080501材料物理与化学材料分析测试技术

080501材料物理与化学材料分析测试技术
080501材料物理与化学材料分析测试技术

请各位考生根据试卷的科目构成自行查阅各科目大纲

070100数学 两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.常微分方程 2.概率论

070200物理学 两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.固体物理 2.物理光学

080300光学工程 两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.激光原理 2.光纤通信技术

080501材料物理与化学 材料分析测试技术

080900电子科学与技术 两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.电磁学,2.信号与系统

085202光学工程两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.激光原理2.光纤通信技术

085209集成电路工程两套卷任选一套答题,不得跨套答题: 1.电磁学,2.信号与系统

《常微分方程》考试大纲

一、 考试目的与要求

测试考生掌握微分方程的基本理论,基本解法的掌握程度,重点测试考生求解常微分方程的能力及基本定理的简单应用能力。

二、 试卷结构(满分50分)

内容比例: Array一阶微分方程的解法 约20分

高阶微分方程的解法及解的结构 约25分

微分方程基本定理的运用 约5分

题型比例:

1.计算题 约30分

2.分析论述题 约20分

三、考试内容与要求

(一)微分方程基本概念

考试内容

微分方程基本概念,解的定义,微分方程解的几何意义。

考试要求

1. 了解基本概念:微分方程通解,初值问题。

2. 掌握微分方程解的几何意义。

(二)一阶微分方程及一阶常微分方程解得基本定理

考试内容

分离变量方程与变量变换,一阶线性方程与常数变易法,积分因子法与恰当方程。 一阶微分方程解的存在唯一定理,解的延拓定理,解对初值连续依赖定理。

考试要求

1.理解分离变量方程,一阶线性微分方程,恰当方程;解得存在唯一性,延拓,解对初值依赖定理。

2.掌握分离变量法,常数变易法,积分因子法;解的存在唯一定理及逐步逼近求解法。

(三)高阶微分方程及线性微分方程组

考试内容

线性微分方程求解方法及常系数线性方程求解方法,高阶微分方程降阶法;常系数线性方程组求解方法。

考试要求

1. 熟练掌握常系数线性微分方程求解方法;掌握常系数线性微分方程组基解矩阵的求法。

2. 了解微分方程及微分方程组解的一般理论。

一、 考试目的与要求

测试考生掌握概率论的基本理论,基本方法,重点测试考生对随机变量的掌握程度。

二、 试卷结构(满分50分)

内容比例:

随机变量函数分布的确定 约25分

随机变量性质及数字特征的计算 约15分

题型比例:

1.计算题 约30分

2.分析论述题 约10分

3.证明题 约10分

三、考试内容与要求

(一)随机变量的理解

考试内容 掌握随机变量理解。

考试要求

1. 掌握随机变量的定义、性质,掌握研究随机变量的工具。

2. 能举例说明描述某些实际问题所采用的随机变量。

(二)随机变量函数的分布

考试内容

掌握随即变脸函数分布的确定方法

考试要求

1. 会求一维随机变量函数的分布。

2. 会求多维随机变量函数的分布,重点掌握二维随机变量函数分布的确定方法。 (三)随机变量性质及数字特征

考试内容

随机变量性质、数字特征

考试要求

1. 熟练掌握随机变量分布函数、密度函数、分布律的性质。

2. 掌握与随机变量数字特征相关的内容。

一、 考试目的与要求

测试考生掌握物理光学基本原理和基本方法,以及分析和解决问题的能力。考生应能够运用基本原理和方法,初步具备解决物理光学中的基本问题的能力。

二、 试卷结构(满分100分)

物理光学 100分

题型比例:

1. 计算题 约80分

2. 分析论证题 约20分

三、考试内容与要求

1.光掌握光程相干光双缝干涉

2.掌握等倾干涉

3.掌握等厚干涉迈克尔逊干涉仪

4.掌握单缝的夫琅和费衍射

5.了解圆孔的夫琅和费衍射光学仪器的分辨本领

6.掌握光栅衍射X射线衍射

7.掌握自然光和偏振光起偏和检偏马吕斯定律布儒斯特定律

8.掌握反射和折射时光的偏振光的双折射

9.掌握爱因斯坦光子理论光电效应康普顿效应

《固体物理学》考试大纲

一、 考试目的与要求

测试考生对固体物理学的基本概念、基本原理和基本方法的掌握程度和利用基础知识解决固体的热学、力学和电学等领域相关问题的能力。

二、试卷结构(满分100分)

内容比例:

晶体结构、倒易点阵 约20分

晶体结合 约10分

晶格振动与热学性质 约20分

晶体缺陷 约10分

固体电子能带论 约20分

自由电子论与电子的输运性质 约20分

题型比例:

1.概念题 约30分

2.简答题 约30分

3.综合运用题约40分

三、考试内容与要求

(一)晶体结构、倒易点阵

考试内容

晶体结构、倒易点阵和晶体的对称性

考试要求

1.晶胞,晶向与晶面指数,典型的晶体结构;

2.倒易点阵与布里渊区;

3.晶体的对称性。

晶体的结合类型及基本特点。

考试要求

1.晶体的五种结合类型;

2.离子晶体的内能,马德隆常数、离子半径;

3.分子晶体内能,Lenard-Jeans势。

(三)晶体的振动与热容理论

考试内容

一维单原子链与双原子链的振动和固体热容的理论。

考试要求

1.熟练掌握一维原子链的振动方程的建立与求解;

2.深刻理解玻恩卡曼条件;

3.熟练掌握简正振动与声子的概念;

4.掌握模式密度的基本概念;

5.熟练掌握固体热容的德拜模型与爱因斯坦模型;

6.掌握非简谐效应。

(四)晶体的缺陷

考试内容

晶体的缺陷类型与点缺陷的统计理论

考试要求

1.掌握晶体缺陷的类型及特点;

2.掌握热缺陷的统计理论;

3.掌握热缺陷的扩散规律。

(五)固体电子的能带理论

考试内容

布洛赫定理,近自由电子模型和紧束缚模型

考试要求

1.掌握布洛赫定理的证明;

2.掌握近自由电子模型;

3.掌握平面波模型;

4.掌握紧束缚模型;

5.掌握布洛赫电子在电场中的速度、加速度和有效质量;

6.掌握态密度等基本概念。

(六)固体电子的能带理论

考试内容

电子气的费米理论与电子的输运性质

考试要求

1.掌握电子气的费米能与电子的热容量;

2.电子气的玻尔兹曼方程;

3.金属电阻率的统计模型。

《材料分析测试技术》考试大纲

测试考生掌握材料分析测试技术的基本原理和基本方法,以及采用x 射线衍射和电子显微镜来分析材料的微观组织结构与显微成分的能力。要求考生全面系统地掌握材料现代检测技术(x 射线衍射技术及在材料中的应用、电子显微分析技术及在材料中的应用)的基本概念和基本原理,并能够对基本原理进行灵活运用,具有较强的材料检测分析问题、解决问题的能力。

三、 试卷结构(满分100分)

内容比例:

x 射线衍射技术 约50分

电子显微分析技术 约50分

题型比例:

1.概念题 约30分

2.简答题 约40分

3.计算题 约10分

4.综合分析题 约20分

三、考试内容与要求 (一)X 射线分析测试技术

考试内容 X 射线性质,X 射线方向,X 射线衍射强度,X 射线物相分析,多晶体分析方法,宏观应力的测定。

考试要求

1. 了解X 射线的产生、X 射线与物质相互作用时产生的各种物理效应;

2. 掌握布拉格方程和倒易点阵,能够运用Ewald 图解进行衍射分析、能计算各种不同空间点阵的晶体、有序-无序固溶体以及粉末多晶的结构因子和X 射线衍射强度;

3. 掌握德拜照相法和X 射线衍射仪法的基本原理、了解其实验装置、掌握其试样制备方法和实验方法;

4. 熟练掌握X 射线衍射在点阵常数的精确测定、多晶体物相分析、宏观应力的测定、晶粒大小的测定、单晶体取向的测定等方面的应用。

(二)电子显微分析技术

考试内容 电子衍射,电子显微图像,透射电子显微镜,晶体薄膜衍衬成像分析,扫描电子显微镜。

考试要求

1. 掌握电子衍射基本原理及衍射基本公式、有效相机常数。

2. 熟悉单晶、多晶和非晶体的电子衍射图特征;

3. 了解两种选区衍射方法(光阑选区衍射和微束选区衍射),

5. 掌握单晶以及多晶电子衍射花样的标定方法和标定步骤;

6. 了解复杂衍射花样(高阶劳厄斑点,超点阵斑点,二次衍射斑点,孪晶斑点,菊池线);

7. 理解电子显微图像的质厚衬度原理;

8. 理解衍射衬度原理、掌握衍衬运动学理论并能做简单的衍射波强度计算、熟悉衍衬图像的基本特征;

9. 理解高分辨透射电子显微术的相位衬度原理;

10. 熟练掌握透射电子显微镜的基本结构、工作原理以及样品制备方法;

11.理解电子束与固体样品作用时产生的信号,了解扫描电子显微镜的构造、性能参数和工作原理;熟悉扫描电子显微镜样品的制备方法;

12. 掌握二次电子成像原理和二次电子形貌衬度的应用、掌握原子序数衬度原理及其应用、掌握背散射电子衬度原理及其应用;

13. 了解STM 和AFM 的分析测试原理、掌握STM 和AFM 在材料分析工作中的应用。

一、 考试目的与要求

《电磁学》考试大纲

一、考试目的与要求

考察考生对电磁学的基本现象和基本定律的掌握程度以及利用基础知识解决电子科学与技术相关问题的能力。要求考生对电磁学的基本概念和基本定律有较深入的了解,能够系统地掌握电磁学中基本定律的推导和应用,并具有综合运用所学知识分析问题和解决问题的能力。

题型比例:

1.选择题 约30分

2.计算题 约70分

三、考试内容与要求

(一)静电场的基本现象和基本规律

考试内容

静电的基本现象,库仑定律,电场,电场强度,电通量,高斯定理,环路定理,静电场做功,电势及其梯度。

考试要求

1.了解静电的基本现象。

2.理解静电感应、电荷守恒定律和库伦定律等基本概念和定律。

3.掌握电场及电场强度的概念。

4.掌握应用电场强度叠加定理计算带电体产生的电场强度的方法并能灵活应用。

5.理解电通量的概念,掌握高斯定理的表述和证明。

6.掌握应用高斯定理求电场的条件和方法,并能灵活应用。

7.掌握电场线的性质。

8.理解静电场环路定理和电势的概念。

9.掌握电场和电势之间的关系。

10.掌握电势的计算方法。

(二)静电场中的导体

考试内容

导体的静电平衡条件,导体(导体壳)的电荷分布,孤立导体的电容,电容器及电容,电容器储能。

考试要求

1.理解和掌握静电场中导体的平衡条件。

2.简单计算导体和导体壳的电荷分布。

3.掌握电容器中电场、电势以及电容的计算方法,并能灵活应用。

4.理解电容器储能的概念。

(三)静电场中的电介质

考试内容

电介质极化现象,极化的微观机制,极化强度矢量,退极化场,极化率,极化电荷,电位移矢量,高斯定理。

考试要求

1.了解电介质的极化,掌握极化的微观机制。

2.理解极化强度矢量和退极化场的概念。

3.理解极化电荷的概念,掌握极化电荷与极化强度矢量之间的关系。

4.理解并熟练掌握有电介质的高斯定理,并能够灵活应用。

5.理解并掌握电位移矢量与电场及极化强度矢量之间的关系。

(四)恒磁场

考试内容

磁感应强度,比奥‐萨伐尔定律,载流回路的磁场,安培环路定理,磁场高斯定理,磁场对载流导线的作用,带电粒子在磁场中的运动。 考试要求

1.了解磁的基本现象,理解磁感应强度的概念。

4.掌握安培环路定理及采用安培环路定理计算载流导线产生磁场的条件和方法。

5.了解磁场高斯定理,并掌握磁场线的性质。

6.掌握磁场对载流导线的作用。

7.掌握带电粒子在磁场中的运动,理解安培力与洛伦兹力间的关系。

8.了解霍尔效应的概念,掌握利用霍尔效应判别导电类型的方法。

(五)电磁感应

考试内容

法拉第定律,楞次定律,动生电动势,感生电动势,互感和自感。

考试要求

1.了解基本的电磁感应现象。

2.理解法拉第定律,掌握采用法拉第定律计算电动势大小和方向的方法。

3.理解楞次定律,并能够判别电动势的方向。

4.理解动生电动势的概念,掌握动生电动势的计算方法。

5.理解感生电动势的概念,掌握感应电动势的计算方法。

6.掌握交流发电机的基本原理,了解涡旋电场的概念。

7.理解互感和自感的概念,掌握互感和自感的计算方法并能灵活运用。

《信号与系统》考试大纲

2. 理解并掌握信号与系统的基本运算:平移、反转、尺度;

3. 理解并掌握信号的基本性质:周期信号、能量有限信号、功率有限信号等;

4. 掌握系统的基本性质:连续时间系统、离散时间系统、稳定性、因果性、线性、时不变性等

(二)连续时间和离散时间系统时域分析

1. 线性时不变系统卷积分析方法:概念和计算;

2. 线性时不变系统的微分方程和差分方程表示和求解;

3. 掌握连续时间和离散时间冲激函数及冲激响应概念及分析方法;

(三)连续时间和离散时间系统的频域分析(傅里叶分析)

1. 理解并掌握周期信号的傅里叶级数概念和性质;

2. 理解并掌握周期信号、非周期信号傅里叶变换的概念和性质;

3. 理解并掌握采样定理的基本内容;

4. 理解并掌握系统的频域分析概念、方法;

(四)连续时间系统的复频域分析(拉普拉斯变换)

1. 理解并掌握拉普拉斯变换、反变换的概念和物理意义

2. 掌握拉普拉斯变换的性质及其与傅里叶变换的关系

3. 利用拉普拉斯变换分析LTI系统;

(五)离散时间系统的频域分析(z变换)

1. 理解并掌握Z变换、反变换的概念和物理意义

2. 掌握Z的性质及其与傅里叶变换的关系。

3. 利用Z分析LTI系统;

4. 掌握系统框图、微分方程及系统函数、单位冲激响应、频率响应之间的关系。

《光纤通信技术》考试大纲

一、 考试目的与要求

掌握光纤的传输理论,光缆结构及特点,无源光器件的原理及性能,光源和光检测器的工作原理及特性,光纤放大器的工作原理及结构,光纤通信系统的组成、性能指标及系统的设计,掌握掺饵光纤放大器、波分复用技术等光纤通信新技术的原理与应用。

二、 试卷结构(满分100分)

内容比例:

2.光端机约20%

3.光纤通信系统约20%

4.光纤通信新技术约20%

5. 光纤通信前沿约20%

题型比例:

1.概念题(包括名词解释与简答等)约30%

2.基本理论与规律的论述及推导约30%

3.计算或证明题约20%

4.应用拓展题约20%

三、考试内容与要求

(一)光纤

了解光纤结构和类型;掌握数值孔径、传播时延、时延差等的概念及影响因素;理解波动方程及其解,导波模模式;掌握光纤单模传输条件;掌握光纤的衰减、色散与带宽的关系等;理解色散补偿方案;了解光纤传输中的非线性效应;了解光纤制作,光纤产品和特性。

(二)光源和光发射机

了解光源器件的结构;掌握半导体激光器(LD)和半导体发光二极管(LED)的工作原理;理解LD、LED的特性和类型;了解光源与光纤的耦合;理解光发射机的结构和参数;了解外调制器的工作原理。

(三)光检测器和光接收机

理解光检测器的类型和工作原理;了解光检测器的特性参数;理解光接收机的构成;掌握光接收机的主要性能参数;了解光收发模块。

(四)光纤通信器件

理解光放大器的增益系数、增益饱和、噪声系数;理解半导体光放大器的结构、增益谱;掌握掺饵光纤放大器的工作原理及主要性能指标;理解光纤拉曼放大器的增益谱;了解光放大器的应用类型;理解耦合器的工作原理、参数;理解滤波器的类型、工作原理;掌握隔离器的主要构成及工作原理;理解环形器、衰减器的工作原理;了解连接器的结构、型号、参数及作用;了解光开关类型和工作原理。

(五)光纤通信系统的设计

了解光纤通信系统中光的特性;理解光纤通信系统的基本组成—光发射机、光纤及光接收机;理解光纤的衰减、色散以及非线性效应;掌握比特率、带宽、中继距离的概念及其影响因素。掌握光纤通信系统设计方法;理解数字光纤传输系统的技术考虑;理解数字传输系统中各种噪声的功率代价;了解模拟传输系统中载噪比与设计参数的关系;掌握光放大器对模拟传输系统设计的影响;了解光互连设备作用,光端机的类型和作用。

(六)光缆线路的施工与测试

了解光缆结构、类型和技术规范;了解室外光缆的敷设形式;了解室内光缆的敷设;理解光缆接续与成端;掌握光时域反射仪、光纤熔接机、光源与光功率计等常用仪表的使用;掌握光纤传输线路故障检测步骤与方法。

(七)波分复用技术、光放大器、光纤传感系统等新技术

掌握波分复用、光放大器、光孤子通信、光纤传感等新技术的基本原理;理解波分复用、密集波分复用、粗波分复用、掺铒光纤放大器、光纤传感等系统;掌握波分复用、光放大器、光纤传感系统中的关键器件的工作原理;了解波分复用和光放大器以及光孤子

通信、光纤传感等系统规范,掌握光纤通信与光纤传感的关系等。

《激光原理与技术》考试大纲

测试考生对激光产生及传输的基本物理规律的掌握,并把激光的产生、操纵、传输的基本原理和方法应用到实际中的能力。考生应掌握激光器的基本原理、高斯光束的传输以及激光器的调制技术,如模式选择、稳频、锁模、调Q 等激光技术

四、 试卷结构(满分100分)

内容比例:

1.激光的基本原理 约10%

2.光学谐振腔 约30% 3.高斯光束 约20% 4.电磁场与物质的相互作用 约20%

5.激光器特性的控制与改善 约20% 题型比例:

1.简答题 约30%

2.计算题 约70%

(一)激光的基本原理

1. 掌握原子的自发发射、受激吸收与受激发射的物理图景

2. 了解激光的特性

3. 了解激光产生的条件

4. 了解光学谐振腔的作用

(二)光学谐振腔

1. 掌握传输矩阵方法

2. 了解谐振腔的稳定性条件

3. 了解自在现模式

4. 了解基模高斯光束的特征,如光斑半径、等像面、远场发散角等

5. 了解高阶模式的光斑特征

6. 掌握由稳定腔求解其等价共焦腔的方法

(三)高斯光束

1. 了解高斯光束的特征

2. 掌握利用q 参数处理高斯光束传输的方法

3. 了解高斯光束聚焦时的光束特征

4. 了解高斯光束准直时的光束特征

5. 了解高斯光束的自在现变换条件

(四)电磁场与物质的相互作用

1. 了解线型函数

2. 了解均匀加宽

3. 掌握自然加宽的机理

4. 了解碰撞加宽

5. 了解非均匀加宽

6. 掌握多普勒加宽机理

7. 掌握三、四能级系统的速率方程及能级跃迁

(五)激光器特性的控制与改善

1. 了解横模的选择目的、机理及方法

2. 了解纵模的选择目的、机理及方法

3. 了解频率稳定的基本概念

4. 掌握调Q 激光器的基本原理和主要调Q

方法 一、 考试目的与要求

材料分析报告测试技术复习题二

材料分析测试技术 一、名词解释(共有20分,每小题2分。) 1. 辐射的发射:指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 2. 俄歇电子:X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离,此时原子(实际是离子)处于激发 态,将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程,此过程发射的电子。 3. 背散射电子:入射电子与固体作用后又离开固体的电子。 4. 溅射:入射离子轰击固体时,当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时,就引起表面粒 子(原子、离子、原子团等)的发射,这种现象称为溅射。 5. 物相鉴定:指确定材料(样品)由哪些相组成。 6. 电子透镜:能使电子束聚焦的装置。 7. 质厚衬度:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域透射电子强度的改 变,从而在图像上形成亮暗不同的区域,这一现象称为质厚衬度。 8. 蓝移:当有机化合物的结构发生变化时,其吸收带的最大吸收峰波长或位置(?最大)向短波方 向移动,这种现象称为蓝移(或紫移,或“向蓝”)。 9. 伸缩振动:键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。

10. 差热分析:指在程序控制温度条件下,测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系 的技术。 二、填空题(共20分,每小题2分。) 1. 电磁波谱可分为三个部分,即长波部分、中间部分和短波部分,其中中间部分包括(红外线)、 (可见光)和(紫外线),统称为光学光谱。 2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。 光谱按强度对波长的分布(曲线)特点(或按胶片记录的光谱表观形态)可分为(连续)光谱、(带状)光谱和(线状)光谱3类。 3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。 分子散射包括(瑞利散射)与(拉曼散射)两种。 4. X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄 歇电子、吸收电子、透射电子 5. 多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为(照相法)和(X射线衍射仪法)。 6. 依据入射电子的能量大小,电子衍射可分为(高能)电子衍射和(低能)电子衍射。依据 电子束是否穿透样品,电子衍射可分为(投射式)电子衍射与(反射式)电子衍射。

现代材料测试技术期末测试题汇总

《材料现代分析测试技术》思考题 1.电子束与固体物质作用可以产生哪些主要的检测信号?这些信号产生的原理是什么?它们有哪些特点和用途? (1)电子束与固体物质产生的检测信号有:特征X射线、阴极荧光、二次电子、背散射电子、俄歇电子、吸收电子等。 (2)信号产生的原理:电子束与物质电子和原子核形成的电场间相互作用。 (3)特征和用途: ①背散射电子:特点:电子能量较大,分辨率低。用途:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织 构分析以及相鉴定等。 ②二次电子:特点:能量较低,分辨率高。用途:样品表面成像。 ③吸收电子:特点:被物质样品吸收,带负电。用途:样品吸收电子成像,定性微区成分分析。 ④透射电子:特点:穿透薄试样的入射电子。用途:微区成分分析和结构分析。 ⑤特征X射线:特点:实物性弱,具有特征能量和波长,并取决于被激发物质原子能及结构,是物质固有的特征。用途:微区元素定 性分析。 ⑥俄歇电子:特点:实物性强,具有特征能量。用途:表层化学成分分析。 ⑦阴极荧光:特点:能量小,可见光。用途:观察晶体内部缺陷。 ①电子散射:当高速运动的电子穿过固体物质时,会受到原子中的电子作用,或受到原子核及周围电子形成的库伦电场的作用,从而 改变了电子的运动方向的现象叫电子散射 ②相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一晶体薄膜样品时,由于原子排列的规律性,入射电子波与各原子的弹性散射波不但 波长相同,而且有一定的相位关系,相互干涉。 ③不相干弹性散射:一束单一波长的电子垂直穿透一单一元素的非晶样品时,发生的相互无关的、随机的散射。 ④电子衍射的成像基础是弹性散射。 3.电子束与固体物质作用所产生的非弹性散射的作用机制有哪些? 非弹性散射作用机制有:单电子激发、等离子激发、声子发射、轫致辐射 ①单电子激发:样品内的核外电子在收到入射电子轰击时,有可能被激发到较高的空能级甚至被电离,这叫单电子激发。 ②等离子激发:高能电子入射晶体时,会瞬时地破坏入射区域的电中性,引起价电子云的集体振荡,这叫等离子激发。 ③声子发射:入射电子激发或吸收声子后,使入射电子发生大角度散射,这叫声子发射。 ④轫致辐射:带负电的电子在受到减速作用的同时,在其周围的电磁场将发生急剧的变化,将产生一个电磁波脉冲,这种现象叫做轫 致辐射。 1)二次电子产生:单电子激发过程中,被入射电子轰击出来并离开样品原子的核外电子。应用:样品表面成像,显微组织观察,断口形貌观察等 2)背散射电子:受到原子核弹性与非弹性散射或与核外电子发生非弹性散射后被反射回来的入射电子。应用:确定晶体的取向,晶体间夹角,晶粒度及晶界类型,重位点阵晶界分布,织构分析以及相鉴定等。 3)成像的相同点:都能用于材料形貌分析成像的不同点:二次电子成像特点:(1)分辨率高(2)景深大,立体感强(3)主要反应形貌衬度。背散射电子成像特点:(1)分辨率低(2)背散射电子检测效率低,衬度小(3)主要反应原子序数衬度。 5.特征X射线是如何产生的,其波长和能量有什么特点,有哪些主要的应用? 特征X-Ray产生:当入射电子激发试样原子的内层电子,使原子处于能量较高的不稳定的激发态状态,外层的电子会迅速填补到内层电子空位上,并辐射释放一种具有特征能量和波长的射线,使原子体系的能量降低、趋向较稳定状,这种射线即特征X射线。 波长的特点:不受管压、电流的影响,只决定于阳极靶材元素的原子序。 应用:物质样品微区元素定性分析

材料分析测试技术-习题

第一章 1.什么是连续X射线谱?为什么存在短波限λ0? 答:对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。在管电压很低,小于20kv时的曲线是连续的,称之为连续谱。大量能量为eV的自由电子与靶的原子整体碰撞时,由于到达靶的时间和条件不同,绝大多数电子要经过多次碰撞,于是产生一系列能量为hv的光子序列,形成连续的X射线谱,按照量子理论观点,当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射出去,在极限情况下,极少数的电子在一次碰撞中将全部的能量一次性转化为一个光量子,这个光量子具有最高的能量和最短的波长,即λ0。 2.什么是特征X射线?它产生的机理是什么?为什么存在激发电压Vk? 答:当X射线管电压超过某个临界值时,在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,这些谱线之改变强度,而峰位置所对应的波长不便,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关,因为这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征,故称为特征X射线,由特征X射线构成的X射线谱叫做特征X射线谱。 它的产生是与阳极靶物质的原子结构紧密相关当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中的某个电子击出,或击到原子系统之外,击出原子内部的电子形成逸出电子,或使这个电子填补到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子系统处于激发态,高能级的电子越迁到该空位处,同时将多余的能量e=hv=hc/λ释放出来,变成光电子而成为德特征X射线。 由于阴极射来的电子欲击出靶材的原子内层电子,比如k层电子,必须使其动能大于k 层电子与原子核的结合能Ek或k层的逸出功Wk。即有eV k=1/2mv2〉-Ek=Wk,故存在阴极电子击出靶材原子k电子所需要的临界激发电压Vk。 3、X射线与物质有哪些互相作用? 答;X射线的散射:相干散射,非相干散射 X射线的吸收:二次特征辐射(当入射X射线的能量足够大时,会产生二次荧光辐射); 光电效应:这种以光子激发原子所产生的激发和辐射过程;俄歇效应:当内层电子被击出成为光电子,高能级电子越迁进入低能级空位,同时产生能量激发高层点成为光电子。 4、线吸收系数μl和质量吸收系数μm的含义 答:线吸收系数μl:在X射线的传播方向上,单位长度的X射线强度衰减程度[cm-1](强度为I的入射X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减率与在物质内通过的距离x成正步-dI/I=μdx,强度的衰减与物质内通过的距离x成正比)。与物质种类、密度、波长有关。质量吸收系数μm:他的物理意义是单位重量物质对X射线的衰减量,μ/P=μm[cm2/g]与物质密度和物质状态无关,而与物质原子序数Z和μm=kλ3Z3,X射线波长有关。 5、什么是吸收限?为什么存在吸收限? 答:1)当入射光子能量hv刚好击出吸收体的k层电子,其对应的λk为击出电子所需要的入射光的最长波长,在光电效应产生的条件时,λk称为k系激发限,若讨论X射线的被物质吸收时,λk又称为吸收限。 当入射X射线,刚好λ=λk时,入射X射线被强烈的吸收。当能量增加,即入射λ〉λk时,吸收程度小。

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路 在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。 X射线物相分析的基本原理是什么呢? 每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。 其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。 衍射花样有两个用途: 一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的; 二是用来测定物相。 所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。 X射线物相分析方法有: 定性分析——只确定样品的物相是什么? 包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。 二、单相定性分析 利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为: ①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样; ②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值; ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 1、标准物质的粉末衍射卡片 标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。

材料分析测试技术》试卷(答案)

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co ;b. Ni ;c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差;b. 像散;c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。 a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么 答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小 适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一 个最佳厚度(t =

材料分析测试技术复习题 附答案

材料分析测试技术复习题 【第一至第六章】 1.X射线的波粒二象性 波动性表现为: -以波动的形式传播,具有一定的频率和波长 -波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象 粒子性突出表现为: -在与物质相互作用和交换能量的时候 -X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射 2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限 定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱 λ∞,波?当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ 0开始直到波长无穷大长连续分布 ?随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ 0处)向短波端移动 ?λ 0 正比于1/V, 与靶元素无关 ?强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)

?单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述) 短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。 3.连续x射线谱产生机理 【a】.经典电动力学概念解释: 一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。 【b】.量子理论解释: * 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱 * 存在ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出λ0=1.24/ V (nm) (V为电子通过两极时的电压降,与管压有关)。 * 一般ev≥h υ,在极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子 4.特征x射线谱的特点 对于一定元素的靶,当管压小于某一限度时,只激发连续谱,管压增高,射线谱曲线只向短波方向移动,总强度增高,本质上无变化。 当管压超过某一临界值后,在连续谱某几个特定波长的地方,强度突然显著

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

材料分析测试技术部分课后答案 太原理工大学材料物理0901 除夕月 1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。 ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 J ν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J 1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能. E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 J λ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量) V=(2eV/m)1/2=(2*8.01*10-15/9.1*10-31)1/2=1.32*108m/s 1-3分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射; (2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;

(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。 答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。最内层能量最低,向外能量依次增加。 根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以K?的能量大于Ka 的能量,Ka能量大于La的能量。 因此在不考虑能量损失的情况下: CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同) CuK?能激发CuKa荧光辐射;(K?>Ka) CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la) 1-4 以铅为吸收体,利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图,用图解法证明式(1-16)的正确性。(铅对于上述Ⅹ射线的质量吸收系数分别为122.8,84.13,66.14 cm2/g)。再由曲线求出铅对应于管电压为30 kv条件下所发出的最短波长时质量吸收系数。 解:查表得 以铅为吸收体即Z=82 Kαλ3 λ3Z3 μm Mo 0.714 0.364 200698 122.8 Rh 0.615 0.233 128469 84.13 Ag 0.567 0.182 100349 66.14 画以μm为纵坐标,以λ3Z3为横坐标曲线得K≈8.49×10-4,可见下图 铅发射最短波长λ0=1.24×103/V=0.0413nm λ3Z3=38.844×103 μm = 33 cm3/g 1-5. 计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3g/cm3)。 解:μm=0.8×27.7+0.2×40.1=22.16+8.02=30.18(cm2/g) μ=μm×ρ=30.18×1.29×10-3=3.89×10-2 cm-1 1-6. 为使CuKα线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni滤波片?(Ni的密度为8.90g/cm3)。1-7. CuKα1和CuKα2的强度比在入射时为2:1,利用算得的Ni滤波片之后其比值会有什么变化? 解:设滤波片的厚度为t 根据公式I/ I0=e-Umρt;查表得铁对CuKα的μm=49.3(cm2/g),有:1/2=exp(-μmρt) 即t=-(ln0.5)/ μmρ=0.00158cm 根据公式:μm=Kλ3Z3,CuKα1和CuKα2的波长分别为:0.154051和0.154433nm ,所以μm=K

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料(注:所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题,) 第一章x射线的性质 射线的本质:X射线属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较为可见光短,约与晶体的晶格常数为同一数量级,在10-8cm左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播;粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。 2,X射线的产生条件:a产生自由电子;b使电子做定向高速运动;c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 3,对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称为X射线谱。在管电压很低,小于某一值(Mo阳极X射线管小于20KV)时,曲线变化时连续变化的,称为连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo,称为短波限,在高速电子打到阳极靶上时,某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量子便具有最高的能量和最短的波长,这波长即为λo。λo=V。 4,特征X射线谱: 概念:在连续X射线谱上,当电压继续升高,大于某个临界值时,突然在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,改变管电流、管电压,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线,

由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱,而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。 产生:当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,或击到原于系统之外,或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子的系统能量因此而升高,处于激发态。这种激发态是不稳定的,势必自发地向低能态转化,使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的,电子由高能级向低能级跃迁的过程中,有能量降低,降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量,对于原子序数为Z的确定的物质来说,各原子能级的能量是固有的,所以.光子能量是固有的,λ也是固有的。即特征X射线波长为一固定值。 能量:若为K层向L层跃迁,则能量为: 各个系的概念:原于处于激发态后,外层电子使争相向内层跃迁,同时辐射出特征x射线。我们定义把K层电子被击出的过程叫K系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫K系辐射,同理,把L层电子被击出的过程叫L系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫L系辐射,依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能级数目的不同把同一辐射线系分成几类,对跨 越I,2,3..个能级所引起的辐射分别标以α、β、γ等符号。电子由L—K,M—K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起的K系辐射定义为Kα,Kβ谱线;同理,由M—L,N—L电子跃迁将辐射出L系的Lα,Lβ谱线,以此类推还有M线系等。 莫赛莱定律:特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,

材料测试分析方法答案

第一章 一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是() A.X射线透射学; B.X射线衍射学; C.X射线光谱学; D.其它 2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称() A.Kα; B. Kβ; C. Kγ; D. Lα。 3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选() A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。 4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称() A.短波限λ0; B. 激发限λk; C. 吸收限; D. 特征X射线 5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题) A.光电子; B. 二次荧光; C. 俄歇电子; D. (A+C) 二、正误题 1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。() 2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。() 3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。() 4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。() 5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。() 三、填空题 1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、 、、、。 3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。 4. X射线的本质既是也是,具有性。 5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称 ,常用于。 习题 1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?

2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。 3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、 “吸收谱”? 4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量 描述它? 5. 产生X 射线需具备什么条件? 6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中? 7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短 波限和光子的最大动能。 8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等 于它的K 系特征X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限V eV hc 3 01024.1?= =λ与某物质的吸收限k k k V eV hc 3 1024.1?= =λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电 子和俄歇电子有何不同? 11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续 谱的短波限和光子的最大能量是多少? 12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光 Ⅹ射线时,能否伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系? 13. 已知钼的λK α=0.71?,铁的λK α=1.93?及钴的λK α=1.79?,试求光子的频率和能量。 试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0.619?。已知钴的K 激发电压V K =7.71kv ,试求其λK 。 14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射 的透射系数各为多少? 15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。 16. 厚度为1mm 的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的23.9%,试求这种Ⅹ射 线的波长。 试计算含Wc =0.8%,Wcr =4%,Ww =18%的高速钢对MoK α辐射的质量吸收系数。 17. 欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射K 系荧光辐射,问 需加的最低的管压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少? 18. 什么厚度的镍滤波片可将Cu K α辐射的强度降低至入射时的70%?如果入射X 射线束 中K α和K β强度之比是5:1,滤波后的强度比是多少?已知μm α=49.03cm 2 /g ,μm β =290cm 2 /g 。 19. 如果Co 的K α、K β辐射的强度比为5:1,当通过涂有15mg /cm 2 的Fe 2O 3滤波片后,强 度比是多少?已知Fe 2O 3的ρ=5.24g /cm 3,铁对CoK α的μm =371cm 2 /g ,氧对CoK β的 μm =15cm 2 /g 。 20. 计算0.071 nm (MoK α)和0.154 nm (CuK α)的Ⅹ射线的振动频率和能量。(答案:4.23

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料 1、透射电子显微镜 其分辨率达10-1 nm ,扫描电子显微镜 其分辨率为Inmo 透射电子显微镜放大倍数大。 第一章x 射线的性质 2、X 射线的本质:X 射线属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较为可见光短,约与 晶体的晶格常数为同 一数量级,在 10-8cm 左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播;粒子性 表现为由大量的不连续的粒子流构成。 即电磁波。 3、 X 射线的产生条件:a 产生自由电子;b 使电子做定向高速运动;c 在电子运动的路径上设置使其突然减 速的障碍物。X 射 线管的主要构造:阴极、阳极、窗口 。 4、 对X 射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由 X 射线管发出的X 射线的波长和强度,便会得到 X 射线强度与波长的关系曲线,称为 X 射线谱。在管电压很低,小于某一值( Mo 阳极X 射线管小于20KV ) 时,曲线变化时连续变化的,称为 连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值入 o ,称为短波 限,在高速电子打到阳极靶上时,某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量 子便具有最高的能量和最短的波长,这波长即为入 0。入o=1.24/V 。 5、 X 射线谱分连续X 射线谱和特征X 射线谱。 * 6、特征X 射线谱: 概念:在连续X 射线谱上,当电压继续升高,大于某个临界值时,突然在连续谱的某个波长处出现强度峰, 峰窄而尖锐,改变管电流、管电压,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的 原子序数有关,与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征 x 射线,由特 征X 射线构成的x 射线谱叫特征x 射线谱,而产生特征 X 射线的最低电压叫激发电压。 产生:当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE 足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,或击到原于系 统之外,或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子的系统能量因此而升高,处 于激发态。这种激发态是不稳定的,势必自发地向低能态转化,使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这 一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的,电子由高能级向低能级跃迁的过程中, 有能量降低,降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量,对于原子序数为 各原子能级的能量是固有的,所以?光子能量是固有的,入也是固有的。即特征 能量:若为K 层向L 层跃迁,则能量为: &口 = Av = hcfX 各个系的概念:原于处于激发态后,外层电子使争相向内层跃迁,同时辐射出特征 x 射线。我们定义把 K 层电子被击出的过程叫 K 系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫 K 系辐射,同理,把 L 层电子被击出的 过程叫L 系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫 L 系辐射,依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能 级数目的不同把同一辐射线系分成几类,对跨 越I , 2, 3..个能级所引起的辐射分别标以a 、B 、丫等符号。电子由 L —K , M — K 跃迁(分别跨越1、2个 能级)所引起的K 系辐射定义为K a, K B 谱线;同理,由 M- L , N — L 电子跃迁将辐射出 L 系的L a, L p 谱 线,以此类推还有 M 线系等。 7、X 射线与物质的相互作用: 散射、吸收、透射。X 射线的散射有相干散射和非相干散射。 第二章X 衍射的方向 1,相干条件:两相干光满足频率相同、振动方向相同、相位差恒定(即n 的整数倍)或波程差是波长的整 数倍。 & X 衍射和布拉格方程 波在传播过程中,在波程差为波长整数倍的方向发生波的叠加,波的振幅得到最大程度的加强,称 为衍射,对应的方向为衍射方向,而为半整数的方向,波的振幅得到最大程度的抵消。 Z 的确定的物质来说, X 射线波长为一固定值。

材料分析测试技术左演声课后答案

如对你有帮助,请购买下载打赏,谢谢! 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数: (1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); 答:已知波数ν=3030cm -1 根据波数ν与波长λ的关系)μm (10000)cm (1λν= -可得: 波长μm 3.3μm 3030 100001≈==νλ (2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); 解:波长λ与频率ν的关系为λνc = 已知波长λ=5m ,光速c ≈3×108m/s ,1s -1=1Hz 则频率MHz 6010605/103168=?=?=-s m s m ν (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 答:光子的能量计算公式为λνc h h E == 已知波长λ=588.995nm=5.88995?10-7m ,普朗克常数h =6.626×10-34J ?s ,光速c ≈3×108m/s ,1eV=1.602×10-19J 则光子的能量(eV )计算如下: 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 答:对于光谱项45F J ,n =4,L =3,M =5;S =2(M =2S +1=5),则J =5,4,3,2,1, 当J =5,M J =0,±1,±2,···±5;……J =1,M J =0,±1。光谱项为45F J 的能级示意图如下图: 1-4 辨析原子轨道磁矩、电子自旋磁矩与原子核磁矩的概念。 答:原子轨道磁矩是指原子中电子绕核旋转的轨道运动产生的磁矩;电子自旋磁 矩是指电子自旋运动产生的磁矩;原子核磁矩是指原子中的原子核自旋运动产生的磁矩。 1-5 下列原子核中,哪些核没有自旋角动量? 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

第一章 一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是() A.X射线透射学; B.X射线衍射学; C.X射线光谱学; D.其它 2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称() A.Kα; B. Kβ; C. Kγ; D. Lα。 3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选() A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称() A.短波限λ0; B. 激发限λk; C. 吸收限; D. 特征X射线 5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题) A.光电子; B. 二次荧光; C. 俄歇电子; D. (A+C) 二、正误题 1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之

减小。() 2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。() 3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。() 4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。() 5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。() 三、填空题 1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产

生、、、、 、、、。 3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。 4. X射线的本质既是也是,具有性。 5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称 ,常用于。 习题 1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象

材料分析测试技术左演声课后答案

材料分析测试技术左演 声课后答案

第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数: (1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); 答:已知波数ν=3030cm -1 根据波数ν与波长λ的关系)μm (10000)cm (1λν= -可得: 波长μm 3.3μm 3030 100001 ≈==νλ (2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); 解:波长λ与频率ν的关系为λνc = 已知波长λ=5m ,光速c ≈3×108m/s ,1s -1=1Hz 则频率MHz 6010605/103168=?=?=-s m s m ν (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 答:光子的能量计算公式为λνc h h E == 已知波长λ=588.995nm=5.88995?10-7m ,普朗克常数h =6.626×10-34J ?s ,光 速c ≈3×108m/s ,1eV=1.602×10-19J 则光子的能量(eV )计算如下: eV eV J m s m s J E 107.210602.110375.3 10375.31088995.5/10310 626.61919197834≈??=?=?????=----- 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 答:对于光谱项45F J ,n =4,L =3,M =5;S =2(M =2S +1=5),则J =5,4,3,2, 1,当J =5,M J =0,±1,±2,···±5;……J =1,M J =0,±1。光谱项为45F J 的能级示意图如下图:

材料分析测试方法试题及答案

材料分析测试方法试题及答案 第一章电磁辐射与材料结构 1。名词,术语,概念 波数,分子振动,伸缩振动,变形振动(或弯曲振动,角振动),干涉指数,晶体带,原子轨道磁矩,电子自旋磁矩,核磁矩2,填写空白 1,电磁波谱可分为三部分:①长波部分,包括()和(),有时习惯上称这部分为()(2)中间部分,包括()、()、和(),统称为()(3)短波部分,包括()和()(和宇宙射线),可称为() 回答:无线电波(射频波)、微波、光谱、红外线、可见光、紫外线、光谱、x射线?射线光谱2.原子中电子的激发态跃迁到高能级或从高能级到低能级的过程称为()跃迁或()跃迁答:电子,能级 3,电子从高能级到低能级的跃迁可分为两种方式:跃迁过程中的过剩能量,即跃迁前后的能量差,以电磁辐射的形式释放出来,称为()跃迁;如果过剩的能量转化为热能等形式,这就叫做()跃迁回答:辐射,无辐射 4,分子的运动非常复杂,一般可以近似地认为分子的总能量(e)由()和()组成回答:电子能量,振动能量,旋转能量 5,分子振动可分为()振动和()振动回答:拉伸、变形(或弯曲、改变角度)6、分子伸缩振动可分为()和() 回答:对称伸缩振动、不对称伸缩振动(或反对称伸缩振动) 7和平面多原子(三原子及以上)分子的弯曲振动一般可分为()和()答:

面内弯曲振动,面外弯曲振动 8,干涉指数是晶面()和晶面()的标识,而晶面指数只标识晶面的()回答:空间方向,间距,空间方向 9,晶面间距分别为D110/2和d110/3,干涉指数为()回答:220,330 10,互易矢量r*HKL的基本性质:r*HKL垂直于正晶格中相应的(HKL)晶面,其长度?HKL?() 回答:对等(或1/dHKL) 11,萤石(CaF2)的(220)面的晶面间距D220为0.193 nm,其倒数向量r*220()是正晶格中的(220)面,长度?r*220?=() 答案:垂直,5.181 nm-1波长为200纳米的 12紫外光的波数为()厘米-1;波长为4000厘米-1的红外光的波长为()?m答案:50000,2.5(3)判断不同波长的 1电磁辐射具有不同的能量,大小顺序为:射频波>微波>红外线>可见光>紫外线> x射线?射线? 2,加速电压越大,电子波的波长越长? 3,当加速电压较大时,电子波的波长需要相对论修正。√ 4,干涉指数所代表的晶面不一定是晶体中真正的原子面,即干涉指数所代表的晶面上不一定有原子分布√ 5,干涉指数为(101)、(202)、(303)、(404)的晶面,其晶面指数均为(101)√ 6。原子分布在由立方中心晶格的干涉指数(200)表示的所有晶面上√ 7。在立方本原晶格的干涉指数(200)所代表的所有晶面上都发现了原子分布?8.正格和倒格之间的倒易关系√

材料分析测试技术_部分课后答案

衍射仪 9-1、电子波有何特征与可见光有何异同答: ·电子波特征:电子波属于物质波。电子波的波长取决于电子运动的速度和质量,= h mv 若电子速度较低,则它的质量和静止质量相似;若电子速度具有极高,则必须经过相对论校正。·电子波和光波异同: 不同:不能通过玻璃透镜会聚成像。但是轴对称的非均匀电场和磁场则可以让电子束折射,从而产生电子束的会聚与发散,达到成像的目的。电子波的波长较短,其波长取决于电子运动的速度和质量,电子波的波长要比可见光小5个数量级。另外,可见光为电磁波。 相同:电子波与可见光都具有波粒二象性。 9-2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。 聚焦原理:电子在磁场中运动,当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时,将产生一个与运动方向垂直的力(洛仑兹力)使电子运动方向发生偏转。在一个电磁线圈中,当电子沿线圈轴线运动时,电子运动方向与磁感应强度方向一致,电子不受力,以直线运动通过线圈;当电子运动偏离轴线时,电子受磁场力的作用,运动方向发生偏转,最后会聚在轴线上的一点。电子运动的轨迹是一个圆锥螺旋曲线。 右图短线圈磁场中的电子运动显示了电磁透镜聚焦成像的基本原理: 结构的影响: 1)增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内; 2)电磁透镜中为了增强磁感应强度,通常将线圈置于一个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间隙的壳子里,此时线圈的磁力线都集中在壳内,磁感应强度得以加强。 狭缝的间隙越小,磁场强度越强,对电子的折射能力越大。 3)改变激磁电流可以方便地改变电磁透镜的焦距 9--3、电磁透镜的像差是怎样产生的,如何消除和减少像差 像差有几何像差(球差、像散等)和色差

材料测试技术课后题答案

大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比,在哪两方面有其优越性? 答:①提高X射线强度;②缩短了试验时间 2、何为特征X射线谱?特征X射线的波长与(管电压)、(管电流)无关,只与(阳极材料)有关。 答:由若干条特定波长的谱线构成。当管电压超过一定的数值(激发电压V激)时产生。不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。因此叫特征X射线。 什么是Kα射线?在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线? 答:L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,称之为Kα射线。 Kα射线的强度大约是Kβ射线强度的5倍,因此,在实验中均采用Kα射线。 Kα谱线又可分为Kα1和Kα2,Kα1的强度是Kα2强度的2倍,且Kα1和Kα2射线的波长非常接近,仅相差0.004?左右,通常无法分辨,因此,一般用Kα来表示。但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。 Al是面心立方点阵,点阵常数a=4.049?,试求(111)和(200)晶面的面间距。计算公式为:dhkl=a(h2+k2+l2)-1/2 答:d111=4.049/(12+12+12)-1/2=2.338?;d200=4.049/(22)-1/2=2.0245? 说说不相干散射对于衍射分析是否有利?为什么? 答:有利。不相干散射线由于波长各不相同,因此不会互相干涉形成衍射,所以它们散布于各个方向,强度一般很低,它们在衍射工作中只形成连续的背景。不相干散射的强度随sin θ/λ的增大而增强,而且原子序数越小的物质,其不相干散射愈大,造成对衍射分析工作的不利影响。 6、在X射线衍射分析中,为何要选用滤波片滤掉Kβ射线?说说滤波片材料的选取原则。实验中,分别用Cu靶和Mo靶,若请你选滤波片,分别选什么材料? 答:(1)许多X射线工作都要求应用单色X射线,由于Kα谱线的强度高,因此当要用单色X射线时,一般总是选用Kα谱线。但从X射线管发出的X射线中,当有Kα线时,必定伴有Kβ谱线及连续光谱,这对衍射工作是不利的,必须设法除去或减弱之,通常使用滤波片来达到这一目的。 滤波片的选取原则: ①滤波片材料的原子序数一般比X射线管靶材料的原子序数小1或2; ②滤波片的厚度要适当选择,太厚则X射线强度损失太大,太薄则滤波片作用不明显,一般控制厚度使滤波后Kα线和Kβ线的强度比为600:1。 X射线滤波片的选择:当Z靶≤40时,Z滤= Z靶-1;当Z靶>40时,Z滤= Z靶-2. 故Cu靶选28镍片作滤波片;Mo靶选40锌片作滤波片。 产生衍射的两个基本条件是什么? 答:产生衍射的两个基本条件:①必须有能够产生干涉的波动即要有X射线;②必须有周期性的散射中心即晶体中的原子。 2、画图说明何为衍射峰的积分强度、峰值强度、背景及半高宽。 结构因子的计算公式为F=fje2Лi(hxj+kyj+lzj),该式表明:结构因子与(晶胞中原子种类)、(单晶中原子个数)、(原子在空间位置)、(原子散射原子)等四个因素有关。 4、X射线衍射产生的条件是什么? 答:X射线衍射产生的充分必要条件: ①X射线衍射产生的必要条件是必须满足Bragg方程; ②X射线衍射产生的充分条件是结构因子不等于0。

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