CCD探测器及平板探测器
CCD探测器
CCD探测器产品特点
1) 反射式单CCD,大面阵设计像素矩阵4K×4K,1700万像素,极限空间分辨率可达到4、6lp/mm。
2) 17×17英寸成像面积,完全满足临床检查需要。
3) CCD防X射线辐射设计,图像质量长期可靠一致,使用成本大幅降低。
主要技术参数
有效视野:17英寸x17英寸/ 17英寸x14英寸像素填充系数:100%
像素矩阵:4kx4k,3kx3k像素尺寸:108um /140um
电源要求:220V AC 10A 50Hz
一、电荷耦合器件(ChargeCoupledDevices),简称CCD。
CCD的最基本单元MOS电容器就是构成CCD的最基本单元就是,它就是金属—氧化物—半导体(MOS)器件中结构最为简单的。
CCD原理:
1、信号电荷的产生:CCD工作过程的第一步就是电荷的产生。CCD可以将入射光信号转换为电荷输出,依据的就是半导体的内光电效应(也就就是光生伏特效应)。
2、信号电荷的存储:CCD工作过程的第二步就是信号电荷的收集,就就是将入射光子激励出的电荷收集起来成为信号电荷包的过程。
3、信号电荷的传输(耦合):CCD工作过程的第三步就是信号电荷包的转移,就就是将所收集起来的电荷包从一个像元转移到下一个像元,直到全部电荷包输出完成的过程。
图示为CCD成像区的一小部分(几个像素)。图像区中这个图案就是重复的。
4、信号电荷的检测:CCD工作过程的第四步就是电荷的检测,就就是将转移到输出级的电荷转化为电流或者电压的过程。
输出类型主要有以下三种:;1)电流输出;2)浮置栅放大器输出;3)浮置扩散放大器输出。
测量过程由复位开始,复位会把前一个电荷包的电荷清除掉。
电荷输送到相加阱。此时,V out 就是参考电平。在这个期间,外部电路测量参考电平。
二、CCD的基本原理
1、CCD的工作过程示意图
2、基本原理
(1)CCD的MOS结构
CCD图像传感器就是按一定规律排列的MOS(金属—氧化物—半导体)电容器组成的阵列,其构造如图39所示。在P型或N型硅衬底上生长一层很薄(约120nm)的二氧化硅,再在二氧化硅薄层上依次序沉积金属或掺杂多晶硅电极(栅极),形成规则的MOS电容器阵列,再加上两端的输入及输出二极管就构成了CCD芯片。
当向SiO2表面的电极加正偏压时,P型硅衬底中形成耗尽区(势阱),耗尽区的深度随正偏压升高而加大。其中的少数载流子(电子)被吸收到最高正偏压电极下的区域内(如图中Ф1极下),形成电荷包(势阱)。对于N型硅衬底的CCD器件,电极加正偏压时,少数载流子为空穴。
(2)CCD芯片的构造
每个光敏元(像素)对应有三个相邻的转移栅电极1、2、3,所有电极彼此间离得足够近,以保证使硅表面的耗尽区与电荷的势阱耦合及电荷转移。所有的1电极相连并施加时钟脉冲φ1,所有的2、3也就是如此,并施加时钟脉冲φ2、φ3。这三个时钟脉冲在时序上相互交迭。
电荷转移的控制方法,非常类似于步进电极的步进控制方式。也有二相、三相等控制方式之分。
(3)线型CCD图像传感器
线型CCD图像传感器由一列光敏元件与一列CCD并行且对应的构成一个主体,在它们之间设有一个转移控制栅。在每一个光敏元件上都有一个梳状公共电极,由一个P型沟阻使其在电气上隔开。当入射光照射在光敏元件阵列上,梳状电极施加高电压时,光敏元件聚集光电荷,进行光积分,光电荷与光照强度与光积分时间成正比。
在光积分时间结束时,转移栅上的电压提高(平时低电压),与CCD对应的电极也同时处于高电压状态。然后,降低梳状电极电压,各光敏元件中所积累的光电电荷并行地转移到移位寄存器中。当转移完毕,转移栅电压降低,梳妆电极电压回复原来的高电压状态,准备下一次光积分周期。同时,在电荷耦合移位寄存器上加上时钟脉冲,将存储的电荷从CCD中转移,由输出端输出。这个过程重复地进行就得到相继的行输出,从而读出电荷图形。
(4)面型CCD图像传感器
面型CCD图像传感器由感光区、信号存储区与输出转移部分组成。
图(a)所示结构由行扫描电路、垂直输出寄存器、感光区与输出二极管组成。行扫描电路将光敏元件内的信息转移到水平(行)方向上,由垂直方向的寄存器将信息转移到输出二极管,输出信号由信号处理电路转换为视频图像信号。这种结构易于引起图像模糊。
面型CCD图像传感器结构
图(b)所示结构增加了
具有公共水平方向电极的不
透光的信息存储区。在正常
垂直回扫周期内,具有公共
水平方向电极的感光区所积
累的电荷同样迅速下移到信
息存储区。在垂直回扫结束
后,感光区回复到积光状态。
在水平消隐周期内,存储区
的整个电荷图像向下移动,
每次总就是将存储区最底部
一行的电荷信号移到水平读出器,该行电荷在读出移位寄存器中向右移动以视频信号输出。当整帧视频信号自存储移出后,就开始下一帧信号的形成。该CCD结构具有单元密度高、电极简单等优点,但增加了存储
器。
图(c)所示结构就是用得最多的一种结构
形式。它将图(b)中感光元件与存储元件相隔排列。即一列感光单元,一列不透光的存储单元交替排列。在感光区光敏元件积分结束时,转移控制栅打开,电荷信号进入存储区。随后,在每个水平回扫周期内,存储区中整个电荷图像一次一行地向上移到水平读出移位寄存器中。接着这一行电荷信号在读出移位寄存器中向右移位到输出器件,形成视频信号输出。这种结构的器件操作简单,但单元设计复杂,感光单元面积减小,图像清晰。
目前,面型CCD图像传感器使用得越来越多,所能生产的产品的单元数也越来越多,最多已达1024×1024像元。我国也能生产512×320像元的面型CCD图像传感器。
三、CCD传感器的结构类型
1、按照像素排列方式的不同,可以将CCD分为线阵与面阵两大类
(1)线阵CCD
单沟道线阵CCD:转移次数多、效率低。只适用于像素单元较少的成像器件。
双沟道线阵CCD:转移次数减少一半,它的总转移效率也提高为原来的两倍。
线阵CCD每次扫描一条线,为了得到整个二维图像的视频信号,就必须用扫描的方法实现。
(2)面阵CCD
按照一定的方式将一维线阵CCD的光敏单元及移位寄作器排列成二维阵列。就可以构成二维面阵CCD。
面阵CCD同时曝光整个图像
常用面阵CCD尺寸系列
平板探测器
DR平板探测器常识
一、非晶硒与非晶硅平板探测器的区别
在数字化摄片中,X线能量转换成电信号就是通过平板探测器来实现的,所以平板探测器的特性会对DR图像质量产生比较大的影响。
1、DR平板探测器可以分为两种:
非晶硒平板探测器与非晶硅平板探测器,从能量转换的方式来瞧,前者属于直接转换平板探测器,后者属于间接转换平板探测器。
2、非晶硒平板探测器
非晶硒平板探测器主要由非晶硒层TFT构成。入射的X射线使硒层产生电子空穴对,在外加偏压电场作用下,电子与空穴对向相反的方向移动形成电流,电流在薄膜晶体管中形成储存电荷。每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X射线的剂量,通过读出电路可以知道每一点的电荷量,进而知道每点的X线剂量。由于非晶硒不产生可见光,没有散射线的影响,因此可以获得比较高的空间分辨率。
3、非晶硅平板探测器
非晶硅平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管或电荷耦合器件或互补型
金属氧化物半导体构成。它的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光;其次TFT或者CCD,或CMOS将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响。
4、不同平板探测器的比较
平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率与空间分辨率。量子探测效率DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。
(1)影响DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层与晶体管。
常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯与硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但就是转换效率不如碘化铯涂层高。
将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)+薄膜晶体管(TFT)这种结构的平板探测器中,由于TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大,因此可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上,中间没有可以光子损失,因此DQE也比较高;在碘化铯+CCD(或者CMOS)这种结构的平板探测器中,由于CCD(或者CMOS)的面积不能做到与闪烁体涂层一样大,所以需要经过光学系统折射、反射后才能将全部影像投照到CCD(或者CMOS)上,这过程使光子产生了损耗,因此DQE比较低。
(2)影响空间分辨率的因素:
由于可见光的产生,存在散射现象,空间分辨率不仅仅取决于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小,而且还取决于对散射光的控制技术。总的说来,间接转换平板探测器的空间分辨率不如直接转换平板探测器的空间分辨率高。
5、非晶硒平板探测器
X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于非晶硒层产生电荷能力。总的说来,CsI+TFT这种结构的间接转换平板探测器的极限DQE高于a-Se 直接转换平板探测器的极限DQE。
由于没有可见光的产生,不发生散射,空间分辨率取决于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小。矩阵越大薄膜晶体管的个数越多,空间分辨率越高,随着工艺的提高可以做到很高的空间分辨率。
量子探测效率与空间分辨率的关系
对于同一种平板探测器,在不同的空间分辨率时,其DQE就是变化的;极限的DQE高,不等于在任何空间分辨率时DQE都高。DQE的计算公式如下:
DQE=S2×MFT2/NSP×X×C
S:信号平均强度;MTF:调制传递函数;X:X线曝光强度;NPS:系统噪声功率谱;C:X线量子系数
从计算公式中我们可以瞧到,在不同的MTF值中对应不同的DQE,也就就是说在不同的空间分辨率时有不同的DQE。
非晶硅平板探测器的极限DQE比较高,但就是随着空间分辨率的提高,其DQE下降得较多;而非晶硒平板探测器的极限DQE不如间接转换平板探测器的极限DQE高,但就是随着空间分辨率的提高,其DQE下降比较平缓,在高空间分辨率时,DQE反而超过了非晶硅平板探测器。
这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强;而非晶硒平板探测器在区分细微结构差异的能力较高。
不同类型的平板探测器在临床上的应用
由于DQE影响了图像的对比度,空间分辨率影响图像对细节的分辨能力。在摄片中应根据不同的检查部位来选择不同类型平板探测器的DR。对于像胸部这样的检查,重点在于观察与区分不同组织的密度,因此对密度分辨率的要求比较高。在这种情况下,宜使用非晶硅平板探测器的DR,这样DQE比较高,容易获得较高对比度的图像,更有利于诊断;对于象四肢关节、乳腺这些部位的检查,需要对细节要有较高的显像,对空间分辨率的要求很高,因此宜采用非晶硒平板探测器的DR,以获得高空间分辨率的图像。目前绝大多数厂家的数字乳腺机都采用了非晶硒平板探测器,正就是由于乳腺摄片对空间分辨率要求很高,而只有非晶硒平板探测器才可能达到相应的要求。
三、非直接数字放射摄影(IDR)与直接数字摄影(DDR)之分
1、非直接数字放射摄影(Indirect Digital Radiography,简称IDR),就是一种硅半导体间接采集 X-粒子技术的数字摄影技术,采用两步数字转换过程,X-光粒子先变成可见光然后用光电管探测到转换为电信号。
2、直接数字放射摄影系统(Direct Digital Radiography,简称DDR)就是一种所谓直接X-粒子技术的数字摄影技术,X-光粒子在硒涂料层变成电信号被探测与转换;不产生可见光,而只就是电子的传导,可避免散射线的产生,理论上没有光电转换的能量损失。
3、放射影像的质量就是由许多因素共同作用形成的,仅仅突出在单个转换过程中能量损失多少就是无法保证高质量诊疗图像的,还得瞧实际转换效率与最终成像质量如何,不能光瞧某技术的单项理论值。
4、几乎所有世界级的专家学者都认可非晶硅板在成像质量稳定性上好于非晶硒板。
DR平板探测器分类介绍
DR平板探测器分类介绍 从1995年RSNA上推出第一台平板探测器（Flat Panel Detector）设备以来，随着近年平板探测技术取得飞跃性的发展，在平板探测器的研发和生产过程中，平板探测技术可分为直接和间接两类。 （一）间接能量转换 间接FPD的结构主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶硅层(amorphous Silicon，a-Si)再加TFT阵列构成。其原理为闪烁体或荧光体层经X射线曝光后，将X射线光子转换为可见光，而后由具有光电二极管作用的非晶硅层变为图像电信号，最后获得数字图像。在间接FPD的图像采集中，由于有转换为可见光的过程，因此会有光的散射问题，从而导致图像的空间分辨率极对比度解析能力的降低。换闪烁体目前主要有碘化铯(CsI，也用于影像增强器)，荧光体则有硫氧化钆(GdSO，也用于增感屏)，采用CsI+a-Si+TFT结构的有Trixell和GE公司等，而采用GdSO+a-Si+TFT有Canon和瓦里安公司等。 1、碘化铯( CsI ) + a-Si + TFT ：当有X 射线入射到CsI 闪烁发光晶体层时，X 射线光子能量转化为可见光光子发射,可见光激发光电二极管产生电流, 这电流就在光电二极管自身的电容上积分形成储存电荷. 每个象素的储存电荷量和与之对应范围内的入射X 射线光子能量与数量成正比。发展此类技术的有法国Trixell 公司解像度143um2 探测器( SIEMENS、Philips、汤姆逊合资) 、美国GE 解像度200um2 探测器( 收购的EG & G 公司) 等。其原理见右图。Trixell公司（目前有西门子、飞利浦、万东、上医厂、长青、泛太平洋等厂家使用，成本约9.5万美金）用的是Csl柱状晶体结构的闪烁体涂层，此种结构可以减少可见光的闪射，但由于工艺复杂难以生成大面积平板，所以采用四块小板拼接成17″×17″大块平板，拼接处图像由软件弥补。GE、佳能（佳能、东芝、岛津使用）的平板是使用Csl或Gd2O2S:Tb涂层，因不是柱状晶体结构，所以能量损失较Trixell 严重。 2、硫氧化钆( Gd2O2S ) + a-Si + TFT ：利用増感屏材料硫氧化钆( Gd2O2S ) 来完成X 射线光子至可见光的转换过程。发展此类技术的公司有美国瓦里安公司、*** Canon 公司解像度160um2 探测器等。此类材料制造的TFT 平板探测器成像快速、成本较低，但一般灰阶动态范围较低（12 bit 以下），与其它高阶14 bit产品图像诊断质量相比较为不足。 3、碘化铯( CsI ) / 硫氧化钆( Gd2O2S ) + 透镜/ 光导纤维+ CCD / CMOS ：X射线先通过闪烁体或荧光体构成的可见光转换屏，将X射线光子变为可见光图像，而后通过透镜或光导纤维将可见光图像送至光学系统，由CCD采集转换为图像电信号。发展此技术的ssRay、Wuestec、新医科技等公司。其原理可见右图。新医科技的CCD DR为2K×2K，12Bit图像输出，无论在图像上还是在价格上均是取代CR的最佳产品。 4、CsI ( Gd2O2S ) + CMOS ：此类技术受制于间接能量转换空间分辨率较差的缺点，虽利用大量低解像度CMOS 探头组成大面积矩阵，尚无法有效与TFT 平板优势竞争。发展此类技术的公司有CaresBuilt、Tradix公司等。 （二）直接能量转换 直接FPD的结构主要是由非晶硒层(amorphous Selemium，a-Se)加薄膜半导体阵列(Thin Film
DR平板探测器参数解释(分享借鉴)
DR平板探测器参数解释 1.调制传递函数（MTF） MTF的涵义:就是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力，理想的成像系统要求100%再现成像物体细节，但现实中肯定存在不同程度的衰减，所以MTF始终<1，它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来，换句话说，凡是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。MTF值越大，成像系统再现成像物体细节能力越强。系统的MTF是必须要测定的。要评价数字X线摄影系统的固有成像质量，必须计算出不受主观影响的、系统所固有的预采样MTF 2.空间分辨率 DR的空间分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度，以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条简称线对一对黑白相间的线条称之为一个线对，分辨率的线性表达单位是线对l毫米（LPlmm）。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多，表示图像空间分辨率越高。图像分辨率可用分辨率测试卡直接测出。但空间分辨率的提高不是无限的，其与探测器对X线光子的检测灵敏度、动态范围信噪比等有密切关系。厂商在DR宣传材料中标注的分辨率很多都是根据像素大小计算出来的而不是临床上真正关心的系统分辨率。但在实际临床X线成像过程中影响分辨率的因素有很多；例如X线焦点、SID （胶片距）、患者运动、曝光时间、探测器感光灵敏度、像素大小、计算机图像处理、显示器性能等。系统中的每一个子系统发生变化都会影响整个系统的分辨率（所谓”木桶效应“）。尤其要注意的是监视器分辨率，DR系统探测器本身的分辨率一般高于系统所配监视器的分辨率。目前临床所用最高档CRT型和LCD型显示器显示像素为2K×2.5K。这些监视器都是当作选件卖的，而DR系统本身所带监视器都为128O×1O24或1600×1200的普通计算机用监视器。从提高工作效率讲，屏读电子闯片是发展方向。所以在追求高分辨率的时候不要忘记监视器这一环。 3．X线照射剂量和影像噪声 在实际的成像条件下、噪声将始终干扰目标的检测。任何影像系统的图像上噪声都是由成像系统自身的本征噪声和二线量子噪声构成。系统本征噪声与探测器温度有关。一般来说是个常量，二线量子噪声与二线曝光剂量成反比，曝光剂量低，表现出的噪声大，当曝光剂量低到一定程度二线量子噪声将表现为主要成分。评价照射剂量和影像噪声最好的指标是探测器的DQE，其定义为探测器输出影像的信噪比与输人影像信噪比的比值，该数值越大，表示所采集影像信噪比损失越小。DQE与探测器的感光材料、结构和工艺有关，其中也与像素大小密切关联。图像噪声与每个像素单元接收的有效光子数成反比。一般说像素尺寸大、像素内所包含的光子数增加，会降低图像噪声提高检测灵敏度和DQE。 在探测器面积一定的条件下为了增加空间分辨率。只好减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。我们知道单位像素的面积越小、会使像素有效因子减少。像素的感光性能越低信噪比降低。动态范围变窄。因此这种减小像素尺寸的方法不可能无限制地增大分辨率。相反会引起图像质量的恶化，最终增加了的空间分辨率又被因此带来的噪声淹没，要弥补此问题就要增大X线曝光剂量。这与X线影像技术的发展是相违背的。因此单有高的空间分辨率并不意味着更高的发现病变的能力。 4．影像动态范围和对比分辨率 动态范围是衡量探测器性能的一个关键指标。是指探测器能够线性地探测出X线入射剂量的变化，其最低剂量与最高剂量之比。假如DR探测器能线性地探测出剂量变化最低值
医院常用检查设备比较
6828医用磁共振设备 分类编号：6828-01 管理类别：Ⅲ类 品名举例：永磁型磁共振成像系统、常导型磁共振成像系统、超导型磁共振成像系统分类名称：医用磁共振成像设备(MRI) 医用磁共振设备是一种利用原子核自旋运动的特点，在外加磁场内，经射频脉冲激发后产生信号，用探测器检测并输入计算机，经过处理转换在屏幕上显示图像的医学影像设备。 优点：具有非射线成像、无创、无害；可以创建轴面图像、矢状面图像、冠状面图像或者中间任何角度的图像，而无需患者移动分毫；在心血管和脑脊髓成像时无需注入对比剂，安全、无痛苦，同时可作功能分析等优点。 缺点：价格昂贵、费时，尚难满足广泛应用；空间分辨率不及CT；不适于某些急危病人；装有心脏起搏器的病人不能应用，以免引起起搏器失灵，造成生命危险。 6830医用X射线设备 分类编号：6830-04 & 管理类别：Ⅲ类 品名举例：X射线头部CT机、全身CT机、螺旋CT机、螺旋扇扫CT机 分类名称：X射线计算机断层摄影设备（CT） CT(Computed Tomography)，即电子计算机断层扫描，它是利用精确准直的X线束、γ射线、超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕人体的某一部位作一个接一个的断面扫描，具有扫描时间快，图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查；根据所采用的射线不同可分为：X射线CT（X-CT）以及γ射线CT（γ-CT)等。 优点：CT诊断由于它的特殊诊断价值，已广泛应用于临床。而且随着工艺水平、计算机技术的发展，CT得到了飞速的发展。多排螺旋CT投入实用的机型已经发展到了320排，同时各个厂家也在研究更先进的平板CT。CT与PET相结合的产物PET/CT在临床上得到普遍运用，特别是在肿瘤的诊断上更是具有很高的应用价值。 缺点：CT设备比较昂贵，检查费用偏高，某些部位的检查，诊断价值，尤其是定性诊断，还有一定限度，所以不宜将CT检查视为常规诊断手段，应在了解其优势的基础上，合理的选择应用。此外，CT诊断辐射剂量较普通X线机大，故怀孕妇女不宜进行CT检查。 6870软件 分类编号： 管理类别：Ⅱ类 品名举例：CR/DR 、病理图像分析系统、显微分析系统、红外热象处理、数字化超声工
进入电子暗盒(片盒)时代的DR无线平板探测器
进入电子片盒时代的DR平板探测器 影像技术学教授曹厚德（文本上传已征得曹教授同意） 探测器是DR摄影系统中的关键部件，其制造技术自然为核心技术。上世纪90年代起，我国的制造业已具备一定的基础，且知识产权意识也进一步加强，在引进技术的同时，开始注重自主研发。进入21世纪，一批海归精英相聚一起，开始着手进行平板探测器的自主研发与生产。 一历史回眸 上世纪八十年代中后期，在一次与国外专家的学术交流中，一位外国专家介绍了他以“电子片盒（Electronic Cassette）”命名的平板探测器研究成果。当时笔者对这位专家的成果非常钦佩，但对其名称持不同观点。分歧在于当时的平板探测器既有“辫子”（电源输入线）又有“尾巴”（信号输出线），因此其使用方便程度肯定与传统的片盒不同。经过热烈的讨论后形成的共识是：电子片盒是平板探测器的发展方向。时至今日，电子片盒的愿景已实现，回顾其发展历程，不无借鉴。 自从X线进入临床应用的近百年历史中，增感屏—胶片—片盒“三位一体”的模式一直是图像记录的主要技术方法。20世纪80年代，CR登堂入室使X线摄影从此进入数字化时代。但是，X线摄影的纪录介质（X线胶片、增感屏、CR成像板）的外形尺寸都依旧遵循ISO-4090标准。时至今日，X线机的片盒承载盘（cassette tray）尺寸符合ISO-4090标准的X线机仍在世界范围的发展中国家/地区大量生产和销售。平板探测器DR问世后，在其发展进程中，可兼容传统X线机片盒承载盘及无线传输的特点成为业界关注的热点，因为此时的DR已与传统的片盒、CR成像板的技术方式接近。但是尚若干主要技术瓶颈有待克服，导致这种平板探测器仍然无法像片盒一样可以随意在任何X线机和任何条件下操作。 二实施电子暗盒的技术瓶颈及克服 （一）.体积的小型化 由于集成电路技术水平的限制，平板探测器的信号读出和处理的电路系统，还需较大的体积和比较严苛的散热条件，导致当时所有的平板探测器都无法按照ISO-4090的标准设计尺寸。 进入21世纪之后，电子技术的发展带来模拟前端芯片的逐渐小型化和高度集成化，可编程逻辑阵列（FPGA）之类的技术也开始在消费电子，汽车电子等领域应用，促进将电子设备的尺寸逐渐缩小。相同的故事也发生在放射影像领域，首次将平板探测器的尺寸缩小到片盒尺寸。 （二）.曝射的自动同步控制 DR技术由于薄膜晶体管（TFT）结构在没有X线照射的情况下仍然会积累暗电流因而造成图像伪影，所以DR探测器需随时和高压发生器沟通曝射的顺序，以保证X线产生之前暗电流被清除干净。这种工作机制导致平板探测器一直需要一根通讯线和高压发生器之间在曝射时序上握手，限制了一块平板只能在一台特定x线机上使用，无法像片盒一样自由移动。 克服此瓶颈的第一个突破口出现在2012年，“一种数字摄影自动曝光控制装置及控制方法”的专利在中国提交并在2013年获得公示，首次在有线探测器上应用这种无需曝射同步的探测器技术开始在不少国际厂家逐步采用类似的技术并形成了一个等效的名词：AED(automatic exposure detection)。这是我国科技工作者在此领域作出的重大贡献。目前平板探测器主流的技术有两类，①中心区域受照射可触发采集；②全幅面受照射可触发采集,。这种全幅面触发的AED技术适合在儿科、四肢等专科领域应用，在照射野偏离平板中心的情况下特别适用。 （三）.内置wifi传输
平板探测器及其影像系统产品技术要求mairui
2要求 2.1图像质量及成像性能 2.1.1线对分辨率 在70 kV的条件下，标称有效成像区域下的线对分辨率： a)无衰减体模的情况下应不小于3.7 lp/mm。 b)有衰减体模（纯度大于99.5%的20 mm厚的铝）情况下应不小于3.7 lp/mm。 2.1.2低对比度分辨率 在85 kV、探测器表面的空气比释动能不低于2.1.10中最大线性剂量的50%的条件下，低对比度分辨率的最小值应不大于0.0035。 2.1.3影像均匀性 在70 kV、1.8 mSID、探测器中央区域表面空气比释动能为2.1.10中最大线性剂量的20% 的条件下，影像规定采样点灰度值的标准差R 与灰度值均值V m 之比不应大于2.2%。 R ≤2.2% ????????????????????????????????????????????????????????????????????（1） V m 式中： R ——灰度值标准差； V m ——灰度值均值。 2.1.4残影 在最短曝光间隔为16 s的条件下，无可见残影存在。 2.1.5伪影 无可见伪影存在。 2.1.6调制传递函数（MTF） 在RQA5条件下在空间频率为1.0 lp/mm、2.0 lp/mm上的MTF数值分别为0.58、0.3，偏差均不超过-0.04。
2.1.7量子探测效率（DQE） 在RQA5、10 μGy剂量条件下在空间频率为0、0.5 lp/mm、1.0 lp/mm、1.5 lp/mm、2.0 lp/mm、2.5 lp/mm、3.0 lp/mm、3.5 lp/mm上的DQE数值分别为0.7、0.53、0.43、0.36、0.32、0.27、0.21、0.14，偏差均不超过-0.06。
2020年数字化X射线平板探测器企业发展战略规划
2020年数字化X射线平板探测器企业发展战略规划 2020年6月
目录 一、公司发展战略 (3) 二、已采取的措施及实施效果 (4) 1、以研发为动力，推动技术创新，驱动业务发展 (4) 2、以质量为标杆，严控生产过程，打造良好口碑 (5) 3、以市场为导向，响应市场需求，拓展应用领域 (5) 三、未来规划采取的措施 (6) 1、进一步完善公司治理和规范运作水平 (6) 2、强化生产管理，扩大生产能力 (6) 3、保持研发创新投入，强化产品质量管理 (6) 4、加强团队建设，拓展市场空间 (7) 5、充分发挥募集资金和资本平台的作用 (7)
一、公司发展战略 公司自成立以来便专注于自主创新和技术研发。未来，公司将继续以技术开发和产品创新为导向，追求卓越，致力于不断向全球客户提供高性能、低剂量的数字化X射线影像系统核心部件产品，通过运用公司掌握的技术和产品开发优势革新医疗影像诊断技术，力争成为具有国际竞争力的数字化X射线影像系统核心部件及解决方案供应商，为社会创造更多的价值。 短期而言，公司将紧跟市场动态，充分挖掘客户需求，加快对高技术含量、高附加值产品型号的市场布局，并进一步优化生产工艺，严控产品质量，依托高性能的产品和高质量的客户服务进一步扩大市场份额，培养客户粘性，实现效益增长。 长期来看，公司将围绕自身技术优势和研发积累，结合行业发展趋势，保持对产品和技术的研发创新，不断进行改进升级，继续对现有医疗和非医疗领域内的产品进行深度开发。在医疗领域，公司将继续丰富现有产品系列，助力常用放射影像设备的全面数字化和国内放射影像设备核心部件的全面国产化，使得基层医疗机构得以具备提供先进医疗影像诊断服务的能力；在非医疗领域，针对工业应用能量范围广、使用环境要求变化大、生产流水线运行速度快等特点，公司将进一步开发专用于工业领域的平板探测器，并开发高度符合安检用途特性的平板探测器产品，使得安检更加高效、轻便化、无线化。 此外，在扩充现有平板探测器产品系列覆盖领域的基础上，公司
中兴医疗SanteView-3001C型平板探测器-北京航天中兴医疗系统
航天中兴平板探测器通过SFDA注册北京航天中兴医疗系统有限公司与韩国SEHYUN公司合作制造的17*17英寸平板探测器及其软件2010年11月通过了SFDA 认证。该平板探测器采用非晶硅碘化铯整板结构，像素尺寸为143微米，系统空间分辨率达到每毫米3.7线对。为了避免放大器电路受射线照射损坏，采用铅板进行整板保护，所以平板探测器重12公斤、厚4厘米。公司技术负责人介绍说，这样做的目的是保证平板探测器的长寿命。 航天中兴平板探测器特点如下： （1）性能稳定、长寿命技术：试验板经历了高低温、振动、国内及德国和美国的运输振动各种环境例行试验。试验板在历时3个月的寿命实验中，共计曝光照射3万次（试验条件100kv、20mAs），试验中没有对探测器进行校正，各项技术指标无明显
变化。 （2）快速的采集时间:采用1Gbps的网络传输速度，全部数据采集时间仅为0.97秒，图像成像时间不到3秒。 （3）软件兼容PACS和RIS，采用DICOM3.0标准。 （4）满足临床诊断要求的功能软件：在航天中兴worker3.0版本基础上增加平板探测器有关部分内容，该软件已经经历12年国内外医院大量使用验证。 （5）控制盒 A. LED 指示灯表示探测器状态 （A1: 电源(绿) / A2: 待发(绿) / A3: 探测器待发 (黄) / A4: 暴光 (红)） B. X-光触发 / 曝光 LED 按键 C. 电源接口 : 220V D. 手闸和网路接口(适用于多探测器) E. 电源和X-光激活接口 (D-sub 25 针) F. X-光激活信号接口 (8针) G. X-光准备和暴光手闸接口 (6针) H. DC 针接口: 24V (2针) (6)电缆和接口 A. AC 电源线和DC 插针: 24V (2针) B. 以太网线 C. X X-光准备和暴光手闸接口(6针)
无线便携平板探测器技术要求
无线便携平板探测器技术要求 1、原装进口数字平板探测板 2、整板无拼接 3、有效区域：≥14×17inch 4、距阵：≥2448×2984 5、像素间距：143μm； 6、重量（含电缆）：≥3.0kg； 7、预览图像读取时间：X线曝光后约1-4秒； 8、A/D转换：16比特灰度tiff； 9、操作环境（传感器）：10-35℃，30-80%RH（不凝结） 10、感应器保护板：碳纤维板 11、平板材料：非晶硅 12、DQE：70% 13、平板校正周期：一年 14、空间分辨率≥3.5LP/MM 二、图像工作站： 机箱类型：微塔式； CPU:高性能CPU 核心/线程数：四核心/四线程 内存类型：≥2GB； 硬盘容量：≥400GB 光驱：DVD刻录；
显卡类型：高性能显卡 显存容量：共享内存容量 三、图像采集软件： 软件功能： 1：病人管理 -病人登记，可通过文本文件批量导入病人资料 -支持DICOM Worklist SCU，自动从PACS/RIS 获取病人资料 -病人及检查信息修改和删除 -图象导入导出，支持DCM/BMP/JPG/TIF/PGM/PNG/RAW 图像格式-缩略图画廊，支持鼠标双击打开图像或拖拽打开图像 -支持DICOM Q/R SCU，可从PACS 查询并提取各类DICOM 图像-支持特殊病例、图像、报告的教学收藏功能等 2：拍片检查 -提供人性化的拍片图形用户界面 -选择拍摄部位、体型、体位 -设置电压、电流、毫安秒等技术条件 -通过拍片协议快速设置技术条件 -支持原始图像后重建 3：观片测量 -基本观片操作 --图像旋转--图像镜像--正负片显示--图像缩放--图像平移--图像导航--放大镜等功能
DR技术比较及平板探测器知识
平板探测器知识 （一）在数字化摄片中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器来实现的，所以平板探测器的特性会对DR图像质量产生比较大的影响。选择DR必然要考虑到平板探测器的选择。平板探测器的性能指标会对图像产生很大的影响，医院也应当根据实际需要选择适合自己的平板探测器。 DR平板探测器可以分为两种：非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器，从能量转换的方式来看，前者属于直接转换平板探测器，后者属于间接转换平板探测器。 非晶硒平板探测器主要由非晶硒层TFT构成。入射的X射线使硒层产生电子空穴对，在外加偏压电场作用下，电子和空穴对向相反的方向移动形成电流，电流在薄膜晶体管中形成储存电荷。每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X 射线的剂量，通过读出电路可以知道每一点的电荷量，进而知道每点的X线剂量。由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以获得比较高的空间分辨率。 非晶硅平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管或电荷耦合器件 或互补型金属氧化物半导体构成它的工作过程一般分为两步，首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光；其次TFT或者CCD，或CMOS将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射，但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除。
? 不同平板探测器的比较 评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个：量子探测效率和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力；而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。 （1）影响平板探测器DQE的因素 在非晶硅平板探测器中，影响DQE的因素主要有两个方面：闪烁体的涂层和将可见光转换成电信号的晶体管。 首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力，因此对DQE 会产生影响。目前常见的闪烁体涂层材料有两种：碘化铯和硫氧化钆。碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高；将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。 其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响。在碘化铯(或者硫氧化钆)+薄膜晶体管(TFT)这种结构的平板探测器中，由于TFT的阵列可以做成与闪烁体涂层的面积一样大，因此可见光不需要经过透镜折射就可以投射到TFT上，中间没有可以光子损失，因此DQE也比较高；在碘化铯+CCD(或者CMOS)这种结构的平板探测器中，由于CCD(或者CMOS)的面积不能做到与闪烁体涂层一样大，所以需要经过光学系统折射、反射后才能将全
1、非晶硅平板探测器
1、非晶硅平板探测器 序号技术规格技术参数 1 非晶硅平板探测器（1个） 1.1 类型非晶硅平板探测器 14″×17″（34.6cm×42 cm）（卡1.2 有效探测区域 槽式） 1.3 闪烁体碘化铯Csl 1.4 像素矩阵≧2304*2800 1.5 像素尺寸≦150μm 1.6 模拟数字装换≧14bits 1.7 空间分辨率≧3.3lp /mm 384*460*15.8mm（升级过程中不对原1.8 结构尺寸 有X光机有任何改动） 1.9 探测器存储温度≧- 40°C 到 + 60°C 1.10 探测器存储湿度≧10-70% 1.11 X线自动触发控制Sync-Shot 1.12 自动曝光控制T-AEC 1.13 抗震性高震动承受性 1.14 数据通信Gigabit Ethernet 1.15 外壳材料碳纤维和铝 1.16 功耗80VA 1.17 重量≦3.3kg
2 DROC图像采集工作站硬件（1套） 2.1 中央处理器（CPU）Inter酷睿i3以上处理器2.2 硬盘容量≧1TB 2.3 内存容量≧4GB 2.4 采集工作站显示器尺寸≧21英寸显示器 2.5 独立显卡显存≧2GB 2.5 运行软件环境操作系统：兼容Windows XP Professional；Windows7；Windows8系统系列；控制及影像采集软件 3 软件功能特点 3.1 配备最新版本的专业DR处理软件、病人资料处理、图象显示及图像传输等功能 3.2 图象优化：检测优化曲线表，图像自动最优化 3.3 图像处理：自动/手动窗宽窗位调节，图像放大缩小、图像旋转和镜 像，图像正负像翻转，进行各种测量和标注，图像裁剪和恢复等 3.4 影像预览、显示及基本后处理 3.5 DICOM3.0接口，具备完全基于DICOM3.0标准的图像获取、传输、刻录、打印、存储等功能 3.6 多种的DICOM胶片打印，并支持分隔打印3.7 具有内置登记功能；Worklist 功能 3.8 能与科室现有PACS/RIS系统进行无缝连接,协助医院完成接入PACS/RIS 系统 4 数字X射线成像系统与X射线高压发生器互相独立，不能有物理连接 5 保修期二年
基于平板探测器的DR升级方案中DQE检测的应用
基于平板探测器的DR升级方案中DQE检测的应用 [摘要]:目的:探讨在基于平板探测器DR升级方案中量子探测效率（DQE）检测的方法及其应用价值。方法：检测量子探测效率时，把入射X射线剂量与平板探测器产生的图像联系起来。根据国际电工委员会制定的IEC 62220-1标准的方法对刃钨模体成像，通过对刃钨模体图像的分析并结合平板探测器入射X射线的空气比释动能的线性关系，利用DQEPro 设备及软件计算得出三种不同类型平板探测器升级方案的DQE测试数据。结果：实验证明了通过量子探测效率的检测，可以明确了解DR升级方案中平板探测器的基本性能。DQE 检测能反映不同类型的平板探测器的成像性能的优劣。结论：基于平板探测器的DR系统的升级方案中DQE检测，更好的为数字化X线摄影系统计量性能检定提供技术依据，确保DR升级后在诊断方面的成像质量。 [关键词]: DR系统；平板探测器；升级；量子探测效率 The application of testing DQE in upgrading of DR based on flat panel detector [Abstract]Objective: To discuss the test methods and the application value of detective quantum efficiency(DQE) in upgrading of DR based on flat panel detector. Methods: Combining the dose of incident X-rays with the image brought by flat panel detector. According to the international electrotechnical commission IEC 62220-1 standard method, the tungsten imaging,and combined with the relationship between the FPD and incident X-ray air kerma, using DQEPro equipment and software to calculate the result of the three different types of FPD.Result: The experiment proves that the basic performance of flat panel detector is known definitely by testing the DQE. DQE can reflect the quality of imaging performance in different types of flat-panel detector.Conclusion: The upgrading of DR based on flat panel detector and the DQE testing can be a better technical basis for DR measurement performance, then it can be ensure the quality of DR upgraded in diagnostic imaging. [Key words] DR system; flat panel detector; upgrade; DQE. 基于平板探测器的DR升级方案，充分利用影像科已有的设备资源，实现资产的重复利用率，提高了影像质量，提高了工作效率，特别是降低了材料损耗和购机成本，不造成重复投资和资源浪费[1]。满足了临床应用要求，相信有一定的推广意义[2]。 目前直接数字摄影（digital radiography，DR）在成像性能方面、市场成熟程度方面及应用技术研究方面均取得了较大的进展。其中平板探测器作为核心部件，随着其使用年限的增加，也使得原有DR系统的成像性能下降，可能会造成影像诊断的误诊及漏诊。在数字化X 射线摄影系统的性能检测过程中，我们需要将管球产生的X射线与平板探测器中产生的图像联系起来考虑，才能解决基于平板探测器的DR升级检测过程中存在的一些问题。在国际上，通常使用量子探测效率（detective quantum efficiency，DQE ）作为评价X射线转换成有效图像信息能力的客观物理量。本文探讨了基于平板探测器DR升级方案中DQE检测的方法及其应用价值。 一、基于平板探测器的DR升级方案 1.DR升级系统配置 MECALL PLURIAMTD X射线摄影系统，其中高频发生器为加拿大CPI公司Indico100 RAD，最大功率80 kW，最大管电流630mA。X射线管Varian A-192，大小焦点分别为0.6
飞利浦DR平板探测器故障三例
MEDICAL ENGINEERING TECHNOLOGY医学工程技术 飞利浦DR平板探测器故障三例 任建峰 山西医科大学第二医院设备维修部，山西太原 030001 [摘 要] 目的 通过描述本人遇到的飞利浦直接数字化拍片系统的三次故障和维修过程，介绍设备平板探测器部分三例故障的解决思路和方法，为广大医院同仁维修此类设备平板探测器部分提供借鉴。方法首先利用设备故障现象、提供的错误信息和各种测试手段，判断故障大致方向，再加上长期以来维修的经验和参考硬件电路图帮助分析，最后找出故障点并更换相应配件，从而顺利地解决了问题。结果顺利自行维修设备平板探测器部分三例故障，避免设备停机造成的损失。结论只要掌握正确的维修思路，按照设备硬件电路工作原理进行分析，可以做到此类设备的自行维修。以此达到提高个人维修技术、保障设备开机率和为医院节省开支的目的。 [关键词] 数字化拍片系统；平板探测器；设备故障；医疗设备维修 Three Cases of Troubleshooting of the Flat Panel Detector for Philips DR REN Jianfeng Department of Equipment Maintenance, The Second Hospital of Shanxi Medical University, Taiyuan Shanxi 030001, China Abstract: Objective By describing the three failures and maintenance processes of the Philips digital radiography system that I encountered, the idea and method of solving three faults of the device ?at-panel detector was introduced, which could provided references for our colleagues in the hospital to maintain such devices. Methods Firstly, the fault direction was judged based on the equipment failure phenomenon, error messages and various test methods. Then, the long-term maintenance experience coupled with reference hardware circuit diagram was performed. Finally, the fault point was found out and the corresponding parts was replaced, and the problem was solved smoothly. Results Three failures of ?at panel detector part were solved smoothly by self-maintenance, and the loss caused by equipment shutdown was successfully avoided. Conclusion As long as the correct maintenance ideas are mastered and the working principle of the equipment hardware circuit is analyzed, the self-maintenance of this kind of equipment can be achieved, which can achieve the purpose of improving the personal maintenance technology, ensuring the opening rate of the equipment and saving expenses for the hospital. Key words: digital radiography; ?at panel detector; equipment failure; medical equipment maintenance [中图分类号]TP391 [文献标识码] B doi：10.3969/j.issn.1674-1633.2018.09.026 [文章编号] 1674-1633(2018)09-0097-03 引言 直接数字化拍片系统（Digital Radiography，DR）的研究始于20世纪70年代末，是计算机数字图像处理技术与X射线放射技术相结合而形成的一种X线摄影技术，它的出现彻底实现了医用X光摄影的直接数字化，成为现代放射医学的主流数字化设备[1]。其中平板探测器作为设备重要组成部分，有效面积17英寸，由基层板、非晶硅阵列、碘化铯层等构成。能够将穿透病人被检部位的X光子由碘化铯晶体层转化为荧光图像；荧光沿碘化铯针状晶体传递到非晶硅光电二极管构成的探测器矩阵，将荧光图像转化为信号电荷的多少。计算机控制读出电路，依次读出各像素信号电荷信息，再经过A/D转换后，获得数字图像信号，传送到图像处理器进行处理和存储后，在监视器上显示，曝光5 s即可快速浏览图像[2]。有成像效果好、分辨率高、成像时间短、动态范围高等诸多优点[3-4]。我院有5台荷兰皇家飞利浦公司生产的同类型DR，设备采用悬吊球管方式、遥控升降立位探测器，活动范围大，空间利用率高，探测器在电动控制下沿立柱上下运动，球管自动跟踪，方便技师操作，节约摆位时间，可满足身体各部位的检查，为临床诊断提供重要依据。因装机时间长，使用量大，故障时有发生。本文根据我院飞利浦公司DigitalDiagnost VE/VT型号设备平板探测器日常故障，并将其中具有代表性的三例介绍如下，供各位同仁参考。 1 故障一 1.1 故障现象 间歇性球管不跟踪探测器，后完全不跟踪。SID（Source Image Distance，源像距）显示“？？”（图1），束光器窗 收稿日期：2018-02-26 修回日期：2018-03-09 作者邮箱：a3037565@https://www.360docs.net/doc/067982246.html, 中国医疗设备 2018年第33卷 09期 V OL.33 No.0997
DR平板探测器参数解释
DR平板探测器参数解释 1、调制传递函数(MTF) MTF的涵义:就就是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力,理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影像全部再现出来,换句话说,凡就是经过成像系统所获得的图像都不同程度损失了影像的对比度。MTF值越大,成像系统再现成像物体细节能力越强。系统的MTF就是必须要测定的。要评价数字X线摄影系统的固有成像质量,必须计算出不受主观影响的、系统所固有的预采样MTF 2、空间分辨率 DR的空间分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度,以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条简称线对一对黑白相间的线条称之为一个线对,分辨率的线性表达单位就是线对l毫米(LPlmm)。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多,表示图像空间分辨率越高。图像分辨率可用分辨率测试卡直接测出。但空间分辨率的提高不就是无限的,其与探测器对X线光子的检测灵敏度、动态范围信噪比等有密切关系。厂商在DR宣传材料中标注的分辨率很多都就是根据像素大小计算出来的而不就是临床上真正关心的系统分辨率。但在实际临床X线成像过程中影响分辨率的因素有很多;例如X线焦点、SID(胶片距)、患者运动、曝光时间、探测器感光灵敏度、像素大小、计算机图像处理、显示器性能等。系统中的每一个子系统发生变化都会影响整个系统的分辨率(所谓”木桶效应“)。尤其要注意的就是监视器分辨率,DR系统探测器本身的分辨率一般高于系统所配监视器的分辨率。目前临床所用最高档CRT型与LCD型显示器显示像素为2K×2、5K。这些监视器都就是当作选件卖的,而DR系统本身所带监视器都为128O×1O24或1600×1200的普通计算机用监视器。从提高工作效率讲,屏读电子闯片就是发展方向。所以在追求高分辨率的时候不要忘记监视器这一环。 3.X线照射剂量与影像噪声 在实际的成像条件下、噪声将始终干扰目标的检测。任何影像系统的图像上噪声都就是由成像系统自身的本征噪声与二线量子噪声构成。系统本征噪声与探测器温度有关。一般来说就是个常量,二线量子噪声与二线曝光剂量成反比,曝光剂量低,表现出的噪声大,当曝光剂量低到一定程度二线量子噪声将表现为主要成分。评价照射剂量与影像噪声最好的指标就是探测器的DQE, 其定义为探测器输出影像的信噪比与输人影像信噪比的比值,该数值越大,表示所采集影像信噪比损失越小。DQE与探测器的感光材料、结构与工艺有关,其中也与像素大小密切关联。图像噪声与每个像素单元接收的有效光子数成反比。一般说像素尺寸大、像素内所包含的光子数增加,会降低图像噪声提高检测灵敏度与DQE。 在探测器面积一定的条件下为了增加空间分辨率。只好减小像素尺寸、降低单位像素面积、增加像素密度。我们知道单位像素的面积越小、会使像素有效因子减少。像素的感光
平板DR探测器结构及其成像原理(天地智慧)
平板DR探测器原理(天地智慧医疗) 从 1995年RSNA上推出第一台平板探测器（Flat Panel Detector）设备以来，随着近年平板探测技术取得飞跃性的发展，在平板探测器的研发和生产过程中，平板探测技术可分(天地智慧医疗)为直接和间接两类。 （一）间接能量转换(天地智慧医疗) 间接FPD的结构主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶 硅层(amorphous Silicon，a-Si)再加TFT阵列构成。其原理为闪烁体或荧光体层经X射线曝光后，将X射线光子转换为可见光，而后由具有光电二极管作用的非晶硅层变为图像电信号，最后获得数字图像。在间接FPD的图像采集中，由于有转换为可见光的过程，因此会有光的散射问题，从而导致图像的空间分辨率极对比度解析能力的降低。换闪烁体目前主要有碘化铯(CsI，也用于影像增强器)，荧光体则有硫氧化钆(GdSO，也用于增感屏)，采用CsI+a-Si+TFT结构的有Trixell、瓦里安和GE公司等，而采用GdSO+a-Si+TFT有Canon等。 1、碘化铯 ( CsI ) + a-Si + TFT ：当有 X 射线入射到 CsI 闪烁发光晶体层时，X 射线光子能量转化为可见光光子发射,可见光激发光电二极管产生电流, 这电流就在光电二极管自身的电容上积分形成储存电荷. 每个象素的储存电荷 量和与之对应范围内的入射 X 射线光子能量与数量成正比。发展此类技术的有法国 Trixell 公司解像度 143um2 探测器 ( SIEMENS、Philips、汤姆逊合 资 ) 、美国 GE 解像度 200um2 探测器 ( 收购的 EG & G 公司 ) 等。其原理见右图。Trixell公司（目前有西门子、飞利浦、等厂家使用，成本约9.5万美金）用的是Csl柱状晶体结构的闪烁体涂层，此种结构可以减少可见光的闪射，但由于工艺复杂难以生成大面积平板，所以采用四块小板拼接成17″×17″大块平板，拼接处图像由软件弥补。 GE、佳能（佳能、东芝、岛津使用）的平板是使用Csl或Gd2O2S:Tb涂层，因不是柱状晶体结构，所以能量损失较Trixell 严重。(天地智慧医疗) 2、硫氧化钆 ( Gd2O2S ) + a-Si + TFT ：利用増感屏材料硫氧化钆 ( Gd2O2S ) 来完成 X 射线光子至可见光的转换过程。发展此类技术的公司有 Canon 公司解像度 160um2 探测器等。此类材料制造的 TFT 平板探测器成像快速、成本较低，但一般灰阶动态范围较低（12 bit 以下），与其它高阶14 bit产品图像诊断质量相比较为不足。 3、碘化铯 ( CsI ) / 硫氧化钆 ( Gd2O2S ) + 透镜 / 光导纤维 + CCD / CMOS ：X射线先通过闪烁体或荧光体构成的可见光转换屏，将X射线光子变为可见光图像，而后通过透镜或光导纤维将可见光图像送至光学系统，由CCD采集转换为图像电信号。发展此技术的IDC、深圳蓝韵、北京万东、深圳安健等公司。深圳蓝韵的KeenRayCCD DR探测器的像素为4K×4K，16Bit图像输出，无论在图像上还是在价格上均是取代CR的最佳产品。(天地智慧医疗)
PerkinElmer 0822 平板探测器
PerkinElmer 平板探测器型号 XRD 0822 AO XRD 0822 AP XRD 1611 XP XRD 1620 XN CS XRD 1621 XN XRD 1622 AO XRD 1622 AP XRD 1642 AP XRD 0820系列X射线数字平板探测器维修 德国PerkinElmer XRD 0820系列X射线数字平板探测器维修电路板维修XRD 0822 系列X射线数字平板探测器 XRD-EP电源维修EL448197 IXS160BP500P063 X10071-b00303 VJT1011283 X射线检测技术和返修技术领先厂商VJ Technologies伟杰科技苏州 RD0822 平板X射线探测器珀金埃尔默公司 XRD-0820-ES XRD-0840-ES主板电路板维修XRD 0820 NA/CN/MN ES DEXELA 2315MAM DEXELA 2315MAM CL DEXELA 2923MAM CL Dexela 2321(In Development) Dexela 2321(In Development) Dexela 2321 DEXELA 1313 Literature XRD 0822 AO， AP XRD 1611 xP XRD 1622 AP3 XRD 1622 AO， AP XRD 1642 AP XRpad 3025 XRpad 4336 XRpad 4343 XRD 4343 RF XRD Series Product Note
XRD Accessories DEXELA NDT DEXELA Standard Products DEXELA MAM GigE DEXELA 2315 MAM CL DEXELA 2923 MAM CL DEXELA 1313 DEXELA 2321 大连PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器 XRD 8英寸（20厘米）平板X射线探测器丹东奥龙射线丹东市中讯安防 XRD 0822 平板X射线探测器（FPDs）是PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）公司出品的8英寸（20厘米）非晶硅的平板X射线探测器。 YXLON MG系列X射线系统 型号: MG-XXX YXLON的MG系列通用型高能量和高剂量X射线系统，采用最先进的40KHz高频技术设计，射线输出非常稳定，更可精确快速调节能量。该系列X射线系统不单成为拍片和实时成像的理想光源，还能更可靠的用于层析扫描(CT)和剂量测定。基本特性：-能量输出范围： 100KV/160KV/225KV/320KV/450kV/600KV-MGC41微处理器控制，LED显示，亮度可调节-带有10米以上连接... YXLON MG系列X射线系统 XRD 0822 平板X射线探测器提供两种型号： 0822 AO ：A / D转换 14比特，提供超过78分贝的动态范围，帧速率高达30帧/秒。 0822 AP ：增强型。具有16位的对比分辨率，16比特。提供超过88分贝的动态范围，通过几个读出模式帧速率高达100帧/秒。 两个探测器支持能量水平从60 kV 到15 MV，和一些屏蔽和闪烁选项。 一个碳纤维入口窗口支持的一个扩展的能量范围为20 kV——- 15 MV。 快速的系统集成是通过以太网实现数据通信，集成触发器和同步电路对x射线控制和全面的软件图书馆对图像采集和处理。 北京PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器长春PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器大连PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器齐齐哈尔PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器沈阳PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器天津PerkinElmer（珀金埃尔默.美国）XRD 0822平板X射线探测器 泰雷兹650D 美国瓦里安1313D PerkinElme 法国泰雷兹650F XRD 0822系列X射线数字平板探测器是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列，具有200微米像素尺寸，成像区域200mm*200mm，X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号，