XRF检测业务标准

A、ROHS 6代成分中一部分不能立即判定: A.Br时 T-Br 管理
B、试料是否精密: 分析试料特别小或不好分析时也有。
C、分析时 其他成分妨害: - 参照事列
11 、 Pb 分 析 时 他 元 素 的 影 响 [ Br ]
B.Cr时不好区分 Cr和Cr6+
Br 检出
Br 未检出
☆ 大量含有Br時Pb Back-ground上升有可能检出大量
(如 抹 的 多 的 话 会 向 试 料 室 内 部 蹦 出 的 可 能 所 以 抹 少 量.)
2. Err or 发 生 科 目Det ect or. Tem per atu re Err or : Coo lin g Det ect or Err or 与 Det ect or 关 联 的 所 有 错 误 在 无 装 备 异 误 将
使用 Tool : 符合用途的适当的工具及装备使用 -.小刀, Cutting机, 剪刀, Stripper, Nipper, Long-nose等专用Tool使用 -.不使用专用Tool使用其他用途的Tool及工具的话, 以污染的异物投入进去会下降分析的正确度. -.使用Tool在使用前及Sample变换时事前洗涤必须.
退料
19 、 基 本 遵 守 事 项
1）测 定前 纯银 试片 (Ag) 放在 测定 装备 上进 行 Calib ration . 2) Calib ration (CH1 110) 时图 表上 的 chan nel 1110 必须 确认.
20 、 重 点 管 理 事 项
1）检 查完 了后 程序 结束 时 Tube setup 窗的 “ Enabl e HV ”核 对撤 销， 程序 结束 后装 备电 源 2) 测 定时 Cam ber绝 对不 允许 Open . 3) 异 常时 及时 将试 验机 的电 源 OFF 后联 络担 当者
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Cl
2) 分 析 范 围 与 使 用 Fil ter （ 过 滤 器 ）
Element
分析 Line
分析范围
六. 透 视 范 围 的 深 度
Cd Cd Ka
22.92 ∼
Al
Pb Pb La
10.36 ∼
Hg Hg La
Cr Cr Ka
9.78 ∼ 10.18 5.22 ∼
Br Br Ka
11.7 ∼
XRF 检测业务标准
制定 决
裁
审核
承认
一 、 为了
检溴测联 二 苯XR.F 、 判定
元素名
Cd(镉） Pb(铅) Hg(汞) Cr(铬) Br(溴)
Cl(氯)
树脂类(树脂)
金属类
纸(标签/Tape类) 三 、 XRF检
测XR设F检 测有
50↓ 150↓
70↓
700↓
20↓
100↓
700↓ 100↓
700↓ 200↓
XR F 测 定 事 例
XRF 测试 Flo w
unique
开启测试仪及电脑
开启绿灯
点击
进入输入秘密
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进入程序主机预
点击设置X光管→勾选“打开
进行微
盖子
将银校正片
将银校正片放入样品室
盖子
关好样品室盖→点击
弹出微调完毕对话框
对照CCD相机放入测试
结果 显示
在此栏中输入样品相关信
测试
查询
点击此
图开始检
Cl Cl Ka (2.62
2.42 ∼ 2.82
七. CCD 相 机
相机观察目的
确认测试的试料位置 试料分析范围调整 保存试料测试位置图
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制定 决
审核
承认
决
XRF 检测业务标准
裁
8、 XRF 测 试 条 件
1.厚度 a.试料厚度最少 3 mm以上才行,
b.不足时用同样的 Sample层叠后测试.
情况下无需精密分析进行不合格处理.
c.对非常小的Chip部品或分离不可能的部品以部品状态实施XRF评价脱离Spec情况下从供给业体开始单一材质别度接收供
给后再实施XRF评价.
d.可 图章 的颜 色不 合格 时从 部品 业体 开始 以固 化的 材料 接收 后实 施 XRF 再评 价.
10 、 发 生 可 能 性 问 题
☆ Bi(铋 : 原子番号 83号)与 Pb(原子番号: 82号)
12 、 标 准 试 片 保 存
◆.防止混入湿气保管及放入水分吸收剂保管 ◆.浓度将不会被别的试片碰到分离保管, ◆.试片不会汇至，成为可能的水平状态保管, ◆.长期保管时防止变形情况发生要保管在冰箱内
13、处理 (标准/试料)
◇.标准试片使用时试片测定面不会被手或其他污染源接触到取汲, ◇.用手取汲取时使用塑料手套其他试片取汲时使用新手套. ◇.用测定面可能的一扁平面放在试料Holder上测定.
八 、 设 备 点 检
1. 设
试 料 室 内 部: 从 试 料 开 始 发 生 的 灰 尘 或 外 部 流 入 灰 尘, 因 使 用 者 的 手 产 生 的 指 纹
Cov er动 作 关 联 的 轴 上 摩 擦 音 严 重 的 情 况 下 将 有 力 的 钼 铜 抹 在 笔 中 间 少 量 进 行 反
3. XRF 基 本 范 围
1) 分 析 范 围 与 使 用 Fil ter （ 过 滤 器 ）
分析使用元素
使用Ka线分析元素范围
使用La(Lb1)线分析元素范围
Pb分析时使用 Filter
Cd 分析时使用 Filter
Hg, Br
Cr
Cl
11Na∼ 92U 11Na∼ 62Sm 63Eu∼ 92U Ni Filter Mo( or Zr) Filter Ni Filter 没有 Al
检测中画面成显曲线
分析完毕系统自动生
可选择打印及保存/或查看
XR F 部 品 测 试 位 置
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检
查
事
项
：
IC
、
FET
、
二பைடு நூலகம்
极
管
、
类
资
材
每
来
料
按
每
批
次*
料
号
区
分
进
行
XRF
测
试
（
检
查
电容/
电阻
每来
料按
每批
次*规
格区
分进
行XRF
测试
（检
查数
量：
1~5EA
）
PCB类 资材 每来 料按 每批 次*周 期区 分进 行XRF 测试 （检 查数 量： 1EA） 特 殊 情 况 ： 如 试 产 品 及 变 更 品 测 试 时 则 加 严 检 查 （ 检 查 数 量 ： 3~5 EA ）
线不 能通 过实 施分 析
=> 引 用 电 溶 液 有 机 容 器 有 扩 散 的 可 能 性 XRF 分 析 不 可 能
9、 判 定 基 准
a.对 不适 合品 对一 个的 Sam ple其 他部 位最 少3回 以上 测定 后标 记平 均值
b.单一材质状态是PVC材质的情况下XRF分析结果以当社管理基准-10%, +30%为止通过精密分析判定合/不,其以上的
(完全 地面 状态 下液 体氮 气填 满后 20 – 30分 后重 新 Initial ize Instru ment 实施)
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15 、 试 料 一 般 解 体 (电 器 电 子 部 品)
分析室环境: 常温常湿( 20~26℃, 60%以下)及洁净状态维持, 冲击切断禁止 -.给温度及湿度急速变化的话分析程度将会下降希望注意 -.试料采取台及周边常常维持清洁彻底性防止污染源
存在 ☆ 以装备顶点确认及业体提供成绩书判断
☆ 不存在Br的情况下判断为有铅存在.
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XRF 检测业务标准
Pb 分
制定 决 裁
审核
承认
Br 检出
☆ As(砷 )存在情况下As ka Peak与Pb La Peak在相同位置 台上因此可判断为Pb存在. ☆ Pb Peak 确认時 Pb Lb1的 Peak也一起存在的话
500↓ -
500↓
500↓ -
500↓
XRF测试体系
进货检查委托书
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制定 决
审核
承认
决
XRF 检测业务标准 裁
五 、 XRF (荧 光 X线 分 析 器)
A.没有事前通知非破坏；迅速分析(1分~5分) B.大幅度测试元素范围(Na~U全元素)
D.没有基准正确分析 E.使用基准能精密正量F.分析
2.长度 => 采取Sample时，试料长度最少3 mm以上才行.
3.试料面 => 试料尽可能平面部位里采取.
4.符合材质 => 单一材质(homogeneous material) 状态下分离或, 从供给社接到供给实施XRF评价.
5. 粉 碎/ 液 晶 试
=> 单 一 材 质 状 态 试 料 非 常 小 或 Pow der Typ e或 液 状 试 料 情 况 下, 用 别 度 试 料 容 器 Myl ar Fil 后X
17 、 单 一 材 质 构 成 部 品 测 定
1.PCB盘的金属部分与不包含金属的部分按位置别测定
2.小的试料试成为一瓶 的容量大小一致/面积 组合很多个后再测试
18 、 例 外 认 证 项 目 氮 气 成 分
Nokia Exemptions for use of Cl (NSL-3a ~ NSL-3g) 3a) 树脂类(PA, PAA, PPS, PBT)或金属类颜料primer包含的氮气成分 3b) 树脂类, 颜料, 衣类, 皮革, 金属表面染色处理用使用的着色剂氮气成分 3c) 墨水及装饰用锡纸内氮气成分 3d) PPS 树脂内 0.05% 以内含有的氮气成分 3e) 黏着用袋子内氧化钠锌(ZnCl2) 3f) 树脂割捆机内氮气成分(但 2009年 1月以后开发的割捆机在外) 3g) 金属表面处理用防腐剂或杀菌剂的残留氮气成分