第二章++X射线衍射和倒格子

第二章++X射线衍射和倒格子
第二章++X射线衍射和倒格子

第二章 X 射线衍射和倒格子

大多数探测晶体中原子结构的方法都是以辐射的散射概念为基础的。早在1895年伦琴发现X 射线不久,劳厄在1912年就意识到X 射线的波长量级与晶体中原子的间距相同,大约是0.1nm 量级,晶体必然可以成为X 射线的衍射光栅。随后布拉格用X 射线衍射证明了NaCl 等晶体具有面心立方结构,从而奠定了用X 射线衍射测定晶体中的原子周期性长程有序结构的地位。随着科学技术的不断发展,电子、中子衍射有为人类认识晶体提供了有效的探测方法。但到目前为止,X 射线衍射仍然是确定晶体结构、甚至是只具有短程有序的无定形材料结构的重要工具。本章以X 射线衍射为例介绍晶体的衍射理论,引入倒格子的概念,在此基础上介绍原子形状因子和几何结构因子,并介绍几种确定晶格结构的实验方法。

§2.1 晶体衍射理论

一、布拉格定律 (Bragg ’s Law )

X 射线是一种可以用来探测晶体结构的辐射,其波长可以用下式来估算

012.4()()

hc

E h A E KeV νλλ==?= (2.1.1) 能量为2~10KeV 的X 射线适用于晶体结构的研究。

在固体中,X 射线与原子的电子壳层相互作用,电子吸收并重新发射X 射线,重新发射的X 射线可以探测得到,而原子核的质量相对较大,对这个过程没有响应。X 射线的反射率大约是10-3~10-5量级,在固体中穿透比较深,所以X 射线可以作为固体探针。

1912年劳厄(https://www.360docs.net/doc/eb13231382.html,ul )等发现了X 射线通过晶体的衍射现象之后,布拉格(W.L.Bragg )父子测定了NaCl 、KCl 的晶体结构,首次给出了晶体中原子规则排列的实验数据,发现了晶态固体反射X 射线特征图像,推导出了用X 射线与晶体结构关系的第一个公式,著名的布拉格定律(Bragg ’s Law )。

布拉格对于来自晶体的衍射提出了一个简单的解释。假设入射波从晶体中的平行晶面作镜面反射,每个平面反射很少的一部分辐射,就像一个轻微镀银的镜子一样。在这种反射中,其反射角等于入射角。当来自平行晶面的反射发生干涉相长时,就得出衍射束,图2.1是X 射线分别在相邻两个晶面反射的情况。我们考虑的是弹性散射,X 射线的能量在反射中不变。

图2.1 X 射线分别在相邻两个晶面的反射

考虑间距是d 的平行点阵平面,入射和反射X 射线束位于纸平面内。如图2.1所示,相邻平行平面反射线的光程差是 2sin d θ,式中 θ 是从反射平面开始度量。根据相干波干涉加强的条件,当光程差是波长λ 整数倍时,来自相邻晶面的辐射就发生干涉相长,所以

2sin d n θλ= (2.1.2)

这就是布拉格定律,其中 n 是衍射级数,它表示同一族晶面,在不同入射角下的衍射。由此可见,反射角受到严格的限制,只有满足式(2.1.2)的那些反射角才能观察到强的反射束。布拉格定律成立的条件是波长2d λ<<。

布拉格定律是晶格周期性的直接结果。布拉格定律很简单,但却令人信服,因为它能够给出正确的结果。应该指出的是,这条定律只能给出衍射加强的条件,没有给出衍射强度的分布和衍射峰值的宽度,而且不涉及放置于每个格点的基元中的原子的排列情况。

二、劳厄衍射条件

在布拉格给出X 射线衍射的简单解释之后,劳厄(Max von Laul )介绍了另一种X 射线衍射的方法。他认为晶体是将全同的原子放置在晶格的格点上构成的,并且假定每个原子都可以在空间所有的方向上重新发射入射的辐射,而辐射的峰值只能在所有格点上散射的X 射线发生干涉的波长和方向上观察到。

为了找出干涉相长的条件,我们考虑两个由格矢R 分隔开的散射体,如图2.2所示。

图2.2 劳厄衍射图

R

0k 0'k 0k R -?0'k R ?

假设X 射线沿 0k 方向从无穷远处入射,波长为λ,波矢为02k k πλ=

,散射为弹性散射,那么沿着0'k 方向的散射波与入射波有相同的波长,其波矢为02''k k πλ=

。这里0k 和0'k 分别为入射和散射方向的单位矢量。 由这两个散射体反射的X 射线要发生相长干涉,入射和反射波的波程差必须是波长的整数倍。由图2.2可知,相长干涉的条件是:

00'k R k

R m λ-= (2.1.3) 其中m 是整数。

给(2.1.3)式两边同乘以

2πλ,有 0022'2k R k R m πππλλ-=

'2k R k R m π-= (2.1.4)

(2.1.4)即为入射波矢和散射波矢相长干涉的条件。

定义散射波矢 'k k k ?=- ,则衍射条件可以写为 2k R m π?= (2.1.5)

即散射波矢与格矢的点乘积是2π的整数倍。(2.1.5)式就是劳厄衍射条件。

§2.2 晶体的倒格子

一、倒格矢(reciprocal lattice vectors ) 在劳厄衍射条件中,将散射波矢'k k k ?=-用G 表示,即k G ?=,则(2.1.5)式又可以写成

2G R m π= (2.2.1)

即这一组满足(2.2.1)式的G 矢量与格矢R 的乘积是2π的整数倍。因为R 是格矢,R 的端点的集合构成了整个晶格,而G 矢量端点的集合也构成一个点阵,称为倒格子(reciprocal

lattice ),G 矢量称为倒格矢(reciprocal lattice vectors )。与它相对应的点阵称为正格子(direct lattice ),格矢R 则称作是正格矢(direct lattice vectors )。注意,倒矢量或倒格子空间的长度量纲是[L -1],即1/米,这与波矢的量纲是一样的。所以,也将倒格子称作是波矢空间。

二、倒矢量(reciprocal vectors )

在数学上,可以由正格子定义倒格子。根据基矢 123,,a a a 定义三个新的矢量

1232()b a a π=

2312()b a a π=?Ω

(2.2.2) 3122()b a a π=?Ω 其中 123()a a a Ω=?

是正格子原胞体积,称 123,,b b b 为倒矢量(reciprocal vector )。以 123,,b b b 为基矢进行平移可以得到的周期点阵,称为倒易点阵,也就是倒格子(reciprocal lattice )。因此,123,,b b b 也叫做倒格子基矢(reciprocal basic vectors )。123,,b b b 在倒空间所围成的平行六面体称为倒空间的原胞,它在倒空间占的体积为

123*()b b b Ω=? (2.2.3)

每个原胞中只包含一个倒格点。

这样,倒格矢就可以表示为

112233h G hb h b h b =++ (2.2.4)

其中h 1 , h 2 , h 3 为整数。

下面证明由基矢 123,,b b b 构成的倒格矢满足(2.21)式。

首先我们注意到,i b 满足条件

2i j ij b a πδ= (i,j=1,2,3) (2.2.5)

其中ij δ是Kroneker δ函数:当 i=j 时, 1ij δ= ;当 i j ≠ 时,0ij δ= 。

实际上,因为 11223l R l a l a l a

=++ ,我们得到 1122331122331122()()2()

h l G R hb h b h b l a l a l a hl h l h l π=++++=++ (2.2.6) 因为h 1 , h 2 , h 3 以及l 1, l 2 , l 3 都是整数,因此,(2.2.6)式中的 112233()h l h l h l ++ 也是整数,这就证明了由基矢 123,,b b b 构成的倒格矢满足(2.2.1)式。

对于晶胞基矢,,a b c ,相应的倒格子基矢为

2*()a b c π=

2*()b c a π=?Γ

(2.2.7) 2*()c a b π=?Γ 其中 ()a b c Γ=? 为晶胞体积。

其实,每个晶体结构有两个点阵与它相联系,一个是正格子,另一个是倒格子。由正格子的基矢可以得到倒格子基矢,由倒格子基矢也可以得到正格子基矢。图2.3是一维倒格子,图

2.4是二维矩形正格子的倒格子。表2.1列出部分三维正格子和其对应的倒格子的结构形 式。

图2.3一维倒格子

图2.4 二维矩形正格子和倒格子

表2.1 部分三维正格子和对应的倒格子的结构形式

三、倒矢量和倒格矢的性质 a

b

1

b 2b 1a 2

a

为了加深对倒格子的理解,下面我们介绍倒格子与正格子之间的一些重要关系:

(一)倒格子的原胞体积与相应正格子的原胞体积成反比

根据基本的矢量运算,有 32331121233123()[()()*()(2)[()]

a a a a a a

b b b a a a π????Ω=?=? 323312111233

123(){[()][()](2)[()]a a a a a a a a a a a a a π??-?=? 33

123(2)(2)()a a a ππ==?Ω

即 3(2)*πΩ=Ω (2.2.8) 其中Ω是正格子原胞体积。

(二)正格子是它本身倒格子的倒格子

根据倒格子的基矢定义,倒矢量 1b 的倒矢量为

2

2311122[]2(2)***b b b a a πππ?==Ω=ΩΩΩ

同理可以得到 22*b a = ,33*b a = 。

可见,正格子是它本身倒格子的倒格子,或者说,正格子和倒格子互为对方的倒格子。

(三)以晶面族晶面指数为系数构成的倒格矢恰为晶面族的公共法线方向,即倒格矢112233h G hb h b h b =++ 与晶面族(h 1 h 2

h 3)正交 证明如下:如图2.3所示,ABC 是离原点最近的晶面,h G 是由晶面指数(h 1 h 2 h 3)为系数构成的倒格矢。

图2.3 离原点最近的晶面

33/a h C

3111223331

()()220h a a G AC h b h b h b h h ππ=++-=-= 2111223321()(

)220h a a G AB h b h b h b h h ππ=++-=-= 即h G 与晶面指数为(h 1 h 2 h 3)的晶面ABC 正交,也即与晶面族(h 1 h 2 h 3)正交。

(四)倒格矢h G 的模与晶面族(h 1 h 2 h 3)的面间距成反比

设123h h h d 是晶面族(h 1 h 2 h 3)的面间距,则由图2.3 可知 1231112233111()2h h h h h h h

G a h b h b h b a d h G h G G π++=== (2.2.9) 类似地,倒格面(123l l l )的面间距可以表示为

12311223322l l l l

d l a l a l a R ππ==++ (五)一个具有晶格周期性的函数()()l V r V r R =+,可以用倒格矢h G 展开成傅里叶级数

对晶格周期性的函数()V r 作傅氏变换,有

()()iK r K V r V K e

=∑ (2.2.10)

其中K 是与r 对应的傅氏变换量。根据傅氏变换理论,有

1()()()iK r V K V r e dr -Ω=Ω?

将r 换成l r R +,得到 ()()()()l l h h

iK r R iK R iK r l G G V r R V K e

V K e e ++==∑∑ (2.2.11) 要使 (2.2.10)式和(2.2.11)式相等,必须有 1l i K R e

= 即 2l K R m π= (m 是整数)

可见,K 必为倒格矢。于是有 ()()h h iG r h

G V r V G e =∑ (2.2.12)

也就是说,具有正格矢周期性的函数,做傅里叶展开时,只须对倒格矢展开即可。

(六)倒格子保留了正格子的全部宏观对称性

假设g 是正格子的一个点群对称操作,l R 为一正格矢,经过g 操作后,l gR 应是正格矢;设1

g -是g 的逆操作,1l g R -也应是正格矢。对于任意一个倒格矢h G ,倒格矢与正格矢的点乘是2π的整数倍,所以有

12h l G g R m π-=

对于点群对称操作,操作前后空间两点之间的距离不变,两个矢量的点乘在任意点群对称操作下应保持不变。因此有

11()2h l h l h l g G g R gG gg R gG R m π--===

可见,h gG 以及1h g G -也应该是倒格矢。这说明正格子和倒格子有相同的点群对称性,即倒格子保留了正格子的全部宏观对称性。

§2.3布里渊区(Brillouin zone )

一、劳厄衍射条件和布拉格定律等价

我们再来看劳厄衍射条件(2.1.5)或者2G R m π=,提供相长干涉的散射波矢实际上就是一个倒格矢。

在实际应用中,用另外一种散射条件表示劳厄衍射条件会更方便一些。在弹性散射中,光子的能量是守恒的, k 和k ’ 的大小相等,且有,22

'k k =。

由 k G ?= 有 222'()02k G k G k G =+?=+ (2.3.1) 因为G 是一个倒格矢,G -也应是一个倒格矢,用G -替代G , 有

22k G G = (2.3.2)

(2.3.2)式就是散射条件,它是布拉格定律的另一种表示形式。下面我们来说明它与布拉格定律是等价的:

由倒格子的性质我们已知,以密勒指数(hkl )为系数构成倒格矢123G hb kb lb =++垂直于密勒指数(hkl )的晶面族,而且这个晶面族的面间距为 2d G π

= ,因此22k G G =可以写为 2(2/)sin 2/d πλθπ=, 或者 2sin d θλ=,其中θ是入射光与晶面之间的夹角。 其实,定义倒格矢的整数hkl 未必就代表实际的晶面,因为hkl 可能包含一个公因数m ,在

用hkl 作为晶面的密勒指数时,公因数已经消除。因此,我们可以用mG 来替代G ,即可以得到布拉格定律的结果:2sin d m θλ= 。

二、布里渊散射条件和布里渊区(Brillouin zone )

1、布里渊散射条件

布里渊给出了散射条件的另一种表述形式,这种表述形式在固体物理中的使用最为广泛,常被用于电子能带理论以及晶体中其他类型的元激发的描述。

如图2.4所示是倒空间的二维格子。O 点是到空间的原点,考虑连接原点和任意一个倒格点的倒格矢G 。做G 的垂直平分线(三维情形将是垂直平分面),如果入射波矢满足(2.3.2)式,将(2.3.2)式两边同除以4,散射条件则可写成

211()()22k G G = (2.3.3)

这就是布里渊的散射条件。

图2.4 倒空间的二维格子

容易看出,任何连接原点和垂直平分面的波矢k 都满足散射条件。

2、布里渊区(Brillouin zone )

在图2.4所示的倒格子中,画出所有的倒格矢的垂直平分面,可以得到倒格子的维格纳—赛茨(Wigner-Seitz )原胞,因为W-S 原胞可以充分反映倒格子的宏观对称性,在固体物理学中常采用W-S 原胞,而不是倒矢量123,,b b b 为边矢量围成的平行六面体作为倒格子的 周期性结构单元。倒格子的W-S 原胞被称为第一布里渊区,它的价值和意义在于它为方程(2.3.2)的衍射条件 2

2k G G = 提供了一个生动而清晰的几何诠释,它包括了所有能在晶体上发生布拉格反射的波的波矢k 。

根据上面的分析,对布里渊区的每个界面,当入射波矢的端点落在这些面上时,也必然产生反射。布里渊区在研究晶体内电子的运动时特别重要,因为当晶体中的电子表现出波动k

G

12

G

性时,他们也会在这些界面上发生反射。

下面举例说明一维、二维、三维晶格点阵的布里渊区。

(1)一维晶格的布里渊区

一维晶格点阵的基矢为 a ai =,对应的倒格子基矢为 2b i a

π=,离原点最近的倒格矢为b 和b -。这些矢量的垂直平分面构成第一布里渊区,其边界为a

π±,如图2.5所示。

图2.5 一维晶格的第一布里渊区

(2)二维正方结构晶格点阵的布里渊区

二维正方结构晶格点阵的基矢为 12,a ai a aj ==。

相应的倒格子基矢为 1222,b i b j a a

ππ==。可以看出,倒格子点阵也是正方点阵,点阵常数为2a π。倒格矢表示为1122122()h G h b h b h i h j a π=+=+,12,h h 为整数。离原点最近的四个倒格点的倒格矢分别为 112212(1,0),(0,1)b h h b h h ±=±=±==±。通过这四个矢量的中点 11,2b i a π±=± 212b j a

π±=± 分别作四个垂直平分面,就形成了第一布里渊区的边界。再作离原点次近邻的倒格点的倒格矢分别为

112212(1,1),(1,1)b h h b h h ±=±=±±=±=±,通过这四个倒个是的中点,即

121122b b i j a a

ππ±±=±± 分别作四个垂直平分面,即可得到第二布里渊区的边界。

依次,可以得到更高次的布里渊区,如图2.6所示。

图2.6 二维正方结构晶格的布里渊区

(3)简立方结构晶格点阵的布里渊区

对于三维简立方结构晶格点阵来说,其正格子基矢为 1a ai =,2a aj =,3a ak =,原胞体积为3a ,对应的倒格子基矢为12322()b a a i a ππ=?=Ω,22b j a π=,32b k a π=。所以,倒格子也是简立方结构,其第一布里渊区仍然是一个简立方。

(4)体心立方结构晶体点阵的布里渊区

对于体心立方结构晶体点阵,如果正格子基矢取为:

1()2a a i j k =-++,2()2a a i j k =-+,3()2

a a i j k =+-; 原胞体积为3123()/2a a a a Ω=??=。 则三个倒格子基矢为:12322()()

b a a j k a

ππ=

?=+Ω 23122()()b a a k i a

ππ=?=+Ω 31222()()b a a i j a ππ=?=+Ω 倒格子原胞体积为3123*()2(2/)b b b a πΩ=?=。

可见,体心立方结构的倒格子是面心立方结构,离原点最近的倒格点有12个,它们是: 22i j a a ππ±±,22j k a a ππ±±,22k i a a

ππ±± 这十二个倒格矢的中垂面围成的区域就是第一布里渊区,如图2.7所示是一个十二面体。

图2.7 体心立方正格子的第一布里渊区

第一布里渊区种典型对称点的坐标为:2:(0,0,0)a πΓ,2:(1,0,0)H a

π,211:

(,,0)22N a π,2111:(,,)222P a π。

(5)面心立方结构晶体点阵的布里渊区

取面心立方的原胞基矢为:1()2a a j k =+,2()2a a k i =+,3()2

a a i j =+,原胞体积为3123()/4a a a a Ω=??=。 倒格子原胞基矢为:12322()()

b a a i j k a

ππ=

?=-++Ω, 23122()()b a a i j k a

ππ=?=-+Ω, 31222()()b a a i j k a

ππ=?=+-Ω, 原胞体积为31232()4()a a a a πΩ=??=。 因为面心立方结构的倒格子是体心立方,离原点最近的倒格点有8个,它们是

123123,,,()b b b b b b ±±±±++,

其倒格矢为 2()i j k a

π±±±,它们的中垂面构成一个八面体,每一个面离原点的距离为

a ,正八面体的体积是392()2a π,比倒格子的原胞体积大312()2a

π,可见这个八面体不是第一布里渊区。必须再考虑次紧邻的六个倒格点,倒格矢为:2(2)i a π±,2()j a π±,2()k a

π±,它们的中垂面截去了正八面体的6个顶角,形成一个截角八面体,它有八个正六边形和六个正方形,即十四面体。而截去的体积恰好是312()2a

π,可见,这个截角以后的八面体是第一布里渊区,如图2.8所示。

图2.8 面心立方正格子的第一布里渊区 第一布里渊区种典型对称点的坐标为:2:(0,0,0)a πΓ,2:(1,0,0)X a

π,233:(,,0)44K a π,2111:(,,)222

L a π。

3、布里渊区的性质

从上面的例子可以看出布里渊区有如下性质:

(1)布里渊区的形状与晶体结构有关;

(2)布里渊区的边界由倒格矢的垂直平分面构成;

(3)对于给定的晶体结构,各布里渊区的形状不同,但体积都相同,都等于倒格子的原胞体积。

其实,第一布里渊区就是倒格子空间的维格纳-赛茨原胞,它的体积就是倒格子原胞体积。

§2.4 原子散射因子和几何结构因子

一、散射波振幅(Diffraction amplitude )

1、振幅的表示

振幅和衍射峰值的宽度在阐释X 射线衍射中是非常重要的数据,但到目前为止,我们还没有讨论过这些问题,这需要作进一步的分析。

考虑如图2.9所示的X 射线被固体散射的情况,入射平面波ik r e

,其波矢为k ,散射平面波'ik r e ,波矢为'k 。当入射X 射线与固体中电荷密度为 ()n r 的电子相互作用时发生

散射。散射的振幅与有限体积元dV 中的电荷 ()n r dV 成正比,其位相因子为 i e φ?。位相

的改变为 '(')k r k r k k r k r φ?=-=--=-? (2.4.1)

图2.9 X 射线被固体散射的情况 散射波的总振幅是()n r dV 同相位因子 i e

φ?的乘积在整个晶体体积内的积分,即 r dV 0k 0'k 0k r -?0'k r ?

()i k r solid F dVn r e -?=? (2.4.2) 散射波的强度与振幅的平方2F 成正比,因此,振幅F 决定散射波的强度和衍射峰值的宽

度。

2、电荷密度的傅立叶展开

在理想晶体中,电荷密度和晶格一样具有平移周期性,也就是说,平移任意格矢的长度,电荷密度不变,即 ()()l n r n r R =+ (2.4.3)

这种平移对称性,使得电荷密度可以倒格矢h G 展开为傅立叶级数

()h h iG r G G n r n e =∑ (2.4.4)

其中n G 是傅立叶分量,由傅立叶逆变换给出:

1()h iG r G V n dVn r e V -=? (2.4.5) 这里的V 是固体的体积。

3、一维情况下傅立叶级数

具有一维晶格周期a 的函数()f x ,满足 ()()f x f x a =+,可以展开为傅立叶级数 011

22()cos()sin()p p p p f x f C px S px a a ππ∞∞===++∑∑ (2.4.6) 其中p 是整数,0,,p p f C S 是傅立叶系数。这个展开时可以写成更简洁的形式

2()exp()p p f x f i px a

π∞=-∞=

∑ (2.4.7) 系数 p f 由0,,p p f C S 给出。定义 2g p a

π=

,我们可以把方程(2.4.7)写成如下的形式 ()e x p ()g g f x f i g x ∞=-∞=∑ (2.4.8)

这里,g 可以看成是以a 为周期的一维晶格的倒格矢。(2.4.8)式就是三维情况下的普遍形式(2.4.4)在一维情况下的具体表现形式。一维情况下电荷密度的傅立叶级数可写为

()h

igx G G n x n e =∑

4、电荷密度的傅立叶展开式具有平移不变性

将(2.4.4)式中所有的 r 换成 l r R +,有

()()()h l h h l h h h h iG r R iG r iG R iG r l G G G G G G n r R n e n e e n e n r ++=

===∑∑∑ (2.4.9) 其中用到了1h l iG R e =, 即 2G R m π= 的条件。所以,电荷密度傅立叶展开式具有平移不变性。

将(2.4.4)式代入(2.4.2)式,有

()h h i G k r G G solid F n dVe -?=∑? (2.4.10)

如果 0k G ?=,这里 0G 是一个特殊的倒格矢,则散射振幅为 G F V n = ,否则,振幅的值就小的可以忽略。因此,布拉格峰值的强度取决于电荷密度各自的傅立叶分量G n 。

二、结构基元的傅立叶分析(Scattering from a lattice with basis )

当晶体结构是复式格子时,原胞中包含不止一个原子,每一个原子在原胞中的位置是不等价的,这时必须考虑每一个原子的散射情况。散射布拉格峰值的强度,将取决于基元中每个原子的散射波与其它原子的散射波之间干涉的程度。为了考虑基元中每个原子的散射情况,首先我们重新写出方程(2.4.2)()i k r solid F dVn r e -?=?,将衍射条件下的散射振幅表示为,

()()h l l iG r R l R cell F dVn r R e -+=+∑? (2.4.11)

其中的求和号表示对所有的格矢进行。由于()()l n r n r R =+,而且1h l iG R e =,我们得到 ()()h h l iG r iG r G R cell cell F dVn r e N dVn r e NS --===∑?? (2.4.12)

这里N 是固体中的原胞数,定义结构因子为

()h iG r G cell S dVn r e -=? (2.4.13)

假定一个原胞中含有 s 个原子,分别位于 123,,r r r ……处,原胞中r 处总的电荷密度可以方便地写成与原胞中与每个原子相联系的求和形式

1()()s j j j n r n r r ==-∑ (2.4.14)

其中()j j n r r -是第 j 个原子对 r 处电荷密度的贡献。但是这有一个问题,因为我们不是每次都能给出同每个原子相联系的电荷密度。不过这个问题不太难解决。

由方程(2.4.13)定义的结构因子,现在可以写成对一个原胞中s 个原子s 个积分的求和:

11()()h j h h s s iG r iG r iG r G j j j j j cell S dVn r r e e dVn e ρ---===-=∑∑?? (2.4.15)

其中 j r r ρ≡-。

定义原子的形状因子为:

()h iG r j j f dVn e ρ-=? (2.4.16)

上式积分遍及整个空间。如果()j n ρ是原子的一个特征参量,那么 j f 也应该是原子的一个特征参量。

由(2.4.15)式和(2.4.16)式,可以将基元的结构因子(或者说几何结构因子)写成:

h j iG r G j j S f e -=∑ (2.4.17)

如果将 j r 表示为格矢的形式: 123j j j j r x a y a z a =++,则几何结构因子可以写成 112233123exp[()()]h j iG r G j j j j j j j

S f e

f i h b h b h b x a y a z a -==-++++∑∑ 即 123e x p [2()]G j j j j j S f i h x h y h z π=-++∑ (2.4.18)

结构因子的值不一定是实数,因为在散射强度中包含*G G S S 项,其中 *G S 是S G 的复共轭。

由上面的讨论可知,如果已知原子的形状因子f i ,就可以由衍射强度推出原胞中原子的排列。反之,如果已经知道原胞中原子的排列,也可以确定衍射线加强和消失的规律。把几何结构因子能使空间点阵所允许的某些反射抵消,称为衍射消光。

以CsCl 结构晶体的结构因子为例。于氯化铯结构的晶体,一个原胞中有A 、B 两种原子,其坐标为A (000),B 111(

)222。代入(2.4.18)式得到氯化铯结构晶体的几何结构因子为

123exp[2()]G j j j j j S f i h x h y h z π=-++∑

123()i h h h A B f f e π-++=+

A B A B

f f f f +?=?-? 123123h h h h h h ++=++=偶数奇数 对于面指数等于奇数的那些晶面,如果A B f f ≈,将完全消光。

结晶学中选取晶胞为重复单元,以上结论仍然适用,只是晶胞内的原子可能有相同的原子,甚至全部是同种原子。因为同种原子的形状因子完全相同,可能出现某些晶面完全消光。采用晶胞的情况下, j j j j r x a y b z c =++,***hkl G ha kb lc =++。

下面根据(2.4.18)计算几种常见晶体结构的衍射消光条件:

1、体心立方晶格的结构因子(structure factor of bcc lattice )

体心立方结构的晶胞中含有两个原子,其坐标可以选为(000)和111()222

。因为同种原子的形状因子相同,即12f f f ==,对于晶面族(hkl )来说(2.4.18)式变为:

{1exp[()]G S f i h k l π=+-++ (2.4.19)

在上式中,只要指数项的数值等于-1,也就是说,只要其幅角是i π-乘上一个奇数,S G 的值就是零。衍射强度为

2222*[1cos ()]sin ()hkl hkl hkl I F F f n h k l f n h k l ππ∝=++++++

所以,我们有:

0G S = 当h k l ++=奇数

2G S f = 当=h k l ++偶数

因此,对于元素体心晶体,只要衍射面指数之和为奇数时反射消失。

比如,金属钠是体心立方结构,在其衍射图谱中将不出现(100),(300),(111)或(221)谱线,但存在(200),(110),(222)或(211)谱线。

2、面心立方晶格的结构因子(structure factor of fcc lattice )

面心立方结构的晶胞中含有4个原子,坐标可选为(000),11(

0)22,11(0)22,11(0)22。对于元素面心立方晶体,晶面族(hkl )的结构因子为

123exp[2()]G j j j j j S f i h x h y h z π=-++∑

{1e x p [()]e x p [()]e x p [f i h k i h l i k l πππ=+-

++-++-+ 衍射强度为:

22*[1cos ()cos ()cos ()]hkl hkl hkl I F F f n h k n h l n k l πππ∝=++++++

22[sin ()sin ()sin ()]f n h k n h l n k l πππ++++++

衍射晶面指数全部为偶数或全部为奇数时,几何结构因子都不等于零,可以出现衍射谱线的晶面有(111),(200),(222),(220),(131)等,当衍射面指数部分为偶数,部分为奇数时,衍射消光。

三、原子形状因子(atomic form factor )

(2.4.16)式给出原子形状因子的定义,它既与原子中电子数目和分布相关,由于辐射的波长和散射角度有关,它是原胞中第j 个原子散射本领的量度。对于单个原子产生的散射辐射,要考虑到原子内的干涉效应。在定义式 ()h iG r j j f dVn e ρ-=? 中,其积分遍及与单个原子相关的电子浓度不为零的区域。令 r 与 h G 之间的夹角为α,则

c o s h h G r G r α=,

如果电子分布关于原点呈球形对称分布,则对(cos )d α在 -1 到 +1 之间进行积分之后,得到

22(c o s )e x p (c o s )

j j h f d r r d n i G r παα=-? 2

2()h h iG r iG r

j h e e drr n r iG r π--=?? 这时,形状因子可以写成

2sin 4()h j j h G r f drn r r G r

π=? (2.4.20) 如果电子密度集中在 0r =处,那么只有在h G r 趋近于零的情况下才对被积函数有贡献。在这个极限下,有 sin 1h h G r G r

=,并且 24()j j f drn r r Z π==? (2.4.21)

即等于原子中电子的数目。所以,f 是一个原子中实际电子分布所散射的辐射振幅与被局限在一个点上的一个电子所散射的辐射振幅之比。

§2.5 晶体结构的实验确定

(experimental detection of crystal structure )

一、X 射线衍射(X-ray diffraction )

为了分析不同的固体结构,X射线衍射实验的方法有很多。这里介绍三种主要衍射方法的原理。为了更好地描述这些实验方法,我们首先了解一下厄瓦德球(或者叫厄瓦德构图法Ewald structure )。

1、厄瓦德球(Ewald structure )

劳厄方程可以写成 'h k k nG -= 的形式,这里的n 就是衍射级数。如果取1n =,即有:'h k k G -=, G 为倒格矢,它的两端均为倒格点;而'k k 和 的端点就落在倒格矢G 的两个端点所在的倒格点上。根据这一思路,厄瓦德在倒空间构造出一个球,做法如下:如图2.10所示,在倒格子空间取任一倒格点为原点O,以入射波矢k 的末端为球心,||k 为半径画一个球,即k 一端处在倒格点上,另一端处在球心的位置。在入射波矢和倒格子给定的情况下,只能画出唯一的一个球,这个球就称为厄瓦德球(或反射球Ewald structure )。从图中可以看出,除了原点以外,还有一些倒格点落在球面上,也就是说,将存在一些波矢'k 满足劳厄方程:'h k k G -=。

用厄瓦德球很容易理解将要介绍的几种X射线衍射实验。

图2.10 厄瓦德球

2、X 射线衍射的三种实验方法

(1)劳厄法(Laue method )

劳厄法是用波长可以连续变化的X 射线,入射到固定的单晶上而产生衍射的一种方法。假设入射波长介乎于min max λλ和之间,因为波矢的大小在一定的范围内连续变化,可以做无

穷多个厄瓦德球,所以由max min 2k π

λ=和min max 2k πλ=所构造的厄瓦德球面之间的区域内,任

意一个倒格点必定落在某个厄瓦德球面上,并且可以观察到由它们决定的布拉格反射。只要波长间隔足够大,就有足够多的衍射峰存在,如图2.11所示。

图2.11 劳厄法的厄瓦德球

衍射斑点与倒格点对应,衍射斑点的分布可反映出倒格点的分布。实际上,倒格矢是晶体相应晶面的法线方向,晶格有什么样的对称性,倒格子就有什么样的对称性。当X 光入射方向与晶体的某对称轴平行时,劳厄衍射斑点的对称性即反映出晶格的对称性。所以,劳厄法通常用于一个已知晶体结构的单晶体的定向。

(2)转动单晶法(rotating-crystal method )

这种方法是采用单色X 射线入射,即固定入射波矢k 的大小,通过转动晶体改变X 射线对于晶体的入射角,相当于改变波矢k 的方向而产生衍射的一种方法。

由于入射波长不变,只有一个厄瓦德球,而且固定不动。但是,由于晶体转动,倒格子空间相对于厄瓦德球转动,如图2.12所示。

图2.12 旋转单晶法的厄瓦德球

倒格点在倒空间绕轴作圆周运行时,只要圆周与厄瓦德球相交,就有倒格点扫过厄瓦德球面,

就有布拉格反射发生。为确定期间,通常把倒格子看作不动,而把厄瓦德球看作是绕

2017X射线衍射及物相分析实验报告写法

请将以下内容手写或打印在中原工学院实验报告纸上。 实验报告内容:文中红体字部分请删除后补上自己写的内容班级学号姓名 综合实验X射线衍射仪的使用及物相分析 实验时间,地点 一、实验目的 1.了解x射线衍射仪的构造及使用方法; 2.熟悉x射线衍射仪对样品制备的要求; 3.学会对x射线衍射仪的衍射结果进行简单物相分析。 二、实验原理 (X射线衍射及物相分析原理分别见《材料现代分析方法》第一、二、三、五章。)三、实验设备 Ultima IV型变温全自动组合粉末多晶X射线衍射仪。 (以下为参考内容) X衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。

图1 热电子密封式X射线管的示意图 图1是目前常用的热电子密封式X射线管的示意图。阴极由钨丝绕成螺线形,工作时通电至白热状态。由于阴阳极间有几十千伏的电压,故热电子以高速撞击阳极靶面。为防止灯丝氧化并保证电子流稳定,管内抽成1.33×10-9~1.33×10-11的高真空。为使电子束集中,在灯丝外设有聚焦罩。阳极靶由熔点高、导热性好的铜制成,靶面上被一层纯金属。常用的金属材料有Cr,Fe,Co,Ni,Cu,Mo,W等。当高速电子撞击阳极靶面时,便有部分动能转化为X射线,但其中约有99%将转变为热。为了保护阳极靶面,管子工作时需强制冷却。为了使用流水冷却和操作者的安全,应使X射线管的阳极接地,而阴极则由高压电缆加上负高压。x射线管有相当厚的金属管套,使X射线只能从窗口射出。窗口由吸收系数较低的Be片制成。结构分析用X射线管通常有四个对称的窗口,靶面上被电子袭击的范围称为焦点,它是发射X射线的源泉。用螺线形灯丝时,焦点的形状为长方形(面积常为1mm×10mm),此称为实际焦点。窗口位置的设计,使得射出的X射线与靶面成60角(图2),从长方形的短边上的窗口所看到的焦点为1mm2正方形,称点焦点,在长边方向看则得到线焦点。一般的照相多采用点焦点,而线焦点则多用在衍射仪上。 图2 在与靶面成60角的方向上接收X射线束的示意图 自动化衍射仪采用微计算机进行程序的自动控制。图3为日本生产的Ultima IV型变温全自动组合粉末多晶X射线衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进人脉冲高度分析器。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经徽处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样(θ)及探测器(2θ)进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。 物相定性分析是X射线衍射分析中最常用的一项测试,衍射仪可自动完成这一过程。首先,仪器按所给定的条件进行衍射数据自动采集,接着进行寻峰处理并自动启动程序。

X射线衍射分析法原理概述

第十四章 X射线衍射分析法 14.1概述 X射线衍射法是一种研究晶体结构的分析方法,而不是直接研究试样内含有元素的种类及含量的方法。当X射线照射晶态结构时,将受到晶体点阵排列的不同原子或分子所衍射。X射线照射两个晶面距为d的晶面时,受到晶面的反射,两束反射X光程差2dsinθ是入射波长的整数倍时,即 2dsinθ=nλ (n为整数) 两束光的相位一致,发生相长干涉,这种干涉现象称为衍射,晶体对X 射线的这种折射规则称为布拉格规则。θ称为衍射角(入射或衍射X射线与晶面间夹角)。n相当于相干波之间的位相差,n=1,2…时各称0级、1级、2级……衍射线。反射级次不清楚时,均以n=1求d。晶面间距一般为物质的特有参数,对一个物质若能测定数个d及与其相对应的衍射线的相对强度,则能对物质进行鉴定。 X射线衍射分析方法在材料分析与研究工作中具有广泛的用途。在此主要介绍其在物相分析等方面的应用。 14.1.1 物相定性分析 1.基本原理 组成物质的各种相都具有各自特定的晶体结构(点阵类型、晶胞形状与大小及各自的结构基元等),因而具有各自的X射线衍射花样特征(衍射线位置与强度)。对于多相物质,其衍射花样则由其各组成相的衍射花样简单叠加而成。由此可知,物质的X射线衍射花样特征就是分析物质相组成的“指纹脚印”。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化(1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”,由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”,称PDF卡片),将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,这就是物相定性分析的基本原理与方法。 2.物相定性分析的基本步骤 (1) 制备待分析物质样品,用衍射仪获得样品衍射花样。 (2) 确定各衍射线条d值及相对强度I/I1值(Il为最强线强度)。 (3) 检索PDF卡片。 PDF卡片检索有三种方式: 1)检索纸纸卡片 物相均为未知时,使用数值索引。将各线条d值按强度递减顺序排列;按三强线条d1、d2、d3的d—I/I1数据查数值索引;查到吻合的条目后,核对八强线的d—I/I1值;当八强线基本符合时,则按卡片编号取出PDF卡片。若按d1、d2、d3顺序查找不到相应条目,则可将d1、d2、d3按不同顺序排列查找。查找索引时,d值可有一定误差范围:一般允许

X射线衍射的物相分析

X射线衍射的物相分析 一、实验目的: (1)熟悉Philips X射线衍射仪的基本结构和工作原理; (2)学会粉末样品的制样及基本的测试过程; (3)掌握利用X射线衍射谱图进行物相分析的方法; 二、实验仪器 (1)制样:未知粉末样品、药匙、酒精(用于擦拭研钵)、研钵、专用进样片; (2)测试:Philips X'pert X射线衍射仪; 三、实验原理 当一束单色x 射线电磁波照射晶体时,晶体中原子周围的电子受x 射线周期变化的电场作用而振动,从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。所发射球面波的频率、与入射的x 射线相一致。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉而 叠加,称之为相干散射或衍射。 四、实验条件的选择 (1)用于粉末晶体衍射的射线波长一般为0.5~2.5?,本实验中使用的为Cu靶; (2)滤波片选用Ni,因为滤波片是用于吸收Cu的Kβ线,而Ni的吸收限位于Cu的Kα与Kβ之间且靠近Kα线; (3)狭缝参数的选择:在X射线衍射仪的光路中有五个狭缝:梭拉狭缝(两只)、发散狭缝、散射狭缝、接受狭缝。 a. 梭拉狭缝是用来限制X光垂直发散度的,梭拉狭缝发散度的大小对强度和分辨率都有 很大影响,两只狭缝分别位于X光管之后和探测器前。 b. 发散狭缝是用来限制样品表面初级X射线水发散度的,加大狭缝,分辨率降低但强度 增加,可根据实际所需的测试要求进行调解;

c. 散射狭缝用来减少非相干散射及本底等因素造成的背景,提高峰背比,它与发散狭缝配对使用且角度相同; d. 接受狭缝是用来限定进入探测器的X 衍射线的。它位于衍射线的焦点。测量时如果主要为了提高分辨率,应该选择较小的接受狭缝。如果为了提高衍射强度,则应加大接受狭缝。 五、实验操作 1.样品制备: A .测试对于样品粒径的大小并没有严格的要求,但是粒径过大或者不均匀会谱图中锋的相对高度发生变化,导致在对比所得谱图与PDF 标准卡时需要对衍射峰进行大量的排列组合。 B. 测试样品在装入样品板之前必须用毛玻璃将待测表面打磨至完全光滑,并且保证样品的表面与样品板相平。 2.样品扫描 将样品板装入样品台,将防护罩关闭,设定好控制程序,开始扫描,扫描期间面板“shutter open ”指示灯亮起,此时不可以强行打开防护罩,否则会导致仪器强行停止损坏X 光管; 实验中X 光管的高压值设定为4Kv ,电流35mA ;扫描的起始角为10o ,终止角为80o (2θ) 3.结果保存 扫描完成后,当“shutter open ”指示灯熄灭时,确认防护罩解锁后方可打开,取出样品。将数据在highscore 软件中进行处理,软件可以按照要求标示出图中的峰位置,再用软件去除K β线,标示出各个锋的相对高度及d 值,打印结果。 4.利用标准PDF 卡片对未知粉末进行物相分析 将所得的谱图与标准卡片进行对比,有时可能由于峰的相对强度有偏差导致在查找时要对三强线的顺序作出相应调整。d 值的测量受到仪器状态及其他外在因素的影响有一定偏差,这也给查表过程带来了一定难度。 六、实验结果分析 实验中测得未知粉末样品的三强线(three strong lines )分别是 3.34525 ?、4.25729 ?、1.81808 ?,在标准卡片中查找,由于实验条件等因素限制使得测试结果与标准值有一定偏差,最终确定未知样品粉末为二氧化硅,即合成高纯石英( silicon oxide quartz high-synetic ),PDF 编号为89-3433,标准值的三强线分别为3.40 ?、4.34 ?、2.01 ?。 未知粉末的物理性质:白色固体粉末,无特殊光泽,粒径较小,研磨时发现硬度较大,无特殊气味,初步测试不溶于水和酒精溶液。 d 值偏差计算: 0000 3.34525 3.40 100 1.613.40 -?=

X射线衍射分析

X射线衍射分析 百科内容来自于: 《近代X射线多晶衍射》 X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。 简介 X射线 衍射X射线满足布拉格方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射线的波长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照,即可确定试样结晶的物质结构,此即定性分析。从衍射X 射线强度的比较,可进行定量分析。本法的特点在于可以获得元素存在的化合物状态、原子间相互结合的方式,从而可进行价态分析,可用于对环境固体污染物的物相鉴定,如大气颗粒物中的风砂和土壤成分、工业排放的金属及其化合物(粉尘)、汽车排气中卤化铅的组成、水体沉积物或悬浮物中金属存在的状态等等。 X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线,它具有与靶中元素相对应的特定波长,称为特征(或标识)X射线。如铜靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。考虑到X射线的波长和晶

体内部原子面间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础。 X射线衍射在金属学中的应用X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦(A.Westgren)(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构,β-Fe并不是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体,从而最终否定了β-Fe 硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时,在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现,推动了对合金中有序无序转变的研究,对马氏体相变晶体学的测定,确定了马氏体和奥氏体的取向关系;对铝铜合金脱溶的研究等等。X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 应用 物相分析 是X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。 精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构(见择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。 晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化,它直接影响材料的性能。

X射线衍射分析原理及其应用

X射线衍射分析

目录 1.摘要 (2) 2.前言 (2) 3.X射线及XRD (2) 4.X射线衍射仪的结构 (3) 5.X射线衍射仪的原理 (5) X射线衍射原理 (5) X射线图谱 (6) 6.X射线衍射法 (7) 多晶粉末法 (7) 单晶衍射法 (10) 7.X射线衍射法的应用 (11) X射线衍射分析方法在中药鉴定中的应用 (11) X射线衍射仪在岩石矿物学中的应用 (11) 8.总结 (12) 9.参考文献 (14)

X射线衍射分析 摘要: X射线衍射分析是一种重要的晶体结构和物相分析技术,广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。本文简要介绍X射线衍射原理,X射线衍射仪器的结构、原理,及其在地质学、医学等自然科学领域中的应用。 前言: 1895年伦琴发现X射线,又称伦琴射线。德国科学家劳厄于1912年发现了X射线衍射现象,并推导出劳厄晶体衍射公式。随后,英国布拉格父子又将此衍射关系用简单的布拉格方程表示出来。到上世纪四、五十年代,X射线衍射的原理、方法及在其他各方面的应用逐渐建立。在各种测量方法中,X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。X射线衍射技术可以探究晶体存在的普遍性和特殊性能,使得其在冶金、石油、岩石矿物、科研、航空航天、材料生产等领域的被广泛应用。 关键词:X射线,XRD,衍射,原理,岩石矿物,中药,应用 一、X射线及XRD 1.X射线是由高能电子的减速运动或原子内层轨道电子的跃迁产生的短波电磁 辐射。X射线的波长在10-6 ~10nm,在X射线光谱法中常用波长在0.01~2.5nm范围内。 2.X射线的产生途径有四种:1.高能电子束轰击金属靶即在一个X射线管中,固体阴极被加热产生大量电子,这些电子在高达100KV的电压下被加速,向金属阳极轰击,在碰撞过程中,电子束的一部分能量转化为X射线;2.将物质用初级X射线照射以产生二级射线—X射线荧光; 3.利用放射性同位素衰败过程产生的发射,人工放射性同位素为为某些分析应用提供了非常方便的单能量辐射源; 4.从同步加速器辐射源获得。 3.X射线的吸收。当一束X射线穿过有一定厚度的物质时,其光强和能量会因吸收和散射而显著减小。物质的原子序数越大,它对X射线的阻挡能力越大,X射线波长越长,即能量越低,越容易被吸收[1]。 4.X射线衍射分析(XRD)是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。X射线衍射法是目前测定晶体结构的重要手段,应用极其广泛。在实际的应用中将该分析方法分

X射线衍射物相分析

X射线衍射物相分析 物相分析并不是一般的成份分析,一般的化学成份分析是分析组成 物质的元素种类及其含量,并不涉及元素间的化学结合状态及聚集态结构,只有元素单独存在时该元素才是一个单独的物相。物相分析是进行元素间的化学结合状态和聚集态结构的分析。那些化学组成相同但晶型不同的物质,虽然其元素组成相同,属同种化合物,但其聚集态结构不同,属不同的物相。 已知,识别一个物质不但要知其元素组成,而且要知各元素间的化 学结合状态和聚集态结构。如只含Si和0二种元素的Si0 2 ,它有石英、方英石、鱗石英、白硅石和无定形硅胶等许多结构形态,分别属于不同 物相。而不同形态的Si0 2在性质上是差别很大的。再如ZnO和Cr 2 O 3 在 高温下焙烧可生成化学上稳定的尖晶石结构的ZnCr 20 4 。但在多少温度下 转化开始发生?转化程度如何?对此问题化学成份分析是很难解决的,因为在反应中化学成份并无改变。对矿物、陶土、固熔体合金、新兴材料、多相催化剂以及混合物的分析更是如此,只知元素组成而不知物相结构是远远不够的。 X射线衍射物相分析在矿物分析中可确定物相组成以提供开发利用的方案;在冶金工业中可确定各元素的结合状态,了解热处理过程及性能的变化关系;在化学工业中可控制产品质量,确定合理的工艺流程;在材料科学中可确定材料的结构及性能,为新兴材料的开发指明方向;

在理论研究中可帮助确定中间历程,研究催化反应及机理,指导新产品的合成等等。因此,X射线衍射物相分析在许多部门和领域有着广泛的应用。 物相分析主要包括物相的定性识别,定量分析以及结构类型及晶格参数的测定。本文主要介绍物相定性、定量分析,结构类型及晶格参数将在下一章介绍。 定性物相分析——物质的识别及鉴定 定性物相分析的主要依据是衍射谱图的峰位及相对强度。每种结晶物质都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞大小、单胞中的原子数及原子(离子或分子)的种类和位置等。这些参数的差别必反映出衍射谱图的差别,即每种物质都有其特定的峰位及相对强度,就象人的指纹一样,可作为鉴别的依据。方法是描绘待鉴别样品的X射线谱图,将该谱图与已知物相的标准谱图或数据相比较。比较方法有三种: 1.图谱直接对比法。直接将待鉴试样的谱图与已知物相的标准谱图相对比。简单、直观、易看出细微变化。但需在相同条件下摄谱。此法常用于那些经常分析的,对可能物相比较明确的样品。 2.数据对比法。描绘待鉴样品的衍射谱图,利用布拉格公式2d hkl sinθhkl=λ,由每条谱线的角位置(峰位)算出相应的平面间距d hkI,再以最强线的强度I1为100测出每条谱线的相对强度I/I1,这一套d hkl

X射线衍射物相定量分析(精)

№.5陕西科技大学学报 Oct.2005Vol.23 JOURNALOFSHAANXIUNIVERSITYOFSCIENCE&TECHNOLOGY ?55?3文章编号:1000-5811(2005)05-0055-04 X射线衍射物相定量分析 吴建鹏,杨长安,贺海燕 (陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西咸阳712081 ) 摘要:在RigakuD/max22200pc型X,2定量分析 所用的内标曲线和外标曲线,2完全一致,。 关键词:物相定量分析;内标法;中图分类号:O723:A 0引言 X射线衍射物相定量分析已被广泛的应用于材料科学与工程的研究中。X射线衍射物相定量分析有内标法〔1〕、外标法〔2〕、绝热法〔3〕、增量法〔4〕、无标样法〔5,6〕、基体冲洗法〔7〕和全谱拟合法〔8〕等常规分析方法。内标法、绝热法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有的物相较多,谱线复杂,再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。基体冲洗法、无标样法和全谱拟合法等分析方法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测相物质制作工作曲线,这在实际应用中也是极为不便的。 本研究在RigakuD/max22200pc型X射线衍射仪分析软件的基础上,开发了X射线衍射物相定量分析中最常用的内标法和外标法,并对这两种分析方法进行了实验验证。 1原理 设样品由N个物相组成,采用衍射仪测定时,由Alexander和Klug导出的N相中第J相的衍射强度公式为: IJ=KJ(1) 式中:IJ———试样中J相衍射峰的积分强度;

X射线衍射的定量物相分析

摘要X射线在晶体中的衍射,实质上是大量原子散射波互相干涉的结果。每种晶体所产生的衍射花样都是其内部原子分布规律的反映。研究X射线衍射,可归结为衍射方向和衍射强度两方面问题。衍射方向由晶胞大小、晶胞类型和位向等因素决定,衍射强度主要与原子类型及其在晶胞中位置有关。本文简单介绍了X射线衍射物相定量分析的基本原理以及几种典型的分析方法,即直接对比法、内标法和外标法。 0、引言 X射线衍射物相定量分析已被广泛应用于材料科学与工程的研究中。X射线衍射物相定量分析有内标法、外标法、绝热法、增量法、无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等常规分析方法。内标法、绝热法和增量法都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有物相较多,谱线较复杂,再加入参考标相会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。无标样法、基本冲洗法和全谱拟合法等分析方法,虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测物质制作工作曲线,这在实际应用中也是极为不便的。 1、X射线定量物相分析的基本原理 物相分析与化学分析方法不同,化学分析仅仅是获得物质中的元素组分,物相分析则是得到这些元素所构成的物相,而且物相分析还是区分相同物质同素异构体的有效方法。X射线定量物相分析,是在已知物相类别的情况下,通过测量这些物相的积分衍射强度,来测算它们的各自含量。多相材料中某相的含量越多,则它的衍射强度就越高。但由于衍射强度还受其它因素的影响,在利用衍射强度计算物相含量时必须进行适当修正。 定量分析的依据,是物质中各相的衍射强度。设试样是由n 个相组成的混合物,则其中第j 相的衍射相对强度可表示为 式中(2μl )-1对称衍射即入射角等于反射角时的吸收因子, μl 试样平均线吸收系数,

X射线衍射分析原理及其应用

X射线衍射分析 摘要: X射线衍射分析是一种重要的晶体结构和物相分析技术,广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。本文简要介绍X射线衍射原理,X射线衍射仪器的结构、原理,及其在地质学、医学等自然科学领域中的应用。 前言: 1895年伦琴发现X射线,又称伦琴射线。德国科学家劳厄于1912年发现

了X射线衍射现象,并推导出劳厄晶体衍射公式。随后,英国布拉格父子又将此衍射关系用简单的布拉格方程表示出来。到上世纪四、五十年代,X射线衍射的原理、方法及在其他各方面的应用逐渐建立。在各种测量方法中,X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。X射线衍射技术可以探究晶体存在的普遍性和特殊性能,使得其在冶金、石油、岩石矿物、科研、航空航天、材料生产等领域的被广泛应用。 关键词:方法,衍射,原理,应用 X射线衍射仪的原理 1.X射线衍射原理 当X射线沿某方向入射某一晶体的时候,晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉。当每两个相邻波源在某一方向的光程差等于波长λ的整数倍时,它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强,这种波的加强叫做衍射,相应的方向叫做衍射方向,在衍射方向前进的波叫做衍射波。光程差为0的衍射叫零级衍射,光程差为λ的衍射叫一级衍射,光程差为nλ的衍射叫n级衍射。n不同,衍射方向的也不同。 由于常用的X射线波长约在2.5A~0.5A之间,与晶体中的原子间距(1A)数量级相同,因此可以用晶体作为X射线的衍射光栅,这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。 在晶体的点阵结构中,具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果,决定了X射线在晶体中衍射的方向,所以通过对衍射方向的测定,可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。 晶体结构=点阵+结构基元,点阵又包括直线点阵,平面点阵和空间点阵。在x 射线作用下晶体的散射线来自若干层原子面,除同一层原子面的散射线互相干涉外,各原子面的散射线之间还要互相干涉。 光栅衍射 当光程差(BD+BF)=2dsinθ等于波长的整数倍nλ时,相邻原子面散射波干涉加强,即干涉加强条件为: 2dsinθ=nλ 一、X射线衍射法

X射线衍射的基本原理

三.X 射线衍射的基本原理 3.1 Bragg 公式 晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平面点阵,两相邻点阵平面的间距为d hkl 。晶体的外形中每个晶面都和一族平面点阵平行。 当X 射线照射到晶体上时,每个平面点阵都对X 射线射产生散射。取晶体中任一相邻晶面P 1和P 2,如图3.1所示。两晶面的间距为d ,当入射X 射线照射到此晶面上时,入射角为θ,散射X 射线的散射角也同样是θ。这两个晶面产生的光程差是: θsin 2d OB AO =+=? 3.1 当光程差为波长λ 的整数倍时,散射的X 射线将相互加强,即衍射: λθn d hkl =sin 2 3.2 上式就是著名的Bragg 公式。也就是说,X 射线照射到晶体上,当满足Bragg 公式就产生衍射。式中:n 为任意正整数,称为衍射级数。入射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹角为2θ(衍射角)。为此,在X 射线衍射的谱图上,横坐标都用2θ 表示。 图3.1 晶体对X 射线的衍射 由Bragg 公式表明:d hkl 与θ 成反比关系,晶面间距越大,衍射角越小。晶面间距的变化直接反映了晶胞的尺寸和形状。每一种结晶物质,都有其特定的结构参数,包括点阵类型、晶胞大小等。晶体的衍射峰的数目、位置和强度,如同人的指纹一样,是每种物质的特征。尽管物质的种类有成千上万,但几乎没有两种衍射谱图完全相同的物质,由此可以对物质进行物相的定性分析。

3.2 物相分析 物相的定义是物质存在的状态,如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。除了单质元素构成的物质如铜、银等以外,X射线衍射分析的是物相(或化合物),而不是元素成分。 对于未知试样,为了了解和确定哪些物相时,需要定性的物相分析。 正如前述,晶体粉末衍射谱图,如人的指纹一样,有它本身晶体结构特征所决定。因而,国际上有一个组织——粉末衍射标准联合会(JCPDS)后改名为JCPDS-衍射数据国际中心专门负责收集、校订、编辑和发行粉末衍射卡片(PDF)的工作。自1941年以来,共发行衍射卡片近20万个。为了使大量的卡片方便进行人工物相鉴定,还出版了对这些卡片进行检索的索引。PDF卡片的标准形式如图3.2所示,对应此图编号的内容说明如表3.1所示。 图 图3.2 PDF卡片的标准形式 每一张卡片上不一定包括表3.1所述的所有内容,但有效数据都将一一列出。 物相分析的方法就是将未知试样与标准卡片上数据进行对比,由此来确定物相。先测试未知试样,然后按图3.3所示的步骤从PDF索引中查找。找出该物相的卡片号后,按卡片号查该物相的卡片,仔细核对后再判定该物相。

实验一 X射线衍射技术及物相分析

实验一 X射线衍射技术及物相分析 一、实验目的与要求 1.学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理; 2.掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤; 3.给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果。 二、实验仪器 本实验使用的仪器是Rigaku UltimaⅣX射线衍射仪。主要由冷却循环水系统、X射线衍射仪和计算机控制处理系统三部分组成。X射线衍射仪主要由X射线发生器即X射线管、测角仪、X射线探测器等构成。 1.X射线管 X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成,功率大部分在1~2千瓦。可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为12~60千瓦。常用的X射线靶材有W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。X射线管线焦点为1×10平方毫米,取出角为3~6度。此X射线管为密闭式,功率为2千瓦。X射线靶材为Cu。 选择阳极靶的基本要求:尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样的背底,使图样清晰。 2.测角仪 测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件,主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成。 (1)衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规X射线管,出射角6°时,实际有效焦宽为0.1毫米,成为0.1×10平方毫米的线状X射线源。 (2)从S发射的X射线,其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后,照射试样。这个狭缝称为发散狭缝(DS),生产厂供给1/6°、1/2°、1°、2°、4°的发散狭缝和测角仪调整用0.05毫米宽的狭缝。 (3)从试样上衍射的X射线束,在F处聚焦,放在这个位置的第二个狭缝,称为接收狭缝(RS).生产厂供给0.15毫米、0.3毫米、0.6毫米宽的接收狭缝。 (4)第三个狭缝是防止空气散射等非试样散射X射线进入计数管,称为防散射狭缝(SS)。SS和DS配对,生产厂供给与发散狭缝的发射角相同的防散射狭缝。 (5)S1、S2称为索拉狭缝,是由一组等间距相互平行的薄金属片组成,它限制入射X射线和衍射线的垂直方向发散。索拉狭缝装在叫做索拉狭缝盒的框架里。这个框架兼作其他狭缝插座用,即插入DS,

X射线衍射分析

X射线衍射分析 1 实验目的 1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的; 2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别; 3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。 2 实验原理 1、晶体化学基本概念 晶体的基本特点与概念:①质点(结构单元)沿三维空间周期性排列(晶体定义),并有对称性。②空间点阵:实际晶体中的几何点,其所处几何环境和物质环境均同,这些“点集”称空间点阵。 ③晶体结构=空间点阵+结构单元。非晶部分主要为无定形态区域,其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。 对于大多数晶体化合物来说,其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响,晶格易发生畸变。分子链段的排列与缠绕受结晶条件的影响易发生改变。晶体的形成过程可分为以下几步:初级成核、分子链段的 图1 14种Bravais 点阵 表面延伸、链 松弛、链的重吸收 页脚内容1

结晶、表面成核、分子间成核、晶体生长、晶体生长完善。Bravais提出了点阵空间这一概念,将其解释为点阵中选取能反映空间点阵周期性与对称性的单胞,并要求单胞相等棱与角数最多。满足上述条件棱间直角最多,同时体积最小。1848年Bravais证明只有14种点阵。 晶体内分子的排列方式使晶体具有不同的晶型。通常在结晶完成后的晶体中,不止含有一种晶型的晶体,因此为多晶化合物。反之,若严格控制结晶条件可得单一晶型的晶体,则为单晶。 2、X衍射的测试基本目的与原理 X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向。衍射方向取决于晶体的周期或晶胞的大小,衍射强度是由晶胞中各个原子及其位置决定的。由倒易点阵概念导入X射线衍射理论, 倒易点落在Ewald 球上是产生衍射必要条件。 1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示: θn λ d= 2 sin 式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。 X 射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质结构表征,以性能为导向研制与开发新材料,宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。其主要分 页脚内容2

X射线衍射仪工作原理

一X射线衍射仪工作原理 X射线是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力。对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。 特征X射线是一种波长很短(约为20~0.06nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X 射线的波长和晶体内部原子间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W. H. Bragg, W. .L Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律: θn λ 2, sin d= 式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。 二,X射线衍射的应用 1、当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后,利用布拉格公式即可确定点阵平面间距d、晶胞大小和晶胞类型; 2、利用X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础,测定衍射线的强度,就可进一步确定晶胞内原子的排布。 3、而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射线束的波长λ作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件,故选用连续X射线束。再把结构已知晶体(称为分析晶体)用来作测定,则在获得其衍射线方向θ后,便可计算X射线的波长λ,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分 4、X射线衍射在金属学中的应用: X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。 (1)物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,又分为定性分析和定量分析。定性分析是把对待测材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据进行比较,以确定材料中存在的物相;定量分析则根据衍射花样的强度,确定待测材料中各相的比例含量。(2)精密测定点阵参数常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可获得单位晶胞原子数,从而可确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 (3)取向分析包括测定单晶取向和多晶的结构(如择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。

X射线衍射分析讲解的问题

X 射线衍射分析讲解的问题,应用及分析过程 一、X 射线衍射分析讲解的问题 X 射线衍射分析从X 射线的物理学基础讲起,分析了X 射线的物理性质如X 射线波长范围在约0.01~0.1nm ,而用于衍射的约在0.05~0.25nm ;振动方程为)(2cos 0t y A A νλπ-=等。然后说明了X 射线的产生方式,即二极管的装置原理,电气线路和所产生的两种线谱——连续谱和特征谱。其中连续谱的强度公式为21)(ZU K d I I SWL λλλλ==?∞连,特征谱的强度为m n U U i K I )(3-=特。随后讲述了X 射线与物体的相互作用方式,其中分别讲述了X 射线的透射,吸收和散射。透射系数为t l e I I μ-=0,质量吸收系数为ρ μμl m =,相干散射的强度公式为φπμ222 2020sin )()4(m e R I I e =(入射线偏振),22cos 1)()4(22220 20θ πμ+=m e R I I e (入射 线偏振),非相干散射的波长变化为θθλλλ2'sin 0486.0)2cos 1(00243.0=-=-=?。 之后讨论了X 射线的衍射问题,分别讨论了X 射线衍射方向,X 射线衍射方法,X 射线的衍射强度的影响因素。最后阐述了X 射线衍射分析的方法。单晶衍射法——劳埃法,周转晶体法;多晶体衍射法——照相法,衍射仪法;双晶体衍射法。 二、X 射线衍射分析的应用 1、物相分析: 由于不同的物质各具有自己特定的原子种类、原子排列方式和点阵参数,进而呈现出特定的衍射花样;多相物质的衍射花样互不干扰,相互独立,只是机械地叠加;衍射花样可以表明物相中元素的化学结合态,这就是X 射线衍射物相分析的原理。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待分析物质的衍射花样与之对照,从而确定物质的组成相,就成为物相定性分析的基本方法。鉴定出各个相后,根据各相花样的强度正比于该组分存在的量(需要做吸收校正者除外),就可对各种组分进行定量分析。这种方法是由J.D.Hanawalt 于1963年创立的。目前常用衍射仪法得到衍射图谱,用“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”负责编辑出版的“粉末衍射卡片(PDF 卡片)”进行物相分析。目前,物相分析存在的问题主要有:(1)待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线,而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果。这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片。(2)在众多卡片中找出满足条件的卡片,十分复杂而繁锁。虽然可以利用计算机辅助检索,但仍难以令人满意。(3)定量分析过程中,配制试样、绘制定标曲线或者K 值测定及计算,都是复杂而艰巨的工作。为此,有人提出了可能的解决办法,认为从相反的角度出发,根据标准数据(PDF 卡片)利用计算机对定性分析的初步结果进行多相拟合显示,绘出衍射角与衍射强度的模拟衍射曲线。通过调整每一物相所占的比例,与衍射仪扫描所得的衍射图谱相比较,就可以更准确地得到定性和定量分析的结果,从而免去了一些定性分析和整个定量分析的实验和计算过程

x射线衍射仪原理

标准实用 x射线衍射仪原理及应用 课程名称材料分析测试技术 系别金属材料工程系 专业金属材料工程 班级材料**** 姓名______ * *_ 学号********

化学工程与现代材料学院制

x射线衍射仪原理及应用 基本原理: x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子,在劳厄发现的基础上,不仅成功的测定了NaCl,KCl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。 基本特征: X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在XRD 图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料,由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰 基本构成:

1,高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 X射线管利用高速电子撞击金属靶面产生X射线的真空电子器件,又称X光管。分为充气管和真空管两类。1895 年W.K.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了X射线。克鲁克斯管就是最早的充气X射线管,其功率小、寿命短、控制困难,现已很少应用。1913年W.D.库利吉发明了真空X射线管。管内真空度不低于10-4帕。阴极为直热式螺旋钨丝,阳极为铜块端面镶嵌的金属靶。阴极发射出的电子经数万至数十万伏高压加速后撞击靶面产生X射线。以后经过许多改进,至今仍在应用。现代出现一种在阳极靶面与阴极之间装有控制栅极的X 射线管,在控制栅上施加脉冲调制,以控制X射线的输出和调整定时重复曝光。X射线管用于医学诊断、治疗、零件的无损检测,物质结构分析、光谱分析、科学研究等方面。X射线对人体有害,使用时须采取防护措施。 简单的说,它包括四个部分: (1).产生电子的阴极,一般是螺旋形状的钨丝,加热后可以发射电子。 (2).阳极靶,它用来吸收阴极电子,通过这些高速电子的撞击,产生X射线(X射线的产生原理~你应该知道吧?赘述),撞击会产生大量热(主要的能

X射线衍射的物相分析

X射线衍射的物相分析一、实验目的:(1)熟悉Philips X射线衍射仪的基本结构和工作原理;(2)学会粉末样品的制样及基本的测试过程;(3)掌握利用X射线衍射谱图进行物相分析的方法;二、实验仪器(1)制样:未知粉末样品、药匙、酒精(用于擦拭研钵)、研 钵、专用进样片;(2)测试:Philips X'pert X射线衍射仪;三、实验原理当一束单色x 射线电磁波照射晶体时,晶体中原子周围的电子受x 射线周期变化的电场作用而 振动,从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。所发射球面波的频率、与入射的x 射线相一致。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉而叠加,称之为相 干散射或衍射。四、实验条件的选择(1)用于粉末晶体衍射的射线波 长一般为0.5~2.5?,本实验中使用的为Cu靶;(2)滤波片选用Ni,因为滤波片是用于吸收Cu的K线,而Ni的吸收限位于Cu的K与βαK之间且靠近K线;βα(3)狭缝参数的选择:在 X射线衍射仪的光路中有五个狭缝:梭拉狭缝(两只)、发散狭缝、散射狭缝、接受狭缝。 a. 梭拉狭缝是用来限制X光垂直发散度的,梭拉狭缝发散度的大小对强度和分辨率都有很大影响,两只狭缝分别位于X光管之后和探测器前。 b. 发散狭缝是用来限制样品表面初级X射线水发 散度的,加大狭缝,分辨率降低但强度增加,可根据实际所需的测试要求进行调解; c. 散射狭缝用来减少非相干散射及本底等因素造成的背景, 提高峰背比,它与发散狭缝配对使用且角度相同; d. 接受狭缝是用来限定进入探测器的X衍射线的。它位于衍射线的焦点。测量时如果主要为了提高分辨率,应该选择较小的接受狭缝。如果为了提高衍射强度,则应加大接受狭缝。五、实验操作1.样品制备:A.测试对于样品粒径的大小并没有严格的要求,但是粒径过大或者不均匀会谱图中锋的相对高度发生变化,导致在对比所得谱图与PDF标准卡时需要对衍射峰进行大量的排列组合。 B. 测试样品在装入样品板之前必须用毛玻璃将待测表面打磨至 完全光滑,并且保证样品的表面与样品板相平。 2.样品扫描将样品板装入样品台,将防护罩关闭,设定好控制程序,开始扫描,扫描期间面板“shutter open”指示灯亮起,此时不可以强

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