荧光紫外(UVA-340)老化测试
荧光紫外(UV A-340）老化测试
(荧光紫外(UV A-340）老化测试与户外自然环境老化的时间如何换算？或者说UV A-340测试多长时间大致相当于自然环境中的一年？... 荧光紫外(UV A-340）老化测试与户外自然环境老化的时间如何换算？或者说UV A-340测试多长时间大致相当于自然环境中的一年？)
首先，老化的机理比较复杂，通常认为阳光中紫外光段是导致高分子材料老化的主要因素，但是紫外光所有引起的老化又不是线性的；见下图：
上图可以看出，前1300小时的辐照对材料的影响几乎很小，但是1300小时以后，老化是加速的。
其次，各地方的户外自然老化也是不同的，这其中还包括的实际户外老化因素是复合的（光、热、湿度共同催化，综合作用），见下图：
上图中细线是亚利桑那州的自然老化数据，虚线是弗洛里达州的自然老化数据，差别及其巨大。
综上所述，笼统的要求实验室老化和自然老化的比较是其实是个伪问题。必须指明什么条件的实验室老化（辐射强度、循环模式）和某个地域的户外自然老化。而且，没有理论换算公式，不同的地域的老化时间的换算都应该是通过试验获取的经验数据！！！
比如，根据美国一项试验，UVA-340辐照，1.35W/m2@340nm，4H光照/4H冷凝，黑标50℃的测试条件，其2000小时的测试结果与亚利桑那州2年自然老化数据比较吻合。
但我们不能说，1000H测试相当于1年的自然老化！
UV紫外老化机灯管是紫外老化试验箱的首要配件，辅佐用于仿照天然气候中的紫外、雨淋、高温、高湿、凝露、漆黑等环境条件，评价资料耐候功能。常用类型： 1.UVA：UVA-340和UVA-351 UVA灯管关于比较不同类型的聚合体测验特别有用。因为UVA灯管没有任何低于正常阳光的295nm截止点的输出，一般它们使资料的降解不如UVB灯管快。但是，它们一般能得到对真实野外老化的更好的相关性。UVA-340可在临界短波的365nm下至阳光截止点295nm的区域内供给对阳光较佳的仿真。峰值发射在340nm。UVA-340灯管关于不同配方的比较测验特别有用。UVA-351仿照穿过窗玻璃的阳光的紫外线部分。这对室内运用最有用，特别是仿制在窗口环境下出现的聚合体丢失。此灯管在家电涂料与轿车内部涂料运用较多。2.UVB：UVB-313和QFS-40 UVB灯管广泛用于耐久性资料的快速、节约的测验。当时有两种类型的UVB灯管。它们发生相同的紫外线波长，但发生的总能量则不同。一切的UVB灯管发射短波紫外线，低于阳光截止点的295nm。虽然这是短波紫外线
加快测验，有时却会导致异样的成果。UVB-313是用作UVB露出的最为广泛利用的QUV 灯管。它在对十分经用的产品，如轿车涂料和房顶资料测验的加快方面十分有用。UVB-313EL灯管还经常被用QC运用。QFS-40是原始的QUV灯管。QFS-40灯管已被利用了多年，并仍然在许多测验办法中被指定利用，特别是轿车涂料类的利用。QFS-40在QUV根本型中得到了较好运用，规范集团（香港）有/限公+司题拱。
UV紫外老化试验箱中多长时间的测试相当于户外曝晒一年
来源：分析测试百科网
为什么我们不管使用多么先进、多么可靠性高的UV紫外线乃耐气候设备都无法得出上面的数据？那时因为材料所放置的大自然环境中存在下列几点的不确定性。
1、户外曝晒场的地理纬度（越靠近赤道，紫外线越强），海拔高度（海拔越高意味着紫外线越强）。所以面对使用在不同地域的同类产品所试验的要求也不一样。
2、当地的地理环境，例如风速会影响测试样品的风干程度或接近水源的地方会促进露水的形成。（常规的标准型UV紫外线耐气候试验箱是没有风速要求的，试验箱存在的风是给加热管散热的热风，但是其风速是不可控的。）
3、由于每年的气候不同，同一地区次年天气对样品的影响有可能是上一年的2倍
4、季节的影响，比如，冬天的户外气候对试样的破坏作用和夏季强烈的阳光和紫外线对试样的破坏程度有很大的差异。
5、样品的朝向（偏南5度和正北就有很大不同）
6、样品的绝缘与否
7、试验箱的测试周期（紫外线光照时间以及冷凝潮湿时间）
8、试验箱的操作温度（温度越高，老化越快），可根据实际的试样试验需求在试验箱上设定不同的温度，一般标准的试验箱的温度可设定为常温到70℃。
所以谈论UV紫外试验箱和户外曝晒长度之间的换算条件是没有任何意义的。原因是UV紫外线试验箱中的环境是恒定的，而试样所存在的大自然环境则是千变万化没有规律可循的。
紫外老化试验箱与自然老化对比换算的矛盾
光照老化是目前常规的材料老化测试中使用较为普遍的测试手段，关于人工加速老化对比自然老化比值问题是很多人比较关心的话题，这里标准集团从专业的角度做下简单的说明，由于人工加速老化是人们主观意识的去模拟材料老化环境而
非真实世界中的光照环境，所以不能完全说明问题，仅供参考而已。那么这个参考方式换算方法是什么呢？存在哪一种换算关系呢？
其实，二者之间是没有什么换算关系的，无论从高分子材料的老化机理，还是紫外老化试验箱的设备老化原理角度看，二者绝无固定的换算关系。这是由于自然气候变化多端，人工气候箱无法完全模拟，因此国内外到目前为止还没有标准描述其换算关系。天气数据是相对性的数据，高分子材料的结构和物化性质又是千差万别，不可能存在固定的换算关系。不过，我们还是可以从紫外老化试验箱等人工加速老化试验得到老化测试数据，只不过该数据是相对数据，而不是绝对数据，因为紫外老化试验箱等人工光源的加速老化试验有如下局限性:
1、紫外老化试验箱等人工光源加速老化试验的光波分布与实际的自然环境日光分布不完全一致，紫外老化试验箱中创造的气候条件与实际大气的气候条件有较大差异。
2、紫外老化试验箱等人工光源加速老化试验无法模拟出大气的工业污染和其它许多因素对塑料的损害，因而也无法模拟出这些多种因素联合作用时的协同效应。
3、紫外老化试验箱等人工光源加速老化试验在比大气自然老化较高的温度下进行，常常会引起塑料等高分子材料产生与大气自然老化时不完全相同的变化过程。比如，紫外老化试验中温度控制在55℃以上，湿度95%，以及黑暗和喷淋等时间的设置都是很激烈的过程，和自然环境的变化相对温和不同。
4、同一种高分子材料中高分子结构并不全部一样，高分子材料的性能也存在性能均一性的问题（即批次质量差别），有时候微小的结构的差别可能导致与自然环境对比的老化性能差别很大。
以上几点局限性使人工加速老化试验的结果很难与大气自然老化结果取得对应的准确可靠的换算关系，人们很难回答在人工老化试验中试样暴露单位时间会相当于实际的大气自然老化中暴露多长时间，也很难找到不同加速老化试验方法所取得结果之间的准确换算关系。
更多关于紫外老化试验箱：https://www.360docs.net/doc/1e4149360.html,
材料紫老化测2113试效果对比分析，是5261按照实验时间和现实时间的按照4102相对的比例换算，例1653如：辐照强度×3.6×小时数=总辐照量，根据这个不同的材料和不同的测
试标准，有一定的差异
GB 14522
GB/T 16422.3-1997 塑料实验室光源暴露试验方法第3 部分：荧光紫外灯
氙灯老化试验箱和紫外老化试验箱同样是光老化试验设备，不同的是氙灯老化试验箱功能更全面，因为箱体内安装的氙灯灯管能模拟太阳光的全光谱，这是紫外老化试验箱所力不能及的，那么氙灯老化试验箱其中的一个参数指标光福照度是什么意思呢？很多客户对这个参数不是很懂，现在，武汉尚测试验设备有限公司给大家科普一下这个知识。
氙灯老化试验箱光辐照度是指照射在平面上光能的比率（SCSN900辐照度：150/736(W/㎡)(SCSN500辐照度(可调)：50~1120W/㎡)。设备必须能控制光的辐照强度，以达到加速试验和重现试验结果的目的。光辐照度的变化会影响材料质量恶化的速度，而光波波长的变化（例如光谱的能量分布）则同时会对材料降解的速度和类型产生影响。
设备的辐照装有光感应探头，又称太阳眼，一种高精度的测光系统，它可以对因灯管老化或任何其他变化造成的光能量下降及时做出显示。太阳眼允许在测试过程中选取适当的光辐照度，甚至能选择等同于夏季中午阳光的光辐照度。
太阳眼可以在辐照室内连续监测光辐照度，并可通过调节灯管的功率，精确将辐照度保持在工作设定值。由于氙灯老化试验箱长时间工作，当辐照度下降到低于设定值时，需要更换一只新的灯管，以保证辐照度的正常。
所以，氙灯老化试验箱光辐照度是一个非常重要的指标，它直接衡量设备是否能够达到相关标准。
检漏荧光粉操作规范
检漏荧光粉操作规范 我们为用户提供荧光粉检测服务，荧光粉检测一般在滤袋全新安装后进行，以检测其气密性。如果检查的是使用过的除尘器，打开清灰系统清灰20min左右，以提高检测准确性。针对这样的情况并结合该除尘器的特点我们拟定如下检测方案，以帮助检测漏灰的确切位置。 客户： 项目： 材质： 规格数量： 过滤面积： 准备事项 -停机清理净气室的灰尘及物料，以免其干扰判断 -荧光粉：按每平米过滤面积5克荧光粉,以1磅折合0.4536KG计算（BHA检测标准） -开始投粉前,将清灰系统打开清灰10-20min左右. -自备专用荧光粉检测用荧光灯、工具（记号笔、彩色粉笔等识别破损位置）、荧光眼镜等 -荧光灯便用前请充满电，以达到最佳识别效果 检漏荧光粉操作指南 检测中，请按以下操作要求为指南，进行检漏操作，如运行现场情况有所变化，请根据实际情况予以调整：
-在清灰系统停止运行的条件下,引风机50%-80%开度运行（以能够将荧光粉吸入不致掉入灰斗为标准），将VKH-11荧光粉按每平米过滤面积为5g的用量投入除尘器的进风管道的开口处。 -荧光粉的投入口位置应距离除尘器进风口约8m以外为合适，否则应考虑将荧光粉从除尘器的灰斗出口或灰斗检修门处投入。 -从喂入口添加荧光粉时不需要特殊的设备，不过投料时间不宜太久，只需要正常将荧光粉倒入喂入口即可；一般50公斤的荧光粉控制在3分钟左右；100公斤增控制在6分钟左右的时间 -荧光粉添加完成后，必须要求引风机在停机后1分钟左右时间内停机。 -约过半小时后,开打开净气室 -荧光粉投入完毕后，关闭主风机，并打开除尘器的顶盖，用荧光灯(紫外线灯)，仔细地检测清洁室内的花板接缝处，滤袋与花板的接口点等。检测时，周围环境亮度越暗越有助于泄漏检测工作的进行。-针对除尘器结构,可以除尘器顶部盖一层厚的帆布(要求盖上后净气室不见光) -分析原则:如果在净气室某一位置发现有发亮的粉状物,则说明附近有漏点,应注意查看粉状物的位置分布数量及走向,并用记号笔作标记. -观察重点位置:除尘器四壁,布袋口四周. -如发现问题,应标记清楚,并及时处理，避免二次污染 -注意：人员进除尘器前检查身体不得沾染荧光粉，以免干扰判断。建议投粉人员和检查漏点人员由2人分别担任。 -如果漏点较多，可以更换新滤袋后采用绿色荧光粉（VKH-12）做二次检漏
抗紫外线测试仪测试实验流程
抗紫外线测试仪测试实验流程 符合测试标准： ASTM D4329、D499、D4587、D5208、G154、G53；ISO 4892-3、ISO 11507；EN 534；prEN 1062-4、 BS 2782；JIS D0205；SAE J2020等所有现行紫外线老化试验标准。 紫外线老化试验仪,紫外线老化测试仪产品用途： 紫外线老化测试仪可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏。设备通过将待测材料曝晒放在经过控制的阳光和湿气的交互循环中，同时提高温度的方式来进行试验。设备采用紫外线荧光灯模拟阳光，同时还可以通过冷凝或喷淋的方式模拟湿气影响。是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位。 紫外线老化试验仪箱体结构： 箱体外壳材料：SUS不锈钢板喷塑处理；内胆材料：SUS不锈钢板； 箱盖材料：SUS不锈钢板喷塑处理； 在工作室的两边共安装8支UV－A或UV－B的紫外灯管； 加热方式为内胆水槽式加热，升温快，温度分布均匀； 箱盖为双向翻盖式，开闭轻松自如； 内胆水位自动补水，防止加热管空烧损坏； 试样架由不锈钢或铝合金制成； 试验箱底部采用高品质可固定式PU活动轮； 排水系统使用回涡型及U型积沉装置排水； 试样表面与紫外灯平面相平行； 喷淋型设备内部安装有自动喷头，水压可调； 如果灯管在亮时，箱体的门一旦被打开，机器将自动切断灯管供电，并自动进入平衡状态冷却，以免人体受到伤害；
箱内超温保护，箱内温度过高时机器将自动切断电源，并进入平衡状态； 紫外线老化测试仪控制系统： 温湿度控制仪表采用（韩国）全进口高精度数显微电脑集成控制器；精度：0.1℃（显示范围）；解析度：±0.1℃；感温传感器：PT100铂金电阻测温体； 控制方式：热平衡调温调湿方式； 温湿度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制； 无熔丝保护开关；超温；低水位；过载；漏电；全护套式接线端子；自动关机等保护； 紫外光耐气候试验箱,紫外光老化试验箱型号与参数： 工作室尺寸：450×1170×500㎜； 外形尺寸：580×1280×1450㎜； 温度范围：RT＋10℃～70℃； 湿度范围：90～98%R·H； 湿度均匀度：±2%； 温度均匀度：±2℃； 温度波动度：±0.5℃； 湿度波动度：±2%； 标准试件尺寸：75×150㎜或75×300㎜（特殊规格需在合同中说明）； 水槽水深要求：25㎜，自动控制； 有效辐照区域：900×210㎜； 紫外线波长：UV-A波长范围为315-400nm；UV-B波长范围为280-315nm； 试验时间：0～999H 可调； 黑板温度：40℃～65℃； 紫外光、凝露时间交替可调； 也可按客户需要定制非标试验箱.实验室： 苏州智河环境试验设备有限公司紫外线老化试验仪符合标准参照GB/T14522-93《中华人民共和国国家
海思芯片HTOL老化测试技术规
HTOL测试技术规范 拟制：克鲁鲁尔 审核： 批准： 日期：2019-10-30
历史版本记录
适用范围: 该测试它以电压、温度拉偏方式，加速的方式模拟芯片的运行状况，用于芯片寿命和长期上电运行的可靠性评估。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HTOL老化测试需求。 简介： HTOL(High Temperature Operating Life)测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试，它用应力加速的方式模拟芯片的长期运行，以此评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性，通常称为老化测试。本规范介绍DFT和EVB两种模式的HTOL测试方法，HTOL可靠性测试工程师需要依据实际情况选择合适的模式完成HTOL测试。 引用文件： 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。 1. 测试流程 1.1 HTOL测试概要 HTOL主要用于评估芯片的寿命和电路可靠性，需要项目SE、封装工程师、可靠性工程师、硬件工程师、FT测试工程师共同参与，主要工作包括：HTOL向量、HTOL测试方案、HTOL环境调试、HTOL测试流程执行、测试结果分析、失效定位等。HTOL可以用两种方式进行测试：DFT测试模式和EVB测试模式。 1.2 DFT和EVB模式对比 DFT(Design For Testability)测试模式：集成度较高的IC一般有DFT设计，其HTOL模
可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析
术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。 裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。 夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标： 振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。
荧光粉配比技术
你是是否想学习LED白光配粉技术，想要做好暖白，正白，冷白等白光? 那又如何选择芯片和荧光粉，荧光粉的配比又该怎么确认呢?点荧光粉的坐标/色温范围又该怎么定呢?我这是一个建设性的问题，相信很多这样的新手都想了解这个问题，那请看下面详细解答: 首先大家在配粉的过程中有点误区!在配粉之前先在CIE图上看看： (1)寻找需要的荧光粉波长;当我们需要某个色温段或者某个X、Y坐标点的时候，这时需要知道自己所用蓝光芯片的波长。当知道我们使用的芯片波长(图中芯片波长460nm)并且知道要做的坐标点(x0.44 y0.41)，这时候在CIE图上将芯片波长点与所要达到的坐标点x、y两点连一条直线并延长到上端的CIE波长点，这个时候这个波长延长点就是我们需要的荧光粉的发光波长了(目标荧光粉波长~585nm)。因此要达到这个色坐标就需要用到这个波长的荧光粉了。
2)当我们找到目标荧光粉的波长之后呢，就要寻找相应的荧光粉来做，但是只使用一种荧光粉的话显色较低，因此我们需要用两种以上荧光粉来调配如红粉+绿粉(红粉+绿粉根据光的叠加混色原理可得到需要的目标荧光粉波长)，如何选择两种荧光粉?如何调配两种荧光粉的比例呢?这就涉及到需要做的色坐标的目标荧光粉波长和需要做的显色指数要求是多少了，红绿粉适当的比例可得到需要的荧光粉的波长，如果对Ra要求较高时可选用波长较长的红色荧光粉如650nm的红粉(光谱越宽显色指数越高)配合波长
520nm左右的绿粉，做90以上显指就很容易了。(找需要的目标荧光粉波长时，根据小标题(1)的方法把已经做出来产品进行测试得到一个坐标点并与蓝光芯片波长做一条直线延伸到CIE上方的波长点;如果这个点的波长比目标荧光粉的波长长的话那么需要减小红色荧光粉的比例，如果比目标波长短的话要增加红色荧光粉的比例) 3)当找到合适的红绿粉并且也找到了目标荧光粉的比例后(红粉与绿粉的比例不要变)，如果产品的坐标点仍然偏离需要的坐标点的时候，你可以在CIE上观察到此时产品的色坐标与你要的色坐标点、蓝光芯片的波长点、目标荧光粉的波长点基本在一条直线上，这时只需要调节硅胶与荧光粉的比例(红粉+绿粉)，当色坐标低于目标坐标时增加荧光粉浓度，当色坐标高于目标坐标时减少荧光粉浓度。
电源老化测试方案OK
恒流电源老化测试方案LED LED恒流电源老化测试分为两个阶段： 第一：基本性能参数测试。 测试电源的基本参数，主要包括： 电压范围：在标称交流输入电压范围内电源都能正常工作。 输出电压：电源输出电压范围，检验电源能带LED的数量。 输出电流（恒流精度）：要求输出电流恒定为350mA±3%。 电源效率：要求电源效率不低于88%。 功率因数：要求功率因数大于0.95。 谐波失真：要求总谐波失真不超过20%。 低温测试：要求电源能长时间在-30℃～70℃的条件下能正常启动工作。 安规测试：电源耐压AC1500V测试，不击穿，泄漏电流符合安规要求。 保护功能：包括开路保护，短路保护等。 以上参数均能满足要求，则可进行下一步的老化测试。 第二：长期老化测试。此步骤分为三种方式。 第一种方式，正常老化。将电源直接带载通电老化。电源不间断持续工作时间在一个 月以上，不出故障，没有烧毁现象，各项参数稳定，则视为合格。 第二种方式，间歇性老化。将电源带载间歇性通电老化测试。电源在带负载的情况下， 不能的通电/断电，测试电源的抗冲击性能。老化时间一个月以上，不出故障，没有烧毁现象，各项参数稳定，则视为合格。 第三种方式，加速老化。将电源放置于高温试验箱内带负载长期工作，检验其各项性 能是否稳定。 一、测试仪器设备 电源老化测试所需仪器设备如下：
二、测试方法 基本参数测试1、负载，同时将一只电流表串接在负载中，已测试输出电流，另一将电源输出端接LED只万用表用以测试电源输出的电压。电源输入端接电参数测试仪，电参数测试仪接调压器输出电压。具体接线方式如下图： 是否LED调节调压器，使交流输入电压在电源标称的电压范围内变化，同时测试负载是否有变化等。并记录下输入电压不同Io正常工作，输出电压V o是否有变化，输出电流时输出的电流电压值。，谐波失真等数据，并记，功率因数PF Vi，输入功率Pi电参数测试仪将显示输入电压η。录下输入电压不同时各个数据，以便计算电源效率 计算公式如下：η电源效率 Pi÷输入功率o×输出电流IoV电源效率η＝输出电压 Pi）o×Io/即：η＝（V LED。测试所需要设备仪器器件：调压器，电参数测试仪，数字万用表，负载 主要测试参数包括：测试参数序号项目）输入电压（V1 保护功能测试2、恒流电源的保护功能主要是开路保护和短路保护。LED。电源是否正常工LED～510秒后，再重新接通负载开路保护：直接将负载LED断开作。，电LED秒，然后再重新接通负载2LED恒流电源输出端短接～3短路保护：直接将源是否正常工作。测试所需要设备仪器器件：手工测试，无需其他。安规测试3、 恒流电源的安全性能。LED主要检测
加速寿命试验的理论模型与试验方法
产品可靠性试验 6.2.1 可靠性试验的意义与分类 可靠性试验是为分析、评价、提高或保证产品的可靠性水平而进行的试验。产品的研制者通过试验获得产品设计、鉴定所需的可靠性数据（可靠性测定试验）。通过试验暴露产品缺陷，改进设计并获得可靠性增长信息（可靠性增长试验）。产品的制造者通过试验剔除零件批中的不合格品或暴露整机缺陷，消除早期故障（可靠性筛选或老化试验老化试验不是消除早期故障的）产品使用者通过试验验证产品批可靠性水平以保证接收的产品批达到规定要求（可靠性接收试验）。政府或行业管理部门通过试验获得数据库所需基础可靠性数据（可靠性测定试验），认证产品可靠性等级（可靠性验证试验），进行产品的可靠性鉴定与考核（可靠性鉴定试验）。 本节主要介绍可靠性测定试验，这是为获得产品可靠性特征量的估计值而进行的试验，根据需要可由试验结果给出可靠性特征量的点估计值和给定置信度下的区间估计。由于可靠性试验往往是旷日持久的试验，为节省时间与费用常采用加速试验的方式。本节将介绍某些加速寿命试验的理论模型与试验方法。 6.2.2 指数分布可靠性测定试验 大多数电子元器件、复杂机器及系统的寿命都服从指数分布。其待估参数为故障率λ，其他可靠性指标可利用估计值进行计算MTBF 已经有平均的意思了 1．定时截尾试验 （1）点估计试验进行至事先规定的截尾时间t c停止试验，设参与试验的n个样本中有r个发生关联故障，则由极大似然估计理论得出的故障率点估计值为 式中t i——第I个关联故障发生前工作时间（i=1，…，r）。 若在试验过程中及时将已故障产品修复或替换为新产品继续试验，则为有替换的定时截尾试验。此时λ的点估计为
如何使用ImageJ测量荧光强度
如何使用ImageJ 测量荧光强度 上一篇小编给大家分享了一下细胞计数方法，今天小编给大家分享一下期待已久的荧光定量分析。荧光定量分析是生物图像处理中比较常见的一种，今天我们分享的如何使用ImageJ 进行荧光定量分析。下图就是在我们我们Revolve 正倒置一体显微镜上拍摄的照片，以此图为例来说明如何进行荧光定量分析。 拆分多通道图像 荧光强度的测量无法在同时显示多通道的Merge 图像中进行，在进行测量之前应该先把Merge 的图像拆分成单通道（或者直接对单通道图片进行测量）。拆分方法：Image →Color →Split Channels。
图像分割 在图像计算的角度而言，图像分割（Image Segmentation）便是将图片分割为多个片段的过程，其目的是简化图像不同部分的象征意义以便于图像分析。常用的图像分割技术主要用来定位图像中的目标物体并勾画出其边界。ImageJ中可通过多种方法实现图像分割，在此我们先介绍一下最基本的一种-手动图像分割。此种方法主要通过控制图像直方图中的强度阈值来实现，分割出阈值范围内的图像区域，并进行后续的测量分析。实现方法：Image→Adjust→Threshold，红色蒙版即代表选中区域。 测量荧光强度 实现方法：Analyse→Measure。 注意：默认数值显示的是整张图片的荧光强度和面积，我们需要进行参数设定才可以显示所选区域的统计值。
如果需要导出数据或者设定测量参数，点击右键（也可以通过Analyse→Set Measurement实现），选中Limite to threshold和Area fraction。 好啦，现在进行Analyse→Measure，就可以得到想要的统计值了。
LED荧光粉的分析测试方法分析
评估方案 一、荧光粉的分析测试方法 1、发射光谱和激发光谱的测定 把样粉装好后，放到样品室里，选定一个激发波长，作发射光谱扫描，读出发射光谱的发射主峰。给定发射光谱的发射主峰，作激发光谱扫描，读出激发光谱峰值波长。重新装样，测试3次，各次之间峰值波长的差值不超过±1nm，取算术平均值。 2、外量子效率的测定 把样粉装好后，放到样品室里，选定一个激发波长，激发荧光粉发光，利用光谱辐射分析仪测试得到荧光粉的发射光谱功率分布。计算荧光粉在该激发波长下的外量子效率。重新装样，测试3次，各次之间的相对差值不大于1%，取算术平均值。 3、相对亮度的测定 将试样和参比样品分别装满样品盘，用平面玻璃压平，使表面平整。用激发光源分别激发试样和参比样品。用光电探测器将试样和参比样品发出的光转换成光电流，并记录数值。试样和参比样品连续重复读数3次，各次之间相对差值不大于1%，取算术平均值。 4、色品坐标的测定 把试样装好放入样品室中。选定激发光源的发射波长，使其垂直激发样品室里的荧光粉样品。利用光谱辐射分析仪按一定的波长间隔（不大于5nm）测试得到荧光粉的发射光谱功率分布。按GB 3102.6-1993中“6.39 色品坐标”的公式求出荧光粉的色品坐标。 重复测试3次，各次之间x、y的差值均不超过±0.001，取算术平均值。 5、温度特性的测定 把试样装好放入样品室中，于室温下测试其激发、发射主峰波长，相对亮度及色品坐标等。每一试样按测定步骤平行测3次，各次之间激发、发射主峰波长的差值均不超过±1 nm，相对亮度的差值不超过±1%，色品坐标的差值不超过±0.001。启动加热装置，将被测的荧光粉试样加热并稳定在设定的温度值10min。稳定在预定的温度下，测定荧光粉试样的激发、发射主峰波长，相对亮度及色品坐标等。每一试样按测定步骤平行测3次，各次之间激发、发射主峰波长的差值均不超过±1nm，相对亮度的差值不超过±1%，色品坐标的差值不超过±0.001。冷却荧光粉试样至室温，测试其激发、发射主峰波长，相对亮度及色
变更测试方案
5835; LX800变更测试流程方案: 步骤如下： 领到主板后 不良 目检、开机测试（敲BGA）维修 老化测试不良维修 DOS Test 不良维修 包装出货
目的：检查外观；测试主板是否开机，是否有BGA假焊、虚焊现象。 设备：ATX电源，VGA显示器，PS/2键盘，BGA敲打胶锤。 软件：无 测试：预算2Min/PCS 首先目检有没有外观不良。 装上电源，显示器，PS/2键盘，开机进CMOS后敲打BGA是否有死机，黑屏，花屏，重启等不良现象。 2. 老化测试：高温下老化8h。 A. 目的：60C高温环境下拷机测试；对主板老化时启动记录、CPU核心温度记录、COM反 复测试并记录、USB反复测试并记录、AUDIO测试、Set Time与主机同步。 B. 设备：PC主机一台，CF卡（System）,转换机，网线，COM测试治具，U盘，audio线，音响， MIC。 C. PC主机软件： 1?监控软件：可查看老化主板连接时显示其IP, MAC,图标为亮，不是连接状态时图标为灭。 2?共享文件夹，保存所有老化主板状况，包括CPU温度、启动、COM测试、USB测试记录。 3. Time设置权限为打开。 D. 老化系统软件： 1. 启动记录批处理：每次开机进到桌面时自动记录当时时间为开始老化时间。 2. CPU温度监控记录软件：用于记录CPU温度，每秒记录一次，并传送到PC主机做记录。 3. BURNTEST软件（内含COMTest软件） 4. USB测试软件：usb测试记录，并将结果上传到PC主机做记录。 5. Time设置：自动将老化主板时间设置与PC主机同步。 6?测试：预计架站需要时间15M n/Pcs 老化机1 老化机2 老化机3 老化机4 老化机5 老化机6 B.主机功能：
加速寿命试验公示计算汇总
加速寿命试验公示计算汇总 一、前言 新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化，新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果，为了在实时有效期结果获得以前，有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。 医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的，事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变，有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。 一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团，并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。得庆幸的是，生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料，这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ，也称“10 度原则”(10-degree rule) ，可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物，试验结果可以在要求的准确度范围内。 医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化，特别是与安全性和有效性有关的性能。加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下，在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。 采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。主要目标是可以给病人和企业带来利益，病人可以尽早使用这些最新的医疗器械，挽救病人的生命；企业可以增加销售获得效益，而又不会带来任何风险。尽管加速老化试验技术在学术领域已经比较成熟，但是这些技术在医疗器械产品的应用还是有限的。美国FDA 发布了一些关于接触眼镜、药物和生物制品等关于加速老化实验的指导性文件，还没有加速老化试验的标准。在我国尚无关于医疗器械有效期确定的加速老化的实验指导原则。国外许多医疗器械企业根据这些指导原则和文献建立自己的加速老化试验方法。（来源于：《中国医疗器械信息》2008年第14卷第5期《医疗器械加速老化实验确定有效期的基本原理和方法》） 二、实验条件和时间对比表
塑胶件抗UV测试国家标准
中华人民共和国国家标准｜ 塑料实验室光源暴露试验方法 GB/T16422.3-1997 第3部分：荧光紫外灯eqv ISO 4892-3:1994 Plastics-Methods ofexposure to labory light sources- Part 3:Fluorescent UVlamps 紫外光老化试验标准 1范围 本标准规定了塑料暴露于不同类型荧光紫外灯气候箱的试验方法。通则在GB/T 16422.1中给出。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB/T 9344-88 塑料氙灯光源曝露试验方法(neq ISO4892-2:1994) GB/T 15596-1995 塑料曝露于玻璃下日光或自然气候或人工光源后颜色和性能变化的测定 (cqv ISO 4582:1980) GB/T 16422.1-1996 塑料实验室光源曝露试验方法第一部分：通则(eqv ISO 4892-1:1994) 3定义 本标准采用下列定义 3.1 荧光紫外灯：发射400nm以下紫外光的能量至少占总输出光能80﹪的荧光灯。 3.2 Ⅰ型荧光紫外灯：300nm以下的光能低于总输出光能2﹪的一种荧光紫外灯。通常称为UV-A灯。 3.3 Ⅱ型荧光紫外灯：发射300nm以下的光能大于总输出光能10﹪的一种荧光紫外灯。通常称为UV-B灯。
3.4 冷凝暴露：试样表面经规定的辐照时间后转入模拟夜间的无辐照状态，此时试样表面仍受暴露室内热空气和水蒸气的饱和混合物加热作用，而试样背面继续受到周围空间的空气冷却，形成试样表面凝露状态。 4总则 4.1 在控制环境条件的荧光紫外灯气候箱中进行试样的暴露试验。有几种不同型号的灯(见3.1～3.3)。推荐采用UV-A灯或UV-A组合灯，如采用不同光谱组合灯时，应保证试样表面所受的光谱辐照均匀，即应使试样围绕灯列连续移位。 4.2 荧光紫外灯使用一种低压汞弧激发荧光物质而发射出紫外光，它能在较窄的波长区间产生连续光谱，通常只有一个波峰。其光谱分布是由荧光物质的发射光谱和玻璃的紫外透过性决定的。这种灯一般是使试样在某一局限光谱范围内的紫外光辐照下进行试验用的。 4.3 试验程序可以包括辐照强度和试样表面辐照量的测定。 国家技术监督局1997-09-09批 准1998-02-01实施 4.4 建议采用一种已知性能的类似材料作为参数，和受试材料同时暴露。 4.5 在不同型号的设备上所作的试验结果不能作比较，除非受试材料在不同设备中的重现性已被确定。 5设备 5.1 光源 5.1.1 Ⅰ型灯是适用的，但Ⅰ型灯有多种不同的辐射光谱分布可供选择，通常可区分为UV-A340、UV-A351、UV-A355和UV-A365，名称数字表示发射峰的特征波长(纳米)。其中UV-A340更能模拟日光的300～340nm光谱分布，采用不同光谱的灯组合时，还有使试样表面 辐照均匀的规定，例如使试样 绕灯列连续移位。 5.1.2 Ⅱ型灯发射光谱分布具 有接近313nm汞线的峰值，在 日光截止波长300nm以下有大
塑料老化测试方法070811
塑料老化测试方法--人工光源曝露试验z (2007/07/27 11:58) 1 概述： 所谓人工光源（实验室光源或人工气候）曝露试验方法，是通过模拟和强化大气环境中一些主要致老化因素，而达到人工加速目的的老化试验方法[1]。由于实际生产中对材料耐候性的评估的急切需求，一些人工光源设备被用来加速老化。这些光源都包括：（经过滤的）宽频氙弧灯、荧光紫外灯、金属卤化物灯（metal halide lamps）和开放式碳弧灯；还有一些不经常使用的光源，它们包括：汞蒸气灯、钨灯（tungsten lamp）[4]。我国1997年颁布的国家标准GB/T 16422-1.2.3（等效ISO 4892，1994）中规定了最常用的氙灯、荧光紫外灯、开放式碳弧灯三种光源的曝露试验方法。 2 通则 A 结果的偏差 鉴于材料在真实环境中老化的复杂性（日光辐射的特性和能量随地点、时间而变化，温度，温度的周期变化等），为减少重复曝露试验结果的差异，在特定地点的自然曝露试验应至少连续曝露两年。经验表明，实验室光源与特定地点的自然曝露试验结果之间的相关性，只适用于特定种类和配方的材料和特定的性能，和其相关性已为过去试验所证实了的场合。 B 试验目的 a 通过模拟自然阳光下长期曝露作用的加速试验，以获得材料耐候性的结果。为了得到曝露全过程完整的特性，需测定试样在若干曝露阶段的性能变化。 b 用于确定不同批次材料的质量与已知对照样是否相同的实验。 c 按照规定的试验方法评价性能变化，以确定材料是否合格。 C 试验装置 实验室光源曝露试验的装置一般应包括试验箱（包括：光源、试样架、润湿装置、控湿装置、温度传感器、程序控制装置等）、辐射测量仪、指示或记录装置等几个主要部分及其必要的辅助配套装置。 D 试验条件的选择 实验室光源曝露试验条件的选择主要包括：光源、温度、相对湿度、及喷水（降雨）周期等它们的选择依据及一般确定方法如下: a 光源的选择 光源的选择是整个试验的核心部分，其原则有二：一是要求人工光源的光谱特性与导致材料老化破坏最敏感的日光能量分布相近，即模拟性好；二是要求在尽量短的时间内获得近似与常规自然曝露的结果，即加速效果好。 若考虑试验结果的准确性，在材料敏感的紫外区，氙灯的光谱特性与日光的最为接近，是目前公认的理想光源。但考虑氙灯老化箱运转的成本，紫外荧光灯也许更适合我国一些中小企业和普通高校做老化试验研究。而用于灭菌或其他用途的高压或低压汞灯在没有适当滤光片时，含有大量自然光中没有的紫外成分，不适合一般的老化实验。这里的‘一般’指大气层内使用的塑料制品的老化实验，因为模拟的都是穿过大气层的紫外辐射。用这些试验方法模拟宇航用塑料制品，理论上会有一定误差。 b 温度的选择 空气温度的选择，应以材料在使用中遇到的最高温度为依据，比之稍高一些，常选50℃左右。黑板温度的选择以材料在使用环境中材料表面的最高温度为依据，比之稍高，多选63±3℃。 c 相对湿度的选择
荧光PCR检测原理
实时荧光定量PCR技术是指在PCR反应体系中加入荧光染料或荧光基团，利用荧光信号来实时监测整个PCR进程，最后通过标准曲线对未知模板浓度进行定量分析。 其特点有： (1)用产生荧光信号的指示剂显示扩增产物的量，进行实时动态连续的荧光监测，避免终点定量的不准确性，并且消除了标本和产物的污染，且无复杂的产物后续处理过程。 (2)荧光信号通过荧光染料嵌入双链DNA，或荧光探针特异结合木得检测物等方法获得，打打提高了检测的灵敏度、特异性和精确性。Real-time O-PCR可以应用于mRNA表达的研究、DNA拷贝数的检测、单核苷酸多态性的测定、细胞因子的表达分析、肿瘤耐药基因表达的研究以及病毒感染的定量监测。 实时荧光定量PCR技术的基本原理 在PCR反应体系中加入荧光染料或荧光基团，这些荧光物质有其特定的波长。仪器可以自动检出，利用荧光信号积累，实时监测整个PCR进程，在PCR 循环中，测量的信号将作为荧光阈值的坐标。并且引入一个——Ct值（Threshold cycle）概念，Ct值是指产生可被检测到得荧光信号所需的最小循环数，是在PCR 循环过程中荧光信号由本底开始进入指数增长阶段的拐点所对应的循环次数。 荧光阈值相当于基线荧光信号的平均信号标准偏差的10倍。一般认为在荧光阈值以上所测出的荧光信号是一个可信的信号，可以用于定义一个样本的Ct值。通常用不同浓度的标准样品的Ct值来产生标准曲线，然后计算相对方程式。 方程式的斜度可以用来检查PCR的效率，所有标准曲线的线性回归分析需要存在一个高相关系数（R2＞0.99），这样才能认为实验的过程和数据是可信的，使用这个方程式计算出未知样本的初始模板量。实时荧光定量PCR仪都有软件，可以从标准曲线中自动地计算出未知样本的初始模板量。 实时荧光定量PCR技术的应用 1. 基因工程研究领域 ①基因表达研究：对β地中海贫血症患者β与γ珠蛋白mRNA水平进行检测，其结果特异性强、定量准确，为了解β地中海贫血的分子病理机制及其临床诊断提供了可靠的检测数据。 ②转基因研究：利用两种发光探针及适当的循环阈值，扩增一个转移后的基因和一个对照基因，以分析转基因老鼠接合性。该方法为45个转基因动物的同型结合及异质结合提供了明确的鉴定结果。通过实时定量PCR检测，同型结合的异质接合动物交配后其子代中转基因的传递情况符合孟德尔遗传规律。这项技术在转基因动物繁育及基因剂量功能效应实验中将有很大的用途。
led荧光粉
LED荧光粉是制造白色LED的必须材料。 首先，我们要了解白色LED的发光原理。白色LED芯片是不存在的。我们见到的白色LED 一般是蓝光芯片激发黄色荧光粉发出白色光的。好比：蓝色涂料和黄色涂料混在一起就变成了白色。 其次，不同波长的LED蓝光芯片需要配合不同波长的黄色荧光粉能够最大化的发出白光。 所以说，LED荧光粉是制造白色LED必须的东西（白色LED也有另外几种发光方式，但是市面上白色LED95%都是蓝光芯片激发黄色荧光粉的原理）。 黑体(热力学) 任何物体都具有不断辐射、吸收、发射电磁波的本领。辐射出去的电磁波在各个波段是不同的，也就是具有一定的谱分布。这种谱分布与物体本身的特性及其温度有关，因而被称之为热辐射。为了研究不依赖于物质具体物性的热辐射规律，物理学家们定义了一种理想物体——黑体(black body)，以此作为热辐射研究的标准物体。 所谓黑体是指入射的电磁波全部被吸收，既没有反射，也没有透射( 当然黑体仍然要向外辐射)。显然自然界不存在真正的黑体，但许多地物是较好的黑体近似( 在某些波段上)。黑体辐射情况只与其温度有关,与组成材料无关. 基尔霍夫辐射定律(Kirchhoff)，在热平衡状态的物体所辐射的能量与吸收的能量之比与物体本身物性无关,只与波长和温度有关。按照基尔霍夫辐射定律，在一定温度下，黑体必然是辐射本领最大的物体，可叫作完全辐射体。用公式表达如下： Er =α*Eo Er——物体在单位面积和单位时间内发射出来的辐射能； α——该物体对辐射能的吸收系数； Eo——等价于黑体在相同温度下发射的能量，它是常数。 普朗克辐射定律(Planck)则给出了黑体辐射的具体谱分布，在一定温度下，单位面积的黑体在单位时间、单位立体角内和单位波长间隔内辐射出的能量为 B(λ，T)=2hc2 /λ5 ·1/exp(hc/λRT)-1 B(λ，T)—黑体的光谱辐射亮度(W，m-2 ，Sr-1 ，μm-1 ) λ—辐射波长(μm) T—黑体绝对温度(K、T=t+273k) C—光速(2.998×108 m·s-1 ) h—普朗克常数，6.626×10-34 J·S K—波尔兹曼常数(Bolfzmann)，1.380×10-23 J·K-1 基本物理常数 由图2.2可以看出： ①在一定温度下，黑体的谱辐射亮度存在一个极值，这个极值的位置与温度有关，这就是维恩位移定律(Wien) λm T=2.898×103 (μm·K) λm —最大黑体谱辐射亮度处的波长(μm) T—黑体的绝对温度(K) 根据维恩定律，我们可以估算，当T～6000K时，λm ～0.48μm(绿色)。这就是太阳辐射中大致的最大谱辐射亮度处。 当T～300K，λm～9.6μm，这就是地球物体辐射中大致最大谱辐射亮度处。 ②在任一波长处,高温黑体的谱辐射亮度绝对大于低温黑体的谱辐射亮度，不论这个波长是
BSEN13758-1防紫外线测试中文版
1、范围：规定了一种在标准条件下测试透过紫外线的红斑效应，来评价服装织物的抗太阳 紫外线辐射性能的测试方法。 本测试方法不适合测试远距离保护的织物（因为是近距离测试防紫外线的方法），比如雨伞，遮阳物或人工源类似物。 注本标准可能不适合测试小颜色小的织物结构不均匀的织物。 2、相关文献：EN 20139:1992 –标准平衡和调湿大气（ISO 139:1973） 3、定义术语和简写： 3.1.1 波长（λ）：一定范围的辐射，用nm表示；3.1.2紫外线（UVR）， 波长在180-400nm的电磁辐射。UV-A：315-400nm；UV-B：280-315nm；3.1.3太阳辐射度（E(λ)）：在地球表面单位波长和面积接受的太阳释放的能量。用W.m-2.nm-1表示。 在地球表面测量的太阳光紫外线光谱范围是290-400nm；3.1.4红斑：由各种物理或化学试剂导致皮肤泛红。 3.1.5光谱的红斑效应（ε(λ)）：一定波长λ辐射产生的相关的红斑效应；3.1.6光谱透过率T(λ)：一定波长的辐射，其透过的辐射与发射辐射的比例； 3.1.7积分球：内表面为非选择性漫反射的空心球体； 3.1.8荧光：吸收特定波长的辐射 然后在较短的时间内再次发射较大波长的光辐射。 3.1.9光谱带宽：指从单色器射出的 单色光谱线强度轮廓曲线的二分之一高度处的谱带宽度。用来表征仪器的光谱分辨率。 3.1.10 样品接受误差：仪器接口和积分球之间的误差（比如在接口和样品之间用滤波器）。 在这种情况，部分扩散光没有进入到积分球。这个误差由样品的结构，样品与接口的距 离，和照明装置的尺寸； 3.1.11 Shade：特别是色调，色深或颜色的明亮度； 3.1.12 construction：描述织物的一套参数，比如材料，交织，纹路等。 3.1.13 Ultraviolet protection factor(UPF)：这个标准描述的方法，来表达的保护的水平。 4、原理：纺织材料的UPF用总的光谱透过量来计算， 计算公式见右边： E(λ)：日光的辐照度；ε(λ)：光谱红斑效应； Δλ：波长的区间段；T(λ)：波长λ的透过率 总的光谱透过率，通过测量UV发射器的辐射量和接收到的透过的辐射量。如果用的多 色入射辐射，透光率收集的是单色。仪器的辐射可以用平行光辐射样品，然后用积分球 接收投射光，也可以用半球辐射，然后接收平行光。 5、仪器：测试仪器由以下部分组成： 5.1 UV光源，提供290-400nm波长的紫外辐射。合 适的UV光源包括弧灯，氘灯和太阳模拟器。 5.2 一个积分球，总的开口不能超过整个 内部表面的10%。内表面衬高反射性哑光材料，比如硫酸钡颜料。需要在样品接口的地方安装挡板保护内部检测器和内部源。如果适用，在球面上测量入射的辐射量。 5.3 单色器，用于测量290-400nm范围的光谱带宽，带宽为5nm或更小。5.4 紫外发射滤波器，只明显透过波长小于400nm左右的光，而且不发荧光。在用平行入射光的时候， 光束的面积至少25mm2，至少需要覆盖重复组织结构至少3次。此外，单色入射光束，减少接收误差，接口的最小尺寸和光源尺寸比值，需要大于 1.5倍。光束通常与面料在±5°，光源偏离光束主轴要小于5°。这些情况需要用在入射光为平行光源的情况。 合适的紫外滤光器，放在样品和接口之间。如果是单色光。当不能操作时，需要放在样 品接口出，在样品和积分球之间。滤光器的厚度在1-3mm之间。 6、样品准备和调湿， 6.1准备，对于均匀材料，至少准备4个样品。样品尽量均匀分散。 离布边5cm，离布头和布尾至少1m；如果材料有不同的形状和/或结构，每个颜色和组织至少测试2个样品；样品的尺寸需要能足够的覆盖仪器的孔径。 6.2 平衡调湿，按EN 20139:1992进行。如果测试仪器不在这个环境，需要10min内测试完毕。 7、测试：7.1将样品放在仪器的接口处，让原离皮肤的那面接触紫外光源；7.2 如果仪器 是单色光，检查是否有荧光，如果有荧光剂存在，放置一个紫外滤光器，并检查有效性；
医疗器械加速老化实验方案及报告(修订版)精选.doc
山东华普医疗科技有限公司 加速老化试验 版本/修改状态：生效日期： 文件编号：发放号：控制状态：拟制：审核：批准：
加速老化实验计划 一、使用范围 本公司生产的一次性使用氧气面罩，一次性使用鼻氧管，医用雾化器及其外包装。 二、过程要求 1、微生物屏障 2、无毒性 3、物理特性的符合性 4、化学特性的符合性 5、生物特性的符合性 三、预计完成时间： 老化实验前 全能性实验：2012年5月20日前 包装验证实验：2012年5月22日前 阻菌实验：2012年5月24日前 老化实验时间：2012年5月26日前 加速第一年验证 无菌实验：2012年6月18日前 全能性实验：2012年6月25日前 包装验证实验：2012年6月25日前 阻菌实验：2012年6月27日前 加速第二年验证 无菌实验：2012年7月1日前 全能性实验：2012年7月8日前 包装验证实验：2012年7月8日前 阻菌实验：2012年7月10日前 加速第三年验证 无菌实验：2012年7月15日前 全能性实验：2012年7月22日前 包装验证实验：2012年7月22日前 阻菌实验：2012年7月24日前 加速第四年验证 无菌实验：2012年7月29日前 全能性实验：2012年8月6日前 包装验证实验：2012年8月6日前
阻菌实验：2012年8月8日前 加速第五年验证 无菌实验：2012年8月13日前 全能性实验：2012年8月20日前 包装验证实验：2012年8月20日前 阻菌实验：2012年8月22日前 目的：在有效期三年内和三年有效期外，通过对我公司产品检验实验，来验证我们的产品规定为三年的有效期是有科学依据的，可靠有效的。
产品加速老化测试方案
产品加速老化测试方案 1、试验前准备 1.1 试验产品信息 样品名称： 样品型号： 样品数量： 样品序号： 1.2 试验所需的设备信息 设备名称：恒温恒湿箱 设备编号： 设备参数：温度测试范围为： 湿度测试范围为： 1.3 测试人员： 复核人员： 批准人员： 1.4 测试环境：加速老化测试在75℃、90% RH的恒温恒湿箱中进行 1.5 测试时间： 2、试验原理和步骤 2.1 使用的物理模型--最弱链条模型 最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。 该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。 2.2 加速因子的计算 加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此，加速因子的
计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。 2.2.1温度加速因子 温度的加速因子计算： ?? ???????? ???==stress normal a stress normal AF T T k E L L T 1-1exp ……………… （1） 其中，normal L 为正常应力下的寿命； stress L 为高温下的寿命； a E 为失效反应的活化能（eV ）； normal T 为室温绝对温度； stress T 为高温下的绝对温度； k 为Boltzmann 常数，8.62× 10-5eV/K ； 实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型，下表给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。 2.2.2 湿度的加速因子 2.3 试验方案 本试验采用最弱链条的失效模型，通过提高试验温度和湿度来考核产品电路板和显示屏的使用寿命。在75℃、90% RH 下做加速寿命测试，故其加速因子应为温度加速因子和湿度加速因子的乘积，计算如下： n normal stress stress normal a AF AF RH RH T T k E H T AF ???? ????????????? ???=?=1-1ex p (3)