平均晶粒度概念

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金属平均晶粒度的测定能力验证全解析

金属平均晶粒度的测定能力验证全解析

江苏中核华兴工程检测有限公司[摘要]在单位面积中,晶粒的尺寸与晶粒的数量成反比例关系,而检测的样品中晶粒的尺寸影响并决定着金属的机械性能(包括塑性、韧性、拉伸强度等)。

因此,在金相检验分析过程中,计算单位面积内晶粒的数量有着相当重要的意义。

本文介绍了晶粒度相关的基本概念并说明了晶粒度测量的几种方法,以及能力验证过程中对样品晶粒度的测定步骤和相关内容。

[关键词]晶粒度;晶粒度级别数;截点法;能力验证;同心等距圆1概述金属平均晶粒度测定是金相检验中基本检测项目之一,金属平均晶粒度也是金属材料物理性能部分的能力验证项目之一。

本文以近几年所参加的晶粒度的能力验证为基础,按照晶粒度检测的步骤,阐述如何做好金属平均晶粒度能力验证试验的心得。

晶粒度,顾名思义为晶粒尺寸大小的度量。

通常情况下,评定或测定晶粒尺寸大小的方法有:长度法、面积法、体积法或晶粒度级别数法等,同时,检测样品晶粒度的表示方法是“晶粒度级别数”,其结果与检验过程中所使用的检测方法以及使用的单位无关。

除了学术研究用的理想状态情况,实际上,在金属样品的基体内所呈现的晶粒尺寸和大小是有差异的,且在大多数情况下,晶粒尺寸呈现的分布状态与单一对数正态分布的曲线是非常相近的,所以一般情况下采用的结果表示为:平均晶粒度,即某个视场内晶粒度评估的平均值。

金属基体内晶粒的大小直接影响其表现出的性能,所以研究晶粒的大小和其分布的状态是非常有必要的。

对于检测样品,其晶粒分布方式如果与单一的对数正态分布情况非常相近,可以采用《金属平均晶粒度测定方法》GB/T 6394-2017(等效于ASTM - E112)来测定检测样品的平均晶粒度。

若是需要测定样品最大晶粒度,则可采用标准:ASTM-E930-1999(2007)。

另外,有的检测样品的晶粒分布及大小情况是符合池形态分布的,此时可以采用测定样品双重晶粒度的《重晶粒度表征与测定方法》GB/T 24177-2009(等效于ASTM-E1181(2002)《双重晶粒度的标准测定方法》)。

晶粒度

晶粒度

三、影响晶粒度的因素 金属结晶后单位体积中晶粒总数Z与结晶过程中的形核率N(单位时间在单位体积内所形成的晶核数) 和成长速率G(单位时间界面向前推进的距离)之间存在如下关系: N=0.9×(N/G)3/4 上式表明,凡是增大N/G值的方法,都会细化晶粒。即,细化晶粒的两个途径:一是增加形核率N; 二是降低长大速率G ; (1)提高冷却速度细化晶粒: 不同过冷度△T对形核率N和成长速率G的影响如图所示。过冷度等于零时,结晶没有发生;过冷度 增大,形核率和长大速率都增大,过冷度增大至一定值时,形核率N和长大速率G达到最大值。之后,随 过冷度的增大,N和G反而逐渐减小,因过冷度很大,开始结晶温度非常低,造成液态金属中原子扩散速度大则过冷度大。 提高金属结晶冷却速度的方法:降低金属液的浇注温度、采用金属模、水冷模、连续浇注等。对于 大截面的铸锭或铸件,欲获得大的过冷度是不容易实现的,更难以使整个体积范围内均匀冷却以得到较 均匀的晶粒度,因此工业生产中常采用变质处理和振动搅拌等方法来细化晶粒。 (2)变质处理是在液态金属浇注前专门加入可成为非自发晶核的固态变质剂,增加晶核数,提高 形核率,达到细化晶粒的目的。通常在钢中加入铝、钒等。铝合金中加入钛、锆等,用于一些大型铸件 。 (3)采用机械振动、超声振动和电磁搅拌等方法,使结晶过程中形成的枝晶折断裂碎,增加晶核数 ,达到细化晶粒的目的。
二、解释与应用 (1)对于金属的常温力学性能来说,细化晶粒一直是改善多晶体材料的一种有效手段,根据位错 理论,晶界是位错运动的障碍,在外力作用下,为了在相邻晶粒产生切变变形,晶界处必须产生足够 大的应力集中。细化晶粒可以产生更多的晶界,如果晶界结构未发生变化,则需施加更大的外力才能 产生位错塞积,从而使材料强化。同时塑性和韧性也越好。这是因为,晶粒越细,塑性变形也越可分 散在更多的晶粒内进行,使塑性变形越均匀,由内应力集中导致的开裂机会减少,可承受更大的变形 量;而且晶粒越细,晶界面越多,晶界越曲折,裂纹不易萌生;晶粒与晶粒中间犬牙交错的机会就越 多,越不利于裂纹的传播和发展,彼此就越紧固,强度和韧性就越好。在断裂过程中可吸收较多能量, 表现出高韧性。 下表列出晶粒大小对纯铁的力学性能影响。由表可见细化晶粒对于提高金属的常温力学性能作用 很大,因此,通常总是希望钢铁材料的晶粒越细越好。

晶粒度的概念

晶粒度的概念

晶粒度的概念晶粒度是指晶体中晶粒的大小和形状。

晶体是由原子、离子或分子按照一定的规则排列而成的固体物质,晶粒是晶体中具有相同晶体结构的一部分。

晶粒度的大小和形状对晶体的性质和性能有重要影响。

晶粒度的大小可以通过晶粒尺寸来描述,晶粒尺寸是指晶粒的最大线性尺寸。

晶粒度的大小与晶体的生长速率、晶体的形核和晶体的晶格缺陷等因素有关。

晶粒度越大,晶体的结构越完整,晶体的力学性能和热学性能也会相应提高。

例如,金属材料中的晶粒度越大,材料的强度和硬度越高,而塑料材料中的晶粒度越大,材料的韧性和耐热性越好。

晶粒度的形状可以通过晶粒形态来描述,晶粒形态是指晶粒的外形特征。

晶粒度的形状与晶体的生长条件、晶体的晶格结构和晶体的晶格缺陷等因素有关。

晶粒度的形状对晶体的力学性能、热学性能和光学性能等有重要影响。

例如,金属材料中的晶粒度呈等轴晶粒形态,材料的塑性和韧性较好,而纤维材料中的晶粒度呈纤维状晶粒形态,材料的强度和刚度较高。

晶粒度的大小和形状对晶体的性质和性能有重要影响。

首先,晶粒度的大小和形状会影响晶体的力学性能。

晶粒度越大,晶体的结构越完整,晶体的强度和硬度越高。

晶粒度的形状也会影响晶体的力学性能,不同形状的晶粒在受力时会有不同的应变和应力分布。

其次,晶粒度的大小和形状会影响晶体的热学性能。

晶粒度越大,晶体的热导率越高,热膨胀系数越低。

晶粒度的形状也会影响晶体的热学性能,不同形状的晶粒在传热过程中会有不同的热阻和热传导路径。

最后,晶粒度的大小和形状会影响晶体的光学性能。

晶粒度越大,晶体的透光性越好,折射率越高。

晶粒度的形状也会影响晶体的光学性能,不同形状的晶粒在光传播过程中会有不同的散射和吸收现象。

总之,晶粒度是晶体中晶粒的大小和形状的概念。

晶粒度的大小和形状对晶体的性质和性能有重要影响,包括力学性能、热学性能和光学性能等。

因此,在材料科学和工程中,研究和控制晶粒度的大小和形状是非常重要的。

估算混晶平均晶粒度的公式和方法

估算混晶平均晶粒度的公式和方法

估算混晶平均晶粒度的公式和方法。

为了准确理解和掌握估算混晶平均晶粒大小的公式和方法,我们首先需要了解混晶的概念和特征。

混晶是指在晶体生长过程中,晶体内部因为缺陷或者杂质的存在而导致晶界不规则或者有多个取向的情况。

要了解混晶平均晶粒大小的公式和方法,我们需要注意以下几个关键点。

1. 混晶的定义和特征混晶是晶体学的一个重要概念,它常常出现在金属材料、合金材料以及陶瓷材料的研究中。

混晶的特征包括晶界不规则、晶粒取向多样、晶界能量较高等。

在实际的研究和生产中,我们需要对混晶的平均晶粒大小进行估算,以便更好地控制材料的性能和性质。

2. 估算混晶平均晶粒大小的重要性混晶的平均晶粒大小是影响材料性能的重要因素之一。

晶粒越小,材料的强度和硬度往往会增加,而韧性和塑性则会降低。

准确估算混晶平均晶粒大小对于材料设计和生产具有重要意义。

3. 公式和方法在估算混晶平均晶粒大小时,通常可以采用金属log-log直方图法、线差法、K-S法等多种方法。

这些方法都是基于晶粒尺寸分布曲线的统计学分析,通过对晶粒数量和尺寸的统计得出平均晶粒大小及其分布规律。

4. 个人观点和理解在实际应用中,选择合适的公式和方法对于准确估算混晶平均晶粒大小至关重要。

不同的材料和研究对象可能适合不同的方法,因此在选择方法时需要综合考虑材料的特性、研究的目的以及实验条件等因素。

总结回顾通过对混晶平均晶粒大小的定义和特征、重要性以及估算方法的介绍,我们可以清晰地了解到这一概念的重要性和估算方法的多样性。

在实际应用中,我们需要结合具体情况选择合适的方法,并通过实验数据和统计分析来得出准确的混晶平均晶粒大小。

只有深入理解和掌握估算混晶平均晶粒大小的公式和方法,我们才能更好地应用于材料研究和生产中。

在本篇文章中,我们主要介绍了估算混晶平均晶粒大小的公式和方法,重点强调了混晶的定义和特征、估算方法的重要性以及个人观点和理解。

通过系统的介绍和分析,希望能够对读者有所启发,为他们对混晶平均晶粒大小的理解和应用提供帮助。

估算混晶平均晶粒度的公式和方法

估算混晶平均晶粒度的公式和方法

估算混晶平均晶粒度的公式和方法一、引言混晶平均晶粒度是指在多晶体材料中,由于晶界和晶粒大小的不均匀性,难以直接观测到单个晶粒的大小,因此需要通过一定的公式和方法来估算其平均晶粒度。

本篇文章将从混晶平均晶粒度的概念入手,探讨其估算的相关公式和方法,以及个人观点和理解。

二、混晶平均晶粒度的概念混晶平均晶粒度是指在多晶体材料中,由于晶界的存在,难以直接测定单个晶粒的尺寸,因此需要借助一定的数学模型和方法来估算其平均晶粒大小。

通常情况下,晶粒的尺寸是通过晶界的数量和长度来间接反映的,进而得到平均晶粒度的估算值。

三、估算混晶平均晶粒度的常用公式和方法1. 格氏法格氏法是通过晶粒的数量和晶界的长度来计算平均晶粒度的一种方法。

其公式为:\[D = \frac{L}{N}\]其中,\(D\)为平均晶粒度,\(L\)为晶界总长度,\(N\)为晶粒的总数量。

这种方法适用于具有规则晶粒排列结构的材料。

2. 蒙特卡洛方法蒙特卡洛方法是一种通过随机抽样和统计分析来估算平均晶粒度的方法。

通过在晶体中随机选取一定数量的点,并结合图像分析软件来测定晶界的长度和晶粒的数量,进而得到平均晶粒度的估算值。

该方法适用于具有复杂晶粒排列结构的材料。

3. 统计学方法统计学方法是通过对大量样本的统计数据进行分析,来估算平均晶粒度的方法。

通过采集大量的晶粒数据,并利用统计学的理论和方法进行分析,得到平均晶粒度的估算值。

这种方法适用于对晶粒分布情况有一定了解的材料。

四、个人观点和理解对于估算混晶平均晶粒度的公式和方法,我认为不同的材料和晶粒结构会适用不同的方法。

对于规则晶粒排列结构的材料,可以采用格氏法来估算平均晶粒度;而对于具有复杂晶粒排列结构的材料,则需要借助蒙特卡洛方法或统计学方法来进行估算。

在实际应用中,需要根据材料的具体情况选择最合适的方法来进行估算。

五、总结通过本文的探讨,我们深入了解了混晶平均晶粒度的概念、常用的估算公式和方法,以及个人观点和理解。

ASTM E112-2013 测定平均晶粒度的标准试验-培训讲稿

ASTM E112-2013 测定平均晶粒度的标准试验-培训讲稿

3、截距法 截距法包括了被一根检测线截取的晶 粒数,或晶界与一根检测线,单位长 度检测线相交数的实际计数,用于计 算平均截距长度。 截距法复测准确性和再现性小于±0.5 级的晶粒度单位。 对于同样精确度水平,截距法要快于 面积计算法
三、取样要求


试样必须代表一炉、一个热处理批号或产 品中的真实状态,或评定预期的沿着一个 产品或零件方向或横向的变化。 取样的部位和数量应根据双方的协议。 试样不得取自受剪切、气割或会使晶粒结 构发生变化的其他工艺影响的区域。



4、列出平均测量值、其标准偏差、95%的置信 区间、相对精度的百分比和ASTM晶粒度级数。 对比法仅列出评定的ASTM晶粒度级数。 5、对于非等轴的晶粒结构,列出分析方法、检 验平面、评定的分析,每个平面或方向的晶粒 度定值、面积计算的总平均值以及计算或评定 的ASTM晶粒度级数。 6、对于两相结构,列出分析方法、基体相的晶 粒度测量(和标准偏差、95%置信区间、相对 精度的百分比)以及计算和评定的ASTM晶粒度 级数。
比较法



当试样晶粒度落在标准图谱的任何一端时, 可以通过改变放大倍数时晶粒度更接近范 围的中心。 最好使用标准的软片或照相图片将它们与 待测图像靠放在一起进行比较。 当一个操作人员在同一试样上用比较法重 复检验时,存在偏差的可能性。可通过改 变放大倍数、膜盒完全伸出,或者在几次 评定之间物镜或目镜更换克服这一点。
五、校验要求



用一台测微计测定每个物镜、目镜与膜盒 的实际线性放大倍数,或将变焦设定在 ±2%之内。 用一把毫米尺测定直线的实际长度或作为 格子的检测圆的直径 显微镜每年必须定期邀请有资质校准机构 按相关要求校准,并出具有效校准报告。

晶粒度讲解12.6.27

晶粒度讲解12.6.27

3,制样
1,尺寸:圆形Ф10~12mm;方形10*10mm; 2,试样不允许重复热处理。
4,比较法
1,适合于等轴晶粒; 2, 4类评级图片及适用范围; 3,选取与检测图像接近的标准评级图,其对 应级别数就是检测结果; 4,宏观晶粒度的测量。
5,面积法
1,面积:5000mm2; 2, 不超过100个晶粒,50个为佳; 3,选择对应的放大倍数; 4,各计算公式; 5,测量视场不带偏见的随机选择。
一,概念
1,晶粒: 2,晶粒度: 3,平均晶粒度(晶粒度级别数)G
二,测量方法概述
1,比较法:精确度:±0.5级;重现性: ±1.0级 2,面积法:精确度:±0.25级;重现性: ±0.5级 3,截距法:精确度:±0.25级;重现性: ±0.5级 4,截距法是仲裁方法; 5,不带偏见的选取三个或以上代表性视场测 量。
截点法三
三圆截点法: 11,截点数达500时,获得可靠精度; 12,三个同心等距,总周长500mm的圆组成; 通过适当的放大倍数,获得50~100个截点; 13,测量网格与三个晶粒汇合点重合时,记 为2个截点; 14,5个视场。
7,两相或多项及组员晶粒度
1,有少量的第二相颗粒,视作单相处理; 2,第二相或组员基本上与基体晶粒相同,用 比较法; 3,面积法; 4,截距法:平均截距=长度/截点*基相面积 百分比。
6,截点法一
1,计数给定长度的测量线段(或网格)与晶粒 边界相交截点数P来测定晶粒度; 2,非均匀等轴晶粒适用截点法; 3,直线截点法和圆截点法; 4,圆截点法相对直线截点法的优越性; 直线截点法: 5,选取适当的网格长度和放大倍数,保证有最 少50个截点数 6,终点接触到晶界算0.5个截点;与晶界相切
8,晶粒度的表示

第四章-2-晶粒度的计算

第四章-2-晶粒度的计算

常用的方法粒径估算的方法
① 透射电镜观察法 ② 扫描电子显微镜 射线衍射线线宽法(谢乐公式 ③ X射线衍射线线宽法 谢乐公式 射线衍射线线宽法 谢乐公式) ④ 比表面积法 ⑤ X射线小角散射法 射线小角散射法 拉曼(Raman)散射法 ⑥ 拉曼 散射法 ⑦ 探针扫描显微镜 光子相关谱法(激光粒度仪 激光粒度仪) ⑧ 光子相关谱法 激光粒度仪
• 例题.用X射线衍射法测定溶胶 凝胶法制备的 例题. 射线衍射法测定溶胶-凝胶法制备的 射线衍射法测定溶胶 ZnO微粉的晶型时,发现位于 微粉的晶型时, 微粉的晶型时 发现位于31.73o, 36.21o, 62.81o的三个最强衍射峰发生的宽化,这说明了 的三个最强衍射峰发生的宽化, 什么?三个衍射峰的半峰宽分别为0.386 o,0.451 什么?三个衍射峰的半峰宽分别为 o和0.568 o, 试计算 试计算ZnO微粉中晶粒粒径。 微粉中晶粒粒径。 微粉中晶粒粒径
d = 6 / ρSW
式中, 为密度 为密度, 为比表面积直径 为比表面积直径; 式中,ρ为密度,d为比表面积直径;SW的一般测量方法 多层气体吸附法. 为BET多层气体吸附法.BET法是固体比表面测定时常用的 多层气体吸附法 法是固体比表面测定时常用的 方法. 方法. 比表面积的测定范围约为0.1-1000m2/g,以ZrO2粉料为例, 粉料为例, 比表面积的测定范围约为 , 颗粒尺寸测定范围为lnm~l0µm. 颗粒尺寸测定范围为 ~ .
纳米粒子粒径估算方法
(1)关于颗粒及颗粒度的概念 关于颗粒及颗粒度的概念 晶粒:是指单晶颗粒,即颗粒内为单相,无晶界. ① 晶粒:是指单晶颗粒,即颗粒内为单相,无晶界. 一次颗粒:是指含有低气孔率的一种独立的粒子, ② 一次颗粒:是指含有低气孔率的一种独立的粒子,颗粒内部可以 有界面,例如相界、晶界等. 有界面,例如相界、晶界等. ③ 团聚体:是由一次颗粒通过表面力或固体桥键作用形成的更大的 团聚体: 颗粒.团聚体内含有相互连接的气孔网络. 颗粒.团聚体内含有相互连接的气孔网络.团聚体可分为硬团聚 体和软团聚体两种.团聚体的形成过程使体系能量下降. 体和软团聚体两种.团聚体的形成过程使体系能量下降. 二次颗粒:是指人为制造的粉料团聚粒子; ④ 二次颗粒:是指人为制造的粉料团聚粒子;例如制备陶瓷的工艺 过程中所指的“造粒”就是制造二次颗粒. 过程中所指的“造粒”就是制造二次颗粒. 纳米粒子一般指一次颗粒. 纳米粒子一般指一次颗粒. 结构可以是晶态、非晶态和准晶.可以是单相、多相结构, 结构可以是晶态、非晶态和准晶.可以是单相、多相结构,或 多晶结构. 多晶结构. 只有一次颗粒为单晶时,微粒的粒径才与晶粒尺寸(晶粒度 只有一次颗粒为单晶时,微粒的粒径才与晶粒尺寸 晶粒度 相 粒径才与晶粒尺寸 晶粒度)相 同.
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平均晶粒度概念
表示晶粒大小的尺度叫晶粒度。

晶粒度可用晶粒的平均面积或平均直径表示。

工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。

标准晶粒度共分8级,1-4级为粗晶粒,5-8级为细晶粒。

一般晶粒度越大,也就是越细越好
钢的晶粒度按其奥氏体化条件与长大倾向刁又分成起始晶粒度、实际晶粒度、本质晶粒度三起始晶粒度指钢在临界温度以上加热,奥化过程中最初形成的奥氏体晶粒的晶粒度,即奥转变刚刚完成,其晶粒边界开始接触时的晶粒大,J 称初生晶粒度。

实际晶粒度指某一实际条件下所得到的实粒大小。

本质晶粒度只代表在某一条件下,奥氏体的长大倾向。

一、晶粒大小与力学性能的关系:
晶粒大小对材料的性能影响很大,实践证明,材料的屈服强度σs与晶粒直径d符合Hall-Petch公式:σs =σ0 + K d1/2 式中,σ0和K 是两个与材料有关的常数。

可见,晶粒越细小,材料的强度越高。

不仅如此,晶粒细小还可以提高材料的塑性和韧性。

奥氏体的晶粒大小对钢随后的冷却转变及转变产物的组织和性能都有重要影响。

通常,粗大的奥氏体晶粒冷却后得到粗大的组织,其力学性能指标较低。

需要了解奥氏体晶粒度的概念以及影响奥氏体晶粒度的因素。

二、奥氏体晶粒度的概念:
奥氏体晶粒大小是用晶粒度来度量的。

可用晶粒直径、单位面积中的晶粒数等方法来表示晶粒大小。

晶粒度的评定一般采用比较法,即金相试样在放大100倍的显微镜下,与标准的图谱相比。

YB27-77将钢的奥氏体晶粒度分为8级,1级最粗,8级最细(见P208图)。

0级以下为超粗晶粒,8级以上超细晶粒。

奥氏体晶粒度级别(N):
生产上用晶粒度N表示晶粒大小,晶粒度级别与晶粒的大小有如下关系:n = 2N-1 式中n表示放大100倍时,1平方英寸(645.16㎜2)上的晶粒数。

n越大,N越大,晶粒越细。

n0= 2N+3式中n0表示放大1倍时,1平方毫米上的晶粒数。

几个概念:起始晶粒度、本质晶粒度、实际晶粒度
1、起始晶粒度:奥氏体转变刚刚完成,即奥氏体晶粒边界刚刚相互接触时的奥氏体晶粒大小称为起始晶粒度。

通常情况下,起始晶粒度总是比较细小、均匀的。

起始晶粒大小取决于形核率和长大速度。

加热转变终了时所得A晶粒度称为起始晶粒度。

n0 = 1.01(I/V)1/2 式中:I-形核率,V-长大速度。

2、本质晶粒度:根据YB27-64试验方法,即在930±10℃,保温3~8h后测定的奥氏体晶粒大小称为本质晶粒度。

如晶粒度为1~4级,称为本质粗晶粒钢,晶粒度为5~8级,则为本质细晶粒钢。

本质晶粒度表示在规定的加热条件
下,奥氏体晶粒长大的倾向性大小。

而不能认为本质细晶粒钢在任何加热条件下晶粒都不粗化(图2-31)。

钢的本质晶粒度与钢的成分和冶炼时的脱氧方法有关。

一般用Al脱氧或者含有Ti、Zr、V、Nb、Mo、W等元素的钢都是本质细晶粒钢,因为这些元素能够形成难熔于奥氏体的细小碳化物或氮化物质点,阻止奥氏体晶粒长大。

只用硅、锰脱氧的钢或者沸腾钢一般为本质粗晶粒钢。

3、实际晶粒度:钢在某一具体的加热条件下实际获得的奥氏体晶粒的大小称为实际晶粒度。

实际晶粒度取决于本质晶粒度和实际热处理条件。

实际晶粒一般总比起始晶粒大。

冷却开始时A晶粒度称为实际晶粒度。

三、A晶粒长大现象(机制):
1、A晶粒长大现象:
图2-31 奥氏体晶粒直径与加热温度的关系
在加热转变中,保温时间一定时,随保温温度升高,A晶粒不断长大,称为正常长大。

如图2-31中曲线1。

在加热转变中,保温时间一定时,随保温温度升高,A晶粒长大并不明显,必须当温度超过某一定值后,晶粒才随温度升高而急剧长大,称为异常长大,该值称为A晶粒粗化温度。

如图中曲线2。

2、长大驱动力:
A晶粒的长大是通过晶界的迁移而实行的,晶界迁移的驱动力来自界面自由能的降低。

对于球面晶界,当其曲率半径为R,界面能为γ,指向曲率中心的驱动力P为:
P = 2γ/R (2-6)
可见:R↓,P↑;R = ∞,P = 0。

也即晶粒半径越小,长大驱动力越大. 当半径无穷大或为平直界面时,驱动力为零。

此时A晶界已平直化。

3、正常长大:
晶界在驱动力P推动下匀速前进,由经典力学可导出:
D A2 = K exp(-Q/KT)τ(2-10)
其中,D A 为长大中A晶粒平均直径,K为常数,τ为时间,Q为Fe的自扩散激活能。

可见在一定温度T,随时间τ↑,D A↑。

4、异常长大:
(1) 、第二相小颗粒的晶界钉扎作用
用Al脱氧或含Nb,Ti,V的钢,在晶界上会存在这些元素的碳氮化合物粒子,一个粒子可使A晶界面积减少pr2(r为小粒子半径)。

当晶界在驱动力作用下移动时,将使A晶界与这些粒子脱离从而使A晶界面积增大,界面能增高。

所以粒子对晶界就有了钉扎作用,一个粒子对晶界移动提供的最大阻力为:Fmax = prγ,(2-11)其中,γ为单位面积界面能。

设单位体积中粒子的体积分数为f,则作用于单位面积晶界上的最大阻力F max为:
Fmax= 3fγ/2r (2-12)由上式可见:当粒子半径r愈小,体积分数f愈大,对晶界移动的阻力就愈大。

因此,为抑制A晶粒的长大,可以采取
以下两种措施:(1)增加碳(氮)化合物粒子的体积分数f;(2)细化碳(氮)化合物粒子。

但碳(氮)化合物粒子的体积分数f增加,钢的脆性增加,故不能过大。

最好的办法是采用细化碳(氮)化合物粒子。

(2)、异常长大的原因:由于温度T升高,第二相颗粒(碳氮化合物)的溶解,使阻力F =0,而此时驱动力P却很大,故晶粒急剧长大。

四、影响A晶粒长大的因素(奥氏体晶粒度及其影响因素):A晶粒是通过晶界的迁移而长大的,其实质是原子在晶界附近的扩散过程,长大的驱动力为界面能,晶粒长大使界面积减小,系统能量降低,因此晶粒长大是一个自发过程。

凡影响原子扩散的因素都影响A晶粒长大。

主要在于以下几方面:
1、加热温度和保温时间;
2、加热速度;
3、钢的化学成分-碳和合金元素及含量;
4、脱氧剂;
5、原始组织。

影响晶粒长大的因素:
1、加热温度和保温时间
温度的影响最显著,温度越高,晶粒长大速度越快(如图2-31),奥氏体最终晶粒尺寸大。

在一定温度下,随保温时间延长,奥氏体晶粒长大。

在每一个温度下,都有一个加速长大期,达到一定尺寸,长大过程将减弱并停止。

D = ktn
式中D为长大中A晶粒平均直径,t为时间,k、n与材料有关的常数。

为获得一定尺寸的晶粒,必须同时控制加热温度和保温时间。

2、加热速度:
加热速度对晶粒大小的影响(如图2-)。

加热速度快,A起始晶粒越细。

实际生产中经常采用快速加热,短时保温的办法来获得细小晶粒。

因为加热速度越大,奥氏体转变时的过热度越大,奥氏体的形核率越高,起始晶粒越细,加之在高温下保温时间短,奥氏体晶粒来不及长大。

图2- 加热速度与A晶粒大小关系示意图
3、钢的化学成分:
(1)、含碳量:
钢中随着含碳量的增加,奥氏体晶粒长大倾向增大,但是,当含碳量超过某一限度时,奥氏体晶粒长大倾向又减小。

这是因为随着含碳量的增加,碳在钢中的扩散速度以及铁的自扩散速度均增加,故加大了奥氏体晶粒的长大倾向。

但碳含量超过一定限度后,钢中出现二次渗碳体,对奥氏体晶界的移动有阻碍作用,故奥氏体晶粒反而细小。

(2)、脱氧剂:
用Al脱氧能形成难熔的AlN质点在晶界上析出,阻碍奥氏体晶粒长大。

而Si、Mn脱氧不能形成难熔的质点,晶粒容易长大。

(3)、合金元素:
凡未溶的碳化物等第二相质点均阻碍奥氏体晶粒长大。

若钢中加入适量能形成难熔强碳化物形成合金元素Ti、V、Zr、Nb等,由于能形成高熔点高稳定性的碳化物,因而这些元素有强烈阻碍奥氏体晶粒长大的作用,在合金钢中起细化晶粒的作用。

碳化物形成合金元素W、Mo、Cr等也能阻碍奥氏体晶粒长大,但效果不如Ti、V、Zr、Nb等。

非碳化物形成元素Ni、Si、Cu、Co等阻碍奥氏体晶粒长大的作用很小。

促使奥氏体晶粒长大的元素有C、N、P、O、Mn等
4、原始组织:
主要影响A的起始晶粒。

原始组织越细,起始晶粒越细小。

五、奥氏体晶粒大小的控制:
从以上分析看:凡提高扩散的因素,如温度、时间,均能加快A长大。

第二相颗粒体积分数f 增大,线度r减小,均能阻止A长大。

提高起始晶粒度的均匀性与促使晶界平直化均能降低驱动力,减弱A长大。

1、凡提高Dfe的因素均加快奥氏体晶粒长大;
2、存在未溶的碳化物等第二相质点均阻碍奥氏体晶粒长大;
3、调整工艺参数,提高起始晶粒的均匀性,阻碍奥氏体晶粒长大。

控制方法:
1、利用Al脱氧,形成AlN质点,细化晶粒,细晶粒钢;
2、利用难熔强碳化物形成合金元素形成碳化物、氮化物细化晶粒;
3、采用快速加热,短时保温的办法来获得细小晶粒;
4、控制钢的热加工工艺和预备热处理工艺。

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