射线检测计算题例题
无损检测习题集(含答案)_射线检测
射线检测习题集共： 803题其中：是非题301题选择题284题问答题118题计算题100题一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（）1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（）1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（）1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（）1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（）1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（）1.7 原于是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。
（）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（）1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（）1.10 在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。
（）1.11 以中子作为炮弹轰击原子核，可以使稳定的同位素变为不稳定的同位素。
（）1.12 不稳定的核素会白发蜕变，这种现象称为放射性衰变。
（）1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（）1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如了射线比X射线传播快。
（）1.15 X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（）1.16 X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（）1.17 当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（）1.18 7射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。
（）1.19 标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。
（）1.21 连续X射线的波长与管电压有关。
（）1.22 X射线的产生效率与管电压利靶材料原子序数成正比。
（）1.23 一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。
（）1.24 同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。
1.3射线RT计算题
1.3 RT 射线计算题1.已知某窄束单能射线穿过20mm 的钢后，强度减弱到原来的20%，求该射线在刚中的线衰减系？解：设射线穿过n 个半价层，则n ⎪⎭⎫ ⎝⎛21=0.2，n=2lg 5lg =2.32，21T =32.22=0.86cm 由21T =μ693.0得μ=210.693T =0.80-1cm 2.已知管片灯亮度为100 000cd/2m ，用来观察黑度为3.5的底片，问透过底片的光强是多少？解：由黑度D=LL 0lg 得 L=d L 10/0=100 000/5.310=31.6()2m cd 3.采用双壁双影法透照φ76×3的管子对接焊缝，已知X 射线机焦点尺寸为3mm ，透照焦距为600mm ，求胶片侧焊缝和射源侧焊缝的照相几何不清晰度1g U 和2g U 。
解：已知管子外径D=76mm ，焦点f d =3mm ，壁厚T=3mm ，焦距F=600mm 又：焊缝余高Δt 取2mm则胶片焊缝的几何不清晰度1g u =f d ×12L L =f d （t+Δt ）/【F —（t+Δt ）】=3×（3+2）/【600—（3+2）】=0.0252mm射源侧焊缝的几何不清晰度1g u =f d ×12L L =f d （0D +2Δt ）/【F —（0D +2Δt ）】=3×（76+2×2）/【600—（76+2×2）】==0.4615mm 4.用某一X 射线机透照某一试件，原透照电压为200KV ，管电流为5mA ，曝光时间为4min ，焦距为600mm ，现透照时管电压不变，而焦距变为900，如欲保持底片黑度不变，问如何选择管电流和时间？解：已知1i =5mA ，1t =4min ，1F =600mm ，2F =900mm 求22t 和i 由：1211t i F =2222t i F 22t i =11t i 2122F F =5×4×22600900=45mA 。
射线检测典型计算题
射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例： 60Co 中有几个质子、中子？（ 27 个质子、 33 个中子）二最短波长计算公式： hc 12.4••• 入 min =---- = -- （h、c、e 均为常数）Ue U单位：入min埃。
U:千伏。
例： U=200Kv,入 min=12.4 / 200= 0.062 埃三连续 X 射线的效率（转换效率）计算：公式：n =KUZK= 1.1--1.4 X 10-9v ; K= 1.1--1.4 X 10-6Kv例：Z=74; U=200 ;求n n =1.4 X-60 X 74 X 200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T' = 0.693 / 入例：60Co 已知：入=0.130/年，求 T' = 0.693 / 0.130 = 5.3 年或：已知： T' = 5.3年，求入=0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1 =（）n n= t / T ' No 2例: 60Co 半衰期为 5.3 年，新源放射强度 16居里， 10.6 年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x （1/2）n=16 x（1/4）=4（居里）五X 射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ 或入=0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev;的单位：埃。
或者：入=12.4 / E （与入min=12.4/U 有本质区别）这里：E的单位：Kev; 入的单位：埃。
例 1：波长为 0.25? 的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例 2：能量为 0.25 Mev 的光子波长是多少？入=0.0124 / 0.25 = 0.0496?例 3：管电压为 200Kv 时，连续 X 射线的最大能量是多少？入 min=12.4/U=12.4/200=0.062?E= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ 卩或卩=0.693/ Th 例1 :某材料衰减系数□为1.3/cm，求半值层 Th？Th=0.693/ =0.533cm.例 2: 穿过 12mm 厚钢板前后射线强度分别为 50mR/h 和 15mR/h, 求这种钢板的半值层和衰减系数？5015I=lo e- d15=50 e-卩 d d=12 In(15/50)=1 n(e- 卩 d )=- 卩 d=-12 卩卩=In (15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式： I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图 26例1：距源 1.5 米处射线强度为 40mR/ h, 求3. 5 处的射线强度？I2= I1 / ( f22/f12 )=40/ ( 3. 5 2/ 1.5 2 )=7.35 (mR/ h)例 2：焦距为 1 米处透照，得底片黑度为 2。
射线检测计算题例题
射线检测计算题例题(答案供参考)1.已知Co60半衰期为年，从10Ci 衰减到大概需要多少时间解：已知 A 0＝10Ci A ＝ T 1/2＝年求 T ＝先求所相当的半衰期数A A N 02= 2693.05.210ln 2ln ln 0===A A N 年6.103.5221=⨯==NT T答：大概需要年。
2.用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照某工件焊缝，当时焦距为800mm ，曝光时间为8min ，底片黑度为。
若在10个月后，用该γ射源透照同一工件焊缝，其他条件都不变，焦距改为600mm ，求此时所需曝光时间。
解：已知 F 1＝800mm F 2＝600mm t 1=8min T=10月≈300天求 t 2=首先求10个月所相当的半衰期数N ，47530021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝24＝16根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 721680060082212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间为72min 。
3.某一工件焊缝，采用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照，当时焦距为1600mm ，曝光时间为90min 。
经过5个月后，仍用该γ射源透照同一部位焊缝，其他条件都不变，只将焦距改为800mm ，保持原来的黑度。
求此时所需曝光时间。
解：已知 F 1＝1600mm F 2＝800mm t 1=90min T=5月≈150天求 t 2=首先求5个月所相当的半衰期数N ，27515021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝22＝4根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 9041600800902212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间仍然为90min 。
4.对一壁厚为14mm 容器纵缝进行射线照相，照相质量为AB 级，采用的曝光参数为管电压150kV ，管电流5mA ，焦距600mm ，曝光时间为3min ，得到底片黑度为。
射线检测考题汇编2
射线检测考题汇编201.焊缝射线照相的定位标记如何摆放？答：定位标记一般用铅箭头。
竖箭头垂直指向焊缝且与中心标记对齐，横箭头由小号指向大号且平行于焊缝。
02.源在外，胶片在内透照园筒形环焊缝时，如何计算照相灵敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是从底片上被检区观察到的透度计最细径（或孔径）。
X是射线在透度计位置穿透工件的厚度。
03.双壁双投影透照管子环焊缝时，如何计算照相灵敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是从底片上被检区观察到的透度计的最细径（或孔径）。
X=x'+δ，即上焊缝穿透厚度与下半部母材厚度之和。
04.双壁单投影透照园筒形环焊缝时，如何计算照相灵敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是从底片上被检区观察到的透度计的最细径（或孔径）。
X是下半部被检区透度计所在部位的焊缝厚度。
注：采用此法时，无法将透度计置于内环焊缝相应处。
在这种情况下要用一个短的管件将透度计置于下半部焊缝的内表面相应位置，作对比试验，确定出相应的ΔX值。
05.试述评片步骤？答：⑴按规定标准，检查底片标记是否符合标准要求。
⑵核对底片黑度和灵敏度是否达到标准要求。
⑶测定缺陷长度，点状缺陷的换算，按标准评定出底片级别，并做记录。
⑷发出报告等。
06.射线透照的四要素是什么?答:射线能量的选择,曝光量的选取,焦距的选用和散射线的预防07.选择焦距时应考虑哪几个因素?答:几何不清晰度,曝光量,工作效率,X射线机的连续使用时间08.什么是几何不清晰度？它的危害是什么？答：由焦点的几何尺寸所造成的影像边缘模糊区域（或半影），称为几何不清晰度，它降低底片的清晰度，从而降低射线检验灵敏度09.写出计算几何不清晰度和求最小焦距的计算公式，并注明各符号的意义。
答：Ug=(d/f)δ 或Ug=dδ/(F-δ),F min=(dδ/Ug)+δ,式中：Ug-几何不清晰度，d-焦点尺寸，δ-工件厚度，f-焦点至工件表面最近距离，F-焦距170.曝光曲线的用途和种类有哪些？答：曝光曲线用于选择曝光参数，以提高工效，保证射线透照质量。
射线检测习题集
共： 228 题 其中： 是非题
选择题 问答题 计算题
76 题 99 题 27 题 26 题
一、是非题
1． 2． 3．
4． 5． 6． 7．
8．
9． 10． 11． 12．
13． 14． 15． 16． 17． 18． 19．
20．
21．
22．． 29．
（
射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。
（
固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。
（）
底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。
（
欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方
式好。
（
环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。
（）
X 射线的波长与管电压有关。
（）
X 射线机产生 X 射线的效率比较高，大约有 95%的电能转化为 X 射线的能量。 （）
X 射线的强度不仅取决于 X 射线机的管电流而且还取决于 X 射线机的管电压。
（）
光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。
（）
光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。
线强度会增大。
（）
在工业射线探伤中，使胶片感光的主要是连续谱
X 射线，标识谱 X 射线不起什么
作用。
（）
连续 X 射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。 X 光管的有效焦点总是小于实际焦点。
（） （）
X 射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的
X 射线能量大，同时也可防止
靶过份受热。
（）
X 射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。
无损检测习题集含答案射线检测
射线检测习题集共：803题其中：是非题301题选择题284题问答题118题计算题100题一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（）1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（）1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（）1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（）1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（）1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（）1.7 原于是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。
（）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（）1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（）1.10 在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。
（）1.11 以中子作为炮弹轰击原子核，可以使稳定的同位素变为不稳定的同位素。
（）1.12 不稳定的核素会白发蜕变，这种现象称为放射性衰变。
（）1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（）1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如了射线比X射线传播快。
（）1.15 X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（）1.16 X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（）1.17 当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（）1.18 7射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。
（）1.19 标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。
（）1.21 连续X射线的波长与管电压有关。
（）1.22 X射线的产生效率与管电压利靶材料原子序数成正比。
（）1.23 一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。
（）1.24 同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。
射线检测典型计算题
射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例： 60Co 中有几个质子、中子？（ 27 个质子、 33 个中子）二最短波长计算公式： hc 12.4••• 入 min =---- = -- （h、c、e 均为常数）Ue U单位：入min埃。
U:千伏。
例： U=200Kv,入 min=12.4 / 200= 0.062 埃三连续 X 射线的效率（转换效率）计算：公式：n =KUZK= 1.1--1.4 X 10-9v ; K= 1.1--1.4 X 10-6Kv例：Z=74; U=200 ;求n n =1.4 X-60 X 74 X 200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T' = 0.693 / 入例：60Co 已知：入=0.130/年，求 T' = 0.693 / 0.130 = 5.3 年或：已知： T' = 5.3年，求入=0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1 =（）n n= t / T ' No 2例: 60Co 半衰期为 5.3 年，新源放射强度 16居里， 10.6 年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x （1/2）n=16 x（1/4）=4（居里）五X 射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ 或入=0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev;的单位：埃。
或者：入=12.4 / E （与入min=12.4/U 有本质区别）这里：E的单位：Kev; 入的单位：埃。
例 1：波长为 0.25? 的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例 2：能量为 0.25 Mev 的光子波长是多少？入=0.0124 / 0.25 = 0.0496?例 3：管电压为 200Kv 时，连续 X 射线的最大能量是多少？入 min=12.4/U=12.4/200=0.062?E= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ 卩或卩=0.693/ Th 例1 :某材料衰减系数□为1.3/cm，求半值层 Th？Th=0.693/ =0.533cm.例 2: 穿过 12mm 厚钢板前后射线强度分别为 50mR/h 和 15mR/h, 求这种钢板的半值层和衰减系数？5015I=lo e- d15=50 e-卩 d d=12 In(15/50)=1 n(e- 卩 d )=- 卩 d=-12 卩卩=In (15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式： I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图 26例1：距源 1.5 米处射线强度为 40mR/ h, 求3. 5 处的射线强度？I2= I1 / ( f22/f12 )=40/ ( 3. 5 2/ 1.5 2 )=7.35 (mR/ h)例 2：焦距为 1 米处透照，得底片黑度为 2。
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射线检测计算题例题(答案供参考)1.已知Co60半衰期为5.3年，从10Ci 衰减到2.5Ci 大概需要多少时间？解：已知 A 0＝10Ci A ＝2.5Ci T 1/2＝5.3年求 T ＝？先求所相当的半衰期数A A N 02= 2693.05.210ln 2ln ln 0===A A N 年6.103.5221=⨯==NT T答：大概需要10.6年。
2.用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照某工件焊缝，当时焦距为800mm ，曝光时间为8min ，底片黑度为2.0。
若在10个月后，用该γ射源透照同一工件焊缝，其他条件都不变，焦距改为600mm ，求此时所需曝光时间。
解：已知 F 1＝800mm F 2＝600mm t 1=8min T=10月≈300天求 t 2=?首先求10个月所相当的半衰期数N ，47530021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝24＝16根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 721680060082212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间为72min 。
3.某一工件焊缝，采用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照，当时焦距为1600mm ，曝光时间为90min 。
经过5个月后，仍用该γ射源透照同一部位焊缝，其他条件都不变，只将焦距改为800mm ，保持原来的黑度。
求此时所需曝光时间。
解：已知 F 1＝1600mm F 2＝800mm t 1=90min T=5月≈150天求 t 2=?首先求5个月所相当的半衰期数N ，27515021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝22＝4根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 9041600800902212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间仍然为90min 。
4.对一壁厚为14mm 容器纵缝进行射线照相，照相质量为AB 级，采用的曝光参数为管电压150kV ，管电流5mA ，焦距600mm ，曝光时间为3min ，得到底片黑度为2.5。
若其它条件均不变，为扩大一次透照长度，将焦距延长到700mm ，问曝光时间为多少？解：已知 F 1＝600mm F 2＝700mm i 1＝i 2＝5mA t 1=3min曝光量E 1＝i 1t 1＝5×3＝15min mA ⋅求 t 2=? 根据曝光因子 212212F F E E = min mA 20600700152212212⋅≈⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==F F E E t 2＝E 2/i 2＝20/5＝4min答：需要曝光时间4min 。
5.用X 光机透照一工件，采用铅增感屏，当管电压为200kV ，管电流5mA ，曝光时间4min ，焦距600mm 时，底片黑度为2.0。
现改焦距为900mm ，其他条件不变，求使底片保持原来黑度需多少曝光时间。
解：已知F 1＝600mm F 2＝900mm i 1＝i 2＝5mA t 1=4min曝光量E 1＝i 1t 1＝5×4＝20min mA ⋅求 t 2=? 根据曝光因子 212212F F E E = min mA 45600900202212212⋅≈⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==F F E E t 2＝E 2/i 2＝45/5＝9min答：需要曝光时间9min 。
6.用XXQ2505X 射线机，管电压为200kV ，焦距为600mm ，透照某工件，曝光量为15mA·min ，底片黑度为1.2，其他条件不变，现将底片黑度提高到2.0，这时所需曝光量为多少？(胶片的特性曲线上，D 1＝1.2时，lg E 1.2＝3.6；D 2＝2.0时，lg E 2.0＝3.9)解：已知 E 1＝15mA·min ，lg E 1.2＝3.6，lg E 2.0＝3.9求黑度变为2.0时的曝光量E 2＝？ 修正系数ψ＝E 2.0／E 1.2 3.06.39.3lg lg lg 2.10.22.10.2=-=-=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛E E E Eψ＝E 2.0／E 1.2＝100.3 E 2＝ψE 1＝15×100.3≈30 mA·min答：这时所需曝光量为30 mA·min 。
7.透照某一工件的钢焊缝，原用A 型胶片，曝光量E 1＝18mA·min ，为提高像质水平，增加细小缺陷的检出率，改用较细粒度的B 型胶片。
求获得相同黑度时所需的曝光量E 2？(已知相同黑度时，lg E A ＝3.8，lg E B ＝4.2)解：已知E 1＝18mA·min ，lg E A ＝3.8，lg E B ＝4.2求更换B 型胶片时的曝光量E 2＝？修正系数ψ＝E B ／E A 4.08.32.4lg lg lg =-=-=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛A B A B E E E Eψ＝E B ／E A ＝100.4 E 2＝ψE 1＝18×100.4≈45 mA·min答：这时所需曝光量为45 mA·min 。
8.透照一容器的焊接接头，原用天津Ⅲ型胶片，曝光量E 1＝15mA·min ，得到黑度为2.5，为提高射线照相底片的质量，改用天津Ⅴ型胶片，求获得相同黑度所需的曝光量E 2。
(已知相同黑度时，lg E Ⅲ＝3.5，lg E Ⅴ＝4.0)解：已知E 1＝15mA·min ，lg E Ⅲ＝3.5，lg E Ⅴ＝4.0求更换Ⅴ型胶片时的曝光量E 2＝？修正系数ψ＝E Ⅴ／E Ⅲ 5.05.30.4lg lg lg =-=-=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛ⅢⅤE E E E A Bψ＝E B ／E A ＝100.5 E 2＝ψE 1＝15×100.5≈47.5mA·min答：这时所需曝光量为47.5mA·min 。
9.用X 射线机透照一工件，使其底片黑度D ＝2.5，用T3胶片照相时，曝光量为15mA·min ，现改用T2胶片照相，求这时所需曝光量为多少？(已知黑度2.5时，lg E T3＝4.0，lg E T2＝4.5) 解：已知E 1＝15mA·min ，lg E T3＝4.0，lg E T2＝4.5求更换T2型胶片时的曝光量E 2＝？修正系数ψ＝E T2／E T3 5.00.45.4lg lg lg 3232=-=-=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛T T T T E E E Eψ＝E T2／E T3＝100.5 E 2＝ψE 1＝15×100.5≈47.5mA·min答：这时所需曝光量为47.5mA·min 。
10.某一容器壁厚为38mm ，焊缝余高为2mm ，按JB/T4730.2－2005标准，AB 级要求透照其纵焊缝，透照焦距为600mm ，求一次透照长度和搭接长度各为多少？解：已知 T ＝38mm Δh ＝2mm F ＝600mm AB 级厚度比K ＝1.03求 L 3＝？ ΔL ＝？︒===--86.1303.11cos 1cos 11K θ b ＝T ＋2Δh ＝38＋2×2＝42mm f ＝F －L 2＝600－42＝558mm L 3＝2f tan θ＝2×558×tan13.86°≈275mmmm 21558275423≈⨯==∆f bL L 答：一次透照长度为558mm 、搭接长度为21mm 。
11.一台X 射线探伤机，其有效焦点为2×2mm ，对母材厚度为10mm 的焊缝进行照相(焊缝余高已磨去)，采用焦距600mm ，暗盒紧贴工件底面，试计算工件表面缺陷最大几何不清晰度。
解：已知 d f ＝2mm T ＝10mm F ＝600mm求 U gmax ＝？m m 03.010600102max ≈-⨯=-=T F Td U f g 答：表面缺陷最大几何不清晰度为0.03mm 。
12.用双壁双影法透照φ60×4小径管，其焊缝宽度b 为8mm ，余高Δh 为2mm ，底片的椭圆开口间距q 为8mm ，焦距F 为600mm 。
求焦点偏离焊缝中心距离S 0为多少？解：已知 D 0＝60mm b ＝8mm Δh ＝2mm q ＝8mm F ＝mm求 S 0＝？管子上表面至胶片的距离 b ＝D 0＋Δh ＝60＋2＝62mm焦点至管子上表面距离 f ＝F －b ＝600－62＝538mm()()mm 8.13862885380=+⨯=+=b q b f S 答：焦点偏离焊缝中心距离S 0为138.8mm 。
13.X 射线照相，AB 级射线检测技术，焦距为700mm 时其曝光量的推荐值为不少于15m A ·min 。
当焦距为600mm 时，计算其曝光量推荐值应为多少？若管电流为5mA ，求其曝光时间为多少分钟？解：已知 F 1＝700mm F 2＝600mm E 700＝15 mA·min i ＝5mA求 E 600＝？ t 600＝?2122700600F F E E = min mA 117006001522122700600⋅=⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==F F E E t 600＝E 600/ i ＝11÷5＝2.2min答：曝光量推荐值应为11mA·mi n ；曝光时间为2.2min 。
14.距一个γ射源2m 处的剂量率为400μSv/h ，若使剂量率减少至25μSv/h ，求离源的距离为多少？解：已知 F 1＝2m D 1＝400μSv/h D 2＝25μSv/h求 F 2＝？ 212122D D F F = m 82540022112=⨯==D D F F 答：离源的距离应为8m 。