无损探伤技能人才考试试题1

无损探伤技能人才考试试题1
无损探伤技能人才考试试题1

无损探伤技能人才考试试题(A)

一.是非题(括号内,正确的画√,错误的画X)每题1分

1.放射性同位素的能量减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。(X )2.用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。(X )3.通常认为对比度、清晰度和颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。()

4.使用被划伤的增感屏照相,底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。()5.人体对射线最敏感的是皮肤。(X )

6.厚工件中的紧闭裂纹,即使透照方向适当,也不能被检出。()

7.超声波在介质中的传播速度与频率成正比。(X )

8.在同一固体材料中,传播纵、横波时声阻抗不一样。()

9.超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型的反射角等于折射角(X )10.压电晶片的压电电压常数大,则说明该晶片接收性能好()

11.钢板探伤时,通常只根据缺陷波的情况来判定缺陷(X )

12.焊缝斜角探伤中,裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的(X )13.磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷(X )

14.漏磁场强度的大小和缺陷的尺寸及分布状态有关()

15.磁化方法的选择,实际上就是选择试件磁化的最佳磁化方向()16.决定渗透液渗透能力的主要参数是粘度和密度(X )

17.施加探伤剂时,应注意使渗透剂在工件表面上始终保持湿润状态()18.在被检工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸收渗透剂并提供背景反差()

19.焊缝余高并不能增加整个焊接接头的强度()

20.预热焊件可以减缓焊接冷却速度,减少硬化组织()

二.选择题(将正确答案的代号填在括号内)每题1分

1.产生X射线的方法是使高速电子在某一固体上突然减速,这一固体称为:

A.灯丝B。靶C。阳极D。阴极

2.X光机技术性能指标中所给定的焦点是指:

A.几何焦点尺寸B。光学焦点尺寸

C.靶的几何尺寸D。电子流尺寸

3.射线与物质相互作用时通常会产生:

A.光电效应B。康普顿效应

C.电子对效应。D上述三者都是

4.射线的衰减定律可用下列哪一公式表达:

式中:I0—入射线强度 e —自然对数的底T—物质的厚度

I—透过物质后的射线强度μ—物质的射线衰减系数

A.I0=Ie –μt B. I= I0e –μt C. I= I0e μt D. I= I0e-2μt

5. г射线照相所使用的г射线源大都是:

A.天然放射性同位素源B。反应堆

C.人工放射性同位素源D。加速器

6.采用г射线源进行射线照相时,若要减少射线强度可以:

A.减少焦距B。增大焦距

C.增加暴光时间D。采用快速X光胶片

7.照相上能发现工件中沿射线穿透方向上缺陷的最小尺寸称为:

A.照相反差B。照相清晰度

C.照相梯度D。照相灵敏度

8.一张质量良好的射线照相必须具备什么条件?

A.适当的黑度和反差B。适当的清晰度和一定的灵敏度

C.不应有影响观察缺陷的伪像D。上述三点都必须具备

9.钢板厚度为20毫米,表面加强高度为5毫米的焊接件,在射线照相上能发现直径为0.5毫米的钢丝透度计,这时的照相灵敏度为:

A.1% B。1.5% C。2% D。3%

10.铅箔增感屏对胶片增感的原理为:

A.可见荧光B。电子C。β射线D。中子射线

11.在焊缝射线照相上黑度低于周围面积看上去非常明亮的缺陷为:

A.夹铜(钨)B。夹杂C。咬边D。非金属夹杂物

12.在频率一定和材料相同情况下,横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波,其原因:A.横波质点振动方向对缺陷反射有利B。横波探伤杂波少

C.横波波长短D。横波指向性好

13.Φ12mm晶片5MHz直探头在钢中的指向角是:

A.5.6o B. 3.5o C.6.8o D. 24.6o

14.A型扫描显示中。从荧光屏上直接可获得的信息是:

A.缺陷的性质和大小B。缺陷的形状和取向

C.缺陷回波的大小和超声传播的时间C。以上都不是

15.A型扫描显示中,荧光屏上垂直显示大小表示:

A.超声回波的幅度大小B。缺陷的位置

C.被探材料的厚度D。超声传播时间

16.斜探头探伤时试块上最常用的反射体是:

A.平底孔B。长横孔C。大平底D。以上都可以

17.在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能是:A.与表面成较大角度的平面缺陷

B.反射条件很差的密集缺陷

C.A和B都对

D.A和B都不对

18.金属材料中的粗大晶粒可能引起:

A.底波降低或消失B。噪声或杂波增大

C.超声波严重衰减D。以上都有

19.通常要求焊缝探伤在焊后48小时进行是因为:

A.让工件充分冷却B。焊缝材料组织需稳定

C.冷裂纹有延时产生的特点D。以上都对

20.用直探头探测焊缝两侧母材的目的是:

A.探测热影响区裂纹B。探测可能影响斜探头探测结果的分层

C.提高焊缝两侧母材验收标准,以保证焊缝质量D。以上都对

21.磁粉探伤是一种利用由缺陷产生的漏磁场对磁粉吸引现象为基本原理的无损检测方法,这种方法可用于:

A.检测非铁磁性材料表面和近表面缺陷

B.检测铁磁性材料表面和近表面缺陷

C.检测铁磁性材料内部缺陷

D.各种不同材料的分选

22.材料的磁导率可用来描述:

A.材料被磁化难易程度B。材料中磁场的穿透深度

C.工件需要退磁时间的长短D。保留磁场的能力

23.表面裂纹形成的漏磁场与近表面裂纹形成的漏磁场相比哪个强?

A.表面裂纹形成的强B。近表面裂纹形成的强

C.两者无区别D。上述都不对

24.磁轭磁化法在工件中所感生的磁场是什么磁场?它可最有效地检测工件中什么方向的缺陷?

A.纵向磁场、横向缺陷B。周向磁场、纵向缺陷

C.纵向磁场、纵向缺陷D。周向磁场、横向缺陷

25.磁粉探伤选择磁粉种类的原则是:

A.与被检表面形成高对比度B。与被检表面形成低对比度

C.能粘附在被检工件表面上C。磁导率越低越好

26.液体渗透技术适应于检测非多孔性材料的

A.近表面缺陷B。表面和近表面缺陷

C.表面缺陷D。内部缺陷

27.液体渗透探伤法的基本原理包括:

A.渗透B。清洗C。观察D。显像E。上述都包括

28.检查渗透探伤综合性能的常用方法是:

A.测定粘度B。测定侵湿性

C.人工裂纹对比试块D。测定染色度

29.喷罐在使用时喷嘴应与工件表面相隔多少远才能获得最佳的喷雾效果?

A.100毫米B。越近越好C。越远越好D。300毫米

30.溶剂清洗性渗透探伤与水洗性渗透探伤相比其优点是:

A.不需要特殊的光源B。渗透液渗入缺陷速度较快

C.检测灵敏度高易于检测小缺陷D。便于在现场远距离进行操作

三.计算题(每题8分)

1.钢材厚度为20mm时,透照焦距为600mm,底片的黑度为2.0,它的暴光量E1为10mA分。如焦距改为500mm时,底片的黑度仍然为2.0时,问此时E2的暴光量为多少?

2.用焦点尺寸为Φ3的X射线透照40mm的钢材焊缝,采用600mm的焦距,问几何不清晰度为多少?若底片上能观察到的像质计最小直径为0.63mm,问灵敏度为多少?

3.某工件厚度T=240mm,测得第一次底波为屏高的90%,第二次底波为15%,如忽略反射损失,试计算该材料的衰减系数?

4.不锈钢与碳钢的声阻抗差约为1%,试计算声波由不锈钢进入碳钢时,复合界面上的声压反射率?

四.问答题(每题9分)

1.硬磁材料和软磁材料有什么区别?

2.何谓压电材料的居里点?哪些情况要考虑它的影响?

技能人才试题(A)答案

一.是非题

1X 2X 3√ 4√ 5X 6√ 7X 8√ 9X 10√

11X 12X 13X 14√ 15√ 16X 17√ 18√

19√ 20√

二.选择题

1B 2B 3D 4B 5C 6B 7D 8D 9C 10B

11A 12C 13C 14C 15A 16B 17C 18D 19C

20B 21B 22A 23A 24A 25A 26C 27E 28C

29D 30C

三.计算题

1.已知E1=10mA分F1=600mm F2=500mm

求:E2=?

解:E1/F12=E2/F22E2=E1?F22/ F12

E2=10X5002/6002=6.9mA分

答:E2的暴光量是6.9mA分

2.

解:Ug=d?b/F-b=3x40/600-40=0.21mm

K=d/Tx100%=0.63/40x100%=1.6%

答:几何不清晰度为0.21mm

灵敏度为1.6%

3.

解:衰减系数:α=(20lgB1/B2-6)/2T=(20lg90/15-6)/2X240

α=0.02(dB/mm)

答:该材料的衰减系数为0.02(dB/mm).

4. 解:

设不锈钢声阻抗为Z1,碳钢声阻抗为Z2,且Z2=1

Z1=0.99 r为声压反射率

r=Z2-Z1/Z1+Z2=0.01/1+0.99=0.005=0.5%

答:复合界面上的声压反射率为0.5%.

四.问答题

1.答:硬磁材料指磁粉探伤中不易磁化(或难于退磁)的铁磁性材料,其特点是磁滞回线肥胖,具有低磁导率、高磁阻、高剩磁和高矫顽力。软磁材料:是指容易进行磁化的铁磁性材料,其特点是磁滞回线狭窄(相对于硬磁材料而言),具有高磁导率、低磁阻、低剩磁和低矫顽力。

2.答:①当压电材料的温度达到一定值后,压电效应会自行消失,称该温度值为材料的居里温度或居里点。同一压电晶体有不同的上居里温度和下居里温度。不同的压电晶体,居里温度也不一样。

②对高温工件进行探伤时,应选用上居里点较高的压电晶片制作探头。

对低温工件或寒冷地区进行探伤时,应选用下居里点较低的压电晶片作探头。如有侵权请联系告知删除,感谢你们的配合!

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