半导体基础知识及PN结

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日期:2004-11-14 20

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在我们的日常生活中,经常看到或用到各种各样的物体,它们的性质是各不相同的。有些物体,如钢、银、铝、铁等,具有良好的导电性能,我们称它们为导体。相反,有些物体如玻璃、橡皮和塑料等不易导电,我们称它们为绝缘休(或非导体)。还有一些物体,如锗、硅、砷化稼及大多数的金属氧化物和金属硫化物,它们既不象导体那样容易导屯,也不象绝缘体那样不易导电,而是介于导体和绝缘体之间,我们把它们叫做半导体。绝大多数半导体都是晶体,它们内部的原

子都按照一定的规律排列着。因此,人们往往又把半导体材料称为晶体,这也就是晶体管名称的由来(意思是用晶体材料做的管子)。

物体的导电性能常用电阻率来表示。所谓电阻率,就是某种物体单位长度及单位截面积的体积内的电阻值。电阻率越小,越容易导电;反之,电阻率越大,越难导电。

导体、绝缘体的电阻率值随温度的影响而变化很小。但温度变化时,半导体的电阻率变化却很激烈;每升高1℃,它的电阻率下降达百分之几到百分之几十。不仅如此,当温度较高时,整体电阻甚至下降到很小,以致变成和导体一样。

在金属或绝缘体中,如果杂质含量不超过干分之一,它的电阻率变化是微不足道的。但半导体中含有杂质时对它的影响却很大。以锗为例,只要含杂质一千万分之一,电阻率就下降到原来的十六分之一。

锗是典型的半导体元素,是制造晶体管的一种常用材料(注:当前的半导体元器件生产以硅Silicon材料为主)。现以锗为例来说明如何会在半导体内产生电流、整流性能和放大性能。

我们知道,世界上的任何物质都是由原了构成的。原子中间都有一个原子核和者围绕原子核不停地旋转酌电子。不同元素的原子所包含的电子数目是不同的。蔗原子的原子核周围有32个电子,围绕着原子核运动。原子核带有正电荷.电子带有负电荷;正电荷的数量刚好和全部电子的负电荷数量相等,所以在平时锗原子是中性的。

电子围绕原子核运动,和地球围绕太阳远行相似。在核的引力作用下,电子分成几层按完全确定的轨道运行,而且各层所能容纳的电子数日也有一定规律。如图所示:在锗原子核周围的32个电子组成四层环,围绕原子核运动。从里往外数,第一层环上有2个电子,其余依次为8、18、4个电子。凡是环上的电子数为2、8、18时.这些环上的电子总是比较稳定的。若环上的电子数不等于以上各数时,这些环上的电子总是不太稳定。

因此,锗原子结构中,第一、二、三层的电于是稳定的,只有第四层(即最外一“层)的4个电于是不稳定的。因最外一层的电子没有填满到规定的数目。我们把最外一层的电子叫做价电子。一般来说,最外层有几个价电子,其原子价就为几。锗的最外层有4个价电子,所以锗的原子价为4。

受外界作用,环上的电子可以克服原子核的吸引力而脱离原子,自由活动成为自由电子。这些自由电子在电场力的

作用下,产生空间运动,就形成了电流。可以想像,由于最外层的价电子离核比较远,所受引力最小,所以最容易受外界影响而形成自由电子。因此,从导电性能看,价电子是很重要的。我们所说的锗元素就是依靠它最外层的4个价电子进行导电的。锗晶体内的原子很整齐的排列着。各个

原子间有相互排斥的力量,而每个原子除了吸引自己的价电子外,还吸引相邻原子的价电子。因此,两个相邻原子的价电子便成对地存在。这一对电子同时受这两个原子核的吸引,为它们所“共有”。这两个相邻原子也通过这个电子对被联系

在一起。这样,电子对就好像起了键(联结)的作用,我们叫

它共价键。每一个锗原子以其4个价电子与其他4个锗原子的价电子组成4个共价键而达到稳定状态。

在理想情况下,锗晶体中所有的价电子都织成了电子对,因此没有自由电子,这时锗晶体是不易导电的。

但在外力作用下,如受温度变化,其中可能会有一个价电子脱离键的束缚,挣脱共价键而跳出来,成为自由电子。这时共价键中出现了一个空位,我们把这个空位叫做空穴。由于原子本身正电荷和负电荷相等,故原子失去了电子后,整个原子就带正电荷,称为正离子。正离子容易吸引相邻原子的价电子来填补,电子离开后所留下的空位,使相邻原子中又出现空穴,而这个新出现的空穴,又可能为别的电子去

填充。电子这样不断地填充空穴,就使空穴的位置不断地在原子问转移。空穴的转移,实际上也是电子(电荷)的运动,

所以也就形成电流,这叫做空穴流。而原来失去的屯子,在晶体中运动,形成了电子流。为了便于叙述,今后就认为空穴在运动,而且把它当作一个正电荷来看(实际上是空穴所在的原子呈现一个单位正电荷的电量)。由于空穴和电子都带有电荷,它们的运动都形成电流,所以就统称它们为载流子。

一块不含有杂质的、品格完整的半导体叫做本征半导体。因为它品格完整,如果有一个电子从共价键中释放出来,必定留下一个空众。所以本征半导体中电子和空众总是成对地出现,它们的数日相等,称为电子一空穴对。在常温下,由于热运动的结果,在本征半导体中会产生一定数量的电子一空穴对,形成电子流和空穴流,总的电流是两者之和。如没有外界电场作用,电子和空穴的这种运动是杂乱无章的,电子流和空穴流方向也是不定的,结果互相抵消,没有净电流出现。但在电场作用下,这种半导体两端就出现电压,电子向正端方向运动,空穴向负端方向运动,形成了定向电流,半导体内就产生电流了。本征半导体因电场作用而产生的导电现象就叫本征导电。

通常,我们很少见到本征半导体,大多遇到的都是P型半导体或N型半导体。

前面说过,半导体中加进了杂质,电阻率就大大降低。这是因为加进杂质后,空穴和电子的数目会大大增加。例如,在锗晶休中掺入很少一点三价元素铟,由于铟的价电子只有三个,渗入锗晶体后,它的三个价电子分别和相邻的三个锗原子的价电子组成共价键,而对相邻的第四个锗原子,它没有电于拿出来和这个锗原子“共有”了,这就留下了一个空穴(见图1一3(c))。因为掺入了少量的杂质铟,就会出现很多空穴;这是因为即使是少量的,里面含有的原子数目却不少。杂质半导体中空穴和电子数目不相等,在电场作用下,空穴导电是主要的,所以叫空穴型半导体或者说是P型半导体。换句话说,P型或空穴型半导体内是有剩余空穴的,掺入的杂质提供了剩余空穴。在P型半导体中,空穴是多数,所以称空穴为多数载流子;电子数目少,就叫少数裁流子。渗入的杂质能产生空穴接受电子,我们叫这种杂质为受主杂质。

如果把五价元素砷掺入锗晶体中,砷原子中有5个价电于,它和四个锗原子的价电子组成共价键后,留下一个剩余电子,这个剩余电子就在晶体中到处游荡,在外电场作用下形成定向电子流。掺入少量的砷杂质就会产生大量的剩余电子,所以称这种半导体为电子型半导体或N型半导体。在这种半导体中有剩余电子,这时电子是多数载流子,而空穴是

少数载流子。因为砷是施给剩余电子的杂质,所以叫做施主杂质。

如果没有外电场的作用,不论N型或P型半导体,它们的载流子运动是无规则的,因此,不会形成电流。

把一块P型半导休和N型半导体紧密联接在一起时(实际上只能用化学方法将两个原来独立的锗片合在一起).就会发现一个奇怪的现象,即在它们的两端加上适当的电压时,会产生单向导电观象。因为这时在它们的交界面上形成了一个所谓P—N结的结构,单向导电现象就发生在这一薄薄的P—N结中。P—N结是晶体管的基础,它是由扩散形成的。

我们知道,P型半导体内空穴是多数载流子,即空穴的浓度大;而N型半导体内电子是多数载流予,电子的浓度大。二者接触之后,由于在P型区和N型区内电子浓度不同,N 型区的电子多,就向P型区扩散,扩散的结果如图1—4(b)所示。N型区薄层I中部分电子扩散到P型区去,薄层I便因失去电于而带正电。另一方面,P型区的空穴多,也会向空穴浓度小的N型区扩散,结果一部分空穴从薄层I向P(型区扩散,使薄层Ⅱ带负电。

电于和空穴的扩散是同时进行的,总的结果,P型区薄层Ⅱ流走了空灾,流进了电子,所以带负电,而N型区的薄层I流走了电子,流进了空穴,因而带正电,而且随着扩散

现象的继续进行,薄层逐渐变厚,所带的电量也逐渐增加。不过,这种扩散现象不会无休止的进行下去;当扩散进行到一定程度后,薄层Ⅱ带了很多负电,从N型区向P型区扩散的电子总数因电子受到它的排斥不再继续增加;同样道理,从P型区向N型区扩散的空灾总数也不再增加。于是扩散似乎不再继续,而达到所谓“动态平衡状态”。这时P—N结也就形成了。

所谓P—N结,就是指薄层I和Ⅱ所构成的带电结构。因为它能阻止电子和空穴的继续扩散,所以也叫阻挡层。它们之间的电位差一般称势垒或位垒。

我们用图来阐明P—N结的单向导电性能。依照图示方法,将P型区接电池正极,N型区接负极。向右调动电位器,使加到P—N结构端的电压逐颓增高,就会发现:当电压表读数增高时,电流表的读数也随之增大。此时,P—N结的电阻很小,这种接法叫正向联结。

若反过来,把P型区接电池负极,而N型区接正极,这时我们会发现:把电压增高到几十伏,电流的指示只有几个或几十个微安,此时P—N结的电阻很大,反向电流很快就达到饱和不再增加了。这说明电流只能沿着一个方向流过

P—N结,这个现象就叫做单向导电。

单向导电现象可以这样来解释;因为在P型区接电池正极而N型区接负极时,外加电压的方向刚好和P—N结势垒电压的方向相反,使薄层Ⅱ带的负电量和薄层I带的正电量减少,因此削弱了P—N结的势垒,于是在正电压的作用下,电子和空穴的扩散又可进行,N型区的电子不断跑到P型区,P型区的空穴也不断跑到N型区,正向电流也就产生了。而且,正向电压加得越高,P—N结势垒削弱得越厉害,扩散

也就越容易进行,正向电流也就越大。

当P—N结和电池反向连接时,外加电压起着增强P—N 结势垒的作用,使薄层Ⅱ带的负电荷和薄层I带的正电荷增加,扩散更无法进行。这时只有P型区的少数教流子一电子和N 型区的少数我流子一空穴,受外加电压作用形成微弱的反向电流。而少数栽流子的数目不多,所以在反向电压只有零点几伏时,反向电流就达到饱和了。

P—N结还有一个十分重耍的特性,即所谓反向击穿电压。当所加反向电压大到一定数值时,P—N结电阻会突然

变得很小,反向电流会骤然增大,而且是无限地增大。这种现象叫P—N结的反向击穿。开始击穿时的电压数值叫反向击穿电压。它直接限制了P—N结用做整流和检波时的工作电压。

总之,一个简单的P—N结具有单向导电的特性,半导

体收音机正是利用这一特性来进行整流和检波的。半导体二极管就是根据这一原理制成的。

大学物理实验PN结正向压降温度特性的研究实验报告

实验题目:PN 结正向压降温度特性的研究 实验目的:了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。在恒流供电条件下,测绘PN 结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测PN 结材料的禁带宽度。学习用PN 结测温的方法。 实验原理:理想PN 结的正向电流I F 和压降V F 存在近似关系: )exp( kT qV Is I F F = 其中q 为电子电荷,k 为玻尔兹曼常数,T 为绝对温度,I S 为反向饱和电流: ]) 0(ex p[kT qV CT Is g r -= 由上面可以得到: 11)0(n r F g F V V InT q kT T I c In q k V V +=-??? ? ? ?-= 其中 () r n F g InT q KT V T I c In q k V V -=???? ? ?-=11)0( 在上面PN 结正向压降的函数中,令I F =常数,那么V F 就是T 的函数。 考虑V n1引起的线性误差,当温度从T 1变为T ,电压由V F1变为V F : [] r n F g g F T T q kT T T V V V V ??? ? ??---=111 1)0()0( )(111T T T V V V F F F -??+=理想 ()[] ()r T T q k T T V V V T T r q k T V V V V F g g F g F 1111111)0()0(----=-????? ?---+=理想 两个表达式相比较,有: ()r F T T Ln q kT T T r q k V V )(1 1+-- =-=?理想 综上可以研究PN 结正向压降温度特性。 实验内容:1、求被测PN 结正向压降随温度变化的灵敏度S (mv/℃)。作?V —T 曲线(使用Origin 软件工 具),其斜率就是S 。 2、估算被测PN 结材料硅的禁带宽度E g (0)=qV g (0)电子伏。根据(6)式,略去非线性,可得

PN结物理特性及玻尔兹曼常数测量

P N结物理特性及玻尔兹 曼常数测量 Prepared on 21 November 2021

PN 结物理特性及玻尔兹曼常数测量 半导体PN 结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一。使用本实验的仪器用物理实验方法,测量PN 结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数分布规律,并较精确地测出玻尔兹曼常数(物理学重要常数之一),使学生学会测量弱电流的一种新方法。本实验的仪器同时提供干井变温恒温器和铂金电阻测温电桥,测量PN 结结电压be U 与热力学温度T 关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得0K 时硅材料的禁带宽度。 【实验目的】 1、在室温时,测量PN 结扩散电流与结电压关系,通过数据处理证明此关系遵循指数分布规律。 2、在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。 3、学习用运算放大器组成电流—电压变换器测量10-6A 至10-8A 的弱电流。 4、测量PN 结结电压be U 与温度关系,求出结电压随温度变化的灵敏度。 5、计算在0K 时半导体(硅)材料的禁带宽度(选作)。 6、学会用最小二乘法拟合数据。 【实验仪器】 FD-PN-4型PN 结物理特性综合实验仪(如下图),TIP31c 型三极管(带三根引线)一只,长连接导线11根(6黑5红),手枪式连接导线10根,3DG6(基极与集电极已短接,有二根引线)一只,铂电阻一只。 FD-PN-4 型PN 节物理特性测定仪 【实验原理】 1. 测量三极管发射极与基极电压U 1和集电极与基极电压U 2之间的关系 (a)PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数测量由半导体物理学可知,PN 结的正向电流-电压关系满足: [] 1/0-=KT eU e I I (1) 式(1)中I 是通过PN 结的正向电流,I 0是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降。由于在常温(300K)时,kT /e ≈ ,而PN 结正向压降约为十分之几伏,则KT eU e />>1,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有: KT eU e I I /0= (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I-U 关系值,则利用(1)式可以求出e /kT 。在测得温度T 后,就可以得到e /k 常数,把电子电量作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。 在实际测量中,二极管的正向I-U 关系虽然能较好满足指数关系,但求得的常数k 往往偏小。这是因为通过二极管电流不只是扩散电流,还有其它电流。一般它包括三个部分: [1]扩散电流,它严格遵循(2)式; [2]耗尽层复合电流,它正比于KT eU e 2/; [3]表面电流,它是由Si 和SiO 2界面中杂质引起的,其值正比于mKT eU e /,一般m >2。

PN结物理特性测定2015

半导体PN 结的物理特性实验 实验目的 1.测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合指数分布规律。 2.测量玻尔兹曼常数。 3.测量PN 结电压与温度的关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度。 4.计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度。 实验原理 1. PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数测量 由半导体物理学可知,PN 结的正向电流-电压关系满足: []1)/exp(0-=kT eU I I (1) 式中I 是通过PN 结的正向电流,0I 是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降。由于在常温(300K)时,e kT /≈0.026v ,而PN 结正向压降 约为十分之几伏,则)/exp( kT eU >>1,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有: )/exp(0kT eU I I = (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I-U 关系值,则利用(1)式可以求出 kT e /。在测得温度T 后,就可以得到k e /常数,把电子电量作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼 常数k 。 在实际测量中,二极管的正向I-U 关系虽然能较好满足指数关系,但求得的常数k 往往偏小。这是因为通过二极管电流不只是扩散电流,还有其它电流。一般它包括三个部分:1)扩散电流,

它严格遵循(2)式;2)耗尽层符合电流,它正比于)2/exp(kT eU ;3)表面电流,它是由硅和二氧 化硅界面中杂质引起的,其值正比于)/exp( mkT eU ,一般m >2。因此,为了验证(2)式及求出准确的e /k 常数,不宜采用硅二极管,而采用硅三极管接成共基极线路,因为此时集电极与基极短接,集电极电流中仅仅是扩散电流。复合电流主要在基极出现,测量集电极电流时,将不包括它。本实验中选取性能良好的硅三极管(TIP31型),实验中又处于较低的正向偏置,这样表面电流影响也完全可以忽略,所以此时集电极电流与结电压将满足(2)式。实验线路如图1所示。 图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图 2.PN 结的结电压be U 与热力学温度T 关系测量。 当PN 结通过恒定小电流(通常电流A I μ1000=),由半导体理论可得be U 与T 近似关系: go be U ST U += (5) 式中S ≈-2.3C mV o /为PN 结温度传感器灵敏度。由go U 可求出温度0K 时半导体材料的近似禁带宽度go E =go qU 。硅材料的go E 约为1.20eV 。 实验仪器 1. 直流电源、数字电压表、温控仪组合装置(包括±15V 直流电源、0-1.5V 及3.0V 直流电源、三位半数字电压表、四位半数字电压表、温控仪)。 2. TIP31型三极管(带三根引线)1个,3DG 三极管1个。

大学物理实验报告23-PN结温度传感器特性

天津大学 物理实验报告 姓名: 专业: 班级: 学号: 实验日期: 实验教室: 指导教师: 【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】 1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律 2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数 3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流 4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度 5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】 半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】 1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足: ]1)/[ex p(0-=kT eU I I (1) 当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有: 0exp(/)I I eU kT = (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出 /e kT 。在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。 实验线路如图1所示。

2、弱电流测量 LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。 运算放大器的输入电压0U 为: 00i U K U =- (3) 式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。因而有: 00(1) i i s f f U U U K I R R -+= = (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为 00 1i f f x s U R R Z I K K = =≈+ (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即: 图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图 图2 电流-电压变换器

PN结物理特性及玻尔兹曼常数测量.

PN 结物理特性及玻尔兹曼常数测量 半导体PN 结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一。使用本实验的仪器用物理实验方法,测量PN 结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数分布规律,并较精确地测出玻尔兹曼常数(物理学重要常数之一),使学生学会测量弱电流的一种新方法。本实验的仪器同时提供干井变温恒温器和铂金电阻测温电桥,测量PN 结结电压be U 与热力学温度T 关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得0K 时硅材料的禁带宽度。 【实验目的】 1、在室温时,测量PN 结扩散电流与结电压关系,通过数据处理证明此关系遵循指数分布规律。 2、在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。 3、学习用运算放大器组成电流—电压变换器测量10-6A 至10-8A 的弱电流。 4、测量PN 结结电压be U 与温度关系,求出结电压随温度变化的灵敏度。 5、计算在0K 时半导体(硅)材料的禁带宽度(选作)。 6、学会用最小二乘法拟合数据。 【实验仪器】 FD-PN-4型PN 结物理特性综合实验仪(如下图),TIP31c 型三极管(带三根引线)一只,长连接导线11根(6黑5红),手枪式连接导线10根,3DG6(基极与集电极已短接,有二根引线)一只,铂电阻一只。 FD-PN-4 型PN 节物理特性测定仪 【实验原理】 1. 测量三极管发射极与基极电压U 1和集电极与基极电压U 2之间的关系 (a)PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数测量由半导体物理学可知,PN 结的正向电流-电压关系满足: [] 1/0-=KT eU e I I (1) 式(1)中I 是通过PN 结的正向电流,I 0是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降。由于在常温(300K)时,kT /e ≈0.026v ,而PN 结正向压降约为十分之几伏,则KT eU e />>1,(1)式括号内-1项完全可 以忽略,于是有: KT eU e I I /0= (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I-U 关系值,则利用(1)

PN结的物理特性—实验报告

半导体PN 结的物理特性实验报告 姓名:陈晨 学号:12307110123 专业:物理学系 日期:2013年12月16日 一、引言 半导体PN 结是电子技术中许多元件的物质基础具有广泛应用,因此半导体PN 结的伏安特性是半导体物理学的重要内容。本实验利用运算放大器组成电流-电压变换器的方法精确测量弱电流,研究PN 结的正向电流I ,正向电压U ,温度T 之间的关系。本实验桶过处理实验数据得到经验公式,验证了正向电流与正向电压的指数关系,正向电流与温度的指数关系以及正向电压与温度的线性关系,并由此与计算玻尔兹曼常数k 与0K 时材料的禁带宽度E ,加深了对半导体PN 节的理解。 二、实验原理 1、 PN 结的物理特性 (1)PN 结的定义:若将一块半导体晶体一侧掺杂成P 型半导体,即有多余电子的半导体,另一侧掺杂成N 型半导体,即有多余空穴的半导体,则中间二者相连的接触面就称为PN 结。 (2)PN 结的正向伏安特性:根据半导体物理学的理论,一个理想PN 结的正向电流I 与正向电压U 之间存在关系 ①,其中I S 为反向饱和电流,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,e 为电子电量。在常温(T=300K )下和实验所取电压U 的范围内, 故①可化为 ②,两边取对数可得 。 (3)当温度T 不变时作lnI-U 图像并对其进行线性拟合,得到线性拟合方程的斜率为e/kT ,带入已知常数e 和T ,便得玻尔兹曼常数k 。 2、反向饱和电流I s (1)禁带宽度E :在固体物理学中泛指半导体或是绝缘体的价带顶端至传导带底端的能量差距。对一个本征半导体而言,其导电性与禁带宽度的大小有关,只有获得足够能量的电子才能从价带被激发,跨过禁带宽度跃迁至导带。 (2)根据半导体物理学的理论,理想PN 结的反向饱和电流Is 可以表示为 ③,代入②得 ,其中I 0为与结面积和掺杂浓度等有关的常数,γ取决于少数载流子迁移率对温度的关系,通常取γ=3.4,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度.E 为0K 时材料的禁带宽度。两边取对数得 ,其中γlnT 随温度T 的变 化相比(eU-T )/kT 很缓慢,可以视为常数。 (3)当正向电压U 不变时作lnI-1/T 图像并进行线性拟合,得到拟合方程斜率(eU-E )/k ,代入已知常数便得0K 时PN 结材料的禁带宽度E ;当正向电流I 不变时作U-T 图并进行线性拟合,得到拟合直线截距E/e ,带入已知常数,便得0K 时PN 结材料的禁带宽度E 。 3、实验装置及其原理 (1)如图所示为由运算放大器组成的电流-电压变换器电路图,电压表V1测量的是正向电压U1,电压表V2测量的是正向电流I 经运算放大器放大后所对应的电压U2,分析电路后可知,正向电流I ≈U 2/R f ,其中R f 为反馈电阻。通过二极管的正向电流除了扩散电流外,还 (1)eU kT s I I e =-1 eU kT e >>eU kT s I I e =lnI lnI s eU kT =+0E kT s I I T e γ - =0eU E kT I I T e γ-=0ln lnI ln eU E I T kT γ-=++

半导体PN结的物理特性研究数据处理特例

半导体PN结的物理特性数据处理数据记录: 室温:28.0℃θ1=28.0℃θ2=28.0℃ 0. 28 = θ℃ 数据处理: 1.按U2=BU1+A处理 表2 第2、和第1列数据的相关系数γ=0.844996;斜率B=54.03297 ;截距A= –18.3031。拟合方程为: U2=54.03297U1-18.3031 (1) 根据(1)式计算出表2中的第3 列U2的期望值U20;再根据(U2-U20)2 算出表2中第4列数据,第4列数据的 总和为: Σ(U2-U20)2=26.60278 (2) 根据表2第1、2列数据作图如图 1所示。从U1和U2的相关系数和图中数 据点的分布和线性趋势线的走向均可 看出,U1和U2并不相关,因此采用线性 相拟合并不好。 2.按U2=BU12+A进行拟合 表3 图 1 按线性拟合

表3第2、和第3列数据的相关系 数γ=0.8675393;斜率B=73.881948; 截距A=–8.550421。拟合方程为: U 2=73.881948U 12 -8.550421 (3) 根据(3)式计算出表3中的第4列U 2的期望值U 20;再根据(U 2-U 20)2 算出表3中第5列数据,第5列数据的 总和为: Σ(U 2-U 20)2 =23.011569 (4) 根据表3第3、2列数据作图如图1所示。从U 12 和U 2的相关系数和图中 数据点的分布和线性趋势线的走向均 可看出,U 12 和U 2并不相关,因此采用幂函数拟合并不好。 3.按U 2=AU 1B 进行拟合 对表4的第1、2列数据取对数构成表4中的第3 、4列。 图 2 按幂函数拟合

半导体的基本特性

半導體的基本特性 自然界的物質依照導電程度的難易,可大略分為三大類:導體、半導體和絕緣體。顧名思義,半導體的導電性介於容易導電的金屬導體和不易導電的絕緣體之間。半導體的種類很多,有屬於單一元素的半導體如矽(Si)和鍺(Ge),也有由兩種以上元素結合而成的化合物半導體如砷化鎵(GaAs)和砷磷化鎵銦(GaxIn1-xAsyP1-y)等。在室溫條件下,熱能可將半導體物質內一小部分的原子與原子間的價鍵打斷,而釋放出自由電子並同時產生一電洞。因為電子和電洞是可以自由活動的電荷載子,前者帶負電,後者帶正電,因此半導體具有一定程度的導電性。 電子在半導體內的能階狀況,可用量子力學的方法加以分析。在高能量的導電帶內(Ec以上),電子可以自由活動,自由電子的能階就是位於這一導電帶內。最低能區(Ev以下)稱為「價帶」,被價鍵束縛而無法自由活動的價電子能階,就是位於這一價帶內。導電帶和價帶之間是一沒有能階存在的「禁止能帶」(或稱能隙,Eg),在沒有雜質介入的情況下,電子是不能存在能隙裡的。 在絕對溫度的零度時,一切熱能活動完全停止,原子間的價鍵完整無損,所有電子都被價鍵牢牢綁住無法自由活動,這時所有電子的能量都位於最低能區的價帶,價帶完全被價電子占滿,而導電帶則完全空著。價電子欲脫離價鍵的束縛而成為自由電子,必須克服能隙Eg,提升自己的能階進入導電帶。熱能是提供這一能量的自然能源之一。 近導電帶,而游離後的施體離子則帶正電。這種半導體稱為n型半導體,其費米能階EF比較靠近導電帶。一般n型半導體內的電子數量遠比電洞為多,是構成電流傳導的主要載子(或稱多數載子)。

1. 導電性介於導體和半導體之間的物體,稱為半導體 2. 此物體需要高溫和高電量才能通電的物體. 3.在溫度是0和電導率是0,當溫度上升後,價能帶內的電子,由於熱激發躍進到導帶,致使導帶內充滿一些電子,導電率隨之增加----------這就是半導體. #半導體的特性: 1. 溫度上升電阻下降的特性 2. 整流效應 3 光伏特效應 4. 光電導效應

实验报告半导体PN结的物理特性及弱电流测量

成都信息工程学院 物理实验报告 姓名: 石朝阳 专业: 班级: 学号: 实验日期: 2009-9-15下午 实验教室: 5102-1 指导教师: 【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】 1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律 2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数 3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流 4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度 5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】 半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】 1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足: ]1)/[ex p(0-=kT eU I I (1) 当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有: 0exp(/)I I eU kT = (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出 /e kT 。在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。 实验线路如图1所示。

2、弱电流测量 LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。 运算放大器的输入电压0U 为: 00i U K U =- (3) 式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。因而有: 00(1) i i s f f U U U K I R R -+= = (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为 00 1i f f x s U R R Z I K K = =≈+ (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即: 图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图 图2 电流-电压变换器

半导体PN结的物理特性

半导体PN结的物理特性 简介:半导体PN结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一,它在实践中有着广泛的应用,如各种晶体管、太阳能电池、半导体制冷、半导体激光器、发光二极管都是由半导体PN结组成。本实验主要研究的两个问题是: (1)测量PN结扩散电流与电压的关系; (2)研究PN结电压与热力学温度的关系。 一、实验目的 (1)了解用运算放大器测量弱电流的原理和方法; (2)测量PN结结电压与电流关系,证明此关系符合指数分布规律,用作图法求玻尔兹曼常数; (3)测量PN结结电压与温度的关系,求出PN结温度传感器的灵敏度; (4)计算在绝对零度时,半导体材料的禁带宽度。 二、实验仪器:FD-PN-4 PN结物理特性实验仪

三、 实验原理 1.PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数的测量 半导体在常温下PN 结电压与电流有如下指数关系: 0qU kT S I I e = (1) 公式(1)中0I 为反向饱和电流,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,q 为电子电量,U 为电压。本实验用常规方法测量时,当PN 结电压较小时,PN 结没导通,通过的电流很弱,普通电流表很难准确测量,无法验证真实的电压电流关系和测量玻尔兹曼常数,而采用集成运放对弱电流放大可解决这些问题。 2.弱电流测量 实验装置如图1所示,所用PN 结由三极管提供,LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器,它可对弱电流放大并转换成电压形式。其工作原理如图2所示,S I 为被测弱电流,r Z 为电路的等效输入阻抗, f R 为负反馈电阻,运放的开环放大倍数为0K ,运算放大器的输出电压为: 00i U K U =- (2) 由于运放输入阻抗i r 为无限大,反馈电阻f R 流过的电流近似为S I , 00 00 1 () (1)i S f f f U U U I U R R R K -= =-+ ≈- (3) 只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得S I ,将上式代入0qU kT S I I e =可 得: 102qU kT U U Ae == (4) 图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图

半导体物理---PN结习题

PN 结作业题 1、 For a silicon step pn junction, the n side has a net doping of 183210D N cm -=? and the p side has a net doping of 153510A N cm -=?. (1) Find the junction width. (2) Find the widths of the n side of the depletion region and the p side of the depletion region . (3) What is the built-in voltage? 2、 对GaAs 材料突变PN 结,完成第1题给出的计算要求。 3、(1) 如果PN 结的N 区长度远大于L p , P 区长度为W p , 而且P 区引出端处少数 载流子电子的边界浓度一直保持为0,请采用理想模型推导该PN 结电流-电压关系式的表达形式(采用双曲函数表示) (2) 若P 区长度远小于n L ,该PN 结电流-电压关系式的表达形式将简化为什么形式? (3) 若P 区长度远小于n L ,由上述(2)的结果推导PN 结总电流中()n p I x -和 ()p n I x 这两个电流分量之比的表达式? (4) 如果希望提高比值()/()n p p n I x I x -, 应该如何调整掺杂浓度A N 和D N 的大小? 提示: 两个区域可以分别采用两个坐标系,将坐标原点分别位于势垒区两个边界处,可以大大简化推导过程中的表达式 4. 已知描述二极管直流特性的三个电流参数是S I =1410-A 、SR I =1110-A 、KF I =0.1A 。请采用半对数坐标纸,绘制正偏情况下理想模型电流,势垒区复合电流和特大注入电流这三种电流表达式的I -V 曲线,并在此基础上绘制实际二极管电流随电压变化的曲线。 (提示:特大注入条件下,?? ? ??=KT eVa I I I 2exp KF S ) 5、A one-side step n p +junction diode with 17310a N cm -= and 19310d N cm -=has a junction area of 2100m μ. It is known that, for the minority carrier, 6310n s τ-=?, 220/n D cm s = (1) Please compare the junction capacitance and the diffusion capacitance under reverse bias (5a V V =-) (2) Compare the junction capacitance and the diffusion capacitance under forward bias (0.75a V V =+)

复旦大学 物理实验(上) 半导体PN结的物理特性实验报告

半导体PN结的物理特性 实验目的与要求 1、学会用运算放大器组成电流-电压变换器的方法测量弱电流。 2、研究PN结的正向电流与电压之间的关系。 3、学习通过实验数据处理求得经验公式的方法。 实验原理 PN 结的物理特性测量 由半导体物理学中有关PN 结的研究,可以得出PN 结的正向电流一电压关系满足 (1) 式中I是通过PN 结的正向电流,I0是不随电压变化的常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降. 由于在常温(300 K)下,KT/e =0,026 V,而PN 结正向压降约为十分之几伏,则e eU/kT>>l,(1)式括号内-1 项完全可以忽略,于是有 (2) 即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化. 若测得PN 结I-U关系值,则利用(2)式可以求出e/kT. 在测得温度T 后,就可以得到e/k 常数,然后将电子电量作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k。 在实际测量中,为了提高测量玻尔兹曼常数的正确性,利用集成运算放大器组成的电流-电压变换器输人阻抗极小的特点,常用半导体三极管的集电极c与基极b短接(共基极)来代替PN结进行测量. 具体线路如图下 实验仪器 PN结实验仪、TIP31型三极管、恒温装置 1 、直流电源和数字电压表,包括—15 V——0——+ 15V直流电源、1.5 V直流电源、0—— 2 V三位半数字电压表、四位半数字电压表. 2、LF356 集成运算放大器,它的各引线脚如2脚、3 脚、4 脚、6 脚、7 脚由学生用棒针

引线连接;待测样品TIP31型三极管的e、b、c 三电极可以从机壳右面接线柱接入 3、不诱钢保温杯組合,它包括保温杯、内盛少量油的玻璃试管、搅拌器水银温度计等. (实验时,开始保温杯内为适量室温水,然后根据实验需要加一些热水,以改变槽内水的温度; 测量时应搅拌水,待槽内水温恒定时,进行测量) 实验内容 一、必做部分: 1、在室温(保温杯加入适量的自来水,为什么?)下,测量PN结正向电流与电压的关系。·粗略测量PN结正向电压U1及正向电流所对应的电压U2之间的关系。(U2何时出现饱合?为什么会出现饱合?) ·由粗测结果确定仔细测量的范围(U2大致的变化范围是多少?);约测12-16组数据。·用最小二乘法对实验数据分别作线性、指数、乘幂等函数的拟合,由求得的回归系数和标准偏差来判断各函数的优劣。 ·计算玻尔兹曼常数k。 2、保持PN结正向电压不变,测量PN结正向电流与温度的关系。 ·温差不小于30℃,不少于7组数据。(如何保持PN结的正向电流不变?) ·以此推算反向饱和电流与温度的关系,并计算0K时PN结材料(硅)的禁带宽度。 3、保持PN结正向电流不变,测量PN结正向电压与温度的关系。 ·温差不小于30℃,不少于7组数据。 ·以此推算正向电压与温度的关系,并计算0K时PN结材料(硅)的禁带宽度。 实验数据记录 1、粗测: 粗测时分为三个阶段,第一阶段是V2<0,此时V1<274.66mV,当V2=0时,V1=274.66mV 接下来是第二阶段,V2>0,V1和V2都发生变化,但V2变化幅度逐渐变小,直至几乎不变,当V2=13.503V时,不论V1如何变化,V2都几乎不再发生变化,刚到达此值时,V1=0.4745V 再后来是第三阶段,V1继续变化,但V2几乎不变。 则所取细测范围为274.66mV~0.4745V之间。 细测:(小数点后5位的原测量时单位为mV) 组数V1/V V2/V T/°C 1 0.27320 0.00004 23.7 2 0.28617 0.00420 23.8 3 0.29920 0.01117 23.8 4 0.31217 0.0224 5 23.8 5 0.3252 0.04145 23.8 6 0.3382 0.07314 23.8 7 0.3512 0.12625 23.9 8 0.3642 0.21435 23.9 9 0.3772 0.3617 23.9 10 0.3902 0.6053 23.9 11 0.4032 1.0102 23.9 12 0.4162 1.6975 24.0 13 0.4292 2.8294 24.0 14 0.4422 4.7240 24.1 15 0.4552 7.8870 24.1 16 0.4682 13.108 24.1

半导体PN结的物理特性弱电流测量实验

半导体PN 结的物理特性及弱电流测量实验 【实验目的】 1.在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合指数分布规律。 2.在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。 3.学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流。 4.测量PN 结电压与温度的关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度。 5.计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度。 【实验原理】 1. PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数测量 由半导体物理学可知,PN 结的正向电流-电压关系满足: []1)/ex p(0-=kT eU I I (1) 式中I 是通过PN 结的正向电流,0I 是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降。由于在常温(300K)时,e kT /≈0.026v ,而PN 结正向压降约为十分之几伏,则)/exp(kT eU >>1,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有: )/ex p(0kT eU I I = (2) 也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN 结I-U 关系值,则利用(1)式可以求出 kT e /。在测得温度T 后,就可以得到k e /常数,把电子电量作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼 常数k 。 在实际测量中,二极管的正向I-U 关系虽然能较好满足指数关系,但求得的常数k 往往偏小。这是因为通过二极管电流不只是扩散电流,还有其它电流。一般它包括三个部分:1)扩散电流,它严格遵循(2)式;2)耗尽层符合电流,它正比于)2/exp(kT eU ;3)表面电流,它是由硅和二氧化硅界面中杂质引起的,其值正比于)/exp(mkT eU ,一般m >2。因此,为了验证(2)式及求出准确的e /k 常数,不宜采用硅二极管,而采用硅三极管接成共基极线路,因为此时集电极与基极短接,集电极电流中仅仅是扩散电流。复合电流主要在基极出现,测量集电极电流时,将不包括它。本实验中选取性能良好的硅三极管(TIP31型),实验中又处于较低的正向偏置,这样表面电流影响也完全可以忽略,所以此时集电极电流与结电压将满足(2)式。实验线路如图1所示。

大学物理实验报告 PN结的温度特性的研究及应用

大学物理实验报告 PN结的温度特性的研究及应用得分教师签名批改日期 深圳大学实验报告 课程名称: 大学物理实验(三) 实验名称: pn结的温度特性的研究及应用 学院: 组号指导教师: 报告人: 学号: 班级: 实验地点实验时间: 实验报告提交时间: 1 一、实验设计方案 1、实验目的 了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式。 在工作电流恒定的情况下,测绘PN结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和 被测PN结材料的禁带宽度。 设计用PN结测温的方法。 2、实验原理 2.1 、PN结正向压降和工作电流、及所处的温度的关系: PN 结正向压降和工作电流、及所处的温度的基本函数关系如下: ,,KcKT, ----------(1) 0lnlnVVTTVV,,,,,,,,,,,FgLNLqIqF,, 其中: 导带

,19q,,1.610C,为电子的电荷。禁带 EeV,gF-23-1,K=1.38×10JK,为玻尔兹曼常数, 价带T――绝对温度。 图1 半导体的能带结I――PN结中正向电流。 f 构γ 是热学中的比热容比,是常数。 V(0)是绝对零度时PN结材料的导带底和价带顶的电势差。(半导体材料的能带理论中,把未g 排满电子的能量区域称作价带,空着的能量区域叫导带,不能排列电子的能量区域叫禁带,如图1所示。E叫禁带宽度.) g ,,KTKc,,lnVT 其中,是线性项。是非线性相。 0lnVVT,,,,,, NL,,LgqqIF,, 非线性项较小,(常温下)可忽略其影响,在恒流供电条件下PN结的V对T的依赖关系F取决线性项,即正向压降几乎随温度升高而线性下降。 2.2、PN结测温的方法 如果PN结正向压降在某一温度区域和温度变化恒定电流I F成线性关系,就可以利用这一特性将它作为温度传感器的 转换探头,原理如图2所示。将PN结做成的温度探头放在待温度显示结电压V F测环境中,通以恒定电流,温度变化可以引起结电压变化,图2 PN结测温原理测量结电压,将它转换成温度显示,从而达到测量温度的 目的。 2 在计算机实测实验过程中。将电压转换成温度显示是很简单的,只需作一个计算就可以了。 2.3、实验装置: 温度传感器

半导体PN结的物理特性测量 终定稿

半导体PN 结的物理特性测量 实验目的 (1) 了解用运算放大器测量弱电流的原理和方法。 (2) 测量PN 结结电压与电流关系,证明此关系符合指数分布规律,用作图法求玻尔兹曼常数。 实验仪器 PN 结物理特性实验仪 实验原理 1.PN 结 介于导体与绝缘体之间的物质叫半导体,在半导体中只有一种载流子导电,只有电子(负电荷)导电的半导体叫N 型半导体,只有空穴(正电荷)导电的半导体叫P 型半导体。以一定的工艺制成的P 型半导体和N 型半导体相邻的交接处,由于自由扩散形成的结叫PN 结。 三极管制造工艺的特点:发射极高掺杂浓度;基极很薄几微米到十几微米,减小复合电流;集电极低掺杂浓度,面积较大,有利于接收电子。发射结正向偏置,集电结反向偏置。 2.PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数的测量 半导体在常温下PN 结电压与电流有如下指数关系: 0qU kT S I I e = (1) 公式(1)中0I 为反向饱和电流,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,q 为电子电量,U 为电压。本实验用常规方法测量时,当PN 结电压较小时,PN 结没导通,通过的电流很弱,普通电流表很难准确测量,无法验证真实的电压电流关系和测量玻尔兹曼常数,而采用集成运放对弱电流放大可解决这些问题。 3. 弱电流测量 实验装置如图1所示,所用PN 结由三极管提供,加在三极管B 、E 间的电压1U 则通过的电流为e I ,三极管电流分布满足e b c I I I =+,又因为b I 很小,所以e c I I ≈;LF356是一个高输入阻抗 集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器,把c I 放大成2U ,且它们之间满足线性关系,因此可以说1U 与2U 之间满足指数函数关系,那么1U 与流过PN 结的电流e I 也满足指数关系。其工作原理

【免费下载】PN结伏安特性实验报告模版

深 圳 大 学 实 验 报 告 课程名称: 大学物理实验(1) 实验名称: PN 结的伏安特性测量 学院: 信息工程学院 专业: 班级: 组号: 指导教师: 报告人: 学号: 实验地点: 实验时间: 实验报告提交时间: 教务处制得分教师签名批改日期 高中语用金属套启动,作为布置卷突术是

一、实验目的: 二、实验原理:、管路敷设技术通过管线敷设技术,不仅可以解决吊顶层配置不规范问题,而且可保障各类管路习题到位。在管路敷设过程中,要加强看护关于管路高中资料试卷连接管口处理高中资料试卷弯扁度固定盒位置保护层防腐跨接地线弯曲半径标高等,要求技术交底。管线敷设技术中包含线槽、管架等多项方式,为解决高中语文电气课件中管壁薄、接口不严等问题,合理利用管线敷设技术。线缆敷设原则:在分线盒处,当不同电压回路交叉时,应采用金属隔板进行隔开处理;同一线槽内,强电回路须同时切断习题电源,线缆敷设完毕,要进行检查和检测处理。、电气课件中调试对全部高中资料试卷电气设备,在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验;通电检查所有设备高中资料试卷相互作用与相互关系,根据生产工艺高中资料试卷要求,对电气设备进行空载与带负荷下高中资料试卷调控试验;对设备进行调整使其在正常工况下与过度工作下都可以正常工作;对于继电保护进行整核对定值,审核与校对图纸,编写复杂设备与装置高中资料试卷调试方案,编写重要设备高中资料试卷试验方案以及系统启动方案;对整套启动过程中高中资料试卷电气设备进行调试工作并且进行过关运行高中资料试卷技术指导。对于调试过程中高中资料试卷技术问题,作为调试人员,需要在事前掌握图纸资料、设备制造厂家出具高中资料试卷试验报告与相关技术资料,并且了解现场设备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况,然后根据规范与规程规定,制定设备调试高中资料试卷方案。、电气设备调试高中资料试卷技术电力保护装置调试技术,电力保护高中资料试卷配置技术是指机组在进行继电保护高中资料试卷总体配置时,需要在最大限度内来确保机组高中资料试卷安全,并且尽可能地缩小故障高中资料试卷破坏范围,或者对某些异常高中资料试卷工况进行自动处理,尤其要避免错误高中资料试卷保护装置动作,并且拒绝动作,来避免不必要高中资料试卷突然停机。因此,电力高中资料试卷保护装置调试技术,要求电力保护装置做到准确灵活。对于差动保护装置高中资料试卷调试技术是指发电机一变压器组在发生内部故障时,需要进行外部电源高中资料试卷切除从而采用高中资料试卷主要保护装置。

pn结正向特性的研究实验报告

pn 结正向特性的研究实验报告 实验目的: 1) 了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。 2) 在恒流供电条件下,测绘PN 结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测 PN 结材料的禁带宽度。 3) 学习用PN 结测温的方法。 实验原理: 理想PN 结的正向电流I F 和压降V F 存在如下近似关系 )exp( kT qV Is I F F = (1) 其中q 为电子电荷;k 为波尔兹曼常数;T 为绝对温度;Is 为反向饱和电流,它是一个和PN 结材料的禁带宽度以及温度等有关的系数,可以证明 ])0(ex p[kT qV CT Is g r - = (2) 其中C 是与结面积、掺质浓度等有关的常数:r 也是常数;V g (0)为绝对零度时PN 结材料的导带底和价带顶的电势差。 将(2)式代入(1)式,两边取对数可得 11)0(n r F g F V V InT q kT T I c In q k V V +=-??? ? ??-= (3) 其中 () r n F g InT q KT V T I c In q k V V -=???? ??-=11)0( 这就是PN 结正向压降作为电流和温度函数的表达式。令I F =常数,则正向压降只随温度而变化,但是在方程(3)中,除线性项V 1外还包含非线性项V n1项所引起的线性误差。 设温度由T 1变为T 时,正向电压由V F1变为V F ,由(3)式可得 [] r n F g g F T T q kT T T V V V V ??? ? ??---=111 1)0()0( (4) 按理想的线性温度影响,VF 应取如下形式:

半导体物理学[第六章pn结]课程复习(精)

山东大学《半导体物理》期末复习知识点 第六章 pn结 6.1 理论概要与重点分析 (1)pn结是将同种半导体材料的n型和p型两部分紧密结合在一起,在交界处形成一个结,即称为pn结。为使性能优越,一般采用合金法、扩散法、外延生长法和离子注入法等,改变其掺杂性质来实现这种“紧密接触”的。pn结是重要半导体器件,如结型晶体管及其相应的集成电路的工作核心。 设两种杂质的交界面为xj,如果 杂质有一个较宽的补偿过度阶段,为缓变结,较深的扩散法一般属此种情况。(2)由于在结的两边两种载流子相差悬殊而发生扩散。n区中的电子流入p区,在结附近留下不可以移动的电离施主;同样p区中的空穴流入n区在结的附近留下不可移动的电离受主,形成一个n区为正,p区为负的电偶极层,产生由n区指向p区的自建电场,此电场的作用是阻止载流子进一步相互扩散。或者说产生了一个与扩散相反的载流子漂移,当两者达到平衡时,载流子通过结的净流动为零,达到平衡。建立起一个稳定的空间电荷区和一个稳定的自建电场。n型的一边带正电,电动势高;p型一边带负电,电势低,所产生电动势差称为pn结接触电动势差。这个电动势差对n型区的电子和p型区的空穴各自向对方,运动都形成势垒,使整个结构在结区形成能带弯曲,其弯曲的高度称为势垒高度,它恰恰补偿了原来两边半导体中费米能级的高度差,使两边达到等高的统一费米能级。山东大学《半导体物理》期末复习知识点 (3)pn结上加正向电压V(p型一端接正,n型一端接负)时,外加电压电场与内建电场的方向相反,使内建电场减弱,势垒区变窄,势垒高度由平衡时的q VD变

为q(VD-V)。两区的费米能级分开为EnF-EpF=qV这时由内建电场引起载流子的漂 移减弱,扩散相对增强。于是有一个净的扩散电流从p区通过结流入n区,这便是pn结的正向电流。随外加电压V的增加,势垒高度越来越小,载流子漂移越来越小,扩散进一步增加。因此随外加正向电压的增加,正向电流迅速增大。在pn结上加反向电压(p型一端接负,n型一端接正)时,其外加电场方向与自建电场的方向相同,使势垒由平衡时的q VD增高为q(VD+V),势垒区宽度变宽, 减少了多子的相互扩散,增加了少子的漂移。因此形成了一个由n区流向p区的净电流,称之为反向电流。但因少子的浓度低,而且只有扩散到势垒边界的少子才能被势垒区的强电场拉向另一边。所以反向电流很小,而且不随外加反向电压的增加而增加,达到饱和,因此称之为反向饱和电流。 这就定性地说明了pn结的整流效应。 (4)要推导出pn结的电流电压关系,可按下面的思路得到。 在外加偏压V下(暂时设其为正偏),pn结势垒区的自建电场减弱,使p区和n区有少子的净注入,n区的电子注入p区变成p区的少子,p区的空穴注入n区,成为n区的少子,而积累在势垒区的边界。由于内部少子浓度比边界低,因此它们会从注入的边界向各自内部扩散。在忽略掉势垒区载流子的复合、产生和小注入的条件下,解两边少数载流子的稳态扩散方程,分别求出电压为V时,在势垒边界xn和(-xp)处空穴和电子的扩散电流密度,两者相加,即得到通过pn 山东大学《半导体物理》期末复习知识点

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