TDDB寿命测试与预测方法
方法一：
高温恒电场栅氧化层TDDB寿命测试
实验样品是N阱MOS栅氧化电容，氧化层厚度为12.5nm，加速寿命试验是在135℃的高温下通过施以不同的应力条件进
行电路图如图一所示，并联电路中的电阻起限
流作用，讲两个同种电容并联然后与外接电阻
R串联。在高温恒定电场的加速应力的条件下
进行试验，R接在高温箱外，其上的电压可直
接用电压表测得并联部分置于高温箱中。所需
的温度通过高温箱面板控制设置，电压应力通
过电压程控。加上应力后通过测量外接电阻R
上的电压V来判断电容是否失效，并记录相应
的数据。如果V大于或者等于一定的电压值Vo
（即漏电流大于或者等于某个特定值时）可判
断与之串联的电容样品中有一个或者几个被击
穿。
通过在试验中施加不同的负电场以MOS栅图一
电容电流Ig大于特定值为失效依据，测量推算各电容在应力条件下的寿命值，对同种应力条件下的样品失效时间进行分布拟合。推导得到：
方法二：
斜坡电压法评估栅氧化层TDDB寿命
实验样品为1um CMOS硅栅工艺监制的电容，采用HP4062C半导体测试系统给予适当的程序，使系统自动测试斜坡斜率选取0.01V/s，采用斜坡电压法对样品进行测试得到斜坡电压下不同TDDB特性曲线。
少子寿命的测量
表面复合对少子寿命测量影响的定量分析 我们测量硅单晶、铸造多晶以及单晶硅片、多晶硅片的少子寿命，都希望得到与真实体寿命b τ相接近的测量值（表观寿命），而不是一个受表面影响很大的表面复合寿命s τ。因为在寿命测量中只有b τ才能真正反映半导体材料的内在质量，而表面复合寿命只能反映样品的表面状态，是随表面状态变化而变化的变数。 通过仪器测量出的寿命值我们一般称为表观寿命，它与样品体寿命及表面复合寿命有如下关系，公式（1）由SEMI MF28-0707给出的计算公式τ0 =S F R τ--11（τ0或b τ表示体寿命）推演出来： S b F τττ111+= （1） 即仪器测量值F τ，它实际上是少子体寿命b τ和表面复合寿命s τ的并联值。 光注入到硅片表面的光生少子向体内扩散，一方面被体内的复合中心（如铁原子）复合，另一方面扩散到非光照面，被该表面的复合中心复合。 光生少子在体内平均存在的时间由体复合中心的多少而决定，这个时间就称为体寿命。如果表面很完美，则表面复合寿命趋于无穷大，那么表观寿命即等于体寿命。 但实际上的表面复合寿命与样品的厚度及表面复合速度有关。 由MF1535-0707中给出s l D l sp diff s 222+=+=πτττ （2）可知，其中： diff τ=D l 22 π——少子从光照区扩散到表面所需的时间 sp τ= 2l s ——少子扩散到表面后，被表面（复合中心、缺陷能级）复合所需要的时间 l ——样品厚度 D ——少子扩散系数，电子扩散系数Dn=33.5cm 2/s ，空穴扩散系数Dp=12.4 cm 2/s
S ——表面复合速度，单位cm/s 硅晶体的表面复合速度随着表面状况在很大范围内变化。如表1所示： 表1 据文献记载，硅抛光面在HF 酸中剥离氧化层后复合速度可低至0.25cm/s ，仔细制备的干氧热氧化表面复合速度可低至1.5-2.5cm/s ，但是要达到这样的表面状态往往不容易，也不稳定，除非表面被钝化液或氧化膜保护。一般良好的抛光面表面复合速度都会达到 104 cm/s ，最容易得到而且比较稳定的是研磨面，因为它的表面复合速度已达到饱和，就像饱和浓度的盐水那样，再加多少盐进去浓度依然不变。 现在很多光伏企业为了方便用切割片直接测量寿命，即切割后的硅片不经清洗、抛光、钝化等减少和稳定表面复合的工艺处理，直接放进寿命测试仪中测量，俗称裸测，这种测量简单、方便、易操作。 为了定量分析表面复合对测量值F τ的影响，我们以最常用厚度为180μm 的P 型硅片为例进行定量分析。因为切割面实质上也是一种研磨面，是金属丝带动浆料研磨的结果，一般切割、研磨面的表面复合速度为S=107cm/s ，但线切割的磨料较细，我们将其表面复合的影响估计的最轻，也应该是S ≥105cm/s 。因为良好的抛光面S ≈104cm/s,我们按照2007版的国际标准MF1535-0707、MF28-0707提供的公式：b τ= S F R τ--1 1 ，其中Rs 是表面复合速率，表面复合寿命S s R 1=τ， 由以上公式即可推演出常用公式：S b F τττ111+= 表面复合寿命s l D l sp diff s 222+=+=πτττ 我们以以下的计算结果来说明，当切割面的表面复合速度为S=105cm/s 时， l =180μm 厚的硅片当它的体寿命由0.1μS 上升到50μS （或更低、更高）时， 我们测出的表观寿命受表面影响的程度，以及真实体寿命b τ与实测值F τ相差多
ISTQB 测试生命周期与测试 模拟题
第二章软件生命周期中的测试 1.以下选项中，不属于典型的V-模型的测试级别是 a组件/单元测试 b集成测试 c回归测试 d验收测试 2.以下选项中，不属于验收测试典型的类型有 a用户验收测试 b运行验收测试 c合同和法规性验收测试 d维护测试 3.对于商业现货（COTS）产品的系统集成，购买者可能会在系统级别进行集成 测试（integration testing）(与基础设施集成测试，和其他系统的集成测试或系统的商业部署)和验收测试（acceptance testing）(功能/非功能测试，用户或操作测试)，这种情况说明 a根据项目的特征或系统的架构，可以对测试级别进行合并或重新进行组合b组件测试测试忽略 c可以使用集成测试替代系统测试 d验收测试只能在系统级别进行 4.关于测试的类型，下面哪个是正确的组合 1.通讯录地址的修改 2.确认测试/再测试 3.语句覆盖 4.压力测试 A.功能测试 B.与变更有关的测试 C.非功能的测试 D.结构性测试 a1-A; 2-B; 3-C; 4-D
b1-A; 2-B; 3-D; 4-C c1-C; 2-A; 3-D; 4-B d1-B; 2-A; 3-D; 4-C 5.关于测试类型的应用范围，下面哪是正确的 a结构测试只能用在组件测试或集成测试 b功能测试只能用在系统测试或验收测试 c白盒测试方法不能用于系统测试 d功能测试和结构性测试可以应用在任何测试级别 6.关于维护测试，下列哪个选项正确 a在软件系统交付给用户真正使用之前必须进行维护测试 b在每个测试级别都需要进行维护测试 c维护测试是在一个现有的运行系统上进行的测试 d在一个现有的运行系统，因为开发已经完成了，所以不再需要测试 7.关于软件确认测试和回归测试的描述，下列哪个选项是错误的 a当修改了缺陷后，应该重新进行测试以确定原来的缺陷已经成功的修改，称之为确认测试 b回归测试是对已被侧过的程序在变更后进行的重复测试，以发现在这些变更后是否有新的缺陷引入 c当软件发生变更或者应用软件的环境发生变化时，需要进行回归测试 d回归测试可以在所有的测试级别上进行，并且只适用于功能测试 8.有一个系统已经在市场上运行了，这种情况对系统进行修改，然后进行的测 试属于 a.维护测试 b.验收测试 c.组件测试 d.系统测试 9.在生命周期模型中，一个好的测试都应具有哪些特点中错误的是 a每个开发活动都有相应的测试活动 b每个测试级别都有其特有的测试目标 c对于每个测试级别，需要在相应的开发活动过程中进行相应的测试分析和设计 d在开发生命周期中，测试员在文档中间阶段就应该参与文档的评审
三年级科学下册《动物的生命周期》形成性测试卷
三年级科学下册《动物的生命周期》测试卷附参考答案 一、卷面书写（10分） 二、填空题（每空2分，共40分） 1、蚕的一生是不断生长变化的，要经历（蚕卵）、（蚕）、（蛹）、（蚕蛾）四个不同形态的变化阶段。 2、蚕的一生经历了（出生）、（生长发育）、（繁殖）、（死亡）四个阶段，这就是蚕的生命周期。 3、在人的一生中，有两个时期长得最快。第一个时期是（出生前后），即胎儿期到出生后1岁，第二个时期是（青春发育期），即10岁至20岁之间。 4、人的一生有（两）副牙，一副是（乳牙），一副是（恒牙）。成年人共有（28—32）颗恒牙，恒牙长出后终生不换。 5、变态是昆虫生长发育过程中的一个重要现象，根据发育过程中是否有蛹期可以把绝大多数昆虫分为（完全变态）与（不完全变态）两大类。蝴蝶是（完全变态）昆虫，蜻蜓是（不完全变态）昆虫。 6、蚕生长到一定的阶段，会长出新皮，换下旧皮，这叫（蜕皮），蚕的一生要蜕（4）次皮。 三、判断题（每小题2分，共20分） 1、各种动物都有自己的生命周期，包括出生、生长发育、繁殖和死亡。（√） 2、养蚕、抽取蚕丝织成丝绸，是我国的伟大发明之一，早在3000多年以前我国劳动人民就已经开始养蚕。（×） 3、蚕的身体可分为头部、胸部和腹部三部分。（√） 4、蚕身体两侧的小黑点是蚕的气门，是蚕呼吸器官的开口。（√） 5、所有动物的生命周期长短都相同。（×） 6、蚕不叶子了，身体也发黄发亮说明要开始结茧了。（√） 7、从蚁蚕天吐丝结茧共蜕四次皮，所以蚕共分为4龄。（×） 8、蚕的生命周期大约为56天。（√） 9、青春期是从童年到成年的过渡阶段，对每个人来说，都是生长发育的重要时期。（√） 10、蝗虫是完全变态的昆虫。（×） 四、简答题（每小题10分，共30分）
少数载流子寿命测试
第三章：少数载流子寿命测试 少数载流子寿命是半导体材料的一个重要参数，它在半导体发展之初就已经存在了。早在20世纪50年代，Shockley 和Hall等人就已经报道过有关少数载流子的复合理论[1-4]，之后虽然陆续有人研究半导体中少数载流子的寿命，但由于当时测试设备简陋，样品制备困难，尤其对于测试结果无法进行系统地分析。因此对于少数载流子寿命的研究并没有引起广泛关注。直到商业需求的增加，少数载流子寿命的测试才重新引起人们的注意。晶体生产厂家和IC集成电路公司纷纷采用载流子寿命测试来监控生产过程，如半导体硅单晶生产者用载流子寿命来表征直拉硅单晶的质量，并用于研究可能造成质量下降的缺陷。IC集成电路公司也用载流子寿命来表征工艺过程的洁净度，并用于研究造成器件性能下降的原因。此时就要求相应的测试设备是无破坏，无接触，无污染的，而且样品的制备不能十分复杂，由此推动了测试设备的发展。 然而对载流子寿命测试起重要推动作用的，是铁硼对形成和分解的发现[5,6]，起初这只是被当作一种有趣的现象，并没有被应用到半导体测试中来。直到Zoth 和Bergholz发现，在掺B半导体中，只要分别测试铁硼对分解前后的少子寿命，就可以知道样品中铁的浓度[7]。由于在现今的晶体生长工艺中，铁作为不锈钢的组成元素，是一种重要的金属沾污，对微电子器件和太阳能电池的危害很严重。通过少数载流子寿命测试，就可以得到半导体中铁沾污的浓度，这无疑是一次重大突破，也是半导体材料参数测试与器件性能表征的完美结合。之后载流子寿命测试设备迅速发展。 目前，少数载流子寿命作为半导体材料的一个重要参数，已作为表征器件性能，太阳能电池效率的重要参考依据。然而由于不同测试设备在光注入量，测试频率，温度等参数上存在差别，测试值往往相差很大，误差范围可能在100％，甚至以上，因此在寿命值的比较中要特别注意。 概括来说，少数载流子寿命的测试及应用经历了一个漫长的发展阶段，理论上，从简单的载流子复合机制到考虑测试结果的影响因素。应用上，从单纯地用少子寿命值作为半导体材料的一个参数，到把测试结果与半导体生产工艺结合起来考虑。测试设备上，从简陋，操作复杂到精密，操作简单，而且对样品无接触，
ISTQB测试生命周期与测试模拟题
I S T Q B测试生命周期 与测试模拟题 SANY标准化小组 #QS8QHH-HHGX8Q8-GNHHJ8-HHMHGN#
第二章软件生命周期中的测试 1.以下选项中，不属于典型的V-模型的测试级别是 a组件/单元测试 b集成测试 c回归测试 d验收测试 2.以下选项中，不属于验收测试典型的类型有 a用户验收测试 b运行验收测试 c合同和法规性验收测试 d维护测试 3.对于商业现货（COTS）产品的系统集成，购买者可能会在系统级别进行集成 测试（integration testing）(与基础设施集成测试，和其他系统的集成测试或系统的商业部署)和验收测试（acceptance testing）(功能/非功能测试，用户或操作测试)，这种情况说明 a根据项目的特征或系统的架构，可以对测试级别进行合并或重新进行组合b组件测试测试忽略 c可以使用集成测试替代系统测试 d验收测试只能在系统级别进行 4.关于测试的类型，下面哪个是正确的组合 1.通讯录地址的修改 2.确认测试/再测试 3.语句覆盖 4.压力测试 A.功能测试 B.与变更有关的测试 C.非功能的测试 D.结构性测试 a1-A; 2-B; 3-C; 4-D b1-A; 2-B; 3-D; 4-C c1-C; 2-A; 3-D; 4-B d1-B; 2-A; 3-D; 4-C 5.关于测试类型的应用范围，下面哪是正确的 a结构测试只能用在组件测试或集成测试 b功能测试只能用在系统测试或验收测试 c白盒测试方法不能用于系统测试 d功能测试和结构性测试可以应用在任何测试级别 6.关于维护测试，下列哪个选项正确
按键寿命测试仪操作规程
1.0目的 使得测试人员操作该设备时有一定之规范, 并严格按照此规范执行；并对设备进行保养、点检、维护；并为新进人员之操作训练使用。 2.0范围
适用于工厂实验室按键寿命测试仪操作,本仪器适用于电工电子类产品按键寿命测试。 3.0职责 3.1中试部:负责编制操作规程，设备的使用，并对按键寿命测试仪进行日保养、周保养、月保养，点检； 4.0程序 4.1设备基本规格：工作电源为输入AC220V/50HZ，输出DC31V-2A的开关电源； 4.2设备使用环境：温度：5?C ~+35?C,湿度：25%~75%，供电电源AC220V±10%，50HZ 4.3操作程序 4.3.1接通高压气。 4.3.2 将控制板上的连接线分别连接在按键两端和电磁阀上，并将按键放在测试平台上。 4.3.3调节按键间隙及按键所需测试力度。 4.3.4设置测试所需电压（如需5V或12V，直接将控制板上的拔动开关拔至5V或12V）。 4.3.5设置测试所需阻值：根据上述设置的电压及已知的电流，通过调节工装上的SW旋扭选择所需阻值大小。（如需12VDC 50MA 的测试条件，根据 R=U/I可算出R=240Ω） 4.3.6设置按键击打速度：第一步按下K3按键数码管显示00010000，再调节K3按键至数码管显示00100000，第二步按下K2键至所需数字为止（例 如数码管显示00100010时表示按键击打间隔时间为1秒/次；显示00100015时表示按键击打间隔时间为1.5秒/次；显示00100020时表示按键击打间隔时间为2秒/次…）.第三步同时按下K1和K2按键启动上述设置程序，数码管显示00000000，工装上绿色LED会点亮；开始启动测试（数码管显示当前按键累加击打次数），同时按键被按下时工装上红色LED会点亮,按键弹起时红色LED熄灭。 4.3.7测试中及结束后记录按键累加工作次数。 5.0维护及保养（根据实际情况调整） 5.1日保养维护内容 5.1.1机体外部清洁； 5.1.2按键检查； 5.1.3显示状态检查； 5.1.4运行是否正常； 5.1.5检查电源线绝缘皮是否完好； 5.2月保养维护（根据实际情况调整）
少子寿命测试的讨论_02概要
施美乐博公司上海代表处 上海浦东新区商城路738号胜康廖氏大厦906A (邮编:200120 Rm.906A,Suncome Liauw's Plaza, No.738, Shangcheng Road, Pudong,Shanghai 200120, China Tel: +86-21-58362889 Fax: +86-21-58362887 To : Semilab 产品用户 FROM : 黄黎 / Semilab Shanghai Office Pages : 5 Pages (included this page Refer : 1、Semilab 公司上海办事处联系方法 2、关于少子寿命测试若干问题的讨论 尊敬的Semilab 产品用户: 感谢您和贵公司一直以来对我们的支持! 为了更好地服务于中国客户,Semilab 公司现已在上海成立办事处。 具体的联系方法为: 施美乐博公司上海办事处 上海浦东新区商城路738号胜康廖氏大厦906A (邮编:200120 Tel: +86-21-58362889 Fax: +86-21-58362887 联系人:黄黎先生
手机: +86-138******** (Shanghai +86-135******** (Beijing E-mail: leon.huang@https://www.360docs.net/doc/43859015.html, Website: https://www.360docs.net/doc/43859015.html, 现提供关于少子寿命测试若干问题的讨论,供您参考,并烦请填写客户意见反馈表,传真给我们,以便我们改进工作,谢谢!如您还有任何问题或需要,请随时与我们联系。 此致 敬礼! 施美乐博公司上海办事处 2006年4月7日 施美乐博公司上海代表处 上海浦东新区商城路738号胜康廖氏大厦906A (邮编:200120 Rm.906A,Suncome Liauw's Plaza, No.738, Shangcheng Road, Pudong,Shanghai 200120, China Tel: +86-21-58362889 Fax: +86-21-58362887 关于少子寿命测试若干问题的讨论 鉴于目前Semilab 少子寿命测试已在中国拥有众多的用户,并得到广大用户的一致认可。现就少子寿命测试中,用户反映的一些问题做出如下说明,供您在工作中参考: 1、Semilab μ-PCD 微波光电导少子寿命的原理
按键寿命测试机作业指导书
-机械按键测试寿命机 1.0目的： 使实验员正确规范的使用机械按键寿命机，通过实验机模拟人敲击按键，验证产品按键，薄膜，硅胶按键，硅胶面板等材料的使用寿命。 2.0适用范围： 适用与公司所有来料，新品开发，修改产品规格需做敲击寿命实验的产品等。 3.0职责： 适用与品质部指定的操作人员和设备维护人员。 4.0工作程序： 4.1使用前检查试验机各按键敲击头的力度，标准力度为180g±30g，并检查记录显示器1*1/1*10/1*100显示数据是否正确。速度频率调节旋钮是否正常。 4.2放置键盘的敲击按键数量：同类按键数量为2-4pcs，除特殊外。 4.3安装实验键盘，调节标准：敲击头将键帽压到底，键帽及硅胶同时承受180g±30g力度，敲击频率为3-4次/秒 4.4按下计数器复位开关，将数据归零。再打开调频器电源开关启动机器，并调整敲击速度机检查敲击效果。 4.5在敲击过程中，设备每敲击50万次停休30-60分钟进行保养
4.6每天不定时检查敲击情况，并将敲击状况记录与实验检查记录表。 4.7完成实验后将实验设备开关关闭，并对实验数据进行汇总，并录人电子文件拟成实验报告。 4.8实验完成品或实验未达到要求的而停止实验后，将破坏的实验材料及实验检查记录表整理保存。 4.9在实验过程中检查机器是否运行正常，定期对机器进行日常保养。 5.0实验标准：实验标准按公司产品例行实验标准执行。 产品例行实验标准寿命敲击
日常保养： 1.每天检查寿命实验机外壳是否干净无灰尘。 2.每天检查按键寿命实验机导轨需保持干净。 3.每天检查电源开关通电是否正常。 4.每天检查计数器和计时器工作是否正常。 5.每天按键寿命测试机工作是否正常。 6.每周定期给按键寿命测试机打润滑油。 7.每月定期校验按键速度。 8.每月定期更换耐磨头。 注意事项： 1.待测产品水平放在按键寿命测试机上，调整好位置，使耐磨头垂直敲击在键帽上，然后固定好。 2.调整好按键测试机的力度180g±30g和频率3-4次/秒 3.控制环境温度10-35摄氏度范围内。
产品生命周期的可靠性测试类型
产品生命周期的可靠性测试类型 可靠性的主要测试类型根据产品生命周期的各个阶段大约分为四类，即HALT（研发早期）、ALT（研发中期）、RDT（研发末期暨生产导入期）、ORT（量产期）。 其他的一些可靠性GoTest由于目的单纯，所以样品数往往是经验值或与可靠性目标相关的统计学方法值，此处暂不赘述。 这四个阶段的测试对于样品数的要求都有所不同，下面给出一些参考意见。 HALT：此测试主要目的是找出设计中的重大问题和主要失效模式，增加产品的稳健度（Robustness)，确定产品的四个极限即Low&HighDL(DestructiveLimit)和Low&HighOL(OperatingLimit)。所以，样品数非常少，通常每次仅2-4个。当然根据不同产品类型和测试条件，相应作出调整，但此时，样品数并不依据统计学方法给出。 ALT：此测试主要目的是验证MTBF目标。此时，样品数的选择和几个因素有关，主要是MTBF目标、加速因子（AF）、GEMFactor、测试时间。而加速因子与加速老化测试的条件(condition)相关，如温度、温湿度、温湿度加开关交变加速率等；GEMFactor同可接受失效数和置信度相关。下面的表示温湿度ALT测试时间与样品数之间关系的公式可以进一步说明： Duration(hrs)=(MTBFspecxGEMfactorCL)/(SampleSizexAFtempxAFRH). GEMfactor如下表 RDT:此测试目的是为了验证可出货产品是否满足可靠性目标。RDT可分为加速和非加速两种。做RDT 计划，首先要知道产品寿命分布曲线（lifedistribution)。然后根据lifedistribution，确定以下三种测试方法中的一种，即二项式参数（ParametricBinomial）、非二项式参数（Non-ParametricBinomial）、指数卡方（ExponentialChi-Squared）。 最后根据可靠性目标与相关参数的关系确定测试计划。例如要确认产品的lifedistribution为非二项式参数（Non-ParametricBinomial）的可接受失效数为零的测试样品数公式为 当然，以上的计算可以通过一些商业软件非常容易地计算出来。 有时RDT是持续性测试（SequentialTesting），持续数周，数量也比较多。 加速RDT可以通过增加应力级数（stresslevel）相应缩短测试时间和样品数。 ORT：此测试主要目的就是为了筛除那些受到生产流程中的各种因素影响而导致可靠性下降不能满足目标的产品。此时可以使用统计学方法计算样品数。但是，由于产品类型的不同和量产时的情况复杂多变，包括样品数在内的各种测试条件和类型往往都是定制的。没有一个统一的定论。 总结：每个阶段的测试条件各不相同，人们总想要最少的样品，最短的测试时间，而我也不认为可靠性越高对公司就越好。要知道，可靠性也是合适的才是最好的。所以，在定制测试计划时，不应一成不变，而是要充分了解产品特性、客户要求、自身能力等因素，从中找到一个平衡点，制定出合理的计划。
可靠性测试检验标准
可靠性测试检验标准 一机械测试标准 试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试 试验设备：振动仪 试验样品：6SETS 试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T .轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。 D包装振动测试标准 试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响 试验设备：振动测试仪 试验样品：2 carton 试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。 判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。 E自由跌落测试标准 试验目的：检验产品在搬运期间由于粗造装卸遭到跌落的适应性 试验设备：跌落实验机 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装，不带附件，处于导通状态。从1M的高度（如果LCM面积超过产品表面积的60%，跌落高度为50CM），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落3次，6面共计18次，试验结束，取出样品进行试验后检查。 判定标准：测试后手机基本功能、性能正常，外观、结构正常。马达振动无异常。 F裸机跌落测试标准 试验目的：检验产品在使用生产轻微撞击的性应性 试验设备：水泥地面 试验样品：6SETS
基于生命周期的软件测试-教案
《软件测试基础》教案 第三讲 教材内容：3 课时1 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 2 1.回顾上一章: [5分钟] --------------------------------------------------------------------------------------------------- 2 2.课程知识点讲解： ----------------------------------------------------------------------------------------------------- 3 2.1.具体知识点1：基于生命周期测试概述[10分钟] (3) 2.2.具体知识点2：生命周期各个阶段的测试要求[10分钟] (3) 2.3.具体知识点2：HP ALM对生命周期软件测试的支持[10分钟] (3) 3.本节总结[10分钟] --------------------------------------------------------------------------------------------------- 4 4.考核点--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 4 5.测试题--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 4 6.扩展部分------------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 4 7.学员问题汇总 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------- 4 8.作业------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------ 4课时2 ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 5 9.回顾上一章: [5分钟] --------------------------------------------------------------------------------------------------- 5 10.课程知识点讲解：-------------------------------------------------------------------------------------- 5 10.1.具体知识点1：[10分钟] (5) 10.2.具体知识点2：[10分钟] (5) 10.3.具体知识点3：[10分钟] (5) 11.本节总结[10分钟] ----------------------------------------------------------------------------------- 6 12.考核点 ----------------------------------------------------------------------------------------------------- 6 13.测试题 ----------------------------------------------------------------------------------------------------- 6 14.扩展部分 -------------------------------------------------------------------------------------------------- 6 15.学员问题汇总-------------------------------------------------------------------------------------------- 6 16.作业 -------------------------------------------------------------------------------------------------------- 6
VS2010软件生命周期管理高级教程(测试人员)
第12章软件测试简介 基于角色的测试工具： 1、Visual Studio Test Professional 2010——Test Professional 产品的主要对象是专业测试人 员，他们将会使用该工具编写、执行和管理手动测试。 2、Visual Studio 2010 Premium 和Visual Studio 2010 Ultimate——Visual Studio 2010 的 Premium 和Ultimate 版本包含了为测试专家设计的工具。 12.2 测试类型 一个成功的测试计划可能包含下列测试类型中的多种： 1、手动测试——手动测试仅需要人与应用程序进行交互，已验证一些测试结果并报告测试 是否成功。 2、手动测试（text/Word格式）——只是一个文档，其中包含测试人员应该执行的手动测 试步骤。 3、可编码用户界面测试——一个可编码用户界面测试提供了如下功能：编写自动与应用程 序用户界面交互的测试，验证一些测试结构，如发现错误则记录bug。由于整个过程是自动的，因此可以非常频繁地执行且不需要人工干预，但通常比编写和维护一个手动测试的代价要高。（更适合于验证功能和用户界面布局）（自动测试） 4、单元测试——这是底层的测试，用于验证目标应用程序的代码功能是否与开发人员所期 望的一致。单元测试实际上是测试其他代码的代码。（自动测试） 5、数据库单元测试——Visual Studio 2010 还支持数据库代码单元测试的编写。 6、Web 性能测试——Web性能测试用于验证一个Web应用程序的功能或性能。（更适合 于验证性能和可伸缩性（用在负载测试内时）） 7、负载测试——这种测试用于验证目标应用程序是否能达到一定的强度要求。它是通过反 复执行各种测试而加大目标系统的强度。 8、泛型测试——这种测试可以启动对其他外部测试系统的调用，如第三方测试包中的现有 测试集。 9、顺序测试——实质上是其他测试的容器，用于为这些测试确定执行顺序，而且可以多次 包含相同的测试。 12.3 诊断数据适配器 Visual Studio 2010 附带了几个在测试期间可以启动的诊断数据适配器，包括： 1、操作日志和操作记录——对手动测试很有用，它可以捕获遇到bug时测试人员所采取的 准确操作。 2、https://www.360docs.net/doc/43859015.html, Profiler——在执行负载测试时，这个数据适配器可以使用在远程计算机上。 3、代码覆盖——代码覆盖可用于确定一个自动测试所执行的代码路径。只能用于自动测 试，不能用于手动测试。 4、IntelliTrace——IntelliTrace 使开发人员能够更深入地了解应用程序和框架行为，并能够 打开由测试人员收集的IntelliTrace 文件来解决“无法重现”的情况，从而大大改善了调试体验。 5、事件日志——这个适配器可以捕获测试执行时写入事件日志中的事件。 6、系统信息——可以收集系统信息，并将捕获到的信息附在一个bug上。 7、测试影响——在分析测试执行了哪些代码块方面，测试影响分析是Visual Studio 2010提 供的又一项强大的功能。
直流马达寿命测试规程
1 目的 1.1 直流马达寿命测试的目的就是通过直流马达在模拟工作条件下的正常寿 命，来判断其是否达到设计或改进的预期效果，以完成设计或改进之验 证和确认的目的。 2 范围 2.1 此标准仅适用于低伏直流马达。 2.2 本标准是依据马达的实际应用情况制定。 3 定义 3.1 额定电压：客家指定或设计指定的、可使马达正常工作的电压。一般是 指马达两端的电压。（单位：V或 mV） 3.2 额定电流：额定电压下的电流值或在最低的额定电压范围，在电器用品 上所注明之实际用电流。（单位：A 或 mA） 3.3 额定转速：客家指定或设计指定的、马达工作在额定电压和额定负载下 的转速。（单位：rpm） 3.4 额定负载：客家指定或设计指定的、作为马达承受的负荷(单位：g-cm或 N –cm)。负载力矩=砝码重量（g或N）×力矩轮半径即力臂（cm）。 3.5 马达转向：从输出端看，顺时针方向旋转为CW，逆时针方向旋转为 CCW。 4 仪器清单 4.1 电源供应器(MEILI 牌 MCH-305DB )给马达提供工作电压（精确度： 0.01V）。 4.2 微电机寿命测试仪(欧捷电子)控制马达运转时间和停止时间及转动方向 （精确度：1S）。 4.3 力矩轮和吊线砝码作为马达的模拟负载（精确度：0.01g-cm）。 4.4 专用的夹具。 4.5 万用表（EZ牌DM-341T和VICTOR牌VC-9806+）使测量数据更为准 确（精确度：0.01V＆0.01Ａ）。 4.6 示波器（OSCILLOSCOPE牌V-212）使马达的真实性能反映的更为准 确。
5 准备工作 5.1 环境条件 除非有特殊注明之外，所有测试要在室温为15℃—35℃，相对湿 度在45%—75%的条件下进行. 5.2 夹具： 夹具一定要达到将马达固定的作用，避免在测试的过程中影响其 真实性能． 5.3 负载点： 根据性能测试实验的基本要求，测试的负载点要选性能曲线图中 最高效率的负载点 6 测试程序 6.1仔细阅读《马达测试工作单》，认真检查测试发起人所提供被测试之马 达是否与工作单一致，注意其它测试要求，并将《马达测试工作单》在 明显位置悬挂。 6.2挑选合适的负载（力矩轮，砝码） 6.1.1 力矩轮和砝码是提供标准负载的设备，为达到满足测试要 求的目的，一般情况下，砝码的选用请参照下列“表格一”中的 数据进行。 附表一
ISS-测试生命周期流程分解
测试生命周期流程内部公开 测试生命周期流程 (仅供内部使用） For internal use only iSoftStone IT Co., Ltd. 北京软通动力信息技术有限公司 All rights reserved 版权所有侵权必究
文档修订记录
目录 1引言 (5) 1.1目标 (5) 1.2适用范围 (5) 1.3术语和概念 (5) 2角色和职责 (6) 3工作程序 (8) 3.1概述 (8) 3.2总体流程 (8) 3.3测试项目来源 (10) 3.4测试需求分析与计划阶段 (10) 3.4.1概述 (10) 3.4.2角色与职责 (11) 3.4.3入口准则 (11) 3.4.4输入 (11) 3.4.5任务 (11) 3.4.6输出 (11) 3.4.7出口准则 (11) 3.4.8资源和能力要求 (12) 3.4.9度量 (12) 3.5测试设计阶段 (12) 3.5.1概述 (12) 3.5.2角色与职责 (12) 3.5.3入口准则 (13) 3.5.4输入 (13) 3.5.5任务 (13) 3.5.6输出 (13) 3.5.7出口准则 (13) 3.5.8资源和能力要求 (13) 3.5.9度量 (13) 3.6测试执行阶段 (14) 3.6.1概述 (14) 3.6.2角色与职责 (14) 3.6.3入口准则 (14) 3.6.4输入 (15) 3.6.5任务 (15) 3.6.6输出 (15) 3.6.7出口准则 (15) 3.6.8资源和能力要求 (15) 3.6.9度量 (15) 3.7测试退出评估阶段 (16) 3.7.1概述 (16) 3.7.2角色与职责 (16) 3.7.3入口准则 (16) 3.7.4输入 (16) 3.7.5任务 (17) 3.7.6输出 (17) 3.7.7出口准则 (17)
少子寿命测试仪说明书
LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪使用说明书 广州市昆德科技有限公司
目录 1.概述 (1) 2.设备的组成及技术指标 (2) 3.仪器的使用 (3) 4.寿命值的测试读数方法 (6) 5.数字示波器的使用 (9) 6.寿命测量准确度的校核方法 (12) 7.仪器结构及维修 (13) 8.整机体积、重量、电源 (14)
1.概述 1.1.LT-100C高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料国际组织SEMI标准（MF28-0707、MF1535-0707）及国家标准GB/T1553-1997设计制造。本设备采用高频光电导衰减测量方法，适用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，由于对样块体形无严格要求，因此广泛应用于工厂的常规测量。寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。 目前我国测量硅单晶少子寿命的常用方法为高频光电导衰退法（hfPCD）及微波反射光电导衰退法（μPCD），两种方法均无需在样品上制备电极，因此国外都称为无接触法。 dcPCD（直流光电导衰退法）是测量块状和棒状单晶寿命的经典方法；μPCD法是后来发展的测量抛光硅片寿命的方法。这两种方法对单晶表面的要求截然相反，dcPCD法要求表面为研磨面（用粒径为5—12μm氧化铝粉研磨，表面复合速度接近无限大，≈107㎝/s），这是很容易做到的；μPCD法则要求表面为完美的抛光钝化面，要准确测量寿命为10μｓ的P型硅片表面复合速度至少要小于103㎝/秒，并需钝化稳定，这是很难做到的。 hfPCD光电导衰退法介于两者之间，它和dcPCD法一样可以测量表面为研磨状态的块状单晶体寿命，也可以测量表面为研磨或抛光的硅片寿命。特别要强调的是：无论用何种方法测量“表面复合速度很大而寿命又较高的”硅片（切割片、研磨片），由于表面复合的客观存在，表观寿命测量值肯定比体寿命值偏低，这是无容置疑的，但是生产实际中往往直接测量切割片或未经完善抛光钝化的硅片，测量值偏低于体寿命的现象极为普遍，因此我们认为此时测出的寿命值只是一个相对参考值，它不是一个真实体寿命值，而是一个在特定条件下（体寿命接近或小于表面复合寿命时）可以反映这片寿命高，还是那片寿命更高的相对值。供需双方必须有一些约定，如约定清洗条件、切割条件和测量条件，只有供需双方经过摸索并达成共识，才能使这样的寿命测量值有生产验收的作用，否则测量值会是一个丝毫不能反映体寿命的表面复合寿命。 因此实际生产中我们主张尽量用高频光电导衰退法测量硅块、棒或锭的寿命，这样寿命测量既准确又可以减少测试工作量。 1.2.LT-100C型寿命仪是LT-1（基本型）的升级换代产品，在低阻硅单晶测量时，采用了全新理念，使信噪比提高了数十倍至数百倍，将硅单晶寿命测量下限从ρ＞3Ω·cm，延伸到ρ≥0.3Ω?㎝，除能测量高阻单晶外亦可满足太阳电池级硅片（裸片）
按键寿命测试机作业指导书
按键寿命测试机作业指 导书精选文档 TTMS system office room 【TTMS16H-TTMS2A-TTMS8Q8-
-机械按键测试寿命机 目的： 使实验员正确规范的使用机械按键寿命机，通过实验机模拟人敲击按键，验证产品按键，薄膜，硅胶按键，硅胶面板等材料的使用寿命。 适用范围： 适用与公司所有来料，新品开发，修改产品规格需做敲击寿命实验的产品等。 职责： 适用与品质部指定的操作人员和设备维护人员。 工作程序： 使用前检查试验机各按键敲击头的力度，标准力度为180g±30g，并检查记录显示器1*1/1*10/1*100显示数据是否正确。速度频率调节旋钮是否正常。 放置键盘的敲击按键数量：同类按键数量为2-4pcs，除特殊外。 安装实验键盘，调节标准：敲击头将键帽压到底，键帽及硅胶同时承受180g±30g力度，敲击频率为3-4次/秒 按下计数器复位开关，将数据归零。再打开调频器电源开关启动机器，并调整敲击速度机检查敲击效果。 在敲击过程中，设备每敲击50万次停休30-60分钟进行保养
每天不定时检查敲击情况，并将敲击状况记录与实验检查记录表。 完成实验后将实验设备开关关闭，并对实验数据进行汇总，并录人电子文件拟成实验报告。 实验完成品或实验未达到要求的而停止实验后，将破坏的实验材料及实验检查记录表整理保存。 在实验过程中检查机器是否运行正常，定期对机器进行日常保养。 实验标准：实验标准按公司产品例行实验标准执行。 产品例行实验标准寿命敲击
日常保养： 1.每天检查寿命实验机外壳是否干净无灰尘。 2.每天检查按键寿命实验机导轨需保持干净。 3.每天检查电源开关通电是否正常。 4.每天检查计数器和计时器工作是否正常。 5.每天按键寿命测试机工作是否正常。 6.每周定期给按键寿命测试机打润滑油。 7.每月定期校验按键速度。 8.每月定期更换耐磨头。 注意事项： 1.待测产品水平放在按键寿命测试机上，调整好位置，使耐磨头垂直敲击在键帽上，然后固定好。 2.调整好按键测试机的力度180g±30g和频率3-4次/秒 3.控制环境温度10-35摄氏度范围内。
少子寿命的测试问题
少子寿命的测试问题 2011-05-11 14:54:44 来源：光伏太阳能网 鉴于目前Semilab 少子寿命测试已在中国拥有众多的用户，并得到广大用户的一致认可。现就少子寿命测试中，用户反映的一些问题做出如下说明，供您在工作中参考： 1、Semilabμ-PCD 微波光电导少子寿命的原理微波光电导衰退法(Microwave photoconductivity decay)测试少子寿命，主要包括激光注入产生电子-空穴对和微波探测信号的变化这两个过程。904nm 的激光注入（对于硅，注入深度大约为30um）产生电子-空穴对，导致样品电导率的增加，当撤去外界光注入时，电导率随时间指数衰减，这一趋势间接反映少数载流子的衰减趋势，从而通过微波探测电导率随时间变化的趋势就可以得到少数载流子的寿命。 少子寿命主要反映的是材料重金属沾污及缺陷的情况。 Semilab μ-PCD 符合ASTM 国际标准F 1535 - 00 2、少子寿命测试的几种方法 通常少数载流子寿命是用实验方法测量的，各种测量方法都包括非平衡载流子的注入和检测两个基本方面。最常用的注入方法是光注入和电注入，而检测非平衡载流子的方法很多，如探测电导率的变化，探测微波反射或透射信号的变化等，这样组合就形成了许多寿命测试方法。近30 年来发展了数十种测量寿命的方法，主要有：直流光电导衰退法；高频光电导衰退法；表面光电压法；少子脉冲漂移法；微波光电导衰减法等。 对于不同的测试方法，测试结果可能会有出入，因为不同的注入方法，表面状况的不同，探测和算法等也各不相同。因此，少子寿命测试没有绝对的精度概念，也没有国际认定的标准样片的标准，只有重复性，分辨率的概念。对于同一样品，不同测试方法之间需要作比对试验。但对于同是Semilab 的设备，不论是WT-2000 还是WT-1000，测试结果是一致的。 μ-PCD 法相对于其他方法，有如下特点： （1）无接触、无损伤、快速测试 （2）能够测试较低寿命 （3）能够测试低电阻率的样品（最低可以测0.01ohmcm 的样品） （4）既可以测试硅锭、硅棒，也可以测试硅片，电池 （5）样品没有经过钝化处理就可以直接测试 （6）既可以测试P 型材料，也可以测试N 型材料 （7）对测试样品的厚度没有严格的要求 （8）该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 3、表面处理和钝化的原因 μ-PCD 测试的是少子有效寿命，它受两个因素影响：体寿命和表面寿命。 测试的少子寿命可由下式表示