超声波探头
国际超声波探头编号规则
国际超声波探头编号规则
国际超声波探头的编号规则是根据超声波探头的类型、频率、
应用和制造商等因素进行编制的。
一般来说，超声波探头的编号由
一系列字母和数字组成，每个部分都代表着特定的信息。
首先，超声波探头的类型通常由字母表示，比如线阵探头（L），扇形阵列探头（P），凸阵列探头（C）等。
接着是频率信息，通常
由数字表示，比如2代表2MHz，5代表5MHz等。
然后是应用领域的
标识，比如心脏超声（C），肝脏超声（L）等。
最后是制造商的信息，通常由一到两个字母表示。
举例来说，一个超声波探头的编号可能是PL12C，其中P代表
扇形阵列探头，L2代表2MHz的频率，C代表心脏超声，最后的制造
商信息可以是另外的字母或者数字。
除了以上的基本规则外，不同国家或地区的超声波探头编号规
则可能会有所不同，因此在具体使用时需要根据当地的标准和规定
进行编制和识别。
总的来说，国际超声波探头的编号规则是一种用来标识和识别
超声波探头特性的编码系统，通过编号可以快速准确地了解探头的类型、频率、应用和制造商等信息。
如何选择超声波探伤仪探头
用于发射和接收表面波的探头。表面波是沿工件表面传播的波，幅值随表面下的深度迅速减少，传播速度是横波的0.9倍，质点的振动轨迹为椭圆。表面波探头在被检工件的表面和近表面产生表面波。型号中列明的角度为有机玻璃斜块的倾斜角(入射角)。
5、超声波探伤仪可拆式斜探头
斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。常用的规格2.5P20的探头芯、不同K值的斜块(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他规格的可拆式斜探头。
1、超声波探伤仪直探头
进行垂直探伤用的单晶片探头，主要用于纵波探伤。直探头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成，头接触面为可更换的软膜，用于检测表面粗糙的工件。
2、超声波探伤仪斜探头
进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探头的声束与探头表面倾斜，因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。
如何选择超声波探伤仪探头？下面给出最常用的超声波斜探头的选择方案参考：
1.斜探头K值与角度的对应关系
NO.
K值
对应角度
1
K1
对应45度
2
K1.5
对应56.3度
3
K2
对应63.4度
4
K2.5
对应68.2度
5
K3
对应71.6度
2.焊缝探伤超声波探头的选择方案参考
编号
被测工件厚度
选择探头和斜率
选择探头和斜率
14—5mm6×来自K3不锈钢：1.25MHz
铸铁：0.5—2.5MHz
普通钢：5MHz
2
6—8mm
超声波检测探头
横波（表面波）
表面波
近场距离
扩散角
–
–
纵向
横向
双晶直探头
• 结构
–
–
–
–
–
–
压电晶片
背衬
延时楔块
隔声层
外壳
接头
• 特征
– 纵波垂直入射，直接接触，液膜耦合，
表面盲区小
• 主要参数
– 频率
– 晶片尺寸（矩形）
– 聚焦深度
接触式双晶直探头
• 应用特点
– 延时块使检测信号避开
了发射信号的串扰
– 延时缩短工件内近场区
– 收发分离和隔声层结构
隔离界面反射波，避免
盲区阻塞
– 声场菱形聚焦不均匀
– 窄晶片双晶探头改善距
离波幅特性
接触式聚焦探头
• 弧面反射、透镜、曲面晶
片
• 结构
– 压电晶片
– 背衬
– 透镜楔块
– 外壳
– 接头和电缆
水浸平探头
• 结构
–
–
–
–
–
压电晶片
前衬
背衬
外壳
水密接头或直接电缆
•
•
•
–
第二临界角
•
•
•
•
小于第二临界角有折射声波，大于第二临界角，没有折射声波
有机玻璃和钢的第二临界角57.8°
水和钢的第二临界角27.5 °
随入射角增大波型变化
–
–
–
–
•
•
小于第一临界角有纵波、横波产生，大于第一临界角没有纵波
有机玻璃和钢的第一临界角27.6°，
水和钢的第一临界角14.7 °
医用超声探头的种类
医用超声探头的种类
医用超声探头是医学影像诊断中常用的一种设备，它能够通过
超声波来成像人体内部的器官和组织，帮助医生进行诊断和治疗。
根据不同的应用和需要，医用超声探头有多种不同的种类，每种都
有特定的用途和优势。
1. 线阵探头（Linear array transducer），线阵探头适用于
浅表部位的超声检查，如甲状腺、乳腺、肾脏等。
它具有高分辨率
和较宽的成像范围，适合于观察细小结构和进行定位测量。
2. 凸阵探头（Convex array transducer），凸阵探头适用于
深部器官的超声检查，如心脏、肝脏、膀胱等。
它具有较大的成像
深度和较宽的扫描范围，适合于观察大范围的解剖结构和进行动态
观察。
3. 阵列探头（Phased array transducer），阵列探头适用于
需要快速成像和动态观察的情况，如心脏超声检查和血管超声检查。
它具有快速成像和多普勒功能，可以观察心脏和血管的运动和血流
情况。
4. 便携式探头（Portable transducer），便携式探头适用于临床急救和移动医疗的场合，如急诊科、卫生院和野外医疗。
它具有小巧轻便、易于携带和操作的特点，可以在不同场合进行快速的超声检查和评估。
以上是一些常见的医用超声探头种类，它们在临床诊断和治疗中发挥着重要的作用。
随着科技的不断进步，医用超声探头的种类和功能还在不断地发展和完善，为医学影像诊断提供了更多的选择和可能。
超声波探头的使用方法
超声波探头的使用方法
超声波探头是用于无损检测和测量物体内部结构的一种检测工具，广泛应用于医疗、工业、建筑等领域。
超声波探头使用方法主要包括以下几个步骤：
1. 探头选型：根据需要测量物体的特点和形状选择合适的探头，
一般分为直探、斜探、阵列等类型。
2. 探头连接：将探头连接到超声波检测仪上，确保连接牢固，避
免因松动而影响检测结果。
3. 模式选择：根据需要选择探头的工作模式，一般有单元、双元、相控阵等不同模式可供选择。
4. 校准操作：进行校准操作，保证探头的灵敏度、扫描面积和工
作频率等参数符合需求，以确保检测结果的准确性。
5. 探头安放：根据需要将探头安放在被测物体表面，探头与被测
物体表面应尽量平行，以获得最佳检测效果。
6. 检测操作：启动超声波检测仪，按照标准流程进行检测操作，
将检测结果记录在检测报告中。
总之，探头选型、连接、模式选择、校准、安放和检测操作都是
超声波探头使用过程中必不可少的。
在使用过程中，还应注意保持探
头的清洁和整洁，避免探头的碰撞和振动，以延长探头的使用寿命。
同时，使用超声波探头的人员需熟练掌握使用方法，了解超声波检测技术的基本原理和中心频率的选择，以提高检测的准确性和效率。
如何选择超声波探伤仪探头
如何选择超声波探伤仪探头超声波探伤仪探头的主要作用：一是将返回来的声波转换成电脉冲；二是控制超声波的传播方向和能量集中的程度,当改变探头入射角或改变超声波的扩散角时,可使声波的主要能量按不同的角度射入介质内部或改变声波的指向性,提高分辨率；三是实现波形转换；四是控制工作频率,适用于不同的工作条件。
超声波探伤仪探头种类繁多,日常使用中常见的探头种类有以下几种：1、超声波探伤仪直探头进行垂直探伤用的单晶片探头,主要用于纵波探伤。
直探头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成,头接触面为可更换的软膜,用于检测表面粗糙的工件。
2、超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头,主要用于横波探伤。
斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成,斜探头的声束与探头表面倾斜,因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。
3、超声波探伤仪小径管探头单晶微型横波斜探头,用于小直径薄壁管焊接接头的检验。
检测标准参照电力行业标准DL/T8202002管道焊接接头超声波检验技术规程,适合检测管径≥32mm、小于等于159mm,壁厚≥4mm、小于14mm的小直径薄壁管；也可适用于其他行业类似管道的检测。
探头外形尺寸小,前沿距离≤5mm,始脉冲占宽≤相当于钢中深度 ,分辨力大于等于20dB。
根据被检测管道外径的不同,检测面被加工成对应管径的弧度。
4、超声波探伤仪表面波探头用于发射和接收表面波的探头。
表面波是沿工件表面传播的波,幅值随表面下的深度迅速减少,传播速度是横波的倍,质点的振动轨迹为椭圆。
表面波探头在被检工件的表面和近表面产生表面波。
型号中列明的角度为有机玻璃斜块的倾斜角入射角。
5、超声波探伤仪可拆式斜探头斜探头的一种特殊类型,将斜探头分成斜块、探头芯两个部分,使用时将两者组合起来。
常用的规格的探头芯、不同K值的斜块、、、、等等。
接受定制其他规格的可拆式斜探头。
6、超声波非金属检测用探头用于检测非金属材料,如混凝土、木材、岩石等。
如何选择超声波探伤仪探头
用于发射和接收表面波的探头。表面波是沿工件表面传播的波，幅值随表面下的深度迅速减少，传播速度是横波的0.9倍，质点的振动轨迹为椭圆。表面波探头在被检工件的表面和近表面产生表面波。型号中列明的角度为有机玻璃斜块的倾斜角(入射角)。
5、超声波探伤仪可拆式斜探头
斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。常用的规格2.5P20的探头芯、不同K值的斜块(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他规格的可拆式斜探头。
如何选择超声波探伤仪探头？下面给出最常用的超声波斜探头的选择方案参考：
1.斜探头K值与角度的对应关系
NO.
K值
对应角度
1
K1
对应45度
2
K1.5
对应56.3度
3
K2
对应63.4度
4
K2.5
对应68.2度
5
K3
对应71.6度
2.焊缝探伤超声波探头的选择方案参考
编号
被测工件厚度
选择探头和斜率
选择探头和斜率
1、超声波探伤仪直探头
进行垂直探伤用的单晶片探头，主要用于纵波探伤。直探头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成，头接触面为可更换的软膜，用于检测表面粗糙的工件。
2、超声波探伤仪斜探头
进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探头的声束与探头表面倾斜，因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。
8、超声波水浸式探头
用于半自动或者自动化探伤系统中。当探头发射的声束轴线垂直于检测面时，纵波直声束扫查工件；调节探头声束轴线与检测面成一定的夹角，声束在水和工件这两种介质的界面折射，可在工件中产生倾斜的横波声束来扫查工件。将探头晶片前面的有机玻璃或者固化的环氧树脂加工成一定弧度(球面或者圆柱面)，可得到点聚焦或者线聚焦的水浸式探头。
超声探头的种类及常用手法
超声探头的种类及常用手法超声探头是超声医学成像系统中的重要组成部分。
它用于产生超声波，并接收回波信号，从而获得体内组织的图像信息。
根据不同的需求，超声探头可以有多种不同的种类和手法。
1.线性探头：线性探头也称为高频探头，它适用于对浅表组织进行成像，如甲状腺、乳房、软组织、血管等。
线性探头的特点是成像分辨率高，图像清晰，适合于进行局部的高分辨率观察。
2.凸面探头：凸面探头也称为波形探头，适用于对深部组织进行成像，如心脏、肝脏、膈肌等。
凸面探头的特点是成像深度较深，适合于进行心脏、腹部等深度组织的全貌观察。
3.阵列探头：阵列探头是一种特殊的探头，它由多个发射元件和接收元件组成，可以实现多线梯度指向和多线扫描，从而提高了成像的速度和分辨率。
阵列探头适用于需要高速成像的场合，如动态观察心脏运动等。
4.直线探头：直线探头也称为带状探头，它的发射和接收元件按照一条直线排列，适用于需要对长条状器官进行成像的场合，如血管、肌腱、尿路等。
直线探头的特点是成像范围宽，适合于连续扫描。
5.内窥镜探头：内窥镜探头是一种特殊的探头，具有较小的尺寸，并可以通过体腔的自然孔道进入体内进行成像，如胃镜、膀胱镜、宫腔镜等。
内窥镜探头适用于需要观察体腔内脏器官的情况，可以实时观察，并对病灶进行活检。
在超声探头的使用方面，根据不同的应用需要，还可以有以下常用手法：1.B超成像：B超成像是最常见的超声成像手法，通过扫描探头在不同位置的回波信号，构建出人体内部的二维图像。
B超成像广泛应用于妇产科、泌尿科、乳腺科等领域。
2.彩色多普勒成像：彩色多普勒成像是在B超成像的基础上加入了彩色编码，用来表示流速和流向。
它可以显示血流的速度和方向，广泛应用于心脏、血管和肝脏等器官的检查。
3.市场成像：市场成像是一种通过扫描探头的移动和旋转，实现对器官的多个切面进行成像的手法。
它可以提供更全面的观察，广泛应用于心脏、肝脏和肾脏等器官的检查。
4.三维/四维超声：三维/四维超声是一种可以提供动态立体图像的超声成像手法。
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第三章探伤仪、探头和试块3.1第一节：探伤仪3.2 探头一、压电效应与压电材料某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力（压缩力和拉伸力）作用下产生异种电荷向正反两面集中而在晶体内产生电场，这种效应称为正压电效应。
相反，当这些单晶体和多晶体陶瓷材料处于交变电场中时，产生压缩或拉伸的应力和应变，这种效应称为负压电效应，如图所示。
负压电效应产生超声波，正压电效应接收超声波并转换成电信号。
常用的压电单晶有石英又称二氧化硅（SiO2）、硫酸锂（LiS04H20）、碘酸锂LiIO3）、铌酸锂（LiNbO3）等，除石英外，其余几种人工培养的单晶制造工艺复杂、成本高。
常用的压电陶瓷有钛酸钡（BaTi03）、锆钛酸铅（PZT）、钛酸铅（PbTiO3)、偏铌酸铅（P bNb2O4）等。
二、探头的编号方法三、探头的基本结构压电超声探头的种类繁多，用途各异，但它们的基本结构有共同之处，如图所示。
它们一般均由晶片、阻尼块、保护膜（对斜探头来说是有机玻璃透声楔）组成。
此外，还必须有与仪器相连接的高频电缆插件、支架、外壳等。
四、直探头（一）直探头的保护膜1.压电陶瓷晶片通常均由保护膜来保护晶片不与工件直接接触以免磨损。
常用保护膜有硬性和软性两类。
氧化铝（刚玉）、陶瓷片及某些金属都属于硬性保护膜，它们适用于工件表面光洁度较高、且平整的情况。
用于粗糙表面时声能损耗达20～30dB。
2.软性保护膜有聚胺酯软性塑料等，用于表面光洁度不高或有一定曲率的表面时，可改善声耦合，提高声能传递效率，且探伤结果的重复性较好，磨损后易于更换，它对声能的损耗达6～7dB。
3.保护膜材料应耐磨、衰减小、厚度适当。
为有利于阻抗匹配，其声阻抗Zm应满足一定要求。
4.试验表明：所有固体保护膜对发射声波都会产生一定的畸变，使分辨率变差、灵敏度降低，其中硬保护膜比软保护膜更为严重。
因此，应根据实际使用需要选用探头及其保护膜。
与陶瓷晶片相比，石英晶片不易磨损，故所有石英晶片探头都不加保护膜。
（二）直探头的吸收块为提高晶片发射效率，其厚度均应保证晶片在共振状态下工作，但共振周期过长或晶片背面的振动干扰都会导致脉冲变宽、盲区增大。
为此，在晶片背面充填吸收这类噪声能量的阻尼材料，使干扰声能迅速耗散，降低探头本身的杂乱的信号。
目前，常用的阻尼材料为环氧树脂和钨粉。
五、斜探头（一）结构与类型（二）透声楔斜探头都习惯于用有机玻璃作斜楔，以形成一个所需的声波入射角，并达到波型转换的目的。
一发一收型分割式双直探头和双斜探头也都以有机玻璃作为透声楔，这是因为有机玻璃声学性能良好、易加工成形，但它的声速随温度的变化有所改变又易磨损，所以对探头的角度应经常测试和修正。
水浸聚焦探头常以环氧树脂等材料作为声透镜材料。
六、晶片的厚度压电晶片的振动频率f即探头的工作频率，它主要取决于晶片的厚度T和超声波在晶片材料中的声速。
晶片的共振频率（即基频）是其厚度的函数。
可以证明，晶片厚度T为其传播波长一半时即产生共振，此时，在晶片厚度方向的两个面得到最大振幅，晶片中心为共振的驻点。
七、晶片的厚度通常把晶片材料的频率f和厚度T的乘积称为频率常数Nt，若T=λ/2，则Nt = f T = C/2式中：C为晶片材料中的纵波声速。
常用晶片材料如PZT的Nt =1800～2000m/s，石英晶片的Nt＝285Om/s，钛酸钡晶片的Nt＝2520m/s，钛酸铅晶片的Nt=2120m/s。
由式（2.65）可知，频率越高，晶片越薄，制作越困难，且Nt小的晶片材料不宜用于制作高频探头。
八特殊探头（一）水浸聚焦探头（二）可变角探头（三）充水探头（四）双晶探头：a.双晶纵波探头b.双晶横波探头（纵波全反射)（五）表面波探头3.3 第四节：试块一、试块的用途1.测试或校验仪器和探头的性能；2.确定探测灵敏度和缺陷大小；3.调整探测距离和确定缺陷位置；4.测定材料的某些声学特性。
二、试块的分类（主要分二类）1.标准试块2.对比试块（参考试块）3.其他叫法：校验试块、灵敏度试块；平底孔试块、横孔试块、槽口试块；锻件试块、焊缝试块等。
三、试块简介1.荷兰试块1.1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会通过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
2.类似的有：中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）1.适用于现场检验（体积小、轻、方便）；2.用途较IIW少3.CSK-IA试块：中国的改型试块三、试块简介1.荷兰试块1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会通过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
类似的有：中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）适用于现场检验（体积小、轻、方便）；用途较IIW少3.CSK-IA试块：中国的改型试块CSK-IA试块的主要用途:①R50、R100圆弧：-斜探头入射点、前沿测定；-扫描线比例校准；②上下表面刻度：斜探头K值校准；③φ50、φ44、φ40孔：斜探头分辨率测定；④89、91、100mm 台阶：直探头分辨率测定；⑤φ50孔：盲区测定。
4.CS-1和CS-21. 1986年通过，CS-1全套26块，CS-2全套66块；2. 要求：（1）D/L比不能太小，否则产生侧壁效应；（2）平底孔应足以分辨；（3）材质衰减要小。
注：铸钢件试块与此形状相同、尺寸不同5.CSK-IIA / CSK-IIIA6.RB-1、RB-2、RB-37. 钢板试块8. 半圆试块9. 管子试块3.4 第四节：组合性能测试（检测系统的校准）一、水平线性1.定义：仪器水平线性是示波屏上时基线的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多次底波等距离的程度。
水平线性对缺陷定位有较大的影响。
水平线性用水平线性误差表示。
2.测试步骤：（1）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上；（2）通过[微调][水平][脉冲位移]等按钮，使屏上出现5次底波B1--B5，当底波B1和B5的幅度分别为50％满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度2.0和10.0。
B1和B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整。
a2、a3、a4分别为B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差。
（3）水平线性误差计算：ZBY230--84规定：仪器的水平线性误差≤2%例：用IIW或CSK-1A试块测仪器的水平线性，现测得B1对准2.0，B5对准10.0时，B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差分别为0.5、0.6、0.8;求其水平误差为多少？解：0.8δ=------×100%=1%0.8×100二、垂直线性1.定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度。
它取决于仪器放大器的性能。
垂直线性用垂直线性误差表示。
垂直线性影响缺陷的检出和定量。
2.测试步骤：（1）[抑制]至零，[衰减器]保留30dB衰减余量；（2）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上，????? 恒定压力压住；（3）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达到100%幅度，作为“0”dB;（4）固定[增益]和其他旋钮，调衰减器，每次衰减2dB,并记下相应的波高H填入表中，直到底波消失；上表中：理想相对波高是△i=2、4、6dB……时的波高比（如△i=6dB时的理想相对波高是50.1%）三、计算垂直线性误差D=（|d1|+|d2| ）式中：d1--实测值与理想值的最大正偏差d2--实测值与理想值的最大负偏差ZBY230--84规定：仪器的垂直线性误差D≤8%三.探头灵敏度1.调节灵敏度的几个旋钮(1）[发射强度] 调节发射脉冲的输出幅度，发射强度大灵敏度高，但分辨率低；(2）[增益] 调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；(3）[抑制] 限制检波后信号的输出幅度，主要用于抑制杂波、提高信噪比。
使用[抑制]会使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小。
[抑制]增加，灵敏度降低，尽量不要用[抑制]；（4）[衰减器] 电路内专用器件，用于定量地调节示波屏上的波高，它是步进旋钮。
分：[粗调][细调]二档，[粗调]步长10-20dB, [细调]步长1-2dB。
CTS-6型总衰减量50db;CT S-22型则为80dB;调节灵敏度的几个旋钮《ZB Y230--84? A型脉冲反射超声探伤通用技术条件》中规定：总衰减量不小于60dB;衰减误差：1dB / 12dB.四、直探头+ 仪器的灵敏度余量测试1.探头对准200 / Φ2平底孔；2.[抑制]：0；[发射强度] [增益]：最大；3调[衰减器]使Φ2孔最高回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;4提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;5.灵敏度余量N=N1-N2（dB）;直探头的灵敏度余量要求≥30dB五、斜探头+ 仪器的灵敏度余量测试1.探头对准IIW试块R100园弧面；2.[抑制]：0；[发射强度] [增益]：最大；3.调[衰减器]使R100回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;4.提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;5.灵敏度余量N=N1-N2（dB）;斜探头的灵敏度余量要求≥40dB七、探头盲区测定1 概念1.盲区是指从探测面到能够发现缺陷处的最小距离，即始脉冲宽度覆盖区的距离。
2.盲区与近场区的区别：盲区是始脉冲宽度与放大器引起的，而近场区是波的干涉引起的。
盲区内缺陷一概不能发现，而近场区内缺陷可以发现但很难定量。
2 测定方法方法（1）：1.先将直探头在灵敏度试块上用φ1平底孔调80%基准高。
2.将直探头放于盲区试块上，能独立显示φ1平底孔回波的最小深度为盲区。
方法（2）：1.用IIW试块估算2.将直探头放于IIW上方：能独立显示回波的，盲区≤5mm。
无独立回波的，盲区＞5mm。
3.将直探头放于IIW左侧：能独立显示回波的，盲区5～10mm。
无独立回波的，盲区＞10mm。
八探头分辨率一、概念：示波屏上区分相邻二缺陷的能力，能区分的相邻二缺陷的距离愈小，分辨率就愈高。
分辨率与仪器和探头的质量有关。
二、纵波直探头分辨率测定1.直探头放于IIW试块85、91、100处，[抑制]为0，左右移动探头，使屏上出现A、B、C波；2.若A、B、C不能分开，先将A、B等高，并取a1、b1值求：a1X=20 lg---- (dB)b1然后用[衰减器]使B、C等高，取相应的a2、b2值求：a2Y=20 lg---- (dB)b2X、Y值愈大分辨率愈高，一般X、Y ≥ 15dB九、横波斜探头分辨率测定1.如图,平行移动探头，使A、B等高则分辨率：h1X=20lg-------(dB)h21.平行移动探头，使B、C等高则分辨率：h3Y=20lg------ (dB)h4要求：X或Y≥ 6dB实测时，[衰减器]将h1衰减到h2即为X值，将h3衰减到h4即为Y值。