散光度数怎么看

散光度数怎么看
散光度数怎么看

散光度数怎么看

文章目录*一、散光度数怎么看*二、散光程度的划分*三、怎样判断自己眼睛散光

散光度数怎么看1、散光度数怎么看

在验光单上面有2个数据是我们最关心的,一个是验光度数,这个决定了我们挑选眼镜的时候的度数;另一个是散光度数,很

多人都有散光,而且不少人都忽视了散光度数,好在近几年来人

们越来越重视散光这个问题。在验光单上,是有数据直接显示散光度数的。

在验光单上面,有一个字母C,它代表的是柱镜,这个其实就是散光度数,比如说。C:-3.00,它的意思就是说明散光度数为300度。验光单上也会分别列出左眼和右眼的柱镜,这样我们就可以了解清楚两只眼睛的散光情况了。

2、散光的原因

2.1、近看时散光的改变,双眼向内向下看,眼球同时产生旋转作用,使眼的散光轴发生改变,故配镜时可根据病人不同的年龄,焦点深度和相对调节力来选用合适的远、近的镜片。

2.2、视力疲劳,通常和年龄及工作性质有关,年龄愈大且坐在桌前的人会造成轻中度的散光,如低于正常值,则需要配镜矫正。

2.3、眼镜片造成的影响,有影像大小不均匀效应、轴位的移

动、镜片表面不平等原因,有时镜框大小,也可能影响到外围光学的问题而造成散光。

3、散光能治好吗

实际上,100%的人都有不同程度的散光,只是散光的轻重问题。散光是可以治好的,治疗方法如下:

3.1、规则散光:可按散光类型及散光度数以不同圆柱镜矫正。

3.2、不规则散光:可配用高透氧硬性角膜接触镜矫正。

3.3、18岁以上成人的高度散光可考虑行角膜屈光手术治疗。

散光程度的划分1、轻度散光

轻度散光,一般是在1.00屈光度以下。散光,其实是每一个人,都有的一种眼部问题。但是,大部分的人,并不会因为轻度的

散光,而影响到自己的视力。所以,轻度散光,一般都不需要进行

治疗或者是矫正。

2、中度散光

中度散光的数值表示是从1.00-2.00屈光度,如果属于这个

范围的散光,那就是中度散光。中度散光是最容易治好,或者是矫正好的阶段。所以,中度散光患者,一定不要错过这个时机。

3、重度散光

重度散光,是指2.00-3.00屈光度的散光情况。在这一个阶

段的散光,尽管比较难以治好,但只要积极的进行治疗,还是可以

将散光的情况矫正过来的。如果是配戴眼镜矫正,一定要注意眼睛的保护,避免散光度数继续加深。

4、高度散光

高度散光的度数,一般是指3.00屈光以上。如果处于高度散光的范围,在治疗上,就很困难了。所以,要将高度散光治好,最好的治疗方法,还是以采取手术为主。

怎样判断自己眼睛散光1、视力检查:通过远视力和近视力检查,可以发现散光。散光较重的患者,远视力和近视力都不好。

2、散光表检查:散光表上有很多放射状条纹,检查时如果被检查者感到某一条子午线的条纹不清楚,说明有散光。

3、检查屈光度:通过验光即可诊断散光眼。这是最常用的诊断散光眼的方法。

4、角膜曲率检查:通过角膜曲率计检查,发现角膜表面在不同子午线方向的弯曲度不一样。

5、角膜地形图检查:还可检查和记录角膜弯曲度的情况,以及角膜表面是否光滑,可以发现不规则散光。

杂散光

基本信息 stray light 指远离吸收光的其它波长的入射光。由于光源发出的光经过单色器时有可能从单色器舱内及其它光学元件表面发生反射,从光学元件表面以及大气中的灰尘也可以发生散射,这些都会产生杂散光。杂散光的存在会对比尔定律产生偏移。 另:一般指超出眼睛网膜视线之光线。 杂散光的来源 产生杂散光的原因很多,其最主要的原因大致有以下9个方面: 1. 灰尘沾污光学元件(如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等); 2. 光学元件被损伤,或光学元件产生的其他缺陷(如光栅、透镜和反射镜、棱镜材料中的气泡等); 3.准直系统内部或有关隔板边缘的反射; 4.光学系统或检测器没有作适当的屏蔽,“室光”直接进入光学系统; 5.热辐射或荧光引起的二次发射; 6.狭缝的缺陷; 7.光束孔径不匹配; 8.光学系统的相差; 9.单色器内壁黑化处理不当。 以上9个方面中,光栅是杂散光的主要来源。它产生的杂散光占总杂散光约80%。[1] 杂散光的重要性 杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源,它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时,被分析的试样浓度越大,其分析误差就越大。ASTM认为:“杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤其对高浓度的分析测试时,杂散光更加重要”。有文献报道,在紫外可见光区的吸收光谱分析中,若仪器有1%的杂散光,则对A为2.0的样品测试时,会引起2%的分析误差。 因此,认真研究杂散光,以便减少或降低杂散光对光谱分析的影响,是光谱仪器研制者和使用者们必须高度重视的问题。[2]

近日,完成了成像和非成像方面完整的杂散光实例分析,并总结如下。下文仅是一家之言,仅供大家参考。谢绝转载。 杂散光(Stray light)是光学系统中不受欢迎的光线。成像系统和非成像系统都存在杂散光问题,甚至人眼都有这个问题。 杂散光主要表现形式有: 鬼像(Ghost):由光学表面的多次反射光形成。λ 散射光线。来源自光学元件,机械表面(主要来源):λ镜头外壳,固定支架,遮光罩,拦光挡片等。 遮光罩使用不当出现的漏光。λ 杂散光的其它来源: 衍射:由遮光罩边缘引起的衍射;另外,由于衍射元件通常只处理一阶衍射,其余阶就成为杂散光的来源了。Lyout光栏是天文望远镜中消除衍射效应的典型器件。υ 热效应:探测器因环境因素,或机械结构和系统硬件引起的热效应而产生杂散信号。υ 杂光(Veiling Glare)是到达成像系统传感器的杂散光,会导致成像系统性能的衰减。杂光主要有两种成分:散射光和鬼像。一次反射鬼像影响最大的是高功率激光系统,二次反射鬼像主要影响成像系统和红外系统。鬼像又分鬼像焦点像(ghost focus images)和鬼像光瞳像(Ghost pupil images)。前者是由物面形成的,后者由光瞳形成的。由于光瞳是系统全视场能量积分处,所以其影响可能也会很大。对于高功率激光系统而言,除了要避免成像光路形成的内焦点,还要避免鬼像光路形成的鬼像内焦点。 鬼像分析可分为轴上点近轴光路分析和照明方式的分析。前者就是用成像软件进行鬼像光路分析完成。照明方式分析,实际就是采用商用照明软件所使用的“二叉树”(分裂光线)方法完成。一般而言,应用成像软件进行鬼像光路分析,还可以优化光学系统结构,比如:ZEMAX、CODE V;照明可以完成杂光系数分析,当然,有一些照明软件也可以优化机械结构,比如LT、ASAP。 几种消杂光的办法如下: 1、更改光学类型,优化系统结构,或优化机械结构 2、增加消杂光光栏 3、用螺纹消杂光 4、对镜筒内壁采用无光发黑氧化,或者喷无光漆,或贴消光绒毛。 5、对产生严重鬼像的光学面镀增透膜。 6、使用合理的遮光罩 7、透镜镜片边缘涂黑处理

紫外、可见分光光度计杂散光检定的建议

■睢嚣囡圆五l 721B型),对于光栅型可见分光光计,按现行检定规程应在360nm处检定杂散光,经检定此处杂散光为0.O%;但是在420nm处检定发现:此处的杂散光竟然达到12.0%之大,远超过了现行检定规程规定的杂散光计量性能的合格要求。乍看无法理解,但认真分析分光光度计的工作原理得知:完全是有可能的。 光栅型可见分光光度计光学系统原理如图1所示,据光栅的色散原理可知:产生互相加强的干涉条件是如式(I)所示的光栅方程。 dsini4-dsinO=4-mA(1)式巾,d为光栅常数;i为人射角;0为衍射角;旯 为光谱波长;m=0,1,2,3…。 由光栅方程可看出:光栅一级光谱波长为旯的谱线和波长为2/2的二级潜线及波长为2/3的三级谱线将重叠在一起,这是光栅的一大缺点。这种次级重叠现象给光栅应Hj带来很多麻烦,在实际应用中要采用滤光片装置或预色散的棱镜进行消除。如图1中,卤钨灯与聚光镜问的滤光片组,就是用来消除次级重叠现象的。对于722型可见分光光度计,该滤光片组结构如图2所示,由四块滤光片组成,对于不同给定的工作波长,使用不同的滤光片消除次级重磋现象。而分光光度计杂散光的产生,除制造不良外,光学元件表面的灰尘和霉变是产生杂散光较主要原凶。凶为不同波长使用的消除次级重叠现象滤光片不同,当滤光片组中的各滤光片表面清洁程度不同,完全有可能在不同波长情况下,产生的杂散光不同。实际上即使是棱镜型分光光度计,给定波长不同,T作状态也会有不同,也很可能在不同的T作波长情况下,产生的杂散光是不同的。一台分光光度计只检定1—2个波长处,杂散光计量性能指标合格,远不能说明在所有工作波长范围内,杂散光计量性能指标合格。如留意观察会发现,不少分光光度计生产厂家,对于杂散光性能指标是这样给出的(以722型可见分光光度计为例):杂光:<0.5%(r)(在360nm处,以NaNO:测定)。 4建议 根据上述分析可知:现行检定规程,对于杂散光的检定,棱镜型可见分光光度计只规定在420nm处检定;光栅型可见分光光度计只规定在360nm处 ?54? 光栅 图1光栅型町见分光光度计光学系统原理图 图2722犁可见分光光度计外光路实物图 检定;紫外、可见分光光度计只是规定再增加在220nm处检定,是不够的。其实,这在现有条件之下,也是无奈之举。因为在现有条件下,无法提供足够多的使用波长的杂散光标准物质。 随着科学技术的进步,新技术、新材料的不断涌现。杂散光的检定最好能向检定波长最大允许误差及波长重复性那样,根据仪器的工作波长范围,每间隔100nm选择一个合适的杂散光检定点。当然作为现行检定规程不仅要考虑需要,同时还要考虑是否有町能,即目前能否找到这样足够多使用波长的杂散光检定标准物质。但是,笔者建议:最起码要争取在分光光度计每一典型工作状态,一定要规定一个杂散光检定点。例如:图2所示的722型可见分光光度计,在消除次级重叠现象的滤光片组中,每一块滤光片对应的工作波长段,必需规定 一个杂散光波长检定点。

【CN110057541A】TOF相机杂散光检测装置及其检测方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910293718.7 (22)申请日 2019.04.12 (71)申请人 上海炬佑智能科技有限公司 地址 201203 上海市浦东新区自由贸易试 验区达尔文路88号16幢301室 (72)发明人 曹月霞 梅健  (74)专利代理机构 上海盈盛知识产权代理事务 所(普通合伙) 31294 代理人 董琳 (51)Int.Cl. G01M 11/00(2006.01) (54)发明名称 TOF相机杂散光检测装置及其检测方法 (57)摘要 一种TOF相机杂散光检测装置及其检测方 法,所述TOF相机杂散光检测装置包括:固定位, 用于固定待检测的TOF相机;反射镜面,朝向所述 固定位设置,所述镜面的反射面为背向所述固定 位凸起的弧形。上述TOF相机杂散光检测装置及 其检测方法,能够提高对TOF相机杂散光检测的 准确性。权利要求书1页 说明书6页 附图3页CN 110057541 A 2019.07.26 C N 110057541 A

权 利 要 求 书1/1页CN 110057541 A 1.一种TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,包括: 固定位,用于固定待检测的TOF相机; 反射镜面,朝向所述固定位设置,所述镜面的反射面为背向所述固定位凸起的弧形。 2.根据权利要求1所述的TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,所述反射镜面为聚焦反射镜面,所述固定位设置于所述反射镜面的焦点处。 3.根据权利要求1所述的TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,所述反射镜面的反射面为圆柱形反射面,所述固定位设置于所述圆柱形反射面的圆心处;或者,所述反射镜面的反射面为球形反射面,所述固定位设置于所述球形反射面的球心处。 4.根据权利要求1所述的TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,所述反射镜面的曲率可调。 5.根据权利要求1所述的TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,还包括: 围绕所述固定位设置的弧形的轨道;所述反射镜面设置于所述轨道上,可沿所述轨道移动;所述固定位设置于所述轨道的圆心处。 6.根据权利要求1所述的TOF相机杂散光检测装置,其特征在于,所述固定位具有一旋转轴,能够绕所述旋转轴在水平面内旋转。 7.一种TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,包括: 提供一待检测的TOF相机和一弧形反射镜面,所述TOF相机具有光源模块; 将所述TOF相机镜头朝向所述弧形反射镜面设置; 控制所述光源模块向所述弧形反射镜面发出检测光; TOF相机接收所述检测光经由所述反射镜面反射的反射光,并获取所述TOF相机的检测数据,以判断所述TOF相机是否有杂散光问题。 8.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,在检测过程中,调整所述反射镜面与所述TOF相机镜头之间的相对角度位置,获得所述TOF相机不同角度下的检测数据。 9.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,检测过程中,采用脉冲调制光作为检测光;单次曝光过程,检测光的脉冲强度与脉冲发光次数成反比。 10.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,将所述TOF相机设置于所述反射镜面的弧形圆心处。 11.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,固定所述TOF相机位置,将所述反射镜面沿一弧形圆周移动,以调整所述反射镜面与所述TOF相机镜头之间的相对角度。 12.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,固定所述反射镜面位置,在水平面内旋转所述TOF相机,从而调整所述反射镜面与所述TOF相机镜头之间的相对角度。 13.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,所述反射镜面的反射面为圆柱形反射面或球形反射面。 14.根据权利要求7所述的TOF相机杂散光检测方法,其特征在于,通过调整所述反射镜面的曲率,调整检测距离。 2

FY_2E卫星杂散光评价与分析

FY-2E卫星杂散光评价与分析 陈博洋1,李欣耀2,郭强1,陈福春2 (1.国家卫星气象中心中国气象局中国遥感卫星辐射测量和定标重点开放实验室,北京 100081; 2.中科院上海技术物理研究所,上海 200083) 摘要:通过FY-2E卫星可见光通道、红外1、红外2、红外3、红外4通道的杂散光评价,并且和FY-2D 卫星发射初期的各通道杂散光评价对比,得到了FY-2E卫星可见光通道杂散光能量和FY-2D卫星可 见光通道杂散光能量基本持平、其中A机通道性能略有提高,红外1、红外2、红外3、红外4各通 道的杂散光绝对能量相比FY-2D卫星各红外通道杂散光绝对能量下降约30%~40%、其中红外2通道 信杂比明显提高的结论;分析发现,是FY-2E卫星光路系统中的里奥光栏在降低杂散光方面发挥了巨 大的作用。 关键词:FY-2E卫星;杂散光;信杂比;里奥光阑 中图分类号:TP722.4 文献标识码:A 文章编号:1001-8891(2010)11-0636-04 Estimate and Analysis for Stray Light of FY-2E Satellite CHEN Bo-yang1,LI Xin-yao2,GUO Qiang1,CHEN Fu-chun2 (1. National Satellite Meteorological Center, Key Laboratory of Radiometric Calibration and Validation for Environmental Satellite, China Meteorological Administration, Beijing 100081, China; 2.Shanghai Institute of Technical Physics, Shanghai 200083, China) Abstract:After estimate for stray light of FY-2E satellite, and comparison to stray light of FY-2D satellite, there is the conclusion that visible stray light of FY-2E is similar to that of FY-2E satellite, and A detector is better, in infrared channels, the stray light is less 30%-40% than that of FY-2D, especially, in infrared channel 2, SNR is higher than that of FY-2D. By the analysis, lyot stop is the useful way to reduce stray light. Key words:FY-2E satellite,stray light,SNR,lyot stop 引言 FY-2E卫星是我国第三颗业务静止气象卫星,已于2008年12月23日在西昌卫星发射中心由长征三号甲运载火箭成功发射升空,定点于东经123.5°赤道上空。国家卫星气象中心组织人力对FY-2E卫星进行了在轨测试,在轨测试表明,卫星系统功能正常、性能良好,除三年寿命和可靠性尚待继续考验外,卫星功能、性能符合《风云二号02批卫星研制总要求》,可以投入业务使用。杂散光能量是卫星在轨测试项目中的重要指标,对卫星载荷的质量确定、遥感数据的定量应用等有重要作用,FY-2E卫星在轨测试表明,E星的杂散光绝对能量相比D星有了比较大的下降,通过分析发现,是扫描辐射计中的里奥光阑在降低杂散光能量方面发挥了巨大的作用。 通过杂散光在轨测试和分析,进一步明确了降低杂散光的方法,为后续的静止气象卫星设计、遥感数据定量应用打下了基础。 1 FY-2E杂散光评价 FY-2E卫星有效载荷扫描辐射计共有5个通道:1个可见光通道和4个红外通道,分别对可见光(VIS)通道、红外1(IR1)通道、红外2(IR2)通道、红外3(水汽,IR3)通道和红外4(IR4)通道进行了杂散光评价。 1.1 可见光通道杂散光评价 636

紫外可见分光光度计杂散光

紫外可见分光光度计杂散光 所谓的杂散光严格意义上来讲是所要单色光以外的光,都为杂散光,但是目前国内外的定义不完全相同,有的是从辐射的角度,有的是从能量的角度,有的是从需不需要的角度来考虑。总体上来讲应该是不该有的光出现了,这就是杂散光。杂散光是分光光度计的关键性技术指标,它是分析误差的主要来源,它决定了仪器分析样品的浓度范围,特别是浓度的上限,当一台分光光度计的杂散光一定时,被分析的试样浓度越大,其分析误差就越大,它能使建立的标准曲线弯曲。 杂散光主要来自于:灰尘沾污光源元件(如光栅、透镜、反射镜等);光学件被损伤;光学系统屏蔽不好;热辐射或荧光引起的二次电子发射;狭缝的问题;光束的进出孔问题;单色器内壁黑化处理不妥等都会引起杂散光。 测试杂散光最常用的方法是所谓“截止滤光法”,主要是采用滤光片或滤光液来测试紫外可见分光光度计的杂散光。有时也采用He-Ne 激光器的632.8nm 来测试杂散光,测出的数值与632.8nm 相比就是杂散光。目前国内有很多的高校老师们测试分光光度计的杂散光时通常用溶液来进行测试,通常测2个波长点,一个是220nm 处,另一个是340nm 处。测试220nm 处的杂散光时,国际上都采用10g/L 的NaI 水溶液。该水溶液的光谱特性为:0-258nm 处不透光,而从258nm 开始,透光率可立即达到90%以上,并且上升坡度很陡。只要将10g/L 的NaI 水溶液装入比色皿,参比比色皿中装满水,将仪器的波长调到220nm 。因为10g/L 的NaI 水溶液在0-258nm 处不透光,故仪器的输出应该为0。但仪器的实际输出不是0,即有光信号输出,这就是220nm 处的杂散光。测试340nm 处的杂散光时,国际上都是采用50g/L 的NaNO2水溶液。50g/L 的NaNO2水溶液的光谱特性为:0-385nm 处不透光,而从385nm 处开始,透光率可达90%以上,并且上升坡度很陡。我们只要将50g/L 的NaNO2水溶液装入比色皿,参比比色皿中装满水,将仪器的波长调到340nm 。此时,因为50g/L 的NaNO2水溶液在0-385nm 处不透光,故仪器在340nm 处的输出应该为0。但仪器的实际输出不是0,即有光信号输出,就是340nm 处的杂散光。 杂散光测试曲线图 在厂家的生产过程中,用溶液测试杂散光,有很多的不方便,一个是不容易保存,一个是拿捏不方便,所以在厂家的测试过程中通常喜欢用固体滤光片,这样测试方便,携带也方便。 浓度 吸 光度

分光光度计的杂散光对测量的影响

分光光度计的杂散光对测量的影响 发表时间:2011-07-29T11:38:32.890Z 来源:《魅力中国》2011年6月上供稿作者:田素玉[导读] 杂散光是检定分光光度计的一个重要检测项目,同时也是判断仪器优劣的一个重要参数。田素玉(新乡市质量技术监督检验测试中心河南新乡 453002)中图分类号:O433.1 文献标识码:A 文章编号:1673-0992(2011)06-0000-01 摘要:可见分光光度计及紫外一可见分光光度计在制药、分析、检验中普遍使用,影响该仪器测量误差的因素很多,其中杂散光是主要来源之一。现就杂散光对仪器测量结果的影响予以说明。关键词:杂散光测量影响 1引言 杂散光是检定分光光度计的一个重要检测项目,同时也是判断仪器优劣的一个重要参数。杂散光一般是仪器设计本身造成的,产生的原因是由于光源发出的光经过单色器时有可能从单色器舱内及其它光学元件表面发生反射,从光学元件表面以及大气中的灰尘也可以发生散射,这些都会产生杂散光。杂散光的存在会对比尔定律产生偏移。光栅是杂散光的主要来源,它产生的杂散光占总杂散光的80%以上2杂散光对测量吸光度的影响 2.1杂散光的定义: 杂散光(stray light)是指到达接收器的被测波长以外的其他波长的光。在某些情况下杂散光可能扰乱吸收带而使测量结果偏离吸收定律。杂散光通常用透过率表示。 如果是在成像系统中,那么杂散光指光学系统成像时到达像面上的光线除了按正常光路进行的成像光线外还有一部分是不参加成像的非成像光线在像面上的扩散,它严重地影响了光学系统的成像质量。这部分非成像光线称为杂散光。 本文主要针对分光光度计的杂散光对测量的影响进行探讨。 2.2吸光度误差公式的推导: 由上表可以看出:杂散光越大,吸光度测量的误差值就越大;杂散光一定时,测量的吸光度越大,误差值就越大,因此杂散光的大小限制了分光光度计的测量上限。 针对制药行业,要求药品的测量误差≤1.0%,假如某台紫外分光光度计的杂散光为0.3%,在不考虑其他因素的影响时,仅此一项就限制最大A的测量值为0.9,如果测量1.0,则相对误差为1.15%,超出了规定误差值。 3杂散光产生的原因及减小杂散光的措施

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