材料结构分析试题1

材料结构分析试题1
材料结构分析试题1

材料结构分析试题1

材料学院 材料科学与工程 专业 年级 班级 材料结构分析 课程 200 —200 学年 第 学期( )卷 期末考试题( 120 分钟) 考生姓名 学 号 考试时间

主考教师: 阅卷教师:

一、基本概念题(共8题,每题7分)

1.X 射线的本质是什么?是谁首先发现了X 射线,谁揭示了X 射线的本质? 2.下列哪些晶面属于[111]晶带?

(111)、(321)、(231)、(211)、(101)、(101)、(133),(-1-

10),(1-

12),(1-

32),(0-

11),(212),为什么?

3.多重性因子的物理意义是什么?某立方晶系晶体,其{100}的多重性因子是多少?如该晶体转变为四方晶系,这个晶面族的多重性因子会发生什么变化?为什么? 4.在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它们的衍射谱有什么特点? 5.透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?

6.透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何? 7.什么是消光距离? 影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?

8.倒易点阵与正点阵之间关系如何? 画出fcc 和bcc 晶体的倒易点阵,并标出基本矢量a *, b *, c *。

二、综合及分析题(共4题,每题11分)

1.决定X 射线强度的关系式是

M

c

e A F P V V m c e R I I 2222

2230)()(32-???? ??=θθφπλ,

试说明式中各参数的物理意义?

2.比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点?3.请导出电子衍射的基本公式,解释其物理意义,并阐述倒易点阵与电子衍射图之间有何对应关系? 解释为何对称入射(B//[uvw])时,即只有倒易点阵原点在爱瓦尔德球面上,也能得到除中心斑点以外的一系列衍射斑点?

4.单晶电子衍射花样的标定有哪几种方法?图1是某低碳钢基体铁素体相的电子衍射花样,请以尝试—校核法为例,说明进行该电子衍射花样标定的过程与步骤。

图1 某低碳钢基体铁素体相的电子衍射花样

材料分析测试试题

一、填空 1、第一个发现X射线的科学家是,第一个进行X射线衍射实验的科学家是。 2、X射线的本质是,其波长为。 3、X射线本质上是一种______________,它既具有_____________性,又具有____________性,X射线衍射分析是利用了它的__ ____________。 4、特征X射线的波长与和无关。而与有关。 5、X射线一方面具有波动性,表现为具有一定的,另一方面又具有粒子性,体现为具有一定的,二者之间的关系为。 6、莫塞来定律反映了材料产生的与其的关系。 7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和。 8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线,它们是_____________和_____________,其中在X射线粉末衍射中采用的是____ _______ 。 9、特征X射线是由元素原子中___________引起的,因此各元素都有特定的___________和___________电压,特征谱与原子序数之间服从_____ ______定律。 10、同一元素的入Kα1、入Kα2、入Kβ的相对大小依次为___________;能量从小到大的顺序是_______________。(注:用不等式标出) 11、X射线通过物质时,部分X射线将改变它们前进的方向,即发生散射现象。X射线的散射包括两种:和。 12、hu+kv+lw=0关系式称为______________ ,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式,表明__________________________________ 。 15、倒易点阵是由晶体点阵按照 式中,为倒易点阵基矢, 为正点阵基矢的对应关系建立的空间点阵。在这 个倒易点阵中,倒易矢 量的坐标表达 式为,其基本性质为。 14、X射线在晶体中产生衍射时,其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线方位间的关系可用_ _____ ______、____ ___________、________________和____________________四种方法来表达。15、当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是,相邻两个(HKL)反射线的波程差是。 16、布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示,d表示,θ表示。 17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是、、。 18.获得晶体衍射花样三种基本的方法中,劳埃法是通过改变来获得衍射花样的,主要用于判断;旋转单晶法是旋转晶体,改变来获得衍射花样的,主要用于研究;粉末法是通过单色X 射线照射多晶体样品,改变来产生衍射的,测定样品的。 19、当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是_______________,而产生衍射的充要条件是_________________________ _ _________ 。 20、X射线的衍射的强度主要取决于和。 21、X射线衍射仪探测器主要性能 是、、、、。 22、测角仪在工作时,为了使样品与计数管始终在同一个____ _______上,二者的转速必须保持____________。 23、测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成300角,则计数管与入射线所成角度为;能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈关系。 24、粉末照相法底片安装方法有三种:、和。25、粉末衍射仪法衍射峰2θ角的测量方法有、、。 26、多晶X射线粉末衍射分析方法通常有和两种。 27.X射线衍射仪的新进展主要有、、三个方面。 28、PDF卡片的二种常用的数值索引是____ _____索引和____ _____索引,前者是按衍射线的_________顺序排列的,后者是按衍射线的_________顺序排列的。 29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是______ _____,参考_____ ______。 30、X射线衍射定量分析的方法有、、、、。

材料分析题

人教版八年级历史下册材料分析题 1读图回答问题. (1)右图这一水利工程是什么?(2分)有什么历史地位?(2分) (2)建设这一水利工程的目的是什么?(3 (3)它的开通有什么作用?(3分) 2.阅读下列材料,回答问题。 材料一唐朝的一位皇帝曾说过君民关系:“水能载舟亦能覆舟。” 材料二(松赞干布)及与公主归国,谓所亲曰:“我父祖未有通婚上国者,今我得尚大唐公主,为幸实多。当为公主筑一城,以夸示后代。”……仍遣酋豪子弟,请入国学以习《诗》《书》。又请中国识文之人典其表疏。 ——《旧唐书》 (1)材料一的皇帝是谁?(2分)他统治时期的治世被称作什么? (2分) (2)材料二中松赞干布所说的“大唐公主”是谁?(2分)松赞干布迎娶“大唐公主”有什么意义?(4分) (3)以上材料说明这位皇帝实行什么样的民族政策?(2分) 3. 材料一唐朝时期,唐诗文化处于繁荣局面,经济繁荣,各国的使者和商人络绎不绝,唐朝的长安在当时属于国际性大都市,通往各地的水路四通八达。 材料二唐玄宗后期,“口有蜜、腹有剑”的奸相李林甫,把持朝政达十九年之久。继他上台的杨贵妃之兄杨国忠,更是一个“不顾天下成败”,只顾徇私误国之人。奸臣当道,加深了统治阶级内部的矛盾,尤其是杨国忠与安禄山之间争权夺利,成了安史之乱的导火线。 材料三安史之乱,摧毁了统治基础,削弱了封建集权,为封建割据创造了必要条件,使唐王朝由盛而衰,一蹶不振。

(1)唐朝气象达到鼎峰是哪位皇帝统治时期(2分)被称作什么盛世? (2分) (2)根据所学知识回答材料一中唐朝盛世局面出现的原因有哪些?(4分) (3)结合材料二、三和所学知识分析安史之乱的影响.(6分) (4)唐朝由盛转衰的过程中你有什么启示?(4分) 4.阅读下列材料并结合所学知识,回答问题(6分) 材料一:上(宋太祖)曰“……尔曹何不释去兵权,出守大藩……日饮酒相欢,以终其天年!” ---《续资治通鉴长编》 材料二:罢(废除)丞相不设,析中书省之政归六部。 ---《明史.职官制》 材料三:“(军机大臣)只能传述缮撰,而不能稍有赞画于其间也。” ---赵翼 (1)材料中一体现了宋太祖在军事方面的哪一项措施?(1分)其目的是什么?(1分) (2)材料二反映了明朝统治者采取了什么样的措施?(1分)此后“六部”向谁负责?(1分)(3)据材料三说的是清代哪一机构的设立?(1分)该制度的设立主要影响是什么?(1分) 5.阅读下列材料回答问题(7分) 统一多民族国家的形成和发展是一个漫长的过程,很多人为此付出过努力。 材料一:(元朝的疆域)汉、唐极盛之际,有不及焉。 ——《元史.地理志》 材料二:“台湾者,中国之土地也,久为贵国所踞,今余既来索,则地当归我……” ——郑成功 材料三: 请结合所学知识回答下列问题: (1)材料一中的元朝为对全国实行有效的管理,实行了什么制度?(1分)这一制度的影响是什么?(2分)

中考试卷结构分析

中考试卷结构分析 数学 中招考试题共23道题,共120分。其中选择题8道,各3分,共24分;填空题7道,各3分,共21分;解答题8道,16题8分,17、18、19、20题各9分,21、22题各10分,23题11分,共75分;

语文 近三年语文中考题型、分值结构如下表格:

从表格中我们不难看出,试卷大体布局没有变化,只在小题和分值上有少许变化,值得注意的几点: 1、文学常识类,皆是《西游记》和其他名著的二选一,提醒考生课外熟读名著及相关文学常识知识。 2、信息提取题,一是给新闻材料命标题,二是从材料中筛选信息,要么适当语句填空,要么根据材料组织、概括,又或者开放类题型。 *3、现代文阅读,总结了近九年的中考规律,除必有一篇记叙文外,另外一篇每两年改变一次,2006、2007年出的议论文;2008、2009年年为说明文;2010、2011年是议论文;2012、2013年是说明文,2014年是议论文。我们可以根据规律有倾向性的复习练习。 4、前几年文言文多考查九年级和八年级所学重点文章,但2013年已经开始向七年级过渡,从《桃花源记》和《春望》可以看到均来自七年级。提醒考生复习面要全。

英语 二、单选题 1、冠词 2、代词(不定代词中的复合不定代词考的较多) 3、名词(词义辨析) 4、连词(从句中的连词) 5、介词 6、形容词:比较级最高级 7、动词,动词词组,不定式 8、情态动词 9、语态:被动语态 10、时态:一般过去时,现在进行时,过去进行时,现在完成时 11、定语从句:连接词 12、特殊句式:感叹句祈使句等等 13、宾语从句 三、完形填空

材料现代分析方法试题及答案1

《现代材料分析方法》期末试卷1 一、单项选择题(每题 2 分,共10 分) 1.成分和价键分析手段包括【b 】 (a)WDS、能谱仪(EDS)和XRD (b)WDS、EDS 和XPS (c)TEM、WDS 和XPS (d)XRD、FTIR 和Raman 2.分子结构分析手段包括【 a 】 (a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR)(b)NMR、FTIR 和WDS (c)SEM、TEM 和STEM(扫描透射电镜)(d)XRD、FTIR 和Raman 3.表面形貌分析的手段包括【 d 】 (a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)(b) SEM 和透射电镜(TEM) (c) 波谱仪(WDS)和X 射线光电子谱仪(XPS)(d) 扫描隧道显微镜(STM)和 SEM 4.透射电镜的两种主要功能:【b 】 (a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键 5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【 c 】 (a)–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和CO 二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题2 分,共10 分) 1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。(×)2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√)

4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。(×)5.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。(√) 三、简答题(每题5 分,共25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。 2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的? 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上,致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时,探测器可实时地检测悬臂的状态,并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么? 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中,氢核有两种取向,与外磁场同向的起增强外场的作用,与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同,核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同,满足“n+1”规律 4.什么是化学位移,在哪些分析手段中利用了化学位移? 同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化,在谱线上造成的位移称为化学位移。在XPS、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。 5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的, 试述拉曼散射的过程。 拉曼光谱的峰位是由分子基态和激发态的能级差决定的。在拉曼散射中,若光子把一部分能量给样品分子,使一部分处于基态的分子跃迁到激发态,则散射光能量减少,在垂直方向测量到的散射光中,可以检测到频率为(ν0 - Δν)的谱线,称为斯托克斯线。相反,若光子从样品激发态分子中获得能量,样品分子从激发态回到基态,则在大于入射光频率处可测得频率为(ν0 + Δν)的散射光线,称为反斯托克斯线 四、问答题(10 分) 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 答:阿贝成像原理(5 分):平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱,各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式(5 分)。利用阿贝成像原理,样品对电子束起散射作用,在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱,在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时, 则将衍射谱放大,则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样;当中间镜物面取在物镜的像面上时,则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。 五、计算题(10 分) 用Cu KαX 射线(λ=0.15405nm)的作为入射光时,某种氧化铝的样品的XRD 图谱如下,谱线上标注的是2θ的角度值,根据谱图和PDF 卡片判断该氧化铝的类型,并写出XRD 物相分析的一般步骤。 答:确定氧化铝的类型(5 分) 根据布拉格方程2dsinθ=nλ,d=λ/(2sinθ) 对三强峰进行计算:0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 α-Al2O3 符合,进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-Al2O3。 XRD 物相分析的一般步骤。(5 分) 测定衍射线的峰位及相对强度I/I1: 再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距 d 值。 (1) 以试样衍射谱中三强线面间距d 值为依据查Hanawalt 索引。

材料分析题

五个材料分析题,请关注命题角度。 2014年12月24日08:57 三、材料分析题:34-38小题,每小题10分,共50分。要求结合所学知识分析材料并回答问题。将答案写在答题纸指定位置上。 34.阅读材料,回答问题 材料一: 习近平总书记指出,社会主义思想发展至今的历史过程,内容包括六个阶段:空想社会主义产生和发展;马克思恩格斯创立科学社会主义理论体系;列宁领导十月革命胜利并实践社会主义;苏联模式逐步形成;新中国成立后我们党对社会主义的探索和实践;我们党作出进行改革开放的历史性决策、开创和发展中国特色社会主义。从社会主义发展的六个阶段来看,中国特色社会主义是其最新、也是最为成功的实践。 材料二 列宁领导十月革命胜利并实践社会主义。二十世纪初,列宁把马克思主义基本原理同俄国具体实际相结合,创造性地提出社会主义可能在一国或数国首先取得胜利的理论,领导十月革命取得成功,建立了世界上第一个社会主义国家,使社会主义实现了从理论到实践的伟大飞跃。列宁逝世以后,斯大林在领导苏联社会主义建设中,逐步形成了实行单一生产资料公有制和指令性计划经济、权力高度集中的经济政治体制。苏联模式在特定的历史条件下促进了苏联经济社会快速发展,也为苏联军民夺取反法西斯战争胜利发挥了重要作用。但由于不尊重经济规律等,随着时间推移,其弊端日益暴露,成为经济社会发展的严重体制障碍。 材料三 中国特色社会主义是植根于中国大地、反映中国人民意愿、适应中国和时代发展进步要求的科学社会主义。如果说社会主义历经高潮与低潮、成功与挫折的历程,是一部气势恢宏、跌宕起伏的交响乐,那么中国特色社会主义就是这部雄浑交响乐的华彩乐章。 请回答: (1)社会主义发展的六个阶段及其人们对这六个阶段的认识蕴含了什么哲学原理? 【答题必背考点】

试题结构分析

试题结构分析:命题符合考试大纲程度,覆盖面较广,题型为填空题、选择题、计算题、证明题,题量适中,分值分布合理,试卷整体难易程度适中。 试卷分析(教学效果):成绩分布较合理,考生掌握程度一般,考生错误率较高的知识点分布为:第九题(需灵活掌握第二类曲面积分的计算)、第一题(3)(需想到平面束方程)、第一题(5)(计算较复杂)、第二题(2)(需灵活应用Abel定理和无穷级数的性质)。 存在的问题、改进措施及建议:教与学中的薄弱环节(1)加强综合题的练习,(2)督促学生的自觉学习,(3)引导学生学习,(4)本学期的教学量较上一年的大且时间短了10学时。 20140114------高数IA 本次试题难易程度适中,知识覆盖面广,各部分知识在试卷中约所占比例为:极限与连续占25%,导数与微分占22%,中值定理与导数的应用占15%,不定积分占12%,定积分及其应用26%。本试题在注重考核学生对基础知识、基本技能掌握情况的前提下,兼顾了对学生灵活应用知识能力、解决实际问题的能力的考核,其中基础题占70%,综合与提高题占30 %,第一题为填空题、第二题为选择题,侧重于基础知识的考核,第三、四、五、六题,侧重于对基本解题方法和解题技巧的考察,第七题综合性较强,考核了灵活、综合应用知识的能力。 本班学生课堂学习情况较好,但部分同学课后努力不够,考试中基本题得分率较高;综合性较强的题目的得分率不高,学生考试成绩分布情况合理,基本反映了学生的实际水平。考生错误率较高的知识点:第四题(1),求极限,用到变量代换及洛必达法则,或二阶泰勒公式,技巧性较强;第七题,综合题,考核了拉格朗日定理、零点定理、导数;第三题(1),连续的定义;第二题(2),水平、铅直渐近线,如何判断。 在教学过程中,应更加注重基本概念、基本理论的教学,更加注重对学生基本技能和分析解决问题能力的培养。

山东大学材料分析考试题-revised

1.简述扫描电镜、透射电镜、电子探针、X射线衍射仪的用途。 扫描电镜:利用电子束样品表面扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像,主要用来观察样品表面形貌,也可以成成分像。 透射电镜:衍射花样像(单晶,多晶结构分析);薄膜衍射成像(位错,晶粒等);复型薄膜成像(表面形貌) 电子探针:主要进行微区成分分析。可分析样品中所含元素种类及含量。可进行点分析,线分析,面分析等定性分析,也可进行定量分析。 X射线衍射仪:主要用于相结构分析。利用X射线衍射原理分析测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。 2.已知简单立方晶体晶格常数为 2 A0,在空间点阵和倒易空间中分别画出 (010),(101),(211)的晶面和相应的倒易点,并计算面间距和倒易矢量的长度。 3.画出晶体薄膜衍射成像的明场像、暗场像光路图,简述其成像原理;晶界、刃形位错、螺形位错、孪晶、层错、第二相粒子成像时各有何特征。 明场像:物镜光阑让透射束通过,挡住衍射束,I A ~I ,I B ~I -I hkl ~0,产生衬度 差异,A亮,B暗。 暗场像:物镜光阑让衍射束通过,挡住透射束,则I A ~I ,I B ~ I hkl ,A暗,B 亮。

晶界:产生等厚相间条纹。 刃型位错:呈线状。位错线像总出现在实际位置的一侧或另一侧。 螺型位错:锯齿状双线,也是反映畸变区。 孪晶:不等长度,不等宽度,明暗相间的条纹。 层错:等长度明暗相间的条纹,条纹是平行间距的。 第二相粒子:花瓣状,中间是无衬度的线状亮区。 4. 画出用爱瓦尔德球,解释为何入射电子束严格平行于晶体的[uvw]时,底片上 也有衍射斑点出现。 爱瓦尔德球用途:找到倒易点与衍射斑点的关系 原因:(1)薄晶体衍射,倒易点扩展为倒易杆,增加与爱瓦尔德球相交几率 *重合,(2)因θ<1°时,可近似将0*附近对应球面可近似看作平面,与(uvw) 增加与爱瓦尔德球相交几率 (3)加速电压不稳定,入不唯一,造成爱瓦尔德球有一定厚度,操作时不可能完全重合,也增加了相交几率 5. 简述电子探针波谱仪与能谱仪的异同点。(P233) 相同点:高速电子束轰击样品表面,利用电子束与样品相互作用激发出的特征x 射线,测量其λ和Ι,利用莫塞莱定律确定微区的定性、定量的化学成分。 不同点:WDS分析元素范围广、分辨率高、适于精确的定量分析,对样品表面要求高、分析速度慢,易引起样品和镜筒的污染。 EDS在分析元素范围、分辨率方面略逊,分析速度快、对样品表面要求不高、可用较小的束流和细微电子束,适于与SEM配合使用。 波谱仪的晶体分光特点,对波长为λ的X射线不仅可以在探测到n=1的一级X射线,同时可在其它θ角处探测到n为不同值的高级衍射线。 波谱定性分析不如能谱定性分析那么简单、直观,就要求对波谱进行更合乎逻辑的分析,以免造成错误。 (下面的表可以不写)

材料分析测试复习题及答案

材料分析测试方法复习题 第一部分 简答题: 1. X 射线产生的基本条件 答:①产生自由电子; ②使电子做定向高速运动; ③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续X 射线产生实质 答:假设管电流为10mA ,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv (i )的光子序列,这样就形成了连续X 射线。 3. 特征X 射线产生的物理机制 答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等 不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X 射线。 4. 短波限、吸收限 答:短波限:X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。 吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。 5. X 射线相干散射与非相干散射现象 答: 相干散射:当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。 非相干散射:当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。 6. 光电子、荧光X 射线以及俄歇电子的含义 答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。 荧光X 射线:由X 射线激发所产生的特征X 射线。 俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。 7. X 射线吸收规律、线吸收系数 答:X 射线吸收规律:强度为I 的特征X 射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x 成比例,即-dI/I=μdx 。 线吸收系数:即为上式中的μ,指在X 射线传播方向上,单位长度上的X 射线强弱衰减程度。 8. 晶面及晶面间距 答:晶面:在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面,使所有的节点均位于这组平面上,各平面的节点分布情况完全相同,这样的节点平面成为晶面。 晶面间距:两个相邻的平行晶面的垂直距离。 9. 反射级数与干涉指数 答:布拉格方程 表示面间距为d ’的(hkl )晶面上产生了n 级衍射,n 就是反射级数 λ θn Sin d ='2:

数据结构考试试题库含答案解析

数据结构习题集含答案 目录 目录 (1) 选择题 (2) 第一章绪论 (2) 第二章线性表 (4) 第三章栈和队列 (6) 第四章串 (7) 第五章数组和广义表 (8) 第六章树和二叉树 (8) 第七章图 (11) 第八章查找 (13) 第九章排序 (14) 简答题 (19) 第一章绪论 (19) 第二章线性表 (24) 第三章栈和队列 (26) 第四章串 (28) 第五章数组和广义表 (29) 第六章树和二叉树 (31) 第七章图 (36) 第八章查找 (38) 第九章排序 (39) 编程题 (41) 第一章绪论 (41) 第二章线性表 (41) 第三章栈和队列 (52) 第四章串 (52) 第五章数组和广义表 (52) 第六章树和二叉树 (52) 第七章图 (52) 第八章查找 (52) 第九章排序 (57)

选择题 第一章绪论 1.数据结构这门学科是针对什么问题而产生的?(A ) A、针对非数值计算的程序设计问题 B、针对数值计算的程序设计问题 C、数值计算与非数值计算的问题都针对 D、两者都不针对 2.数据结构这门学科的研究内容下面选项最准确的是(D ) A、研究数据对象和数据之间的关系 B、研究数据对象 C、研究数据对象和数据的操作 D、研究数据对象、数据之间的关系和操作 3.某班级的学生成绩表中查得张三同学的各科成绩记录,其中数据结构考了90 分,那么下面关于数据对象、数据元素、数据项描述正确的是(C ) A、某班级的学生成绩表是数据元素,90分是数据项 B、某班级的学生成绩表是数据对象,90分是数据元素 C、某班级的学生成绩表是数据对象,90分是数据项 D、某班级的学生成绩表是数据元素,90分是数据元素 4.*数据结构是指(A )。 A、数据元素的组织形式 B、数据类型 C、数据存储结构 D、数据定义 5.数据在计算机存储器内表示时,物理地址与逻辑地址不相同,称之为(C )。 A、存储结构 B、逻辑结构 C、链式存储结构 D、顺序存储结构 6.算法分析的目的是(C ) A、找出数据的合理性 B、研究算法中的输入和输出关系

现代材料分析方法试题及答案

1. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式?写出数学表达式,并说明d、θ、λ的意义。(5分)答:. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。(1分)其数学表达式:2dsinθ=λ(1分)其中d是晶体的晶面间距。(1分)θ是布拉格角,即入射线与晶面间的交角。(1分)λ是入射X 射线的波长。(1分) 4. 二次电子是怎样产生的?其主要特点有哪些?二次电子像主要反映试样的什么特征?用什么衬度解释?该衬度的形成主要取决于什么因素?(6分) 答:二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰击出的试样原子核外电子。(1分) 二次电子的主要特征如下: (1)二次电子的能量小于50eV,主要反映试样表面10nm层内的状态,成像分辨率高。(1分) (2)二次电子发射系数δ与入射束的能量有关,在入射束能量大于一定值后,随着入射束能量的增加,二次电子的发射系数减小。(1分) (3)二次电子发射系数δ和试样表面倾角θ有关:δ(θ)=δ0/cosθ(1分) (4)二次电子在试样上方的角分布,在电子束垂直试样表面入射时,服从余弦定律。(1分) 二此电子像主要反映试样表面的形貌特征,用形貌衬度来解释,形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角。(1分) 2. 布拉格角和衍射角: 布拉格角:入射线与晶面间的交角,(1.5 分) 衍射角:入射线与衍射线的交角。(1.5 分) 3. 静电透镜和磁透镜: 静电透镜:产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜,(1.5 分) 磁透镜:产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。(1.5 分) 4. 原子核对电子的弹性散射和非弹性散射: 弹性散射:电子散射后只改变方向而不损失能量,(1.5 分) 非弹性散射:电子散射后既改变方向也损失能量。(1.5 分) 二、填空(每空1 分,共20 分) 1. X 射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。 3. 在X 射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合 委员会编制,称为JCPDS 卡片,又称为PDF 卡片。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5.透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。 1. X射线管中,焦点形状可分为点焦点和线焦点,适合于衍射仪工作的是线焦点。 2. 在X 射线物象分析中,定性分析用的卡片是由粉末衍射标准联合委员会编制,称为JCPDS 卡片,又称为PDF(或ASTM) 卡片。 3. X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5. 电子探针是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。 二、选择题(多选、每题4 分) 1. X射线是( A D ) A. 电磁波; B. 声波; C. 超声波; D. 波长为0.01~1000?。 2. 方程2dSinθ=λ叫( A D ) A. 布拉格方程; B. 劳厄方程; C. 其中θ称为衍射角; D. θ称为布拉格角。

材料分析测试技术复习题 附答案

材料分析测试技术复习题 【第一至第六章】 1.X射线的波粒二象性 波动性表现为: -以波动的形式传播,具有一定的频率和波长 -波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象 粒子性突出表现为: -在与物质相互作用和交换能量的时候 -X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射 2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限 定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱 λ∞,波?当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ 0开始直到波长无穷大长连续分布 ?随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ 0处)向短波端移动 ?λ 0 正比于1/V, 与靶元素无关 ?强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)

?单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述) 短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。 3.连续x射线谱产生机理 【a】.经典电动力学概念解释: 一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。 【b】.量子理论解释: * 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱 * 存在ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出λ0=1.24/ V (nm) (V为电子通过两极时的电压降,与管压有关)。 * 一般ev≥h υ,在极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子 4.特征x射线谱的特点 对于一定元素的靶,当管压小于某一限度时,只激发连续谱,管压增高,射线谱曲线只向短波方向移动,总强度增高,本质上无变化。 当管压超过某一临界值后,在连续谱某几个特定波长的地方,强度突然显著

材料结构分试题4(参考答案)

材料结构分析试题4(参考答案) 一、基本概念题(共8题,每题7分) 1.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片 答:实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用 比样品中主元素的原子序数大2~6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。 选择滤波片的原则是X射线分析中,在X射线管与样品之间一个滤波片, 以滤掉K 线。滤波片的材料依靶的材料而定,一般采用比靶材的原子序数小1β 或2的材料。 以分析以铁为主的样品,应该选用Co或Fe靶的X射线管,同时选用Fe和Mn 为滤波片。 2.试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途? 答:获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向;旋转晶体法主要用于研究晶体结构;粉末法主要用于物相分析。 3.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系? 答:原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。 原子散射因数与其原子序数有何关系,Z越大,f 越大。因此,重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。 4.用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?

答:用单色X 射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案;为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录。 5.什么是缺陷不可见判据? 如何用不可见判据来确定位错的布氏矢量? 答:缺陷不可见判据是指:0=?R g ? ?。确定位错的布氏矢量可按如下步骤:找到两个操作发射g1和g2,其成像时位错均不可见,则必有g1·b =0,g2·b =0。这就是说,b 应该在g 1和g 2所对应的晶面(h 1k 1l 1)he (h 2k 2l 2)内,即b 应该平行于这两个晶面的交线,b =g 1×g 2,再利用晶面定律可以求出b 的指数。至于b 的大小,通常可取这个方向上的最小点阵矢量。 6.二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 说明二次电子像衬度形成原理。 答:二次电子像: 1)凸出的尖棱,小粒子以及比较陡的斜面处SE 产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大。 2)平面上的SE 产额较小,亮度较低。 3)在深的凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其不易被控制到,因此相应衬度也较暗。 背散射电子像 1)用BE 进行形貌分析时,其分辨率远比SE 像低。 2)BE 能量高,以直线轨迹逸出样品表面,对于背向检测器的样品表面,因 检测器无法收集到BE 而变成一片阴影,因此,其图象衬度很强,衬度太大会失去细节的层次,不利于分析。因此,BE 形貌分析效果远不及SE ,故一般不用BE 信号。 二次电子像衬度形成原理: 成像原理为:二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感。 如图所示,随入射束与试样表面法线夹角增大,二次电子产额增大。 5.5 表面形貌衬度原理及其应用 5.5.1 二次电子成像原理SE 信号主要用于分析样品表面形貌。(5-10 nm 范围)二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感,如图所示,随入射束与试样表面法线夹角增大,二次电子产额增大。成像原理 因为电子束穿入样品激发二次电子的有效深度增加了,使表面5-10 nm 作用体积内逸出表面的二次电子数量增多。

材料分析测试技术-习题

第一章 1.什么是连续X射线谱?为什么存在短波限λ0? 答:对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线强度与波长的关系曲线,称之为X射线谱。在管电压很低,小于20kv时的曲线是连续的,称之为连续谱。大量能量为eV的自由电子与靶的原子整体碰撞时,由于到达靶的时间和条件不同,绝大多数电子要经过多次碰撞,于是产生一系列能量为hv的光子序列,形成连续的X射线谱,按照量子理论观点,当能量为eV的电子与靶的原子整体碰撞时,电子失去自己的能量,其中一部分以光子的形式辐射出去,在极限情况下,极少数的电子在一次碰撞中将全部的能量一次性转化为一个光量子,这个光量子具有最高的能量和最短的波长,即λ0。 2.什么是特征X射线?它产生的机理是什么?为什么存在激发电压Vk? 答:当X射线管电压超过某个临界值时,在连续谱的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐,这些谱线之改变强度,而峰位置所对应的波长不便,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关,因为这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征,故称为特征X射线,由特征X射线构成的X射线谱叫做特征X射线谱。 它的产生是与阳极靶物质的原子结构紧密相关当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中的某个电子击出,或击到原子系统之外,击出原子内部的电子形成逸出电子,或使这个电子填补到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位,原子系统处于激发态,高能级的电子越迁到该空位处,同时将多余的能量e=hv=hc/λ释放出来,变成光电子而成为德特征X射线。 由于阴极射来的电子欲击出靶材的原子内层电子,比如k层电子,必须使其动能大于k 层电子与原子核的结合能Ek或k层的逸出功Wk。即有eV k=1/2mv2〉-Ek=Wk,故存在阴极电子击出靶材原子k电子所需要的临界激发电压Vk。 3、X射线与物质有哪些互相作用? 答;X射线的散射:相干散射,非相干散射 X射线的吸收:二次特征辐射(当入射X射线的能量足够大时,会产生二次荧光辐射); 光电效应:这种以光子激发原子所产生的激发和辐射过程;俄歇效应:当内层电子被击出成为光电子,高能级电子越迁进入低能级空位,同时产生能量激发高层点成为光电子。 4、线吸收系数μl和质量吸收系数μm的含义 答:线吸收系数μl:在X射线的传播方向上,单位长度的X射线强度衰减程度[cm-1](强度为I的入射X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减率与在物质内通过的距离x成正步-dI/I=μdx,强度的衰减与物质内通过的距离x成正比)。与物质种类、密度、波长有关。质量吸收系数μm:他的物理意义是单位重量物质对X射线的衰减量,μ/P=μm[cm2/g]与物质密度和物质状态无关,而与物质原子序数Z和μm=kλ3Z3,X射线波长有关。 5、什么是吸收限?为什么存在吸收限? 答:1)当入射光子能量hv刚好击出吸收体的k层电子,其对应的λk为击出电子所需要的入射光的最长波长,在光电效应产生的条件时,λk称为k系激发限,若讨论X射线的被物质吸收时,λk又称为吸收限。 当入射X射线,刚好λ=λk时,入射X射线被强烈的吸收。当能量增加,即入射λ〉λk时,吸收程度小。

信息技术学业水平考试和试题结构分析报告

信息技术学业水平考试及试题结构分析尊敬的各位领导、老师,下午好: 今天和大家交流一下有关信息技术学业水平考试的问题,去年开始,由于信息技术教材的更换,信息技术学业水平考试在试题结构上做了相应的调整,大家对信息技术信息技术学业水平考试很多内容已经了解,在这里重新和大家来分析一下信息技术学业水平考试试题结构和相应的学习和复习策略,希望对大家有所帮助。当然大家有什么需要探讨的可以随时提出来,我们一块来探讨一下,以便更好地促进我们的信息技术的教学和信息技术学业水平考试顺利进行。 一、信息技术学业水平考试及试题简析 滨州市2017年初中信息技术科目学业水平考试说明已经从指导思想、命题原则、考试方式、题型及内容分布等方面做了相关的说明,2018年初中信息技术学业水平考试将和2017年基本一致。 信息技术命题要求中,以课本为纲,侧重基本知识,基本技能的考察,突出信息技术的工具性特点,试题与教学内容相符,且能反映出各部分内容之间的相对重要性。很多题目都是利用课本上的一句话编写的。 1、调整后的信息技术学业水平考试试题范围分析 2015年开始,泰山版信息技术更换教材,教材的部分章节前后顺序做了调整,Office系列软件更新为Office2013,增加了自媒体、生活中的数字化应用等内容。教材的学习把原来的章节方式更改为微项目方式学习。根据新教材的变化,调整后信息技术学业水平测试考试去除了Frontpage网页制作模块。考试内容包含信息技术基础知识、因特网相关知识(包含自媒体相关知识)、图像处理软件(Photoshopcs)、动画设计软件(Flash8.0)、文字编辑软件(Word2013)、多媒体演示软件(PowerPoint2013)、数据处理软件(Excel2013)、音视频处理

材料结构分析试题5(参考答案)

材料结构分析试题5(参考答案) 一、基本概念题(共8题,每题7分) 1.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时,容许的最大电流是多少? 答:1.5kW/35kV=0.043A 2.证明(011-)、(121-)、(21 3-)、(0-11)、(1-32)晶面属于[111]晶带。答:根据晶带定律公式Hu+Kv+Lw=0计算 (011-)晶面:1×1+1×-1+0×1=1—1+0=0 (121-)晶面:1×1+1×-2+1×1=1—2+1=0 (21 3-)晶面:-3×1+2×1+1×1=(—3)+2+1=0 (0- 11)晶面:0×1+ - 1×1+1×1=0+(—1)+1=0 (1- 32)晶面:1×1+ - 3×1+1×2=1+(—3)+2=0 因此,经上五个晶面属于[111]晶带。 3.当X射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍,则此方向上必然不存在放射,为什么? 答:因为X射线在原子上发射的强度非常弱,需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在,而干涉加强的条件之一必须存在波程差,且波程差需等于其波长的整数倍,不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。 4.某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来,其θ较高抑或较低?相应的d较大还是较小? 答:背射区线条与透射区线条比较θ较高,d较小。 产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ,对于背射区属于2θ高角度区, 根据d=λ/2sinθ,θ越大d越小。 5.已知Cu3Au为面心立方结构,可以以有序和无序两种结构存在,请画出其有序和无序结构[001]晶带的电子衍射花样,并标定出其指数。

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

材料分析复习题

材料分析复习题 一.-----名词解释 一.名词解释: 光电效应质厚衬度X射线谱特征X射线谱:二次电子系统消光俄歇效应衍射衬度连续谱背散射电子结构因数激发电压等同晶面明场成像暗场成像景深相干散射非相干散射短波限特征谱干涉面衬度焦长晶带复型标准零层倒易面相机常数多重性因子吸收电子 光电效应:以光子激发原子所产生的激发和辐射过程称为光电效应。 质厚衬度:由试样的厚度和密度造成的衬度。 X射线谱: x射线管发出的x射线束的波长和强度的关系曲线。 特征X射线谱:在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线,称为特征X 射线谱。它和可见光的单色相似,亦称单色X射线。 二次电子:在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子。系统消光:因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称之为系统消光。 俄歇效应如果原子在入射的x射线光子的作用下, K层电子被击出,L层电子向K层跃迁,其能量差不是以产生K系X射线光量子的形式释放,而是被邻近电子所吸收,使这个电子受激发而逸出原子成为自由电子-----俄歇电子(Auger electrons)。这种现象叫做俄歇效应。 衍射衬度:由于样品中不同晶体(或同种晶体不同位向)衍射条件不同而造成的衬度差别称为衍射衬度。 连续谱:具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱,它和可见+ -光相似,亦称多色X射线。(或答:管压很低时,X射线谱的曲线是连续变化的,称连续谱。) 背散射电子:背散射电子是被固体试样表面的原子核反射回来的一部份入射电子,包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。 结构因数F2: 反映了晶胞内原子种类、原子个数、原子位置 对(hkl)晶面衍射方向上衍射强度的影响。 焦长:物平面固定,在保证象清晰的条件下,像平面沿透镜主轴上下移动的距离。(或答:透镜像平面允许的轴向偏差) 等同晶面:晶面间距相同,晶面上原子排列规律相同的晶面. 明场成像:让透射束通过物镜光阑,而把衍射束挡住得到图象衬度的方法叫明场

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