弹上电子产品加速寿命试验设计与应用

弹上电子产品加速寿命试验设计与应用
弹上电子产品加速寿命试验设计与应用

浅谈电工电子产品加速寿命试验

浅谈电工电子产品加速寿命试验 广州广电计量检测股份有限公司环境可靠性检测中心颜景莲 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法,在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。因此,在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效,缩短试验周期。然后运用加速寿命模型,评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路,将激发的试验机制引入到可靠性试验,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系,通常是以一定的物理模型为依据的,下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段,并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来,形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验,剔除早期失效的产品,提高出厂产品的可靠性。 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量,因此,产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移,产品的强度分布将逐渐发生变化,如果应力分布与强度分布一旦发生了干预,产品就会出现失效。因此,研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。 2.3最弱链条模型 最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。 该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效,因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染,在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方,就是最薄弱的地方,也是最先失效的地方。

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析

术语和定义 HALT(High Accelerated Life Test):高加速寿命试验,即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内,包括运输、存储及运行环境内,可能受到的环境应力大得多,以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节,而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进,从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限(Operation Limit):指产品某应力水平上失效(样品不工作或其工作指标超限),但当应力值略有降低或回复初始值时,试样又恢复正常工作,则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限(Destruct Limit):在某应力水平上升到某值时,样品失效,即使当应力回落到低于运行限时,试样仍然不能恢复正常工作,这时的应力水平值称为破坏限。 裕度(Margin):产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大,则其可靠性越高。 夹具(Fixture):在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具,使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器(Accelerometer):在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度(Vibrating Power Spectral Density):也称为加速谱密度,衡量振动在每个频率点的加速度大小,单位为(g2/Hz)。 Grms(Gs in a root mean square):振动中衡量振动强度大小的物理单位,与加速度单位相同,物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶(Thermocouple):利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中,利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试(Functional Test):对试样的测试,用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能,性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要:本文围绕产品HALT试验,详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词:HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力,并满足下列指标: 振动应力:必须能够提供6个自由度的随机振动;振动能量带宽为2Hz~10000Hz;振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力:目标是为产品创造快速温度变化的环境,要求至少45℃/min的温变率;温度许可范围至少为-90℃~+170℃。

电子产品检验技术试题

电子产品检验技术 班级姓名得分 一、填空题(每空1分,共42分) 1、分别画出下列元器件的符号: 电阻器;电位器;微调电阻器;热敏电阻器;电容器;电解电容器;可调电容器;一般电感器;可调电感器;变压器;整流二极管;稳压二极管;发光二极管;光电二极管。 2、晶体二极管具有特性。 3、电容器容量常用的单位有、、。 4、晶体三极管有三个电极,分别为、和。 5、绝缘导线加工可分为、、、、清洁、印标记等工序。 6、技术文件分为和两类。 7、国家规定的安全电压是V,在潮湿环境中应选用V或V。 8、电子装配中,紧固或拆卸螺钉和螺母,通常用螺钉旋具和螺母旋具。常用的螺丝刀 是旋具,各种扳手是旋具。 9、常用的电烙铁按其加热方式的不同可分为和两大类,其中,电烙铁体积小,热效率高,升温快。 10、函数信号发生器按频率和波段可分为、 和信号发生器等。 11、电烙铁的基本结构都是由、和手柄部分组成。 12、电阻器的型号一般由四部分组成,分别代表、材料、和序号。 二、判断题(每小题1分,共16分) 1、电感器具有通直流阻交流、通高频阻低频的作用。() 2、用万用表欧姆档判断二极管极性时,测的阻值小的那一次,黑表笔接的是二极管正极。() 3、动圈式传声器中的永久磁铁是硬磁铁氧体。() 4、云母是一种有机绝缘材料。() 5、工艺文件的线扎图尽量采用1:1的图样,便于在图样上直接排线。() 6、绝不允许用水或普通灭火器带电灭火,以防触电。() 7、斜口钳主要用于剪切导线,尤其是剪切硬纸板焊接点上多余的引线,选用斜口钳效果最好。() 8、测量电流时,须将万用表与被测线路并联。() 9、松香很容易溶于酒精、丙酮等溶剂。() 10、调温式电烙铁有自动和手动调温的两种。() 11、电子元器件在工作时,要受到电压、电流的影响,要消耗功率。() 12、焊料是指易熔的金属及其合金,它的熔点高于被焊金属。() 13、锗二极管的正向电阻很大,正向导通电压约为0.2V。() 14、测量电阻时可以不分红、黑表笔,但影响测量结果。() 15、电子整机产品的干扰问题比较复杂,它可能由电、磁、热、机械等多种因素引起。() 16、对于电子元器件来说,寿命结束,叫做失效。() 三、简答题(每小题6分,共42分)

电子产品可靠性试验国家实用标准应用清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室便携设备粗模拟 GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规与合同中的维修性要求 GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法,在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。因此,在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效,缩短试验周期。然后运用加速寿命模型,评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路,将激发的试验机制引入到可靠性试验,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系,通常是以一定的物理模型为依据的,下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段,并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来,形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验,剔除早期失效的产品,提高出厂产品的可靠性。

2.1 失效率模型图示: O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量,因此,产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移,产品的强度分布将逐渐发生变化,如果应

加速寿命试验公示计算汇总

加速寿命试验公示计算汇总 一、前言 新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化,新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果,为了在实时有效期结果获得以前,有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。 医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的,事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变,有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。 一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团,并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。得庆幸的是,生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料,这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ,也称“10 度原则”(10-degree rule) ,可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物,试验结果可以在要求的准确度范围内。 医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化,特别是与安全性和有效性有关的性能。加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下,在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。 采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。主要目标是可以给病人和企业带来利益,病人可以尽早使用这些最新的医疗器械,挽救病人的生命;企业可以增加销售获得效益,而又不会带来任何风险。尽管加速老化试验技术在学术领域已经比较成熟,但是这些技术在医疗器械产品的应用还是有限的。美国FDA 发布了一些关于接触眼镜、药物和生物制品等关于加速老化实验的指导性文件,还没有加速老化试验的标准。在我国尚无关于医疗器械有效期确定的加速老化的实验指导原则。国外许多医疗器械企业根据这些指导原则和文献建立自己的加速老化试验方法。(来源于:《中国医疗器械信息》2008年第14卷第5期《医疗器械加速老化实验确定有效期的基本原理和方法》) 二、实验条件和时间对比表

加速寿命试验的理论模型与试验方法

产品可靠性试验 6.2.1 可靠性试验的意义与分类 可靠性试验是为分析、评价、提高或保证产品的可靠性水平而进行的试验。产品的研制者通过试验获得产品设计、鉴定所需的可靠性数据(可靠性测定试验)。通过试验暴露产品缺陷,改进设计并获得可靠性增长信息(可靠性增长试验)。产品的制造者通过试验剔除零件批中的不合格品或暴露整机缺陷,消除早期故障(可靠性筛选或老化试验老化试验不是消除早期故障的)产品使用者通过试验验证产品批可靠性水平以保证接收的产品批达到规定要求(可靠性接收试验)。政府或行业管理部门通过试验获得数据库所需基础可靠性数据(可靠性测定试验),认证产品可靠性等级(可靠性验证试验),进行产品的可靠性鉴定与考核(可靠性鉴定试验)。 本节主要介绍可靠性测定试验,这是为获得产品可靠性特征量的估计值而进行的试验,根据需要可由试验结果给出可靠性特征量的点估计值和给定置信度下的区间估计。由于可靠性试验往往是旷日持久的试验,为节省时间与费用常采用加速试验的方式。本节将介绍某些加速寿命试验的理论模型与试验方法。 6.2.2 指数分布可靠性测定试验 大多数电子元器件、复杂机器及系统的寿命都服从指数分布。其待估参数为故障率λ,其他可靠性指标可利用估计值进行计算MTBF 已经有平均的意思了 1.定时截尾试验 (1)点估计试验进行至事先规定的截尾时间t c停止试验,设参与试验的n个样本中有r个发生关联故障,则由极大似然估计理论得出的故障率点估计值为 式中t i——第I个关联故障发生前工作时间(i=1,…,r)。 若在试验过程中及时将已故障产品修复或替换为新产品继续试验,则为有替换的定时截尾试验。此时λ的点估计为

可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档

一、可靠性理论基础 1.可靠度: 如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),当N足够大时,产品在t时刻的可靠度可近似表示为: 随时间的不断增长,将不断下降。它是介于1与0之间的数,即。 2.累积失效概率: 表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率,用F(t)表示,又称为失效分布函数。 如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),则当N足够大时,产品在该时刻的累积失效概率可近 似表示为: 3.失效分布密度: 表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度,其表达式如下: ?早期失效期; ?偶然失效期(或稳定使用期) ; ?耗损失效期。 二、寿命 老化:LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关, 可描述为: B t为t时间后的亮度,B0为初始亮度。通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。 1. 平均寿命 如果已知总体的失效分布密度f(t),则可得到总体平均寿命的表达式如下: 2. 可靠寿命 可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间。T R可由R(T R)=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律,则: 即可求得T R如下:

3. 中位寿命 中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命,即:对于指数分布情 况,可得: 二、LED寿命测试方法 LED寿命加速试验的目的概括起来有: ?在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平 ?运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度; ?在较短时间内提供试验结果,检验工艺; ?在较短时间内暴露LED的失效类型及形式,便于对失效机理进行研究,找出失效原因; ?淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件 1. 温度加速寿命测试法 由于通常LED寿命达到10万小时左右,因此要测得其常温下的寿命时间太长,因此采用加速寿命的方法。 根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。 利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系,即 式中L为寿命,Ea为激活能,A为常数,k为玻尔兹曼常数,T为热力学温度。 因此测试温度应有两个,即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。可以求得激活能Ea。样便可以求得温度 T1对某温度T3下的加速系数K3: 。有: 可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命,然后推得其他温度下的寿命。 这就要求被测器件的数量应足够多,才能避免个性影响,而得到共性,即得到统计寿命值才真实。 LED从正常状态进入劣化状态的过程中,存在能量势垒,跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给,这个能量势垒就称为激活能。

电工电子产品加速寿命试验(完整资料).doc

【最新整理,下载后即可编辑】 电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法,在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。因此,在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效,缩短试验周期。然后运用加速寿命模型,评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路,将激发的试验机制引入到可靠性试验,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,降低试验耗损。

2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系,通常是以一定的物理模型为依据的,下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段,并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来,形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验,剔除早期失效的产品,提高出厂产品的可靠性。 2.1 失效率模型图示: O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期

失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量,因此,产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移,产品的强度分布将逐渐发生变化,如果应力分布与强度分布一旦发生了干预,产品就会出现失效。因此,研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

加速寿命试验(7)

加速寿命试验 一般执行寿命试验之目的在评估产品于既定环境下之使用寿命,耗时较久,且须投入大量的金钱,而产品可靠度信息又不能实时获得并加以改善,导致失去许多"商机"与"竞争力"。因此,如何在实验室中以加速寿命试验(Accelerated Life Testing; ALT)的方法,在可接受的试验时间内评估产品的使用寿命,便成为整体可靠度试验工作中相当重要的一环,亦为可靠度试验中最具挑战性的课题。 基本上,加速寿命试验是在物理与时间上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验,并据以推定产品在正常使用状态的寿命或失效率。如果产品的劣化机构单纯,拟订加速寿命试验计划较容易。但实际产品失效往往牵涉到很多失效机构,即使欲同时加速,加速程度也因失效机构而异,可能发生迥异于实际操作上的失效模式。因此,加速寿命试验之基本条件是不能破坏原有特性,要尽量选择失效机构不变化的试验条件,或失效机构容易单纯化的试验条件,使加速寿命试验结果之适用范围明确化。 例如某信息设备的输入电压限制为100~130V,若规划以200V为输入,当然就破坏了原有的设计特性。 一般说来,加速寿命试验考虑的三个要素为「环境应力」、「试验样本数」及「试验时间」。假如产品既复杂又昂贵,则样本数将较少,相对的须增加试验时间或环境应力,以加速其试验;反之如果产品造价较便宜,且数量多,则欲缩短试验时间的情况下,可考虑增加样本数或环境应力。惟如前面所叙述,加速寿命试验下的失效模式.必须与正常操作环境下之寿命试验相同,其试验结果才有意义。 谈加速寿命试验,最重要的是如何掌握其加速因子(Accelerated Factor)。假使相同产品,做二种不同应力(加速)条件的试验,其结果可得二个不同的特征寿命η1设为低应力试验条件)及η2(为高应力条件),则η1/η2即为加速因子(高、低应力间相对的加速程度),图6.20即为此种加速观念的示意图。在相同产品老化程度下,两种试验的时间显然不同,由图6.20所得T1/T2值即为加速因子。

电子产品需做的常见20种检测认证

电子产品需做的常见20种检测认证 现在世界上无论是何种行业,所使用的电子家电产品都通过了各种各样的安全认证。为什么要有安全认证呢?这也是各厂家对自己产品的一种安全承诺,有关辐射的,有关电气安全的,有关人身安全的等等。 你的显示器还有你的电脑电源(POWER)上是是否有好多标识呢?如果没有,可要小心了,那些产品是没有安全保障的。面对种种认证及其标示,你都明白是什么意思吗?这里就简单介绍一些电脑资讯行业里最常见的安全认证,希望对大家在以后的硬件采购会有所帮助。 1、CCC产品认证- 中国强制认证 中国强制性产品认证于2002年5月1日起实施,认证标志的名称为“中国强制认证”(英文China Compulsory Certification的缩写“CCC”)。对列入国家质量监督检验检疫总局和国家认证认可监督管理委员会发布的《第一批实施强制性产品认证的产品目录》中的产品实施强制性的检测和审核。 凡列入目录内的产品未获得指定机构认证的,未按规定标贴认证标志,一律不得出厂、进口、销售和在经营服务场所使用。中国强制认证标志实施以后,将逐步取代原实行的“长城”标志和“CCIB”标志。原有的“长城”标志和“CCIB”标志自2003年5月1日起废止。 2、CCEE产品认证- 现已废止 CCEE的认证标志--长城标志中国电工产品认证委员会(CCEE)于一九八四年成立,英文名称为China Commission for Conformity Certification of Electrical Equipment(以下简称CCEE),是代表中国参加国际电工委员会电工产品安全认证组织(IECEE)的唯一机构,是中国电工产品领域的国家认证组织,CCEE下设有电工设备、电子产品、家用电器、照明设备四个分委员会。现已废止。 3、CCIB认证- CCIB是中国国家进出口商品检验局(China Commodity Inspection Bureau)的英文字头缩写。进口商品安全质量许可制度是国家进出口商品检验局(简称SACI)对进口商品实施的安全认证制度,凡列入SACI进口安全质量许可制度目录内的商品,必须通过产品安全型式试验及工厂生产与检测条件审查,合格后,加贴CCIB商检安全标志,方允许向我国出口、销售。常见于正宗的进口设备,电器上。现已废止。 4、CE认证–欧洲安全合格标志 CE标志的使用现在越来越多,加贴CE标志的商品表示其符合安全、卫生、环保和消费者保护等一系列欧洲指令所要表达的要求。CE代表欧洲统一(CONFORMITE EUROPEENNE)。CE只限于产品不危及人类、动物和货品的安全方面的基本安全要求,而不是一般质量要求,一般指令要求是标准的任务。 产品符合相关指令有关主要要求,就能加附CE标志,而不按有关标准对一般质量的规定裁定能否使用CE标志。因此准确的含义是:CE 标志是安全合格标志而非质量合格标志。 5、CQC产品自愿认证 CQC机构名称为中国质量认证中心,现中国强制认证CCC认证由其承担。获得CQC产品认证证书,加贴CQC 产品认证标志,就意味着该产品被国家级认证机构认证为安全的、符合国家响应的质量标准。

加速寿命试验在车用电子喇叭质量改进中的应用肖会全

价值工程 西方就餐使用的是长方形的车餐桌。即使来宾中有地位、身份、 年纪高于主宾的,在排定位次时,仍要紧靠主人就坐。男主人坐主位,右手是第一重要客人的夫人,左手是第二重要客人的夫人,女主人坐在男主人的对面。她的两边是最重要的第一、第二位男客人。现在,如果不是非常正规的午餐或晚餐,这样一男一女的间隔坐法就显得不重要了。长方形餐桌体现出西方人的棱角与独立。 5饮食方式的不同 中西方的饮食方式有很大不同,这种差异对民族性格也有影响。在中国,任何一个宴席,不管是什么目的,都只会有一种形式,就是大家团团围坐,共享一席。筵席要用圆桌,这就从形式上造成了一种团结、礼貌、共趣的气氛。美味佳肴放在一桌人的中心,它既是一桌人欣赏、品尝的对象,又是一桌人感情交流的媒介物。人们相互敬酒、相互让菜、劝菜,在美好的事物面前,体现了人们之间相互尊重、礼让的美德。虽然从卫生的角度看,这种饮食方式有明显的不足之处,但它符合我们民族“大团圆”的普遍心态,反映了中国古典哲学中“和”这个范畴对后代思想的影响,便于集体的情感交流,因而至今难以改革。 西式饮宴上,食品和酒尽管非常重要,但实际上那是作为陪衬。宴会的核心在于交谊,通过与邻座客人之间的交谈,达到交谊的目 的。 如果将宴会的交谊性与舞蹈相类比,那么可以说,中式宴席好比是集体舞,而西式宴会好比是男女的交谊舞。由此可见,中式宴会和西式宴会交谊的目的都很明显,只不过中式宴会更多地体现在全席的交谊,而西式宴会多体现于相邻宾客之间的交谊。与中国饮食方式的差异更为明显的是西方流行的自助餐。此法是:将所有食物一一陈列出来,大家各取所需,不必固定在位子上吃,走动自由,这种方式便于个人之间的情感交流,不必将所有的话摆在桌面上,也表现了西方人对个性、对自我的尊重。但各吃各的,互不相扰,缺少了一些中国人聊欢共乐的情调。 中西的传统餐饮习惯随着时间的变化和社会的国际化慢慢地在变化,在融合。但是这些传统的餐饮文化反映着某一个时间段的中西方的文化特点。有着很大的研究意义和历史意义的。 参考文献: [1]易中天.餐桌上的文化.文汇报.笔会. [2]林大津.跨文化交际研究.福建人民出版社,1996.10:92-127.[3]李天民.现代国际礼仪知识.世界知识出版社出版,2003.12:109. 1车用电子喇叭质量改进中困难 产品质量改进通常需要经历DMAIC 过程,即定义、测量、分析、改进和控制五个阶段[1]。其中,在分析和改进阶段需要对分析结论及改进方案进行验证,常见的验证方式为通过寿命试验获取失效数据,进而通过数据分析估计产品的各种可靠性特征。随着汽车产业技术水平的不断发展,整车寿命及可靠性要求随之提高。车用电子 喇叭产品使用寿命也由过去通常的10万次提高到50万次、 100万次,甚至更高水平,由此带来的问题是获取寿命试验数据变得非常困难。例如:当产品的寿命为50万次时,在通常情况下,失效时间约为29天;当产品寿命为100万次时,失效时间将接近2个月。同时,若考虑到试验过程辅助时间及产品寿命差异,试验时间将变得更长。过长的试验周期造成了试验费用增加、试验设备效率降低、潜在风险升高等问题,更重要的是过长的试验时间使试验在一定程度上失去了意义。在试验进行期间,质量改进工作陷于停顿,延误最佳时机,甚至会造成生产线停工,正常生产被中断,无法满足发货需求或 成千上万的潜在风险品被制造出来。无论哪种情况, 都会给企业造成巨大损失,都是企业不能接受的。 2加速寿命试验 加速寿命试验为解决前述问题提供了有效途径。加速寿命试验(accelerated life testing )是指在超过使用环境条件的应力水平下对 样品进行的寿命试验[2] 。加速寿命试验的特点是:通过分析,选择比 正常使用/试验环境更加严酷的应力水平 (即加速应力水平),在选定的加速应力水平下对样本进行寿命试验。由于试验条件变得严酷,产品失效加快,试验时间被缩短。通过加速寿命试验获取失效数据后,使用加速寿命试验模型对产品在正常使用/试验条件下的可 靠性特征进行估计[3,4] 。需要指出的是,在加速应力水平下,产品的失效机理不能发生变化。例如:正常使用/试验条件下,电子喇叭发音片的失效机理为机械疲劳,在加速应力水平下,失效机理仍应为机 械疲劳。若失效机理发生了变化, 则失去了加速寿命试验实施的前提条件。 2.1截尾试验在寿命试验中,由于试验所需时间较长,通常在全部样品失效前即结束试验,即采用截尾试验。截尾试验总体上分为两类:定数截尾试验和定时截尾试验。定数截尾试验是指当失效样品数达到规定数量或比例后即结束试验;定时截尾试验是指在达到规定试验时间后即结束试验,不考虑此时的失效样品数。 2.2删失数据在寿命试验中,失效数据往往与一般数据不同, 其区别在于它常常是删失的。总体上, 删失数据可区分为如下三种类型[5]:在对电子喇叭进行的寿命试验中,当试验进行到600小时,仍有3只样品未失效,若这时结束试验,对于这3只样品则我们得到的失效数据为寿命时间大于600小时,这种数据称为右删失数据;若当试验进行至600小时,发现某一样品失效,但准确失效时间我们不知道,则只可以判定该样品的寿命时间小于600小时,此时的数据称为左删失数据;同样地,若可以判定某一样品的失效时间在600至650小时之间, 则寿命时间数据为区间删失数据。3车用电子喇叭加速寿命试验应用实例—————————————————————— —作者简介:肖会全(1978-),男,黑龙江铁力人,助理工程师,硕士,研究方向为运作管理与质量管理。加速寿命试验在车用电子喇叭质量改进中的应用 Application of Accelerated Life Testing in improvement of Electrical Automotive Horn 肖会全Xiao Huiquan ;张杰Zhang Jie (北京工业大学经济与管理学院,北京100124) (School of Economics and Management , Beijing University of Technology ,Beijing 100124,China )摘要:针对车用电子喇叭产品在质量改进中的可靠性特征数据难于获取问题,采用加速寿命试验方法缩短试验时间,达到快速获取失效时 间数据的目的。本文通过实例,对应用背景、加速寿命试验条件、样本选取及数据处理进行了分析和说明。同时,针对车用电子喇叭产品的特殊 性,试验中不仅采用了提高工作电压的加速失效方法,同时采用了包括机械结构变更、工作方式调整在内的其它加速失效方法。 Abstract:Accelerated life testing is used here to get the data of failure time rapidly and to solve the problem that it is difficult to get the data of reliability character.An actual example is shown to analyze and explain the processes which include the background of application,conditions for accelerated life testing,samples and analysis for data.At the same time,according to the specificity of electrical automotive horn,different means are used to reduce the failure time,not only include increased voltage,but also include the changing for the structure of samples and the adjusting for the way of horn's work. 关键词:电子喇叭;加速寿命试验;截尾试验;删失数据;发音片Key words:electrical horn ;accelerated life testing ;curtailed test ;censoring data ;sound plate 中图分类号:U46 文献标识码:A 文章编号:1006-4311(2012)14-0298-02 ·298·

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法,在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。因此,在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效,缩短试验周期。然后运用加速寿命模型,评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路,将激发的试验机制引入到可靠性试验,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系,通常是以一定的物理模型为依据的,下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段,并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来,形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验,剔除早期失效的产品,提高出厂产品的可靠性。 2.1 失效率模型图示:

O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量,因此,产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移,产品的强度分布将逐渐发生变化,如果应力分布与强度分布一旦发生了干预,产品就会出现失效。因此,研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式 【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验 寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。在正常工作条件下,常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说,就不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间,甚至来不及作完寿命试验,新的产品又设计出来,老产品就要被淘汰了。所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。经过人们的不断研究,在寿命试验的基础上,找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法,加快产品失效,缩短试验周期。运用加速寿命模型,估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。 下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。 1 问题 高可靠的元器件或者整机其寿命相当长,尤其是一些大规模集成电路,在长达数百万小时以上无故障。要得到此类产品的可靠性数量特征,一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。解决此问题的方法,目前有以下几种: (1)故障数r=0的可靠性评定方法。 如指数分布产品的定时截尾试验 θL=2S(t0)

2χα(2) 22S(t)χαα00为总试验时间。为风险, =时,.1(2)=≈; 当α=时, χ(2)=≈6。 (2)加速寿命试验方法 如,半导体器件在理论上其寿命是无限长的,但由于工艺水平及生产条件的限制,其寿命不可能无限长。在正常应力水平S0条件下,其寿命还是相当长的,有的高达几十万甚至数百万小时以上。这样的产品在正常应力水平S0条件下,是无法进行寿命试验的,有时进行数千小时的寿命试验,只有个别半导体器件发生失效,有时还会遇到没有一只失效的情况,这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1,S2,…,Sk,在这些应力下进行寿命试验,使产品尽快出现故障。 (3)故障机理分析方法 研究产品的理、化、生微观缺陷,研究缺陷的发展规律,从而预测产品的故障及可靠性特征量。 2 加速寿命试验的思路 由产品故障的应力—强度模型(见图5-5) 图5-5 应力—强度模型 其中:R(t)=P(强度>应力),F(t)=P(应力≥强度) 当强度与应力均为确定型时,产品在t2故障。实际上强度与应力是概率风险型的,当均服从正态分布时,产品则可能提前在t1,以一定概率发生故障。

电子产品加速寿命试验技术

电子产品加速寿命试验技术 招生对象 --------------------------------- 可靠性经理(主管)、技术部经理、可靠性工程师、质量经理、质量管理工程师、QC工程师、QA工程师、测试工程师、结构设计工程师、生产技术及工艺工程师等 【主办单位】中国电子标准协会 【咨询热线】0 7 5 5 – 2 6 5 0 6 7 5 7 1 3 7 9 8 4 7 2 9 3 6 李生【报名邮箱】martin#https://www.360docs.net/doc/c711424634.html, (请将#换成@) 课程内容 ---------------------------------

【培训目标】 1.熟练掌握ALT的基本概念和基本理论 2.熟练掌握ALT的加速模型及数据分析方法 3.熟练掌握ALT的设计技术 4.熟练掌握整机产品的ALT技术 5.熟练掌握加速退化试验技术 6.掌握加速试验的最新技术 课程大纲: 课程大纲 本课程是中国工程物理研究院可靠性专家组成员、加速寿命试验(ALT)技术研究中心(筹建中)技术总负责人林先生多年ALT理论和实践研究总结而精心打造的融理论高度与实践高度为一体的课程;透过学员对本门课程的研习,帮助学员系统掌握开展加速寿命试验的方法和研究思路、加速寿命试验的设计与分析技术。力求使学员能独立承担产品的ALT项目。如您在工作中有ALT方面的疑难问题,请提前联系我们;林先生非常希望能在培训现场和您一块探讨,为您解忧! 【培训大纲】 一. 加速寿命试验概论 1.从寿命试验到加速寿命试验 1.1 什么是寿命试验 1.2 寿命试验分类 2.为什么要开展加速寿命试验 2.1什么是加速寿命试验 2.2 加速寿命试验的目的 2.3 开展加速寿命试验的意义 3.加速寿命试验的基本类型 3.1 恒定应力加速寿命试验 3.2 步进应力加速寿命试验 3.3 序进应力加速寿命试验 3.4 其它 4.加速寿命试验中常用的加速应力 4.1 应力概念 4.2 常用的应力 4.3 什么是应力水平 4.4 应力作用效果的决定因素 4.5 选择加速应力时主要考虑的问题 5.截尾寿命试验 5.1 什么是截尾寿命试验 5.2 常用的截尾寿命试验 5.2.1 定时截尾寿命试验 5.2.2 定数截尾寿命试验 二. 如何判断产品的失效过程具有加速性 1.什么是加速性 2.失效过程的加速性是加速寿命试验的前提 3.加速性的存在与否判断原则

《电子产品检测技术》课程标准

《电子产品检测技术》课程标准 一、概述 (一)课程性质 本课程是五年制高职教育层次应用电子技术专业的核心课程,是本专业学生必修的综合技术课程。 课程主要介绍电子测量的基本知识、电子测量的原理和方法、电子产品检验概述、电子产品技术条件和测量方法和检验仪器操作规程。介绍做电子产品检验质量记录,如何出具电子产品检验报告。 通过本课程的学习和项目训练,帮助学生完成从课堂知识学习到生产工作实践的思想转变,加强学生的标准与规范意识,使学生具备电子测量知识的综合应用能力和电子产品检验的基本知识与技能,使其成为能够在电子整机生产、服务、技术和管理第一线工作的高素质劳动者和中初级专门人才。 (二)课程基本理念 在教学观念方面,需要从应用型人才培养模式出发,着眼于人才培养的全过程,整体优化课程结构,树立人才培养方案整体优化和基础课程教学局部优化协调统一的观念;树立加强素质教育,融知识、能力、素质教育为一体的观念;树立学生是学习主体,鼓励个性特长发展,加强创新能力和意识培养的观念;树立教学、科研与生产相结合的观念;树立教学层次多元化、培养途径多样化的观念;树立质量意识、用新的人才观念指导教学工作的观念,制定教育质量标准,建立健全教育质量保障体系。 在课程体系改革方面,需要在知识、能力和素质三维空间中建构教与学、课内与课外、理论教学与实践教学为一体的培养方案;在正确处理教学内容不断更新与教学过程相对稳定关系的同时,精选核心内容,压缩或取消陈旧和重复内容,广容先进思想,重组知识单元;构建实践教学环节的培养方案,在基础课程教学中强化工程背景知识和应用分析,工程综合应用意识;妥善处理统一性与多样性之间的关系,根据实际情况设置不同档次、不同内容的课程供学生选择,重组学生的基础知识结构。 在教学方法方面,实行精讲多练,采用启发式、讨论式、发现式教学,调动学生学习的积极性;

相关文档
最新文档