厚膜电阻的阻抗与驻波比频率特性的新测量方法
第40卷第5期2017年10月电子器件
Chinese Journal of Electron Devices Vol.40 No.5Oct.2017
项目来源:广州市科技计划项目(201510010093)
收稿日期:2016-09-01 修改日期:2016-10-26A Novel Measurement Method for the Impedance and SWR
Frequency Characteristic of Thick Film Resistors ?
ZHANG Yisong 1,LIN Fumin 1?,ZENG Liuxing 1,ZHANG Jun 2
(1.School of Physics and Optoelectronic Engineering ,Guangdong University of Technology ,Guangzhou 510006,China ;2.Guangdong Fenghua Advanced Technology Holding CO.,LTD ,Zhaoqing Guangdong 100083,China )Abstract :With the development of electronic information technology and mobile communication technology,thick film resistors have been more and more widely applied.However,how to accurately measure the impedance and standing wave ratio(SWR)of the thick film resistors has become a difficult problem.A matched terminated circuit model and a corresponding short circuit model are established and analysed,with which the impedance and SWR frequency characteristics of TFR are jointly resolved.The measurement results show that the method is feasible and accurate,which has important sense for the manufacturing process and quality detection of RF thick film resistors.Key words :thick film resistors;terminated circuit;short circuit;impedance;standing wave ratio;measurement method EEACC :7310J doi :10.3969/j.issn.1005-9490.2017.05.004
厚膜电阻的阻抗与驻波比频率特性的新测量方法
?张逸松1,林福民1?,曾柳杏1,张 俊2
(1.广东工业大学物理与光电工程学院,广州510006;2.广东风华高新科技股份有限公司,广东肇庆100083)摘 要:随着电子信息技术和移动通信技术的发展,厚膜电阻的应用越来越广泛三然而,如何准确测量厚膜电阻的阻抗和驻波比频率特性成为了一个难点三建立和分析微带线终端加载厚膜电阻的电路模型,使电阻在电路中匹配,再对应地建立终端短路的电路,最后联合求解出厚膜电阻的阻抗和驻波比频率特性三实测表明,这种测量方法是可行二准确的,对射频厚膜电阻的制造工艺和质量检测有着重要意义三
关键词:厚膜电阻;终端加载;终端短路;阻抗;驻波比;测量方法
中图分类号:TN06 文献标识码:A 文章编号:1005-9490(2017)05-1068-04
厚膜电阻是由电阻浆料经印刷和烧结等工序制成的元件,其具有膜的表面耐温高二电阻温度系
数小二阻值范围宽二表面比功率高二耐潮湿等一系
列优异的性能[1]三厚膜电阻自从20世纪50年代发展以来,其制造技术已经很成熟,在小型化二片
式化二多功能化二高精度化等方面也得到了极大的
发展,目前已广泛应用于厚膜及混合集成电路
中[2-3]三对于普通应用的厚膜电阻,都是给出其直流电阻值及其误差范围,但是对于射频应用的厚
膜电阻就有必要给出其在射频段的阻抗与驻波比
的频率特性三然而,如何准确测量厚膜电阻的阻
抗和驻波比频率特性成为了一个难点三著名的美
国电子元器件厂商Vishay 推出的FC二CHP二RCP
等射频应用的电阻在数据手册里给出的在射频段阻抗与驻波比的频率特性是通过等效电路图仿真得出来的,并没有给出实际测量结果,也没有公开一种厚膜电阻实物测量方法三可以利用非同轴微波器件测试夹具对厚膜电阻的传输特性进行测量[4-6],可以通过A 参量矩阵求出出厚膜电阻的在射频段的阻抗与驻波比的频率特性三但是,这种实际测量方法存在两个问题:(1)引入了两个同轴接头,同轴接头与微带线连接,微带线夹着厚膜电阻,这样会使从片式电阻器外部引入的反射比较多,造成阻抗误差比较大;(2)微波测量夹具与厚膜电阻的连接不够紧凑会造成测量结果的不准确三另外,这种微波夹具工
万方数据