数字电子技术实验报告
专业：班级：学号：姓名：指导教师：
电气学院
实验一集成门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;
2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;
3. 熟悉TTL集成电路的特点，使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件
1. 数字电路实验箱
2. 万用表
3. 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片
74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入或门 1片
74LS04反相器 1片
三、实验原理
集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时＞，低电平“0”时＜。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验内容
㈠根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能
1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下
按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为1，灭时记为0，把测试结果填入表1—1中。
输入状态输出状态
A B C Y
0000
0010
74LS11逻辑功能表
2. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下
按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—2中。
输入状态输出状态
3. 利用
Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下
按表1—3要求用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1—3中。
表1—3 74LS04逻辑功能表
输入输出状态（0|1）
01
00
悬空0
㈡根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能
四二输入与非门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。
利用Multisim画出以74LS00为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下
按表1—4要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—4中。
表1—4 74LS00逻辑功能表
悬空01
悬空10
悬空悬空0
四二输入异或门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能。
利用Multisim画出以74LS86为测试器件的非门逻辑功能仿真
图如下
按表1—5要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的状态，把测试结果填入表1—5中。
A B C
000
011
101