《集成电路设计原理》试卷及答案
集成电路技术集成电路工艺原理试卷(练习题库)(2023版)

集成电路技术集成电路工艺原理试卷(练习题库)1、用来做芯片的高纯硅被称为(),英文简称(),有时也被称为()。
2、单晶硅生长常用()和()两种生长方式,生长后的单晶硅被称为()。
3、晶圆的英文是(),其常用的材料是()和()。
4、晶圆制备的九个工艺步骤分别是()、整型、()、磨片倒角、刻蚀、()、清洗、检查和包装。
5、从半导体制造来讲,晶圆中用的最广的晶体平面的密勒符号是()、O 和()。
6、CZ直拉法生长单晶硅是把()变为()并且()的固体硅锭。
7、CZ直拉法的目的是()。
8、影响CZ直拉法的两个主要参数是O和()。
9、晶圆制备中的整型处理包括()、()和()。
10、制备半导体级硅的过程:1、();2、();3、O011、热氧化工艺的基本传输到芯片的不同部分。
77、多层金属化指用来连接硅片上高密度堆积器件的那些金属层。
78、阻挡层金属是淀积金属或金属塞,其作用是增加上下层材料的附着。
79、关键层是指那些线条宽度被刻蚀为器件特征尺寸的金属层。
80、传统互连金属线的材料是铝,即将取代它的金属材料是铜。
81、溅射是个化学过程,而非物理过程。
82、表面起伏的硅片进行平坦化处理,主要采用将低处填平的方法。
83、化学机械平坦化,简称CMP,它是一种表面全局平坦化技术。
84、平滑是一种平坦化类型,它只能使台阶角度圆滑和侧壁倾斜,但高度没有显著变化。
85、反刻是一种传统的平坦化技术,它能够实现全局平坦化。
86、电机电流终点检测不适合用作层间介质的化学机械平坦化。
87、在CMP为零的转换器。
133、CD是指硅片上的最小特征尺寸。
134、集成电路制造就是在硅片上执行一系列复杂的化学或者物理操作。
简而言之,这些操作可以分为四大基本类:薄膜135、人员持续不断地进出净化间,是净化间沾污的最大来源。
136、硅片制造厂可分为六个的区域,各个区域的照明都采用同一种光源以达到标准化。
137、世界上第一块集成电路是用硅半导体材料作为衬底制造的。
集成电路设计原理考核试卷

4.描述模拟集成电路与数字集成电路在设计原则和实现技术上的主要区别,并给出一个实际应用中模拟集成电路的例子。
标准答案
一、单项选择题
1. B
2. B
3. D
4. D
5. B
6. D
7. C
8. C
9. B
10. D
17.在集成电路设计中,以下哪些方法可以提高电路的抗干扰能力?( )
A.采用差分信号传输
B.使用屏蔽技术
C.增加电源滤波器
D.提高工作频率
18.以下哪些类型的触发器在数字电路中常见?( )
A. D触发器
B. JK触发器
C. T触发器
D. SR触发器
19.以下哪些技术可以用于提高集成电路的数据处理速度?( )
3.以下哪些是数字集成电路的基本组成部分?( )
A.逻辑门
B.触发器
C.寄生电容
D.晶体管
4.以下哪些技术可以用于提高集成电路的频率?( )
A.减小晶体管尺寸
B.采用高介电常数材料
C.增加电源电压
D.优化互连线设计
5.在CMOS工艺中,以下哪些结构可以用来实现反相器?( )
A. PMOS晶体管
B. NMOS晶体管
11. C
12A
16. B
17. A
18. A
19. C
20. B
二、多选题
1. ABD
2. AB
3. AD
4. AB
5. AB
6. AB
7. ABCD
8. AB
9. ABCD
10. AC
11. ABC
10微电子《集成电路设计原理》试卷(B卷)

(增大、减小、
命题人
题号
线
陈初侠
一Байду номын сангаас
统分人
二 三
复核人
四
V,Y3=
V。
得分 一、填空题: (共 30 分)
10. (6 分) 写出下列电路输出信号的逻辑表达式: Y1= Y2=
VDD C B A
;
得分
评卷人
;C2=
。
VDD C4 C3 C2 C1
考试时间
VDD A
P4 P3
订
1.(2 分)
考场(教室)
3.CMOS 反相器中的 NMOS 管和 PMOS 管是增强型还是耗尽型,为什么?
线
得分
评卷人
四、分析设计题: (共 38 分)
考试时间
订
4.简述传输门阵列的优缺点。
1.(12 分)标准 0.13 m CMOS 工艺,PMOS 管 W/L= 0.26 m / 0.13
m ,栅氧厚度为 tox 2.6nm ,室温下空穴迁移率 n 80 cm2 /
班级
第 2 页 共 3 页(B 卷)
2. (12 分)如图所示,M1 和 M2 两管串联,且 VB VG VT VA ,请问: 1) 若都是 PMOS,它们各工作在什么状态? 2) 证明两管串联的等效导电因子是
Keff K1K2 /( K1 K2 ) 。
3. (14 分)设计一个 CMOS 两输入或非门,要求在最坏情况下输 出上升时间和下降时间不大于 0.5ns。已知,CL=1pF,VDD=5V,
' VTN=0.8V,VTP=-0.9V,采用 0.6μm 工艺,有 K N 120 106 A / V 2 ,
1+X集成电路理论试题库(附参考答案)

1+X集成电路理论试题库(附参考答案)一、单选题(共40题,每题1分,共40分)1、若想取下蓝膜上的晶圆或晶粒,需要照射适量(),能降低蓝膜的黏着力。
A、红外线B、太阳光C、蓝色光源D、紫外线正确答案:D答案解析:对需要重新贴膜或加工结束后的晶圆,需要从蓝膜上取下,此时只需照射适量紫外线,就能瞬间降低蓝膜黏着力,轻松取下晶圆或晶粒。
2、一般情况下,待编至( )颗时,需更换卷盘,并在完成编带的卷盘上贴上小标签,便于后期识别。
A、2000B、4000C、6000D、8000正确答案:B答案解析:一般情况下,待编至4000颗左右时,需要更换卷盘,即一盘编带一般装有4000颗的芯片。
3、晶圆检测工艺中,6英寸的晶圆进行晶圆墨点烘烤时,烘烤时长一般为()分钟。
A、20B、1C、10D、5正确答案:D4、用编带机进行编带前预留空载带的原因是( )。
A、比较美观B、防止芯片散落C、确认编带机正常运行D、节省人工检查时间正确答案:B答案解析:空余载带预留设置是为了防止卷盘上编带的两端在操作过程中可能会出现封口分离的情况,导致端口的芯片散落。
5、使用化学机械抛光进行粗抛时,抛光区域温度- 般控制在()A、38~50°CB、20~50°CC、20~30°CD、20~38°C正确答案:A答案解析:一般抛光区的温度控制在38~50°C (粗抛)和20~30°C (精抛)。
6、用比色法进行氧化层厚度的检测时,看到的色彩是()色彩。
A、反射B、干涉C、衍射D、二氧化硅膜本身的正确答案:B答案解析:硅片表面生成的二氧化硅本身是无色透明的膜,当有白光照射时,二氧化硅表面与硅-二氧化硅界面的反射光相干涉生成干涉色彩。
不同的氧化层厚度的干涉色彩不同,因此可以利用干涉色彩来估计氧化层的厚度。
7、芯片检测工艺中,进行管装包装时,将真空包装的编带盘放入内盒、合上盖子后,需要在内盒的封口边()处贴上“合格”标签。
《集成电路设计原理》试卷及答案

电科《集成电路原理》期末考试试卷一、填空题1.(1分) 年,第一次观测到了具有放大作用的晶体管。
2.(2分)摩尔定律是指 。
3.集成电路按工作原理来分可分为 、 、 。
4.(4分)光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。
5.(4分)MOSFET可以分为 、 、 、 四种基本类型。
6.(3分)影响MOSFET 阈值电压的因素有: 、 以及 。
7.(2分)在CMOS 反相器中,V in ,V out 分别作为PMOS 和NMOS 的 和 ; 作为PMOS 的源极和体端, 作为NMOS 的源极和体端。
8.(2分)CMOS 逻辑电路的功耗可以分为 和 。
9.(3分)下图的传输门阵列中5DD V V =,各管的阈值电压1T V V =,电路中各节点的初始电压为0,如果不考虑衬偏效应,则各输出节点的输出电压Y 1= V ,Y 2= V ,Y 3= V 。
DD 13210.(6分)写出下列电路输出信号的逻辑表达式:Y 1= ;Y 2= ;Y 3= 。
AB Y 1AB23二、画图题:(共12分)=+的电路图,要求使用的1.(6分)画出由静态CMOS电路实现逻辑关系Y ABD CDMOS管最少。
2.(6分)用动态电路级联实现逻辑功能Y ABC=,画出其相应的电路图。
三、简答题:(每小题5分,共20分)1.简单说明n阱CMOS的制作工艺流程,n阱的作用是什么?2.场区氧化的作用是什么,采用LOCOS工艺有什么缺点,更好的隔离方法是什么?3.简述静态CMOS 电路的优点。
4.简述动态电路的优点和存在的问题。
四、分析设计题:(共38分1.(12分)考虑标准0.13m μ CMOS 工艺下NMOS 管,宽长比为W/L=0.26/0.13m m μμ,栅氧厚度为2.6ox t nm =,室温下电子迁移率2220/n cm V s μ=,阈值电压T V =0.3V,计算 1.0GS V =V 、0.3DS V =V 和0.9V 时D I 的大小。
1+X集成电路理论试题(附答案)

1+X集成电路理论试题(附答案)一、单选题(共39题,每题1分,共39分)1.()是使硅片上的局部区域达到平坦化。
A、平滑处理B、部分平坦化C、局部平坦化D、全局平坦化正确答案:C答案解析:局部平坦化是将硅片表面局部进行平坦化处理,使其达到较高的平整度。
2.一般来说,( )封装形式会采用转塔式分选机进行测试。
A、LGA/TOB、LGA/SOPC、DIP/SOPD、QFP/QFN正确答案:A答案解析:一般来说,LGA/TO会采用转塔式分选机进行测试,DIP/SOP 会采用重力式分选机进行测试,QFP/QFN会采用平移式分选机进行测试。
3.重力式分选机进行芯片检测时,芯片测试完成后,下一个环节需要进行( )操作。
A、上料B、分选C、外观检查D、真空入库正确答案:B答案解析:重力式分选机设备芯片检测工艺的操作步骤一般为:上料→测试→分选→外观检查→真空包装。
4.用重力式选机设备进行芯片检测的第二个环节是( )。
A、分选B、测试C、上料D、外观检查正确答案:B答案解析:重力式分选机设备芯片检测工艺的操作步骤一般为:上料→测试→分选→编带(SOP)→外观检查→真空包装。
5.在电子电路方案设计中最简单的显示平台是()。
A、OLEDB、LCDC、LEDD、数码管正确答案:C6.重力分选机手动装料要操作人员取下待测料管一端的(),并将料管整齐地摆放在操作台上。
A、挡板B、塞钉C、料盘D、螺母正确答案:B7.使用重力式分选机进行模块电路的串行测试时,假设A,B轨道测试合格,C轨道测试不合格,芯片移动的路线是()。
A、A测试轨道→分选梭1→B测试轨道→分选梭2→C测试轨道→分选梭3→D合格轨道→分选梭4→不良品料管;B、A测试轨道→分选梭1→B测试轨道→分选梭2→C不合格轨道→分选梭3→D不合格轨道→分选梭4→不良品料管;C、A测试轨道→分选梭1→B测试轨道→分选梭2→C不合格轨道→分选梭3→D不合格轨道→分选梭4→不良品料管D、A测试轨道→分选梭1→B测试轨道→分选梭2→C测试轨道→分选梭3→D不合格轨道→分选梭4→不良品料管正确答案:D8.引线键合机内完成键合的框架送至出料口的引线框架盒内,引线框架盒每接收完一个引线框架会()。
湖南大学物电院集成电路试卷及答案 (7)

评卷人
一、简答题 1. 使用超 β 晶体管作运放的输入管,对运放的性能有何影响? 2. CMOS 电路是否在任何情况下均为微功耗电路?为什么? 3. 什么是失调?产生失调的主要原因是什么? 4. 横向 PNP 管的版图结构为什么总是采用集电区包围发射区的方式? 5. 衡量一个逻辑电路静态特性的优劣主要有那三方面的指标?
考试中心填写:
湖南大学课程考试试卷
… … … … … … … … … … … … … … … … … … … 装 订 ( 答 题 不 得 超 过 此
课题名称: 集成电路原理;试卷编号: H(开卷) 考试时间:120 分钟
题号 应得分 实得分 一 二 三 四 五 六 七 八 九 十 总分 100 评分:
二、画出 COMS 倒相器的剖面结构,分析产生锁定效应的原因,并指出消除 锁定效应的主要措施
线 ):
三、画出 CMOS 倒相器原理图,定性作出其电压传输特性曲线,推导其上升 时间和下降时间。
四、分析、论述
… … …
某公司生产的运算放大器其开环电压增益存在正负半周不对称的问题, 1: 试分析主要原因。 2:TTL 输入晶体管为什么采用长脖基区的版图结构? 3:CMOS 又称为互补对称 MOS,是否意味着其倒相器设计时,N 管和 P 管的版图结构也必须对称?
:
第 1 页(共 3 页)
五、分析图示基准源电路的工作原理,指出电路中每一个元件的作用,并总结 其性能特点。
六、分析图示电路的工作原理,指出每个元件的作用,并给出逻辑关系。
第 2 页(共 3 页)
七、图示 µA741 偏置电路,分析电路原理,指出每个元件的作用。
第 3 页(共 3 页)
(完整版)集成电路设计复习题及解答

集成电路设计复习题绪论1.画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2.集成电路分类情况如何?集成电路设计1.层次化、结构化设计概念,集成电路设计域和设计层次2.什么是集成电路设计?集成电路设计流程。
(三个设计步骤:系统功能设计逻辑和电路设计版图设计)3.模拟电路和数字电路设计各自的特点和流程4.版图验证和检查包括哪些内容?如何实现?5.版图设计规则的概念,主要内容以及表示方法。
为什么需要指定版图设计规则?6.集成电路设计方法分类?(全定制、半定制、PLD)7.标准单元/门阵列的概念,优点/缺点,设计流程8.PLD设计方法的特点,FPGA/CPLD的概念9.试述门阵列和标准单元设计方法的概念和它们之间的异同点。
10.标准单元库中的单元的主要描述形式有哪些?分别在IC设计的什么阶段应用?11.集成电路的可测性设计是指什么?Soc设计复习题1.什么是SoC?2.SoC设计的发展趋势及面临的挑战?3.SoC设计的特点?4.SoC设计与传统的ASIC设计最大的不同是什么?5.什么是软硬件协同设计?6.常用的可测性设计方法有哪些?7. IP的基本概念和IP分类8.什么是可综合RTL代码?9.么是同步电路,什么是异步电路,各有什么特点?10.逻辑综合的概念。
11.什么是触发器的建立时间(Setup Time),试画图进行说明。
12.什么是触发器的保持时间(Hold Time),试画图进行说明。
13. 什么是验证,什么是测试,两者有何区别?14.试画图简要说明扫描测试原理。
绪论1、 画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2、集成电路分类情况如何?集成电路设计1. 层次化、结构化设计概念,集成电路设计域和设计层次分层分级设计和模块化设计.将一个复杂的集成电路系统的设计问题分解为复杂性较低的设计级别,⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎩⎪⎨⎧按应用领域分类数字模拟混合电路非线性电路线性电路模拟电路时序逻辑电路组合逻辑电路数字电路按功能分类GSI ULSI VLSI LSI MSI SSI 按规模分类薄膜混合集成电路厚膜混合集成电路混合集成电路B iCMOS B iMOS 型B iMOS CMOS NMOS PMOS 型MOS双极型单片集成电路按结构分类集成电路这个级别可以再分解到复杂性更低的设计级别;这样的分解一直继续到使最终的设计级别的复杂性足够低,也就是说,能相当容易地由这一级设计出的单元逐级组织起复杂的系统。
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电科《集成电路原理》期末考试试卷一、填空题1.(1分) 年,第一次观测到了具有放大作用的晶体管。
2.(2分)摩尔定律是指 。
3.集成电路按工作原理来分可分为 、 、 。
4.(4分)光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。
5.(4分)MOSFET可以分为 、 、 、 四种基本类型。
6.(3分)影响MOSFET 阈值电压的因素有: 、 以及 。
7.(2分)在CMOS 反相器中,V in ,V out 分别作为PMOS 和NMOS 的 和 ; 作为PMOS 的源极和体端, 作为NMOS 的源极和体端。
8.(2分)CMOS 逻辑电路的功耗可以分为 和 。
9.(3分)下图的传输门阵列中5DD V V =,各管的阈值电压1T V V =,电路中各节点的初始电压为0,如果不考虑衬偏效应,则各输出节点的输出电压Y 1= V ,Y 2= V ,Y 3= V 。
DD 13210.(6分)写出下列电路输出信号的逻辑表达式:Y 1= ;Y 2= ;Y 3= 。
AB Y 1AB23二、画图题:(共12分)=+的电路图,要求使用的1.(6分)画出由静态CMOS电路实现逻辑关系Y ABD CDMOS管最少。
2.(6分)用动态电路级联实现逻辑功能Y ABC=,画出其相应的电路图。
三、简答题:(每小题5分,共20分)1.简单说明n阱CMOS的制作工艺流程,n阱的作用是什么?2.场区氧化的作用是什么,采用LOCOS工艺有什么缺点,更好的隔离方法是什么?3.简述静态CMOS 电路的优点。
4.简述动态电路的优点和存在的问题。
四、分析设计题:(共38分1.(12分)考虑标准0.13m μ CMOS 工艺下NMOS 管,宽长比为W/L=0.26/0.13m m μμ,栅氧厚度为2.6ox t nm =,室温下电子迁移率2220/n cm V s μ=,阈值电压T V =0.3V,计算 1.0GS V =V 、0.3DS V =V 和0.9V 时D I 的大小。
已知:148.8510/o F cm ε-=⨯, 3.9ox ε=。
2.(12分)如图所示,M1和M2两管串联,且B G T A V V V V <-<,请问: 1) 若都是NMOS ,它们各工作在什么状态? 2) 若都是PMOS ,它们各工作在什么状态?3) 证明两管串联的等效导电因子是eff K =1212/()K K K K +。
3.(14分)设计一个CMOS 反相器,要求在驱动10fF 外部负载电容的情况下,输出上升时间和下降时间都不能大于40ps ,并要求最大噪声容限不小于0.55V 。
针对0.13m μ工艺,已知:0.30TN V V =,0.28TP V V =-,2220/n cm V s μ=,276/p cm V s μ=,2.6ox t nm =,148.8510/o F cm ε-=⨯,3.9ox ε=, 1.2DD V V =,ln14.33=2.66,ln14=2.64。
《集成电路原理》期末考试试卷 参考答案一、填空题:(共30分)1.(1分)1947 2.(2分)集成电路中的晶体管数目(也就是集成度)大约每18个月翻一番 3.(3分)数字集成电路,模拟集成电路,数模混合集成电路 4.(4分)曝光,显影,坚膜,刻蚀 5.(4分)增强型NMOS ,耗尽型NMOS ,增强型PMOS ,耗尽型PMOS 6.(3分)栅电极材料,栅氧化层的质量和厚度,衬底掺杂浓度 7.(2分)栅极,漏极,VDD ,GND 8.(2分)动态功耗,静态功耗 9.(3分)4,3,2 10.(6分)()A B C D ++,AB AB +,AB C +二、画图题:(共12分)1.(6分) 2.(6分)Y3三、简答题:(每小题5分,共20分)1.答:n 阱CMOS 的制作工艺流程:1.准备硅片材料;2.形成n 阱;3.场区隔离;4.形成多晶硅栅;5.源漏区n+/p+注入;6.形成接触孔;7.形成金属互连;8.形成钝化层。
n 阱的作用:作为PMOS 管的衬底,把PMOS 管做在n 阱里。
2.答:场区氧化的作用:隔离MOS 晶体管。
LOCOS 工艺的缺点:会形成鸟嘴,使有源区面积比版图设计的小。
更好的隔离方法:浅槽隔离技术。
3.答:1.是一无比电路,具有最大的逻辑摆幅;2.在低电平状态不存在直流导通电流;3.静态功耗低;4.直流噪声容限大;5.采用对称设计获得最佳性能。
4.答:动态电路的优点:1.减少了MOS 管数目,有利于减小面积;2.减小了电容,有利于提高速度;3.保持了无比电路的特点。
动态电路存在的问题:1.靠电荷存储效应保存信息,影响电路的可靠性;2.存在电荷分享、级联、电荷泄漏等问题;3.需要时钟信号控制,增加设计复杂性。
四、分析设计题:(共38分)1.(12分)解:计算MOSFET 导电因子β:142073.98.85100.26()()220584.1()2.6100.13ox n ox n ox W W C A V L t L εεβμμμ---⨯⨯===⨯⨯=⨯ 4分 当 1.0GS V =V(>T V =0.3V)、0.3DS V =V(<0.7GS T V V V -=)时,NMOS 管处于线性区,线性区电流为:21[()]96.3765()2D GS T DS DS I V V V V A βμ=--= 4分当 1.0GS V =V(>T V =0.3V)、0.9DS V =V(>0.7GS T V V V -=)时,NMOS 管处于饱和区,饱和区电流为:2()143.1045()2D GS T I V V A βμ=-= 4分2.(12分)解:1) 设中间节点为C 。
分析知当电压满足V B < V G - V T < V A 时,在电路达到稳态之后,M1和M2都导通。
于是对M1而言,有GS V 0T V ->,即 Vc < V G -V T 。
又V G - V T < V A ,即GS V DS T V V >-,故M1工作于饱和区。
而对M2而言,有GS V T DS V V ->,故M2工作于线性区。
3分 2) 依据NMOSFET 和PMOSFET 的电压反转对称性知,若两管都是PMOSFET ,则M1工作于线性区,M2工作于饱和区。
3分3) 取一例证明。
以此题中的NMOSFET 和给定的偏压为例,两个NMOS 管等效为一个NMOS 管后,依V B < V G - V T < V A 知该等效管应工作于饱和区。
故对M1、M2和等效管Meff 有:21122222()[()()]()D G T C D G T B G T C Deff eff G T B I K V V V I K V V V V V V I K V V V ⎧=--⎪=-----⎨⎪=--⎩则有1212DeffD D effI I I K K K +=由1D I =2D I =Deff I 知: 12111eff K K K += 即K eff = K 1 K 2 / (K 1 + K 2) 6分3.(14分)解:先考虑瞬态特性要求:由()20.1 1.9212(1)0.1(1)0.280.2331.2ln TPPDDPPPPLP DDr r C r K V V V t αααααττ----=-=+===⎧⎡⎤⎪⎣⎦⎪⎪⎨⎪⎪⎪⎩()20.1 1.9212(1)0.1(1)0.30.251.2ln TNNDDNNNNLN DDf f C f K VV V t αααααττ----=-=+===⎧⎡⎤⎪⎣⎦⎪⎪⎨⎪⎪⎪⎩(4分)得424.0810/PKA V-=⨯,424.2210/NKA V-=⨯ (2分)而0OXOX11()()2211()()22OXPPPPPOXOXNNnNnOXWWK C LL tWWK C LL tεεμμεεμμ====⎧⎪⎪⎨⎪⎪⎩(2分)代入相关参数可得()8.09() 2.89PNW LW L==⎧⎪⎨⎪⎩,即{1.0520.376PNm mWWμμ== (2分)考察噪声容限:由it0.607V V == (2分)得:{0.6070.550.5930.55NLMitNLMDDitVV V VVV V V V==>=-=> (2分)所以所设计的CMOS 反相器符合题意要求,即{1.0520.376PNm mWWμμ==。