关于编织型电缆结构对屏蔽性能影响的数据化分析

摘要本文简要介绍三同轴管中管法测试屏蔽性能的原理，利用三同轴管中管测试方法对不同电缆结构的屏蔽性能进行测试，分析了电缆结构对屏蔽衰减及转移阻抗的影响，得出了结论编织层数越多，屏蔽衰减越好；第三层第四层屏蔽层主要影响低频转移阻抗和屏蔽衰减。

关键字编织型电缆；屏蔽衰减；转移阻抗；三同轴管中管法

前言

随着电子技术的高速发展，电缆作为传输信号的媒介，还可以向外辐射信号或者受到外界的信号干扰，造成信号失真。随着频率越来越高，对电缆及组件的屏蔽性能要求也越来越高。而对屏蔽衰减起关键作用的就是电缆的屏蔽层，一般多为铜、铝管外导体或编织外导体结构，CATV中经常用到编织型外导体。不同类型的外导体对屏蔽性能也有较大的影响，本文研究编织型外导体的不同结构对最终屏蔽性能的影响。

1 测试电缆与测试方法

1.1 编织型电缆结构简介

同轴编织电缆结构由内导体、绝缘介质、屏蔽层、护套构成，信号在内导体与屏蔽层之间传输。编织线一般按照屏蔽层结构分为标准屏蔽、三层屏蔽和四层屏蔽。

1.2 屏蔽性能测试原理

屏蔽性能测试方法目前主要有三同轴法、线注入法、吸收钳法、GTEM小室法[1]。三同轴可以同时测试组件的转移阻抗及屏蔽衰减，动态范围广，测试极限可达到-120dB。本文采用的是三同轴测试方法中的管中管法测试[2]。

对于一些射频连接器或短的电缆组件，三同轴方法测试截止频率会很高，测试屏蔽效率只能增加电缆组件长度来测试[3]。因此根据IEC62153-4-7中规定了扩展的三同轴法——管中管法测量可测试不同长度的屏蔽效率。

管中管法是通过采用金属延长管来调整被试组合件的电长度，使被试组合件的电长度变长，在低频率范围，也可以测量屏蔽衰减[4-5]。

屏蔽效能在国际上也有等级之分，根据EN50117标准定义，屏蔽效能等级中最高等级为class a++，具体指标屏蔽衰减>105dB @30-1000MHz ，屏蔽衰减>95dB@1000-2000MHz，屏蔽衰减>85dB@2000-3000MHz