光电子能谱_近代仪器分析
仪器分析方法范文

仪器分析方法范文仪器分析方法是现代科学研究中的一种重要手段,通过对样品进行分析和检测,可以得出样品的成分、结构、性质和含量等信息。
仪器分析方法可分为物理方法、化学方法和生物方法等多种类型,下面将对一些常见的仪器分析方法进行介绍。
1.质谱分析法质谱分析法是一种通过对样品原子或分子进行离子化,利用其在电场中的质量-电荷比(m/z)差异进行分析的方法。
根据质谱仪器的不同,可分为质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、液相色谱-质谱联用仪等。
质谱分析法在有机化学、天然产物分析、环境监测等领域得到了广泛应用。
2.光谱分析法光谱分析法是通过测量样品在不同波长或波数的电磁辐射下与光的相互作用,获得样品的光谱信息,从而获得样品的结构、成分和性质等信息。
根据测量的参数不同,可分为紫外可见光谱、红外光谱、拉曼光谱、核磁共振光谱、质子共振波谱等。
3.色谱分析法色谱分析法是一种利用色谱柱将混合物中的组分进行分离的方法,再通过检测器对分离后的组分进行检测和分析。
根据移动相的不同,色谱分析法可分为气相色谱、液相色谱、超高效液相色谱等。
色谱分析法在生化分析、环境监测、食品安全等领域有着广泛应用。
4.电化学分析法电化学分析法是一种利用电化学原理对样品进行分析和测量的方法。
常用的电化学分析法包括电位滴定法、电位分析法、极谱法、电化学检测法等。
电化学分析法在电池材料研究、腐蚀分析、环境监测等方面有着重要应用。
5.能谱分析法能谱分析法是一种利用粒子或辐射与样品相互作用所产生的能谱信息进行分析的方法。
常用的能谱分析法包括γ射线能谱、中子活化分析、X 射线荧光光谱、电子能谱等。
能谱分析法在核工业、材料科学、生物医学等领域有着广泛应用。
6.其他仪器分析方法除了上述常见的仪器分析方法外,还有一些其他的仪器分析方法,如负电荷分析方法、光电子能谱、反射分光光度法、热分析法等。
总之,仪器分析方法是实现对样品进行定量和定性分析的一种重要手段。
不同的仪器分析方法在不同领域有着广泛应用,为科学研究和工业生产提供了强有力的支持。
现代仪器分析

一、名词解释第一章1、标准曲线: 标准系列的浓度(或含量) 和其相对应的响应信号测量值的关系曲线。
2、灵敏度: 物质单位浓度或单位质量的变化所引起响应信号值变化的程度,称为方法的灵敏度,用S表示。
3、检出限: 某一方法在给定的置信水平上可以检出被测物质的最小浓度或最小质量,称为这种方法对该物质的检出限。
4、相关系数: 用来表征被测物质浓度(或含量)x与其响应信号值y之间线性关系好坏程度的一个统计参数。
相关系数定义为:5、仪器分析:某些物理或物理化学性质的参数及其变化来获取物质的化学组成、成分含量及化学结构等信息的一类方法。
6、分析化学:包括化学分析和仪器分析两大部分。
化学分析是分析化学的基础。
仪器分析是分析化学的发展方向。
测量常量组分常用化学分析,而测量微量或痕量组分时,则常用仪器分析。
二、填空题1、仪器分析包括(检测技术)和(分离技术)。
2、监测技术包括(光学分析法)和(电化学分析法)分离技术包括(色谱分析)(电泳分析)。
3、色谱技术主要包括(气相色谱)、(液相色谱)(超临界流体)。
4、分析仪器的基本结构包括(信号发生器)(检测器)(信号处理器)(读出装置)四部分组成。
5、分析化学的第一阶段标志工具是(天平)。
6、仪器分析定量分析主要评价指标:(准确度)(精密度)(标准曲线)(灵敏度)(检出限)三、简答题1、仪器分析可以分为哪几类?发展方向是什么?分为:1、光分析法:凡是以电磁辐射为测量信号的分析方法均为光分析法。
可分为光谱法和非光谱法。
光谱法则是以光的吸收、发射和拉曼散射等作用而建立的光谱方法。
这类方法比较多,是主要的光分析方法。
非光谱法是指那些不以光的波长为特征的信号,仅通过测量电磁幅射的某些基本性质(反射,折射,干涉,衍射,偏振等)。
光分析法的分类:原子发射光谱,原子吸收光谱,紫外可见光谱,红外光谱,核磁谱,分子荧光光谱,原子荧光光谱2、电化学分析法:根据物质在溶液中的电化学性质建立的一类分析方法。
第八章光电子能谱

3. AES具有灵敏度高, 分析速度快的特点, 可用于: (1) 表面组成的定性和定量; (2) 表面元素的化学环境与化学键等
8.1 基本原理
1. 光电效应及其有关特点
光电子: 用短波长的光辐照分子, 光子有时会被分子吸收而导致电子 从分子中发射出来. 这种发射出来的电子就是光电子. 分子因失去电子而成为阳离子.
光电效应可以只吸收一个光子而发射出一个自由电子. 紫外和X射线光电子能谱就是研究这种单电子过程.
有时会涉及两个电子的变化, Auger能谱和X射线荧光光谱就是 研究这类过程.
在CO中, C 1s 的电离能为:295.8 eV 在CO2中, C 1s 的电离能为:297.8 eV 在CO中, O 1s 的电离能为:541.1 eV 在CO2中, O 1s 的电离能为:539.8 eV
O(-0.37)-C(+0.74)-O(-0.37) O(-0.17)-C(+0.17)
可见内层电子的电离能与化学 环境有关, 称为化学位移.
M h M e
其中 e- 为发射出的光电子.
按能量守恒关系, 有
E(M)
h
E(M
)
1 2
mev
2
从而光电子动能为:
1 2
mev2
h
(E(M
)
E(M) )
h
I
其中 I E(M ) E(M)
Байду номын сангаас
为分子的电离能
通过测定光电子的动能和它们的数目, 可得到光电子按其动能或电离能 的分布强度, 即光电子能谱图.
3. 电离过程和Koopmans定理
仪器分析的发展与应用

仪器分的发展与应用仪器分析的发展历程:经过19世纪的发展,到20世纪20~30年代,分析化学已基本成熟,它不再是各种分析方法的简单堆砌,已经从经验上升到了理论认识阶段,建立了分析化学的基本理论,如分析化学中的滴定曲线、滴定误差、指示剂的作用原理、沉淀的生成和溶解等基本理论。
20世纪40年代以后,一方面由于生产和科学技术发展的需要,另一方面由于物理学革命使人们的认识进一步深化,分析化学也发生了变革,从传统的化学分析发展为仪器分析。
现代仪器分析涉及的范围很广,其中常用的有光学分析法、电化学分析法和色谱法。
光学分析法是基于人们对物质光谱特性的认识而发展起来的一种分析测定方法。
17世纪牛顿将白光分成了光谱以后,科学家对光谱进行了研究。
19世纪前半期,人们已经把某一特征谱线和某种物质联系了起来,并提出了光谱定性分析的概念。
在此基础上,德国化学家本生和物理学家基尔霍夫合作设计并制造了第一台用于光谱分析的光谱仪,实现了从光谱学原理到光谱分析的过渡,产生了一种新的分析方法即光谱分析法。
19世纪后半期,人们又对光谱定量分析的可能性进行了探讨。
1874年,洛克厄通过大量实验得出结论,认为光谱定量分析只能依据光谱线的强弱。
到20世纪,用光电量度法测定了光谱线的强度,后来,光电倍增管被应用于光谱定量分析。
与此同时,利用物质的吸收光谱的吸收光度法,也得到了发展。
电化学分析法是利用物质的电化学性质发展起来的一种分析方法。
首先兴起的是电重量分析法。
美国化学家吉布斯把电化学反应应用于分析化学中,用电解法测定铜,后来这种方法被广泛应用于生产中。
电重量分析法存在着耗时长、易氧化等缺点,化学家在研究中把物质的电化学性质与容量分析法结合起来,发展了一种新方法,这就是电容量分析法。
电容量分析法中发展较早的是电位滴定法,其后,极谱分析法和库仑分析法也相继发展起来。
色谱分析法是基于色谱现象而发展起来的一种分析方法。
1906年,俄国植物学家茨维特认识到所谓色谱现象和分离方法有密切联系,而且对分离有重大意义。
XPS能谱在配位化学中的应用

XPS能谱在配位化学中的应用X射线光电子能谱(XPS)又称为化学分析用电子能谱法(ESCA),是近年来发展最快的仪器分析技术之一。
应用XPS研究配合物能直接了解中心离子内层电子状态及与之相结合的配体的电子状态和配位情况,可获得有关电荷转移的信息,对于中心离子的电子结构、配位键的形成及其性质等的研究,其结果很具有说服力。
现在,XPS已成为研究配合物的有力工具。
一、XPS研究配合物的原理利用XPS已成为研究配合物的原理是这样的:具有足够能量的入射光子和样品中的原子相互作用时,单个光子把它的全部能量转移给原子中某壳层上一个受束缚的电子,如果能量足以克服原子其余部分对此电子的束缚作用,电子即以一定的动能发射出去。
利用检测器测量发射出的光电子动能,可以得到样品中原子的电子结合能。
分子内原子的电子结合能反映了它们所处的化学环境。
在配合物中,影响结合能大小的因素包括:?配合物的立体结构,?配合物的电负性。
?中心离子的氧化态,?配体电荷的转移。
在配合物的XPS研究中,振激(shake-up)伴峰反映了中心离子的电子结构及配体和金属离子的相互作用,多重裂分(Multi-plet splitting)反映了中心离子的内层电子状态,对于研究配合物的结构特性极为有用。
二、利用XPS研究配合物的实例2.1 N,配体配合物的研究。
XPS谱峰显示HEDTA和NaHEDA分子中两个N都质子化了。
两者的422N1s谱峰很相似,在约402.4eV处有一单峰。
而在配合物NaEDTA,MgEDTA,42CaEDTA中其N原子未质子化,在400.2eV处有一个单峰。
所以在RN:和23+RN:H两种构型中,N1s谱峰约有2.2eV的化学位移,对于配合物MgHEDTA322的XPS谱峰分析,在399.2众和402.2eV处有两个强峰。
由此可知该分子中一个N 原子质子化了,另—个N原子末质子化。
XPS可用来区分配体在界内(inner-sphere)或界外(Out-sphere)。
X射线光电子能谱分析法

X射线光电子能谱分析法X射线光电子能谱分析法(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)是一种非常重要的表面分析技术,广泛应用于材料科学、化学、表面物理、生物技术和环境科学等领域。
本文将对X射线光电子能谱分析法进行详细介绍,包括基本原理、仪器分析系统和应用领域。
一、基本原理X射线光电子能谱分析法是利用X射线照射固体表面,使其产生光电子信号,并通过测量光电子的动能和数量,来确定样品表面的化学成分及其状态。
其主要基于光电效应(photoelectric effect)和X射线物理过程。
光电效应是指当光子入射到固体物质表面的时候,会将表面电子激发到导带或导带以上的能级上,并逃离固体形成受激电子。
这些逃逸的电子称为光电子,其动能与入射光子的能量有关。
X射线物理过程主要包括光子的透射、散射和与原子内电子的相互作用等。
当X射线入射到固体表面时,会发生漫反射和荧光特性,造成信号的背景噪声。
同时,X射线的能量足够高,可以与样品的内层电子发生作用,如光电子相对能谱(Photoelectron RELative Energies)和化学平移分量(Chemical Shift)等。
二、仪器分析系统X射线光电子能谱分析系统包括光源、样品室、分析仪和检测器等。
光源常用的是具有较窄X射线能谱线宽的准单色X射线源,如AlKα线或MgKα线。
样品室的真空度一般要达到10^-8Pa左右,以避免空气对样品的干扰。
分析仪是用于测量光电子动能和数量的关键部件,常见的配备有放大器、电子能谱仪和角度分辨收集器等。
放大器将来自检测器的信号放大,并进行滤波处理以滤除高频噪声。
电子能谱仪是用于测量光电子动能的装置,一般包括一个径向入射、自由运动的光电子束和一个动能分析系统。
角度分辨收集器则用于测量光电子的角度分布。
检测器用于测量光电子的数量,常见的有多种类型的二极管(如能量分辨二极管和多道分析器)和面向瞬态X射线源的时间分辨仪器。
光电子能谱

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2020/11/5
光电子能谱
• 引言
• 固体表面分析已发展为一种常用的仪器分析方法,
特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前
常用的表面分析方法有:
•X射线光电子能谱(XPS): 应用面广泛, 更适合于化学
•
领域的研究;
•俄歇电子能谱(AES): 主要用于物理方面的固体材料;
➢ 表面元素的定性分析 ➢ 表面元素的半定量分析 ➢ 表面元素的化学价态分析 ➢ 元素沿深度方向的分布分析 ➢ XPS伴峰分析技术
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光电子能谱
➢ 表面元素的定性分析
➢对于金属和半导体样品由于不会荷电,因此不用校准。但对 于绝缘样品,则必须进行校准。因为,当荷电较大时,会导致 结合能位置有较大的偏移,导致错误判断。 ➢激发出来的光电子依据激发轨道的名称进行标记。如从C原 子的1s轨道激发出来的光电子用C1s标记。 ➢由于X射线激发源的光子能量较高,可以同时激发出多个原 子轨道的光电子,因此在XPS谱图上会出现多组谱峰。 ➢由于相近原子序数的元素激发出的光电子的结合能有较大的 差异,因此相邻元素间的干扰作用很小。
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光电子能谱
催化剂表面的Co物种主要为Co2+,Co2+(2p3/2, 1/2) = 781.0 和 797.0 eV (B.E.) 的 Co物种可以分别指认为Co(OH)2 和/或Co-Mo-Ox (3 ≤ x ≤ 4)二元氧化物簇 的贡献;此外,780.0 和796.0 eV (B.E.)处的肩峰暗示催化剂表面存在少量
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光电子能谱
•方法原理-光电效应
XPS基于光电离作用,当一束光子辐照到样品表 面时,光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子 所吸收,使得该电子脱离原子核的束缚,以一定的动能 从原子内部发射出来,变成自由的光电子,而原子本身 则变成一个激发态的离子。 在光电离过程中,固体物质 的结合能可以用下面的方程表示:
现代仪器分析方法

物理方面:利用EPR对半导体掺杂的研究,可指导采用不同的掺杂技术获取不同性质的半导体。
EPR应用
◆质谱不属波谱范围
◆质谱图与电磁波的波长和分子内某种物理量 的改变无关
◆质谱是分子离子及碎片离子的质量与其相对 强度的谱, 谱图与分子结构有关
◆质谱法进样量少, 灵敏度高, 分析速度快
◆质谱是唯一可以给出分子量, 确定分子式的 方法, 而分子式的确定对化合物的结构鉴定是至关重要的。
分子中含有S, C数目=(9.80.8)/1.18
H数目=15432128=26
不合理 分子式为C8H10OS
例:化合物的质谱图如下,推导其分子式
1
设: 分子离子峰:72, 72–58=14 ?
2
73, 73–58 = 15 合理
物理量
核能级 电子能级 分子振动-转动能级 电子自旋能级 核自旋能级
分子体系吸收的电磁辐射的能量,总是等于体系的两个允许状态能级的能量差,可用ΔE表示。与ΔE相匹配的辐射能的波长或频率可表示如:
ΔE=E2-E1
电磁波与光谱的关系:
范围 光区 光谱类型 跃迁类型 10-4~10-2nm -ray MÖssbauer谱 核能级跃迁 10-2~1 nm X-ray X-光电子能谱 核内层电子能级 100~400nm 紫外光区 紫外光谱 核外层电子(价 400~800nm 可见光区 可见光谱 电子或非键电子) 2.5~25m 红外光区 红外光谱 分子振动-转动 (4000~400cm-1) ~1 cm 微波区 微波谱 分子转动能级 顺磁共振谱 电子自旋能级 (磁诱导) 50~500cm 射频区 核磁共振谱 核自旋能级 (600~60MHz, 无线电波区) (磁诱导)
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X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.2.2 特点
X射线光斑尺寸20μm~500 μm可调 单色化X射线,XPS分辨率达到 0.47eV 样品受到X射线伤害较少。
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.2.3 应用
特定区域分析 线分布或面分布
X射线光电子能谱(XPS)
对于某些材料,光电子在离开样品 表面的过程中,可能与表面的其它电子相
互作用而损失一定的能量,而在XPS低动能
侧出现一些伴峰,即能量损失峰。
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.5 定量分析
I= nfσψγAλ 式中:I— 峰强度 n — 每cm2的原子数 f — X射线通量(光子∕cm2· s) σ— 光电截面积(cm2) ψ — 与X射线和出射光电子的夹角有关因子 γ — 光电产额(光电子∕光子) A — 采样面积(cm2) T — 检测系数 λ — 光电子的平均自由程(cm)
检测限:0.1%
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.1 能量标定
Al K Cu 3p Au 4f7/2 Ag 3d5/2 Cu L3MM Cu 2p3/2 Ag M4NN 75.140.02 83.980.02 368.270.02 567.970.02 932.670.02 1128.790.02 Mg K 75.130.02 84.000.01 368.290.01 334.950.01 932.670.02 895.760.02
x hv
Al kα 1486eV Mg kα 1253eV
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪
Mg X射线 K1 K2 能量(eV) 1253.7 1253.4 相对强度 67.0 33.0 能量(eV) 1486.7 1486.3
Al 相对强度 67.0 33.0
K’
K3 K4 K5 K6 K
X射线光电子能谱(XPS)
3、原理
3.4、电子自由程 电子自由程为10nm,只有表面上的电子可 以溢出。
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪 4.1 结构
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪 4.2 X射线源
金属
e Al、 Mg
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.4.2 鬼峰(ghost peaks)
由于X射源的阳极可能不纯或被污染,
则产生的X射线不纯。因非阳极材料X射线
所激发出的光电子谱线被称为“鬼峰”。
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.4.3 能量损失峰
X射线光电子能谱(XPS)
1、历史
1969年,凯.西格班和HP合作生产出第一 台XPS仪器 1981年,凯.西格班因对XPS的贡献获诺 贝尔奖金
X射线光电子能谱(XPS)
2、XPS应用
测定材料表面组成 测定元素在化合物中的价态和结合态
X射线光电子能谱(XPS)
3、原理
3.1 光电效应
6、XPS分析
优点:非破坏性,不改变样品的状态
缺点:①分析深度有限
②角度旋转后,分析面积变化
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.3.3 角分辨XPS
e
e X-ray e
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.4 特异峰 6.4.1 卫星峰(satellite peaks) X射线一般不是单一的特征X射线, 而是还存在一些能量略高的小伴线, 所以导致XPS中,除K1,2所激发的主 谱外,还有一些小峰。
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 7.1.1 单色化原理
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展
反 射 面 法 线
n=2d sin
布拉格方程 (Bragg equation)
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展
一束可见光光以任意角度 投射到镜面上都可以产生反射,
7、XPS仪器新进展
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.3 成像 XPS 原理
用平行成像法进行成像XPS 分析 时,光电子进入多通道板,经过放 大后变成电子脉冲信号,后者打在 荧光板上产生光信号,并存储于相 应的像元中
X射线光电子能谱(XPS)
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.2 小束斑XPS 7.2.1 原理
Torroidal Crystal
Anode
Electron Gun
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展
X射线在样品上的光斑大小 与电子打在金属(阳极)上的 光斑大小近似。调节电子斑大 小即可调节X射线光斑大小。 聚焦电子束,调节电子斑尺 寸。
决定体系化学反应 原子上电子分为: 1、价电子;2、内层电子
1)内层电子的结合能在一个窄的范围内 基本是一个常数,具有原子的特征性质。 2)内层电子随着原子化学环境的不同, 仍有小的可以测量的变化。
X射线光电子能谱(XPS)
3、原理
3.3、电子结合能化学位移 电子结合能位移: 原子的一个内壳层电子的结 合能受核内电荷和核外电荷分布的的影响。任何引 起这些电荷分布发生变化的因素都有可能使原子内 壳层电子的结合能产生变化。 化学位移:由于原子处于不同的化学环境(如价 态变化或与电负性不同的原子结合等)发生改变, 所引起的结合能位移。 物理位移: 由于物理因素(热效应、表面电荷、 凝聚态的固态效应等)而引起的结合能的位移。
1258.2
1262.1 1263.1 1271.0 1274.2 1302.0
1.0
9.2 5.1 0.8 0.5 2.0
1492.3
1496.3 1498.2 1506.5 1510.1 1557.0
1.0
7.8 3.3 0.42 0.28 2.0
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪 4.3 UHV室-分析室 目的:① 清洁样品表面 ② 减少空气分子与电子的碰撞
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析
令 S =σψγAλ 为灵敏度因子
n1 I1 S1 =2d sin n2 I 2 S 2
Cx
nx I S x x ni Ii Si
i i
已知Si, 测得I
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.1 单色化XPS X射线不纯所造成的不利影响: 1、卫星峰 2、分辨率不高 3、谱图背底高
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.2 荷电效应
表面电子逸出后,绝缘样品 表面带正电荷,形成额外电场。 使XPS镨线结合能偏离正常位置, 称为荷电效应。
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.2.1 标定
标准样:Ag3d5/2 368.2eV Au4f7/2 84.0eV 污染炭: C1s 284.8eV
X射线光电子能谱(XPS)
5、特点 5.2 检测元素
Li(3)~U(92)
X射线光电子能谱(XPS)
4、X射线光电子能谱仪
X射线光电子能谱(XPS)
5、特点 5.3 测试厚度
金属 氧化物 有机物和聚合物
0.5-2nm 2-4nm 4-10nm
X射线光电子能谱(XPS)
5、特点 5.4 灵敏度
离子注入: Ar2p3/2 245.0eV
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.2.2 电荷补偿
① 低能电子枪
发射电子,将内标补偿到标准位置
② 电子离子枪
可同时发射电子和离子,将内标补偿到标
准位置
X射线光电子能谱(XPS)
6、XPS分析 6.3 深度分析
材料不同深度上元素及键合态的分析
6.3.1 离子溅射
光电子能谱
光电子能谱种类
X射线光电子能谱(XPS) X-ray Photoelectron Spectroscopy 紫外光电子能谱(UPS)
Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy
X射线光电子能谱(XPS)
1、历史
1877年,赫斯(heinrich Rudolf Hertz) 发现光电效应 1907年,P.D.Inne用半球磁场和感光板 记录到不同速度电子 1954年,瑞典乌普沙拉(Uppsala)大 学的凯.西格班(Kai M. Siegbahn)领导 的研究组得到第一张XPS谱图
电子摆脱原子核束缚 所需要的能量
hv Eb Ek
电子脱离样品后的动能
X射线光电子能谱(XPS)
3、原理
Eb电子结合能
原子中的电子变为真空中的静 止电子所需要的能量 特定原子、特定轨道上的电子 的结合能为定值
Eb=hv Ek
X射线光电子能谱(XPS)
3、原理
3.2 原子内层电子的稳定性
而原子面对X射线的反射并不是 任意的,只有当、、d三者之 间满足布拉格方程时才能发生 反射。
X射线光电子能谱(XPS)
7、XPS仪器新进展 7.1.2 单色化XPS优点
X射线的宽度从0.9eV降低到0.25eV, 单色化后的XPS的分辨率高出很多, 达到0.47eV。能得到更多化合态信 息 卫星峰、鬼峰消失 样品受到X射线伤害较少。
机械泵-扩散泵-分子泵-升华泵