无机材料测试技术思考练习题答案

无机材料测试技术思考练习题答案
无机材料测试技术思考练习题答案

1、X射线产生的基本条件是什么?X射线的性质有哪些?

答:X射线产生的基本条件:

(1)产生自由电子

(2)使电子做定向高速运动

(3)在其运动的路径上设置一个障碍物,使电子突然减速。

X射线的性质:

X射线肉眼看不见,可使物质发出可见的荧光,使照相底片感光,使气体电离。X射线沿直线传播,经过电场或磁场不发生偏转,具有很强的穿透能力,可被吸收强度衰减,杀伤生物细胞。

2、连续X射线谱及特征X射线谱的产生机理是什么?

答:连续X射线谱的产生机理:

当高速电子流轰击阳极表面时,电子运动突然受到阻止,产生极大的负加速度,一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时,电子周围的电磁场将发生急剧的变化,必然要产生一个电磁波,该电磁波具有一定的波长。而数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。

特征X射线谱的产生机理:

当X射线管电压加大到某一临界值Vk时,高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K层电子给激发出来。于是低能级上出现空位,原子系统能力升高,处于不稳定的激发状态,随后高能级电子跃迁到K层空位,使原子系统能量降低重新趋于稳定。在这个过程中,原子系统电子从高能级向低能级的这种跃迁,多余的能量将以光子的形式辐射出特征X射线。

3、以表1.1中的元素为例,说明X 射线K 系波长随靶材原子序数的变化规律,并加以解释?

()Z-σ,靶材原子序数越大,X 射线K 系波长越小。 靶材的原子序数越大,对于同一谱系,所需激发电压越高,k k

c

h =eV λ,X 射线K 系波长越小。

4、什么是X 射线强度、X 射线相对强度、X 射线绝对强度?

答:X 射线强度是指垂直于X 射线传播方向的单位面积上在单位时间通过的光子数目的能量总和。

5、为什么X 射线管的窗口要用Be 做,而防护X 光时要用Pb 板? 答:

m -t

I =I e μρ,Be 吸收系数和密度比较小,强度透过的比较大;而Pb 吸收系数和密度比较大,强度透过的比较小。因此X 射线管的窗口要用Be 做,而防护X 光时要用Pb 板。

6、解释X 射线的光电效应、俄歇效应与吸收限,吸收限的应用有哪些? 答:光电效应:X 射线与物质作用,具有足够能量的X 射线光子激发掉原子K 层的电子,外层电子跃迁填补,多余能量辐射出来,被X 射线光子激发出来的电子称为光电子,所辐射的X 射线称为荧光X 射线,这个过程称为光电效应。 俄歇效应:原子在X 射线光子的作用下失掉一个K 层电子,它所处状态为K 激发态,当一个L 2层电子填充这个空位后,就会有数值等于E L2-E k 的能量释放出来,当这个能量E L2-E k >E L ,它就有可能使L 2、L 3、M 、N 等层的电子逸出,产生相应的电子空位,而这被K α荧光X 射线激发出的电子称为俄歇电子,这个过程称为俄歇效应。

7、说明为什么对于同一材料其λk <λk β<λk α。

答:导致光电效应的X 光子能量=将物质K 电子移到原子引力围以外所需作的功

k k h =W v ;k αL k k L k L h =E -E =W -W =h -h v v v ;k βM k k M k M h =E -E =W -W =h -h v v v k βh =v k M h -h v v

又L k E -E

c

v 所以λk <λk β<λk α

8、一元素的特征射线能否激发出同元素同系的荧光辐射,例如,能否用Cu k α激发出Cu k α荧光辐射,或能否用Cu k β激发出Cu k α荧光辐射?或能否用Cu k α X 射线激发Cu L α荧光辐射?为什么?

答:根据能量关系,M 、K 层之间的能量差大于L 、K 成之间的能量差,K 、L 层之间的能量差大于M 、L 层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以k β的能量大于k α的能量,k α 能量大于L α的能量。 因此在不考虑能量损失的情况下:

(1) Cuk α 能激发Cuk α 荧光辐射;(能量相同) (2) Cuk β能激发Cuk α 荧光辐射;(k β> k α) (3) Cuk α能激发CuL α 荧光辐射;(k α>L α)

9、试计算当管电压为50kV 时,X 射线管中电子在撞击靶面时的速度与动能,以及对所发射的连续谱的短波限和辐射光子的最大能量是多少?

解:已知条件:U=50kv ;电子静止质量m 0=9.1×10-31kg ;光速c=2.998×108m/s ;电子电量e=1.602×10-19C ;普朗克常数h=6.626×10-34J ?s

电子从阴极飞出到达靶获得的总动能E=eU=1.602×10-19

C ×50kv=8.01×10-18

kJ 由于E=m 0v 02/2,所以电子与靶碰撞时的速度为v 0=(2E/m 0)1/2=4.2×106m/s

连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0(?)=12400/v(伏) =0.248? 辐射出来的光子的最大动能为E 0=h ?0=hc/λ0=1.99×10-15J

10、计算0.071nm(MoK α)和0.154nm(CuK α)的X 射线的振动频率和能量。 解:对于某物质X 射线的振动频率λ

γC

=

;能量W=h γ?

其中:C 为X 射线的速度 2.998?108m/s;

λ为物质的波长;h 为普朗克常量为6.6253410-?J s ?

对于Mo αK k k C

λγ==1189

810223.410071.0/10998.2--??=??s m

s

m W k =h γ

?k

=1183410223.410625.6--?????s s J =J 1510797.2-?

对于Cu αK k k C

λγ==1189

81095.110154.0/10998.2--??=??s m

s

m W k =h γ

?k

=118341095.110625.6--?????s s J =J 151029.1-?

11、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少? 解:eV k =hc/λ

V k =6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中 h 为普郎克常数,其值等于6.626×10-34

e 为电子电荷,等于1.602×10-19c

故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 12、为使CuK α的强度衰减1/2,需要多厚的Ni 滤波片? 解:由

m -t

I =I e μρ 得t=0.00158cm 13、试计算将Cu 辐射中的IK α/IK β从7.5提高到600的Ni 滤片厚度(Ni 对CuK β

的质量吸收系数μm=350cm 2

/g )。 解:m k -t

k k 0I =I e αμρααm k -t

k k 0I =I e

βμρββ

k 0k 0I =7.5I αβk k I =600I αβ

则()()

m m k k -t --8.9t 45.7-3508==e e αβρμμ** t=7.68×10-4

14、计算空气对CrK α的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和

质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3

g /cm 3

)。 解:μm=0.8×27.7+0.2×40.1=22.16+8.02=30.18(cm 2

/g ) μ=μm ×ρ=30.18×1.29×10-3

=3.89×10-2

cm -1

15、X 射线实验室中用于防护的铅屏,其厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对于CuK α、MoK α和60KV 工作条件下从管中发射的最短波长辐射的透射因数各为多少?

解:透射因数I/I 0=e -μm ρt ,ρPb =11.34g cm -3,t=0.1cm 对CuK α,查表得μm=585cm 2

g -1

其透射因数I/I 0=e -μm ρt =e -585×11.34×0.1=7.82×e -289=71.1310-? 对MoK α,查表得μm=141cm 2g -1,

其透射因数I/I 0=e -μm ρt =e -141×11.34×0.1=3.62×e -70=121.35210-? 16、用倒易点阵概念推导立方晶系面间距公式。 解:d hkl 与其倒易点阵中的倒易矢量长度*

hkl H 成反比hkl *

hkl

1d =H ****

hkl H =ha +kb +c l

又因为立方晶系***

b c c a a b 111

a =

b =

c =

=====V V V a b c

??? 则*hkl

h+k+H =a

l *hkl H =

a ?

因此hkl d

17、利用倒易点阵概念计算立方晶系(110)和(111)面之间的夹角。

18、布拉格方程式中各符号的物理意义是什么?该公式有哪些应用?

布拉格方程各符号物理意义:满足衍射的条件为2dsinθ=nλ

d为面间距,

θ为入射线、反射线与反射晶面之间的交角,称掠射角或布拉格角,而

2θ为入射线与反射线(衍射线)之间的夹角,称衍射角,

n为整数,称反射级数,

λ为入射线波长。

布拉格方程应用:布拉格方程是X射线衍射分布中最重要的基础公式,它形式简单,能够说明衍射的基本关系,一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析—X射线衍射学;另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的波长还可确定试样的组成元素。

电子探针就是按这原理设计的。

19、为什么说劳厄方程和布拉格方程实质上是一样的?

20、一束X射线照射在一个晶面上,除“镜面反射”方向上可获得反射线外,在其他方向上有无反射线?为什么?与可见光的镜面反射有何异同?为什么?

答:有,满足布拉格方程的方向上都能反射。可见光的反射只在晶体表面进行,X射线的反射是满足布拉格方程晶体部所有晶面都反射。

21、α-Fe 属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。如用CrKαX射线(λ=0.2291nm)照射,试求(110)(200)及(211)可发生衍射的掠射角。

解:2hkl d sin θ=λ

hkl λθ=arcsin =arcsin

2d

(110) θ?

(200) θ=arcsin

?

(211) θ=arcsin

=78.2420.2866

?? 22、衍射线的绝对强度、相对强度、累积强度(积分强度)的物理概念是什么? 答:累积强度、绝对强度(积分强度):某一组面网衍射的X 射线光量子的总数。 相对强度:用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而得出的强度相对

比值,实际上是;由I 累除以I0及一定的常数值而来。

23、影响多晶体衍射强度各因子的物理意义是什么?结构因子与哪些因素有关系? 答:多重性因子、结构因子、角因子、温度因子和吸收因子。

结构因子只与原子在晶胞中的位置有关,而不受晶胞的形状和大小的影响。 24、某立方系晶体,其{100}的多重性因子是多少?如该晶体转变成四方晶系,这个晶面族的多重性因子会发生什么变化?为什么?

、(010)、(010)、(001)、(001

)、(010)、(010)。 25、金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为(0,0,0)、(1/2, 1/2,0)、(1/2,0,1/2)、(0,1/2,1/2)、(1/4,1/4,1/4)、(3/4,3/4,1/4)、(3/4,1/4,3/4)、(1/4,3/4,3/4),原子散射因子f a ,求其系统消光规律(F 2简化表达式) ,并据此说明结构消光的概念。 解:

(完整版)无机化学考研试题(含答案,已经整理好的)

一、单选题 第2章 热化学 1、在下列反应中,Q p =Q v 的反应为( ) (A )CaCO 3(s) →CaO(s)+CO 2(g) (B )N 2(g)+3H 2(g) →2NH 3(g) (C )C(s)+O 2(g) →CO 2(g) (D )2H 2(g)+O 2(g) →2H 2O (l ) 2、下列各反应的 (298)值中,恰为化合物标准摩尔生成焓的是( ) (A )2H(g)+ O 2(g)→H 2O (l ) (B )2H 2(g)+O 2(g)→2H 2O (l ) (C )N 2(g)+3H 2(g)→2NH 3(g) (D )N 2(g) +H 2(g)→NH 3(g) 3、由下列数据确定CH 4(g)的 为( ) C(石墨)+O 2(g)=CO 2(g) =-393.5kJ·mol -1H 2(g)+ O 2(g)=H 2O (l) =-285.8kJ·mol -1CH 4(g)+2O 2(g)=CO 2(g)+2H 2O (l ) =-890.3kJ·mol -1 (A )211 kJ·mol -1; (B )-74.8kJ·mol -1;(C )890.3 kJ·mol -1; (D )缺条件,无法算。 4、已知:(1)C(s)+O 2(g)→CO(g), (1)= -110.5k J·mol -1(2)C(s)+O 2(g)→CO 2(g), (2)= -393.5k J·mol -1 则在标准状态下25℃时,1000L 的CO 的发热量是( ) (A )504 k J·mol -1 (B )383 k J·mol -1 (C )22500 k J·mol -1 (D )1.16×104 k J·mol -1 5、某系统由A 态沿途径Ⅰ到B 态放热100J ,同时得到50J 的功;当系统由A 态沿途径Ⅱ到B 态做功80J 时,Q 为 ( ) (A ) 70J (B ) 30J (C )-30J (D )-70J 6、环境对系统作10kJ 的功,而系统失去5kJ 的热量给环境,则系统的内能变化为 ( ) (A )-15kJ (B ) 5kJ (C ) -5kJ (D ) 15kJ 7、表示CO 2生成热的反应是( ) (A )CO (g )+ 1/2O 2(g )=CO 2(g )ΔrHmθ=-238.0kJ.mol-1 (B )C (金刚石)+ O 2(g )=CO 2(g )ΔrHmθ=-395.4kJ.mol-1 (C )2C (金刚石)+ 2O 2(g )=2CO 2(g )ΔrHmθ=-787.0kJ.mol-1 (D )C (石墨)+ O 2(g )=CO 2(g )ΔrHmθ=-393.5kJ.mol-1 二、填空题 1、25℃下在恒容量热计中测得:1mol 液态C 6H 6完全燃烧生成液态H 2O 和气态CO 2时,放热3263.9kJ ,则△U 为-3263.9,若在恒压条件下,1mol 液态C 6H 6完全燃烧时的热效应 为-3267.6。 2、已知H 2O (l )的标准生成焓=-286 k J·mol -1,则反应H 2O (l )→H 2(g)+ O 2(g),在标准状态下的反 应热效应= 286、,氢气的标准摩尔燃烧焓=-286。 3、已知乙醇的标准摩尔燃烧焓(C 2H 5OH ,298)=-1366.95 k J·mol -1,则乙醇的标准摩尔生成焓(298)= -277.56。 三、判断题:(以下说法的正确与错误,尽量用一句话给出你作出判断的根据。) 1、碳酸钙的生成焓等于CaO(s)+CO 2(g)=CaCO 3(s)的反应焓。 2、错误。标准熵是1摩尔物质处于标态时所具有的熵值,热力学第三定律指出,只有在温度T=0K 时,物质的熵值才等于零,所以,标准熵一定是正值。 2、单质的生成焓等于零,所以它的标准熵也等于零。 θ?m rH 21 2123 θ?m f H θ ?m rH 21 θ?m rH θ?m rH 21 θ?m rH θ?m rH φ?m rH θ ?m f H 21θ?m H c θ ?m f H

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路 在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。 X射线物相分析的基本原理是什么呢? 每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。 其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。 衍射花样有两个用途: 一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的; 二是用来测定物相。 所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。 X射线物相分析方法有: 定性分析——只确定样品的物相是什么? 包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。 二、单相定性分析 利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为: ①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样; ②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值; ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 1、标准物质的粉末衍射卡片 标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。

机械工程测试技术课后习题答案 (1)

第三章:常用传感器技术 3-1 传感器主要包括哪几部分?试举例说明。 传感器一般由敏感元件、转换元件、基本转换电路三部分组成。 如图所示的气体压力传感器。其内部的膜盒就是敏感元件,它的外部与大气压力相通,内部感受被测压力p ,当p 发生变化时,引起膜盒上半部分移动,可变线圈是传感器的转换元件,它把输入的位移量转换成电感的变化。基本电路则是完成上述电感变化量接入基本转换电路,便可转换成电量输出。 3-2 请举例说明结构型传感器与物性型传感器的区别。 答:结构型传感器主要是通过传感器结构参量的变化实现信号变换的。例如,电容式传感器依靠极板间距离变化引起电容量的变化;电感式传感器依靠衔铁位移引起自感或互感的变化。 物性型传感器则是利用敏感元件材料本身物理性质的变化来实现信号变换。例如,水银温度计是利用水银的热胀冷缩性质;压电式传感器是利用石英晶体的压电效应等。 3-3 金属电阻应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别? 答: (1)金属电阻应变片是基于金属导体的“电阻应变效应”, 即电阻材料在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化的现象,其电阻的相对变化为()12dR R με=+; (2)半导体应变片是基于半导体材料的“压阻效应”,即电阻材料受到载荷作用而产生应力时,其电阻率发生变化的现象,其电阻的相对变化为dR d E R ρλερ == 。 3-4 有一电阻应变片(见图3-105),其灵敏度S 0=2,R =120Ω,设工作时其应变为1000με,问ΔR =?设将此应变片接成图中所示的电路,试求:1)无应变时电流指示值;2)有应变时电流指示值;3)试分析这个变量能否从表中读出? 解:根据应变效应表达式?R /R =S g ?得 ?R =S g ? R =2?1000?10-6?120=? 1)I 1=R =120=0.0125A= 2)I 2=(R +?R )=(120+?0.012475A= 3)电流变化量太小,很难从电流表中读出。如果采用高灵敏度小量程的微安表,则量程不够,无法测量的电流;如果采用毫安表,无法分辨的电流变化。一般需要电桥来测量,将无应变时的零位位电流平衡掉,只取有应变时的微小输出量,并可根据需要采用放大器放大。 3-5 电容式传感器常用的测量电路有哪几种 答:变压器式交流电桥、直流极化电路、调频电路、运算放大电路等。 图3-105 题3-4图

无机化学考试试卷及答案

化学考试试卷及答案 (样卷2) 一、填表题 (20分) 1.写出反应最终产物 物质 Ni 2+ Hg 2+(NO 3-) Cr 3+ Mn 2+ 加入过量氨水并放置 [Ni(NH 3)6]2+ HgO ?NH 2HgNO 3 Cr(OH)3 MnO(OH)2 2.物质 HgCl 2 SiCl 4 BBr 3 PH 3 中心原子杂化类型 sp sp 3 sp 2 不等性sp 3 分子空间构型 直线型 正四面体型 正三角形 三角锥型 3.物质 晶体类型 晶格结点上粒子 粒子间作用力 熔点相对高低 SiC 原子晶体 Si 原子、C 原子 共价键 高 NH 3 氢键型分子晶体 NH 3 分子 分子间力、氢键 低 二、填空题 (20分) 1. 随着溶液的pH 值增加,下列电对 Cr 2O 72-/Cr 3+、Cl 2/Cl -、MnO 4-/MnO 42-的E 值将分别 减小、不变、不变。 2.Na 2SO 3与__硫粉__共热可制得Na 2S 2O 3,Cl 2可将Na 2S 2O 3氧化为__ Na 2SO 4_。 3.根据E θ(PbO 2/PbSO 4) >E θ(MnO 4-/Mn 2+) >E θ(Sn 4+/Sn 2+),可以判断在组成电对的六种物质中,氧化性最强的是 PbO 2 ,还原性最强的是 Sn 2+ 。 4. 用电对MnO 4-/Mn 2+,Cl 2/Cl -组成的原电池,其正极反应为 MnO 4- + 8H + + 5e → Mn 2+ + 4H 2O ,负极反应为 2 Cl - -2 e → Cl 2 ,电池的电动势等于0.15V ,电池符号为 (-)Pt,Cl 2(p θ)|Cl -‖MnO 4-,Mn 2+,H +|Pt(+)。(E θ(MnO 4-/Mn 2+)=1.51V ;E θ(Cl 2/Cl -)=1.36V ) 5. 下列各溶液浓度均为0.1 mol ?L -1,按pH 值从小到大顺序排列NH 4NO 3, NH 4F, NH 4OAc, KCN, Na 2CO 3。 KCN, NH 4F, NH 4OAc, NH 4NO 3, Na 2CO 3。 ( 已知K θ(NH 3?H 2O)=1.8×10-5, K θ(HF)=6.6×10-4, K θ(HCN)=6.2×10-10, K θ(HOAc)=1.8×10-5, K θ(H 2CO 3)=4.4×10-7, K θ(H 2CO 3)=4.8×10-11) 6. 已知V E A /θ:Cr 2O 72- +1.36 Cr 3+ -0.41 Cr 2+ -0.86 Cr ,则E θ(Cr 2O 72- / Cr 2+ )= 0.917 V ,Cr 2+能否发生歧化反应 不能 。 7. AlCl 3双聚分子的结构式为:__;其中含有两个_3c-4e_键。 8. 因为SnCl 2强烈水解,在配制其溶液时应加入HCl ,水解反应式为 SnCl 2+H 2O Sn(OH)Cl+HCl 。

材料分析测试技术试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co ;b. Ni ;c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差;b. 像散;c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。 a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小 适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一 个最佳厚度(t =

材料分析测试技术复习题 附答案

材料分析测试技术复习题 【第一至第六章】 1.X射线的波粒二象性 波动性表现为: -以波动的形式传播,具有一定的频率和波长 -波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象 粒子性突出表现为: -在与物质相互作用和交换能量的时候 -X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射 2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限 定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱 λ∞,波?当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ 0开始直到波长无穷大长连续分布 ?随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ 0处)向短波端移动 ?λ 0 正比于1/V, 与靶元素无关 ?强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)

?单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述) 短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。 3.连续x射线谱产生机理 【a】.经典电动力学概念解释: 一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。 【b】.量子理论解释: * 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱 * 存在ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出λ0=1.24/ V (nm) (V为电子通过两极时的电压降,与管压有关)。 * 一般ev≥h υ,在极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子 4.特征x射线谱的特点 对于一定元素的靶,当管压小于某一限度时,只激发连续谱,管压增高,射线谱曲线只向短波方向移动,总强度增高,本质上无变化。 当管压超过某一临界值后,在连续谱某几个特定波长的地方,强度突然显著

无机化学期末考试试题及参考答案

药学院无机化学试题及参考答案 (无机化学试题部分) 一、填空题(每空1分,共20分) 1.NH3分子的空间构型是,中心原子N原子采取杂化。 2.原子轨道以方式重叠,轨道重叠部分是沿着键轴呈圆柱形对称而分布的共价键叫键。 3.BeCl2分子为型分子,中心原子采取杂化,分子的固有偶极矩μ(>0,=0)。 4.某反应的△H和△S皆为负值,当温度升高时,△G(增大,减小)。 5.具有ns2np1~6电子构型的是区元素,具有(n-1)d5ns2电子构型的是族元素。 6.酸碱质子理论认为, 是酸,是碱。 7.在含有AgCl固体的饱和溶液中加入盐酸,则AgCl的溶解度;如加入氨水,则其溶解度;若加入KNO3,则其溶解 度。 8.298K时,Mg(OH)2的K sp为1.2×10-11;Ag2CrO4的K sp为9×10-12,则溶解度较大的是 者。 9.产生渗透现象必须具备两个条件,一是,二 是。 10.将0.115g奎宁(M=329.12克/摩)溶解在1.36g樟脑中,其凝固点为442.6K(T f=452.8K,K f=39.70)则凝固点降低为,m 为。 二、选择题(请在备选答案中选择一个正确的答案,并用“√”符号表示。每小题1分,共 20分) 1.下列各组物质中,属于等电子体系的是:( ) A.NO和CN— B.CO和N2 C.O2和NO D.NO和O2 2.第二主族元素的+2价阳离子的碳酸盐(MCO3)中最稳定的是:( )

A.MgCO3 B.CaCO3 C.SrCO3 D.BaCO3 3.下列各分子或离子的稳定性按递增顺序排列的是:( ) A.NO+< NO < NO— B.NO—< NO < NO+ C.NO< NO—< NO+ D.NO< NO+ < NO— 4.下列各组量子数中,不合理的一组是:( ) A.3,0,0,+1/2 B.3,2,3,1/2 C.2,1,0,-1/2 D.4,2,0,1/2 5.298K和101.3kPa下,下列化学方程式所表示的化学反应中属于熵减少的是:( ) A.C(s)+ O2(g) = CO2(g) B.S(s)+ O2(g) = SO2(g) C.2Na(s)+ O2(g) = Na2O2(s) D.N2(g)+ O2(g) = 2NO(g) 6.已知NH3(g)的标准生成热,则反应N2(g)+3H2(g)=2NH3 (g)的热效应为(): A.-46.2; B.46.2 C.-92.4 D.92.4 7.a,b,c三个电子具有的量子数(n,l,m)为a:3,2,0;b:3,1,0;c:3,1,-1。 三个电子的能量大小顺序为:( ) A.a>b>c; B.a> c > b; C.a>b=>c; D. c> a>b; 8.稀溶液依数性的本质是() A、渗透压 B、沸点升高 C、蒸气压降低 D、凝固点降低 9.现有蔗糖(C12H22O11)、氯化钠、氯化钙三种溶液,它们的浓度均为0.1mol?L-1,则渗透压由低到高的顺序是() A、CaCl2

测试技术基础试题及答案1

北京工业大学2007—2008学年第二学期 测量技术基础试卷(开卷) 班级学号姓名成绩 一、填空题(25分,每空1分) 1.时间常数τ是一阶传感器动态特性参数,时间常数τ越小,响应越快,响应曲线越接近于输入阶跃曲线。 2.满足测试装置不失真测试的频域条件是幅频特性为一常数和相频特性与频率成线性关系。3.电荷放大器常用做压电传感器的后续放大电路,该放大器的输出电压与传感器产生的电荷量成正比,与电缆引线所形成的分布电容无关。 4.信号当时间尺度在压缩时,则其频带变宽其幅值变小。 5.当测量较小应变值时,应选用电阻应变效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。6.电感式和电容式传感器常采用差动方式,不仅可提高灵敏度,且能改善或消除非线性。7.电涡流传感器是利用金属材料的电涡流效应工作,可分为低频透射式和高频反射式两种,其中前者常用于材料厚度的测量。

8.在调制解调技术中,将控制高频振荡的低频信号称为 调制波 ,载送低频信号的高频振荡信号称为 载波 ,将经过调制过程所得的高频振荡波称为 已调制波 。 9.已知()t t x ωsin 12=,()t δ为单位脉冲函数,则积分()?∞ +∞-?? ? ?? -?dt t t x ωδ2π= 12 。 10.已知霍尔式转速传感器的测速齿轮的齿数为20,若测得感应电动势的频率为300Hz ,则被测轴的转速为 900r/min 。 11. RC 低通滤波器中的RC值越大,则其上限截止频率越 小 。 12. 频率混叠是由于 采样频率过低 引起的,泄漏则是由于 信号截断 所引起的。 二、选择题(15分,每题1.5分) 1.离散、周期的时域信号频谱的特点是( C )的。 A 非周期、离散? B 非周期、连续 C 、周期、离散 D 周期、连续 2.按传感器能量源分类,以下传感器不属于能量控制型的是( C )。 A 电阻传感器? B 电感传感器 C 光电传感器 D 电容传感器 3.变磁通感应式传感器在测量轴的转速时,其齿盘应采用( B )材料制成。 A 金属 B 导磁 C 塑料 D 导电 4.测试装置能检测输入信号的最小变化能力,称为( D )。 A 精度 B 灵敏度 C 精密度 D 分辨力 5.数字信号的特征是( B )。 A 时间上离散,幅值上连续 B 时间、幅值上都离散 C 时间上连续,幅值上量化 ? D 时间、幅值上都连续

材料测试分析方法(究极版)

绪论 3分析测试技术的发展的三个阶段? 阶段一:分析化学学科的建立;主要以化学分析为主的阶段。 阶段二:分析仪器开始快速发展的阶段 阶段三:分析测试技术在快速、高灵敏、实时、连续、智能、信息化等方面迅速发展的阶段4现代材料分析的内容及四大类材料分析方法? 表面和内部组织形貌。包括材料的外观形貌(如纳米线、断口、裂纹等)、晶粒大小与形态、各种相的尺寸与形态、含量与分布、界面(表面、相界、晶界)、位向关系(新相与母相、孪生相)、晶体缺陷(点缺陷、位错、层错)、夹杂物、内应力。 晶体的相结构。各种相的结构,即晶体结构类型和晶体常数,和相组成。 化学成分和价键(电子)结构。包括宏观和微区化学成份(不同相的成份、基体与析出相的成份)、同种元素的不同价键类型和化学环境。 有机物的分子结构和官能团。 形貌分析、物相分析、成分与价键分析与分子结构分析四大类方法 四大分析:1图像分析:光学显微分析(透射光反射光),电子(扫描,透射),隧道扫描,原子力2物象:x射线衍射,电子衍射,中子衍射3化学4分子结构:红外,拉曼,荧光,核磁 获取物质的组成含量结构形态形貌及变化过程的技术 材料结构与性能的表征包括材料性能,微观性能,成分的测试与表征 6.现代材料测试技术的共同之处在哪里? 除了个别的测试手段(扫描探针显微镜)外,各种测试技术都是利用入射的电磁波或物质波(如X射线、高能电子束、可见光、红外线)与材料试样相互作用后产生的各种各样的物理信号(射线、高能电子束、可见光、红外线),探测这些出射的信号并进行分析处理,就课获得材料的显微结构、外观形貌、相组成、成分等信息。 9.试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施 衍射花样要素:衍射线的峰位、线形、强度 答:(I)花材的选用影晌背底; (2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响 措施:(1)选靶靶材产生的特征x射线(常用Kα射线)尽可能小的激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样背底,使图像清晰。(2)滤波,k系特征辐射包括Ka和kβ射线,因两者波长不同,将使样品的产生两套方位不同得衍射花样;选择浪滋片材料,使λkβ靶<λk滤<λkα,Ka射线因因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。(3)样品,样品晶粒为50μm左右,长时间研究,制样时尽量轻压,可减少背底。 11.X射线的性质; x射线是一种电磁波,波长范围:0.01~1000à X射线的波长与晶体中的原子问距同数量级,所以晶体可以用作衍射光栅。用来研究晶体结构,常用波长为0.5~2.5à 不同波长的x射线具有不同的用途。硬x射线:波长较短的硬x封线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。软x射线:波长较长的软x射线的能量较低,穿透性弱,可用干分析非金属的分析。用于金属探伤的x射线波长为0.05~0.1à当x射线与物质(原子、电子作用时,显示其粒子性,具有能量E=h 。产生光电效应和康普顿效应等 当x射线与x射线相互作用时,主要表现出波动性。 x射线的探测:荧光屏(ZnS),照相底片,探测器

无机化学(药学专)——考试题库及答案.docx

下列电子的量子数(n, l, m和m s)不合理的是 收藏 A. 3, 0, 0, +1/2 B. 3, 1 , 0, -1/2 C. 3, 0, 0, -1/2 D. 3, 3, 0, +1/2 回答错误!正确答案:D NaH2PO4的共轴酸是 收藏 A. Na2HPO4 B. Na3PO4 C. NaHCO3 D. H3PO4 回答错误!正确答案:D ■?…一 . . 、?…、...... 12 . . 一■.一.... 、一种元素的相对原子质量,是该元素的一定质量与核素6C的摩尔质量的1/12的比值,这 一质量是 收藏 A. 原子质量 B. 各核素原子质量的平均质量 C. 平均质量 D. 1mol原子平均质量 回答错误!正确答案:D 下列说法错误的是 收藏 A. 基元反应都是多分子反应。 B. 一步完成的反应是基元反应。 C. 由一个基元反应构成的化学反应称简单反应 D.

由两个或两个以上基元反应构成的化学反应称复杂反应。 回答错误!正确答案:A 需配制Ph=5的缓冲溶液,选用收藏 A. HAc-NaAc (pKa=4.75) B. NaH2PO4-Na2HPO4 (pKa2=7.2 ) C. Na2CO3-NaHCO3 ( pKa2=10.25 ) D. NH3.H2O-NH4Cl (pKb=4.75 ) 回答错误!正确答案:A 某元素的电子构型为[A门3d64s0的离子是收藏 A. Fe3+ B. Ni2+ C. Mn2+ D. Co3+ 回答错误!正确答案:D 配合离子[CuCl5]3-的中心离子收藏 A. sp2 B. dsp3 C. sp3 D. dsp2 回答错误!正确答案:B 以下平衡不属于化学平衡的是收藏 A. 沉淀溶解平衡和配位平衡 B. 常温下水的蒸发与凝结平衡 C. 酸碱电离平衡和氧化还原平衡 D. N2 + 3H2 == 2NH3 回答错误!正确答案:B 催化剂是通过改变反应进行的历程来加速反应速率,这一历程影响收藏

现代材料测试技术复习题及答案

. ... .. 现代材料测试技术复习 第一部分 填空题: 1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种电磁波。 2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即衍射线的峰位、线形、强度。 3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要稳定、强度大、光谱纯洁。 4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。 5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种,它们分别是7/8高度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重心法、抛物线法。 6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是哈那瓦尔特索引、芬克索引、字顺索引。 7、特征X射线产生的根本原因是原子层电子的跃迁。 8、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。 9、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:连续X射线光谱和特征X射线光谱。 10、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X射线的衰减。 11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管,其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。 12、光源单色化的方法:试推导布拉格方程,解释方程中各符号的意义并说明布拉格方程的应用 名词解释 1、X-射线的衰减:当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X-射线的吸收。 2、短波限:电子一次碰撞中全部能量转化为光量子,此光量子的波长 3、吸收限:物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大,称吸收限。吸收限:引起原子层电子跃迁的最低能量。 4、吸收限电子--hv 最长波长与原子序数有关 5、短波限 hv--电子最短波长与管电压有关 6、X射线:波长很短的电磁波 7、特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线。 8、连续X射线:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。 9、荧光X射线:当入射的X射线光量子的能量足够大时,可以将原子层电子击出,被打掉了层的受激原子将发生外层电子向层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征X射线 10、二次特征辐射:利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线 11、Ka辐射:电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线 12、相干辐射:X射线通过物质时在入射电场的作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线,称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波符合相干条件,称为相干散射 13、非相干辐射:散射位相与入射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相干的 14、俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后,L层的一个电子跃迁入K层填补空白,剩下的能量不是以辐射 15、原子散射因子:为评价原子散射本领引入系数f (f≤E),称系数f为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

无机化学练习题(含答案)

无机化学练习题(含答案) 第1章原子结构与元素周期系 1-1 试讨论,为什么有的元素的相对原子质量(原子量)的有效数字的位数多达9位,而有的元素的相对原子质量(原子量)的有效数字却少至3~4位? 分子分解为Br原子需要的最低解离能为190kJ/mol,求引起溴分子解离1-2 Br 2 需要吸收的最低能量子的波长与频率。 1-3 氢原子核外电子光谱中的莱曼光谱中有一条谱线的波长为103nm,问:它相应于氢原子核外电子的哪一个跃迁? 1-4 周期系中哪一个元素的电负性最大?哪一个元素的电负性最小?周期系从左到右和从上到下元素的电负性变化呈现什么规律?为什么? 1-5 什么叫惰性电子对效应?它对元素的性质有何影响? 1-6 当氢原子的一个电子从第二能级层跃迁至第一能级层时发射出光子的波长是121.6nm;当电子从第三能级层跃迁至第二能级层时,发射出光子的波长是656.3nm。问哪一个光子的能量大? 1-7 有A,B,C,D四种元素。其中A为第四周期元素,与D可形成1:1和1:2原子比的化合物。B为第四周期d区元素,最高氧化数为7。C和B是同周期元素,具有相同的最高氧化数。D为所有元素中电负性第二大元素。给出四种元素的元素符号,并按电负性由大到小排列之。 1-8有A,B,C,D,E,F元素,试按下列条件推断各元素在周期表中的位置、元素符号,给出各元系的价电子构型。 (1)A,B,C为同一周期活泼金属元素,原子半径满足A>B>C,已知C有3个电子层。 (2)D,E为非金属元素,与氢结合生成HD和HE。室温下D的单质为液体,E 的单质为固体。 (3)F为金属元素,它有4个电子层并且有6个单电子。 第2章分子结构

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料(注:所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题,) 第一章x射线的性质 1.X射线的本质:X射线属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较为可见光短,约与晶体的晶格常数为同一数量级,在10-8cm左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播;粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。 2,X射线的产生条件:a产生自由电子;b使电子做定向高速运动;c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 3,对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称为X射线谱。在管电压很低,小于某一值(Mo阳极X射线管小于20KV)时,曲线变化时连续变化的,称为连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo,称为短波限,在高速电子打到阳极靶上时,某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量子便具有最高的能量和最短的波长,这波长即为λo。λo=1.24/V。 4,特征X射线谱: 概念:在连续X射线谱上,当电压继续升高,大于某个临界值时,突然在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,改变管电流、管电压,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线,由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱,而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。 产生:当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,或击到原于系统之外,或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子的系统能量因此而升高,处于激发态。这种激发态是不稳定的,势必自发地向低能态转化,使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的,电子由高能级向低能级跃迁的过程中,有能量降低,降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量,对于原子序数为Z的确定的物质来说,各原子能级的能量是固有的,所以.光子能量是固有的,λ也是固有的。即特征X射线波长为一固定值。 能量:若为K层向L层跃迁,则能量为: 各个系的概念:原于处于激发态后,外层电子使争相向内层跃迁,同时辐射出特征x射线。我们定义把K层电子被击出的过程叫K系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫K系辐射,同理,把L层电子被击出的过程叫L系激发,随之的电子跃迁所引起的辐射叫L系辐射,依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能级数目的不同把同一辐射线系分成几类,对跨越I,2,3..个能级所引起的辐射分别标以α、β、γ等符号。电子由L—K,M—K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起的K系辐射定义为Kα,Kβ谱线;同理,由M—L,N—L电子跃迁将辐射出L系的Lα,Lβ谱线,以此类推还有M线系等。 莫赛莱定律:特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构,而与其它外界因素无关。 5,X射线的吸收:

无机化学试题与答案

无机化学试题 一、选择题(20分,每题2分) 1.已知:298K时,反应 C(石墨)+O2(g)→CO2(g)⊿r H mΘ=-393.5kJ ·mol-1 CO(g)+1/2O2(g)→CO2(g) ⊿r HmΘ=-283.0kJ ·mol-1 则反应C(石墨)+ 1/2O2(g)→CO(g)的⊿r H mΘ等于( )。 A.110.5kJ·mol-1 B.- 110.5 kJ ·mol-1 C.-676.5 kJ·mol-1D.676.5 kJ ·mol-1 2.已知反应A(g)+2B(l) ? 4C(g)的平衡常数kθ=0.123,则反应4C(g)?A(g)+2B(l)的平衡常数为() A.0.123 B. -0.123 C.8.31 D. 6.47 3.根据下列反应:2Fe3++ Fe →3Fe2+ 2FeCl 3 + Cu →2FeCl 2 + CuCl 2 2KMnO 4 + 10FeSO 4 + 8H 2 SO 4 →2MnSO 4 + 5Fe 2 (SO) 3 + K 2 SO 4 + 8H 2 O 判断电极电势最大的电对是( ) A.MnO 4 -/Mn2+ B.Fe3+/Fe2+ C.Fe2+/Fe D.Cu2+/Cu 4.BCl3分子中,B以SP2杂化轨道成键,则该分子的空间构型是( ) A.三角形 B.平面三角形C.直线形 D.四面体 5.对于主量子数n=3的电子层,可以容纳的轨道数n2和电子数是( ) A.3和6 B.3和9 C.9和18 D.3和18 6.在配合物K3[C O C13(NO 2 )3]中,中心离子的电荷是( ) A. +5 B. +4 C.+3 D.+2 7.下列氧化物中,熔点最高的是( ) A. CaO B. MgO C.SO3 D. P2O5 8.原电池符号为: (-)Zn∣ZnS0 4(c 1 )‖Fe 2 (S0 4 ) 3 (c 2 ), FeS0 4 (c 3 )∣Pt(+)

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

材料分析测试技术部分课后答案 太原理工大学材料物理0901 除夕月 1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。 ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 J ν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1 E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J 1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能. E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 J λ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量) V=(2eV/m)1/2=(2*8.01*10-15/9.1*10-31)1/2=1.32*108m/s 1-3分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射; (2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;

(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。 答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。最内层能量最低,向外能量依次增加。 根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以K?的能量大于Ka 的能量,Ka能量大于La的能量。 因此在不考虑能量损失的情况下: CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同) CuK?能激发CuKa荧光辐射;(K?>Ka) CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la) 1-4 以铅为吸收体,利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图,用图解法证明式(1-16)的正确性。(铅对于上述Ⅹ射线的质量吸收系数分别为122.8,84.13,66.14 cm2/g)。再由曲线求出铅对应于管电压为30 kv条件下所发出的最短波长时质量吸收系数。 解:查表得 以铅为吸收体即Z=82 Kαλ3 λ3Z3 μm Mo 0.714 0.364 200698 122.8 Rh 0.615 0.233 128469 84.13 Ag 0.567 0.182 100349 66.14 画以μm为纵坐标,以λ3Z3为横坐标曲线得K≈8.49×10-4,可见下图 铅发射最短波长λ0=1.24×103/V=0.0413nm λ3Z3=38.844×103 μm = 33 cm3/g 1-5. 计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3g/cm3)。 解:μm=0.8×27.7+0.2×40.1=22.16+8.02=30.18(cm2/g) μ=μm×ρ=30.18×1.29×10-3=3.89×10-2 cm-1 1-6. 为使CuKα线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni滤波片?(Ni的密度为8.90g/cm3)。1-7. CuKα1和CuKα2的强度比在入射时为2:1,利用算得的Ni滤波片之后其比值会有什么变化? 解:设滤波片的厚度为t 根据公式I/ I0=e-Umρt;查表得铁对CuKα的μm=49.3(cm2/g),有:1/2=exp(-μmρt) 即t=-(ln0.5)/ μmρ=0.00158cm 根据公式:μm=Kλ3Z3,CuKα1和CuKα2的波长分别为:0.154051和0.154433nm ,所以μm=K

无机化学练习题(含答案)

无机化学练习题(含答案) 第1 章原子结构与元素周期系 1- 1 试讨论,为什么有的元素的相对原子质量(原子量)的有效数字的位数多达 9 位,而有的元素的相对原子质量(原子量)的有效数字却少至3~4 位? 1- 2 Br2分子分解为Br原子需要的最低解离能为190kJ/mol ,求引起溴分子解离需要吸收的最低能量子的波长与频率。 1- 3 氢原子核外电子光谱中的莱曼光谱中有一条谱线的波长为103nm ,问:它相应于氢原子核外电子的哪一个跃迁? 1- 4 周期系中哪一个元素的电负性最大?哪一个元素的电负性最小?周期系从左到右和从上到下元素的电负性变化呈现什么规律?为什么? 1-5 什么叫惰性电子对效应?它对元素的性质有何影响? 1-6 当氢原子的一个电子从第二能级层跃迁至第一能级层时发射出光子的波长 是121.6nm ;当电子从第三能级层跃迁至第二能级层时,发射出光子的波长是 656.3nm 。问哪一个光子的能量大? 1-7 有A,B,C,D 四种元素。其中A 为第四周期元素,与D 可形成1:1 和1:2 原子比的化合物。B为第四周期d区元素,最高氧化数为7 °C和B是同周期元素,具有相同的最高氧化数。 D 为所有元素中电负性第二大元素。给出四种元素的元素符号,并按电负性由大到小排列之。 1-8 有A,B,C,D,E,F 元素,试按下列条件推断各元素在周期表中的位置、元素符号,给出各元系的价电子构型。 (1)A,B,C为同一周期活泼金属元素,原子半径满足A>B>C,已知C有3个电子层。 (2)D,E为非金属元素,与氢结合生成HD和HE。室温下D的单质为液体,E 的

单质为固体。 (3)F为金属元素,它有4个电子层并且有6个单电子。 第 2 章分子结构 2- 1 键可由s-s、s-p 和p-p 原子轨道“头碰头”重叠构建而成,试讨论LiH (气态分子)、HCl、Cl2 分子里的键分别属于哪一种? 2- 2 NF 3 和NH 3 的偶极矩相差很大,试从它们的组成和结构的差异分析原因。 2- 3 一氧化碳分子与酮的羰基(>C=O )相比,键能较小,键长较小,偶极矩则小得多,且方向相反,试从结构角度作出解释。 2- 4 考察表2-5 中HCl 、HBr 、HI 的色散力、取向力、诱导力以及它们构成的范德华力的顺序,并作出解释。 2-5 从表2-6 可见,氟化氢分子之间的氢键键能比水分子之间的键能强,为什么水的熔、沸点反而比氟化氢的熔沸点低? 2-6已知NaF晶体的晶格能为894kJ mol -1, Na原子的电离能为494 kJ mol -1, 金属钠的升化热为101 kJ mol-1,F2分子的离解能为160 kJ mol-1,NaF的标准摩尔生成热为-571 kJ mol-1,试计算元素F的电子亲合能。 2-7 试用杂化轨道理论讨论下列分子的成键情况。 BeCl2, PCl5, OF2, ICl3, XeF4。 2-8 用价层电子对互斥理论推测下列分子或离子的空间构型。 BeCl2, SnCl3-, ICl2+, XeO4, BrF3, SnCl2, SF4,ICl2-, SF6。 2-9 画出HF 的分子轨道能级图并计算分子的键级。 2-10已知N与H的电负性差(0.8)小于N与F的电负性差(0.9),解释NH 3 分子偶极矩远比NF3大的原因

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