ICT调试基本标准
如何设定ICT的上下限
如何设定ICT的上下限如何设定ICT的上下限2010-10-08 13：06大家知道，对ICT的基本要求是："无漏报；无误报。
"要做到这一点，除了要求ICT的测量系统稳定，准确外，上下限的合理设置也需要很好配合。
ICT的测量总误差由以下三项构成：1、机器本身的测量误差；2、通道及接触误差；3、被测对象的误差。
即每一步的上下限的设定都不能小于这三项的和，比该和小，则出现误报，使测试不稳定，大于这个和太多，就会出现漏报，使ICT测试的可信度降低。
这三项误差的实际大小则要依实际情况作具体的分析，祥述如下：一、机器本身的测量误差这一误差一般由绝对的固定偏差及随机的相对误差构成，绝对的固定偏差由系统的失调偏差及温度漂移构成，在同一温度下此值不变，但环境温度变化时，其值随温度而变化，这一误差表现在测量外观上的影响为：ICT的测量值与被测对象的真实值不同，且随温度的变化而变化，有些ICT的测试程序刚调好后能稳定工作，过一段时间就不稳定就是这一原因引起的；随机的相对误差则是由系统内部的噪声及外部的干扰导致的，系统的抗干扰能力及噪声抑制能力直接影响到这一误差的大小，这一误差的大小在ICT测试上的表现则是，小电容及大电阻的测试稳不稳定。
一般的ICT，在大部分量程范围内其本身误差都能控制在5%以内，好的ICT能做到1%的误差(如T2000)，工程实际上，大体可依此定夺，也可对机器做实际考核后确定。
另外小电容及大电阻应适当放大，大概为5%-10%。
二、通道及接触误差通道电阻在正常情况下一般是不变的，且一般小于1.5Ω，而接触电阻变化较大，在测试针及测试点工况良好的条件下，一般能控制在0.5Ω以内，但随着针的老化或测试点的洁净度的变坏，此一电阻会变大至十几欧姆甚至以上，对于具有四点测试方法的ICT(如T2000)，此一误差可籍4针测试法消除，对于设有四点测试法的ICT，或针床制作时未作四针测试设计，则通道电阻可用Offset处理(当然，ICT要具备此一功能)。
ICT调试
这就是考验你和DEBUG功夫，一般讲，你可能去掉一些delay time,或在电阻测试尽量不要使有mode2,另外，在repeat减少使用D等，本人以为你和程式做的可能有问题，有很多假测，所以在靠repeat和放电治具?S商所編寫的程式存在著測不到、測試的方法不正確，該測的沒測不是很穩定的元件乾脆就跳掉，該串、?K聯測的沒測，該加電壓測試的沒測，該測反向也沒測等等一些問題。
我們作為檢驗著應該怎麼樣去檢查測試程式呢。
還請各位談談你們的檢驗的方法或者問題大家?硖接懸幌隆?注：本部分只針對測試程式探討)thk's一般不要指望一块板子的可测率能达到100%，因为目前很多测试都存在盲点。
但是要想知到程式的可靠性做为不懂ICT调试的人只能在实际测试中判断了另外也可以做实验把元件拆下或者反向看看能不能测的到如果有测不到的当场问他怎么回事？？其?我們有必要那么在意程序的正確嗎﹖我相信一個合格的供應商﹐不可能說連一個ICT程序都寫不好﹐如果沒這個本事﹐他早在這個行業消失了。
其?判斷一個ICT程序的好壞也很簡單﹐你只要對BOM很熟悉﹐又對電子常識有一定的認識﹐那判斷就簡單了。
1﹐根據我們自己的BOM?砗藢λ峁┑某绦蛑械臏y試點﹐這樣很容易對比出他的可測率﹐一般說?愆o旁路電容不測﹐電容并聯測不准﹐電感不去在意﹐除去這些點﹐可測率能達到85%以上﹐那就不錯了。
2﹐公差的判斷﹐一般就看你BOM上用料的要求了﹐5%,10%,20%可以自己判斷了﹐當然最好是拿一塊好板去Demo了。
3﹐然后在做一批測試﹐看它的誤測率有多高﹐一般不要超過2%,不然就有點問題ICT-In Circuit Test直译为在线测试ATE-Automatic Test Equipment直译为自动测试设备MDA-Manufacturing Defects Analyzers直译为生产故障分析器原本世界是很简单的，GenRad和HP先后推出了ICT。
ICT操作規范
ICT操作規范文件編號版本/ 次 1.0頁次1/8分發部門生效日期1.目的:：規範ICT機器的操作方式，使作業人員能依此規范正常操作，確保產品品質及ICT的正常運行。
2.範圍：我廠所用ICT（JET300NT）測試機。
3.定義：3.1 ICT(IN CIRCUIT TESTER)電路板在線測試機；3.2 EMS(Electronics Manufacture Services) 电子制造服务；4.權責：4.1采購課：聯系廠商進行新機種ICT針盤的報價作業。
4.2工程部：4.2.1 EMS當ICT機出現異常而制造部門處理不好時，由EMS解決。
4.2.2 EMS負責新機種ICT針盤的制作,驗收。
4.3.3 EMS 新程式的确認和驗收工作。
4.3.4 EMS ICT程式盲點表制作和更新。
4.3制造部：4.3.1負責ICT操作，測試；4.3.2負責ICT機器的保養，維護，維修及ICT管制表格的填寫；5.參考文件: (N/A)6. 流程圖(N/A)7.作業流程：7.1工作原理：ICT測試機是藉由治具測試針的接觸，透過輸入的微量電流，快速測試和檢測印刷電路板及其上面元件的短路，斷路，錯件，漏件，元件值變值等異常狀況。
7.2操作程序:7.2.1操作員在上機測試前應戴好靜電環。
7.2.2檢查氣管及地線是否連接是否良好，將測試系統的電源ＯＮ,，再將電腦的電源ＯＮ，此時電腦磁碟機內不可放有磁片。
7.2.3測試系統與電腦連線正常的情況下，會執行自我測試，OK後會自動進入測試程式畫面，表示機器正常。
此時可進行測試，若有異常畫面. 請找技術員維修。
7.2.4檢查顯示器左上角之‚機種檔名:XXXX‛是否與待測機型對應，如不對應請根據機種程式版編製: 審核: 批准:ICT操作規范文件編號版本/ 次 1.0頁次2/8分發部門生效日期本記錄表，選取測試畫面上的‚檔案‛菜單加載正確的機種程式。
7.2.5檢查機台上之治具是否為待測板之治具。
ICT测试原理以及程序调试
ICT量測原理
從測量原理方面來講,ICT測試其實是歐姆定律的充分應用.歐姆 定律: R= V/I, 其中R即可認為是電阻,也可認為是其它阻抗,如: Zc容抗.Zl感抗.而V有交流,直流之分.I也一樣,有交流,直流之分.
1.量測R:
單個R(mode 0,1):利用Vx=IsRx(歐姆定律),則Rx=Vx/Is.信號源Is 取恆流(0.1uA---5mA),量回Vx即可算出Rx.
R//L(Mode3,4,5): 信號源取交流電壓源Vs, 籍相位法輔助. |Y’| Cosθ=YRx=1/Rx, 並Y’=I’x/Vs 故: Rx=1/ |Y’| Cosθ
大電流應用: R//C時, 為測R,可以適當修改其Std_V(標準值),以便獲得
系統提供更大測試電流,條件是R接近上表的下限值, 如330ohm//100UF,則 改Std_V標準值為299ohm,可提供5mA大電流,從而使測試更準確.
C//R: Mode 5, 6, 7, 由Zc=1/ 2πfC,故C一定時,f越高,Zc越小, 則R的影 響越小. C//L:Mode 5,6,7,並且f越高效果越好. L: F8測試,選擇Mode0, 1,2中測試值最接近Std-V,然後offset修正至準確. L//R: Mode 5,6,7. PN結: F7自動調整,一般PN正向0.7V(Si),反向(2V以上). D//C: Mode１及加Delay. D//D(正向):除正向導通測試,還須測反向截止(2V以上)以免D反插時誤判. Zener: Nat-V選不低于Zener崩潰電壓,若仍無法測出崩潰電壓, 可選 Mode1(30mA),另外10-48V zener管,可以用HV模式測試. Q:be,bc之PN結電壓兩步測試可判斷Q之類型(PNP or NPN),Hi-P一樣(NPN), Lo-P一樣(PNP),並可Debug ce飽和電壓(0.2V以下),注意Nat-V為be貪偏置 電壓.越大Q越易進入飽和,但須做ce反向判斷(須為截止0.2V以上),否則應 調濁Nat-V.
综合布线ICT业务标准解决方案
综合布线ICT业务标准解决方案综合布线ICT（信息与通信技术）业务标准解决方案是为了满足企业在办公室网络建设中所需的通信和数据传输需求，确保网络快速、稳定、可靠地运行而制定的一系列技术和管理标准。
本文将从综合布线 ICT 业务标准、设计原则、实施步骤和最佳实践等方面进行详细介绍。
一、综合布线 ICT 业务标准综合布线 ICT 业务标准是为了统一和规范企业内部网络建设而制定的标准文件。
标准需要明确以下内容：1. 网络建设目标：明确网络建设的目标和要求，包括带宽、稳定性、安全性等方面的要求。
2. 物理布线标准：定义各种网络设备的物理布线标准及安装位置要求，包括机房建设、线缆类型、接头类型等。
3. 设备标准：规定使用的网络设备的品牌、型号及配置要求，确保设备的兼容性和稳定性。
4. 系统架构：定义网络的层次结构、拓扑结构及网络管理系统的基本要求。
5. 安全标准：确保网络的安全性，规定网络入侵防护、数据加密、访问控制等方面的安全标准。
6. 故障排除标准：制定故障排除和恢复的标准流程，确保网络的稳定运行。
二、综合布线 ICT 业务标准的设计原则综合布线 ICT 业务标准的设计原则应包括以下几个方面：1. 标准化：通过制定统一的标准，保证网络设备与线缆兼容性和稳定性。
2. 弹性：采用模块化设计，方便扩展和升级，以适应未来的需求变化。
3. 可管理性：提供良好的网络管理和监控系统，方便实施和维护管理。
4. 安全性：采取各种安全措施，如防火墙、入侵检测系统等，保护网络的安全和隐私。
5. 高性能：确保网络的高带宽、低延迟和高可靠性，提供优质的用户体验。
三、综合布线 ICT 业务标准的实施步骤综合布线 ICT 业务标准的实施步骤如下：1. 需求调研：与企业相关部门沟通，了解网络建设的需求和目标，制定网络方案。
2. 规划设计：根据业务需求和标准要求，设计网络的物理布线和设备配置方案。
3. 材料采购：根据设计方案，采购符合标准要求的网络设备和线缆材料。
ICT调试(Debug)标准作业流程
调试(Debug)标准作业流程一、工装结构检查①针床出货前检查各生产部门是否在生产流程标签上签章。
②先将待测板放于治具上检查是否有压件、载板、中板是否有洗槽，避免待测板有损坏造成不必要的损失。
二、固定治具将ICT治具架在压床上，将治具天板固定在压床蜂窝板上，锁紧治具固定螺丝，使其不会松动，将压床点动调整治具上探针行程，使之达到其行程的1/2-2/3左右，然后用排线依顺序将治具与开关板连接起来；三、试程序登录计算机1、将治具的测试程序COPY入计算机，并调出；2、将测试程序检查一遍，未经过排序的，要先排序。
3、要按JP-电阻-电容-电感-二极管-IC的顺序（即按实际值排序）；4、存档四、Open/Short学习1、学习之前，将状态参数里面的测试时基改为50，开短路时基设为400；2、置良品板于治具上，将压床压下即可开始学习；3、学习完毕后要存盘。
五、Debug的技巧与方法1、先将待测板测试一遍，然后可进入“EDIT”DEBUG；2、对于JP的DEBUG则比较简单，只要判定其有无点号，有无零件，点号正确无语即可OK。
一般“JP”我们把ACT-V AL定为“2JP”上限为“+10%”，下限为“-60%”；3、电阻的DEBUG，则会比较复难，可按以下几步调试：1）于小电阻，如零奥姆电阻，ACT-V AL可用2奥姆，然后上限为“+10%”下限为“99%”即可，对于几奥姆或零点奥姆小电阻，若客户要求用四线测试，则需做四线测试，未做要求的就可将线阻及机器内阻加零件值作为标准值，上限可放宽；2）于小电阻：（0Ω-1KΩ）要用定电流的测试方法（D1、D2）；3）电阻DEBUG一般有几种方法：变换测量模式文件位元的变化，更改延迟时间，高低PIN 对调，加隔离点等几种方法，可结合实际情况，具体分析处理；4）GUARDING点对于电阻的DEBUG尤为重要，一般有这样一个原则：电阻的两个点，其中一点所连组件较少，则该点所连组件另外一点作GUARDING点；隔离点所连的组件阻抗须为20奥姆以上，电阻的隔离，加GND点很有效果；5）电阻隔离的目的是将量测到的较少的值隔离成大的，使之更接近于实际值，若该电阻量测的结果很大，超出实际值，则要提出疑问，看看是否针点的问题，还是零件值的错误，或者是由于针点的不准引起的，等待。
ICT调试元器件参数规范
ICT调试元器件参数规范版本:A一、目的：1、规范ICT调试的方法，克服前期测试中的一些漏洞；2、将ICT调试的经验与技巧共享，降低ICT调试的时间。
二、使用范围：电子车间（含本部、武汉、芜湖电子）捷智ICT设备。
三、说明：本次规范主要针对前期电子车间ICT测试中发现的漏洞，包括NPN、PNP型三极管，12V、24V稳压管，KIA7042及可控硅（BT131、134），光耦（PC817、PC851、P512…）的插反、错插、漏插，后期将继续对其他元器件的调试参数进行修正，完善。
四、内容：常规电路元器件调试输入时先设置实际值，实际值取2V—3V，标准值在10-12mA，偏差±30%，此时系统会默认为CM模式，学习时，测量值在11—12mA之间。
若漏插、插反，测量值只有0-0.244mA 之间，此方法比较稳定，插反、漏插、错插均能检测的到，针点排放顺序为c、e、b（b极为隔离点）。
如果实际值中输入的电压为1V，测量值只有4mA，且不太稳定，反向偏差太小；如果电压为3V以上测量值会在50mA以上可能会对开关板造成一定的影响，在有些电路中，若加2V电压后电流太小，可改为3V，然后将学习到的实际电流值输入到标准值内。
可以将错误抓住。
在调试时，尽量将所加的电压（实际值）控制在3V以内，以免测试时电流过大，损坏开关板上的继电器。
，偏差±30%，系统默认CM模式，学习时测量值在40.7-41.3mA之间，若插反，测量值在143-148mA之间变化，若插成9012，测量值在0-0.244mA之间，反向插9012，测量值在117mA 左右；若分别正向、反向插8050、BT131，7042、9013、9014，测量值均在0-0.244mA之间，用表格中的参数调试，可以将上述插反、漏插、错插的问题抓住。
方法与9012相似，但在针点排列上E极与C极相反，如上表所示，测量值也大一点，在12mA—18mA之间。
ict debug
Amplitude ( numeric expression )(振幅)1 .设定信号源电压幅值 (步调值: 1 mv)amDC : -10 V ~ +10 VAC : 0.0V ~ 7.07Var ASRU Range ( numeric expression )1 . 规定ASRU卡的增益量程2 . Zezer , Diode其ar 规定为 0 ~ 18 V .其余元件的ar规定为本0 ~ 10 V3 . 此选项用于除PNP , NPN 三极管外的所有元件.co Voltage Compliance ( numeric expression )1 .用于设定MOA反馈回路两端测试信号源的电压值2 .测试时保护元件及MOA免受意外过高电压的损坏.3 .用于Diode , Zezer , PNP , NPN 测试.4 .测试Diode时设定co电压最少大于信号源电压上限值1V.comp Capacitor compensation1 .comp 代表在初始化测试程序时进行电容补偿 ; nocomp 则代表不补偿.补偿有: comp , comp1 选项不补偿有： nocomp , nocomp1 选项.dwa Detector wait1 .探测器测量等待2 .应用于除Diode , Zezer 外的所有元件测试.在使用Enhancement ( en ) 同时使用3 .0 ~ 1 Sec 范围内可调4 .适用于有噪音电路排除电路噪音ed Extra digit ???????1 .增加测试精确度,可适用于所有元件测试.2 .允许 Execute / Ignore 标志.en Enhancement1 .稳定元件测试,提高测试精确度2 .用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switch测试3 .凡带有sa选项的则必须加上en选项( diode , zezer 除外)4 .允许 Execute / Ignore 标志.但若有使用sa选项时,标记必须是Execute.fi filter1 .用于减少系统噪音的影响2 .数值可从1~9999(次)间设置3 .应用所有元件测试fr frequency1. 设定AC 信号源的频率, 单位为: Hertz2 . 其AC 频率可设定为三个值: 128 Hz ; 1024 Hz ; 8192 Hz .capacitor 8.2p, 240.3, 60.08, fr8192, re3, wb, ar50.0m, comp3.用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switch测试idelta current change1 .在测试NPN或PNP三极管时变更DC电流2.其range of percentage ( 百分比范围) 可在设定5% ~50%设定. 若不指定系统会默认为20%3. 仅用于NPN及格PNP三极管测试.ico current change1 .设定MOA输入端的电流, 用于保护UUT& MOA2 .其值可设0(35Ma) 或 1(150Ma)idc DC current1. 用于Diode , Zezer , PNP ,NPN 测试 ,可指定信号源的大小2.用于PNP ,NPN测试时是提供直流旁路 ,此时 idc 提供直流电流的范围是: 100UA~150MA3. 用于Diode,Zezer测试时是提供一个已知驱动电流 ,此时 idc 提供直流电流的范围是: 10UA~100MAof offset1 .在使用AC信号源测量元件时,of 用于选择DC直流旁路值的大小．2 .其值可设置为 -10 V~ 10V3.用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switch测试op opposite1 . 使用这个选项将得到一个与真实值相反的数值2 . 如果jumper & switch 的真实测试值等于或小于specified threshold ,那么可以通过加入op从而使的测试PASS3 . 如果jumper & switch 的真实测试值大于specified threshold ,那么可以通过4 . 加入op从而使的测试PASS为了便于记忆可将op记为open5. 用于switch , jumper 测试pc parelell1. 仅在debug时使用2 . 使用pc时,系统会自动连接一个100p的电容至DUT测试点的两端它将帮助你确定对小值电容的测试是有效的3 . 当你加入pc后,若测量值会因系统对dut测试加入了一个100p的电容而适值增大,则说明测试是有效的,相反若测试结果无变化,则说明测试中存在接触不良或其它问题.pf pass/fail1 . 这个选项指示元件测量statement去设定一个返回变量,1 为pass ,0为fail2 .真实测量结果将被代替3 .真实的测量值会被report out4 . 可用于所有元件测试5 .它独立用于switch 及jumper测试时,若测试值是开路后或短路,pf可用于确定或忽略其真实测量电阻6 .允许 Execute / Ignore 标志.pm parelell model1 .pm选项选择并联模式测试电容,电感2 . HP IPG自动选择pm测试电容, sm (serial modle串联模式) 测试电感3 .有时你可使用pm选项去测试大电感,以提高其测试精确度re reference element ( numeric expression )1 . 用于选择MOA反馈回路的反馈参考电阻2 .可用于所有元件测试参考电阻变量值对应表如下:option resistor value(ohm)re1 10re2 100re3 1000re4 10kre5 100kre6 1000k ( 1M )sa sense A1. 这个选项指引系统使用A bus检测及控制信号源电压正确应用于测试2. Sense A连接于S bus,关于sense的详细资料可在 analog 测试的第二章查阅3. 用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switchdiode , zezer测试4. A bus 必须与en同时使用5. Sa 用于测试diode , zezer时可不用同时使用en.6. 允许 Execute / Ignore 标志.sb sense B1. 这个选项指引系统使用B bus检测及控制信号源电压正确应用于测试2. Sense B连接于I bus3. 用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switchdiode , zezer测试4. B bus must be included in the connect statement5. 允许 Execute / Ignore 标志.sl sense L1. 这个选项指引系统使用L bus检测及控制隔离点正确应用于测试2. SL 能设置在testhead 内,从而无需在 Fixture内增加布线.3. 用于:capacitor, fuse ,inductor ,jumper, nfetr, pfetr , potentiometer , resistor , switchdiode , zezer测试4. 允许 Execute / Ignore 标志.sm serial model1 ,sm选项选择串联模式测试电感2 .HP IPG自动选择pm测试电容, sm (serial modle串联模式) 测试电感3 .有时你可使用pm选项去测试大电感,以提高其测试精确度wa wait ( numeric expression )1 .指定时间间隔,以秒为单位.2. 用于从激励至告知读取测试元件值的一个往复周期3 .时间数值可在0~9.999秒范围内设置4 .在测试有抗性元件时用于稳定信号源5 .wait是请求(invoked)于测量前及测量后.6 .wa 是信号源响应等待,dwa是检测器响应等待(detector wait 07 .可用于所有元件测试wb wide band1 .用于选择MOA的特性参数,wb=宽频段,加它有利于高频特性元件的测试2 .可用于所有元件测试3 .允许 Execute / Ignore 标志.。
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- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
一測試參數:
1.程式命名方式為80料號-PCBA(交fixture時0)
2.自動存檔功能設定為10片
3.重測次數(RETRY)設定為1次
4.First pin為1,Last pin需大于fixture探針最後編號
5.OPS檔設定原則為2(15 55 85),但可視情況調整
6.測試不良報表列印最大行數設為20,列印方式為手動列印
二測試資料編輯:
1.程式需對照BOM表確認是否有漏(錯)KEY或SKIP錯誤現象
2.確認不良零件區塊(橫行/縱行)之設定是否与點圖相符
3.B oard View顯示零件面并調整與M/B方向一致
4.零件SKIP時，除Test jet測試步驟外,其于Parts-N需注明原因,如/NC;/NP;C;/R等
5.所有零件按照J→R→C→L→F→D→Q→X→U排序
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6.J UMP:
A.開放排針反向測試Step,并將該步驟以*號表示
B.Jump帽Step,使用MODE1.DELAY50
C.將上述A.B.項之Step移至編輯最前面
D.JUMP測試STEP僅保留需要之步驟(JUMP帽&反向測試STEP&每顆零件一個STEP),其佘步驟SKIP
7.電阻:
A.按照零件值排序
B.電阻0Ω使用JUMP方式測試
C.電阻誤差範圍+10%,-10%,如測不穩可以放到30%
D.電阻值≧1KΩ時,需使用MODE1
E.電阻值≧1MΩ時,需使用MODE2誤差範圍+30%,-30%
F.熱敏電阻,需使用MODE1,誤差範圍+50%,-50%
G.蜂鳴器(BUZZER)以阻抗方式測試
8.電容:
A.按照零件值排序
B.電容值<33PF時,全部SKIP,並注明/BP(example:c315/BP)
C.容值≦2000PF時,需將此VCC或GND至於H-P,且需用MODE2,不加G-P
D.40µF(含)以上之電解電容,使用MODE8測試
E.電容1µF与0.1µF誤差範圍+50%,-50%
F.電容1µF与0.1µF有並聯情況時,誤差範圍+50%,-50%
G.電容1µF与0.01µF之間的其他電容,誤差範圍+50%,-50%
H.電解電容(CE)若有並聯(CE),誤差範圍+30%,-10%,開放一個Step即可
I.電解電容(CE)若無並聯(CE),誤差範圍+30%,-30%
J.電解電容(CE)若有大小零件孔,相同測試腳位僅key in一個Step即可
K.其他電容誤差範圍+50%,-50%
L.小電容並聯大電容時,小電容測試步驟要Skip
9.盪震器:
A.盪震器要SKIP
10.電感:
A.DIP零件之電感使用JUMP方式,MODE1,DLY20,注明/DIP字樣
B.SMT零件之電感使用JUMP方式,MODE0,DLY20
11.二极体:
A.DIP零件之二极体,誤差範圍+30%,-30%,MODE1,DLY20,注明/DIP字樣
B.SMT零件之二极体, 誤差範圍+30%,-30%,MODE1,DLY20
C.DIP及SMT之二极体需加一反向STEP,標準值及實際值設1.5V,誤差範圍-1,-50%,MODE1
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D.ZD加測反向崩潰電壓(約3.9V以上),誤差範圍+50%,-30%,MODE1,DLY20
E.LED需用2.1V測試,誤差範圍+20%,-30%,DLY設為50,MODE設為1
12.電晶体:
A.一般電晶体,使用二极体方式量測(0.7V),MODE1,DLY10誤差範圍+30%,-30%
B.N MOS-FET電壓測試Step1(S→D)Act/Std=0.7v,+30%-30%DLY=50以上MODE=1
C.N MOS-FET電壓測試Step2(S→D)Act=5V, Std=0.3V, +30%,-1%DLY=20MODE=4 G=G
D.N MOS-FET電壓測試Step2(S→D)若並聯Diode時,誤差改為+15% -1% ,其餘不變
E.P MOS-FET電壓測試Step1(D→S) Act/Std=0.7v,+30%-30%DLY=50以上MODE=1
F.PMOS-FET電壓測試Step2(D→S) Act=5V, Std=0.3V, +30%,-1%DLY=20MODE=3 G=G
G.P MOS-FET電壓測試Step2(D→S) 若並聯Diode時,誤差改為+15% -1% ,其餘不變
H.A LL FET于STEP后加入N型,,<Example:Q12_2_3(N)>
I.大(中)型MOSFET加入電容Step G-S腳(1-2),標準值設定為3000PF,用MODE2測試,誤差範圍-1 -30%,Repeat D
13.IC Clamping Diode
A.S MT IC Clamping Diode TYPE=2,誤差範圍+30% -30%,需Learning VCC&GND
B.DIP BIOS&DIP IC之Clamping Diode測試步驟全部開放,誤差範圍+30% -30%
C.IC晶片上方有散熱片,僅Learning Clamping Diode,不需測試Test jet
D.I C測試之電壓腳位优先選擇順序+3V→+5V→+12V
14.IC OPEN(Test Jet)
A.S MT IC Clamping Diode TYPE=2,誤差範圍+80% -40%,學習量測下限15Ff
B.其餘Test Jet誤差範圍+80% -40%,學習量測下限15Ff
15.關於NC電阻的測試步驟,設100K,上限-1,下限10%,抓缺件
16.關於NP阻值小于50的電阻(一端聯入IC造成NP),用二极管方式測缺件,設0.7V,H_PIN設1,上下限30%
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