scanner
建立在USI硬件平台上 结合USI和挠曲波衰减两个独立测量
套管成像测井
－改善了低密度水泥和受污染水泥的评价 －套管壁厚限制最大到20mm [0.79in] SLG固液气成像,直观快速解释环空物质状态 增强功能 －地层或第二层套管圆周成像 —可以评价三界面
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测试测量技术发展趋势
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作者：徐赟, 技术市场工程师, NI 中国分公司
30多年来，作为测试测量行业的创新者和虚拟仪器技术的领导者，National Instruments一直致力于为工程师和科学家们提供一个通用的软硬件平台，用于科技应用和工程创新。
伴随着测试需求的多样化和复杂化，这种以软件为核心的测试策略正逐渐成为行业主流的技术，并得到广泛的应用，在提高效率的同时降低测试成本。
在新兴商业技术不断涌现的今天和未来，测试测量行业正呈现出五个重要的发展方向。
目录
1.趋势一：软件定义的仪器系统成为主流
2.趋势二：多核/并行测试带来机遇和挑战
3.趋势三：基于FPGA的自定义仪器将更为流行
4.趋势四：无线标准测试的爆炸性增长
5.趋势五：协议感知（Protocol-Aware）ATE将影响半导体的测试
趋势一：软件定义的仪器系统成为主流
如今的电子产品(像iPhone和Wii等)已越来越依重于软件去定义产品的功能。
同样的，在产品设计和客户需求日益复杂的今天，用于测试测量的仪器系统也朝着以软件为核心的模块化方向发展，使得用户能够更快更灵活的将测试集成到设计过程中去，进一步减少了开发时间。
通过软件定义模块化硬件的功能，用户可以快速实现不同的测试功能，并应用定制数据分析算法和创建自定义的用户界面。
相比于传统仪器固定的功能限制和只是“测试结果”的呈现，以软件为核心的模块化仪器系统能够赋予用户更多的主动权，甚至将自主的知识产权(IP)应用到测试系统中。
(见图1)
在业界，被认为是最保守的客户之一的美国国防部在2002年向国会提交的报告中指出下一代测试系统(NxTest)必须是基于现成可用商业技术(COTS)的模块化的硬件，并同时强调了软件的能动作用。
最新的合成仪器(Synthetic Instrumentation)的概念也无非是经过重新包装的虚拟仪器技术，将软件的开放性和硬件的模块化重新结合在了一起。
在媒体界,《电子系统设计》杂志的编辑Louis Frenzel先生在他最近关于测试
行业趋势的文章
(Synthetic Instrumentation No Longer A Test Case)中也再次肯定了虚拟仪器技术对于测试测量行业的革新作用以及软件定义仪器的发展方向。
图1：以软件为核心的模块化系统参考架构
趋势二：多核/并行测试带来机遇和挑战
多核时代的来临已成为不可避免的发展趋势，双核乃至八核的商用PC现在已随处可见。
得益于PC架构的软件定义的仪器，用户可以在第一时间享受到多核处理器为自动化测试应用带来的巨大性能提升。
要充分发挥多核的性能优势，就必须创建多线程的应用程序，例如我们可以将自动化测试程序的数据采集、数据分析、数据记录乃至用户界面部分创建不同的线程，从而分配到不同的核上并行的运行。
不过，这样并行的开发理念使得习惯于传统串行开发方式的工程师难以适应，尤其是当核的数目越来越多……
挑战和机遇往往是并存的，作为图形化语言的代表，LabVIEW在设计当初就考虑到了并行处理的需求，从LabVIEW 5.0开始支持多线程到现在已有10多年的历史。
可以毫不夸张地说，天生并行的LabVIEW就是这样一种驰骋多核技术时代的编程语言，通过自动的程序多线程化(见图2)，开发人员可以无需考虑底层的实现机制，就可以高效地享用多核技术所带来的益处。
无论是欧南天文台极大望远镜高达2700万次乘加运算的镜面控制，到Tokamak 核聚变装置的实时处理运算，还是NASA的飞机安全性测试和TORC汽车控制快速原型设计，LabVIEW多核技术都为这些应用带来了巨大的性能和吞吐量的提升，随着多核技术的进一步发展，提升的幅度将更为可观。
图2：LabVIEW中的自动多线程和并行的数据流编程
趋势三：基于FPGA的自定义仪器将更为流行
随着设计和测试的要求越来越高，FPGA(现场可编程门阵列)技术正逐渐被引入到最新的模块化仪器中，这也就是我们所说的基于FPGA的自定义仪器。
FPGA的高性能和可重复配置特性一直是硬件设计工程师们的最爱，而对于测试工程师而言，又何尝不想拥有硬件级的确定性和并行性呢？像诸如实时系统仿真、高速内存测试等应用都需要用到FPGA来确保响应的实时性和高速的数据流入和流出，FPGA的IP核更是可以为工程师植入自主知识产权的算法提供契机。
然而，苦于对硬件设计知识的缺乏和对VHDL或Verilog语言编程的恐惧，许多测试工程师对于FPGA技术望而却步。
现在，NI提供的R系列数据采集和FlexRIO产品家族将高性能的FPGA集成到现成可用的I/O 板卡上，供用户根据应用进行定制和重复配置，同时配合LabVIEW FPGA直观方便的图形化编程，用户能够在无需编写底层VHDL代码的情况下，快速地配置和编程FPGA的功能，用于自动化测试和控制应用。
(见图3)
前段时间，欧洲核子研究中心(CERN)为世界最强大的粒子加速度器——大型强子对撞机(LHC)配备了超过120套带有可重复配置I/O模块的NI PXI系统，用于控制瞄准仪的运动轨迹和监测其实时位置，从而确保粒子在既定的路径中运作。
为了保证极高的可靠性和精确性，FPGA成为其必备的测试和控制技术。
随着对FPGA技术应用复杂性的简化，可以预计，拥有高性能和灵活性的FPGA技术将越来越多的被应用于未来的仪器系统中.
图3:NI带FPGA的可重复配置I/O 板卡和LabVIEW FPGA图形化编程
趋势四：无线标准测试的爆炸性增长
近年来无线通信标准的发展可谓是日新月异，从2000年前只有四五种的无线标准到现在众多新标准如雨后春笋般涌现。
越来越多的消费电子产品和工业产品都或多或少的集成了无线通信的功能，像苹果公司最新的3G版iPhone手机，更是同时集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和蓝牙等多种最新的无线标准。
这些都给无线技术的开发和测试带来了巨大的挑战，测试技术如何跟上无线技术的发展成为工程师面临的最大难题。
通常传统射频仪器的购买周期是5至7年，而新标准和新技术的推出周期却是每两年一轮，购买的射频测试设备由于其固件和功能的限定通常难以跟上新标准的发展速度。
面对这样的挑战，一种以软件为核心的无线测试平台正崭露头角。
信号的上下变频和数字化由模块化的射频硬件的完成，而编解码和调制解调的过程全部通过软件实现。
这样，在统一的模块化硬件平台上，只需修改软件就可以满足不同无线标准的测试需求，使得工程师有能力在第一时间测试最新的标准，加快产品的上市时间。
NI LabVIEW和PXI RF平台就是这样一个软件无线电的测试平台，多年来已经成为工程师和科学家们开发无线标准和测试无线应用的必备工具。
德州大学奥斯汀分校的师生基于NI的软件无线电平台，在短短6周时间内开发出MIMO-OFDM 4G 的系统原型；成都华日通信公司(国内无线电频谱管理设备主要供应商)利用NI PXI矢量信号分析仪和LabVIEW开发了带有自主产权的HR-100宽带无线电接收机和监测系统，已广泛应用于国内的频谱监测和信号定向领域。
聚星仪器(NI大陆地区系统联盟商)也开发出了全球首个支持C1G2 RFID标准全部指令的测试设备，并实现了与RFID标签微秒级的实时通信。
图4：基于LabVIEW 和PXI软件无线台测试平
台
趋势五：协议感知（Protocol-Aware）ATE将影响半导体的测试
如今的半导体器件变得愈加的复杂，高级的片上系统(SoC)和封装系统(SiP)相比典型的基于矢量的器件测试而言，需要更为复杂的系统级的功能测试。
现在器件的功能也不再是通过简单的并行数字接口实现，而是更多的依赖于高速串行总线和无线协议进行输出，这就要求测试设备和器件之间能够在指定的时钟周期内完成高速的激励和响应测试。
复杂的测试需求催生了协议感知(Protocol-Aware)ATE的诞生，Andrew Evans在2007国际测试会议(ITC)上发表的论文“The New ATE - Protocol Aware”中首次提出了这个概念。
这是一种模仿器件真实使用环境(包括外围接口)的方法，按照器件期望的使用方式，进行有针对性的器件功能测试和验证。
国际半导体测试协会(STC)和新近成立的半导体测试合作联盟(CAST)都在考虑为自动化测试厂商制定开放的测试架构以满足日益增加的半导体测试需求和降低测试成本。
NI作为STC协会便携式测试仪器模块(PTIM)工作组的主席，正在致力于创建一种新的指南和标准，使得工程师能够将第三方的模块化测试仪器(如PXI)集成到传统的半导体ATE中，以实现更为灵活自定义、符合“协议感知”要求的半导体测试系统。
把握发展趋势，占据市场先机，在全球经济步入调整期的今天，相信测试测量行业仍会有一个美好的未来。