硬件可靠性测试设计实例分析

硬件可靠性测试设计实例分析
硬件可靠性测试设计实例分析

硬件可靠性测试设计实例分析

硬件可靠性测试设计实例分析

从硬件角度出发,可靠性测试分为两类:以行业标准或者国家标准为基础的可靠性测试。比如电磁兼容试验、气候类环境试验、机械类环境试验和安规试验等。企业自身根据其产品特点和对质量的认识所开发的测试项目。比如一些故障模拟测试、电压拉偏测试、快速上下电测试等。下面分别介绍这两类可靠

性测试。1基于行业标准、国家标准的可靠性测试方法产品在生命周期内必

然承受很多外界应力,常见的应力有业务负荷、温度、湿度、粉尘、气压、机械应力等。各种行业标准、国家标准制定者给出了某类产品在何种应用环境下会存在多大的应力等级,而标准使用者要根据产品的应用环境和对质量的要求选定相应的测试条件即应力等级,这个选定的应力等级实质上就是产品测试规格。在产品的测试阶段,我们必须在实验室环境下对足够的测试样本一一施加相应的应力类型和应力等级,考察产品的工作稳定性。对于通信设备而言,常见的测试项目至少包括电磁兼容试验、安规试验、气候类环境试验和机械环境试验,而上述四类测试项目还包含很多测试子项,比如气候类环境试验还包括高温工作试验、低温工作试验、湿热试验、温度循环试验等。此类测试项目还有很多,这里就不做详细介绍。总的而言,所有的测试项目都属于规格符合性

测试(即PASS或者FAIL测试),试验的目的都是模拟产品在生命周期内承受应力类型和应力等级,考察其工作稳定性。2企业设计的可靠性测试方法由于网络产品

的功能千差万别,应用场合可能是各种各样的,而与可靠性测试相关的行业标准、国家标准,一般情况下只给出了某类产品的测试应力条件,并没有指明被测设备在何种工作状态或配置组合下接受测试,因此在测试设计时可能会遗漏某些测试组合。比如机框式产品,线卡种类、线卡安装位置、报文类型、系统电源配置均可灵活搭配,这涉及到的测试组合会较多,这测试组合中必然会存在比较极端的测试组合。再如验证该机框的系统散热性能,最差的测试组合是在散热条件机框上满配最大功率的线卡板;如果考虑其某线卡板低温工作性能,比较极端的组合时是在散热条件最好的机框上配置最少的单板且配置的单板功耗最小,并且把单板放置在散热最好的槽位上。总之,在做测试设计时,需要跳出传统测试规格和测试标准的限制,以产品应用的角度进行测试设计,保证产品的典型应用组合、满配置组合或者极端测试组合下的每一个硬件特性、硬件功能都充分暴露在各种测试应力下,这个环节的测试保证了,产品的可靠性才得到保证。

以下举两个例子来说明如何根据产品特点设计出可靠性测试方法。2.1实例一:包处理器外挂缓存(Buffer)的并行总线测试为了应对网络的突发流量和进行流量管理,网络设备内部的包处理器通常都外挂了各种随机访问存储器(即RAM)用来缓存包。由于包处理和RAM之间通过高速并行总线互连,一般该并行总线的工作时钟频率可能高达800Mhz,并且信号数量众多,拓扑结构复杂,在产品器件密度越来越高的情况下,

产品很可能遇到串扰、开关同步噪音(SSN)等严重的信号质量问题,针对上述可能遇

到的问题,我们需进行仔细的业务设计,让相应硬件电路的充分暴露在不利的物理条件下,看其工作是否稳定。串扰,简单的来说是一种干扰,由于ASIC内部、外

部走线的原因,一根信号线上的跳动会对其他信号产生不期望的电压噪声干扰。为了提高电路工作速率和减少低功耗,信号的幅度往往很低,一个很小的信号干扰可能导致数

字0或者1电平识别错误,这会对系统的可靠性带来很大影响。在测试设计时,需要

对被测设备施加一种特殊的业务负荷,让被测试总线出现大量的特定的信号跳变,即让总线暴露在尽可能大的串扰条件下,并用示波器观察个总线信号质量是否可接受、监控

业务是否正常。以16位并行总线为例,为了将这种串扰影响极端化,设计测试报文时将16根信号中有15根线(即攻击信号线Agressor)的跳变方向一致,即15根信号线都同时从0跳变到1,同时让另一根被干扰的信号线(即Victim)从1下跳到0,让16根线都要遍历这个情况。

开关同步噪音也是RAM高速并行接口可能出现的我们所不期望的一种物理现象。当IC的驱动器同时开关时,会产生瞬间变化的大电流,在经过回流途径上存在的电感时,形成交流压降,从而产生噪音噪声(称为SSN),它可能影响信号接收端的信

号电平判决。这是并行总线非常恶劣的一种工作状态,对信号驱动器的高速信号转变能力、驱动能力、电源的动态响应、电源的滤波设计构成了严峻的考验。为了验证产品在

这种的工作条件下工作是否可靠,必须被测设备(DUT)加上一种特殊的测试负荷,即特殊的测试报文。举例:如果被测总线为16位宽,要使所有16跟信号线同步翻转,报文内容应该为:FFFF0000FFFF0000如果被测总线为32位宽,要使所有32跟信号线同步翻转,测试报文内容应该为:FFFFFFFF0000 0000FFFF FFFF00000000如果被测总线为64位宽,要使所有64根信号线同步翻转,测试报文内容应该为:FFFFFFFFFFFFFFFF0000000000000000FFFF FFFF FFFF FFFF 0000000000000000如果报文在DUT

内部的业务通道同时存在上述位宽的总线,业务测试必须加载上述的报文,看DUTUUT 在每种报文下工作是否正常,同时在相应总线上进行信号测试,看信号是否正常。2.2实

例二:热测试热测试通过使用多通道点温计测量产品内部关键点或关键器件的温度分布状况,测试结果是计算器件寿命(如E-Cap)、以及产品可靠性指标预测的

输入条件,它是产品开发过程中的一个重要的可靠性活动。一般而言,热测试主要是为了验证产品的热设计是否满足产品的工作温度范围规格,是实验室基准测试,这意味着为了保证测试结果的一致性,必然对测试环境进行严格要求,比如要求被测设备在一定范围内无热源和强制风冷设备运行、表面不能覆盖任何异物。但实际上很多产品的工作环境跟上述测试环境是有差异的:有些产品使用时可能放在桌子上,也可能挂在墙上,而这些设备基本上靠自然散热,安装方法不同会直接影响到设备的热对流,进而影响到设备内部的温度分布。因此,测试此类设备时必须考虑不同的安装位置,在实验室条件把设备摆放在桌子热测试通过,并不代表设备挂在墙上热测试也能通过。有些网络设备在网吧行业用得比较多,几台设备叠在一起使用比较常见,做类似产品的热测试时,必须考虑到产品在此情况下热测试是否符合要求。一些机框式设备,由于槽位比较多,风道设计可能存在一定的死角。如果被测对象是一块业务板,而这块可以随便插在多个业务卡槽位,热测试时必须将被测板放在散热最差的槽位,并且在其旁边槽位插入规格所能支持的大功耗业务板,后让被测单板辅助单板和

满负荷工作,在这种业务配置条件下进行热测试。3总结针对不同的产品形态,

硬件可靠性测试项目可能有所差异,但是其测试的基本思想是一致的,其基本的思路都是完备分析测试对象可能的应用环境,在可能的应用环境下会承受可能工作状态包括极限工作状态,在实验室环境下制造各种应力条件、改变设备工作状态,设法让产品的每一个硬件特性、硬件功能都一一暴露在各种极限应力下,遗漏任何一种测试组合必然会影响到对产品的可靠性。

硬件系统的可靠性设计

硬件系统的可靠性设计

目录 1 可靠性概念 (4) 1.1 失效率 (4) 1.2 可靠度 (5) 1.3 不可靠度 (6) 1.4 平均无故障时间 (6) 1.5 可靠性指标间的关系 (6) 2 可靠性模型 (7) 2.1 串联系统 (7) 2.2 并联系统 (9) 2.3 混合系统 (11) 2.4 提高可靠性的方法 (12) 3 可靠性设计方法 (12) 3.1 元器件 (12) 3.2 降额设计 (13) 3.3 冗余设计 (14) 3.4 电磁兼容设计 (15) 3.5 故障自动检测与诊断 (15) 3.6 软件可靠性技术 (15) 3.7 失效保险技术 (15) 3.8 热设计 (16) 3.9 EMC设计 (16) 3.10 可靠性指标分配原则 (17) 4 常用器件的可靠性及选择 (19) 4.1 元器件失效特性 (19) 4.2 元器件失效机理 (21) 4.3 元器件选择 (23) 4.4 电阻 (23) 4.5 电容 (26) 4.6 二极管 (30) 4.7 光耦合器 (31) 4.8 集成电路 (32) 5 电路设计 (38) 5.1 电流倒灌 (38) 5.2 热插拔设计 (40) 5.3 过流保护 (41) 5.4 反射波干扰 (42) 5.5 电源干扰 (49) 5.6 静电干扰 (51) 5.7 上电复位 (52) 5.8 时钟信号的驱动 (53) 5.9 时钟信号的匹配方法 (55) 6 PCB设计 (60)

6.1 布线 (60) 6.2 去耦电容 (62) 7 系统可靠性测试 (62) 7.1 环境适应性测试 (62) 7.2 EMC测试 (63) 7.3 其它测试 (63) 8 参考资料 (64) 9 附录 (64)

最新硬件测试标准(最全可靠性测试)

1. 目的 此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计,制造中的潜在性问题,在正式生产之前寻找改善方法并解决上述问题点,为正式生产的产品在质量上做必要的保证;并检测产品是否具备设计上的成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。 2. 围 此指引适用于所有诺亚信高科技集团生产的移动产品。 3. 定义 3.1 技术员:设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果.解决检测过程中的问题;并向工程师反 馈检测方法的缺陷和不足。 3.2 工程师:判断测试结果是否可接受;跟进问题的解决情况;改善检测方法。 4. 抽样方案 4.1 以具体的实验项目要求为准。 5. 检验容 5.1 环境可靠性试验 5.1.1 高温运行试验 试验目的:验证手机在高温环境的适应性。 试验样品:2sets 试验容:55℃,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机,进行12小时测试,运行时间从到达 55℃温度始算起.试验后在箱检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装 归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,1台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供 应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。 判定标准: 1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。 3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否 可恢复)。 4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。 5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。

5.1.2 低温运行试验 试验目的:验证手机在低温环境下的适应性。 试验样品: 2 sets 试验容: -20℃,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机并运行老化软件,进行12小时测试,运行时间从到达-20℃温度始算起.试验后在箱检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。 特别注意:俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能(电池电压是否会升高)。 判定标准:1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。 3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否 可恢复)。 4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。 5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。 5.1.3 高温贮存试验 试验目的: 应力释放和加速材料的老化。 试验样品:2 sets 试验容:80℃,手机配电池关机,存储时间24小时,贮存时间从温度到达80℃开始算起. 在进行存储到24小时后,直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后,开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。 判定标准:1、壳体外观检查,缝隙,LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。 3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否 可恢复)。 4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。 5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。 5.1.4 低温贮存试验 试验目的:加速材料的脆化。 试验样品:2 sets

系统可靠性设计与分析

可靠性设计与分析作业 学号:071130123 姓名:向正平一、指数分布的概率密度函数、分布函数、可靠度函数曲线 (1)程序语言 t=(0:0.01:20); Array m=[0.3,0.6,0.9]; linecolor=['r','b','y']; for i=1:length(m); f=m(i)*exp(-m(i)*t); F=1-exp(-m(i)*t); R=exp(-m(i)*t); color=linecolor(i); subplot(3,1,1); title('指数函数概率密度函数曲线'); plot(t,f,color); hold on subplot(3,1,2); title('指数函数分布函数函数曲线'); plot(t,F,color); hold on subplot(3,1,3); title('指数指数分布可靠度函数曲线 plot(t,R,color); hold on end (3)指数分布的分析 在可靠性理论中,指数分布是最基本、最常用的分布,适合于失效率为常数 的情况。指数分布不但在电子元器件偶然失效期普遍使用,而且在复杂系统和整 机方面以及机械技术的可靠性领域也得到使用。 有图像可以看出失效率函数密度f(t)随着时间的增加不断下降,而失效率随 着时间的增加在不断的上升,可靠度也在随着时间的增加不断地下降,从图线的 颜色可以看出,随着m的增加失效率密度函数下降越快,而可靠度的随m的增加 而不断的增加,则失效率随m的增加减小越快。 在工程运用中,如果某零件符合指数分布,那么可以适当增加m的值,使零 件的可靠度会提升,增加可靠性。 二、正态分布的概率密度函数、分布函数、可靠性函数、失效率函数曲线 (1)程序语言 t=-10:0.01:10; m=[3,6,9]; n=[1,2,3]; linecolor=['r','b','y'];

华为客户可靠性测试标准

1测试标准框架 (15) 1.1整体框架 (15) 1.2测试样品数 (15) 1.3不同工艺测试项选择 (18) 2外观等级面划分 (18) 2.1外观等级面定义 (18) 3测量条件及环境的要求 (19) 3.1距离 (19) 3.2时间 (19) 3.3位置 (19) 3.4照明 (19) 3.5环境 (19) 4表面处理可靠性测试方法 (19) 4.1膜厚测试 (19) 4.1.1试验目的 (19) 4.1.2试验条件 (19) 4.1.3合格判据 (19) 4.2抗MEK(丁酮)测试 (19) 4.2.1试验目的 (19) 4.2.2试验条件 (20) 4.2.3程序 (20) 4.2.4合格判据 (20) 4.3附着力测试 (20) 4.3.1试验目的 (20) 4.3.2试验条件 (21) 4.3.3程序 (21) 4.3.4合格判据 (22) 4.3.5等级描述说明 (22) 4.3.6测试工具 (23) 4.4RCA纸带耐磨测试 (23)

4.4.2试验条件 (23) 4.4.3程序 (24) 4.4.4合格判据 (24) 4.5酒精摩擦测试 (24) 4.5.1试验目的 (24) 4.5.2试验条件 (24) 4.5.3程序 (24) 4.5.4合格判据 (25) 4.6橡皮摩擦测试 (25) 4.6.1试验目的 (25) 4.6.2试验条件 (25) 4.6.3程序 (25) 4.6.4合格判据 (25) 4.7振动摩擦测试 (26) 4.7.1试验目的 (26) 4.7.2试验条件 (26) 4.7.3程序 (26) 4.7.4合格判据 (27) 4.7.5说明 (28) 4.8铅笔硬度测试 (28) 4.8.1试验目的 (28) 4.8.2试验条件 (28) 4.8.3程序 (28) 4.8.4合格判据 (30) 4.8.5测试工具 (30) 4.9抗脏污测试 (30) 4.9.1试验目的 (30) 4.9.2试验条件 (30) 4.9.3程序 (31) 4.9.4合格判据 (31) 4.10牛顿笔测试 (31) 4.10.1试验目的 (31) 4.10.2试验条件 (31)

硬件系统可靠性设计规范

硬件系统可靠性设计规范 一、概论 可靠性的定义:产品或系统在规定条件下和规定时间内完成规定功能的能力 可靠性及抗干扰设计是硬件设计必不可少的一部分,它包括芯片、器件选择、去耦滤波、印刷电路板布线、通道隔离等。有完善的抗干扰措施,是保证系统精度、工作正常和不产生错误的必要条件。设备可靠性设计规范的一个核心思想是监控过程,而不是监控结果。 二、可靠性设计方法 1、元器件:构成系统的基本部件,作为设计与使用者,主要是保证所选用的元器件的质量或可靠性指标满足设计的要求 2、降额设计:使电子元器件的工作应力适当低于其规定的额定值,从而达到降低基本故障率,保证系统可靠性的目的。幅度的大小可分为一、二、三级降额,一级降额((实际承受应力)/(器件额定应力) < 50%的降额),建议使用二级降额设计方法,一级降额<70% 3、冗余设计:也称为容错技术或故障掩盖技术,它是通过增加完成同一功能的并联或备用单元(包括硬件单元或软件单元)数目来提高系统可靠性的一种设计方法,实现方法主要包括:硬件冗余;软件冗余;信息冗余;时间冗余等 4、电磁兼容设计:系统在电磁环境中运行的适应性,即在电磁环境下能保持完成规定功能的能力。电磁兼容性设计的目的是使系统既不受外部电磁干扰的影响,也不对其它电子设备产生电磁干扰。硬件措施主要有滤波技术、去耦电路、屏蔽技术、接地技术等;软件措施主要有数字滤波、软件冗余、程序运行监视及故障自动恢复技术等 5、故障自动检测及诊断 6、软件可靠性设计:为了提高软件的可靠性,应尽量将软件规范化、标准化、模块化 7、失效保险技术 8、热设计 9、EMC设计:电磁兼容(EMC)包括电磁干扰(EMI)和电磁敏感度(EMS)两个方面 三、可靠性设计准则

产品可靠性试验报告模板

产品可靠性试验报告一、试验样品描述 二、试验阶段 三、试验结论

四、试验项目

High Temperature Storage Test (高温贮存) 实验标准: 产品可靠性试验报告 测试产品状态 ■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name High Temperature Storage Test (高温贮存) 产品名称Name 料号/P/N (材料类填写供应商) 试验样品/数量 试验负责人 (5Pcs ) 实验测试结果 ■通过□不通过□条件通过 试验目的 验证产品在高温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件 Test Condition 不通电,以正常位置放入试验箱内,升温速率为1℃/min,使产品温度达到70℃,温度稳定后持续8小时,完成测试后在正常环境下放置2小时后进行产品检查 试验条件图 Test Condition 仪器/设备 高温烤箱、万用表、测试工装 合格判据 试验后样品外观、机械性能、电气性能、等各项性能正常 包装压力测试 OK 包装振动测试 OK 包装跌落测试 OK Group 7 酒精测试 OK RCA 纸带耐磨测试 附着力测试 OK 百格测试 OK 材料防火测试

备注说明 注意:测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Low Temperature Storage Test(低温贮存) 实验标准: 产品可靠性试验报告 测试产品状态■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time试验项目名称/Test Item Name Low Temperature Storage Test (低温贮存) 机型名称Name料号/P/N(材料类填写供应商)试验样品/数量试验负责人实验测试结果■通过□不通过□条件通过 试验目的验证产品低温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件Test Condition 不通电,以正常位置放入试验箱内,降温速率为1℃/min,使试验箱温度达到-30℃,温度稳定后持续8小时,完成测试后在正常环境下放置2小时,后进行产品检查. 试验条件图Test Condition

北京航空航天大学系统可靠性设计分析期末试卷a

1.判断题(共20分,每题2分,答错倒扣1分) (1)()系统可靠性与维修性决定了系统的可用性和可信性。 (2)()为简化故障树,可将逻辑门之间的中间事件省略。 (3)()在系统寿命周期的各阶段中,可靠性指标是不变的。 (4)()如果规定的系统故障率指标是每单位时间0.16,考虑分配余量,可以按每单位时间0.2 进行可靠性分配。 (5)()MTBF和MFHBF都是基本可靠性参数。 (6)()电子元器件的质量等级愈高,并不一定表示其可靠性愈高。 (7)()事件树的后果事件指由于初因事件及其后续事件的发生或不发生所导致的不良结果。 (8)()对于大多数武器装备,其寿命周期费用中的使用保障费用要比研制和生产费用高。 (9)()所有产品的故障率随时间的变化规律,都要经过浴盆曲线的早期故障阶段、偶然故障 阶段和耗损故障阶段。 (10)()各种产品的可靠度函数曲线随时间的增加都呈下降趋势。 2.填空题(共20分,每空2分) (1)MFHBF的中文含义为。 (2)平均故障前时间MTTF与可靠度R(t)之间的关系式是。 (3)与电子、电器设备构成的系统相比,机械产品可靠性特点一是寿命不服从分 布,二是零部件程度低。 (4)在系统所处的特定条件下,出现的未预期到的通路称为。 (5)最坏情况容差分析法中,当网络函数在工作点附近可微且变化较小、容差分析精度要求不 高、设计参数变化范围较小时,可采用;当网络函数在工作点可微且变化较大,或容差分析精度要求较高,或设计参数变化范围较大时,可采用。 (6)一般地,二维危害性矩阵图的横坐标为严酷度类别,纵坐标根据情况可选下列三项之一: 、 或。

3.简要描述故障树“三早”简化技术的内容。(10分)

硬件可靠性及提高

硬件可靠性及提高 一般来说,系统总是由多个子系统组成,而子系统又是由更小的子系统组成,直到细分到电阻器、电容器、电感、晶体管、集成电路、机械零件等小元件的复杂组合,其中任何一个元件发生故障都会成为系统出现故障的原因。因此,硬件可靠性设计在保证元器件可靠性的基础上,既要考虑单一控制单元的可靠性设计,更要考虑整个控制系统的可靠性设计。 1.影响硬件可靠性的因素 (1)元件失效。元件失效有三种:一是元件本身的缺陷,如硅裂、漏气等;二是加工过程、环境条件的变化加速了元件、组件的失效;三是工艺问题,如焊接不牢、筛选不严等。 (2)设计不当。在计算机控制系统中,许多元器件发生的故障并不是元件本身的问题,而是系统设计不合理或元器件使用不当所造成。 在设计过程中,如何正确使用各种型号的元器件或集成电路,是提高硬件可靠性不可忽视的重要因素。 (1)电气性能:元器件的电气性能是指元器件所能承受的电压、电流、电容、功率等的能力,在使用时要注意元器件的电气性能,不能超限使用。(2)环境条件:计算机控制系统的工作环境有时相当恶劣,由于环境因素的影响,不少系统的实验室试验情况虽然良好,但安装到现场并长期运行就频出故障。其原因是多方面的,包括温度、干扰、电源、现场空气等对硬件的影响。因此,设计系统时,应考虑环境条件对硬件参数的影响,元件设备须经老化试验处理。 (3)组装工艺:在硬件设计中,组装工艺直接影响硬件系统的可靠性。由于工艺原因引起的故障很难定位排除,一个焊点的虚焊或似接非接很可能导致整个系统在工作过程中不时地出现工作不正常现象。另外,设计印制电路板时应考虑元器件的布局、引线的走向、引线的分类排序等。

华为 整机硬件测试标准

返回 编号 用例名称 测试条件 测试步骤 测试用例_预期结果 样机数量 备注 测试结果 Reliability_test_001 载重测试(硬载重) 普通手机:手机开机,整个正、反面施加70kgf的压力,承受2秒钟。 触摸屏手机:手机开机,整个正、反面施加70kgf的压力,承受2秒钟。 三防手机:手机开机,整个正、反面施加80kgf的压力,承受2秒钟 1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能 2.手机正面向上正常放置在水平测试钢台上,对手机整个正面施加规定的压力,停留两秒钟。 3.手机正面向下正常放置在水平测试钢台上,对手机整个背面施加规定的压力,停留两秒钟。 4.每完成一步对样机进行检查(检MMI),测试完成进行终检(检MMI、通话、外观……) 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 载重测试压块面积应与手机相当且压块与手机间应加垫1~2mm泡棉 测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常(重点关注LCD性能)。 Reliability_test_002 载重测试(软载重) 普通手机/触摸屏手机开机状态下,整个正面施加70kgf的压力,承受2秒钟。 1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.普通手机/触摸屏手机开机状态下,整个正面施加70kgf的压力,承受2秒钟。 3.测试完成进行终检(检MMI、通话、外观……) 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 软载重测试压块面积应与手机相当或大于手机,且压块为硅橡胶压头(测试压头硅橡硬度应在肖氏70±5度)。 Reliability_test_003 挤压测试 (1)0.5kgf,挤压中心点,不允许出现水印(2)10kgf,金属棒压头(杆直径8mm,压头弧半径10mm),挤压如下位置,屏幕9个点,听筒位置,FPC位置,sensor位置,芯片上方各一次;4.5kgf,摄像头中心点;10kgf,2s,IC中心,IC两侧各5次(压头以10mm/min的速度施加力)翻盖机内屏不挤压1)试验前,对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能; 2)将产品固定在测试平台上,样品与测试平台之间需要放置3mm厚的防静电皮(静电皮的尺寸要大于产品的尺寸)。产品两端用夹具固定(夹具压产品部分需要有3mm 厚的防静电皮);3)首先用0.5kgf力,挤压中心点一次,不允许出现水印。4)按照测试力的要求,顺序测试(A1-A9,B1-B3,听筒位置,FPC位置,sensor位置,芯片上方,摄像头); 4)每完成一次测试后需要检查产品机械功能,测试完成后要机械、电子性能及通话功能检查;参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例6 测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常。 Reliability_test_004 弯折测试 正面、背面能承受13kgf压力,停留两秒钟后返回,正反面重复此操作各250次 1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能 2.手机开机,正面向上放置在支撑夹具上,用直径20mm的压头,13kgf压力,50-60 次/min的速度压手机中心部位。重复此操作250次。 3.手机开机,背面向上放置在支撑夹具上,用直径20mm的压头,13kgf压力,50-60次/min的速度压手机中心部位。重复此操作250次。 4.测试完成进行终检(检MMI、通话、外观……)参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 两端支撑点应尽可能相互远离。每完成一步测试需检查手机机械电气功能。 Reliability_test_005 扭曲测试 开机状态下承受数值为其厚度(取mm为数值单位)的0.12倍,单位为N.m的扭矩(最大不超过2 N.m,最小不小于0.5N.m)扭曲500往复。1)试验前,对产品初步检查确保正常的电气和机械性能; 2)产品锁键盘后,听筒端装夹在设备固定的一端(夹持距离为15mm,四向固定),另一端固定在旋转一侧(夹持距离为15mm,垂直LCD面双向固定); 3)按标准进行测试完成后,检查产品机械、电气性能。 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 1)测试中出现电池故障记录现象,更换新电池继续测试;1、北美、日本手机产品采用E标 2、其他地域的手机,由产品线在CDP时根据产品策略、定位,决策选择哪种标准 3、FP所有产品(不论发货市场和地域):由产品线在CDP时根据产品策略、定位,决策选择哪种标准,建议选择B标Reliability_test_006 软压测试 测试压力:25kgf 测试次数:2000次(横向正面、横向反面、竖向正面、竖向反面各500次) 测试速度:电动设备10 mm/S,气动设备 15次/分钟压头:硅橡胶挤压头(肖氏70±5度) 1)试验前,对产品初步检查确保正常的电气和机械性能; 2)将产品开机锁住键盘正面朝上放置在帆布上并用布带将样品紧固(机身与固定支架的轴向垂直),进行标准压力的寿命测试; 3)将产品开机锁住键盘背面朝上放置在帆布上并用布带将样品紧固(机身与固定支架的轴向垂直),进行标准压力的寿命测试; 4)将产品开机锁住键盘正面朝上放置在帆布上并用布带将样品紧固(机身与固定支架的轴向平行),进行标准压力的寿命测试; 5)将产品开机锁住键盘背面朝上放置在帆布上并用布带将样品紧固(机身与固定支架的轴向平行),进行标准压力的寿命测试; 6)每完成一步测试后需要检查手机机械电气功能,测试完成后要检查产品通话功能; 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 开机-锁键盘/屏幕-正面向上1000次-功能检测-正面向上1000次-功能检查结束 Reliability_test_007 常温受控跌落(1)4.0寸以下产品,跌落次数2轮*(6面),0.3m +1.2m; 4.0寸(含)-4.7寸产品,跌落次数2轮*(6面),0.3m + 1m; 4.7寸(含)- 5.0,跌落次数2轮*(6面),0.3m +0.8m; (千元智能机的跌落高度定为0.3m+0.8m,2轮*6面) (2)4.0寸(含)以上产品以及千元智能机,3个新样本,进行1.2m的跌落测试,1轮*6面,不允许出现LCD IC,BGA,连接器松脱失效,其他失效不予判定。 (3)5.0寸以上的,跌落次数:2轮*(6面),0.3m +0.7m; 问题级别定义:跌落用B标的问题级别判定LCD屏裂和TP lens裂问题 (4)FP:2轮*(6面),0.3m + 1m;跌落面为大理石面 1.试验前,对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能; 2.每次跌落前用吸尘器或刷子清洁测试台面; 3.跌落顺序按照测试规范进行; 4.每跌落一轮检查主要功能:电气、机械、射频、音频(音频、射频可用通话代替); 5.每一次跌落前需检查产品结构件是否分开,如有手动恢复后测试; 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例13 1)设备校准: 下降速度/冲击的影响应等同于指定高度的自由落体(如1.0米,1.5M等); 每年对设备进行检查,调整,定期校准,以维持所需的性能和精度; 定期检查跌落速度对照表,建议每6个月用高速摄影进行校验一次; 2)测试过程中,允许存在不碰到跌落夹具(不含试验台面与侧面挡板)的二次及以上碰撞; 3)跌落台面检查,如果表面存在腐蚀、凹坑应该进行更换; 4)跌落高度:指试验样品在跌落前悬挂着的时候,试验表面与离它最近的样品部位之间的高度; 5)测试需要增加UIM、SIM、T卡(真卡、假卡都可)等6)测试后立即检查,OLED显示器当时需要检查,24小时后再检查。 Reliability_test_008低温受控跌落 -10度,0.8m,1轮*6面(三防手机1.5m) 1.试验前,对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能; 2.关机放进-10度的温箱中存储2小时,取出不开机进行测试跌落测试(记录放入及取出温箱的时间); 3.将设备调到手动模式进行跌落(一台一台取出 分别在1分钟内跌落完成),每次跌落前用吸尘器或刷子清洁测试台面; 4.跌落顺序按照测试规范进行; 5.每次跌落只检查产品的机械性能,测试结束后2小时检查产品机械、电气性能; 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 1)测试不需要增加UIM、SIM、T卡(真卡、假卡都可以)等; 2)OLED显示器当时需要检查,24小时后再检查;3)其它细节参考常温受控跌落要求; Reliability_test_009 滚筒跌落 (1)10pcs样本:0.5m-100次+1m-100次,50次检查一次(2)10pcs样本1m-100次。50次检查一次 (3)(1)和(2)的ok的样本继续进行1m测试直至全部失效,上限1000次(供开发参考发现薄弱点,提升可靠性设计) 1)测试之前,全面检查; 2)开机放入测试设备内(滑盖、翻盖,打开与合上各半),转速设置,使产品直接跌落到测试地面的中心(转速设定参考值:1m(10-12次/分)、0.5m(16- 18次/分)); 3)考虑胶带的位置将力学的影响降到最低, 4) 全面检查:0、50、100、150、200、300、400、600、800、1000检查点,确保正常的电气和机械性能,测试完成后,需要对OK样本进行拆机检查。 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例20 1)测试前检测并清理滚筒内异物,每50次测试后,检测并清理滚筒内异物(统一吸尘器处理一下)。 测试中如果有部件脱落找不见应该停止测试,清理完设备后再继续测试; 2)滚筒设备要求同GB/T 2423.8-1995,如下图(滚动斜面部分要有白色聚四氟滑块); 3)设备必须要接地处理,避免静电产生伤害操作员与设备; Reliability_test_010 转轴按压测试 测试力量:5kg 压力;测试速度:60mm/min; 测试位置:产品翻盖打开后背面转轴位置,每次停留时间2S,重复50次1)试验前,对产品初步检查确保正常的电气和机械性能; 2)将产品翻盖打开后背面朝上放在测试平台上(转轴中心点对准测试夹具); 3)设置测试设备参数,按标准进行测试完成后,检查产品机械、电气性能及通话检查; 参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3 手工按压-功能检查 Reliability_test_011 按键耐久测试1)测试前对样机初检,保证样机机械电气功能正常,对测试前样机按键力进行测量; 2)手机开机,使用直径12(6)mm,的橡胶头模拟人手指按压手机键盘; 3)测试标准20%、40%、60%、80%寿命时,检查Keypad有无破裂,磨损,按键的烤漆是否有脱落,印刷字体是否依然清晰,按键功能是否正常; 4)测试标准60%、80%寿命时,取下产品进行全功能检查,含通话。5)测试完成后,检查样机电气功能并测量样机按键力;6)PTT按键测试瞬间按键: 测试前对样机初检,保证样机机械电气功能正常,对测试前样机按键力进行测量; 手机开机,使用直径12mm,肖氏硬度50度的橡胶头模拟人手指按压手机键盘; 每10万次需检查Keypad有无破裂,磨损,按键的烤漆是否有脱落,印刷字体是否依然清晰。按键功能是否正常; 测试完成后,检查样机电气功能并测量样机按键力; 持续按键: 测试前对样机初检,保证样机机械电气功能正常,对测试前样机PTT按键力进行测量; 手机开机,使用直径12mm,肖氏硬度50度的橡胶头模拟人手指按压手机PTT键。对PTT按键施加的按键压力为2.5kgf,保持1min后松开,共测试5000次; 每1000次需检查Keypad有无破裂,磨损,按键的烤漆是否有脱落,印刷字体是否依然清晰。按键功能是否正常; 测试完成后,检查样机电气功能并测量样机按键力;7)power键: 测试前对样机初检,保证样机机械电气功能正常,对测试前样机按键弹力进行测量 手机开机,使用直径6mm,邵氏硬度55度的硅胶点击头,点击手机Power键中心,点击头底部离power键的距离为5mm,点击力为5±1N。按0.5秒,松开时间0.5秒。 点击键万次(万次中间检查)参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例6 要求一次测试中同时包含功能键,侧键,导航键、数字键以及其他按键 Reliability_test_012 翻盖/滑盖耐久性测试翻盖耐久: 常温翻盖耐久:手机开机以30~40次/分的速度进行翻盖,共进行7万次。 滑盖耐久: 手机开机以30~40次/分的速度进行滑盖,共进行7万次。 1.测试前对手机初检,保证手机机械电气功能正常,保证翻盖功能正常。 2.设置手机完成一次开合测试的时间为一秒,设置总开合次数为7万次。 3.每一万次检查翻/滑盖的手感,外观,手机电气功能并记录异常情况。5.测试中可用翻/滑盖的开合来控制的手机功能均应处于打开状态。参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例10 1.手机在翻/滑盖动作中,应尽量模拟实际使用过程中的翻盖情况,在手机装夹时要采取防颤动措施。测试时以不发生明显的数次颤动弹跳现象为宜 2.翻盖测试时应让手机转轴轴心跟翻盖设备轴心重合,打开或者关闭时应让翻/滑盖依靠转轴弹力自由打开或关闭Reliability_test_013 触摸屏点击耐久测试 触摸笔垂直于触摸屏方向,以2±0.5N压力进行80 万次点击。每1万次检查一次。触摸按键位置需要 覆盖一遍 1)测试前对手机进行初检,保证机械功能和电气性能正常; 2)将手机和触摸笔装夹在测试设备上,将触摸笔垂直于触摸屏方向,以2±0.5N压力,点击触摸屏80万次。每10万次对触摸屏进行清洁,并检查手机机械和电气功能,记录检验数据; 测试完成后手机机械电气功能正常。触摸屏使用功能无异常,显示屏显示正常,触摸屏 无损伤,破裂。触摸笔头部无变形,扭曲, 损伤。3 电阻屏必须使用配套的触摸笔,电容屏的用电容头测试,2.5N压力,每10w次检查功能 Reliability_test_014 触摸屏手写耐久测试 触摸笔垂直于触摸屏方向,以250gf压力进行10万次往复。每1万次检查一次 该测试只针对电阻式触摸屏,电容式触摸屏不作要求。1)测试前对手机进行初检,保证机械功能和电气性能正常; 2)将手机和触摸笔装夹在测试设备上,将触摸笔垂直于触摸屏方向,以250gf压力,沿触摸屏的对角线,进行10万次往复的划线测试。每1万次对手机进行机械和电气功能检查并记录检验数据;测试完成后手机机械电气功能正常。触摸屏使用功能无异常,显示屏显示正常,触摸屏无损伤,破裂。触摸笔头部无变形,扭曲, 损伤。3 电阻屏必须使用配套的触摸笔 Reliability_test_015触摸笔插拔耐久测试 触摸笔与手机笔槽插拔1万次 1. 测试前保证触摸笔和手机笔插槽机械功能正常,插拔功能正常,不可有物理损坏。 2.将触摸笔从手机笔槽完全拔出,再将触摸笔完全装入手机笔槽,以上记为插拔一次,共进行1万次插拔 3.测试完成进行终检(检外观) 测试完成后触摸笔和手机笔槽机械功能正常。 触摸笔和手机笔槽不可有物理损坏,无不可恢复变形,插拔功能正常3 手工测试,1w次 Reliability_test_016 触摸笔伸缩耐久测试 将触摸笔伸缩测试10000次 1.测试前保证触摸笔机械功能正常,不可有物理损坏。2.将触摸笔伸缩测试1万次 3.测试完成进行终检(检外观、伸缩性能) 测试完成后触摸笔机械功能正常。 触摸笔不可有物理损坏,无不可恢复变形,伸缩功能正常,能正常装入手机笔槽 3 手工测试,1w次 Reliability_test_017 天线强度测试 拉力: 50N,2秒,20次;注:测试点离顶端5mm。扭力:30N.cm,2秒,20次注:测试点离顶端5mm。 侧压:20N,2秒,4个方向各5次;注:测试点离顶端5mm。 1.对样品初检,通过屏蔽盒耦合测试手机灵敏度,最大功率。 2. 取一个样品进行拉力测试:拉力大小为50N,方向为沿天线轴线向上,作用时间2秒,做20次。 3. 取一个样品进行扭力测试:在天线顶部用扭力计顺时针方向施加30N*cm的扭力,作用时间2秒,做20次。 4.取一个样品进行侧压力测试:手机正面向上,在离天线顶部约5mm处施加20N压力,作用时间2秒,4个方向各五次。 5. 测试完成后通过屏蔽盒耦合测试手机灵敏度及最大功率天线不可有物理损坏。测试前后最大功率、灵敏度不能相差超过2dB 6 Reliability_test_018 吊饰孔拉力测试 用钓鱼线悬挂,拉断吊饰孔的拉力≥10kgf并且≤30kgf 1.对手机初检,保证手机吊饰孔无破裂。 2. 将钢丝从手机吊饰孔中穿过,手机处于正常悬挂状态。 3.测量钢丝将吊饰孔拉断裂所需要的力 拉断吊饰孔的拉力≥10kgf并且≤30kgf为合格 3 Reliability_test_019 按键帽拉拔力测试 用垂直拉力将按键帽拉出,记录按键最小拔出力. 1.对样品初检,保证按键安装到整机上且功能正常; 2.将线扣用胶水粘在按键帽上,固定线扣,在速度为0.5mm/s的情况下用拉力计拉拔按键帽; 3.拉力最大达到0.7kgf. 0.7kgf,按键不允许脱胶,硅胶不允许破裂,不允许出现因为胶粘变化而产生的不可恢复的按键变形10 Reliability_test_020 插孔保护盖抗拉测试 1.2kgf的拉力,保持10秒,共进行10次 1.初检,保证手机的耳机及充电器插孔保护盖无破损。 2.打开保护盖,以1.2kgf的拉力垂直手机侧面拉保护盖的一端,保持10秒。 3.重复第2个步骤10次,完成测试。 保护盖不应断裂或从手机中被拉出。保护盖不能出现不能恢复变形 3Reliability_test_021LCD Lens硬度测试 参考镜片测试标准参考镜片测试标准 参考镜片测试标准3 Reliability_test_022 Lens拉拔力测试 一、3pcs: 拉拔力:50N,速度20mm/min 二、3pcs(试行): (1)温度冲击:低温-40度 1h 70度 1h 共6个循环 12h,放置2小时 (2)拉拔力:50N,速度20mm/min 翻盖机内LENS不做要求 1.3pcs做温度冲击,3pcs不做温度冲击 2.3pcs温度冲击之后,在常温下放置2h之后,将6pcs手机正面朝上固定在平面上 3.拉拔lens,直至失效或者力达到50N 1.拉拔力满足要求 2.温度冲击后:LENS不脱落,翘起,lens和外壳间不允许有合缝分离,脱胶。(温度冲击后需首先检查TP lens是否有变形浮起等,再进行拉拔力) 6 Reliability_test_023 弹簧锤测试 用弹簧锤以0.2J的能量冲击手机屏幕视窗表面上的9个位置 对手机初检,保证手机功能完好,外观正常。; 2)开机放在刚性测试平台上(刚性台面厚度大于30mm); 3)用弹簧锤从标准要求的能量冲击各指定位置1次(用钢球从标准要求的高度落下冲击各指定位置1次) 4)每次测试后,检查产品机械、电气性能 手机机械电气性能正常。触摸屏功能正常,无破裂,无不可恢复的显示异常。3 1)钢珠尺寸:直径Φ32mm,质量130g的不锈钢球2)钢珠不能存在可见的缺陷,避免尖峰撞击产品3)测试高度误差要小于±1毫米 4)跌落高度要根据手机厚度进行调整,确保跌落高度为测试高度; 5)测试位置:LCD 显示区域9个点(如图) Reliability_test_024 连接器强度测试 插头应完全插入到连接器中,按图所示的各方向,进行测试: 1.F1/F2(+/-Y) =35N(充电器)/30N(耳机) 2.F3,F4(+/-X) =35N(充电器)/30N(耳机) 3.F5(+Z) =100N F1和F2方向的测试均采用新样品测试,F3-F5方向视情况进行互用 施力点为接口到SR处15mm,测试速度:5mm/min 1.初检,保证测试样品机械、电气功能正常; 2.固定样品在规定的施力点施加规定的力 3.测试完成先进行机械、电气性能确认,在拆机检查各焊接点的机械性能手机和连接器无任何功能失效,插头插入连接器中的配合正常,拔出与插入动作正常 检查手机功能:开机、充电、用配件检查连接器功能(例如,耳机、数据线传输数据等) 在规定的力作用下连接器不能有损坏;弹片不能损坏或严重变形; 拆机检查,连接器与PCB或FPC的焊接处无裂纹; 每个方向3PCS Reliability_test_025 MicroB旋转测试 4.5N负重 90、180度、270度、360度各负重一次保持2s 1.测试前初检,保证充电器、数据线在测试前机械电气性能正常, 2.将充电器、数据线插入对应产品中, 3.如图所示在线材端50cm内附加450g的配重, 4.使产品和线材处于不同角度的状态(90、180度、270度、360度)保持2s 5.在每个角度要检查产品的连接是否会断开。 在每个角度产品和数据线之间的连接不允许有断开的现象,充电器、线材接口不允许有不可恢复的变形, 3 1.次试验只针对Micro-B的连接器。 2.每个角度的测试样品必须保证样品装配到位, Reliability_test_026 连接器耐久测试 插头应完全插入到连接器中;按图所示的F1/F2,进行测试: 测试力:F1=F2=1kgf 测试次数:2000次(往复算一次);施力点为接口到SR处15mm 测试速度:10-15次/min 1.初检,保证测试样品机械、电气功能正常; 2.固定样品在规定的施力点施加规定的力按压连接器规定次数 F1和F2方向交替进行测试,每1000次需要进行检查 3.测试完成先进行机械、电气性能确认,再拆机检查各焊接点的机械性能 手机和连接器无任何功能失效,插头插入连接器中的配合正常,拔出与插入动作正常 检查手机功能:开机、充电、用配件检查连接器功能(例如,耳机、数据线传输数据等) 在规定的力作用下连接器不能有损坏;弹片不能损坏或严重变形; 拆机检查,连接器与PCB或FPC的焊接处无裂纹; 3 手机强度类测试

嵌入式系统最小系统硬件设计

引言 嵌入式系统是以应用为中心,软件硬件可裁剪,适应应用系统对功能、可靠性、成本、体积、功耗等综合性严格要求的专用计算机系统。本文主要研究了基于S3C2410的嵌入式最小系统,围绕其设计出相应的存储器、总电源电路、复位电路等一系列电路模块。 嵌入式最小系统 嵌入式最小系统即是在尽可能减少上层应用的情况下,能够使系统运行的最小化模块配置。以ARM内核嵌入式微处理器为中心,具有完全相配接的Flash电路、SDRAM电路、JTAG电路、电源电路、晶振电路、复位信号电路和系统总线扩展等,保证嵌入式微处理器正常运行的系统,可称为嵌入式最小系统。对于一个典型的嵌入式最小系统,以ARM处理器为例,其构成模块及其各部分功能如图1所示,其中ARM微处理器、FLASH和SDRAM模块是嵌入式最小系统的核心部分。

微处理器——采用了S3C2410A ; 电源模块——本电源运用5V 的直流电源通过两个三端稳压器转换成我们所设计的最小系统所需要的两个电压,分别是3.3V 和1.8V ,3.3V 的给VDDMOP ,VDDIO,VDDADC 等供电,而1.8V 的给VDDi 和RTC 供电。 时钟模块(晶振)——通常经ARM 内部锁相环进行相应的倍频,以提供系统各模块运行所需的时钟频率输入。32.768kHz 给RTC 和Reset 模块,产生计数时钟,10MHz 作为主时钟源; Flash 存储模块——存放嵌入式操作系统、用户应用程序或者其他在系统掉电后需要保存的用户数据等; SDRAM 模块——为系统运行提供动态存储空间,是系统代码运行的主要区域; 复位模块——实现对系统的复位; 1.8V 电源LDD 稳压 SDARM 32MB (use JTAG 接口 REST 电路256字 节E2PROM E2PROM UART 串口功能扩展 32768Hz 晶振RTC 时钟源 S3C2410A-20 (ARM920T) (16KB I-Cache,16KB D-Cache) SDARM 32MB (use NOR FLASH 2MB (use

可靠性试验分析及设计

ji 第四章(44) 可靠性试验与设计 四、最小二乘法 用图估法在概率纸上描出[],()i i t F t 点后,凭目视作分布检验判别所作的回归直线往往因人而异,因此最好再通过数值计算求出精确的分布检验结论和求出数学拟合的回归直线。通常用相关系数作分布检验,用最小二乘法求回归直线。 相关系数由下式求得: ()() n i i X X Y Y γ--= ∑ 其中X,Y 是回归直线的横坐标和纵坐标,它随分布的不同而不同。下表是不同分布的 坐标转换 只有相关系数γ 大于临界值0γ时,才能判定所假设的分布成立。0γ临界系数可查相应的临界相关系数表,如给定显著水平0.05α=,n=10,可查表得00.576γ=。若计算的0γγ,则假设的分布成 立。 如果回归的线性方程为 Y mX B =- 则由最小二乘法得到系数为

1 1 111 221 1??1?1 ()n n i i i i n n n i i i i i i i n n i i i i Y m X B N X Y X Y N m X X N =======-+=-=-∑∑∑∑∑∑∑ 代入上表中的不同的分布,就可以得到相应分布的参数估计值。 五、最好线性无偏估计与简单线性无偏估计 1、无偏估计 不同子样有不同的参数估计值?q ,希望?q 在真值q 附近徘徊。若?()E q q =,则?q 为q 的无偏估计。如平均寿命的估计为?i t n q =? ,是否为无偏估计? Q 1 [] ?()[]n i i i i t E t E E n n n q q q === = =? 邋 \ ?q 为q 的无偏估计 2、最好无偏估计定义 若?k q 的方差比其它无偏估计量的方差都小,即?()min ()k k D D q q =,则?k q 为最好无偏估计。 3、线性估计定义 若估计量?q 是子样的一个线性函数,即1 ?n i i i a q ==C ? ,则称?q 为线性估计。 4、最好线性无偏估计 当子样数25n £时,通过变换具有()F m s C -形式的寿命分布函数,其,m s 的最好线性无偏估计为: 1 ?(,,)r j i D n r j X m ==? ?(,,)j C n r j X s =? 其中(,,),(,,)D n r j C n r j 分别为,m s 的无偏估计,有了,,n r j 后,可有专门表格查无偏系数(,,),(,,)D n r j C n r j 。

企业网络安全风险分析及可靠性设计与实现研究

企业网络安全风险分析及可靠性设计 与实现研究 摘 要:现今,伴随信息、通信技术的完善,网络攻击技术的革新,网络安全问题日益显现。网络安全的管控,可以从侧面反映网络的安全状态,确保企业的网络安全。网络的安全性,关系企业的长远发展问题,同时也会间接影响社会的发展,作为企业的管理者我们应确保企业网络的安全,进而提高企业的经济效益。因此,本文就从网络安全风险分析、网络可靠性设计、企业网络安全的实现几方面进行一定的探讨,期望可以为企业的正常运行提供一定的帮助。 关键词:企业;网络风险分析;可靠性设计与实现现今,伴随信息、通信技术的完善,计算机网络中信息与数据的汇聚,都给人们的生活带来了极大的便捷性。经由网络系统,不仅提高了企业信息保存、传输的速度;提高了市场的反映速度;还带动了企业业务的新发展。企业内部中的网络信息,在现实运用中都实现了资源共享[1]。但是,在资源共享的前提下,就存在企业内部机密的安全性问题,尤其是现今的网络安全问题频发,我们更应提高对于企业的网络安全问题的关注度。因此,本文就对企业网络安全进行一定的探讨,期望可以对企业的正常运行提供有效帮助。 1网络安全风险分析 1.1安全威胁的分类 网络安全威胁,具体就是指潜在的、会对企业资产形成损失的安全问题。导致安全威胁的因素诸多,具体分类为:恶意攻击;系统软件问题;自然灾害;人为因素等[2]。

1.2网络系统安全影响因素[3] 1.2.1缺乏完善的管理体系 完善的网络管理体系,不单需要投入大量的网络设备,同时也要求有技术的支持。网络安全建设,其主要因素还应建立规范的网络安全管理机制。在任何企业,为了有效的保证网络的安全性,都应注重管理与技术的结合。在企业中,应注重员工的安全教育,同时管理者应依据现实状况,不断的完善企业的管理制度。 1.2.2缺乏网络安全知识 企业中的员工,其安全防范意识欠缺,对于网络安全知识认识较少,常会因个人信息的丢失,导致公司机密文件的泄漏。企业的网络安全,关系到企业的长远发展策略,因此公司应增强员工的安全知识教育,从根本上确保公司的网络安全。首先,企业员工在获取资源时,应该警惕病毒的侵入,防患于未然。其次,企业员工应该对于网络程序的安全性,有自己的初步判断能力,同时安装防病毒软件,并定时进行更新。第三,企业员工中对于文件的管理,应该注重文件的安全问题,应由员工自己管理文件,并设置权限。 1.2.3网络拥塞 网络拥塞,具体讲就是指当用户对网络资源的需求量,超过了网络固有容量的时候,出现的一种网络过载的状况[4]。企业员工的访问时间;交换机与路由器的端口传输速率等,都是造成网络拥塞的原因。当企业中出现网络拥塞的情况,就会出现数据不能进行转发,进而影响正常的网络运转工作,因此,企业在网络管理中,应依据这一情况制定合理的规划。 1.2.4系统漏洞的问题 现今,多数企业都是应用TCP/IP

相关文档
最新文档