手持叶面积仪使用说明书

手持叶面积仪使用说明书
手持叶面积仪使用说明书

手持叶面积仪使用说明书

YMJ-D手持叶面积仪也称手持活体叶面积测量仪是托普云农自主研制的又一款手持叶面积仪。它在操作上更加方便,测量参数更加丰富,功能更加灵活。可用于快速地测量离体和非离体的大多数常见植物叶片,特别的结构设计更适合狭长类叶片的测量。除了可以获取叶片面积、长宽比、长度、宽度等参数,还新增了叶片的周长比及形状因子两个参数。手持叶面积仪产品结构高度一体化,更加便携。速度快,测量精度高,易使用,易维护。

手持叶面积仪/手持活体叶面积测量仪/活体叶面积测定仪/手持式激光叶面积仪功能特点:

手持叶面积仪测量功能:

设置功能:设置显示项,可以任意选定和显示各测量项目。

数据查看:可翻阅仪器内存中的历史测量数据。

计算功能:上位机可计算叶面积的累加值、平均值。

时间功能:仪器内部自带时间、日期功能;可随测量数据保存测量时间。

传输功能:迷你USB接口进行数据传输;USB采用免安装驱动程序。

系统信息查看:电池电压低压自动报警、仪器固件版本等信息。

供电功能:可充电锂电池,工作时间长,易维护,安全可靠,电源管理。

便携功能:整机高度一体化,操作简单;适合室内和野外使用。

存储功能:内置大容量数据储存器,最多可存5000组测量数据。

1、可以即时测量叶片的面积、周长、长度、宽度、长宽比、形状因子。

2、可根据测量对象调整光的颜色,可测新鲜绿叶、枯叶或其他颜色叶面。

3、无需校准。

4、虫洞不影响测量结果。

手持叶面积仪/手持活体叶面积测量仪/活体叶面积测定仪/手持式激光叶面积仪上位机软件功能:

1、可将存储记录的数据已EXCEL格式备份保存,用以查看分析。

2、数据报表、图形报表均可选择时段进行查询查看,并可通过计算机打印。

3、图形可进行放大、缩小操作,并可进行平均值计算,也可导成BMP格式进行保存。

可针对任何不规则形状,任何颜色,任何厚度和水分含量的叶片表面积进行测量。2.测量速度快,开机预热后测量每片叶片的表面积时间在1秒种以内。

3.可现场保存叶面积测量数据,并可将数据通过串口上传到PC机。

4.仪器

可扩展性强,无线通讯硬件接口、GPS定位接口等,可根据用户须求扩展硬件功能。实现光谱数据远程传输和GPS定位导航功能。

1.手持叶面积仪的功能:

1.叶片表面积自动测量:便携式手持叶面积仪在开机预热进入正常测量状态后,用户只用打开仪器的发光板,将被测叶片平铺在感光板的中心部位。合上发光板盖,系统将自动测量被测叶片的表面积,并将其面积值保存在仪器LCD上显示。

2.叶片表面积手动测量:便携式叶片表面积测量仪在开机预热进入正常测量状态后,用户只用打开仪器的发光板盖,将被测叶片平铺在感光板的中心部位。合上发光板盖,按“测量”键后,系统将测量被测叶片的表面积,并将其面积值保存在仪器LCD上显示。重复按“测量”键后系统将对被测叶片重新测量,并将多次的测量结果保存。可以多次按“测量”键反复测量该叶片的表面积。最后通过按“平均”键得到多次测量的平均结果。

手持叶面积仪/手持活体叶面积测量仪/活体叶面积测定仪/手持式激光叶面积仪技术参数:

最大测量长度:2000mm

最大有效测量宽度:213mm

扫描速度:150mm/s

面积测量精度:小于±2%

面积分辨率:0.1mm2

长度分辨率:1mm

宽度分辨率:0.1mm

传感器:定制接触式图像传感器最大测量厚度:≤3mm

手持叶面积仪/手持活体叶面积测量仪/活体叶面积测定仪/手持式激光叶面积仪传感器参数:

测量单位:毫米,平方毫米

手持叶面积仪/手持活体叶面积测量仪/活体叶面积测定仪/手持式激光叶面积仪主机参数:

数据存储:5000组测量数据

接口:USB2.0

电源:3.7~4AH可充电锂离子电池

电量:一次充电可扫描500次以上

外形尺寸:36.5x3.8x6.9cm

显示器:122×32点阵,2行,中英文界面显示

植物生理其他仪器:植物营养测定仪、叶绿素测定仪、根系分析系统、光合作用测定仪、果蔬呼吸测定仪、植物冠层分析仪、茎秆强度测定仪、植物病害检测仪、植物水势仪

比表面积仪的标定方法

比表面积标定方法 ①.标准样的处理,将水泥细度和比表面积标淮样在110℃±5℃下烘干1h并在干燥器中冷却至室温 ②.料筒体积标定(水银排代法):将穿孔板平放人圆筒内,再放人两片滤纸。然后用水银注满圆筒,用玻璃片挤压圆筒上口多余的水银,使水银面与圆筒上口平齐,倒出水银称量(m1),然后取出一片滤纸,在圆筒内加入适量的试样。再盖上一片滤纸后用捣器压实至试料层规定高度。取出捣器用水银注满圆筒,同样用玻璃片挤压平后,将水银倒出称量( m2)。圆筒试料层体积按式V=(m1—m2)/ρ水银计算。试料层体积要重复测定两遍,取平均值,计算精确至0.00l cm3。 ③.称取水泥细度和比表面积标准样的质量m0 (g)确定,标准样质量按式m0 =ρV(1 -ε)计算,精确称取至0.00lg。ρ-水泥细度和比表面积标准样的密度( g/cm3);V一透气圆筒的试料层体积( cm3);ε——取0.5。 ④.试料层制备,将穿孔板放人透气圆筒的突缘上,用捣棒把一片滤纸放到穿孔板上,边缘放平并压紧。将准确称取的按本方法②计算的水泥细度和比表面积标准样倒人圆筒,轻敲圆筒的边,使粉煤灰层表面平坦。再放人一片滤纸,用捣器均匀压实标准样直至捣器的支持环紧紧接触圆筒顶边,旋转捣器1~2圈,慢慢取出捣器。 ⑤.透气试验:将装好标准样的圆筒外锥面涂一薄层凡士林,把它连接到U形压力计上,打开阀门,缓慢地从压力计一臂中抽出空气,

直到压力计内液面上升到超过第3条刻度线时关闭阀门。当压力计内液面的弯月面下降到第3条刻线时开始计时,当液面的弯月面下降到第2条刻线时停止计时。记录液面从第3条刻线到第2条刻线所需的时间ts,精确至0. 1S。透气试验要重复称取两次标准样分别进行,当两次透气时间的差超过1.0s时,要测第3遍,取两次不超过1.0s 的平均透气时间作为该仪器的标准时间。 ⑥.标准粉K值标定(初次需要标定以后直接代用):轻按仪器操作面板上键,K键灯亮,再按【设置】键和【→】键,数码管一次闪烁,将标准粉的比较面积值、孔隙率及密度值依次通过【△】键入再按【设置】键,参数设置完毕,科技进行K值标定的操作,按【启动】键,仪器会自动进行抽气、计时、计算结束后显示屏左侧四位数码管显示本次仪器标定的常数值K。 ⑦.K值一季度标定一次

XJ4810型半导体管特性图示仪测试使用说明

晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特

性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮:测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。

手持糖度计的原理及使用方法

手持糖度计的原理及使用方法(图) 光线从一种介质进入另一种介质时会产生折射现象,且入射角正弦之比恒为定值,此比值称为折光率。果蔬汁液中可溶性固形物含量与折光率在一定条件下(同一温度、压力)成正比例,故测定果蔬汁液的折光率,可求出果蔬汁液的浓度(含糖量的多少)。常用仪器是手持式折光仪, 手持糖度计的工作原理 光线从一种介质进入另一种介质时会产生折射现象,且入射角正弦之比恒为定值,此比值称为折光率。果蔬汁液中可溶性固形物含量与折光率在一定条件下(同一温度、压力)成正比例,故测定果蔬汁液的折光率,可求出果蔬汁液的浓度(含糖量的多少)。常用仪器是手持式折光仪,也称水果糖度计,数字折射仪,数显糖度计,数显浓度计,数显折光仪,数字折射计,数字式折射仪,数显糖量计,浓度计,通过测定果蔬可溶性固形物含量(含糖量),可了解果蔬的品质,大约估计果实的成熟度。 手持糖度计一般是圆柱形的。 二、手持糖度折光仪使用说明 (一)、仪器结构 ①、折光棱镜②、盖板③、校准螺栓④、光学系统管路⑤、目镜(视度调节环)(二)、手持糖度折光仪使用方法 打开盖板②,用软布仔细擦净检测棱镜①。取待测溶液数滴,置于检测棱镜上,轻轻合上盖板,避免气泡产生,使溶液遍布棱镜表面。将仪器进光板对准光源或明亮处,眼睛通过目镜观察视场,转动目镜调节手轮⑤,使视场的蓝白分界线清晰。分界线的刻度值即为溶液的浓度。 (三)、手持糖度折光仪校正和温度修正 仪器在测量前需要校正零点。取蒸馏水数滴,放在检测棱镜上,拧动零位调节螺钉③,使分界线调至刻度0%位置。然后擦净检测棱镜,进行检测。有些型号的仪器校正时需要配置标准液,代替蒸馏水。 另一种方法是(只适合含糖量之测定):利用温度修正表,在环境温度下读得的数值加(或减)温度修正值,获得准确数值。 (四)、手持糖度折光仪注意事项 仪器系精密光学仪器,在使用和保养中应注意以下事项:

手持折光仪的使用方法

手持手持折光仪折光仪折光仪的使用方法的使用方法 一、折光仪折光仪的工作原理的工作原理 常用手持式折光仪,也称糖镜、手持式糖度计。光线从一种介质进入另一种介质时会产生折射现象,且入射角正弦之比恒为定值,此比值称为折光率。果蔬汁液中可溶性固形物含量与折光率在一定条件下(同一温度、压力)成正比例,故测定果蔬汁液的折光率,可求出果蔬汁液的浓度(含糖量的多少)。常用仪器是手持式折光仪,也称糖镜、手持式糖度计, 通过测定果蔬可溶性固形物含量(含糖量),可了解果蔬的品质,大约估计果实的成熟度。 手持糖度计一般是圆柱形的。 二、手持手持折光仪折光仪折光仪光仪使用说明光仪使用说明 光仪使用说明 (一)、仪器结构 ①、折光棱镜 ②、盖板 ③、校准螺栓 ④、光学系统管路 ⑤、目镜(视度调节环) (二)、使用方法 打开盖板②,用软布仔细擦净检测棱镜①。取待测溶液数滴,置于检测棱镜上,轻轻合上盖板,避免气泡产生,使溶液遍布棱镜表面。将仪器进光板对准光源或明亮处,眼睛通过目镜观察视场,转动目镜调节手轮⑤,使视场的蓝白分界线清晰。分界线的刻度值即为溶液的浓度。 (三)、校正和温度修正 仪器在测量前需要校正零点。取蒸馏水数滴,放在检测棱镜上,拧动零位调节螺钉 ③,使分界线调至刻度0%位置。然后擦净检测棱镜,进行检测。有些型号的仪器校正时需要配置标准液,代替蒸馏水。 另一种方法是(只适合含糖量之测定):利用温度修正表,在环境温度下读得的数值加(或减)温度修正值,获得准确数值。 (四)、注意事项 仪器系精密光学仪器,在使用和保养中应注意以下事项: 1.在使用中必须细心谨慎,严格按说明使用,不得任意松动仪器各连接部分,不得跌落、碰撞,严禁发生剧烈震动。 2.使用完毕后,严禁直接放入水中清洗,应用干净软布擦拭,对于光学表面,不应碰伤,划伤。

激光测距仪操作规程

激光测距仪操作规 程

1.使用方法触按电源开关,接通电源,“电源、测试指示灯”为绿色。触按档位选择开关,选择适合的档位。 2.将仪表测量端子的两个电流输出端子用两根测试线接到被测导体的两个端子,两个电压输入端子也接到被测导体的两个端子。 3. 如图所示,电压端子应位于电流端子的内侧,并尽量靠近被测试品,以减少引线电阻引入的误差。 4.接线完毕后,触按一下 TESTE 键,“电源、测试指示灯”为红色,显示屏显示的值即为测得的电阻值。 5.当被测导体开路或阻值大于选定量程时, 显示屏首位显示“1”,后三位数字熄灭。 6.注意事项 a)本仪表使用6 节1.5V(LR6,AA)电池供电。当显示屏出现欠压符号“”时,请更换电池,以保障得到正确的试值。换下的旧电池请勿乱扔,以免造成污染。B)仪器应避免受潮、雨淋、跌落、暴晒等。

1.目的: 建立超声波测厚仪标准操作规程。 2.适用范围: 试验室所有检验人员执行本规程,部门领导监督,检查本规程的执行。 一、操作规程 1、机器校准 仪器壳下方有一个厚度为4mm的试块,按“菜单”键进入菜单,经过“上下”箭头选择“声速”,在选择“声速设置”,把声速设置为5920m/s,并在试块上涂抹耦合剂,把探头放在试块中央轻轻压紧,按一下“下箭头”,能够看到仪器显示试块厚度为4.000mm,如果试块厚度测试值不为4.000mm请在进行校准,直到试块测量厚度为 4.000mm。仪器校准完成后即能够正常测量了。 2、测试块准备 准备50mm的测试医用消毒超声耦合剂样品三份,以备测试。 3、声速测试 将探头与已准备好的测试样品耦合,确保探头不晃动并耦合良好,此时能够看到显示屏上耦合标志。选择声速测试界面,输

FBT-9型水泥比表面积自动测定仪操作方法

FBT—9型水泥比表面积自动测定仪 操作规程 一.检测前的准备工作 1.被测试样烘干备用; 2.预先测定好被测试样的密度; 3.AC220V、50Hz+10%的电源; 4.1%天平一台; 5.少许黄油; 6.将仪器放平稳,接通电源,打开仪器左侧的电源开关。此时仪器显示1区显示“Err1”,表示压力计内的水平位未达到最底刻度线。用滴定管从压力计左侧一滴一滴的滴入请水,滴水的过程中仔细观察显示屏,如显示平屏出现S值、K值、温度值,请停止滴水。此时仪器处于待机状态;如超过最低刻度线,请倒出水,然后按上述的操作使仪器处于待机状态,再进行测量。 二.仪器常数K值的标定 1.需要的已知的参数 1)标准试样的比表面积; 2)标准试样的密度; 3)容捅的标称体积。 2.试样的制备 1)标准试样需在110+5℃下烘干3小时以上。在干燥中冷却至室温。 2)按公式W S=ρS×V×(1—εS)计算试样量。其中ρS—标准试样的密度;V—容桶的标称体积;εS—标准试样的空隙率。(注:本仪器标准试样及初测试样的空隙率均为0.5) 3)例:标准试样密度3.16;容桶体积1.980;空隙率0.5。 W S=ρS×V×(1—εS)=3.16×1.980×(1—0.5) =3.1284(g) 请称重已烘干并冷却的标准试样3.1284g. 3.将容捅放在金属支架上,放入穿孔板,用推杆将穿孔板放平,再放入一片滤纸,用推杆按到底部平整即可。通过漏斗将标准试样装入容桶(切忌不要振动容桶),用手轻摆容桶将标准试样表面基本摆平。再放入一片滤纸,用捣器轻轻边旋边将滤纸推入容桶至捣器与容桶完全闭合。从支架上取下容桶,在容桶锥部的下部均匀涂上少许黄油。将容桶边旋边放入玻璃压力计的锥口部分,观察容桶外壁与压力计内壁间应有均匀的黄油密封层即可。 4.仪器的K值的标定,请参照操作说明中的K值的测量。 压力计保险管的更换 1.压力计的更换;把固定压力计的4个螺丝卸下,卸下已损坏的压力计上的胶管。把新的压力计用于螺丝固定的部位用医用胶布包好(包扎的圈数可按照换下的压力计的圈数),插上胶官,然后把压力计放到固定夹子上,调整好高度(压力计右端的3条刻度线分别与光电开关的1、2、3平齐或稍下方)再用螺丝固定。更换好压力计后,请参照使用说明书检查漏气。 2.保险管的更换 保险管在仪器的左侧电源插座内,先拔掉电源线,用小一字起子把插座内T形方块撬出,取下已损坏的保险管,然后换上新的规格5×20/1A的保险管,再把T形管推入座内。 3.电磁阀和抽气泵损坏请直接与厂家联系购买。

XJ4810晶体管特性图示仪 说明书

XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡I C标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮:测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。 23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共22挡。一般选用基极电流/级,当测试场效应管时选用基极源电压/级。 24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。 25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。 26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。 27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被

比表面积分析仪使用方法及测试步骤

Rise系列全自动静态容量法氮吸附 比表面积及孔隙度分析仪使用方法及操作步骤 样品准备阶段:样品管烘干,样品管称重,添加样品,新样品管应在样品管称重前测试自由体积。 样品测试阶段:将准备好的样品管安装到样品测试端口,将杜瓦平稳放置到自动升降架,输入样品信息,样品管信息,选择测试方法比表面积或全过程,开始测试。自由体积测试:对新样品管首先烘干样品管,将其固定到样品测试端口,将杜瓦平稳放置到自动升降架,输入样品管编号,开始测试,测试完成后保存样品管信息。 5.1 样品测试 5.1.1样品准备 1.将真空泵与脱气站连接好,选择样品管,确认样品管编号。如果样品是超细粉 状物,须将样品进行压片处理。 2.将样品管固定到脱气口(如果真空泵未打开请打开真空泵) 3.将加热包固定到加热端口 4.设置加热时间和加热温度,开始加热脱气 5.脱气时间到,看到提示或听到提示声音停止加热和抽真空。 6.样品管冷却5分钟后取下。 7.用分析天平称量样品管重量(g1),并记录。 8.为已称好的样品管中加入适量样品,比表面积较大的样品一般在0.2~0.5克,比表面积较小的样品一般在1-10克。比表面积特别大的样品适当减少样品重量 9.将样品管固定到脱气口 10. 将加热包固定到加热端口 11. 设置加热温度,和加热脱气时间,开始加热脱气 12.脱气时间到,看到提示或听到提示声音,停止加热和脱气。 13.样品管冷却5分钟后取下 14.用分析天平称量样品管重量(g2),并记录。 15.(g2-g1)计算样品重量(g),并记录。 * 已使用过的样品管可不做1~7步。 5.1.2 杜瓦瓶准备 将液氮加入杜瓦瓶到指定液位,静置半小时以后待用。 5.1.3 样品管固定到测试端口 5.1.4 输入样品信息 输入样品名称,材料(微孔分析使用),比重,质量。 5.1.5输入样品管信息 空管,选择管号,点击测试后自动测试冷体积和修正系数,然后保存。 5.1.6 输入样品测试数据文件 文件名称可以直接输入,或点击选择 不输入文件名,开始测试后系统自动生成文件名。 5.1.7 开始测试

BJ4814晶体管图示仪技术说明书

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目录 1 概述 (3) 2 工作特性 (3) 3 工作原理 (5) 4使用说明 (5) 5 检查与计量 (13)

1.概述 BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。 本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。集电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽, 随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。 2.工作特性 2.1 额定使用条件及规格 A.环境温度: 0 ~ + 40°C B.相对湿度: + 40°C 20 ~90 % RH C.大气压力: Pb - 106 KPa D.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5% E.整机功率: <50V A (非测试状态) <60V A (测试状态) F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件) G.预热时间: 15分钟 H.整机重量: 15Kg I.工作时间: 连续工作8小时 J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置 K.外电磁场干扰: 应避免 L.阳光照射: 应避免直射 2.2 技术性能及指标 2.2.1 X轴系统 A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电压偏转因数: 20mV/度 ~ 20V/度. 1-2-5序共10挡 误差≤±3% D.基极电压偏转因数: 20mV/度 ~ 1V/度. 1-2-5序共6挡 误差≤±3% E.二极管电压偏转因数: 100V/度 ~ 500V/度. 1-2-5序共3挡 误差≤±3% F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5% 2.2.2 Y轴系统 A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类. B.位移范围: 大于10度 C.集电极电流偏转因数: 1uA/度~ 2A/度. 1-2-5序共20挡 误差≤±3% D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5%

手持糖度折光仪使用说明

手持糖度折光仪使用说明 一、仪器结构 1.棱镜座 2.检测棱镜 3.盖板 4.调节螺丝 5.镜筒和手柄 6.视度调节手轮 7.目镜 折光仪是根据不同浓度的液体具有不同的折射率这一原理设计而成的。它具有快速、准确、重量轻、体积小等优点。 二、使用方法 打开盖板(3),用软布仔细擦净检测棱镜(2)。取待测溶液数滴,置于检测棱镜上,轻轻合上盖板,避免气泡产生,使溶液遍布棱镜表面。将仪器进光板(3)对准光源或明亮处,眼睛通过目镜观察视场,转动目镜调节手轮(6),使视场的蓝白分界线清晰。分界线的刻度值即为溶液的浓度。 三、校正和温度修正 仪器在测量前需要校正零点。取蒸馏水数滴,放在检测棱镜上,拧动零位调节螺钉(4),使分界线调至刻度0%位置。然后擦净检测棱镜,进行检测。有些型号的仪器校正时需要配置标准液,代替蒸馏水。 另一种方法是(只适合含糖量之测定):利用温度修正表,在环境温度下读得的数值加(或减)温度修正值,获得准确数值。附表:糖度读数之温度修正表。 四、注意事项 仪器系精密光学仪器,在使用和保养中应注意以下事项: 1.在使用中必须细心谨慎,严格按说明使用,不得任意松动仪器各连接部分,不得跌落、碰撞,严禁发生剧烈震动。 2.使用完毕后,严禁直接放入水中清洗,应用干净软布擦拭,对于光学表面,不应碰伤,划伤。 3.仪器应放于干燥、无腐蚀气体的地方保管。 4.避免零备件丢失。 手持糖度计的原理及使用方法 文章来源:本站原创 | 发布时间:2009-12-2 21:53:20 | 浏览次数:7 一、糖度计的工作原理 光线从一种介质进入另一种介质时会产生折射现象,且入射角正弦之比恒为定值,此比值称为折光率。果蔬汁液中可溶性固形物含量与折光率在一定条件下(同一温度、压力)成正比例,故测定果蔬汁液的折光率,可求出果蔬汁液的浓度(含糖量的多少)。常用仪器是手持式折光仪,也称糖镜、手持式糖度计,通过测定果蔬可溶性固形物含量(含糖量),可了解果蔬的品质,大约估计果实的成熟度。 手持糖度计一般是圆柱形的。 二、手持糖度折光仪使用说明

徕卡激光测距仪使用说明书

徕卡激光测距仪使用说明书 一、使用前的准备 (一)电池的装入/更换 打开仪器尾部的固定挡板。向前推卡钮,向下将底座取下。按住红色的卡钮推开电池盒盖。安装或更换电池。关闭电池盒盖,安装底座和卡扣。当电池的电压过低时,显示屏上将持续闪烁显示电池的标志{B,21}。此时应及时更换电池。 1、按照极性正确装入电池。 2、使用碱性电池(建议不要使用充电电池)。 3、当长时间不使用仪器时,请取出电池,以避免电池的腐蚀。 更换电池后,设置和储存的值都保持不变。 (二)多功能底底座 固定挡板可以在下面的测量情况下使用: 1、从边缘测量,将固定挡板拉出,直到听到卡入的声音。 2、从角落测量,将固定挡板拉出,直到听到卡入的声音,轻轻将固定挡板向右推, 此时固定挡板完全展开。 仪器自带的传感器将辨认出固定挡板的位置,并将自动设置测量其准点。 (三)内置的望远镜瞄准器 在仪器的右部有一个内置的望远镜瞄准器。此望远镜瞄准器为远距离测量起到辅助的作用。通过瞄准器上的十字丝可以精确地观察到测量目标。在30米以上的测量距离,激光点会显示在十字线的正中。而在30米以下的测量距离,激光点不在十字线中间。 (四)气泡 一体化的水泡使仪器更容易调平。 (五)键盘 1、开/测量键 2、第二级菜单功能 3、加+键 4、计时(延迟测量)键 5、等于[=]键 6、面积/体积键 7、储存键 8、测量基准边键 9、清除/关键 10、菜单键 11、照明键 12、间接测量(勾股定律)键 13、减-键 14、BLUETOOTH (六)显示屏 1、关于错误测量的信息 2、激光启动 3、周长 4、最大跟踪测量值 5、最小跟踪测量值 6、测量基准边 7、调出储存值

图示仪使用说明书

目录 使用须知............................................2 安全注意事项........................................3 概述................................................4 主要技术指标........................................4 使用说明............................................5 使用范例...........................................10 维修指南...........................................15 装箱单.............................................16

使用须知 WQ4832型晶体管特性图示仪,是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。本仪器采用晶体管与集成电路混合线路,具有功耗低、电流容量大、重量轻等特点,是半导体研究及应用领域必不可少的测试工具。 用户在使用本仪器之前应熟悉以下注意事项,以保证仪器的正常使用。 1.“功耗限制电阻”作用大,除了测量饱和电压(如U CER)及最大电流(如I CM)外,一般应将“功耗限制电阻”置于较大值(≥1kΩ),这样既保护了被测管不至电流过载,又可防止由于被测管击穿后导致仪器损坏,在测量击穿电压时更应注意。 2.按“峰值电压范围”需特别注意,一般情况下应与“电压/度”开关相配合: 如需要低于上述量程,应首先将“峰值电压”调至0,再徐徐加大。 在测试中,当输出峰值电压较大时,请勿触摸C极与管子外壳,以免遭电击。严禁将各输出端任意长时间短路。 3.测量被测管首先要了解是PNP或NPN,然后将仪器置于相应极性。在未知被测管极性的情况下,可将输出电压调至较小值进行判别。必须在充分熟悉本仪器后才能用异极性测试功能。 4.基极注入阶梯电流(电压)也应注意: (1)注入电流(电压)应与被测管的功率、最大集电极电流相适应,一般情况注入电流由小逐档增加(同时应估算上述二指标,不致电流、功率击穿)。 (2)“电流/度”应与阶梯电流(电压)相适应,一般情况应从大量程再逐档调至需要档级。“电流/度”量程不应小于阶梯电流量程。 5.当用双簇测试功能时,需调节零电平使显示时第一级曲线与单簇测试时的第一级曲线在Y方向上的位置一致,才能使各项读数一致。异极性测试时阶梯起始电平一般应调至零。 6.仪器出厂经精密调准,请勿随意打开箱板并调节各种机件,当需要进一步调准时,应按照使用说明书的要求与步骤进行。 7.在进行I CM等极限参数测试时,一般采用单次阶梯为宜,以免被测器件损坏。8.本机额定重复输出功率为60W,不同电压档级有不同的允许最大电流,实际测试中不应超过此值。 2

阿贝折射仪使用方法说明

阿贝折射仪使用方法说明 阿贝折射仪使用与操作方法 (一) 准备工作: (1)在开始测定前,必须先用标准试样校对读数。对折射棱镜的抛光面加1~2滴溴萘,再贴上标准试样的抛光面,当读数视场指示于标准试样上之值时,观察望远镜内明暗分界线是否在十字线中间,若有偏差则用螺丝刀微量旋转图七上小孔(16)内的螺钉,带动物镜偏摆,使分界线象位移至十字线中心,通过反复地观察与校正,使示值的起始误差降至最小(包括操作者的瞄准误差)。校正完毕后,在以后的测定过程中不允许随意再动此部位。如果在日常的工作中,对所测量的折射率示值有怀疑时,可按上述方法用标准试样进行检验,是否有起始误差,并进行校正。 (2)每次测定工作之前及进行示值校准时必须将进光棱镜的毛面,折射棱镜的抛光面及标准试样的抛光面,用无水酒精与乙醚(1:4)的混合液和脱脂棉花轻擦干净,以免留有其他物质,影响成象清晰度和测量精度。 (二) 测定工作: (1) 阿贝折射仪测定透明半透明液体:将被测液体用干净滴管加在折射棱镜表面,并将进光棱镜盖上,用手轮(10)锁紧,要求液层均匀,充满视场,无气泡。打开遮光板(3),合上反射镜(1),调节目镜视度,使十字线成象清晰,此时旋转手轮(15)并在目镜视场中找到明暗分界线的位置,再旋转手轮(6)使分界线不带任何彩色,微调手轮(15),使分界线位于十字线的中心,再适当转动聚光镜(12)此时目镜视场下方显示示值即为被测液体的折射率。

(2) 测定透明固体:被测物体上需要有一个平整的抛光面,把进光棱镜打开,在折射棱镜的抛光面上加1~2滴溴代萘,并将被测物体的抛光面擦干净放上去,使其接触良好,此时便可在目镜视场中寻找分界线,瞄准和读数的操作方法如前所述。 (3) 测定半透明固体:被测半透明固体上也需要有一个平整的抛光面。测量时将固体的抛光面用溴代萘沾在折射棱镜上,打开反射镜(1)并调整角度利用反射光束测量,具体操作方法同上。 (4) 阿贝折射仪测量蔗糖内糖量浓度:操作与测量液体折射率时相同,此时读数可直接从视场中示值上半部读出,即为蔗糖溶液含糖量浓度的百分数。 (5) 阿贝折射仪测定平均色散值:基本操作方法与测量折射率时相同,只是以两个不同方向转动色散调节手轮(6)时,使视场中明暗分界线无彩色为止,此时需记下每次在色散值刻度圈(7)上指示的刻度值Z,取其平均值,再记下其折射率nD。根据折射率nD值,在阿贝折射仪色散表的同一横行中找出A和B值(若nD在表中二数值中间时用内插法求得)。再根据Z值在表中查出相应的б值。当Z﹥30时取负值,当Z﹤30时取正值,按照所求出的A、B、值代入色散公式就可求出平均色散值(例子看第14页) (6)若需测量在不同温度时的折射率,将温度计旋入温度计座(13)中,接上恒温器通水管,把恒温器的温度调节到所需测量温度,接通循环水,待温度稳定十分钟后,即可测量。六、维护与保养 为了确保阿贝折射仪的精度,防止损坏,请用户注意维护保养特提出下列要点以供参考: (1) 仪器应置放于干燥、空气流通的室内,以免光学零件受潮后生霉。 (2)当试腐蚀性液体时应及时做好清洗工作(包括光学零件、金属零件以及油漆表面),防止侵蚀损坏。仪器使用完毕后几须做好清洁工作,放入木箱内应存有干燥剂(变色硅胶)以吸收潮气。 (3)被测试样中不应有硬性杂质,当测试固体试样时,应防止把折射棱镜表面拉毛或产生压痕。 (4)经常保持仪器清洁,严禁油手或汗手触及光学零件,若光学零件表面有灰尘可用高级鹿皮或长纤维的脱脂棉轻擦后用皮吹风吹去,如光学零件表面沾上了油垢应及时用酒精乙醚混合液擦干净。 (5) 仪器应避免强烈振动或撞击,以防止光学零件损伤及影响精度。 阿贝折射仪有四个连接口,一般的水浴中会配有软管,总的来说,下进上出,将恒温水的进出口与阿贝折射仪的四个管串联,一上一下接口连接起来,另外的一上一下与恒温槽连接。具体操作:先将恒温水与阿贝折射仪靠反光镜处下端的接口用软管连接上,然后拿另外一根软管将阿贝折射仪靠反光镜上端的接口与靠温度计下方的接口接上,最后拿第三根软管将靠

激光测距仪使用教程

美国LaserCraft高精度激光测距仪-Contour XLRic型,这款激光测距仪是高精度和远量程的结合体,是目前市场性能最好的一款手持激光测量系统。它能成功地在保持良好精度的前提下测量以下目标到前所未有的距离:175米到电力线,400米到电线杆,800米到建筑物。同时,它是一款坚固防水的仪器,遇到下雨,下雪,大雾或沙尘暴天气时,您只把工作模式选择到“坏天气”模式,您的工作就不会受到任何影响。在坏天气下使用它,就如同在好天气下使用一样方便,好用。如果装配了三脚架,它就可以用来进行更远距离的精确测量和进行精密的倾斜测量。 Contour XLR采用最新激光技术,小巧、轻便、使用方便,可准确测量目标距离。有恶劣天气工作模式保证仪器在仪器在雨、雪、雾、沙尘暴天气条件下仍可可靠工作。仪器配备HUD显示器,可边瞄准边测量。是建筑结构规划等通用距离测量的得力仪器。最大测量距离1850米,精度0.1米。 Contour XLRi具有XLR系列的全部特点,同时增加360度倾角传感器。有六种工作模式,分别是距离、角度、水平距离、垂直距离、二点高度、三点高度。有串行口,可通过计算机或数据记录器记录数据。典型应用:矿山地形测量、森林资源调查、倾斜测量、高度测量、水平杆测量、塔高测量。 Contour XLRic将XLRi和GPS以及数据采集器结合起来,可测量不易达到目标的参数。内置软件可计算树高、倾斜、面积、周长、不见线的长度、水平距离等。XLRic内部有数字罗盘和倾角传感器,是测绘的得力仪器。

ContourMAX最大测量距离达到3000米,重仅1.6公斤,首/末目标可选,门控能力、恶劣天气模式、手持/平台安装可选。典型应用:火灾控制系统、遥测、GPS偏移测、航空测量等。和Contour 系列手持激光测量系统中的Contour XLRi比较起来,Contour XLR ic在内部又集成了一个高精度磁通量数字罗盘。配合高精度磁通量数字罗盘,XLR ic在功能就比XLR和XLRi多了不少。有了Contour XLRic,您就可以把它和您的GPS系统连接起来,去测量那些无法到达或不容易到达的地方的坐标信息,省时又省钱。或者您也可以使用它内置的软件计算:树高,倾斜度,面积,周长,空间线段的长度,水平距离,高差等等数据。由于Contour XLRic配置了数字罗盘和倾斜角度测量仪,所以它完全可以被看作是一个手持式全站仪,可以协助您进行测绘和测量工作。一级人眼安全的激光测距仪精确地向您报告以下测量数据:距离,方位,倾斜角。技术特点-测量距离到: 1850米;-测量精度达到:10厘米;-倾斜角度测量;-方位角测量;-周长测量;-面积测量;-电力线高度和垂度测量;- 3D空间尺寸测量;-连接GPS工作;-高度测量功能;-“点到点”斜距测量;-水平距离测量和垂直距离测量;-独特的坏天气模式:一般的测距仪在天气不好的情况下,测量的距离往往会大大缩短,甚至无法工作。Contour系列激光测距仪的“坏天气模式”消除了这种现象。当天气情况不好的时候,比如:多云,大雾,扬尘,潮湿等,启动该模式,测量起来就和好天气时测量一样轻松快速!工作模式(详细功能)模式一标准测量模式:该模式测量仪

QT2晶体管图示仪使用操作方法

QT2晶体管图示仪使用操作方法 [说明书] QT2型晶体管图示仪作业指导书本文来自: 中国计量论坛作者: yilihe 查看3098 次QT2型晶体管图示仪作业指导书特别提示:由于本仪器输出扦孔可输出高压或本身带有高压,本仪器在使用前必须良好接地以及将电压级按至最小档,峰值电压逆时针旋至零。一、使用前的注意事项:1、严格按照BOM上的直流参数进行,本机可输出5KV的高压档位设定;特别要了解被测晶体管的集电极最大允许耗散功率PCM,集电极对其它极的最大反向击穿电压如BVCEO、BVCBO、BVCER,集电极最大允许电流ICM等主要指标;2、在测试前首先要将极性与被测管所需的极性相同即可选择PNP或NPN的开关置于规定位置;3、将集电极电压输出按至其输出电压不应超过被测管允许的集电极电压,同时将峰值电压旋至零,输出电压按至合适的档级并将功耗限制电阻置于一定的阻值,同时将X、Y偏转开关置于合适的档级,此档级以不超过上述几个主要直流参数为原则;4、对被测管进行必要的结算,以选择合格的X阶梯电流或电压,此结逄的原则以不超过被测管的集电极最大允许耗损功率;5、在进行ICM的测试时一般采用单次阶梯为宜,以免被测管的电流击穿;6、在进行IC或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况,不应超过本仪器规定的最大电流,具体数据列表如下;电压档次10V 50V 100V 500V 5KV 允许最大电流50A 10A 5A 0.5A 5MA 在进行50A(10A)档级时当实际测试电流超过20A时以脉冲阶梯为宜。二、测试前的开机与调节:1、开启电源:将电源开关向右方向按动,此时白色指示灯亮,待预热十分钟后立即进行正常测试;2、调节光度聚焦、辅助聚焦及标尺亮度:将示波管会聚成一清晰的小光点,标尺亮度以能清晰满足测量要求为原则;3、Y、X移位:对Y、X档位旋钮置于中心位置,此时光点应根据PNP、NPN开关的选择处于左下方(NPN)或右上方(PNP)。再调节移位旋钮使其在左下方或右止方实线部份的零点;4、对Y、X校准:将Y、X灵敏度分别进行10度校准,其方法将Y(或X)方式开关自“I”至“校准”,此时光点或基线应有10度偏转,如超过或不到时应进行增益调节(调节W );5、阶梯调零:阶梯调零的依据即将阶梯先在示波管上显示,然后根据方放大器输入端接地所显示的位置,再调节调零电位器使其与放大器接时时重合即完成调零;调节方式前先将Y偏转放大器置于基级电流或基极源电压(即“”)档级,X偏转放大器置于UC的位置任意标级,将测试选择置于“NPN”,置于“常态”,阶梯幅度/级置于电压/级的任何档级,集电极电压置于任意档级使示波管显示电压值,此时即能调零使第一根基线与Y偏转放大器“”的重合即完成了调零步骤;6、电容性电流平衡:在要求较高电流灵敏度档级进行测量时,可对电容性电流进行平衡,平衡方式将Y偏转放大器置于较高灵敏度档级使示波管显示一电容性电流,调节电容平衡旋钮使其达到最小值即可;7、集电极电压检查:在进行测量前应检查集电极电压的输出范围,检查时将VC置于相对应档次,当发现将峰值电压顺时针方向最大时,其输出在规定值与大于10%之间即正常(用普通电压表测量结果比规定值少10%左右)。三、测试:1 ⑴、若发射极VCE-IC特性(基极信号为变量)。①根据集电极基级的极性将测试选择开关置于NPN(此时集电极电压,基极电压均为正)或(PNP(此时集电极电压,基极电压均为负)并将“”开关置于常态,如基极需要反担时可置于“侄置”;②被测管的;③将Y电流/度置于IC合适档级,X电压/度置于UC合适档级;④测试A与测试B搬向被测管连接的一边;⑤集电极电压按照要求值进行调节并使在左下方(NPN)或右上方(PNP)的零点与零刻度线重合; ⑥选择合适的阶梯幅度/级开关旋至电流/级较小档级,再逐渐加大至要求值;⑦选择合适的功耗限制电阻,电阻值的确定可接负载的要求或保护被测管的要求进行选择;⑧观察显示的曲线(波形),并进行读数记录;(2)、其发射极IB-IC特性:①根据集电极基极的极性将测试选择开关置于NPN或PNP档级,并将“”开关置于常态,如基极需要反向可置于侄置;②被测管的CBE按规定进行连接;③将Y电流/度置于IC合适档级,W电压/度置于“”的档级;④测试A与测试B搬向被测管连接的一边;⑤集电极电压按要求值与功耗限制电阻进行调节(必要时将X电压/度置于UC档级进行较精确的调节);⑥将Y。Y方式开关““调节零点位置;⑦选择合格的阶梯幅度/级开关一般置于较小档级再逐渐加大至要求值;⑧对所显示的IB-IC曲线(波形)进行观察记录,读取数据,并计算NFE 值:NFE=IC/IB IC=示波管刻度×档次读数IB=幅度/级×级数⑵、①反压特性测试及二极管特性测试:本②仪器可进行下列各种反向击穿电压测试,测试定义见有关半导体测试标准,测试接线请参见下表:VCBO集电极基极间电压(发射极开路)VEBO发射极与基极间电压(集电极开路)VCEO集电极与发射间电压(基极开路)VCER集电极与发射极间电压(基极与发射极间电阻连接)VCES集电极与发射间电压(基极与发射极短)①根据被测管的极性选择PNP、NPN的位置,是显示“PNP”位置时,集电极电压为(-)极性,当置于“NPN”位置时,集电极电压为(=)极性;②被测管的CBE接上表的连接方法进行连接;③Y偏转放大器的电流/度开关置于较灵敏档级(一般100/UA 度档级);④Q偏转放大器的电压/度置于UC合适的档级(视被测管的特性及集电极的电压输出值而定);⑤将功

折射仪读数方法

准备工作 (1)在开始测定前,必须先用标准试样校对读数。对折射棱镜的抛光面加1~2滴溴萘,再贴上标准试样的抛光面,当读数视场指示于标准试样上之值时,观察望远镜内明暗分界线是否在十字线中间,若有偏差则用螺丝刀微量旋转图七上小孔(16)内的螺钉,带动物镜偏摆,使分界线象位移至十字线中心,通过反复地观察与校正,使示值的起始误差降至最小(包括操作者的瞄准误差)。校正完毕后,在以后的测定过程中不允许随意再动此部位。如果在日常的工作中,对所测量的折射率示值有怀疑时,可按上述方法用标准试样进行检验,是否有起始误差,并进行校正。(2)每次测定工作之前及进行示值校准时必须将进光棱镜的毛面,折射棱镜的抛光面及标准试样的抛光面,用无水酒精与乙醚(1:4)的混合液和脱脂棉花轻擦干净,以免留有其他物质,影响成象清晰度和测量精度。 测定工作 (1)测定透明半透明液体:将被测液体用干净滴管加在折射棱镜表面,并将进光棱镜盖上,用手轮(10)锁紧,要求液层均匀,充满视场,无气泡。打开遮光板(3),合上反射镜(1),调节目镜视度,使十字线成象清晰,此时旋转手轮(15)并在目镜视场中找到明暗分界线的位置,再旋转手轮(6)使分界线不带任何彩色,微调手轮(15),使分界线位于十字线的中心,再适当转动聚光镜(12)此时目镜视场下方显示示值即为被测液体的折射率。(2)测量蔗糖内糖量浓度:操作与测量液体折射率时相同,此时读数可直接从视场中示值上半部读出,即为蔗糖溶液含糖量浓度的百分数。 (3)阿贝折射仪测定透明固体:被测物体上需要有一个平整的抛光面,把进光棱镜打开,在折射棱镜的抛光面上加1~2滴溴代萘,并将被测物体的抛光面擦干净放上去,使其接触良好,此时便可在目镜视场中寻找分界线,瞄准和读数的操作方法如前所述。 (4)测定半透明固体:被测半透明固体上也需要有一个平整的抛光面。测量时将固体的抛光面用溴代萘沾在折射棱镜上,打开反射镜(1)并调整角度利用反射光束测量,具体操作方法同上。 (5)阿贝折射仪测定平均色散值:基本操作方法与测量折射率时相同,只是以两个不同方向转动色散调节手轮(6)时,使视场中明暗分界线无彩色为止,此时需记下每次在色散值刻度圈(7)上指示的刻度值Z,取其平均值,再记下其折射率nD。根据折射率nD 值,在阿贝折射仪色散表的同一横行中找出A和B值(若nD在表中二数值中间时用内插法求得)。再根据Z值在表中查出相应的б值。当Z﹥30时取负值,当Z﹤30时取正值,按照所求出的A、B、值代入色散公式就可求出平均色散值。 (6)若需测量在不同温度时的折射率,将温度计旋入温度计座(13)中,接上恒温器通水管,把恒温器的温度调节到所需测量温度,接通循环水,待温度稳定十分钟后,即可测量。仪器校正: 仪器定期进行校准,或对测量数据有怀疑时,也可以对仪器进行校准。校准用蒸馏水或玻璃标准块。如测量数据与标准有误差,可用钟表螺丝刀通过色散校正手轮中的小孔,小心旋转里面的螺钉,使分划板上交叉线上下移动,然后再进行测量,直到测数符合要求为止。样品为标准块时,测数要符合标准块上所标定的数据。 如样品为蒸馏水时测数要符合下表:

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