手机微跌落试验机

型号：HK-8305A/HK-8305B

一、手机微跌落试验机用途：

本机适用于手机、电话机听筒、对讲机、MP3、CD、电子词典等小型电子消费类产品作重复跌落测试

二、手机微跌落试验动作原理：

先把手机放入到跌落夹具内，调整好合适的大小位置，步进电机带动真空吸盘将手机吸住，上升后松开吸盘，手机成自由跌落运动，如此反复直至设定次数。

三、手机微跌落测试机特点：

可设定次数自动停止，

跌落表面材料：铝，厚度为12mm。

提示功能：能设定按键次数定值，可自动停止测试。

本机采用步进电机、SMC真空吸盘作为手机提起、跌落驱动源，能实现手机等产品反复跌落，以检测产品由一定高度落下之耐冲击性；

由于采用气动组件及专制控制方式，极大地提升测试速度和一致性；采用美国显控摸式控制屏+PLC可编程控制器作动作程控；独立计数，到达设定次数自动停止测试

四、微跌落试验机技术参数：

1、同时跌落手机：1台或2台

2、允许试件重量：2kg(max)

3、跌落高度：60-300mm, 60-500mm, 60-800mm(可选择)

4、测试速度范围：6～20次/min

5、PLC控制器及触摸屏：1套

6、机器尺寸：W420*H1350*D370mm

7、机器重量：约30或40kg

8、气源：≥0.5Mpa

9、电源：AC 220V 或指定

备注：制作部分电气与主体为一体式

五、手机微跌落仪主要配置

1、触摸屏：1个、PLC：1个

2、步进电机：1套

3、真空吸盘：2个（SMC）

一、仪器介绍：

本机适用于手机、电话机听筒、对讲机、MP3、CD、电子词典等小型电子消费类产品作重复跌落测试。

二、设计原理:

升降电机带动上夹具（气手指）下降将手机夹住，上升，松开气手指，手机成自由跌落运动，此时双动气缸伸缩将手机推至上夹具能夹住之位置，升降电机带动上夹具（气手指）下降将手机夹住，上升，桦开气手指，手机成自由跌落运动，如此反复直至设定次数。三、特点：

可设定高度和次数,自动停止,

跌落表面材料：铝，厚度为12mm。跌落处采用六个复位气缸。

提示功能：能设定按键次数定值，可自动停止测试。

本机采用日本步进电机,SMC气缸作为手机提起、跌落驱动源，配以精密双动气缸作归位动作，耐久使用；能实现手机等产品反复跌落，以检测产品由一定高度落下之耐冲击性；

由于采用气动元件及专制控制方式，极大地提升测试速度和一致性；采用液晶触摸式控制屏日本PLC可编程控制器作动作程控；独立计数，到达设定次数自动停止测试

四、技术参数：

同时跌落手机1-2台

允许试件重量2kg(max)

跌落最大尺寸100X160mm

跌落高度60-150ｍｍ

测试速度范围6～20次/min

PLC控制器及触摸屏1套

机器尺寸W420*H950*D370mm

机器重量约80kg

气源≥0.5Mpa

电源AC 220V 或指定

备注制作部分电气与主体为一体式五、主要配置：

触摸屏1个

PLC 1个

上升、下降电机2套

夹持推进气缸2个

机械手指2个

产品跌落试验标准

产品跌落试验标准 1目的用来测试、评估产品在生产、使用、存贮、运输过程中可能遇到的意外跌落、冲击压力及震动时现时包装方法及材料能否提供有效保护、及验证产品各结构或部件的耐冲击强度。 2范围适用于本公司内所有毛重在30公斤以内的包装成品。各部门若有需要时均可委托品质部试验室进行测试。各类型产品第一次生产或包装材料、方法有更改时须做此测试.当产品零部件更改时视乎必要做此项测试。客户无特别要求时,按此作业指引测试产品包装可靠性.若客户有特别要求时则按客户标准或规范要求进行测试。【 3 职责品质部主管负责测试包装之可靠性. 4 定义若客户对包装可靠性测试无明文规定,将釆用垂直冲击跌落方法. 5 程序垂直冲击跌落试验方法: 5.1.1 试验前样板的准备 5.1.1.1 试验前须测试产品的功能、安全及外观检查,确定正常之后方可进行跌落试验. 、 5.1.1.2 须按规定的方法包装样品（参照生产指令或规格书）,且配件不可漏放. 5.1.1.3 若客户对封箱有特别要求（如打带）则按客户要求进行，若客户无特别要求则: 包盒用2寸透明胶纸封箱,外卡通箱用3寸透明胶纸封箱. 5.1.1.4 测试样品不可少于2整箱或4PCS成品. 5.1.2 跌落顺序 5.1.2.1 接缝边之底角. 5.1.2.2 “1”角三边中最短的边。 5.1.2.3 “1”角三边中次短的边。 5.1.2.4 “1”角三边中最长的边。 5 7 : 5.1.2.5 “1”角邻近最小的面。 9 2 4 5.1.2.6 与“5”相对的最小面。 3 1 5.1.2.7 “1”角邻近的中等面。 5.1.2.8 与“7”相对的中等面。

ORT手机滚筒跌落测试规范V1.1.doc

Reliability Laboratory of Huawei Technologies ORT手机滚筒跌落测试规范批准（Approval）：刘春林审核（Review ）：张世强拟制（Prepare）：简琴

1 修订记录 2 测试目的测试手机是否能承受连续多次跌落的适应性。 3 测试参数 0.5m，100次 + 1m，100次。每50次检查一次。 4 测试准备 4.1 设备、耗材 1)滚筒跌落试验机 1米滚筒跌落试验机（底板为铁板）

●0.5米滚筒跌落试验机（底板为铁板） ●0.5米滚筒跌落试验机（底板为木板） 2)宽度为24mm的美纹胶带

4.2 样品 ●样品上标示清楚产品号、测试试验编号、样品序号、测试项目等 ●样品标签尽量贴在显示屏可视区域外，不可以遮挡住接近光感应器和前置摄像头 ●确保电池量在30%以上 ●装上SD卡、SIM卡

5 试验步骤 5.1 初始检测 ●检查样机外观状况：TP、LCD是否良好；壳体、涂层是否有开裂、合缝变大现象；电池盖是否良好等。 ●注意须安装相应的APK用于后续功能检测。 ●具体检测项目和需安装APK，请参见《产品ORT测试方案》。 5.2 测试步骤 1)用美纹胶带粘住样品电池盖和边框，使电池盖在测试过程中不会脱落美纹胶带不能粘到TP、按键、插孔保护塞、装饰件 2)打开手机短信界面后将手机锁屏 3)滚筒设备的选择 ●按产品ORT测试方案要求选择0.5m滚筒和1m滚筒。公司标准使用底板是铁板的滚筒，VDF 标准使用底板为木板的滚筒。 ●调整设备转速（设置方法，参考设备操作指导书）：1m（10-15次/分）、0.5m（15- 20

跌落试验机测试原理解析

跌落试验机测试原理解析物件跌落试验机的两种跌落方式。标准内容标准试验分为两种方法。第一种方法通常是用来模拟非包装状态的产品在搬运期间可能经受到的自由跌落，样品通常是按照规定的姿态从规定的高度跌落到规定的表面上两次。第二种方法通常用来模拟附在电缆上的连接器、小型遥控装置等在使用中可能经受的重复自由跌落。使试验样品从规定高度重复跌落到规定的表面上。它是通过使用合适的设备，例如(旋转)滚筒来实现的。方法一：自由跌落一、目的确定产品在搬运期间由于粗率装卸遭到跌落的适应性，或确定安全要求用的最低牢固等级。本试验主要用于非包装的试验样品，以及在运输箱中其包装可以作为样品一部分的试验样品。二、试验条件 2.1 试验表面试验表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面。必要时，有关规范可以规定其它表面。 2.2 跌落高度是指试验样品在跌落前悬挂着的时候，试验表面与离它最近的样品部位之间的高度。 2.3 释放方法释放试验样品的方法应使试验样品从悬挂着的位置自由跌落。释放时，要使干扰最小。三、严酷等级

应从下列诸值中选取跌落高度： (25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。带括号的数值是优选值。注：重型设备不宜经受较高的严酷等级。四、初始检测按有关规范的规定对样品进行外观检查、电性能和机械性能检测。五、条件试验 5.1 应按有关规范的规定，使样品处于正常运输和使用时的姿态进行自由跌落。 5.2 除非有关规范另有规定，试验样品应该从每个规定的位置跌落两次。六、最后检测试验样品应按有关规范的规定进行外观检查、电性能和机械性能检测。七、有关规范应给出的内容当有关规范采用本试验时，应给出下列详细内容： a)试验表面，如果不是混凝土或刚质的(见2.1); b)跌落高度(见第3章); c)初始检测(见第4章); d)试验样品开始跌落时的姿态(见5.1); e)跌落次数(如果不是两次)(见5.2);

跌落试验标准

跌落试验标准/跌落试验方法跌落试验标准/跌落试验方法本标准等效采用国际标准ISO2248-1985（包装完整、满装的运输包装件垂直冲跌落试验） 1主题内容与适用范围本标准规定了对运输包装件进行垂直冲击试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容本标准适用于评定运输包装件在受到垂直冲击时的耐冲击强度度及包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验，也可以作为一系列试验的组成部分。 2引用标准 gb/t4857.1包装运输包装件各部位的标示方法 gb/y4857.2包装运输包装件温湿度调节处理 gb/t4857.17包装运输包装件编制性能试验大纲的一般原理 gb/t4857.1包装运输包装件编制性能试验大纲的定量数据 3试验原理提起试验样品至预定高度，然后使期按预定状态自由落下，与冲击台面相撞 4试验设备 4.1冲击台冲击台面为水平平面，试验时不移动、不变形，并满足下列要求 A、为整块物体，质量至少为试验样品质量的50倍 B、要有足够大的面积，以保证试验样品完全落在冲击台面上 C、在冲击台上任意两点的水平高度不得超过2mm D、冲击台面上任何100mm2的面积上承受10kg的静负荷时，其变形量不得超过0.1mm 4.2提升装置在提升或下降过程中，不应损坏试验样品 4.3支撑装置支撑试验样品的装置在释放前应能使试验样品处于所发求的预定状态 4.4释放装置在释放试验样品跌落过程中，应使试验样品不碰到装置的任何部件，保证其自由跌落5试验步骤提起试验样品至所需的跌落高度位置，并按预定状态将其支撑住。其直起高度与预定之差不得超过预定高度的±2%。跌落高度是指准备释放时试验样品是最低点与冲击台面之间的距离按下列预定状态，释放试验样品面跌落时，使试验样品的跌落面与水平面之间的夹角最大不超过2° 棱跌落时，使跌落的棱与水平面这间的夹角最大不超过2°试验样品上规定面与冲击台面夹角的误差不大于±5°或夹角的10%（以较大的数值为准），使试验样品的重力线通过被跌落的

华为手机整机检验标准.汇总-共14页

1 目的此标准规定了手机成品品质接收标准,保证手机外观、标识、包装及一般性能符合设计要求，确保产品品质。 2 适用范围适用于本公司所有手机产品在代工厂或自行生产的制程质量评估与出货抽样检验。 3 参考文件 3.1 各款手机的ID图及相关文件; 3.2 各款手机的MD产品装配图及类似相关文件。 3.3 GB/T2828.1-2019 逐批检查技术抽样程序及抽样表 4 定义 4.1 Cri，Critical Defect，致命缺陷：对产品使用者人身与财产安全构成威胁的缺陷； 4.2 Maj，Major Defect，主要缺陷：制品单位的性能不能满足该产品预定的功能或严重影响该产品正常使用性能或可导致客户退机的外观等缺陷； 4.3 Min，Minor Defect，次要缺陷：对产品外观产生轻微影响的缺陷； 4.4 Acc，Acceptable Defect，可接受缺陷：可以接受的缺陷，在产品制程质量评估时使用，在产品出货抽样检验中仅供参考； 4.5 封样，Golden Sample，也称为样板：由设计部门或品管部门或销售部签名认可的、用于确认和鉴别各种订制结构件来料批量供货质量的样品；一般可分为标准样板和/或上限样板、下限样板（上/下限样板一般需征求销售部意见）、结构样板等。 5 抽样计划与接受标准及产品外观检查方式和条件： 5.1 抽样计划：按照国标GB/T2828.1-2019 (或等同标准)，正常抽检水平，一次抽样，II 类；

5.2 接受标准：AQL（Cri：0，Maj：0.65，Min：1.5） 5.3 产品外观检查方式和条件： 5.3.1 环境亮度:在距离检测部分50cm处用一个照明亮度值为800LUX以上的照明系通模拟日光。 5.3.2 检查方式和角度:目视,视线与被检查物表面角度在15-90度范围内旋转。 5.3.3 检查距离和时间: 检查被检物最多15秒内，人眼距离被检物约30cm。 5.3.4 外观检查需使用污点标准（菲林片）。 5.4 判定原则：港利通科技认可的工程样机所具有的特性、特点全部作为接受，对于不符合样机的，或以工程设计图纸的偏差要求作为接受表准，或以以下具体的描述进行判定。 6 关于一些名词的定义符号定义： 6.1 刮手：是指用手指或皮肤接触物件表面或边缘有刺痛感，它与装配错位不同的是即使在同一平面，也会有刺痛感。 6.2 装配不良：是指因设计公差或装配因素导致两个接合件的接合面不在同一平面的现象，也可称之为错位或起级，它与刮手不同的是无刺痛感。 6.3 间隙：是指因设计公差或装配因素导致两个接合件的接合面之间有间隙。 6.4 镜高：是指装配后的Lens表面与其装配体同一面的表面之间的高度差。 6.5 装配主体：是指被装配物体的最主要的装配体，如主机的面与底，翻盖的面与底，各类镶嵌件，按键等。 6.6 组件或配件：指组装在主体上的组件，在这份文件上指Lens、电池、SIM卡、电池门，其配合应良好，取卸灵活。各部件配合良好,满足推力计最小2Kgf的抗冲击性能。 6.7 符号定义：N:Number (数量) D: Diameter(直经) L: Length(长度) H: Highness(高度) B:Beepness (深度) W:Width (宽度) A: Area (面) G: Gap (间隙)

跌落测试国家标准2017

跌落测试国家标准(2017) 跌落测试国家标准跌落实验标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，至于跌落的高度是根据产品重量而定，有分90cm、76cm、65cm几个等级! 包装货物重量（lbs）/（㎏）落下高度（inches）/（㎝）1~20.99lbs（0.45~9.54㎏）0in/（76.20㎝） 21~40.99lbs（9.55~18.63㎏）24in/（60.96㎝） 41~60.99lbs（18.64~27.72㎏）18in/（45.72㎝） 61~100lbs（17.73~45.45㎏）2in/（30.48㎝） 4.2跌落试验 4.2.1任务说明该项目测试移动台结构强度，抗跌落破坏的能力，以降低返修率。 4.2.2测试方法

4.2.2.1参照标准 GB/T2423.8-1995,Test Ed 4.2.2.2测试工具跌落试验机，如无该设备，也可用手按照标准进行操作（需要一定经验）。 4.2.2.3测试参数试验表面：水泥地或钢质板跌落高度：普通移动台120cm（关机状态） 100cm（开机状态）特殊移动台80cm(关机状态) 60cm（开机状态）跌落位置：10（4角6面）测试应力：每个位置跌落1次,不同手机选择不同跌落位置(尽量选择易损坏方向) 测试样品数：3(研发样机试验)/5(鉴定试验)

注1：特殊移动台指大屏幕PDA移动台等（显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或25cm2）。 4.2.3通过准则表2跌落试验判定准则测试后的判定准则 1无功能性的损坏，应仍能正常使用 2内部无破损，无脱落器件无功能性的损坏，应仍能正常使用 3外壳无破裂或者碎裂，轻微磨损和轻微裂纹是允许的 4关机跌落时电池允许脱离主体；开机跌落时，电池允许脱开不超过4次。 5上下盖不能移位，不能开口（能简单压合的上下盖开口现象允许） 6有翻盖的移动台，翻盖不能脱离主体 7天线无明显变形 4.3振动试验（移动台） 4.3.1任务说明

跌落试验台

跌落试验台使用说明书上海毅硕实验仪器厂

前言感谢贵公司选择了本公司的产品，本公司不仅给贵公司提供质量优良的产品，而且将提供可靠的售后服务。为确保使用人员之人身安全及仪器的完好性，在使用本仪器前请充分阅读此操作手册，确实留意使用上的注意事项。本操作手册详细介绍此仪器之设计原理、依据标准、构造、操作规范、校正、保养、可能故障的情形及排除方法、电气图等内容。在本操作手册中如有提及之种种“试验规定”、标准时均只做参考用，如贵司觉得有异议请自行阅览相关标准或资料。特别声明： ●本操作手册不能和为向公司提出任何要求的依据。 ●本操作手册解释权在本公司。

目录一、概述……………………………………………………………… 二、技术指标………………………………………………………… 三、操作说明………………………………………………………… 四、面板示意图……………………………………………………… 五、示意图…………………………………………………………… 六、仪表操作说明…………………………………………………… 七、服务说明…………………………………………………………

一、概述本跌落试验机采用刹车马达经链条传动，带动跌落臂伸降，跌落高度采用数显高度尺，跌落高度精确，显示直观、操作简单，跌落臂升降平稳，跌落角度误差小。本机适用于各生产厂家及质检部门等二、技术指标 1、电源：AC380V 50HZ 2、总功率：0.75KW 3、跌落高度mm:300~1500mm 4、测量最大重量kg: 80kg 5、试件最大尺寸mm: 800*1000*1000mm 6、冲击面板尺寸mm:1600*1100*14mm 7、跌落误差：<1° 8、跌落高度误差：±10mm 9、试验台外形尺寸mm: 1700*1200*2525 三、操作说明 1、连接电源：AC380V 50HZ 三相五线 2、打开电源开关至ON位置，按“启动”键，跌落臂向下走。（自动走到“零”位，300mm高时自动停下）。 3、按“复位”键，跌落臂复位，把“测试件”平稳放置“跌落臂”上。 4、按“升高”“降低”键，设定跌落高度，按“启动”键，跌落

跌落试验机使用条件和技术参数

跌落试验机使用条件和技术参数一、操作流程： 1.接线:将随机附带之电源线接入三相电源并接地,将控制箱与试验机亦用随机所带之连接线按插头适配情况接好,并试运行上升/下降命令.(若试运行时出现按上升键却向下运行或按下降键却运行上升之情况,只需在电源处调换相数即可. 2.跌落高度调整：打开主机电源,设定试验所需高度(方法如下),按上升键使之达到所设高度;若在中途停止,则必须使之达到设定高度后才可以执行反向运行命令; 3.将被测物体放于工作台面，然后用固定杆加以固定； 4.按上升键使被测物体提升至设定高度； 5.按跌落键使工作台面瞬间脱离被测物体，被测物体做自由跌落运动； 6.按复位键使工作台恢复工作状态； 7.若重复试验,则重复上述步骤. 8.试验完后：按降低键使工作台面运作至最低位置关闭电源键； 9.跌落高度针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，跌落的高度是根据产品重量而定。分90cm、76cm、65cm几个等级包装货物重量（lbs）/（㎏）落下高度（inches）/（㎝） 1~20.99lbs（0.45~9.54㎏）30in/（76.20㎝） 21~40.99lbs（9.55~18.63㎏）24in/（60.96㎝） 41~60.99lbs（18.64~27.72㎏）18in/（45.72㎝） 61~100lbs（27.73~45.45㎏）12in/（30.48㎝）二、设备简介：零跌落试验机主要用于考核包装件在实际运输，装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性，零跌落试验机主要用于较大型包装跌

GB T 2423.8-1995跌落试验方法

前言本标准等同采用国际电工委员会标准IEC 68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。这样，使这项国家标准和国际标准相同，以适应国家贸易、技术和经济交流的需求。本标准代替GB 2423.8-81《电工电子产品基本环境试验规程试验Ed：自由跌落试验方法》和GB 2424.6-81《电工电子产品基本环境试验规程自由跌落试验导则》。 GB 2423.8-81和GB 2424.6是参照准IEC 68-2-32（1975年第二版）{}基本环境试验规程第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落}起草的。本标准在技术内容、编写格式和规则上都是与IEC68-2-32（1975）、1982年的第一次修改文本，1990年的第二次修改文本完全相同。本标准与前版的主要区别在于： ----将GB 2423.8和GB 2424.6两个标准合并成一个标准GB/T 2423.8 ----接IEC 68-2-32,1982年和1990年的两次修改，对方法二和附录A做了修改，补充了附录B。下列是四项标准与本标准均属撞击试验范畴，有关规范应根据产品的使用和运输的具体情况选择合适的试验方法（见附录B）。 ----GB/T2423.5-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击；----GB/T2423.6-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞；----GB/T2423.7-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）； ----GB/T2423.39-90 电工电子产品基本环境试验规程试验Ee：弹跳试验方法。本标准的附录A、附录B是标准的附录。本标准是由中华人民共和国电子行业部提出。本标准是由全国电子产品环境条件和环境试验标准化技术委员会归口。本标准起草单位：邮电部第一研究所、电子行业部第五研究所。本标准主要起草人：王裕春、魏蓓、何锦康、于占泉、王树荣。

几种常见跌落试验机的优点及缺点

几种常见跌落试验机的优点及缺点 1、双臂跌落试验机双臂跌落试验机主要用于考核包装件在实际运输、装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装件在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性。优点：本机可对包装件的面、角、棱作自由跌落试验，配备数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪，从而能地给出产品跌落高度，与预设跌落高度误差不超过2%或10mm。本机采用单臂双柱结构，具有电动复位、电控跌落及电动升降装置，使用方便;独有的液压缓冲装置大大的提高了机器使用寿命、平稳性及安全性。单臂设置，可方便地放置产品，跌落角度冲击面与底板平面角度误差小于等于5度。缺点：每次测试完毕，须把跌落臂落下;新机到厂安装完成后，须在滑动圆杆处加适当低浓度机油，如果上油处时间长了有过多灰尘请将机器降到低部，擦试完以前的机油，再重机上油;跌落机属冲击力机械性设备，新机使用过于500次以上时，须把各螺丝紧固一以，以免发生故障;试验机的升降轴及链条需定期加润滑油。齿轮减速箱每半年换输油一次;非工作时应切断所有电源，保证升降轴的清洁。 2、单臂跌落试验机本试验机是专为模拟测试各种产品包装好后在搬运或运输过程中，受到堕落时而导致产品内部受损情况进行评估，从而得出之解决方案，以便在运送途中能尽量减少损失;本试验机可测试包装容器之菱、角、面。优点：单翼跌落试验机将所要试验的产品放置在;选定好一定的放置方式：面、棱、角方式使之固定;数显高度，可按用户安求随意设定设备试验范围内的任何高度;确定好高度之后，失放电磁阀，试件产品在瞬间离开臂翼自由落下。按“停止键”跌落板有自动重定功能。缺点：单翼跌落试验机电子产品包装跌落;塑胶产品包装跌落;玩具产品包装跌落;其它成品包装跌落等 3、零跌落试验机零跌落试验机主要用于考核包装件在实际运输、装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装件在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性。零跌落试验机主要用于较大型包装件作跌落试验。

手机微跌测试掉电问题解析

微跌测试掉电问题解析微跌测试, micro-drop test, 顾名思义,在较小的高度范围内重复跌落, 可以有效确认手机掉电问题,被广泛应用于手机设计中,并愈发重要.国内外诸外手机制造商和design house都有这个测试要求或需求.,虽然各家标准不尽相同,但大多大同小异. 中兴重复摔跌测试在双工位自由跌落试验机进行，跌落高度15cm，速度是20-30次/分，跌落四个面：屏幕面，电池面，左侧面（或右侧面），上侧面（或下侧面）跌落次数是四个面每个面各5000次。要求跌落后手机外观结构、功能良好。 TCL 处于待机状态样机3台，跌落平面为桌面厚度10cm铝板。跌落频率14次/分钟＋/－20 ％，跌落面为手机前后左右四个面，其中电池面跌落2500次，其他三个面各跌落500次，共跌落4000次，此为一组，跌落四组，每跌落一组检查一次。要求跌落后手机外观结构、功能良好。万利达试验样机装样整机从10cm的高度垂直自由跌落于木桌上，按顺序跌落跌落四个面——其中电池面跌落2500次，其他面跌落500次，依此循环4次，共计16000次，每跌落100次检查一次，要求跌落后手机外观结构、功能良好。 SIMCOM,微跌标准定义为10cm高度,正反面各跌5000次,要求跌落后手机外观功能结构构良好. 在实际测试,微跌测试中最大的问题是掉电,根据经验,掉电主要原因及对策解析如下: (1)结构设计原因,电池与壳体配合超差(过松),电池与电池连接器间处于临界接触状态,导致手机在受到微小外力,诸如不经意间朝桌面上一扔等,就造成battery 与battery connector 间瞬间分离,从而掉电. 此种情况,结构设计比较容易想的到,也比较容易解决, 通过调整配合尺寸,就可以很容易解决掉电问题. (2)第二种情况,电池与壳体配合良好,为了排除电池与壳体配合问题,会采用电池pad与battery connector焊线连接,从而保证接触肯定没问题,但是跌落仍然频繁掉电,此种问题发生时,作为设计人员,往往一筹莫展. 这个问题在SIMCOM手机测试中也曾经发生过二次.经过设计人员的缜密研究确认,主板shielding与面的电子器件有效避让高度不足,而shielding又是导体(一般为不锈钢或洋白铜),shielding在受外力作用时(跌手机电池面时),shielding将二个电子器件短路,从而造成手机一跌就短路掉电. 原因找到了,问题不迎刃而解,在电子器件与shielding间加一层绝缘mylar,一切搞掂. 在此说明一下,针对第二种情况的掉电,从设计高度上来解决短路问题,因为受到手机设计空间的限制,很难从根本上解决,所以回绝缘层的办法是最优的解决办法. (3)第三种情况,微跌测试造成CPU 主芯片的BGA焊接接触不良从而掉电，持续测试会造成死机,不可开机。故障表现：手机只要不按键，就不会关机，一按某些键手机就自动关机。主要原因是按键下方的集成电路或元件虚焊，按键时由于施力使虚焊部位暂时断路，导致手机关机。维修时，只要有针对性地对按键下方集成电路或元件补焊，一般可排除故障。以上是对微跌掉电问题的小析,希望对大家能有所帮助!

制冷行业冰箱跌落试验评价方法

跌落试验评价方法 1 范围本标准规定了对运输包装件垂直冲击试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容。本标准适用于冰箱事业部产品在评定运输包装件在受到垂直冲击时的耐冲击强度及包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验，也可以作为一系列试验的组成部分。 2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB 1019 家用电器包装通则 GB/T 4857.5 包装运输包装件跌落试验方法 GB/T 4857.18 包装运输包装件编制性能试验大纲定量数据 GB/T 4857.1 包装运输包装件试验时各部位的表示方法 GB/T 16268 家用电冰箱包装 3 术语和定义以下术语和定义适用于本标准，公司其他标准中术语和定义不得与其冲突或有疑义。 3.1 损坏因素在实验室中重现，用来模拟配送过程中的情况。 3.2 跌落试验一种损坏因素，用来确定包装好的产品在装卸和仓库的堆垒过程中所承受冲击的能力。 3.3 标示方法见图1。包装件应按照运输时的状态放置，表面标示为1，右侧面2，底面3，左侧面4，近端面5(被认为是面板)，远端面6。

图1 产品包装标识图 4 技术要求 4.1 试验用样机要求试验用样机必须是按照正规生产的产品要求进行包装的具有代表性的样机。包装应按照生产规定打包密封。试验前须先注明实验用样机销售地区所适用的标准。试验进行前要对产品包装的外观做一次检查并注明不合格项。必须注意在将样机或包装运往实验地点的途中，须小心操作以免有损害发生。如果对包装的状态有疑问，必须检查一遍样机状态，并在试验开始前，用新的包装材料重新包装。 4.2 测试设备包装件跌落试验机、检漏仪、电气安全性能检测仪器、十字螺丝刀等。 5 试验方法： 5.1 出口机型的测试方法 5.1.1 跌落高度见表1 表1 包装件的质量跌落高度H lbs kg inch m 毛质量＜20 毛质量＜9 30 0.76 20≤毛质量＜40 9≤毛质量＜19 24 0.61 40≤毛质量＜60 19≤毛质量＜28 18 0.46 60≤毛质量≤100 28≤毛质量≤45 12 0.31 100＜毛质量 45＜毛质量 10 0.25 5.1.2 样机跌落试验按GB/T 4857.5进行。 5.1.3 跌落方式和顺序 a)面3（底面）连续跌落6次； b)棱（3-2）、（3-5）各1次； c)角（2-3-5）1次。其中：b）、c）不作为常规试验项目，客户有特殊要求时进行。 5.1.4 棱、角跌落倾斜度要求见图2、图3、图4。

跌落试验要求

1. 跌落试验 1．1 1.0m跌落试验 1.1.1注释：手机处于开机状态，以1.0m高度直板手机6面(翻滑盖手机8面；增加开启翻滑盖时的主按键面和电池面)跌落于厚度为10mm跌落试验机铁板上，跌落顺序依次为：底面—左面—右面—后面—前面－顶面—（电池面—主按键面）。 1.1.2判定标准： 1、外观要求：不允许手机表面存在任何程度的爆裂和变形，以及壳离现象但允许一定程度上的磨损； 2、功能要求：不允许手机功能存在任何失效或INT，并要求手机在跌落时不允许出现掉电，电池脱落现象； 3、电性能测试要求：不允许手机RF指标（标准测试项目）出现超标； 4、拆机检查要求：不允许手机内部元器件存在松脱或损坏，以及虚焊现象，焊点不允许出现裂纹。 1. 2 1.5m跌落试验 1.1.1注释：手机处于开机状态，以1.5m高度直板手机6面（翻滑盖手机8面；增加开启翻滑盖时的主按键面和电池面）跌落于跌落试验机铁板上，跌落顺序依次为：底面—左面—右面—后面—前面－顶面—（电池面—主按键面）。 1.1.2判定标准： 1、外观要求：不允许手机表面存在任何程度的爆裂和变形，以及壳离现象但允许一定程度上的磨损； 2、功能要求：不允许手机功能存在任何失效或INT，允许手机出现掉电及电池脱落现象； 3、电性能测试要求：不允许手机RF指标（标准测试项目）出现超标； 4、拆机检查要求：不允许手机内部元器件存在松脱或损坏，以及虚焊现象，焊点不允许出现裂纹。备注：1.0m和1.5m 跌落，原则上是并行进行测试，试验样品数量各持一半。 2. 微跌试验 2.1注释：手机处于开机状态，利用手工位于7cm高度，自由跌落在厚度为20mm的木制桌面上。跌落次数为10000次，跌落面为前面和后面（各一台手机），每面各跌落10000次。 2.2判定标准：手机在跌落过程中，表面不允许出现磨损、壳离、壳裂及变形，显示不允许出现异常；其次不允许掉电及电池脱落现象，试验后各项功能不允许失效或INT。

跌落测试国家标准完整版

跌落测试国家标准 HEN system office room 【HEN16H-HENS2AHENS8Q8-HENH1688】

跌落测试国家标准 (2017) 跌落测试国家标准跌落实验标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，至于跌落的高度是根据产品重量而定，有分90cm、76cm、65cm几个等级! 包装货物重量（lbs）/（㎏）落下高度（inches）/（㎝）1~lbs（~㎏）0in/（㎝） 21~lbs（~㎏）24in/（㎝） 41~lbs（~㎏）18in/（㎝） 61~100lbs（~㎏）2in/（㎝）跌落试验 4.2.1任务说明该项目测试移动台结构强度，抗跌落破坏的能力，以降低返修率。 4.2.2测试方法

4.2.2.1参照标准 GB/T,TestEd 4.2.2.2测试工具跌落试验机，如无该设备，也可用手按照标准进行操作（需要一定经验）。 4.2.2.3测试参数试验表面：水泥地或钢质板跌落高度：普通移动台120cm（关机状态） 100cm（开机状态）特殊移动台80cm(关机状态) 60cm（开机状态）跌落位置：10（4角6面）

测试应力：每个位置跌落1次,不同手机选择不同跌落位置(尽量选择易损坏方向) 测试样品数：3(研发样机试验)/5(鉴定试验) 注1：特殊移动台指大屏幕PDA移动台等（显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或25cm2）。 4.2.3通过准则表2跌落试验判定准则测试后的判定准则 1无功能性的损坏，应仍能正常使用 2内部无破损，无脱落器件无功能性的损坏，应仍能正常使用3外壳无破裂或者碎裂，轻微磨损和轻微裂纹是允许的 4关机跌落时电池允许脱离主体；开机跌落时，电池允许脱开不超过4次。 5上下盖不能移位，不能开口（能简单压合的上下盖开口现象允许）

手机跌落仿真试验本科毕业设计

手机跌落仿真试验摘要本论文采用ANSYS/LS-DYNA中的DTM跌落模块对手机进行了跌落模拟。在模拟仿真中，首先在软件中建立了手机模型，然后通过有限元软件ANSYS/LS-DANA模拟了不同高度的手机跌落过程，得到了产品的应力、应变等动态特性，通过得到的数据，分析了跌落过程中手机的动态特性——跌落冲击过程中，应力、应变等情况的变化，发现手机受到跌落冲击时的薄弱或易损位置在跌落接触点处，并提出加装保护外壳或者改进材料性能的改进方案或手段。该结论对合理设计手机结构、包装手机及安全流通和使用提供技术支持。关键词：跌落，有限元，ANSYS模拟，手机

Telephone drop simulation test ABSTRACT In this paper, we use the DTM fall Analog modules of ANSYS/LS-DYNA simulating the process. In the simulation experiments we first make a model of mobile telephone, then use the finite element software ANSYS/LS-DYNA simulate the drop experiment about different heights, and the dynamic characteristics of the product of stress, strain, etc. through the obtained data, We can analysis the fall Dynamic characteristics of mobile phones - changing the course of drop impact, stress, strain, etc., and Weak or vulnerable position found the phone being dropped in shock when dropped at the contact point, and proposed the installation of the protective housing or improved material performance improvement program or means. This conclusion is reasonable structural to design mobile phones, safe packaging circulation It is also useful to provide technical support. Keywords：Drop，FEM，ANSYS Simulate，Mobile Telephone

跌落测试国家标准

跌落测试国家标准针对跌落实验国家有专门的标准，跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体，至于跌落的高度是根据产品重量而定，有分90cm、76cm、65cm几个等级! 包装货物重量（lbs）/（㎏）落下高度（inches）/（㎝） 1~20.99 lbs（0.45~9.54㎏）0 in /（76.20㎝） 21~40.99 lbs（9.55~18.63㎏）24 in /（60.96㎝） 41~60.99 lbs（18.64~27.72 ㎏）18 in /（45.72㎝） 61~100 lbs（27.73~45.45㎏）2 in /（30.48㎝）跌落测试某公司标准 4.2 跌落试验 4.2.1 任务说明该项目测试移动台结构强度，抗跌落破坏的能力，以降低返修率。 4.2.2 测试方法 4.2.2.1 参照标准 GB/T 2423.8-1995, Test Ed 4.2.2.2 测试工具跌落试验机，如无该设备，也可用手按照标准进行操作（需要一定经验）。 4.2.2.3 测试参数试验表面：水泥地或钢质板跌落高度：普通移动台120cm （关机状态） 100cm （开机状态）特殊移动台80cm (关机状态) 60cm （开机状态）跌落位置：10（4角6面）测试应力：每个位置跌落1次,不同手机选择不同跌落位置(尽量选择易损坏方向) 测试样品数：3(研发样机试验) / 5(鉴定试验) 注1：特殊移动台指大屏幕PDA移动台等（显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或25cm2）。 4.2.3 通过准则表2 跌落试验判定准则测试后的判定准则 1 无功能性的损坏，应仍能正常使用 2 内部无破损，无脱落器件无功能性的损坏，应仍能正常使用 3 外壳无破裂或者碎裂，轻微磨损和轻微裂纹是允许的 4 关机跌落时电池允许脱离主体；开机跌落时，电池允许脱开不超过4次。 5 上下盖不能移位，不能开口（能简单压合的上下盖开口现象允许） 6 有翻盖的移动台，翻盖不能脱离主体 7 天线无明显变形 4.3 振动试验（移动台） 4.3.1 任务说明测试移动台受振动冲击性能。

跌落式冲击试验台工作原理分析

摘要微电子产品在使用和运输过程中都可能因为不同形式的冲击而造成功能失效，因此微电子产品的抗冲击能力成为电子产品可靠性的一个重要评价指标，也是结构设计的一个重要考虑因素。但是目前常用的冲击试验机都是针对结构尺寸较大，质量较重的产品，对于微电子产品这种结构小、重量轻的特点，一般的试验机不能有效地检测出其冲击的力学特性。本论文首先研究了不同试验机的方案，分析其工作原理，并加以借鉴，从中得到了实现测试微电子产品抗冲击的理论的启发，在理论上设计出微电子跌落试验机的基本结构，这对检测微电子产品的抗冲击能力有着重要的意义。关键词：微电子产品；跌落式；试验机；抗冲击；工作原理

Abstract Portable electronic devices are well known to be susceptible to drop impact which can cause various damage modes such as interconnect breakage，battery separation in cellular phones，possible cracking along inter—faces．Drop impact performance of these products is one of important concerns of product design．Because of the small size of this type of electronic products，it is very expensive，time—consuming and difficult to conduct drop tests to directly detect the failure mechanisms and identify their drop behaviors．The main content of this paper lists the different programs of the testing machine and analyze the work theory, and reference it ,Which has been inspired by the theory of testing microelectronic products impact,and design the basic structure of microelectronics products Drop Test Machine in theory, It is important for the anti-wrestling capacity detection of microelectronic product to do the research. Keyword: microelectronic product; Drop; Test Machine; anti-wrestling; work theory

跌落试验研究

跌落试验研究跌落试验为产品可靠性试验中一个很重要的项目，其主要分为两类：单体跌落与包装跌落，本文在后续对这两类进行具体阐述，以供各产品工程师设计考虑。单体跌落试验根据实际使用情况分为跌落与倾倒、自由跌落；其中自由跌落又分为自由跌落和重复自由跌落。包装跌落试验，也可以使用斜面冲击或水平冲击试验替代，故包装跌落试验分为：自由跌落、斜面冲击及水平冲击。 1 单体跌落——跌落与倾倒 1.1 目的本试验方法的目的在评估装备层次试件于桌面或工作平台上维修或使用时不当的处理动作，可能导致之碰撞与颠簸效应。本试验方法尚可评估试件在安全需求条件下之最小强韧性。 1.2 范围本试验方法适用于无包装之装备及含运输箱之装备，如为后者，则运输箱可视为试件本体之一部份。本试验方法可区分为： 1）底面跌落。 2）底角跌落。 3）倾倒(或推倒)。 1.3 限制本试验方法不适用于试件在运输箱或包装箱内之情况。若装备重心比小于0.25 或高度比小于0.5，则倾倒试验不适用。 1.4 试验前处理 1）试验前试件应依相关技术条件之规定执行目视检查、电气性能及机械检验。 2）试验时应说明试件在修理或使用时之型态；例如，是否包含外盖及缆线、是否要在试验时操作等，且应避免： a. 在跌落试验时，跌落甲面却翻滚至乙面。 b. 跌落与倾倒试验时，造成持续性滚转至另一边的现象。 1.5 试验方法及步骤 1.5.1 底面跌落试件以其正常使用姿态，放置在平滑、坚硬的混凝土或钢质表面上，将试件一边以倾斜方式抬高，使其倾角为30o 或边高为25mm、50mm 及100mm(视其相关技术条件而定)，取两者中高度较低者。选用合适高度后，让试件自由跌落。试验型态如图1所示。四个底边依序抬高，共执行四次跌落试验。

某公司家用电器产品跌落试验标准

家用电器产品跌落试验标准 1 要求 1.1 家用电器产品应符合本标准要求，并按经规定程序批准的产品图样及技术文件进行生产。 1.2 产品在跌落试验后应满足以下要求： 1.2.1 包装箱的结构应无明显破损和变形，箱内固定物无明显位移。 1.2.2 产品表面及零部件不应有机械损伤。 1.2.3 产品的电气安全及性能应符合其产品标准要求。 2 试验方法 2.1 试验环境 2.1.1 环境温度：22±2℃。 2.1.2 环境湿度：30%～92%。 2.1.3 跌落表面应该是混凝土或钢板制成的平滑、坚硬的刚性表面。钢板厚度至少为8mm。 2.1.4 跌落区内应无杂物，确保跌落范围内地面清洁。 2.1.5 试验样品应在正常出货包装状态下进行跌落。 2.1.6 除特殊要求以外，试验样品的跌落高度应按下述要求进行。

2.1.6.1 反射型取暖器的落地高度按表1的规定进行。表1 2.2 试验程序 2.2.1 试验前 2.2.1.1 试验样品数量要求：3箱。 2.2.1.2 确认试验样品的重量。 2.2.1.3 试验样品为正常出货包装状态下的成品机，必须对包装箱内所有产品的外观及功能进行全检并记录，保证外箱封箱胶纸牢固、外箱无损坏，并对内装产品进行编号。 2.2.2 试验时 2.2.2.1 将试验样品，在保证初速度为零的情况下，依照规定的跌落高度、在指定的跌落区域让试验样品进行自由垂直跌落，不能施加任何外力。

2.2.2.2 无论何种状态和形状的试验样品，都应使试验样品的重力线通过被跌落的面、棱（线）、角（点），并垂直于地面。 2.2.2.3 试验样品应按下述顺序进行跌落。 a）纸箱任意一角； b）该角的最短的一棱； c）该角的第二短的一棱； d）该角的最长的一棱； e）靠近角的最小一平面； f）另一个最小的一平面； g）靠近角的第二小一平面； h）另一个第二小的一平面； i）靠近角的最大一平面； j）另一个最大的一平面。