基于PSD的位移测试装置设计

基于PSD的位移测试装置设计
基于PSD的位移测试装置设计

中北大学

课程设计说明书

学生姓名:XXX 学号:XXXXXXXX

学院:信息与通信工程

专业:电子信息科学与技术

题目:基于PSD的位移测试装置设计

指导教师:程耀瑜、李永红职称: 教授 2013年 01 月 18 日

中北大学

课程设计任务书

12/13 学年第一学期

学院:信息与通信工程学院

专业:电子信息科学与技术

学生姓名:陆金贵学号:0905014114 课程设计题目:基于PSD的位移测试装置设计

起迄日期:2012年12月31日~2013年1月18日课程设计地点:主楼1318室,513教研室

指导教师:程耀瑜、李永红

系主任:程耀瑜

下达任务书日期: 2012年12月31日

一、PSD简介

PSD(Position Sensitive Detectors)是一种能测量光点在探测器表面上连续位置的光学探测器。PSD 由P 衬底、PIN 光电二极管及表面电阻组成。与CCD 探测器相比,PSD 有诸多优点,如位置分辨率高,响应速度快和处理电路简单等。另外,位置信号与落在探测器上的光斑形状无关。

各种精度和规格尺寸的PSD 探测器:

PSD特点:

位置分辨率高、光谱响应宽、响应速度快、位置和光强同时测量、不受光斑的约束、可靠性高等。

PSD应用范围:

光学位置和角度的探测、光学遥测系统、位移和振动测量、激光对中和准直、距离测试、人类运动姿态分析等。

PSD分两种类型:一维PSD(1D-PSD)和两维PSD(称2D-PSD)探测器。本次设计中我们用到的是一维PSD,下面仅针对一维PSD作详细介绍,另对二位PSD工作原理作简要介绍。

二、一维PSD位置传感器工作原理

1D-PSD 的结构图:

图1 PSD探测器

1D -PSD 的等效电路图:

PSD 截面图:

如图所示,PSD 由在平面硅衬底上的三层组成:P 型层在表面,N 型层在另一面, I 层在它们中间。 落在 PSD 上的入射光转换成光电子后由 P 型层上两端电极探测并形成光电流。

PSD 工作原理:

当光点入射到PSD 表面时,由于横向电势的存在,产生光生电流0I ,光生

电流就流向两个输出电极,从而在两个输出电极上分别得到光电流1I

和2I ,显然

012

I I I =+。而1I 和2I

的分流关系则取决于入射光点到两个输出电极间的等效电

阻。假设PSD 表面分流层的阻挡是均匀的,则PSD 可简化为如下图所示的电位器模型,其中

1

R 、2R 为入射光点位置到两个输出电极间的等效电阻,显然1R 、2

R

正比于光点到两个输出电极间的距离。

图2 PSD 结构图

图3 PSD 等效电路图

图4 PSD 截面图

由此可得出如下公式:I1 和 I2 是电极的光电流,2L 和 I0 分别代表电极间距和总光电流。

(1)当 PSD 几何中心设定为坐标原点:

因为 I 1 / I 2 = R 2 / R 1 = (L-X )/( L+X ) I 0 = I 1 + I 2

所以可得 I 1 = I 0(L-X )/2L I 2 = I 0(L+X )/2L X =( (I 2 - I 1) / I 0)L (2)当 PSD 一端(R1端)设定为坐标原点:

因为 I 1 / I 2 = R 2 / R 1 = (2L-X )/ X I 0 = I 1 + I 2

所以可得 I 1 = I 0(2L-X )/2L I 2 = I 0(X )/2L

当入射光恒定时,0I 恒定,则入射光点与PSD 中间零位点距离X 与21I I 成线性关系,与入射光点强度无关。通过适当的处理电路,就可以获得光点位置的输出信号。

三、二维PSD 位置传感器工作原理

如图6(a )所示,在正方形的PIN 硅片的光敏面上设置2对电极,分别标注为Y 1,Y 2和X 3,X 4,其公共N 极常接电源U bb 。二维PSD 器件的等效电路如图6(b)所示:

图5 PSD 位置测量等效电路图

图6 二维PSD 的结构图与等效电路 图5 PSD 等效电路图

为了减少测量误差常将二维PSD 器件的光敏面进行改进,改进后的PSD 光敏面如图7所示图形,四个引出线分别从四个对角线端引出,光敏面的形状好似正方形产生了枕形畸变。这种结构的优点是光斑在边缘的测量误差被大大地减少。

PSD 光敏面上光点位置可由如下公式得出: 这里X1 和 X2 代表每一电极

输出信号 (光电流),x 是光点位置坐标。

四、PSD 位移测试装置设计

PSD 供电电路如下图:

C3

104E310uF/25V

R2

512Vref

R1391

E43.3uf/50V

VCC12

图7 改进后的PSD 的结构图与等效电路 图8

放大器LF412芯片:

一维PSD 位置检测简化电路原理图如下:

说明:光电流I1经反向放大器A1放大后分别送给放大器A3与A4,而光电流I2经反向放大器A2放大后也分别送给放大器A3与A4,放大器A3为加法电路,完成光电流I1与I2相加的运算(放大器A5用来调整运算后信号的相位);放大器A4用作减法电路,完成光电流I2与I1相减的运算。

PSD 位置测试输出处理电路:

R3105

R6

104

R7

104C4

10n F

PSDI2C5

10n F R4

105PSDI1

Vo 1

Vo 2

Vo 3Vi1R8

100K

R11104

Vo 4R9104

Vi2

R10104

C7104

1IN-2

1IN+

3

1OP

1

V +

8

V -4U3A

LF412W1

22K C11104

2IN-62IN+

5

2OP

7

U3B

LF412

T8

T6

T9

T7

T10

T12

T11

T13

T16

T15

T14

R5100K C8104C6104

R1310k

R121K

R1410K

R1512K

R1710K

R1910K

C9244

R18

1K

R1612K

VEE -12

VCC12

1t171

t18R2010K

C10244

R211K W2

1IN-21IN+

3

1OP

1

V +

8

V -4

U5A

LF4122IN-62IN+

5

2OP

7

U5B

LF412

VEE -12

VCC12

1IN-21IN+

3

1OP

1

V +

8

V -4

U4A

LF4122IN-62IN+

5

2OP

7

U4B

LF412

VEE -12

VCC12

VCC12VEE -12

D5

5.1V D65.1V

图9 PSD 供电电路图

图11 PSD 位置检测电路简图 图10 LF412芯片

运算放大器U4A U4B完成PSD两路电流输出I/V变换:

图13

U5A为加法电路,对两路输出进行加法运算,用来验证PSD两路输出之和不随光电位置变化而改变; U5B为减法电路,实现PSD位移测量:

图14

U3A为放大电路,W1用来调节放大增益;U3B为调零电路,通过调节W2阻值大小进行电路调零:

图15

五、PSD位置传感器测量位移方法

1、将激光器引线红色接模块上+5V金色插孔,黑色接GND5金色插孔。PSD 后金色插孔“I1”“I2”为PSD电流输出,对应接到金色插孔“T6”“T8”, PSD 后金色插孔“C”为PSD供电端,对应接到金色插孔“T4”。

2、将PSD传感器实验单元电路连接起来:“T7”接“T10”“T9”接“T12”“T13”接“T14”“T15”接“T16”,“T17”接“T11”,“T17”和“T18”对应接到万用表电压档正负极,用来测量输出电压。

3、打开主机箱电源开关,打开模块上电源开关,实验模块开始工作。调整测微头,使激光光点能够在PSD受光面上的位置从一端移向另一端,最后将光点定位在PSD受光面上的正中间位置(目测),调节零点调整旋钮,使电压表显示值为0。转动测微头使光点移动到PSD受光面一端,调节输出幅度调整旋钮,使电压表显示值为3V或-3V左右。

4、从PSD一端开始旋转测微头,使光点移动,取△X=0.5mm,即转动测微头一转。读取电压表显示值,填入表1,画出位移-电压特性曲线。

表1 PSD传感器位移值与输出电压值

六、心得体会

通过本次课程设计,我们了解了位置灵敏探测器PSD (Position Sensitive Device) 属于半导体器件。PSD的主要特点是位置分辨率高、响应速度快、光谱响应范围宽、可靠性高,处理电路简单、光敏面内无盲区,可同时检测位置的光强,测量结果与光斑尺寸和形状无关。由于其具有特有的性能,因而能获得目标位置连续变化的信号,在位置、位移、距离、角度及其相关量的检测中获得越来越广泛的应用。在PSD光电实验中,根据读出电压值的变化,可以知道物体的运动变化,从而达到了解光电传感器的构造原理和电子线路的设计与实践、运算放大器的应用。

本次课程设计虽然不是特别顺利,但是让我们深入了解了PSD位移设备装置,使我们在以后的学习、工作、生活中知道该如何运用PSD测量位移。

七、参考文献

[1] 曾光宇,张志伟,张存林.光电检测技术,第二版.北京:北京清华大学出

版社,北京交通大学出版社,2005.

[2]刘笃仁,韩保君。传感器原理及应用技术.西安:西安电子科技大学出版社,

2003.

[3]童诗白.模拟电子技术基础.北京:人民教育出版社,1980.

[4]秦积荣.光电检测原理及应用.北京:国防工业出版社,1985.

[5]王新贤.通用集成电路检查手册.济南:山东科学技术出版社,2006.

[6]江月松.光电技术与实验.北京:北京理工大学出版社,2000.

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