光电探测器响应时间的测试实验报告模板

通常,光电探测器输出的电信号都有要在时间上落后于作用在其上的光信号,即光电探测器的输出相对于输入的光信号要发生沿时间轴扩展。扩展的程序可由响应时间来描述。光电探测器的这种响应落后于作用信号的特性称为惰性。由于惰性的存在,会使先后作用的信号在输出端相互交叠,从而降低了信号的调制度。如果探测器观测的是随时间快速变化的物理量,则由于惰性的影响会造成输出严重畸变。因此,深入了解探测器的时间响应特性是十分必要的。

一、实验目的

(1)了解光电探测器的响应度不仅与信号光的波长有关,而且与信号光的调制频率有关;

(2)掌握发光二极管的电流调制法;

(3)熟悉测量控测器响应时间的方法。

二、实验内容

(1)用探测器的脉冲响应特性测量响应时间;

(2)利用探测器的幅频特性确定其响应时间。

三、基本原理

表示时间响应特性的方法主要有两种,一种是脉冲响应特性法,另一种是幅频特性法。

1. 脉冲响应响应落后于作用信号的现象称为弛豫。对于信号开始作用时产弛豫称为上升弛豫或起始弛豫;信号停止作用时的弛豫称为衰减弛豫。弛豫时间的具体定义如下:

如用阶跃信号作用于器件,则起始弛豫定义为探测器的响应从零上升为稳定值的(1-1/e)(即63%)时所需的时间。衰减弛豫定义为信号撤去后,探测器的响应下降到稳定值的1/e(即37%)所需的时间。这类探测器有光电池、光敏电阻及热电探测器等。另一种定义弛豫的时间的方法是:起始弛豫为响应值从稳态值的10%上升到90%所用的时间;衰减弛豫为响应从稳态值的90%下降到10%所用的时间。这种定义多用于响应速度很快的器件,如光电二极管、雪崩光电二极管和光电倍增管等。

若光电探测器在单位跃信号作用下的起始阶跃响应函数为[1-exp(-t/τ

1

)],

衰减响应函数为exp(-t/τ

2),则根据第一种定义,起始弛豫时间为τ

1

,衷减弛

豫时间性为τ

2

此外,如果测出了光电探测器的单位冲激响应函数,则可直接用其半值宽度来表示时间特性。为了得到具有单位冲激函数形式的信号光源,即δ函数光源,可以采用脉搏冲式发光二极管、锁模激光器以及火花源等光源来近似。在通常测试中,更方便的是采用具有单位阶跃函数形式亮度分布的光源。从而得到单位阶跃响应函数,进而确定响应时间。

2. 幅频特性由于光电探测器惰性的存在,使得其响应度不仅与入射辐射的波长有关,而且还是入射辐射调制频率的函数。这种函数关系还与入射光强信号的波形有关。通常定义光电探测器对正弦光信号的响应同值同调制频率间的关系为它的幅频特性。许多光电探测器的幅频特性具有如下形式。

A(ω)=

()

2

/122

11

τω+ (2-1)

式中,A 表示归一化后幅频特性;ω=2Πf 为调制圆频率;f 为调制频率;τ为响应时间。

在实验中可以测得探测器输出电压V(ω)为 V(ω)= ()

2

/122

1τω+V (2-2)

式中V 0为探测器在入射光调制频率为零时的输出电压。这样,如果测得调制频率为f 1时的输出信号电压V 1和调制频率为f 2时为输出信号电压V 2,就可由下式确定响应时间

τ=

()

()

2

112

2

22

22121

f V f V V V --∏

(2-3)

为减小误差,V 1与V 2的取值应相差10%以上。

由于许多光电探测器的幅频特性都可由式(2-1)描述,人们为了更方便地表示这种特性,引出截止频率。它的定义是当输出信号功率降至超低频一半时,即探测到的信号电压降至初始信号频率最低时探测器所探测到的电压幅值的70.7%时的调制频率。故f c 频率点又称为三分贝点或拐点。由式(2-1)可知 πτ

21c =

f (2-4)

实际上,用截止频率描述时间特性是由式(2-1)定义的τ参数的另一种形式。 在实际测量中,对入射辐射调制的方式可以是内调制也可是外调制外调制是用机械调制盘在光源外进行调制因这种方法在使用时需要采取稳频措施,而且很难达到很高的调制频率,因此不适用于响应速度很快的光子探测器所以具有很大的局限性。内调制通常采用快束响应的电致发光元件作辐射源。采取电调制的方法可以克服机械调制的不足,得到稳定度高的快速调制。

四、实验仪器

光电探测器时间常数测试实验箱:20M 双踪示波器。

在光电探测器时间常数测试实验箱中,提供了需测试两个光电器件:峰值波长为900nm 的光电二极管和可见光波段的光敏电阻。所需的光源分别由峰值波长为900nm 的红外发光管和可见光(红)发光管来提供。光电二极管的偏压与负载都是可调的,偏压分为5V 、10V 、15V 三档,负载分100殴姆、1K 殴姆、10K 殴姆、50K 殴姆、100K 殴姆五档。根据需要,光源的驱动电源有脉搏冲和正弦波两种,并且频率可调。

下面简要介绍CS-1022型示波器的外触发工作方式和10%到90%的上升响应时

间的测试方法。

1.外触发同步工作方式

当示波器的触发源选择ext档时,CS-1022型示波器右下角的外触发输入插座上的输入信号成为触发信号。在很多应用方面,外触发同步更为适用于波形观测。这样可以获得精确的触发而与馈送到输入插座CH1和CH2的信号无关。因此,即使当输入信号变化时,也不需要进一步触发。

2. 10%到90%的上升响应时间的测试

(1)将信号加到CH1输入插座,置垂直方式于CH1。用V/div和微调旋钮测量波形峰峰值。

(2)用位移钮和其它旋钮调节波形,使其显示在屏幕垂直中心。将t/div 开关调到尽可能快速的档位,能同时观测10%和90%两个点。将微调置于校准档。

(3)用位移旋钮调节10%点,使之与垂直刻度重合,测量波形上10%和90%点之间的距离(div)。将该值乘以t/div,如果用“×10扩展”方式,再诚意1/10。

请正确使用10%、90%线。在CS-1022型示波器上,每个0%、10%、90%和100%测量点都标记在示波器屏幕上。

使用公式:

上升响应时间t r=水平距离(div)×t/div档位ד×10扩展”的倒数(1/10)。【举例】

例如,水平距离为4div,t/div是2μs(见图2-2)。代入给定值:

上升响应时间t r=4.0(div)×2(μs)=8μs

图2-2 上升响应时间测量距离

五、实验步骤

1.用脉冲法测量光电二极管的响应时间

首先要将本实验箱(光电探测器时间常数仪)面板上“偏压”档和“负载”分别选通一组。

将“波形选择”开关拨至脉冲档,“探测器选择”开关拨至光电二极管档,此时由“波形”的二极管处应可观测到方波,由“输出”接口可得到光电二极管的输出波形,其频率可通过“频率调节”处的方波旋钮来调节,一般情况下默认将频

率旋至最低。如下图所示,其中有色部分表示需要操作的部分,光源和输出模块需连接示波器。

调节示波器的扫描时间和触发同步,使光电二极管对光脉冲的响应在示波器上得到清晰的显示。

选定负载为10kΩ,改变其偏压。观察并记录在零偏(不选偏压即可)及不同反偏下光电二极管的响应时间,并填入表2-1。

在反向偏压为15V时,改变探测器的偏置电阻,观察探测器在不同偏置电阻时的脉冲响应时间。记录填入表2-2。

2.用幅频特性法测量CaSe光敏电阻的响应时间

将本实验箱面版上“波形选择”开关拔至正弦档,“探测器选择”开关拔至光敏电阻档,此时由“输入波形”的光敏电阻处应可观测到正弦波形,由“输出”处引出的输出线(蓝线)即可得到光敏电阻的输出波形,其频率可改变“频率调节”处的正弦钮来调节。如下图所示,其中有色部分表示需要操作的部分,光源和输出模块需连接示波器。

改变光波信号频率,测出不同频率下CdSe的输出电压(至少测三个频率点)并记录。

根据式(2-3)计算出其响应时间。

3. 用截止频率测量CdSe 光敏电阻的响应时间改变正弦波的频率,可以发现随着调制频率的提高,CdSe负载电阻两端的信号电压将减小。测出其衰减到超低频的70.7%时的调制频率f c(若初始正弦信号频率最低时,光敏电阻探测器探测到的信号幅值为1.5V,则增加初始正弦信号频率直到光敏电阻探测器探测到的信号幅值为1.05V左右为止,此时的调制频率即为f c),并由式(2-4)确定时间τ。

六、实验数据处理

七、实验总结

1.光敏电阻其实是类似于太阳能电池板得结构,从理论上来讲,强光照射下,它产生的电场强度比较大.但是一般来说,强光和弱光之间的差距只有非常小数值,小到可以忽略不计。

2.随着调制频率的提髙,CdSe负载电阻两端的信号电压将减小。

光电探测器的性能测试与分析

光电探测器的性能测试与分析 一、引言 光电探测器是一种重要的光电器件,其性能的优劣直接影响到光电仪器的使用效果。因此,对于光电探测器的性能测试与分析具有重要意义。本文将从光电探测器的性能测试方法、测试参数的选择、测试结果分析等多个方面进行详细探讨。 二、光电探测器的性能测试方法 1. 光谱响应测试 光谱响应测试是评估光电探测器对不同波长光的响应能力的重要方法。常用的测试设备包括光源、光谱辐射计和系统软件等,通过调节光源的波长和强度,测量光电探测器在不同波长下的响应能力。 2. 响应时间测试 响应时间是指光电探测器从接收到光信号到达稳定的响应状态所需的时间。正确测试光电探测器的响应时间可以帮助评估其在高速光信号检测和快速数据采集等应用中的适用性。常用的测试方法包括脉冲激励法和步阶激励法。 3. 暗电流测试

暗电流是指光电探测器在没有光照的情况下产生的电流。暗电流是评估光电探测器的敏感性能和噪声特性的重要参数。测试时需要排除光源的影响,并通过调节环境温度等因素来控制暗电流的大小。 4. 噪声测试 噪声是光电探测器输出信号中不希望的波动成分,会干扰信号的准确度和稳定性。常见的噪声包括热噪声、暗噪声和自由噪声等。噪声测试可以通过测量输出信号的功率谱密度来进行。 三、测试参数的选择 在进行光电探测器的性能测试时,需要选择合适的测试参数。首先,需要根据实际应用需求选择测试范围和测试精度。其次,需要考虑光电探测器的工作原理、结构特点和材料特性等因素,选择合适的测试方法和测试设备。最后,需要根据测试结果的应用场景,选择合适的性能指标进行评估。 四、测试结果分析 在进行光电探测器的性能测试后,需要对测试结果进行分析。首先,需要比较测试结果与规格书中的标准值是否一致,以验证光电探测器是否符合规格要求。其次,需要分析测试结果的稳定性和可重复性,确定光电探测器的长期稳定性能。最后,需要与

光电探测器实验报告

光电探测器实验报告 光电探测器实验报告 引言: 光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的装置,广泛应用于光学通信、 光电测量等领域。本实验旨在通过实际操作,了解光电探测器的工作原理、特 性以及应用。 一、实验目的 本实验的目的是通过搭建实验电路,测量光电探测器的电流-电压特性曲线,了解其灵敏度、响应速度等参数,并探究不同波长光对光电探测器的影响。 二、实验装置与方法 本实验所用的主要装置有光电探测器、光源、电流电压源、示波器等。首先, 将光电探测器与电流电压源相连接,然后将示波器与光电探测器并联,最后将 光源对准光电探测器。在实验过程中,我们将改变电流电压源的输出电压,记 录光电探测器的输出电流,并观察示波器上的波形。 三、实验结果与分析 通过实验测量,我们得到了光电探测器的电流-电压特性曲线,如图1所示。从图中可以看出,当电压较小时,光电探测器的输出电流较小,随着电压的增加,输出电流逐渐增大。当电压达到一定值后,输出电流基本保持稳定。这是因为 在低电压下,光电探测器的内部电场较弱,电子-空穴对的产生较少,因此输出电流较小。随着电压的增加,内部电场增强,电子-空穴对的产生增多,导致输出电流增大。当电压达到一定值后,内部电场已经达到饱和,此时输出电流基 本保持稳定。

图1 光电探测器的电流-电压特性曲线 另外,我们还对不同波长光对光电探测器的影响进行了实验。通过改变光源的波长,我们测量了不同波长下光电探测器的输出电流。实验结果显示,当光源的波长与光电探测器的工作波长匹配时,输出电流最大。这是因为光电探测器对特定波长的光敏感度最高,其他波长的光则会引起较小的输出电流。这一特性使得光电探测器在光学通信等领域中具有重要的应用价值。 四、实验总结 通过本次实验,我们深入了解了光电探测器的工作原理和特性。光电探测器的电流-电压特性曲线反映了其灵敏度、响应速度等重要参数。同时,不同波长光对光电探测器的影响也得到了验证。这些实验结果有助于我们更好地理解光电探测器的应用和优化设计。 在实验过程中,我们也发现了一些问题。例如,光电探测器的输出电流受环境光的影响较大,因此在实际应用中需要采取一定的屏蔽措施。此外,光电探测器的响应速度也会受到器件本身的特性和外部电路的影响,需要进一步研究和优化。 总之,本实验通过实际操作,使我们对光电探测器有了更深入的了解。光电探测器作为一种重要的光学器件,在通信、测量等领域有着广泛的应用前景。希望通过今后的学习和研究,能够进一步发展和改进光电探测器,推动光学技术的发展。

光电探测器响应时间实验研究-毕业设计论文

光电探测器响应时间实验研究 摘要 近几十年来,光电探测器在光通信、国防探测、信号处理、传感系统和测量系统等高精尖科技领域得到广泛的应用,在信息为导向的时代,时间就是生命,提高速度的需求日益紧迫,提高光电探测器响应速度的努力几乎从诞生它的一刻起就没停止过。本实验主要研究光敏电阻和光电二极管的响应时间。理论分析先从光敏电阻的光谱响应特性、照度伏安特性、频率响应、温度特性和前历效应来考察它的工作影响因素,确定光敏电阻响应时间与其入射光的照度、所加电压、负载电阻及照度变化前电阻所经历的时间的关系。从光电二极管的模型分析,我们知道光电二极管的响应时间有三个方面决定:①光生载流子在耗尽层附近的扩散时间;②光生载流子在耗尽层内的漂移时间;③与负载电阻并联的结电容所决定的电路时间常数。文中将详细分析计算对比三个时间的数量级,以确定提高响应速度的最有效途径,并提出改善光电二极管的有效方法和PIN模型。实验研究时,采用近似脉冲的光源,经探测器的输出信号输入快速响应的CS-1022型示波器,在示波器上直接读出响应时间,分析实验结果,得出影响探测器响应时间的因素。 关键词:光电探测器,响应时间,半导体,影响因素

Abstract In recent decades, photoelectric detectors have been widely used in high-tech areas such as optical communications, national defense detection and signal processing, sensing system and measurement system .in the era which leaded by information, time is life. Improving speed increasingly is urgent needs of photoelectric detector. To improve the response speed, effort haven't been stopped from birth to its moment. This experiment mainly researchs photoconductive resistance and photoelectric diode response time. The theoretical analysis studys photoconductive resistance properties, intensity of illumination volt-ampere characteristics, frequency response and temperature characteristic and former calendar effect to examine its working influence factors, and find out the influencing factors between photoconductive resistance response time and incident light intensity of illumination, voltage, load resistance and the time experienced before intensity of illumination change. From the model analysis of the photoelectric diode, we know that the response time of the photoelectric diode has three aspects: (1) The diffusion time of photon-generated carrier near depletion layer.(2) The drift time of photon-generated carrier in depletion layer .(3) The constant of the circuit decided by junction capacitor which parallel with the load resistance . The detailed analysis and calculation of the order of magnitude of three time will be contrasted to determine the effective ways to improve photoelectric diode’s reaction speed,and the effective PIN model.In the experimental study, we use a pulse generator as light source, and the detector pulse output signal input quick response CS - 1022 type scillograph. So we can read direct response time in oscilloscope directly, then analyze the results, find out the factors which affect the probe response time. Key word:Photoelectric detector, response time, semiconductor, influencing factors

光电探测器关键性能参数测试研究共3篇

光电探测器关键性能参数测试研究共 3篇 光电探测器关键性能参数测试研究1 光电探测器关键性能参数测试研究 光电探测器是现代光学系统及通信系统中重要的组成部分,如光电转换、信号检测等,而其性能参数如灵敏度、响应时间等则对整个系统的效能和性能产生非常重要的影响。因此,对光电探测器关键性能参数进行测试研究是非常必要的。 1. 灵敏度测试 灵敏度是光电探测器的重要性能参数之一,是指光电探测器吸收到的光功率与光电转化电流之比。具有高灵敏度的光电探测器能够更加灵敏地检测到光信号。光电探测器的灵敏度测试需要利用光源和光功率计将光信号输入光电探测器,同时修改光源的光功率,测量光电转化电流和光功率之比,以得到光电探测器的灵敏度。 2. 响应时间测试 响应时间是光电探测器的另一重要性能参数,指的是光电转换电流上升到其最大值时所需的时间。具有高响应时间的光电探测器能够更快地响应到光信号。光电探测器的响应时间测试需要利用激光光源和光脉冲发生器将光信号输入光电探测器,同

时利用示波器记录光电转化电流的波形,以得到光电探测器的响应时间。 3. 噪声测试 噪声是光电探测器的另一个重要性能参数,指的是光电探测器未受到光信号时产生的电流和电压波动。噪声影响了光电探测器的信噪比和灵敏度。光电探测器的噪声测试需要利用示波器和功率谱仪来对光电探测器的电流和电压进行测试。 4. 阈值电流测试 阈值电流是光电探测器另一个重要性能参数,是指光电探测器开始进行光电转换时所需的最小电流。阈值电流直接影响光电探测器的检测能力。光电探测器的阈值电流测试需要利用实验仪器来检测光电转换电流和光功率计之间的关系,以此得到阈值电流。 总的来说,光电探测器关键性能参数测试是一项非常重要的工作,它能够为光学系统和通信系统中光电探测器的适当选择和性能提升提供可靠的理论和实践基础。伴随着科技的迅速发展和社会的不断进步,光电探测器在各个领域的应用越来越广泛,不断地推动着光学技术的进步和创新 综上所述,光电探测器的关键性能参数测试是非常重要的,能够为光学系统和通信系统的性能提升提供有力的支撑。实验测试技术的不断发展,为光电探测器的测试提供了更为精确和高

(实验项目选一、选二)大恒讲义 GCS-GDTC光电探测器参数测量实验

光电探测器特性测量 实验 实验讲义 大恒新纪元科技股份有限公司 版权所有不得翻印

光电探测器特性测量实验 一、 引言 光电探测器可将一定的光辐射转换为电信号,然后经过信号处理,去实现某种目的,它是光电系统的核心组成部分,其性能直接影响着光电系统的性能。因此,无论是设计还是使用光电系统,深入了解光电探测器的性能参数都是很重要的。 通常,光电探测器的光电转换特性用响应度表示。响应特性用来表征光电探测器在确定入射光照下输出信号和入射光辐射之间的关系。主要的响应特征包括:响应度、光谱响应、时间响应特性等性能参数。 本实验内容主要是光电探测器性能参数测量和光电探测器的一般使用方法,并专门列举了几种常用的光电探测器的使用方法。 二.实验目的 1.加深对光谱响应概念的理解; 2.掌握光谱响应的探测方法; 3.了解对光电探测器的响应度的影响因素; 4.掌握测量探测器响应时间的方法 第一部分 光电探测器光谱响应度的测量 光谱响应度是光电探测器的基本性能参数之一,它表征了光电探测器对不同波长入射辐射的响应。通常热探测器的光谱响应较平坦,而光子探测器的光谱响应却具有明显的选择性。一般情况下,以波长为横坐标,以探测器接收到的等能量单色辐射所产生的电信号的相对大小为纵坐标,绘出光电探测器的相对光谱响应曲线。典型的光子探测器和热探测器的 光谱响应曲线如图1-1所示。 一. 实验目的 1.加深对光谱响应概念的理解; 2.掌握光谱响应的探测方法; 3.熟悉热释电探测器和硅光电二极管。 二.实验内容 1.用热释电探测器测量钨丝灯的光谱辐射特性曲线; 2.用比较法测量硅光电二极管的光谱响应曲线。 图1-1 典型光电探测器的光谱响应

实验一 光电探测器特性测试实验

华 南 师 范 大 学 实 验 报 告 学生姓名 学 号 20103100152 专 业 通信工程 年级、班级 10级6A _ 课程名称 光纤通信 实验项目 实验一 光电探测器特性测试实验 实验类型 ■验证 □ 设计 □综合 实验时间 2013_ 年 _11___月 __5 日 实验指导老师 彭力 实验评分 一、实验目的 1、学习光电探测器响应度及量子效率的概念 2、掌握光电探测器响应度的测试方法 3、了解光电探测器响应度对光纤通信系统的影响 二、实验内容 1、测试1310nm 检测器I-P 特性 2、根据I-P 特性曲线,得出检测器的响应度并计算其量子效率 三、实验仪器 1、ZY12OFCom23BH1型光纤通信原理实验箱 1台 2、光功率计 1台 3、FC-FC 单模光跳线 1根 4、万用表 1台 5、连接导线 1根 四、实验原理 在光纤通信工程中,光检测器(photodetector ),又称光电探测器或光检波器。按其作用原理可分为热器件和光子器件两大类。前者是吸收光子使器件升温,从而探知入射光能的大小,后者则将入射光转化为电流或电压,是以光子-电子的能量转换形式完成光的检测目的。 最简单的光检测器就是p-n 结,但它存在许多缺点,光纤通信系统中,较多采用p-i-n 光电二极管(简称PIN 管)及雪崩光电二极管(APD 管),都是实现光电转换的半导体器件。 在给定波长的光照射下,光检测器的输出平均电流与入射的光功率平均值之比称响应率或响应度。简言之,即输入单位的光功率产生的平均输出电流,R 的单位为A/W 或uA/uW 。其表达式为: P I R p = (1-1) 响应率是器件外部电路中呈现的宏观灵敏特性,而量子效率是内部呈现的微观灵敏特性。量子效率是能量为h υ的每个入射光子所产生的电子-空穴载流子对的数量: hv P e P //I =入射到器件上的光子数对数通过结区的光生载流子= η (×100%) (1-2) 上式中,e 是电子电荷;υ为光的频率。通过测试I P 与P 的关系,即可计算获得检测器 的量子效率,其中光电检测器的量子效率与响应度的关系为: 24 .1ηλ= R (1-3) 在波长确定的情况下,通过测试得到一定光功率下检测器输出的电流,即可获得检测器

光电探测器光谱响应度和响应时间的测量(刘1)解读

光电探测器光谱响应度的测量 光谱响应度是光电探测器的基本性能之一,它表征了光电探测器对不同波长入射辐射的响应。通常热探测器的光谱响应比较平坦,而光子探测器的光谱响应却具有明显的选择性。一般情况下,以波长为横坐标,以探测器接受到的等能量单色辐射所产生的电信号的相对大小为纵坐标,绘出光电探测器的相对光谱响应曲线。典型的光子探测器和热探测器的光谱响应曲线如图1-1所示。 一、实验目的 (1)加深对光谱响应概念的理解; (2)掌握光谱响应的测试方法; (3)熟悉热释电探测器和硅光电二极管的使用。 二、实验内容 (1)用热释电探测器测量钨丝灯的光谱辐射特性曲线; (2)用比较法测量硅光电二极管的光谱响应曲线。 三、基本原理 光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。电压光谱响应度()λV ?定义为在波长为λ的单位入射辐射功率的照射下,光电探测器输出的信号电压,用公式表示,则为 ()()() λλλP V V = ? (1-1) 而光电探测器在波长为λ的单位入射辐射功率的作用下,其所输出的光电流叫做探测器的电流光谱响应度,用下式表示 ()()() λλλP I i = ? (1-2) 式中, P (λ)为波长为λ时的入射光功率;V (λ)为光电探测器在入射光功率P (λ)作用下的输出信号电压;I (λ)则为输出用电流表示的输出信号电流。为简写起见,()λV ?和()λi ?均可以用()λ?表示。但在具体计算时应区分()λV ?和()λi ?,显然,二者具有不同的单位。 通常,测量光电探测器的光谱响应多用单色仪对辐射源的辐射功率进行分光来得到不同波长的单色辐射,然后测量在各种波长辐射照射下光电探测器输出的电信号V (λ)。然而由于实际光源的辐射功率是波长的函数,因此在相对测量中要确定单色辐射功率P (λ)需要利用参考探测器(基准探测器)。即使用一个光谱响应度为()λf ?的探测器为基准,用同一波长的单色辐射分别照射待测探测器和基准探测器。由参考探 测器的电信号输出(例如为电压信号)()λf V 可得单色辐射功率()()()λλλ?=f V P ,再通过(1-1)式计算即可得到待测探测器的光谱响应度。 本实验采用图1-2所示的实验装置。用单色仪对钨丝灯辐射进行分光,得到单色光功率P (λ)。 图1-2 光谱响应测试装置图 这里用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器,测得P (λ)入射时的输出电压为()λf V 。若用 f ?表示热释电探测器的响应度,则显然有

光电探测器响应时间的测试实验报告模板

通常,光电探测器输出的电信号都有要在时间上落后于作用在其上的光信号,即光电探测器的输出相对于输入的光信号要发生沿时间轴扩展。扩展的程序可由响应时间来描述。光电探测器的这种响应落后于作用信号的特性称为惰性。由于惰性的存在,会使先后作用的信号在输出端相互交叠,从而降低了信号的调制度。如果探测器观测的是随时间快速变化的物理量,则由于惰性的影响会造成输出严重畸变。因此,深入了解探测器的时间响应特性是十分必要的。 一、实验目的 (1)了解光电探测器的响应度不仅与信号光的波长有关,而且与信号光的调制频率有关; (2)掌握发光二极管的电流调制法; (3)熟悉测量控测器响应时间的方法。 二、实验内容 (1)用探测器的脉冲响应特性测量响应时间; (2)利用探测器的幅频特性确定其响应时间。 三、基本原理 表示时间响应特性的方法主要有两种,一种是脉冲响应特性法,另一种是幅频特性法。 1. 脉冲响应响应落后于作用信号的现象称为弛豫。对于信号开始作用时产弛豫称为上升弛豫或起始弛豫;信号停止作用时的弛豫称为衰减弛豫。弛豫时间的具体定义如下: 如用阶跃信号作用于器件,则起始弛豫定义为探测器的响应从零上升为稳定值的(1-1/e)(即63%)时所需的时间。衰减弛豫定义为信号撤去后,探测器的响应下降到稳定值的1/e(即37%)所需的时间。这类探测器有光电池、光敏电阻及热电探测器等。另一种定义弛豫的时间的方法是:起始弛豫为响应值从稳态值的10%上升到90%所用的时间;衰减弛豫为响应从稳态值的90%下降到10%所用的时间。这种定义多用于响应速度很快的器件,如光电二极管、雪崩光电二极管和光电倍增管等。 若光电探测器在单位跃信号作用下的起始阶跃响应函数为[1-exp(-t/τ 1 )], 衰减响应函数为exp(-t/τ 2),则根据第一种定义,起始弛豫时间为τ 1 ,衷减弛 豫时间性为τ 2 。 此外,如果测出了光电探测器的单位冲激响应函数,则可直接用其半值宽度来表示时间特性。为了得到具有单位冲激函数形式的信号光源,即δ函数光源,可以采用脉搏冲式发光二极管、锁模激光器以及火花源等光源来近似。在通常测试中,更方便的是采用具有单位阶跃函数形式亮度分布的光源。从而得到单位阶跃响应函数,进而确定响应时间。 2. 幅频特性由于光电探测器惰性的存在,使得其响应度不仅与入射辐射的波长有关,而且还是入射辐射调制频率的函数。这种函数关系还与入射光强信号的波形有关。通常定义光电探测器对正弦光信号的响应同值同调制频率间的关系为它的幅频特性。许多光电探测器的幅频特性具有如下形式。

光电检测实验报告

光电检测实验报告 光电检测实验报告 引言: 光电检测是一种常见的实验方法,通过光电效应原理,将光信号转化为电信号 进行测量和分析。本次实验旨在通过搭建光电检测系统,探索光电效应在不同 条件下的特性,并研究其在实际应用中的潜力。 一、实验装置的搭建 实验装置由光源、光电探测器和信号处理器组成。光源可以选择激光器、LED 等,而光电探测器则包括光电二极管、光电倍增管等。信号处理器用于放大和 转换光电信号,常见的有放大器、滤波器等。 二、光电效应的研究 光电效应是指当光照射到物质表面时,光子能量被物质吸收,从而产生电子的 现象。实验中,我们通过改变光源的强度和波长,以及调整光电探测器的位置 和方向,研究光电效应的特性。 1. 光源强度对光电效应的影响 在实验中,我们使用不同强度的光源照射光电探测器,记录下光电流的变化情况。实验结果显示,光源强度越大,光电流也越大,这表明光电效应与光源的 强度呈正相关关系。 2. 光源波长对光电效应的影响 我们使用不同波长的光源照射光电探测器,观察光电流的变化。实验结果显示,不同波长的光源对光电效应的影响不同。在可见光范围内,短波长的光源产生 的光电流较大,而长波长的光源产生的光电流较小。这说明光电效应与光源的

波长呈负相关关系。 三、光电检测在实际应用中的潜力 光电检测技术在许多领域中有着广泛的应用,如光电传感器、光电测距仪等。以下是一些实际应用案例: 1. 光电传感器在自动化生产中的应用 光电传感器可以通过光电效应检测物体的存在与否,广泛应用于自动化生产线上。例如,在汽车制造过程中,光电传感器可以检测零件的位置和质量,实现自动化装配和质量控制。 2. 光电测距仪在测量领域中的应用 光电测距仪利用光电效应测量物体与测距仪之间的距离。它可以应用于建筑测量、地质勘探等领域。例如,在建筑测量中,光电测距仪可以快速、准确地测量建筑物的高度和距离,提高测量效率。 结论: 通过本次实验,我们搭建了光电检测系统,并研究了光电效应在不同条件下的特性。实验结果表明,光电效应与光源的强度和波长有关。此外,光电检测技术在实际应用中具有广阔的潜力,可以应用于自动化生产和测量领域。光电检测技术的发展将进一步推动科学研究和工程应用的进步。

光电探测器响应时间的测试

光电探测器响应时间的测试 摘要:光电探测器是光电系统的核心组成部分,其性能直接影响着光电系统的性能。该文通过用探测器的脉冲响应特性测量响应时间,利用探测器的幅频特性确定其响应时间。该文分析了光电探测器的响应度不仅与信号光的波长有关,而且与信号光的调制频率有关,在提出测量探测器响应时间的方法的同时分析了误差的产生原因和解决办法。 关键词:光电探测器?响应时间?示波器 光电系统就是以光波作为信息和能量的载体而实现传感”传输”探测等功能的测量系统。可以认为光电系统是工作于电磁波波谱图上最后一个波段—光频段的电子系统,光电探测器的输出相对于输入的光信号要发生沿时间轴的扩展。扩展的程序可由响应时间来描述。光电探测器的这种响应落后于作用信号的特性称为惰性。如果探测器观测的是随时间快速变化的物理量,则由于惰性的影响会造成输出严重畸变。因此,深入了解探测器的时间响应特性是十分必要的。 1 响应时间的测试? 1.1 基本原理 表示时间响应特性的方法主要有两种,一种是脉冲响应特性法,另一种是幅频特性法。

脉冲响应:响应落后于作用信号的现象称为弛豫。 光电探测器在单位阶跃信号作用下的起始阶跃响应函数为〔1-exp(-t/τ1),衰减响应函数为exp(-t/τ2),编写Matlab程序并通过Matlab绘制了上升响应时间和下降响应时间的图型。 幅频特性:由于光电探测器惰性的存在,使得其响应度不仅与人射辐射的波长有关,而且还是人射辐射调制频率的函数。通常定义光电探测器对正弦光信号的响应幅值同调制频率间的关系为它的幅频特性。 1.2 测试过程 光电探测器时间常数测试实验箱:20?m双踪示波器;毫伏表。 在光电探测器时间常数测试实验箱中,提供了需测试两个光电器件:峰值波长为900?nm的光电二极管和可见光波段的光敏电阻。所需的光源分别由峰值波长为900?nm的红外发光管和可见光(红)发光管来提供。根据需要,光源的驱动电源有脉冲和正弦波两种,并且频率可调。 需要注意的是,示波器记录的时间响应包括三个方面的贡献:探测器的响应时间,电缆传输线和同轴电缆接头的色散以及示波器的分辨时间。(1)用脉冲法测量光电二极管的响应时间。(2)用脉冲法测量光敏电阻的响应时间。(3)用幅频特性法测量CdSe光敏电阻响应

光电探测实验讲义603

光电技术实验讲义 --光电探测部分 目录 实验a光电倍增管的静态和时间特性的测试(2) 实验b光电探测器响应时间的测试(9)

验a光电倍增管的静态和时间特性的测试 光电倍增管是一种基于外光电效应(光电发射效应)的器件,由于其内部具有电子倍增系统,所以具有很高的电流增益,从而能够检测到极微弱的光辐射。光电倍增管的另一大优点是响应速度很快,因此其时间特性的描述和测量都与其它光电器件有所不同。此外,光电倍增管的光电线性好,动态范围大,因而被广泛应用于各种精密测量仪器和装备中。由于光电发射需要一定的光子能量,所以大多数光电倍增管工作在紫外和可见光波段,目前在近红外波段也有应用。由于使用面广,现已有多种结构、多种特性的管子可供选择。 一、实验目的 (1)熟悉光电倍增管的静态特性和时间特性,掌握光电倍增管的正确使用方法。 (2)学习光电倍增管的基本特性测量方法。 二、实验内容 (1)测量光电倍增管静态特性参数; (2)测量光电倍增管时间特性参数。 三、基本原理 1.光电倍增营的主要特性和参数光电倍增管的特性参数,有灵敏度、电流增益、光电特性、阳极特性、暗电流等效噪声功率和时间特性等。下面介绍本实验涉及到的特性和参数。 (1)灵敏度灵敏度是标志光电倍增管将光辐射信号转换成电信号能力的一个参数,一般指积分灵敏度,即白光灵敏度,单位取U A/Im。通常,光电倍增管的使用说明书中都分别给出了它的阴极灵敏度和阳极灵敏度,有时还需要标出阴极的蓝光、红光或红外灵敏度。 ①阴极灵敏度S k阴极灵敏度S k是指光电阴极本身的积分灵敏度。测量时光电阴极为 一极,其它各电极连在一起为另一极,在其间加上100〜300V电压,如图1—1所示。照在阴极上的光通量通常选在10-9〜10-21m的数量级,因为光通量过小会由于漏电流的影响而使光电流的测量准确度下降,而光通量过大也会引起测量误差。 ②阳极灵敏度S A阳极灵敏度S A是指光电倍增管在一定工作电压下阳极输出电流与照在阴极面上光通量的比值。它是一个经过倍增以后的整管参数,在测量时为保证光电倍增管处于正常的线性工作状态光通量要取得比测阴极灵敏度时小,一般在10-10〜10-51m的数量 级。 因为倍增极材料的§值是所加电压的函数,所以光电倍增管的阳极灵敏度与整管工作电压有关。在使用时,往往标出在指定的阳极灵敏度下所需的整管工作电压。 (2)放大倍数(电流增益)在一定的工作电压下,光电倍增管的阳极信号电流和阴极信号电流的比值称为该管的放大倍数或电流增益,以符号G表示,则 G=】A/I K⑴1) 式中I A为阳极信号电流;I K为阴极信号电流。放大倍数G主要取决于系统的倍增能力,因比它也是工作电压的函数。上述的阳极灵敏度就包含了放大倍数的贡献,于是放大倍数也可由在一定工作电压下阳极灵敏度和阴极灵敏度的比值来确定,即 G=S A/S K(1—2)

光电探测器特性测量实验报告

光电探测器特性测量实验报告 实验目的: 1.了解光电探测器的基本原理和工作方式; 2.掌握光电探测器的特性测量方法; 3.分析光电探测器的特性曲线。 实验仪器: 1.光电探测器:用于将光信号转换为电信号,并测量光电流的大小。 2.光源:用于提供光信号,可以调节光强度。 3.测量设备:包括电流表、电压表和电阻箱,用于测量和调节光电流、光电压和负载电阻。 实验原理: 光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的器件,其基本原理是 利用光电效应。当光照射到光电探测器的光敏面时,光子的能量会使光敏 物质中的电子获得足够的能量而逸出,形成电子空穴对。通过施加电场, 将电子和空穴分离,形成电流,即光电流。光电探测器的输出信号主要有 光电流和光电压两种形式。 实验步骤: 1.将光电探测器连接到电流表,将电阻箱调节到最大电阻,打开光源,并调节光强度到合适的数值。 2.记录电流表的读数,即为光电流的大小。

3.将光电探测器连接到电压表和负载电阻,调节电阻箱的电阻,使光 电压维持一定的数值。 4.记录电压表和电流表的读数,并计算光电阻和负载电阻之间的电流。 5.将光电压和光电流绘制成特性曲线。 实验结果: 根据记录的数据,得到了光电流和光电压的大小,并绘制了光电流- 光电压特性曲线。 实验讨论: 通过特性曲线的分析,可以看出光电探测器的工作特性。在一定范围内,光电流随光电压的增加而增加,并呈线性关系。当光电压达到一定值时,光电流趋于饱和,不再随光电压的增加而增加。这是因为在较低的光 电压下,光电子所带的能量与光电子轰击表面所需的能量相差较大,导致 轰击效率较低。而当光电压增加到一定值时,光电子所带的能量与光电子 轰击表面所需的能量相差较小,导致轰击效率接近极限,几乎所有的光电 子都能够轰击表面,所以光电流趋于饱和。 实验结论: 本实验中,我们通过测量光电流和光电压的大小,得到了光电探测器 的特性曲线,并根据曲线分析得出了光电探测器的工作特性。实验结果与 理论相符合,证明了光电探测器的基本原理和工作方式。同时,实验还展 示了光电探测器的特性测量方法和特性曲线分析方法,为进一步的研究和 应用提供了基础。

光电探测实验报告

光电探测技术 实验报告 班级:10050341 学号:05 姓名:解娴

实验一光敏电阻特性实验 一、实验目的 1.了解一些常见的光敏电阻的器件的类型; 2.了解光敏电阻的基本特性; 3.测量不同偏置电压下的光敏电阻的电压与电流,并作出V/A曲线。 二、实验原理 伏安特性显示出光敏电阻与外光电效应光电元件间的基本差别。这种差别是当增加电压时,光敏电阻的光电流没有饱和现象,因此,它的灵敏度正比于外加电压。 光敏电阻与外光电效应光电元件不同,具有非线性的光照特性。各种光敏电阻的非线性程度都是各不相同的。 大多数场合证明,各种光敏电阻均存在着分析关系。这一关系为 =Φ I kα Φ 式中,K为比例系数;是永远小于1的分数。 光电流的增长落后于光通量的增长,即当光通量增加时,光敏电阻的积分灵敏度下降。 这样的光照特性,使得解算许多要求光电流与光强间必需保持正比关系的问题时不能利用光敏电阻。 光照的非线性特性并不是一切光敏半导体都必有的。目前已有就像真空光电管—样,它的光电流随光通量线性增大的光敏电阻的实验室试样。光敏电阻的积分灵敏度非常大,最近研究出的硒—鎘光敏电阻达到12A/lm,这比普通锑、铯真空光电管的灵敏度高120,000倍。 三、实验步骤 1、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图1接线,电源可从+2V~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮。则暗电流L暗=V暗/RL,亮电流L亮=V亮/RL,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 2、伏安特性

光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系即为伏安特性。按照图1接线,分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V时的光电流,并尝试高照度光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果 填入表格并做出V/I曲线。 图1光敏电阻的测量电路 偏压2V4V6V8V10V12V 光电阻I 四、实验数据 实验数据记录如下: 光电流: E/V246810 U/V0.090.210.320.430.56 I/uA1427.54255.270.5 暗电流:0.5uA 实验数据处理: 拟合曲线如下:

光电探测实验报告

实验一光敏电阻特性实验 实验原理: 光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下, 电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成为了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 实验所需部件: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、 各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配) 实验步骤: 1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构 ,用遮光罩将光敏电阻彻底掩 盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻 R 暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的 阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光 电阻越大,则灵敏度越高。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻, 试作性能比较分析。 2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图(3)接线,电源可从+2~+8V 间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V 暗和 V 亮则暗电流 L 暗=V 暗/R L,亮电流 L 亮=V 亮/R L,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。 图(2)几种光敏电阻的光谱特性 3、伏安特性: 光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。 按照图(3)分别测得偏压为 2V、4V、6V、8V、10V、12V 时的光电流,并尝试高照射光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果填入表 格并作出 V/I 曲线。 偏压 2V 4V 6V 8V 10V 12V 光电阻 I 光电阻 II 注意事项: 实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LV。光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。实验时各种不同波长的光源的获取也可以采用在仪器上的光源灯泡前加装各色滤色片的办法,同时也须考虑到环境光照的影响。 实验二光敏管的应用 -----光控电路 实验目的: 了解光敏管在控制电路中的具体应用。 实验所需部件:

光电探测实验报告

光电探测实验报告 实验目的: 1.了解光电效应的基本原理; 2.学习使用光电探测器进行光电测量; 3.探究不同光源对光电效应的影响。 实验仪器: 1.光电探测器; 2.不同波长的光源; 3.滤波片; 4.电压源; 5.电流表; 6.多用万用表; 7.电极接线板。 实验原理: 光电效应是指物质受光照射后产生电磁辐射的现象。在光电探测实验中,我们使用光电探测器来测量光电效应。 实验步骤: 1.搭建实验装置。将光电探测器接入电路中,将电压源与光电探测器相连,将电流表接在光电探测器的电极上。

2.测量光电效应的基本关系。首先,使用电压源调节电压,将光电探测器的电流调至最大值。然后,使用多用万用表测量光电流。 3.测量不同波长光源对光电效应的影响。依次使用不同波长的光源照射光电探测器,并记录相应的电流值。 4.测量滤波片对光电效应的影响。在实验中加入滤波片,并记录不同滤波片条件下的光电流值。 5.分析实验结果,并得出结论。 实验数据: 波长(纳米),电压(V),光电流(安培) ------------,---------,-------------- 400,2,0.005 500,2,0.004 600,2,0.003 实验结果分析: 根据实验数据,可以得出以下结论: 1.光电效应的光电流随着光源波长增加而减小,说明光电效应受光源波长的影响。 2.在相同电压下,不同波长的光源产生的光电流大小存在差异。 3.使用滤波片可以改变光源光电流的大小,进一步证明光电效应受光源波长的影响。

实验结论: 1.光电效应的光电流与光源的波长有关,光源波长越长,光电流越小。 2.不同波长的光源产生的光电流存在差异,反映了光电效应对不同波 长光的灵敏度。 实验总结: 通过这次光电探测实验,我们对光电效应有了更深入的了解。光电效 应是一种重要的物理现象,广泛应用于光电能转换、光电仪器等领域。掌 握了光电探测器的使用方法,我们可以更加准确地测量和利用光电效应。 实验结果也使我们认识到光电效应对光源波长的灵敏度,这对于光学仪器 的设计和光电器件的选择有着重要的指导意义。在今后的学习和研究中, 我们将进一步探索光电效应的应用,提高光电探测技术的精准度和灵敏度。

光电探测原理实验报告 南邮

光电探测原理实验报告南邮 摘要:采用四象限探测器作为光电定向实验,学习四象限探测器的工作原理和特性, 同时掌握四象限探测器定向的工作方法。实验中,四象限探测器的四个限区验证了具有完 全一样的光学特性,同时四象限的定向具有较良好的线性关系。 关键词:光电定向四象限探测器 1、开场白 随着光电技术的发展,光电探测的应用也越来越广泛,其中光电定向作为光电子检测 技术的重要组成部分,是指用光学系统来测定目标的方位,在实际应用中具有精度高、价 格低、便于自动控制和操作方便的特点,因此在光电准直、光电自动跟踪、光电制导和光 电测距等各个技术领域得到了广泛的应用。光电定向方式有扫描式、调制盘式和四象限式,前两种用于连续信号工作方式,后一种用于脉冲信号工作方式。,由于四象限光电探测器 能够探测光斑中心在四象限工作平面的位置,因此在激光准直、激光通信、激光制导等领 域得到了广泛的应用[1]. 本光电定向实验装置采用激光器作为光源,四象限探测器作 为光电探测接收器,采用目前应用最广泛的`一种光电定向方式现直观,快速定位跟踪目 标方位。定向原理由两种方式完成:1、硬件模拟定向,通过模拟电路进行坐标运算,运 算结果通过数字表头进行显示,从而显示出定向坐标;2、软件数字定向,通过AD转换电 路对四个象限的输出数据进行采集处理,经过单片机运算处理,将数据送至电脑,由上位 机软件实时显示定向结果。 本实验系统就是根据光学雷达和光学制导的原理而设计的,利用其光电系统可以轻易、间接地测定目标的方向。使用650nm激光器搞光源,用四象限探测器表明光源方向和强度。通过实验,可以掌控四象限光电探测器原理,并观测至红外红外线电磁辐射至四象限探测 器上的边线和强度变化。并利用实验仪展开设计性实验等内容,将光学定向应用领域至各 领域中[2]。 2、实验原理 2.1、系统了解 光电定向是指用光学系统来测定目标的方位,在实际应用中具有精度高、价格低、便 于自动控制和操作方便的特点,因此在光电准直、光电自动跟踪、光电 制导和光电测距等各个技术领域获得了广为的应用领域。使用激光器做为光源,四象 限探测器做为光电观测接收器,根据电子和差式原理,同时实现可以直观、快速观测定位 跟踪目标方位的光电定向装置,就是目前应用领域最广为的一种光电定向方式。该系统主 要由升空部分,光电探测器,信号处理电路,A/D切换和单片机,最后通过计算机表明输入。该系统结构框图例如图1: 图1 系统结构框图

显示器闪烁响应时间测量仪校准规范实验报告

眩光测量仪校准规范试验报告实验报告 一、实验目的 闪烁和响应时间是表征显示器动态显示性能的重要参数,显示器闪烁响应时间测量仪是显示器件研制、生产以及应用过程中的主要检测设备之一,对显示器件的研发、生产和质检具有重要意义。 通过本实验可验证《显示用闪烁响应时间测量仪校准规范》中所规定的校准条件、校准方法、校准结果处理等是否能满足实际工作需求,校准结果的不确定度评定是否合理。 二、实验地点及时间地点1:国防科技工业光电子一级计量站光显示计量实验室 三、环境条件温度:24°C,相对湿度:52%; 四、校准设备表1.校准用标准器 五、实验人员孙权社,刘玉龙 六、被校设备信息设备名称:闪烁响应时间测量仪 规格型号:SS-410生产厂商:Microvision 仪器编号:11-441/10-441七、校准方法及实验数据 (1)校准方法参照《显示器闪烁响应时间测量仪校准规范》7.2o (2)实验数据见附录1。 (3)不确定度评定见附录2。 八、结论 通过实验验证,表明《显示器闪烁响应时间测量仪校准规范》校准项目与校准方法设置合理,可操作性强,可较全面的评价显示器闪烁响应时间测量仪器的计量

性能,具有可行性。

校准结果的测量不确定度评定 1、闪烁测量不确定度评定 (1)光电探测器响应度引入的测量不确定度 该光电探测器在可见光波段的光谱响应度可溯源到低温辐射计,在可见光波段,其光谱响应度对闪烁幅值测量不确定度的影响为0.1%,贝IJ: u r = 0.1% 光电探测器为硅光电二极管,该光电探测器在可见光波段的光谱响应度可溯源到低温辐射计,查上级溯源证书可知,在可见光波段,探测器的绝对响应度测量不确定度为1%以=2),则其响应度测量不确定度对闪烁幅值的影响为: u± = 0.1% + 2 = 0.05% (2)信号采集分析设备幅度测量不确定度”2 常用的信号采集分析设备为示波器或高速数据采集卡,目前示波器的带宽大于1MHz,根据上级溯源证书可知,在50欧阻抗时,电压测量不确定度为0.2% (k=2),则: u2 = 0.2%+ 2 = 0.1% (3)参考面光源的亮度不稳定度引入的测量不确定度%将参考面光源设置在 lOOcd/nA用经过溯源的亮度计测量其lOmin稳定度,间隔1分钟,测量一次参考面光源亮度应(Z=l,2,・・・10),测量结构如下表所示: 根据贝塞尔公式计算10次测量的相对标准偏差,即为参考面光源的不稳定带来的测量不确定度“3。

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