各种材料学分析测试技术总结

各种材料学分析测试技术总结
各种材料学分析测试技术总结

各种材料学分析测试技术总结

原理

OM 光学显

微镜

optical

microsc

ope 显微镜是利用凸透镜的

放大成像原理,将人眼不

能分辨的微小物体放大

到人眼能分辨的尺寸,其

主要是增大近处微小物

体对眼睛的张角(视角大

的物体在视网膜上成像

大),用角放大率M表示

它们的放大本领。

大于0.2nm

看不清亚结构

EDS 各种元素具有自己的X

射线特征波长,特征波长

的大小则取决于能级跃

迁过程中释放出的特征

能量△E,能谱仪就是利

用不同元素X射线光子

特征能量不同这一特点

来进行成分分析的。探头:一般为Si(Li)锂硅半导体探头

探测面积:几平方毫米

分辨率(MnKa):~133eV

SEM 利用二次电子信号成像

来观察样品的表面形态,可直接利用样品表面材料

的物质性能进行微观成像

分辨率:3-4nm

放大倍数:20

即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射

介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段

当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特利用聚焦得非常细的高能

电子束在试样上扫描,激发

出各种物理信息。通过对这

些信息的接受、放大和显示

成像,获得测试试样表面形

貌的观察。

其工作原理是用一束极细

的电子束扫描样品,在样品

表面激发出次级电子,次级

电子的多少与电子束入射

角有关,也就是说与样品的

表面结构有关,次级电子由

万倍

特征X射线、背

散射电子的产

生过程均与样

品原子性质有

关,可用于成分

分析。

由于电子束只

能穿透很浅表

面,只能用于表

面分析。

征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。

SEM是利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等探测体收集,并在那里被闪

烁器转变为光信号,再经光

电倍增管和放大器转变为

电信号来控制荧光屏上电

子束的强度,显示出与电子

束同步的扫描图像。图像为

立体形象,反映了标本的表

面结构。

有很大的景深,

视野大,成像立

体,可直接观察

表面的细微结

构;

试样制备简单。

目前的扫描电

镜都配有X射

线能谱仪装置,

等。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析

TEM 透射电

(transm

把经加速和聚集的电子

束投射到非常薄的样品

上,电子与样品中的原子

与光学显微镜的成像原理

基本一样,所不同的是前者

用电子束作光源,用电磁场

0.2nm

近百万倍

ission electro n microsc ope 碰撞而改变方向,从而产

生立体角散射。散射角的

大小与样品的密度、厚度

相关,因此可以形成明暗

不同的影像,影像将在放

大、聚焦后在成像器件上

显示出来。

由于电子波长非常短,透

射电子显微镜的分辨率

比光学显微镜高的很多,

可以达到0.1~0.2nm,

放大倍数为几万~百万

作透镜。

透射电镜是以电子束透过

样品经过聚焦与放大后所

产生的物像,投射到荧光

屏上或照相底片上进行观

SEM是电子束激发出表面

次级电子,而TEM是穿透试

样,而电子束穿透能力很

弱,所以TEM样品要求很

亚显微结构、超

微结构

使用透射电子

显微镜可以用

于观察样品的

精细结构,甚至

可以用于观察

仅仅一列原子

的结构,比光学

显微镜所能够

观察到的最小

倍。薄, 的结构小数万

倍。

sem

tem 区别SEM的样品中被激发出来

的二次电子和背散射电

子被收集而成像. TEM可

以表征样品的质厚衬度,

也可以表征样品的内部

晶格结构。TEM的分辨率

比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛,

TEM可以标定晶格常数,从

而确定物相结构;SEM主要

可以标定某一处的元素含

量,但无法准确测定结构。

SEM是扫描电

镜,所加电压比

较低,只是扫描

用的,相当于高

倍的显微镜

TEM是透射电

镜,所加电压

高,可以打透样

品,

而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下,一般做成直径3mm 的片,然后去做离子减薄,或双喷。

HRTE M 高分辨

透射电

High

resolut

ion

transmi

高分辨电镜物镜极靴间

距比较小,所以双倾台的

转角相对于分析型的电

镜要小一些。

HRTEM是透射电镜的一

种,将晶面间距通过明暗

条纹形象的表示出来。通

类TEM

ssion electro n microsc ope 过测定明暗条纹的间距,然后与晶体的标准晶面间距d对比,确定属于哪个晶面。这样很方便的标定出晶面取向,或者材料的生长方向。

用HRTEM研究纳米颗粒可以通过结合高分辨像和能谱分析结果来得到颗粒的结构和成分信息。

EPMA

(波谱)(背散射电子成像BSE)电子探

针显微

分析仪

electro

n probe

micro-a

nalyzer

electro

nic

probe

wavelen

gth

通过电磁线圈把电子束

压缩的很细,可以想象成

一个针尖,所以叫电子探

针,一般电子探针特指配

备了3~5道波谱系统,具

有光学显微镜定位试样

分析位置(满足罗兰圆需

求,布拉格衍射原理)的

微区分析仪器。电子探针

EPMA有其独特的优势特

点,是SEM EDS或SEM WDS

所不能取代的。

高速运动电子束经电磁透

镜聚焦成极细的探针

(0.2μm到1μm)打在试样

上,激发微区产生特征

X-ray,再经X-ray光谱仪

(WDS)或能谱仪(EDAX、

EDS)测量特征X-ray的波

长或能量,达到分析微区成

分的目的。

运用电子探针发射具有

10^3~10^4量级电子伏的

能分析微区、微

粒(1μm3)成

份(其他方法多

为分析平均成

份)z被测元素

绝对感量可达

10-14gz测量

的相对灵敏度

可达万分之一

z分析元素范

围:

电子探针(光谱

/energy dis-per sive spectro metry 电子微束,轰击固体试样表

面的微区,激发其中的原子

产生表微成分的物理信息

(电子激发特征X射线);

用波谱仪(WDS)分析特征

性X射线的波长

(或)用能谱仪(EDS)分

析特征性X射线的能量。

由于X射线的波长与能量

的关系为:γ=1.2396/E;式

中波长γ的单位为纳米,能

量E的单位是千电子伏。据

仪)

Z:11(Na)~92(

U)

特殊

Z:4(Be)~92(U

)

能谱仪

Z:12(Mg)~92(

U)目前超薄窗

口应用后可以

达到Be

配合扫描附件

此可以达到对微区中某种元素成分、含量范围进行定量分析的目的。时,可将形貌和成份分布显现出来z非破坏性测试,制样简单(断口、金相磨片)z相对可见光,谱线简单,分析方便z能鉴别其他化学方法难分辨的稀土

背散背散射电子像是在扫描电子照射到待测样品的过

射电子像电子显微镜中,通过电子

枪产生的电子,经过加速

磁场、偏转磁场后,照射

到待检测的样品表面,待

检测样品会反射一部分

的电子,在扫描电子显微

镜的工作镜腔里的背散

射电子探头就会检测到

这些被反射的电子,进而

在检测器上所成的像。

程中,样品能发射一部分电

子,背散射电子探头就会检

测到这些电子,从而产生相

应的电信号,通过放大电路

之后,在对其进行相应的转

换,后在检测器上显示相应

待检测样品表面的相关信

息图像。

BSE 背散射

电子成背散射电子成像的衬度

是由于原子序数的不同

背散射电子是被固体样品

中的原子核反弹回来的一

Back scatter ed Electro n Imaging 引起的,所以背散射电子

一般用于区别不同的相,

用来看金相试样的不同

依托扫描电镜的一种电

子成像技术,它的成像原

理和特点非常适合用来

研究那些表皮尚存的各

类笔石标本,是二次电子

成像(SEM)无法替代的。

当前BSE图象显示了许

多以往其他途径无法观

部分入射电子。其中包括弹

性背散射电子和非弹性背

散射电子。[1]能量很高,

有相当部分接近入射电子

能量 E 0 ,在试样中产生

的范围大,像的分辨率低。

背散射电子发射系数η =I

B /I 0 随原子序数增大而

增大。作用体积随入射束

能量增加而增大,但发射系

数变化不大。

察到的笔石微细结构,特别是笔石复杂的始端发育特征。背散射电子(back scattered electron)

当电子束照射样品时,入射电子在样品内遭到衍射时,会改变方向,甚至损失一部分能量(在非弹性散射的情况下)。在这种弹性和非弹性散射的过程中,有些入射电子累积散射角超过90度,并将重新从样品表面逸出。那么背散射电子就是由样品反射出来的初次电子,

XRD X射线衍

射,

X-ray

diffrac

tion 通过对材料进行X射线

衍射,分析其衍射图谱,

获得材料的成分、材料内

部原子或分子的结构或

形态等信息的研究手段。

应用已知波长的X射线

来测量θ角,从而计算出

晶面间距d,这是用于X

在用电子束轰击金属“靶”

产生的X射线中,包含与靶

中各种元素对应的具有特

定波长的X射线,称为特征

(或标识)X射线。

X射线是原子内层电子在

高速运动电子的轰击下跃

迁而产生的光辐射,主要有

X射线衍射

(包括散射)已

经成为研究晶

体物质和某些

非晶态物质微

观结构的有效

方法。

1.物相分析是

X射线衍射在

金属中用得最

射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。连续X射线和特征X射线两

种。晶体可被用作X光的光

栅,这些很大数目的粒子

(原子、离子或分子)所产

生的相干散射将会发生光

的干涉作用,从而使得散射

的X射线的强度增强或减

弱。由于大量粒子散射波的

叠加,互相干涉而产生最大

强度的光束称为X射线的

衍射线。

满足衍射条件,可应用布拉

多的方面,分定

性分析和定量

分析。前者把对

材料测得的点

阵平面间距及

衍射强度与标

准物相的衍射

数据相比较,确

定材料中存在

的物相;后者则

根据衍射花样

的强度,确定材

料中各相的含

测试技术总结

阳极靶上被电子束轰击的区域称为焦点。有点焦点和线焦点。 连续X射线光谱(或称为白色X射线)是由于快速移动的电子在靶面突然停止运动而产生的。 连续X射线的总强度与管电压V、管电流i以及阳极材料的原子序数Z有关 特征X射线谱的产生是由于原子内层电子的跃迁造成的。 对L、M、N…壳层中的电子跳入K层空位时发出的X 射线,分别称之为Kα、Kβ、Kγ…谱线,共同构成K系标识X射线。 X射线的散射可以分为相干散射和不相干散射两种。 相干散射:X射线光子与原子内紧束缚的电子碰撞时,能量不受损失,而只改变方向。 不相干散射:当X光子与自由电子或束缚很弱的电子碰撞时,其中部分能量传递给了原子,光子的能量将受损失,导致波长变长。这一过程为非弹性碰撞过程。 当X射线穿过物体时,由于受到散射、光电效应等影响,其强度将会减弱,这种现象称为X射线的吸收。 衍射线的强度指的是某一组面网反射的X射线的总量,即所谓的积分强度。 X射线衍射仪由四大部分组成: 1.X射线发生器;2测角仪; 3电子自动记录系统;4外围设备。 衍射仪的工作方式:1 连续扫描特点:速度快,但有滞后效应影响分辨率 2 步进扫描特点:没有滞后效应,衍射线峰位准确分辨率好,但测试速度慢。 衍射仪峰位的常用测定方法:1 峰顶法 2 切线法 3 半高宽中点法 4 7/8高度法 5 中点连线法 X射线分析的主要用途: —区别样品为晶质体或非晶质体; —确定样品中存在的物相种类; —确定样品中某物相的百分含量; —测量晶体的晶格常数; —观察晶体对称,推导晶体空间群; —确定晶体中各种原子的位置; —研究晶体的各种复杂结构现象; —判断样品的结晶程度、粒度等; —进行粘土矿物的定性、定量分析。 X射线有以下特性: —肉眼不能观察到,但可以使照相底片感光,还可以使气体电离; —能透过可见光不能透过的物体; —这种射线沿直线进行,在电场和磁场中不发生偏转,在通过物体时不发生反射、折射,通过普通光栅也不引起衍射; —X射线对生物体是有害的。 电子显微分析:一种利用电子微束(聚焦电子束)与物质的相互作用产生的各种物理信号,来对物质进行形貌、结构和化学成分进行分析测定的一种常用测试技术。 电子显微分析应用:电子显微分析在材料学、矿物学、地质学、医学、生物学等学科上有着广泛的应用,是目前一种非常重要的测试手段。 像差:实际的电磁透镜由于某些原因并不能使电子束会聚在一点上,或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面内,结果图像模糊不清,或者与原物的几何形状不完全相似的现象。 几何像差:由于透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的像差. 色差:由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变造成的像差. 球差是由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子的会聚能力不同而造成的。一般远轴区对电子的会聚能力比近轴区大,此类球差叫做正球差。 电磁透镜的分辨本领受到球差、色差和轴上像散等因素影响,特别是衍射效应和球差影响明显。电磁透镜的理论分辨本领为0.2nm。 弛豫过程:当内层电子被运动的电子轰击脱离了原子后,原子处于高度激发状态,它将跃迁到能量较低的状态的过程。 弛豫过程可以以多种方式进行,如辐射跃迁(即特征X 射线发射)、非辐射跃迁(如俄歇电子发射)。 各种电子信号:二次电子、俄歇电子、特征能量损失电子、背散射电子、透射电子、吸收电子(俄歇电子适于物质表面分析、二次电子具有最高的分辨率、背散射电子发生散射作用强、x射线产生的深度和广度较大)背散射电子:电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角大于90度,重新从试样表面逸出,成为背散射电子。 透射电子:当试样厚度小于入射电子的穿透深度时,入射电子将穿透试样,从另一表面射出称为透射电子。 吸收电子:入射电子经过多次非弹性散射后能量消失殆尽,不再产生其他效应,一般称为被试样吸收,这种电子称为吸收电子。 场深(景深):在不影响透镜分辨率的前提下,物平面可沿透镜轴移动的距离。场深反映了试样可在物平面上下沿透镜移动的距离或试样超过平面所允许的厚度。 焦深(焦长):在不影响透镜成像分辨本领的前提下,像平面可沿透镜轴移动的距离,焦深反映了观察屏或照相底板可在像平面上下沿镜轴移动的距离.

《电子测量技术》期末复习资料总结

《电子测量技术》期末复习资料总结 第一部分 1、什么是测量,什么是电子测量? 答:测量是通过实验方法对客观事物取得定量信息即数量概念的过程。电子测量是泛指以电子技术为基本手段的一种测量技术。 2、电子测量的分类。 答:(1)按测量过程分类可分为:直接测量;间接测量;组合测量; (2)按测量方式分类可分为:偏差式测量法;零位式测量法;微差式测量法; (3)按测量性质分类可分为:时域测量;频域测量;数据域测量;随机测量。 3、测量仪器的功能是什么? 答:变换功能;传输功能;显示功能。 4、测量仪器的主要性能指标有哪些? 答:精度;稳定性;输入阻抗;灵敏度;线性度;动态特性。 5、电子测量的灵敏度是如何定义的? 答:灵敏度表示测量仪表对被测量变化的敏感程度,一般定义为测量仪表指示值(指针的偏转角度、数码的变化、位移的大小等)增量?y 与被测量?x 之比。灵敏度的另 一种表述方式叫作分辨力或分辨率,定义为测量仪表所能区分的被测量的最小变化量,在数字式仪表中经常使用。 6、什么是实际相对误差,示值相对误差,满度相对误差? 答:实际相对误差定义为 。 示值相对误差也叫标称相对误差,定义为 。 满度相对误差定义为仪器量程内最大绝对误差与测量仪器满度值(量程 上限值 )的百分比值 。 7、如何减少示值相对误差? 答:为了减少测量中的示值误差,在进行量程选择时应尽可能使示值接近满意度值,一般以示值不小于满意度的三分之二为宜。 8、仪表的准确度与测量结果的准确度的关系。 答:测量中所用仪表的准确度并不是测量结果的准确度,只有在示值与满度值相同时,二者才相等(不考虑其他因素造成的误差,仅考虑仪器误差),否则测得值的准确度数值:降低于仪表的准确度等级。 9、测量误差的来源—来源于那些误差? 答:仪器误差;使用误差;人身误差;影响误差;方法误差。 10、什么是系统误差?系统误差的主要特点是什么? %100?=A x A ?γ%100?=x x x ?γ%100?=m m m x x ?γ

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路 在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。 X射线物相分析的基本原理是什么呢? 每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。 其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。 衍射花样有两个用途: 一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的; 二是用来测定物相。 所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。 X射线物相分析方法有: 定性分析——只确定样品的物相是什么? 包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。 二、单相定性分析 利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为: ①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样; ②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值; ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 1、标准物质的粉末衍射卡片 标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。

材料测试分析方法(究极版)

绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段? 阶段一:分析化学学科的建立;主要以化学分析为主的阶段。 阶段二:分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三:分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法? 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌(如纳米线、断口、裂纹等)、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面(表面、相界、晶界)、位向关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构,即晶体结构类型和晶体常数,和相组成。 化学成分和价键(电子)结构。包括宏观和微区化学成份(不同相的成份、基体与析出相的成份)、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析:1图像分析:光学显微分析(透射光反射光),电子(扫描,透射),隧道扫描,原子力2物象:x射线衍射,电子衍射,中子衍射3化学4分子结构:红外,拉曼,荧光,核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能,微观性能,成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里? 除了个别的测试手段(扫描探针显微镜)外,各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波(如X射线、高能电子束、可见光、红外线)与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号(射线、高能电子束、可见光、红外线),探测这些出射的信号并进行分析处理,就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素:衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施:(1)选靶靶材产生的特征x射线(常用Kα射线)尽可能小的激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样背底,使图像清晰。(2)滤波,k系特征辐射包括Ka和kβ射线,因两者波长不同,将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料,使λkβ靶<λk滤<λkα,Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品,样品晶粒为50μm左右,长时间研究,制样时尽量轻压,可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波,波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级,所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构,常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低,穿透性弱,可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时,显示其粒子性,具有能量E=h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时,主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏(ZnS),照相底片,探测器

测试技术心得体会

. . .. . . 燕山大学 测试技术三级项目 学院:机械工程学院 年级专业: 学生: 学号: 指导教师:明

测试技术心得体会 一、新颖的教学模式—课堂小组教学 本学期我们学了测试技术这门课程,它是一门综合应用相关课程的知识和容来解决科研、生产、国防建设乃至人类生活所面临的测试问题的课程。测试技术是测量和实验的技术,涉及到测试方法的分类和选择,传感器的选择、标定、安装及信号获取,信号调理、变换、信号分析和特征识别、诊断等。 刚开始接触这门课程的时候,由于它涉及了很多理论知识以及一些我以前从未接触过的领域,我对这门课程并没有太大的兴趣。后来任课老师根据班级的情况,“因地制宜”地给我们分配了学习小组。每个小组有5—6个成员,课上进行小组讨论,课下互帮互助,共同学习。 我觉得课堂小组教学在课堂学习方面给予了我很大的帮助和动力,课上的时候,老师提问,小组进行讨论,不仅能够带动课堂的学习气氛,也使我们在一个活跃轻松的环境下掌握了知识,除此之外,还加深了同

学之间的感情,这不仅促使我们在学习上共同进步,也让我们在生活上成了很好的朋友。 课堂小组教学的模式也对我们的学习起到了一定的监督作用,在课堂出勤记录、作业完成情况方面有一定的促进作用。除此之外,老师会在每节课开始之前,给每个小组发一白纸,让每个小组将一节课的重要知识点及小组的讨论容记录在纸上。这使我们及时有效地掌握了每节课的重要知识,也养成了做笔记的好习惯。 课堂学习小组打破了传统的教学模式,使我们能够在一个轻松活跃的课堂环境下高效的学习。 二、实验辅助教学 实验是课堂知识的实践,巩固加深课堂知识方面有着至关重要的作用。刚开始做实验的时候,由于自己的理论知识基础不好,在实验过程遇到了许多的难题,也使我感到理论知识的重要性。但是我并没有就此放弃,在实验中发现问题,自己看书,独立思考,最终解决问题,从而也就加深我对课本理论知识的理解。 我们做了金属箔式应变片:单臂、半桥、全桥比较, 回转机构振动测量及谱分析, 悬臂梁一阶固有频率及阻尼系数测试三个实验实验中我学会了单臂单桥、半桥、全桥的性能的验证;用振动测试的方法,识别一小阻尼结构的(悬臂梁)一阶固有频率和阻尼系数;掌

材料分析测试技术复习题 附答案

材料分析测试技术复习题 【第一至第六章】 1.X射线的波粒二象性 波动性表现为: -以波动的形式传播,具有一定的频率和波长 -波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象 粒子性突出表现为: -在与物质相互作用和交换能量的时候 -X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射 2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限 定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱 λ∞,波?当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ 0开始直到波长无穷大长连续分布 ?随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ 0处)向短波端移动 ?λ 0 正比于1/V, 与靶元素无关 ?强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)

?单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述) 短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。 3.连续x射线谱产生机理 【a】.经典电动力学概念解释: 一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。 【b】.量子理论解释: * 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱 * 存在ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出λ0=1.24/ V (nm) (V为电子通过两极时的电压降,与管压有关)。 * 一般ev≥h υ,在极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子 4.特征x射线谱的特点 对于一定元素的靶,当管压小于某一限度时,只激发连续谱,管压增高,射线谱曲线只向短波方向移动,总强度增高,本质上无变化。 当管压超过某一临界值后,在连续谱某几个特定波长的地方,强度突然显著

材料分析测试复习题总结

材料分析测试方法复习题 第一部分 简答题: 1. X 射线产生的基本条件 答:①产生自由电子; ②使电子做定向高速运动; ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X 射线产生实质 答:假设管电流为10mA ,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv (i )的光子序列,这样就形成了连续X 射线。 3. 特征X 射线产生的物理机制 答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等 不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X 射线。 4. 短波限、吸收限 答:短波限:X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。 吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X 射线相干散射与非相干散射现象 答: 相干散射:当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。 非相干散射:当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X 射线以及俄歇电子的含义 答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。 荧光X 射线:由X 射线激发所产生的特征X 射线。 俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 7. X 射线吸收规律、线吸收系数 答:X 射线吸收规律:强度为I 的特征X 射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x 成比例,即-dI/I=μdx 。 线吸收系数:即为上式中的μ,指在X 射线传播方向上,单位长度上的X 射线强弱衰减程度。 8. 晶面及晶面间距 答:晶面:在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面,使所有的节点均位于这组平面上,各平面的节点分布情况完全相同,这样的节点平面成为晶面。 晶面间距:两个相邻的平行晶面的垂直距离。 9. 反射级数与干涉指数 答:布拉格方程 表示面间距为d ’的(hkl )晶面上产生了n 级衍射,n 就是反射级数 λ θn Sin d ='2:

工程质量检测技术总结

工程质量检测技术总结 各位读友大家好,此文档由网络收集而来,欢迎您下载,谢谢 是XX最新发布的《工程质量检测技术总结》的详细范文参考文章,觉得有用就收藏了,这里给大家转摘到XX。篇一:建设工程质量检测有限公司工作总结(1) **建设工程质量检测有限公司 2013年工作总结 二零一三年十二月三十日 **建设工程质量检测有限公司 2013年工作总结 **建设工程质量检测有限公司成立于2012年11月,是一家具有独立法人资格的民营企业,公司注册资金100万元,占地面积300平方米,公司拥有各项试验检测仪器80余件(套),拥有齐全的各项试验检测技术标准、规范、规程。公司现有专业技术检测人员12人。

公司具有健全的管理制度和质量保证体系,公司下设财务室、各职能检测室、资料室、办公室,可独立承担工业与民用建筑工程的试验检测工作。 **建设工程质量检测有限公司在省、市相关单位的关心和支持下,公司于2013年6月通过甘肃省质量技术监督局计量认证,取得计量认证证书,于2013年9月取得资质证书,在全体员工的共同努力下,试验检测工作顺利取得一定的成绩,现就2013年的工作总结如下: 一、2013年开展工作概况思想汇报专题 公司于2013年9月份取得资质证书后,开展了部分试验检测工作,截止年底共出具检测报告44份。 二、行业主管部门的变化情况 自公司成立以来,在质量技术监督部门和住建系统领导的大力支持和帮助下顺利通过了计量认证和颁发的检测资质证书,在实验室运行过程中多次亲临指导实验室检测工作,我公司的健康发

展奠定了基础。 三、质量体系的建立和运行情况 公司建立健全质量管理体系,不断加强内部管理。公司 工作人员在有关专家的指导下,历经近半年的时间,对公司《质量手册》和《程序文件》进行了认真学习,切实保证各类检测工作的科学性和检测业务的独立性,工程质量检测工作的公正性、准确性进一步提高。 公司在申请办理资质证书的这一段时间,进行了业务知识学习,做了大量的比对试验,努力提高员工的业务知识,使每位实验员对各项试验操作以讲课的形式对自己的理论知识和业务知识进行熟练掌握,大大提高了检测人员的业务素质。 四、规章制度建立完善和执行情况 我公司建立了比较完善的管理制度,狠抓内部管理,营造健康向上的工作环境。首先为了推动检测工作规范运行,最全面的范文参考写作网站针对来

材料分析测试技术试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co ;b. Ni ;c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差;b. 像散;c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。 a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小 适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一 个最佳厚度(t =

(完整版)材料分析方法期末考试总结

材料分析方法 1.x射线是一种波长很短的电磁波,具有波粒二相性,粒子性往往表现突出,故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力,可使荧光物质发光,可使气体或其它物质电离等。 2.相干散射:亦称经典散射,物质中的电子在X射线电场的作用下,产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 3.不相干散射:亦称量子散射,X射线光子与束缚力不大的外层电子,或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子,X射线光子离开原来方向,能量减小,波长增加。 4.吸收限:物质原子序数越大,对X射线的吸收能力越强;对一定的吸收体,X射线的波长越短,穿透能力越强,表现为吸收系数的下降,但随着波长的的降低,质量吸收系数并非呈连续的变化,而是在某些波长位置上突然升高,出现了吸收限。 5.荧光辐射:由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射(荧光X 射线,二次X射线)。 6.俄歇效应:由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式,及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后,L层一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量不以辐射X光量子放出,而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体,这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应,跃出的L层电子称为俄歇电子。 7.光电子:当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时,此光量子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,称为光电子。原子则处于激发态,这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。8.滤波片的作用:滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的,用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 9.布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 10.晶面(hkl)的n级反射面(nh nk nl),用符号(HKL)表示,称为反射面或干涉面。 11.掠射角是入射角(或反射角)与晶面的夹角,可表征衍射的方向。 12.衍射极限条件:在晶体中,干涉面的划取是无极限的,但并非所有的干涉面均能参与衍射,因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 13.劳埃法:采用连续X射线照射不动的单晶体,因为X射线的波长连续可变,故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 14.周转晶体法:采用单色X射线照射转动的单晶体,并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 15.粉末法:采用单色X射线照射多晶体,试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 16.吸收因数:由于试样本身对X射线的吸收,使衍射强度的实测值与计算值不符,为了修正这一影响,则在强度公式中乘以吸收因数。 17.温度因数:原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏,使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差,从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响,需要在积分强度公式中乘以温度因数。

软件测试技术总结

软件测试技术总结 百度最近发表了一篇名为《软件测试技术总结》的范文,感觉很有用处,希望大家能有所收获。 篇一:软件测试技术总结公司面试手册最全的类面试题,包括:面试题面试题面试题面试题面试题面试题:面试题面试题#面试题数据库:数据库面试题面试题面试题面试题网络:网络技术面试题网络安全面试题开发:面试题开发面试题:面试题面试题软件测试:软件测试面试题其他类:英语面试外企面试面试题程序员面试更多面试题请访问:软件测试技术总结软件测试就是为了发现程序中的错误而分析和执行程序的过程。 ——概念+基本知识+软件开发过程-定义-计划-实现-稳定化-部署一、软件开发模型(四种典型的模型)、瀑布模型概述:包括计划,需求分析,设计,编码,测试,运行维护六个阶段。 六个阶段自上而下、相互衔接,以固定的次序进行。 特点:阶段的顺序性和依赖性;文档驱动;推迟实现的观点;质量保证。 缺点:不适合需求模糊的系统、原型模型概述:先建立一个能够反映用户需求的原型系统,使得用户和开发者可以对目标系统的概貌进行评价和判断,然后对原型系统进行反复的扩充、改进、求精,最终建立符合用户需求的目标系统。 特点:快速开发工具;循环;低成本。

分类:按照对原型的处理方式,可以分为渐进型和抛弃型。 、增量模型概述:在增量模型中每个阶段都生成软件的一个可发布版本,最全面的范文写作网站阶段交错进行,版本逐渐完善。 同原型模型的最大区别在于,在原型模型中每个阶段发布一个原型而在增量模型中则完成一个正式版本。 、螺旋模型概述:适用于大型软件的开发,它将瀑布模型和快速原型模型结合起来,并加入了风险分析。 特点:每个阶段都包括制定计划,风险分析,实施工程,评审四个阶段;开发过程迭代进行,每迭代一次螺旋线增一周,工程前进一个层次,系统生成一个新版本,投入新的时间成本,最终得到客户满意的版本。 -软件测试从需求开始:现代的软件测试将测试渗入到软件开发的各个阶段,即使瀑布模型,表面看测试工作是在测试阶段开始的,事实上,在计划、需求、设计阶段,测试人员便已经开始了他们的工作,如:了解软件需求,编写测试计划,搭建测试环境。 二、测试用例、三要素:前提条件和操作步骤、预期结果、实际结果。 、必须以需求为依据。 三、软件测试分类、是否关注软件结构和算法-黑盒测试:基于软件需求的测试方法。 -白盒测试:基于软件内部设计和程序实现的测试方法。

2020年材料检测技术员个人总结

2020年材料检测技术员个人总结 自参加工作以来,遵守站及所在项目部的各项规章制度,积极服从领导的工作安排,圆满完成工作任务,满足施工单位进度。维护集体荣誉,思想上要求进步,积极响应站的号召,认真贯彻执行站文件及会议精神。工作积极努力,任劳任怨,认真学习相关试验知识,了解建筑新型材料检测及应用,不断充实完善自己。做到思想行动统一。坚持保证质量第一、安全第一的思想指导自己的工作。不放过工作中的每一个细节步骤。 做到工作认真严谨、实事求是。耳边总是回想起当年大学第一节课上老师的一段话:建筑是一门艺术、技术并存的专业,更是一门影响国计民生、人命关天的行业。搞建筑我们得时刻谨记把安全第一记于心中,因而致使我们把工程质量放在第一位。检测监督工作就是质量把关的最重要的一环,不容置疑地抓好原材料、半成品、成品的质量。 在工作中认真贯彻国家有关标准化,质量管理体系,产品质量监督检验以及研究开发的方针政策;确实执行本岗位负责监督检测的工程产品的有关标准、试验方法及有关规定,做到所做每项检验都有法可依。做好委托单接受,项目检验,资料,反馈等工作,做好跟踪台帐,便于日后查阅。由于试验检验项目多,项目检验时间不一,提前将工作做到位,避免施工单位技术人员不了解工程检验要

求及技术指标而延误工期,影响进度。我们试验室人员坚持四项基本原则,贯彻质量方针,落实质量目标,遵守规章制度,全心全意服务于施工现场。 工作一年后转入现场施工管理。担任土建技术员。但依旧于严谨的工作态度对待现场。由于以前的检测工作与现场管理工作差别比较大,这对我来说既可以说是机遇,也可以说是挑战。机遇就是进入小单位职位分工没有那么明确,总揽现场所有工作;挑战就是在经验实践缺乏的情况下担任现场技术总负责。以前仅靠自己的技术,而现在则也要抓好 ___、施工进度计划等一大堆管理工作。 一时工作压力极大。我时刻严格要求自己,遇到问题不断地请教有经验的同事、老师。各种方案作对比寻求最佳方法。自己摸索实践,在较短的时间内便熟悉了工作,完成了角色转换过程,明确了工作的程序、方向,提高了工作技能及管理能力,在具体的工作中形成了一个清晰的工作思路,能够顺利的开展工作并熟练圆满地完成本职工作。 1.专业知识、工作能力和具体工作 从拿到图纸到图纸会审,认真的查看每一个部位细节,核对数据,思考施工步骤方案。做到脑中有图。组织图纸会审。协调交换

测量技术总结报告

测量技术总结报告 崇州市济协乡济民村、天宫村(原红杨村) 土地整理项目1:20XX测量工程 测量工程技术总结报告 一、概况 (一)任务来源 为了加强崇州市济协乡济民村、天宫村(原红杨村)土地资源的合理规划与科学管理,全面贯彻中央新农村建设指示精神,崇州市国土资源局(以下简称甲方)委托四川旭普信息发展产业有限公司(以下简称乙方)对济协乡济民村、天宫村(原红杨村)土地整理,开展1:20XX地形图测量。测量面积约为4.65 km2(6980.8亩)。 (二)测区概况 1、地理位置 崇州市济协乡位于崇州市的中西部,其概略地理位置为东经103°37′18〞北纬30°38′59〞及东经103°39′5〞北纬 30°40′45〞之间,东隔西河与崇州市区和锦江乡相邻,南临成温邛高速公路、崇州市区,西与白头乡接壤,北与道明乡接壤。幅圆面积16.3平方公里。济协对外交通发达,过境道路街安路由北至南穿境而过,每日有数班客车来往于崇州市区、道明乡白塔湖风景旅游区;成温邛辅道由东至西可达白头乡、王场乡;有济

民路、桤泉路、文昌街、新义路、双凤路、红杨路6条,村道辐 射全乡各村,与相邻场镇相联。济协乡地处川西平原地区,境内 地势平坦,略显西北高东南低,海拔为534—XXX米。主要水系有 西江河由北至南流,主要灌溉渠系有济民堰、桤木河、泉水河、 黄泥河、韩家堰、光明堰、 向阳河,水资源丰富。济协乡处于成都平原凹陷区,系深厚 的第四纪冰水堆积、冲洪积的松散堆积物,土壤肥沃属中性。气 候属亚热带湿润常绿阔叶林区,树木种类繁多,由于近年人类活 动的影响,思想汇报专题原生植被逐渐被次生和人工培育的农业 植被所代替。动物物种包括常见的野兔、松鼠等兽类;鲤鱼、草鱼、鲫鱼等鱼类;青蛙等两栖类;蛇、草蜥等爬行类。气候属亚 热带湿润季风气候,气候温和,湿润,四季分明。年均气温16℃,降雨量950毫米左右;日照时数为1177小时左右;无霜期达260 天左右。常年主导风为东北风。济协乡济民村、天宫村(原红杨村)土地幅员面积为6980.8亩,约为4.65 km2,项目区树木较多,通 视较差,这给测绘工作带来较大困难。 2、行政隶属 成都市崇州市济协乡。 3、已经完成工作量 1)GPS控制测量; 2)图根控制测量; 3)1:20XX地形图测量,4.65平方公里;

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

测量工作技术总结

测量工作技术总结 篇一:测量技术员工作总结 测量技术员工作总结 〖文字大小:大中小〗〖打印〗 - - - 测量技术员工作总结 我于***x年x月毕业于长春工程学院国土资源系测绘工程专业,现就职于***第一工程有限公司。经过三年的学习和工作经验的积累,我已经从一个对测量方面没有任何实际经验的学生逐渐成为公司测量方面的主力军,先后完成几项测量工程项目。因我工作勤奋认真,实事求是,吃苦耐劳,所以我负责的测量工程项目多次受到委托方、设计方及施工单位的好评。毕业后,我来到葛洲坝第一工程有限公司就职,被安排到湖北恩施大龙潭项目部,第一个月从中学到了最基础的东西,从对测量仪器的使用、外业地形测量中需要注意的细节及室内的地形图编制有个系统的认识,接着跟随一些有经验的测量工程师去学习野外的编录及编写,这个过程让我受益匪浅,让我对测量工作有了整体的认识,知道了测量工作基本方法和基本工作,同时也锻炼了我的吃苦耐劳精神,这对我以后的工作也起了很大的促进作用,也将成为

我以后工作中的一笔财富。 后两个月,在老员工的手把手教导和本人的认真学习下,逐渐掌握了一些基本的专业知识及工作技能,并开始独立完成一些简单的工程,包括从进场开始的现场踏勘、选点、仪器操作、资料整理及报告的编写。之后经常去基础施工工地进行观摩与学习,负责工程的施工放线,对基础的施工放线。 经过一年的学习和琢磨,***x年5月从大龙潭项目部退场去了***项目部,在这里我对测量有了更好的认识和得到了更大的发挥,这个工程比较大,分上下库,下转载自百分,请保留此标记库主要是一个大坝和引水隧洞,上库有两个主坝、两个副坝,一条永久性公路等,从测量控制复测开始,再是原始地形测量,植被未全清理,跑棱镜的同志比较辛苦,交通没有车子,每天从早上6点出发,下午6、7点回来,开始我心理有点不平,别人都没这么苦,不过慢慢的也就习惯了,既然自己选择了这个岗位,就该勤勤恳恳、踏踏实实的干下去,惟有这样,才能实现自己的人生价值。前期测量工作完后,我带领了一个队进行工作,我很细心也很努力,开始了开挖阶段,准备开挖边线、各建筑物边线等施工放样,土石方收方,内业成图,这些工作不是很辛苦,就是量大,要花时间和精力谨慎的完成。 ***x年1月,我从***回到了公司后方,参加了公司

材料测试技术

X射线衍射分析的基本应用 ▲物相定性分析(这是XRD最基本、最常见的应用。其原理是和国际标准委员会出版的标准物质的PDF卡片对比分析); ▲物相定量分析; ▲晶胞参数的测定(也叫点阵参数的测定); ▲固溶体类型的测定和固溶体固溶度的测定; ▲结晶度的测定; ▲晶粒度和嵌镶块尺度的测定; ▲薄膜样品的测定(适用于膜厚小于10 m的情况); ▲残余应力的测量等。 一、单晶体的研究方法 说明:利用反射球讨论晶体衍射的方法及原理。在具体的衍射工作中,入射光的方向是固定不变的,如果晶体不动,而入射光又是单色,则落在反射球上的倒格点实际上很少,晶体的衍射强度小,要增加衍射强度,对于单晶体采用两种方法 1、劳厄法:晶体固定不动,射线为连续谱线。 2、转晶法:转动晶体,采用单色特征标识谱线 注:如果转动晶体,又用未经过滤的多色入射线,则照片上的斑点过多,不便于分析,一般不采用。 劳厄法的应用 1、测晶体的取向; 2、测晶体的对称性; 3、鉴定物质是晶态或非晶态; 4、粗略地观察晶体的完整性。 转晶法的应用: 1、测定单晶样品的晶胞常数; 2、观察晶体的系统消光规律,以确定晶体的空间群。 研究多晶体一般采用单色X射线来进行衍射,多晶体的衍射方法有两种,即: 1、粉末照相法:用照相底片记录衍射图。可分为德拜—谢乐法(简称德拜法)、聚焦法和针孔法,其中德拜法应用最普遍,照相法一般均指德拜法。 2、衍射仪法:用计数器记录衍射图。 衍射仪法粉末平板试样的制备: 制备试样时,可以把粉末试样倾入用玻璃或塑料板制成的盛放板中,将粉末轻轻压紧,不加粘结剂,然后削去多余粉末,压力不能过大,否则容易产生择优取向。所用样品需要一定的细度。如试样的数量少时,需用如加拿大树胶液,涂于玻璃片上。 X射线物相分析 物相定性分析物相定性分析用粉末照相法和衍射仪法均可进行,其程序是:先制样并获得该样品的衍射花样;然后测定各衍射线条的衍射角并将其换算成晶面间距d;再测出各条衍射线的相对强度;最后和各种结晶物质的标准衍射花样进行对比鉴定。因此,物相分析也叫物相鉴定。 物相定性分析的一般步骤: 样品制备; 获取待测试样的衍射花样(也叫衍射谱线); 根据衍射线的位置计算各衍射线的晶面间距; 估算衍射线的相对强度; 查阅索引; 核对卡片并确定物相。

材料分析报告测试方法复习题

材料分析测试方法复习题 第一部分 简答题: 1. X射线产生的基本条件 答:①产生自由电子; ②使电子做定向高速运动; ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X射线产生实质 答:假设管电流为10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv(i)的光子序列,这样就形成了连续X射线。 3. 特征X射线产生的物理机制 答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等 不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。 4. 短波限、吸收限

答:短波限:X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。 吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X射线相干散射与非相干散射现象 答:相干散射:当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。 非相干散射:当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义 答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。 荧光X射线:由X射线激发所产生的特征X射线。 俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 7. X射线吸收规律、线吸收系数 答:X射线吸收规律:强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例,即-dI/I=μdx 。 线吸收系数:即为上式中的μ,指在X射线传播方向上,单位长度上的X射线强弱衰减程度。 8. 晶面及晶面间距

工程测量技术总结报告

工程测量技术总结报告 实习名称: 地点: 起止日期: 班级: 组号: 姓名: 学号: 指导老师:马玉晓 前言 实习目的:工程测量是测量学教学的教学的重要组成部分,是巩固和深化课堂教学和实验中所学知识和技能的必要环节。通过测量学实习培养学生理论联系实际,分析问题和解决问题的能力,使学生树立严格认真的科学态度,实事求是的工作作风,吃苦耐劳的劳动态度以及团结协作的集体观念。通过测量教学实习可以将已学过的测量基本理论,基本知识综合起来进行一次系统的实践,不仅可以巩固,扩大和加深学生从课堂和实验环节所学的理论知识,系统的掌握测量仪器操作,施测计算,地形图绘制的基本技能,获得测量实际工作的基本技能和初步经验,还可以了解基本测绘工 作的全过程,使学生在业务组织能力和实践方面得到锻炼,为今后从事测绘工作打下良好基础。任务和要求 1、熟练使用常规测量仪器和工具,要求在规定时间范围内完成水准仪、经纬仪的技术操作。

2、能独立组织与实施导线测量、普通水准测量,观测值和成果均符合精度要求。 3、能熟练用经纬仪测绘法测绘大比例地形图。 4、能进行道路纵、横断面测量,并能够绘制道路纵横断面图。 5、能场地平整的测量工作,并计算工程土方量。 6、能运用极坐标法计算放样元素,并运用经纬仪和钢尺进行点位放样。 7、高程测设。 三、实习组织 实习期间的组织工作应由主讲教师全面负责,每班除主讲教师外,还应配备2,3位辅导教师,共同担任实习期间的辅导工作。 实习工作按小组进行,设组长1人,负责组内实习分工和仪器管理。负责借还和保管本组的仪器设备,负责本组实习,监督考勤工作,保管本组的测量成果资料。 实习过程中各组要在组长的统一指挥下,分工协作,每项工作要求由组员轮流担任,不要单纯追求进 度,注意提高工作质量,按时完成实习任务。 实习内容:1)实习项目名称:河南城建学院6号教学楼1:500大比例尺地形图的测绘任务来源:工测量学指导教师实测目的与精确度要求:本次测量主要是对本学期测量学学的学习进行实践对整个学习过程进行总结。 各种测量读数和取值的要求 表三 内容读数和取值规定 角度测量 (,)水平角和竖直角读到″(地形测量时角度测量读到′); (,)方位角读到′

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