溶菌酶检验标准

术语和定义

溶菌酶酶活性单位：在25℃、pH值为6.2的条件下，于450nm处每分钟引起溶酶小球菌体（Micrococcus Lysodeiktidus）溶液吸光度下降0.001所需要的酶量为一个酶活性单位U。本定义适合“比浊法”。

溶菌酶效价：溶菌酶在一定浓度范围内，其对数计量与抑菌圈直径（面积）呈对数关系，通过检测其对微生物的抑制作用，比较标准品与样品产生抑菌圈的大小，计算出样品的效价，单位为u。本定义适合“管碟法”。

技术要求

外观和性状要求

粉酶为白色或微黄色的结晶或无定形粉末。

技术指标

粉酶水分含量：≤12%。

粉酶粒度：420μm孔径分析筛筛上物≤4%。

粉酶炽灼残渣：≤10.0%。

酶活（效价）指标

表1 产品成分分析保证值

项目

指标

粉状50型

溶菌酶酶活性（效价），≥U/g（u）

500000

卫生指标

符合GB 13078和NY/T 722的有关规定。

试验方法

本标准所用试剂和水，在没有注明其他要求时，均指分析纯试剂和GB/T 6682中规定的三级水，所用试液中的标准溶液，在没有注明其他要求时均要求按GB/T 601，GB/T 602制备。外观的测定

取样品少许放入烧杯，下衬白纸进行目测。

粉酶水分的测定

按GB/T 6435 规定进行检测。

粉酶粒度的测定

按GB/T 5917 规定进行检测。

粉酶炽灼残渣的测定

按《中国兽药典》规定进行检测。

卫生指标的测定

按饲料卫生标准GB13078和NY/T 722规定的方法进行。

溶菌酶酶活性（效价）的测定

溶菌酶微生物测定法系在适宜条件下，通过检测溶菌酶对微生物的抑制作用，计算出溶菌酶活性（效价）的方法。依据试验设计原理不同，可分为比浊法和琼脂扩散法（即管碟法）。试剂和溶液

溶酶小球菌（Micrococcus Lysodeiktidus）

将溶酶小球菌接种于固体培养基上，置37℃培养48小时，用无菌水将菌体洗下，用纱布滤过，滤液离心后，倾去上层清液，用水洗涤菌体数次，然后用少量水悬浮，冰冻干燥，得淡黄色粉末，供测定用，保存一年。

使用时，在营养琼脂斜面上活化，传代培养，工作用菌种不超过5代，斜面菌种从培养好到使用时间，最长不超过2个月。并将培养好的斜面菌种，放置4℃冰箱保存。制备的菌悬液可以使用一周，不用时放置4℃冰箱保存。

磷酸缓冲液

称取磷酸二氢钠（NaH2PO4.2H2O）11.7g, 磷酸氢二钠（Na2HPO4.12H2O）7.86g，加900mL 水溶解,调pH值至6.2，定容至1000mL。

10％氢氧化钠溶液

1％硫酸铜溶液

30%三氯醋酸

斜面培养基：营养琼脂

抗生素检定培养基II号

溶菌酶标准品

仪器

分析天平：精密度0.1mg；

牛津杯：牛津杯内径6.0±0.1mm，外径7.8±0.1mm，高10.0±0.1mm，每套牛津杯的重量差异不超过±0.05g，内外壁及两端面光滑平坦。管壁厚薄一致；

陶瓦盖：内径约103mm，外径108mm,平坦，吸水性强。应定期清洗、干燥或干热灭菌；游标卡尺：精度0.02mm；

双碟：内径约90mm，外径16mm～17mm的硬质玻璃或塑料培养平皿，碟底厚薄均匀，水平透明，无色斑气泡；

超净工作台：有效工作面局部洁净度100级。用于试验菌的接种传代或菌悬液制备；

pH酸度计：精确到0.01；

分光光度计：配10mm比色皿，可在450nm下测定吸光值；

离心机：转速为4000r/min以上；

秒表：每小时误差不超过5s；

恒温培养箱：设置漂移温度为35℃～37℃；

高压灭菌锅

烘箱

其它玻璃器皿：刻度吸管: 1 mL，2mL，5mL，10mL，25mL无菌吸管等；

试验方法

5.6.3.1鉴别

固体样品：取本品10mg，溶于1mL水中，加30%三氯醋酸2滴，产生白色沉淀。

取试管一支，加5%溶菌酶水溶液2滴、10%氢氧化钠5滴及1%硫酸铜溶液1滴，混匀后，

应显紫玫瑰色。

5.6.3.2方法一：比浊法

特定浓度的溶酶小球菌悬浮液在450nm条件下存在一定吸光度，溶酶菌作用于溶酶小球菌底物会引起吸光度降低，通过计算指定时间内吸光度降低的幅度可以计算出溶菌酶的活力。试验步骤：

精确称取样品（液体样品需在离心机上以3500r/min离心10min后取上清液）不少于20mg，用pH6.2的0.1mol/L磷酸缓冲液稀释到酶活单位为100U/ mL ~200U/mL，备用。

将保存好的溶酶小球菌在营养琼脂斜面上活化，传代两次后的菌体37℃培养48小时，再用生理盐水从培养基上洗脱下来，并稀释到一定倍数，使其在25℃时，在450nm波长处测定的吸光度A0为0.65～0.75之间。

精密取底物悬浮液2.5mL，放入比色杯中，在450nm波长处测定其吸光度，作为零时读数，然后取样品溶液0.5mL，加入比色杯中，用秒表开始计时，迅速混合，以磷酸缓冲液做空白，到60秒时记下吸光度A60、。

试样酶活力的计算：

1000

XD = ×(A0-A60) ×N ×2 ————————（1）

式（1）中：

—待测样品的溶菌酶活力，U/g（或mL）

—0秒时的吸光度

A60

—60秒时的吸光度

样品质量，g（或mL）L

N —样品总的稀释倍数

5.6.3.3 方法二：管碟法

利用溶菌酶的抗菌性质及其溶液在琼脂培养基内的扩散作用，将未知效价的样品液与已知效价的标准溶液，在同一条件下，在摊布高度敏感性特定试验菌的培养基上进行一定时间的对照培养，溶菌酶溶液在培养基内的扩散到达适当范围内时就产生了抑制试验菌生长的透明抑菌圈，并且在一定的溶菌酶浓度范围内，溶菌酶对数浓度与抑菌圈直径成正比。经比较标准

液与样品两者抑菌圈直径或面积大小，采用二剂量法，即可推算出样品的效价。

菌悬液的制备：

将保存好的溶酶小球菌在营养琼脂斜面上活化，传代两次后的菌体37℃培养48小时，再用10mL生理盐水将一支培养好的溶酶小球菌斜面菌体洗下制成菌悬液，尽量保证每次所加指示菌的浓度一样，供测定用。

测定平板的制备：

底层：用灭菌破口移液管(25mL)，吸取已融化的培养基20mL注入双碟内，等凝固后更换干燥的陶瓦盖。菌层：取出溶酶小球菌菌悬液，按1%的菌量添加，吸取菌悬液加入已融化冷却至50℃～55℃的培养基内，摇匀作为菌层用。用灭菌10mL破口移液管，吸取菌层培养基5mL，使均匀分布在底层培养基上，置水平台上，用陶瓦盖覆盖，放置40min，待凝固，备用。

待测酶液的准备：

精确称取样品（液体样品需在离心机上以3500r/min离心10min后取上清液）不少于20mg，用pH6.2的0.1mol/L磷酸缓冲液稀释到酶活单位在5000U/mL左右，备用。

标准品、样品的滴加：

取8个双碟，，在每个双碟中对称放入4个牛津杯，分别成对角滴加标准品高(SH)、标准品低（SL）及样品高(TH)、样品低(TL)两种浓度的溶液，直至牛津杯口平满。注意滴加溶液间隔不可过长，因溶液的扩散时间对测定结果有影响。（注意：标准品必须现配现用，不能隔夜。从测定平板的制备到进入培养箱培养，整个过程必须在2小时内完成）。

双碟的培养及抑菌圈的测量

将双碟置于37±0.5℃培养箱中，培养16小时～18小时后，取出双碟，测定抑菌圈直径（如有破圈或不完整的抑菌圈，则应舍弃该碟）。样品的高低剂量透明圈直径尽量和标准品的高低剂量透明圈直径接近，整个系统的透明圈直径控制在15mm～19mm之间。

结果判定：

微生物测定结果的正确性和精密度受很多因素影响，为了使测定结果更能真实的反映客观情况，符合设计原理，就必须将测定结果按生物检定统计，进行可靠性测验及效价计算和可信限计算。

统计学分析按药典附录的生物检定统计法进行F的显著性测验，要求直线回归和剂间要非常显著（P<0.01），偏离平行不应显著(P>0.05)；且可信限率不得超过5％。

实验结果在可靠性成立前提下，方可根据设计的计算公式进行样品效价计算。将样品的估计效价控制在实际效价的90％～110％，否则，需要重新估计效价进行测定。————————（2）

PT = R X AT ————————（3）

式中：

供试品效价（相当于标示量或估计效价的百分数；

标准品高浓度溶液所致抑菌圈直径（或面积）的总和；

标准品低浓度溶液所致抑菌圈直径（或面积）的总和；

供试品高浓度溶液所致抑菌圈直径（或面积）的总和；

供试品低浓度溶液所致抑菌圈直径（或面积）的总和；

高、低剂量之比的对数值，2：1时，I=0.301; 4：1时，I=0.602; AT

估计效价；

PT T

供试品实测效价；

19寸上片磨砂偏光片规格书

NITTO DENKO 零件规格书 COMPONENT APPROVED SHEET 客户： Customer: 产品描述： Part Description: 19 ″超宽视角（SWV）偏光片机种号/料号 Customer Part Number: 供应商编号： Vendor Part Number: 供应商厂址： Vendor Address: 日本大阪市北区梅田2-5-25 HERBIS 大阪联系电话： Tel Phone: 81-6-6452-2101 邮件： E-Mail: 传真： FAX: 81-6-6452-2102 单体重量： Weight/Pcs: 每日产量： Prodution Capability per Day: 核准审核经办

一、变更履历表 Item 变更内容ECN.NO Page Rev. Date 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 二、产品描述 1. 视角产品大分类共四种，分为一般型高对比产品、超广视角(SWV)产品、特广视角(EWV)产品、高对比位相差板产品一般型高对比穿透式超广视角(SWV)穿透式产品特广视角(EWV)穿透式产品高对比位相差穿透式 2. 厚度有效厚度，不包含离型膜及保护膜，但包含感压胶厚度 130um~145um±25um 210um~225um±25um 3. 表面处理 HC：Clear hard coat AG20---高磨砂； AG25---中磨砂； AG30---低磨砂

4. 基本结构 ⑴一般型片材（普通视角厚片）上片：下片： ⑵一般型片材（普通视角薄片）上片：下片：

表面处理检验标准2016_01

表面处理检验规程 1、目的规检验操作，发现、控制不良品，防止批量不良品输入下道工序。同时给检验工作提供引导及接收标准。 2、围适用于进料、外协制品回厂、成品的检验接收及顾客退货的挑选检验。喷砂、拉丝等金属表面处理的检验。 3、定义本标准适用于变形铝及铝合金以保护和装饰为主要目的，在阳极氧化膜表面涂装有机聚合物膜得到的阳极氧化复合膜。 3.1 A面：指表面处理要求的正面（在使用过程中能直接看到的表面）。 3.2 B 面：指表面处理要求的四侧边（需将表面处理件偏转45~90 °才能看到的四周边）。 3.3 膜厚：必须符合图纸规定。 4、职责 4.1 品质部负责不合格的发现、记录和标识，组织处理不合格品。 4.2 生产部负责进料中不合格品与供应商的联络。 5.术语和定义 5.1 A级表面：在使用过程中总能被客户看见的部分（如：面壳的正面和顶面，后壳的顶面，手柄，透镜，按键及键盘正面，探头整个表面等）。 5.2 B级表面：在使用过程中常常被客户看见的部分（如：面壳的左右侧面，底壳或后壳的左右侧面及背面等）。这些表面允许有轻微不良，但是不致引起挑剔客户不购买产品。 5.3 C级表面：在使用过程中很少被客户注意到的表面部分（如：面壳的底面，底壳或后壳的底面，部零件表面）。此表面的外观缺陷应合理而且不至于给客户觉得该产品质量不佳。 5.4 金属表面：包括电镀、氧化、钝化等表现为金属质感的表面，非喷涂表面。 5.5 基材花斑：电抛光、电镀或氧化前因基体材料腐蚀、或者材料中的杂质、材

料微孔等原因所造成的、与周围材质表面不同光泽或粗糙度的斑块状花纹外观。 5.6 抛光区：对基材上的腐蚀、划伤、焊接区、铆接区等部位进行机械打磨抛光后表现出的局部高光泽、光亮区域。 5.7 浅划痕：镀(膜/塑/漆)层表面划伤，但未伤及底层（即底层未暴露）；对其它无镀(膜/塑/漆)层表面则为：目测不明显、手指甲触摸无凹凸感、未伤及材料本体的伤痕。数控冲床加工中机床台面对板材的摩擦产生的轻微痕迹属于此类划痕。 5.8 深划痕：镀(膜/塑/漆)层表面划伤，且已伤至底层（即底层已暴露出来）；对其它无镀(膜/塑/漆) 层表面则为：目测明显、手指甲触摸有凹凸感、伤及材料本体的伤痕。 5.9 凹坑：由于基体材料缺陷，或在加工过程中操作不当等原因而在材料表面留下的小坑状痕迹。 5.10 凹凸痕：因基材受撞击或校形不良等而呈现出的明显变形、凹凸不平的现象，手摸时有不平感觉。 5.11 烧伤：拉丝、电抛光、电镀处理时因操作不当、造成零件表面过热而留下的烧蚀痕迹。 5.12 水印：电镀、氧化或电抛光后因清洗水未及时干燥或干燥不彻底所形成的斑纹、印迹。 5.13 露白：镀锌钝化膜因磨擦而被去除、露出新层，或因缝隙截留溶液导致的无钝化膜现象，呈现为区别于周围颜色的白色。 5.14 修补：因膜层损伤而用涂料所作的局部遮盖。 5.15 色点：由材料、模具、环境或设备中的灰尘或夹杂物等影响，在表面处理层中形成不同色的斑点。 5.16 颗粒：因材料夹杂物或外来物（如焊渣）的影响而在表面形成的、颜色与正常表面一致的凸起现象。 5.17 挂具印：指电镀、电抛光、氧化、喷涂等表面处理生产过程中，因装挂用辅助工具的遮挡而使其与零件相接触的部位产生局部无表面处理层的现象。

表面喷塑检验标准[1]

一、表面喷塑检验标准 (试行稿) 1、检验条件 1.1照明光线要求在天然散射光线或光的照度不应低于2×40w光源环境下。 1.2检查距离被测品与眼睛的距离为500mm，a面检验时在±15°范围内旋转。 2、表面等级的分类、区域划分 2.1表面等级根据产品可视区域以及使用要求的不同，划分为不同的表面等级：“a”、“b”、“c”、“d”。 2.2区域划分 “a”：正常使用时可直接看到的主要表面，一般指终端产品的正面。 “b”：正常使用时观察不到的表面，一般指终端产品的测面、后面。 “c”：正常使用时观察不到的表面，一般指终端产品的底面。 “d”：正常使用时观察不到的次要面，一般是指终端产品内部面。 3、代码对照表称数目长度直径深度宽度面积距离代号nldhwsds 单位个cmmmmmmmmm2mm 说明：下文所提到的不良缺陷数目均指单面上的不良缺陷数目。 4、验收要求 4.1验收总则 4.1.1喷涂件表面应清洁、无污。 4.1.2喷涂层均匀、完整，同批产品的光泽、纹理一致，颜色符合图号要求，且与双方封样色样比较无明显差异。 4.2外观要求 4.2.1“a”面外观检验要求：序号不良项目验收要求 1点缺陷（含颗粒）当d≤0.5mm(或s≤0.2mm2)且不连续时(ds≥5mm)，不视为缺陷。当0.5mm(或s≤0.2mm2)

二、喷涂喷漆检验标准（范本） 1、目的发现、控制不合格品，采取相应措施处置，以防不合格品误用。 2、范围适用于进料、外协制品回厂、成品及顾客退货各过程中产生及发现的不合格品。 3、定义（无） 4、职责 4.1 品质部负责不合格的发现，记录标识及隔离，组织处理不合格品。 4.2 制造部参与不合格品的处理。 4.3 供应部负责进料中不合格品与供应商的联络。 4.4 管理者代表负责不合格品处理的批准。 5、工作程序： 1．喷涂种类、颜色与图纸要求及客户、我司、供应商三方确认的色板是否一致。 2．一般情况下，产品喷涂表面外观检查100%进行检验，检验方式依据本标准，特殊产品根据产品规格的具体要求检验。 3．外观检验项目是否有缺陷：如缩孔、针孔、杂质点、漏底、涂层厚度明显不均、流泪、预处理不良有锈、表面有污斑、不光滑、不平整、轻微桔皮、凹坑等。 4．外观和颜色检验环境：色板采用客户样件或经客户认可的签样。应在标准光源对色灯箱CAC-600箱内，以目视方法进行。光照度通常在D65（特殊情况下用F/A，其次高标准要求时用CWF/TL84），背景颜色为中灰色。对于微量杂质点及其它轻微缺陷通常在300MM处目视肉眼不明显为通过，特殊情况时视客户要求而定。 5.1 涂膜附着力检验（基体金属为铁、钢、铝及铝合金）：采用胶带粘贴法测定漆膜附着力，批次以一件或两件检验则可。不合格时可用加严检验. 检验方法：使用锋利刃口的刀片（刃口宽要求0.05MM，刃口达到0.1MM时必须重新磨刃口），沿能确保得到直线切口的导向器，刃口在相对涂面35-45度角，等速划线。划线位置距产品边缘最近距离不应小于5MM,切口要保证切到基体，在涂膜上，切出每个方向是6至11条切口的格子图形，切口以1MM间隔隔开，长度约20MM。对于涂膜厚度大于50μm，小于125μm，切口以2MM的间隔隔开。在将格子区切屑用软刷或软纸清除后，撕下一段，粘附力在2.9N/10MM (300GF/10MM) 以上的胶带,将格子区全部覆盖,用手磨擦胶带,确保已完全粘牢后,拿住胶带的一端,沿着与其原位置尽可能接近180o的方向迅速(不要猛烈)将胶带撕下,然后用放大镜或肉眼观查.如果沿切口的边和方格部分有涂层脱落,损伤的区域为格子的15%~35%,再重复上述方法检验.如果两次结果不同,换不同的检验人员在同样的条件下获得的涂膜上,进行该检验,若仍出现上述结果或更差的情况,有权怀疑该批涂层质量,做出拒收决定。损伤的区域小于格子的区域15%为合格。 5.2 涂膜附着力检验（基体金属为锌合金）：检验涂层厚度μm 切格区的近似面积MM*MM 切痕间的距离MM ≤200 15*15 3 >200 25*25 5 6. 酸雾试验检验： 6.1 装置：A)恒温箱试验温度在40±1℃；B)烧杯：化学分析用的玻璃器具，容量为500ML。 6.2 溶液配制：A)试剂：氯化钠试剂; B)水：蒸馏水; C)溶液浓度:0.43~0.6mol/l,(2.5%~3.5%)

孔隙率的测定

孔隙率的测定镀层的孔隙是指镀层表面直至基体金属的细小孔道。镀层孔隙率反映了镀层表面的致密程度，孔隙率大小直接影响防护镀层的防护能力(主要是阴极性镀层)。作为特殊性能要求的镀层(如防渗碳、氮化等)，孔隙率测量也极为重要，它是衡量镀层质量的重要指标。国家标准GB 5935规定了测定镀层孔隙的方法有贴滤纸法、涂膏法、浸渍法、阳极电介测镀层孔隙率法、气相试验法等。电镀专业最新国家标准中，孔隙率试验的标准为：GB／T l7721—1999 金属覆盖层孔隙率试验：铁试剂试验，GB／T l8179--2000 金属覆盖层孔隙率试验：潮湿硫(硫化)试验。一、贴滤纸法将浸有测试溶液的润湿滤纸贴于经预处理的被测试样表面，滤纸上的相应试液渗入镀层孔隙中与中间镀层或基体金属作用，生成具有特征颜色的斑点在滤纸上显示。然后以滤纸上有色斑点的多少来评定镀层孔隙率。本法适用于测定钢和铜合金基体上的铜、镍、铬、镍／铬、铜／镍、铜／镍／铬、锡等单层或多层镀层的孔隙率。 1．试液成分试液由腐蚀剂和指示剂组成。腐蚀剂要求只与基体金属或中间镀层作用而不腐蚀表面镀层，一般采用氯化物等；指示剂则要求与被腐蚀的金属离子产生特征显色作用，常用铁氰化钾等。试液的选择应按被测试样基体金属(或中间镀层)种类及镀层性质而定，如表l0—1—16 所列。配制时所用试剂均为化学纯，溶剂为蒸馏水。表10—1—16 贴滤纸法各类试液成分 2．检验方法 (1)试样表面用有机溶剂或氧化镁膏仔细除净油污，经蒸馏水清洗后用滤纸吸干。如试样在镀后立即检验，可不必除油。 (2)将浸润相应试液的滤纸紧贴在被测试样表面上，滤纸与试样间不得有气泡残留。至规定时间后，揭下滤纸，用蒸馏水小心冲洗，置于洁净的玻璃板上晾干。 (3)为显示直至铜或黄铜基体上的孔隙，可在带有孔隙斑点的滤纸上滴加 4％的亚铁氰化钾溶液，这时滤纸上原已显示试液与镍层作用的黄色斑点消失，剩下至钢铁基体的蓝色斑

偏光片检验标准

1.0 目的建立适用于偏光片（P/L）进料检验的作业方法与检验标准，使检验员作业规范化和标准一致化，以验证所进物料的符合性，确保对不合格品的流入进行有效控制并为评鉴供应商提供依据。 2.0 范围本检验标准仅适于仙宇电子有限公司所使用的偏光片（P/L）的进料检验 3.0 职责品质部IQC负责依据该标准对偏光片（P/L）进行进料检验。 4.0 缺陷等级 a 致命（严重）缺陷（CRI）：会给使用或维修、维护带来危险；功能性缺陷或违反相关的法律法规包括标准；客户不能接受或存在客户重大投诉或处罚的；若使用后会对最终产品造成致命性的损坏或若使用会造成批量产品的不良等。 b 主要缺陷（MAJ）：性能不能达到预期的目标，但不至于引起危险或不安全现象；导致最终产品使用性能或功能下降；客户很难接受或存在客户抱怨风险的。 c 一般（次要）缺陷（MIN）：不满足规定的要求但不会引起客户抱怨及影响产品使用功能的；客户难于接受但通过沟通能使客户接受的；\ 5.0 验收之标准(一次正常抽样方案)：采用正常检验一次抽样，参考：MIL-STD-105E CRI：AQL=0 主要缺陷（MA）：AQL=0.4 次要缺陷（MI）：AQL=1.0 6：检验标准与检验方法

6．0贴片要求：偏光片位置偏光片的型号和角度要参照生产通知单或BOM表。张贴位置和尺寸要附合图纸要求，边缘修理成锯齿状不允许；偏光片方向错误，上下片贴反不允许 1）偏光片张贴要附合图纸要求，不允许超出玻璃边缘。 2）偏光片必须完全覆盖AA区，并与环氧框重合1/2以上（图纸有特别要求的除外）。 7.0贴片后外观检验标准

液晶屏检验规范

文档来源为:从网络收集整理.word版本可编辑.欢迎下载支持. LCD显示器液晶屏检验规范 1 范围本标准规定了 LCD显示器用液晶屏的像素缺陷、杂质不良、偏光片缺陷和漏光的定义及规格。本标准适用于在液晶屏的检验。 2 一般要求 2.1 像素缺陷 2.1.1 定义液晶屏由正方形的像素组成，每个像素由 R/G/B三色子像素组成，如图1或图2所示。暗点：由于 MOS管失效造成一个子像素一直不发光，称为暗点，如图3所示；暗点的判定：当不发光面积大于单个子像素 1/2面积时判定为一个暗点；当不发光面积小于或等于单个子像素 1/2面积时不计。相邻的暗点：相邻的两个子像素（水平或垂直）都是暗点时，称为相邻的暗点，如图 4所示。亮点：由于 MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点，如图5所示。当发光面积大于单个子像素 1/2面积时判定为一个亮点，如图6所示；微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，称为微亮点。符合以下条件时，判定为微亮点（如图 7所示）： a.发光面积小于或等于单个子像素面积的 1/2； b.在第 64灰阶下可以看到的亮点计为微亮点，在第 64灰阶下无法看到的亮点不计。（液晶屏共有256灰阶） A、B区：将屏幕划分为 A区和 B区，如图 8所示，其中 d=86%L 。 2.2.1 定义杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入的杂质引起的不良。杂质不良的形状不规则，与像素形状没有必然联系，分为圆形和线形。如图 9所示，当 a<2b时计为圆形；当 a>2b时计为线形。杂质点（线）的表现为暗场时的亮点（图 10）、亮线（图 11），或亮场时的暗点（图 12）、暗线（图 13）。 2.3 偏光片的缺陷 2.3.1 定义划伤（Scratch）:液晶屏表面偏光片的划痕；凹痕（Dent）：液晶屏表面偏光片的凹痕；起泡（Bubble）:屏表层偏光片的气泡；显示器不允许有杂质或外观上的划伤 2.4 漏光 2.4.1 对于大面积的漏光（见图14）：用彩色分析仪的探头测量漏光区域的亮度（Y1）以及屏中央（应是不漏光区域）的亮度（Y2）,其比值（Y1/Y2）＞2时为不合格。 2.4.2 对于小面积的漏光（无法用仪器测量）：漏光区域的亮度明显比周围亮，且亮暗分界明显的不可接受；漏光区域与正常区域的分界线过渡平缓，且无明显分界时可接受，见图15。 3 1文档来源为:从网络收集整理.word版本可编辑.欢迎下载支持.

成品检验标准

第A4 版第4次修订修订时间2015.03.23 成品检验标准修订部门：品质部修订历程修改日期发行版次修订版次修改摘要制定/修改审核批准 2013/11/13 A0 1 新制定 2014/04/14 A1 2 更改LCD区域划分 2014/12/15 A2 3 增加A+ , A, A-, B等级标准 2015/04/07 A3 4 更改LCD区域划分，完善规格定义分发与会签部门： □工程部：□生产部：□研发部：□品质部：□采购部：□PMC：□销售部：□行政部：□人事部：□仓库：□财务部：备注：

第A4 版第4次修订修订时间2015.03.23 成品检验标准修订部门：品质部 1.目的为公司各部门检验FOG及LCM产品提供统一的判定标准，以满足顾客需求; 同时为公司的来料品质检验提供检验参考依据. 2.适用范围众搏辉所有FOG＆LCM产品品质检验。 3.不良现象定义 3.1 屏幕不良缺陷定义：亮点：在黑色画面和灰阶画面发亮且通过5%ND片可见的像素点；暗点：R.G.B颜色模式下的发暗的像素点；毛丝：在局部位置出现毛线、纤维状的缺陷；偏光片气泡：由于偏光片本身或杂质导致出现的贴片气泡缺陷；破角/崩角：屏幕的玻璃出现边角破损；破裂/破片：屏幕碎裂，液晶出现泄露；漏液：由于密封不良出现的液晶泄露现象；液晶气泡：由于盒厚搭配不良，或液晶量不足导致的液晶空洞现象；显示不均：屏幕局部位置的颜色同其他位置不一致；底色偏差：与样品对比出现颜色/亮度不一致现象；备注：部分外观缺陷/功能缺陷请见检验标准中的缺陷描述。 3.2 屏幕检验区定义： 3.2.1. 3.5~5寸 A 区：画面显示区。

铸造件通用检验标准 -

铸造件通用检验标准前言铸造件的检验，以图纸为依据，如本标准与图纸不符，以图纸为检验标准。为了使检验工作走向标准化，加强中间过程质量控制，特制定本检验标准。

1.范围本标准适用于本公司产品压铸件及机加工的检验、验收。 2.引用标准本标准引用了下列标准的条款.本标准发布时,这些引用标准均为有效版本.所有标准将进行修定,因此,鼓励依据本标准达成协议的各方尽可能采用下列标准的最新版本. GB4054—83 金属涂覆层外观分级 GB/T 9286—88 色漆和清漆划痕试验 GB/T 6739—96 涂膜硬度铅笔测定法 GB/T 1733—93 漆膜耐水性测定法 GB/T6742—93 漆膜弯曲试验(园柱轴) GB/T1732-93 漆膜耐冲击测定法 GB/T1771—91 色漆和清漆耐中性盐污性能的测定 GB 5267—85 螺纹紧固件电镀层 GB 2792—81 压敏胶带180°剥离强度测定方法 GB5935—86 轻工产品金属镀层的孔隙率测试方法 GB6463—86 金属和其它无机覆盖层厚度测量方法评述 GB10125-97 《人造气氛腐蚀试验盐雾试验》 GB5270-86 金属覆盖层结合力及脆性测试 GB/T1182-96 形状和位置公差 GB4208-2008 外壳防护等级(IP代码) 3.目的 3.1确保压铸件判定的统一标准； 3.2指引QC检验，将所有检验动作标准化。 4.定义磨花/磨痕：产品表面由于摩擦而造成的擦花痕刮伤/划伤：产品表面由于与尖硬物摩擦而造成的刮痕/划痕。刀痕：因用锉刀或机加工时刀具所留下的痕迹

砂带痕：因用砂带打磨所留下的痕迹拉模伤：顺着出模方向遗留在铸件表面上的拉伤痕迹。凹陷：平滑表面上凹瘪的部分或者成型过程中填充不完整的部位压伤：切边模冲压或机加工时挤压所留下的痕迹碰伤：产品表面，边角受碰撞引起的变形痕迹顶针印：铸件表面由于模具顶针而形成凸出或凹下的痕迹行位印：铸件表面由于模具抽芯/镶块而形成凸出或凹下的痕迹冷隔：金属流对接未完全熔合形成的不规则下陷线性纹路，在外力作用下有发展趋势可能冷纹：肉眼可见与金属基体颜色不一样的纹络，无发展趋势印痕：铸件表面由于模具型腔磕碰挤压而形成凸出或凹下的痕迹流痕：表面上用手感觉得出的局部下陷的纹路，无发展趋势孔穴：气孔,缩孔和夹杂物等缺陷所形成的孔洞针孔：喷涂时表面产生的像针尖一样的小孔缺料/崩缺：外力敲击水口或切边模产生的缺损裂纹/裂痕：模具表面有呈直线状或波浪形的纹路，狭小而长，在外力的左右下有发展趋势龟裂纹：模具型腔表面龟裂形成的产品表面凸起或凹陷痕迹披锋：压铸件在分型面边缘出现的薄片毛边：边缘轮廓上因涂料堆积出现的边缘涂层不整齐现象斑点/麻点：产品表面形成的凸起颗粒或突出性杂物污点/脏点：颜色与正常表面不一致的色斑印迹气泡：涂层覆盖部分气体在烘烤时产生的泡状凸起缺陷桔皮/橘皮：涂层表面呈现出许多半圆状高低不平的桔子皮形状突起，易造成脱落起皮色差/异色：产品与色板的颜色差异露底/掉漆：局部无涂层或涂层缺失/覆盖不平露出底材积漆/溢漆：表面有较多漆团或漆点烧焦/发黄：喷涂烘烤不良造成表面留下的烧痕迹

LCD检验标准

1 目的：与供应商端明确LCD标准，规范LCD物料的检验，确保进料的质量。 2 范围：适用于我司IQC所有LCD屏之物料检验（自购料、客供料）。 3 检验要求： 3.1 抽样标准 3.1.1采样类型正常抽查一次方案； 3.1.2抽样表：MIL-STD-105E-II 。 3.2 AQL可接受水准 CR=0， Major = 0.65， Minor = 1.0。 3.3 不良品分类 3.3.1.主要缺陷： a. 功能缺陷影响正常使用； b. 性能参数超出规格标准； c. 漏元件、配件及主要标识； d. 多出无关标识及其他可能影响产品性能的物品。 3.3.2 次要的缺陷：主要缺陷之外的为次要缺陷。 3.4 .可接受程度和不能接受程度按AQL为主要的和次要缺陷数的取样中发现等于或小于AQL(可接受的质量水平),此批次被接受，缺陷数的取样中发现的大于AQL,这批应当予以驳回。 3.4.1 接受批次：每批次抽检按AQL接收水平接收或者全检单项次缺陷占总比例3%以内接受。 3.4.2 不合格：每批次抽检按AQL接收水平超出不接收或全检单项次缺陷占总比例5%以内接收。 a. IQC应出份检验不合格报告并知会供应商处理。 b. 供应商应及时对不良品进行维修或更换，返回后IQC应再次检验。 4 检测方法： 4.1.环境 a.温度: 25±5 ℃ b.湿度: 65 ±10 % RH c.照明 : (400 to 800 Lux)，LCD显示检验时100-150Lux。 4.2.检测观看距离：检测者应和屏幕保持的距离为30厘米。 4.3.检测角度：应在正常的角度进行观测和检测。 5. 定义： 5.1暗点：由于MOS管失效造成一个子像素一直不发光，称为暗点，如右图示,当暗点的面积大于1/2个子像素时，计一个暗点，当暗点的面积小于1/2个子像素时，忽略不计（如下图左）。 5.2 亮点：由于MOS管失效造成一个子像素一直发光，称为亮点，如右图所示。当亮点的面积大于1/2个子像素时，计一个亮点（如上图中）。 5.3 微亮点：由于液晶屏内侵入杂质微粒，造成像素内部分区域一直发光，称微亮点，如右图，当亮点的面积小于或等于1/2个子像素且可见时，计一个微亮点（如上图右）。 5.4

VW-50097-孔隙率标准

共 3 页第 1 页关键词：验收条件，铸件，轻金属铸件，金属铸件，气孔，孔隙度

－ Pn 气孔大小（仅与直径参数有关）。最大许可的气孔大小（由直径参数确定）仅适用于构件壁的芯部区域（所观察壁厚的内部三分之一）。在两个外部三分之一处，单一气孔的最大许可气孔大小（P）必须限制n的直径（单位为mm）。而在应力种类F中，n规定了直径，在气孔不予以考虑时。表示法：（应力种类）（孔隙度）／［直径］／［添加值1］／［…］／［添加值n］备注为了充分地描述许可的孔隙度，必须至少规定圆括号内的参数。方括号中的参数是可选的。在X射线试验独有的孔隙度规定值中必须注意，为了评定气孔大小，全自动设备在所有的情况下只能追溯到等效直径。然而，在手动、对比的X射线试验中，始终采用基准直径进行评定。最大许可铸件孔隙度的名称示例： 500 97-D5 －一般铸件： VW 97-F4/2A3/P0.5 500 －在密封面上： VW 上述名称示例的解释： 3 概念概念按照VW 500 99。 4 要求 4.1 构件的供货如果为了试验目的、首次取样或者样品检测而提供构件，那么供应商必须无要求地附入检测纪要。从这些检测纪要中可明确地得知所有按该标准所要求的构件性能。备注提供给样品认可的铸件用于作为各个供应商的极限样品的将来供货，这就是说，供应商有义务，随着样品认可的铸件提货，以后只须提供相同质量或更好质量的零件。这

特别适合于铸件的孔隙度。 4.2 孔隙度的确定对铸件孔隙度的一般要求：VW 500 97-D5。在遵守该标准的所有规定值的情况下，必须更详细地说明偏差要求。必须以明确和口头的形式把孔隙度规定值专门限制到指定的试验等级。备注对于铁铸件的一般孔隙度规定值，当前没有发现。首先建议，把该材料组别中的铸件孔隙度规定值仅仅限制在特别高强度的构件中。为此，在最终解释时，符合VW 500 97－D1的孔隙度则被视为适宜的限值。假如没有另外描述的话，在诸如气孔的加工面上须对机械损伤进行处理。当由一般供应商或首次供应商提供样品时，需力求达到视作孔隙度限值的图纸上规定的最大许可孔隙度。如果供应商不能遵守该孔隙度要求，那么该供应商必须以合适的形式予以说明和用凭据证明之。从该说明中必须明确地得知所有相关的范围。同样情况也适合于不能进行铸件样品认可的首次供货。在正确试验的情况下，须把所试验铸件的孔隙度登录到成品图中，如果该孔隙度已超过了图纸的规定值并且符合该技术的一般状态。而在其他的情况下，已实施的图纸记录值保留其有效性。备注必须把视作优先试验范围的、补充一般孔隙度规定值的这些孔隙度范围标注到图纸中，从不同的方面（铸件的强度范围和试验方法都是众所周知的）来看，这些都证明是有利的。对孔隙度作定期试验应包括所有情况下的这些孔隙度范围。孔隙度规定值只允许专门使用于该试验范围，如果能从明确的说明中得知的话。 5 孔隙度试验铸件孔隙度的试验必须按照图纸上的记录值。倘若供应商为了试验该孔隙度而使用了另一种视作规定的试验方法，那么该供应商必须说明各个铸件在所使用试验方法和规定试验方法之间的相互关系。备注为了进行定期的系列检测，供应商可以采用各种任意的试验方法。在仲裁的情况下，仅仅得到了采用规定的或相关的试验法而测出的试验结果。 6 赔偿权当供应商违反该标准部分时——这尤其是指第4.1和4.2章节——，所产生的检验开支和试验开支的额外费用可以由该供应商承担。备注同样情况也适用于图纸所要求的所有其他铸件材料的性能。 7 参考资料

4.3 孔隙率检测

4.3孔隙率检测孔隙率是指土中孔隙的体积与土的总体积之比，以百分数表示。孔隙率越大，表示土的密实度越小，孔隙率越小，表示土的密实度越大。因此，孔隙率可以作为路基压实质量的一个控制指标。特别是对于级配碎石等粗颗粒填料来说，最大干密度难于测得，难于测准，用压实系数不易控制施工质量，用孔隙率则能较好的控制施工质量。表4.3-1 级配砂砾石基床表层压实标准表4.3-2 级配碎石基床表层厚度及压实标准表4.3-3 基床底层技术标准表4.3-4 路堤填料及压实标准我国铁路设计和施工规范，第一次采用孔隙率标准是在秦沈客运专线上，具体指标是按日本标准确定的。见表4.3-1、表4.3-2、表4.3-3、表4.3-4。根据孔隙率的定义，孔隙率计算公式如下： n=（1－ρd/G S）×100 （4.3-1）式中 n——孔隙率（%）

ρd——填料干密度（g/cm3） G S——颗粒视密度但是，铁道建筑研究设计院在秦沈客运专线上对用上述公式测算的孔隙率（n）与压实系数（K）和地基系数（K30）进行了一系列的对比试验却表明，当压实系数（K）和地基系数（K30）达到设计规范标准时，孔隙率（n）却很难达到，三者不匹配。原因在于压实的过程只是使填料单个颗粒互相接近，减少颗粒与颗粒间的空隙，而不能使单个颗粒内部的孔隙和颗粒细微裂隙减少。因此，在测算填料的孔隙率时，不能采用填料颗粒视密度，而应采用填料颗粒毛体积密度。对比试验表明，采用颗粒毛体积密度计算孔隙率后，与压实系数、地基系数三者之间较为匹配。计算公式如下： n=（1－ρd/G m）×100 （4.3-2）式中 n——孔隙率（%） ρd——填料干密度（g/cm3） G m——颗粒毛体积密度（g/cm3）颗粒毛体积密度的试验计算方法见第二章第1节颗粒密度试验。填料干密度的试验计算方法见本章第2节。

VW 孔隙率标准 2007版

Group Standard VW 50097 Issue 2007-07 Class. No.: A6600 Descriptors: casting, light alloy casting, metal casting, pore, porosity Page 1 of 6 Check standard for current issue prior to usage.The English translation is believed to be accurate. In case of discrepancies the German version shall govern. Numerical notation acc. to ISO practice. This electronically generated standard is authentic and valid without signature. Technical responsibility Standards department K-GQL-2 Dr. Stephan Eisenberg K-GQL-2/1 Hannes Wendt Tel.: +49-5361-9-38956 EKTC/4 Gabriela Bochynek Tel.: +49-5361-9-21698 EKTC Manfred Terlinden Confidential. All rights reserved. No part of this document may be transmitted or reproduced without the prior permission of a Standards Department within the Volkswagen Group. Contract partners shall obtain the standard only through the B2B supplier platform https://www.360docs.net/doc/f114669941.html,. ? VOLKSWAGEN AG vwnorm-2007-07 Porosity of Metal Castings Requirements Previous issues 2002-12 Changes The following changes have been made as compared to Volkswagen standard VW 50097, 2002-12: ─ Section 1: Scope changed ─ Section 2.1: Section heading added and changes implemented ─ Section 2.2: Newly added ─ Section 4.2: Changed ─ Section 5: Test Specification PV 6097 added Contents Page 1 Scope..................................................................................................................................2 2 Designation.........................................................................................................................2 2.1 Explanation of the designation system................................................................................2 2.2 Grading of porosity specifications in drawings....................................................................4 3 Definitions ...........................................................................................................................4 4 Requirements......................................................................................................................4 4.1 Delivery of components.......................................................................................................4 4.2 Definition of porosity............................................................................................................5 5 Testing of porosity...............................................................................................................6 6 Recourse claims..................................................................................................................6 7 Referenced standards (6)

LCD、POL基础知识及检验方法

LCD/POL 物料特性和检验方法
1. 偏光片结构以及特性 a) 偏光片的基本结构偏光片是一种由多层高分子材料复合而成的具有产生偏振光功能的光学薄膜，按其在液晶屏的使用位置不同，大体上可分为面片（又称透过片）和底片两种（又称反射片），右图是典型 TN 型偏光片的面片结构示意图： PVA 膜（偏光层）：是由 PVA（聚乙烯醇）薄膜经染色拉伸后制成，该层是偏光片的主要部分，也称偏光原膜，该膜将非偏极光（一般光线）过滤成偏极光。偏光层决定了偏光片的偏光性能、透过率，同时也是影响偏光片色调和光学耐久性的主要部分。偏光层的基本加工工艺按染色方法可分为染料系和碘系两大系列，按拉伸工艺可分为干法拉伸和湿法拉伸两大系列，改变其材料和加工工艺可实现对偏光度、透过率、色调和光学耐久性的调整。偏光膜 PVA 作为一种使用延伸方法制成的产品，具有以下一些独特的特性：光线选择性：选择通过偏振方向与延伸方向一致的光线通过；温度、湿度敏感性：吸潮或加温后，被拉伸的成线性的分子链将会自动还原回团状的分子链，失去光线选择性。脆弱性：很容易在外力的作用下失去光线选择性。 TAC 层：由 PVA 膜制成的偏光层易吸水、褪色而丧失偏光性能，因此需要在其两边用一层光学均匀性和透明性良好的 TAC（三醋酸纤维素酯）膜来隔绝水分和空气，保护偏光层。采用具有紫外隔离（UV CUT）和防眩（Anti-Glare）功能的 TAC 膜可制成防紫外型偏光片和防眩型偏光片。感压胶（adhesive）：可分为反射膜侧粘着剂和剥离膜侧粘着剂。反射膜侧粘着剂的作用是将反射膜牢固地粘合在 TAC 膜上，其工艺要求不允许有再剥离性。剥离膜侧粘着剂是一层压敏胶，它决定了偏光片的粘着性能及贴片加工性能，其性能优劣是 LCD 偏光片使用者最为关心的问题之一。离型膜（separate film）：为单侧涂布硅涂层的 PET（对苯二甲酸乙二醇酯）膜，主要起保护压敏胶层的作用，同时其剥离力的大小对 LCD 贴片时的作业性有一定影响。保护膜（protective film）：为单侧涂布 EVA 层（乙烯醋酸乙烯共聚物）的 PE（聚乙烯）膜，具有低粘性，起保护 TAC 膜表面的作用。此外，在反射型的底片偏光片还有一层反射膜：反射膜（reflective film）：为单侧蒸铝的 PET 膜，目前大多使用无指向
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土壤孔隙度的测定

土壤的孔隙度试验方法：分别选择土壤为沙土、壤土和黏土的田地各100m2进行田间持水量试样，把100m2等分两块，一块用1.3kg的液体肥与水一起冲施，一块用水灌溉。一周后，同时在施肥田地与不施肥的田地采取土壤并编上编号作试验。试验步骤如下： 1、孔隙度，%=（1-土壤容重/土壤比重）*100 2、土壤容重的测定先用铁铲刨平耕层的土面，将环刀托套在环刀无刃的一端，环刀刃朝下，用力均衡地压环刀托把，将环刀垂直压入土中。如土壤较硬，环刀不易插入土中时，可用土锤轻轻敲打环刀托把，待整个环刀全部压入土中，且土面即将触及环刀托的顶部（可由环刀托盖上之小孔窥见）时，停止下压。用铁铲把环刀周围土壤挖去，在环刀下方切断，并使其下方留有一些多余的土壤。取出环刀。将其翻转过来，刃口朝上，用削土刀迅速刮去黏附在环刀外壁上的土壤，然后从边缘向中部用削土刀削平土面，使之与刃口齐平。盖上环刀顶盖，再次翻转环刀，使已盖上顶盖的刃口一端朝下，取下环刀托。同样削平无刃口端的土面并盖好底盖。将装有土样的环刀迅速装入木箱带回室内，在天平上称取环刀及湿土质量，将称重后的环刀和土壤在105℃烘箱中烘至恒重，称量。计算：土壤容重，g/cm3=烘干土样质量（g）/环刀容积（cm3 3,、土壤比重的测定

取通过2mm孔径筛的风干试样约10g，经小漏斗装入已知质量的比重瓶中，称取瓶加风干试样质量。另称取5g左右试样按3.1方法测定水分含量。向装有样品的比重瓶中缓缓注入水，至水和土的体积约占比重瓶的1/3~1/2为宜。缓缓摇动比重瓶，使土粒充分浸润，将比重瓶放在电砂浴上加热，沸腾后保持微沸1h，煮沸过程中应经常摇动比重瓶，驱除土壤中的空气。煮沸完毕，将冷却的无CO2水沿瓶壁徐徐加入比重瓶至瓶颈，用手指轻轻敲打瓶壁，使残留土中的空气逸尽，粘附在瓶壁上的土粒沉入瓶底。静止冷却，澄清后测量瓶内水温。加水至瓶口，塞上毛细管塞，瓶中多余的水即从塞上毛细管孔中溢出，用滤纸擦干后称取瓶+水+土质量。将比重瓶中土液倒出，洗净比重瓶，注满冷却的无CO2水，测量瓶内水温，加水至瓶口，塞上毛细管塞，擦干瓶外壁，称取瓶+水质量。若每只比重瓶事先都经过校正，在测定时便可省去此步骤。测定的土壤含水溶盐或较多的活性胶体时，土样应先在105烘干，并用非极性液体代替水，用真空抽气法驱逐土样及液体中的空气。抽气过程要保持接近一个大气压的负压，经常摇动比重瓶，直至无气泡逸出为止。其余步骤同上。

通用检验规范标准

文件编号：BDL-QC-WJ-001 版次 Version ：A0 二、适用机种模组及模组以下背光三、检验条件 3.1、检验环境：温度（20~25℃），湿度（55±10%RH ）；环境画面检验外观检验包装暗室检验照度 50~200 LUX 500~1000 LUX 500~1000 LUX ≤20 LUX 尺寸 18.5-26 26-32 32-46 46以上检验距离 250±50m m 300±50mm 500±50mm 500±50mm 判定距离 500mm 500mm 1000mm 1500mm 3.4、检验视角：正看正视角：垂直90° 侧看侧视角：水平方向±45°（及上下），垂直方向±45°（及左右）； 3.5、检验工具：点线规、ND filter 、塞规、游标卡尺、千分尺等工具； 3.6、检验&判定方法：点、线、面不良检验和判断 3.7、项目定义： D=大小 W=线经（宽度） L=长度 N=个数 a 、单一点不良：大于1/2 sub-pixel 计为一个点不良； b 、两连点不良=一对点=两个点，如下图： c 、亮点：在暗黑画面、灰画面能看到发光的点不良（包括异物、CF 不良）； d 、暗点：在白画面、 R\G\B 、灰画面可见黑暗的点不良（不包括异物）；版次变更说明拟案单位拟案人拟定日期 01 新增品质部陈永健 2014.7.26

文件编号：BDL-QC-WJ-001 版次 Version ：A0 e 、点状不良： f 、线状不良： g 、显示区域分为9等分，中间区域为A 区（及5区），其它区域为B 区。四、 LCM 点灯画面：编号显示画面主要检验内容检查方法 1 1、RGB 色不均； 2、黑点总数； 3、CF 不良； 4、cell 异物； 5、线缺陷等不良。 6、点、线，画异等。 1、在红、绿、蓝画面下，用肉眼辨认其黑点欠陷的个数． 2、在红、绿、蓝画面下，用肉眼可以辨认的２连续、３连续以上的点欠陷组数. 3、肉眼辨认发光异物大小和个数(用放大镜加以确认之) 2 3 4 全黑画面 1、线缺陷，干扰线； 2、亮点（微辉点、CF 不良）； 3、偏光片不良、污迹、条纹； 4、cell 漏光、色斑(偏光片偏光度)，液晶分布不均（Push Mura ）用点线规和滤光片(根据不同客户和等级的要求选择不同种类的滤光片)判定其等级 5 全白 255 全白画面+敲击 1、黑点、异物，白点； 2、暗线、弱线、干扰线； 3、暗影，漏光； 4、白块、污等。 5、拖影、残影。 1、从残影画面切换到白画面后，作业员在远距离检查暗影、污等面不良； 2、近距离检查异物、暗点等点不良。 B 区 B 区 B 区 B 区 A 区 B 区 B 区 B 区 B 区

来料检验规范

制定日期： 2015-1-4 文件编号： QP-GC-002 版本： AO 页数：第 1 页共 9 页制作：钟承全核准：本资料为深圳联合盛电子有限公司专有之财产,非经书面许可，不准透露或使用本数据，亦不准复印、复制或转变成任何其它形式使用。来料检验规范产品结构项材料 TP 客供 OCA 三菱 LCD 客供（客户从本厂液晶事业部购买）保护膜 PET 二、客供料验收良率标准及处理方法 1、客供来料验收良率标准 1.1 TP 来料抽检功能良率要求达100%外观98% 1.2 TP 抽样方案项目序号检验项目抽样频率抽样方案检查水平判别水平 AQL RQL 判定数组

制定日期： 2015-1-4 文件编号： QP-GC-002 版本： AO 页数：第 2 页共 9 页制作：钟承全核准： 9 外观每批 GB2828正常检验单次 II B=0.4 C=1.0 10 尺寸每批 GB2829 单次 II B=30 n=5, Ac=0,Re=1 B=65 n=5, Ac=1,Re=2 11 端点间阻抗每批 GB2829 单次 II B=30 n=5, Ac=0,Re=1 12.1，12.2 12.5，12.6 12.8 高温高湿存贮，低温存贮抗冲击耐醇试验硬度测试 3个月/ 次或 10万每次 GB2829 单次 II B=50 n=3, Ac=0,Re=1 C=100 n=3, Ac=1,Re=2 12.3，12.4 耐磨寿命点击寿命 6个月/ 次或20万每次 GB2829 单次 II B=50 n=3, Ac=0,Re=1 C=100 n=3, Ac=1,Re=2 12.7 排线折弯试验每批 GB2829 单次 II B=80 n=1, Ac=0,Re=1 1.2 LCD 来料抽检功能良率要求100%外观98%，不允许有破损（避免来料破损退货争议） 1.3 抽样计划与引用标准 1.3.1 GB/T 2828.1---2003/IS02859-1:1999 逐批检查计数抽样程序及抽样表 1.3.2 GB/T 1619.96 扭曲向列型液晶显示器件测试方法 1.3.3 GB/T 12848.91 超取向列型液晶显示期间总规范。 1.3.4 GB2421-89 电工电子产品基本环境实验规程 1.3.5 IPC-A-610 电子组装件的验收条件 1.4 LCM 抽样方案与检查条件 1.4.1 抽样方案 1.4.2 制造单位对外观检验与电性测试全数检验，对尺寸测量每型号首检抽样测试5pcs 。 1.4.3 品管单位对尺寸测量每型号首检抽样测试3pcs ，对外观检验与电性测试采用GB/T 2828.1——— 2003/ISO2859——1:1999，正常检查一次抽样方案，一般检验水平II 不合格等级 AQL 备注主缺 0.15 功能不良执行0收1退次缺 0.4 合计 0.65 2、来料良率不合格的处理方法 2.1 客供物料上线前良率需达98%，若来料不良超出上述指标要求，需要求客户协助安排人员返工处理三、客供液晶外观尺寸检验项目