Sanger测序常见失败类型——高背景

Sanger测序常见失败类型——高背景

South Plainfield, NJ ? Boston, MA ? Washington, DC Metro ? Research Triangle Park, NC ? San Diego, CA ? Los Angeles, CA ? San Francisco, CA ? Seattle, WA

Paris, France ? London, United Kingdom ? Takeley, United Kingdom ? Beijing, China ? Suzhou, China Tianjin, China ? Tokyo, Japan C ONFIDENTIAL

苏州金唯智生物科技有限公司

高背景

失败类型简述:有微弱背景峰,但整体上可以明确分辨主峰,峰图参考使用。

峰图实例:

Sequence Scanner 软件中Raw 图实例:

可能的原因:

1. 模板与引物比例不佳,反应效率低下;

2. 模板或引物中含有高盐离子;

3. 引物与模板结合特异性低,扩增产生杂质干扰。

解决方案:

1. 建议您:①核查模板与引物的比例;

②进一步纯化模板,去除杂质干扰。

2. 金唯智测序会调整方案给予必要的重测。

相关主题
相关文档
最新文档