使用NetTerm软件接入NetTerm中的参数配置(存储地址10.10.10.10)
接入密码(默认为空值) 进入配置主界面
配置raid（主柜1个raid，扩展柜一个raid）
建立raid 选择raid类型
选择raid中的磁盘该raid一共15块盘
关于该raid的一些基本信息点yes创建
一共创建了2个raid(都是raid5) 为2个raid分别配置一块热备盘(主柜的第16
块,扩展柜的第12块。)
配置本地热备盘选择该热备盘所属raid
在WEB模式下（在浏览器地址栏中输入存储地址10.10.10.10，用户名选configuration，密码为空），可以看到+字符，表示热备盘已经配置好了。
为2个raid建立卷组
选择建立的卷组所属的raid
卷组的一些基本信息（可更改）
卷组创建好后，需要划分成卷（如果只创建卷组，没有划卷，在映射的时候会出现不能映射）
为卷划分容量为卷起名字，方便识别
为服务器映射卷首先应识别HBA卡地址，并将其保存
创建HBA卡地址列表添加HBA卡地址
选择HBA卡地址为HBA地址命名
进入所选通道配置映射映射的2种方式（映射通道或HBA地址）
映射创建成功
寄存器和存储器的区别
https://www.360docs.net/doc/0d863993.html,/p-20032411.html
寄存器和存储器的区别
如果仅是讨论CPU的范畴 寄存器在cpu的内部，容量小，速度快 存储器一般都在cpu外部，容量大，速度慢 回答者：athlongyj - 高级经理六级6-1 08:52 从根本上讲，寄存器与RAM的物理结构不一样。 一般寄存器是指由基本的RS触发器结构衍生出来的D触发， 就是一些与非门构成的结构，这个在数电里面大家都看过； 而RAM则有自己的工艺，一般1Bit由六MOS管构成。所以， 这两者的物理结构不一样也导致了两者的性能不同。寄存器 访问速度快，但是所占面积大。而RAM相反，所占面积小， 功率低，可以做成大容量存储器，但访问速度相对慢一点。 1、 寄存器存在于CPU中，速度很快，数目有限； 存储器就是内存，速度稍慢，但数量很大； 计算机做运算时，必须将数据读入寄存器才能运算。 2、 存储器包括寄存器, 存储器有ROM和RAM 寄存器只是用来暂时存储,是临时分配出来的,断电,后,里面的内容就没了`````
寄存器跟存储器有什么区别？ 一般数据在内存里面，要处理（或运算）的时候， 独到寄存器里面。 然后CPU到寄存器里面拿值，拿到运算核内部， 算好了在送到寄存器里面 再到内存 寄存器跟存储器有什么区别？ 寄存器跟存储器有什么区别？ 寄存器上：“一个操作码+一个操作数”等于一条微指令吗？一条微指令是完成一条机器指令的一个步骤对吗？cpu是直接跟寄存器打交道的对吗？也就是说寄存器是运算器、控制器的组成部分对不？ 设计一条指令就是说把几条微指令组合起来对吗？ 刚开始学硬件相关知识，学的晕头转向的！！ 存储器与寄存器区别 2009-06-09 12:27 寄存器是CPU内部存储单元，数量有限，一般在128bit内，但是速度快，CPU访问几乎没有任何延迟。分为通用寄存器和特殊功能寄存器。 通常说的存储器是独立于cpu之外的，比如内存，硬盘，光盘等。 所有数据必须从存储器传入寄存器后，cpu才能使用。
实验一 存储器实验
实验一存储器实验 1.FPGA中LPM_ROM定制与读出实验 一.实验目的 1、掌握FPGA中lpm_ROM的设置,作为只读存储器ROM的工作特性与配置方法。 2、用文本编辑器编辑mif文件配置ROM,学习将程序代码以mif格式文件加载于 lpm_ROM中; 3、在初始化存储器编辑窗口编辑mif文件配置ROM; 4、验证FPGA中mega_lpm_ROM的功能。 二.实验原理 ALTERA的FPGA中有许多可调用的LPM (Library Parameterized Modules)参数化的模块库,可构成如lpm_rom、lpm_ram_io、lpm_fifo、lpm_ram_dq的存储器结构。CPU 中的重要部件,如RAM、ROM可直接调用她们构成,因此在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB 可以构成各种结构的存储器,lpm_ROM就是其中的一种。lpm_ROM有5组信号:地址信号address[ ]、数据信号q[ ]、时钟信号inclock、outclock、允许信号memenable,其参数都就是可以设定的。由于ROM就是只读存储器,所以它的数据口就是单向的输出端口,ROM中的数据就是在对FPGA现场配置时,通过配置文件一起写入存储单元的。图3-1-1中的lpm_ROM有3组信号:inclk——输入时钟脉冲;q[23、、0]——lpm_ROM的24位数据输出端;a[5、、0]——lpm_ROM的6位读出地址。 实验中主要应掌握以下三方面的内容: ⑴ lpm_ROM的参数设置; ⑵ lpm_ROM中数据的写入,即LPM_FILE初始化文件的编写; ⑶lpm_ROM的实际应用,在GW48_CP+实验台上的调试方法。 三.实验步骤 (1)用图形编辑,进入mega_lpm元件库,调用lpm_rom元件,设置地址总线宽度address[] 与数据总线宽度q[],分别为6位与24位,并添加输入输出引脚,如图3-1-1设置与连接。 (2)设置图3-1-1为工程。 (3)在设置lpm_rom数据参数选择项lpm_file的对应窗口中(图3-1-2),用键盘输入 lpm_ROM配置文件的路径(rom_a、mif),然后设置在系统ROM/RAM读写允许,以便能
磁粉检测中的连续法
磁粉检测中的连续法 采用连续法时，被检工件的磁化、施加磁粉的工艺及观察磁痕显示都应在磁化通电时间内完成，通电时间为1s～3s，而又要求磁粉要以云雾状形式缓慢施加到工件表面，形成薄而均匀的覆盖层，防止磁粉堆积。 详细分解： 1、连续法-在外加磁场磁化的同时，将磁粉或磁悬液施加到工件上进行磁粉检测的方法。 2、应用范围 1）适用于所有铁磁性材料和工件的磁粉检测。 2）工件形状复杂不易得到所需剩磁时。 3）表面覆盖层较厚的工件。 4）使用剩磁法检验时，功率达不到时。 3、操作程序 1）在外加磁场作用下进行检验（用于光亮工件）。 预处理→磁化（浇磁悬液→检验）→退磁→后处理 2）在外加磁场中断后进行检验（用于表面粗糙的工件） 预处理→磁化（浇磁悬液）→检验→退磁→后处理 4、操作要点 （1）湿连续法先用磁悬液润湿工件表面，在通电磁化的同时浇磁悬液，停止浇磁悬液后再通电数次，待磁痕形成并滞留下来时停止通电，再进行检验。
（2）干连续法对工件通电磁化后开始喷洒磁粉，并在通电的同时吹去多余的磁粉，待磁痕形成和检验完后再停止通电。 5、优点 1）适用于任何铁磁性材料。 2）最高的检测灵敏度。 3）可用于多向磁化。 4）交流磁化不受断电相位的影响。 5）能发现近表面缺陷。 6）可用于湿法和干法检验。 6、局限性 1）效率低 2）易产生非相关显示。 3）目视可达性差 JB/T4730-2005中磁粉检测条形显示按长度评定，而在实际工作中，产品技术条件中允许条形缺陷的存在，只要深度不大于0..5mm，仍算合格，对于此类产品的无损检测，由于两个标准的评价标准的不同，如果按照JB/T4730-2005，一些按照技术条件合格的产品会被判废，但磁粉又不能检测出表面缺陷深度，对于此类问题，不知同行有什么好的解决办法？我们目前采用打磨的办法打磨一定深度，用塞尺检查打磨深度。
存储器测试方法与设计方案
本技术公开了一种存储器测试方法，包括以下步骤：激活操作系统，令系统进入存储器测试的保护模式；在存储器中创建一地址转换页表；判断待测存储器的物理地址空间是否超过 4GB；若是，激活地址转换页表，将系统给定的32位线性地址转换为与存储器的实际物理地址相对应，并在系统中央处理器的控制下，依照地址转换页表查询和访问存储器的实际物理地址，且执行存储器检测算法进行存储器测试；若不是，则在系统中央处理器的控制下，直接访问与系统的32位线性地址相对应的存储器的实际物理地址，并执行存储器检测算法进行存储器测试。采用本技术可以访问和测试4GB以上存储器地址空间的问题及缺陷，从而在提 高了存储器测试范围的同时节约了测试成本。
技术要求 1、一种存储器测试方法，应用于使用英特尔中央处理器的计算机服务器 系统或个人微电脑系统中的存储器检测过程，其特征在于，该方法包括以下步骤： 激活操作系统，并令系统进入存储器测试的保护模式； 在存储器中创建一地址转换页表结构，用以在后续步骤中将系统给定的 32位线性地址转换成具有4GB以上物理地址空间的存储器的物理地址； 判断所测试的存储器的物理地址空间是否超过4GB； 如超过4GB，则激活所述地址转换页表结构，将系统给定的32位线性地 址转换为与所述存储器的实际物理地址相对应，并在系统中央处理器的控制下，依据该地址转换页表查询和访问所述存储器的实际物理地址，且执行存储器检测算法对该存储器进行测试，并且在完成对所述存储器的实际物理地址的访问及存储器测试后，关闭该地址转换页表结构；以及 如未超过4GB，则不激活所述地址转换页表结构，而在所述系统中央处理 器的控制下，直接访问与系统给定的32位线性地址相对应的所述存储器的实际物理地址，并执行存储器检测算法对该存储器进行测试。 2、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述地址转换页表结构是 基于Intel公司提供的物理地址扩展/页扩展技术而构建的。 3、根据权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括如下步骤： 在存储器的控制缓存器CR3中装载一具有两级页表结构的页映像表； 在存储器的控制缓存器CR4中设定所述线性地址第5位支持所述物理地址 扩展功能，并设定该线性地址第4位的偏移大小；以及
CSC数字式母线保护装置调试方法
C S C-150数字式母线保护装置 调试方法 1. 概述 CSC-150母线保护装置是适用于750kV及以下电压等级，包括单母线、单母分段、双母线、双母分段及一个半断路器等多种接线型式的数字式成套母线保护装置（以下简称装置或产品）。装置最大接入单元为24个（包括线路、元件、母联及分段开关），主要功能包括虚拟电流比相突变量保护、常规比率制动式电流差动保护、断路器失灵保护、母联充电保护、母联失灵及死区保护、母联过流保护、母联非全相保护。装置由一个8U保护机箱和一个4U 辅助机箱构成，8U保护机箱共配置18个插件，包括8个交流插件、启动CPU插件、保护CPU插件、管理插件（MASTER）、开入插件1、开出插件1（含一块正板和一块副板）、开出插件2、开出插件3（含一块正板和一块副板）及电源插件；4U辅助机箱共配置7个插件，包括隔离刀闸辅助触点转接板（2块）、开入插件2、开入插件3、开入插件4、开入插件5、开入插件6，对需要模拟盘显示的用户还会配置一块模拟盘开关位置转接板。 2. 调试与检验项目 2.1 通电前检查 2.2 直流稳压电源通电检查 2.3 绝缘电阻及工频耐压试验 2.4 固化CPU软件 2.5 装置上电设置 a) 设置投入运行的CPU； b) 设置装置时钟； c) 检查软件版本号及CRC校验码； d) 整定系统定值； e) 设置保护功能压板； f) 整定保护定值。 g) 装置开入开出自检功能 2.6 打印功能检查 2.7 开入检查 2.8 开出传动试验
2.9 模拟量检查 a) 零漂调整与检查； b) 刻度调整与检查； c) 电流、电压线性度检查； d) 电流、电压回路极性检查； e) 模入量与测量量检查。 2.10 保护功能试验 a) 各种保护动作值检验和动作时间测量。 b) 整组试验。 2.11 直流电源断续试验 2.12 高温连续通电试验 2.13 定值安全值固化 3. 检验步骤及方法 3.1 通电前检查 a) 检查装置面板型号标示、灯光标示、背板端子贴图、端子号标示、装置铭牌标注完整、正确。 b) 对照装置的分板材料表，逐个检查各插件上元器件应与其分板材料表相一致，印刷电路板应无机械损伤或变形，所有元件的焊接质量良好，各电气元件应无相碰，断线或脱焊现象。 c) 各插件拔、插灵活，插件和插座之间定位良好，插入深度合适；大电流端子的短接片在插件插入时应能顶开。 d) 交流插件上的TA和TV规格应与要求的参数相符。 e) 检查各插件的跳线均应符合表1、表2和表3要求。 表1 CPU板跳线说明
web常用测试方法
一、输入框 1、字符型输入框： （1）字符型输入框：英文全角、英文半角、数字、空或者空格、特殊字符“~！@#￥%……&*？[]{}”特别要注意单引号和&符号。禁止直接输入特殊字符时，使用“粘贴、拷贝”功能尝试输入。 （2）长度检查：最小长度、最大长度、最小长度-1、最大长度+1、输入超工字符比如把整个文章拷贝过去。 （3）空格检查：输入的字符间有空格、字符前有空格、字符后有空格、字符前后有空 格 （4）多行文本框输入：允许回车换行、保存后再显示能够保存输入的格式、仅输入回 车换行，检查能否正确保存（若能，检查保存结果，若不能，查看是否有正常提示）、（5）安全性检查：输入特殊字符串 （null,NULL, ,javascript,,
,<html>,<td>）、输入脚本函数(<script>alert("abc")</script>)、doucment.write("abc")、<b>hello</b>） 2、数值型输入框： （1）边界值：最大值、最小值、最大值+1、最小值-1 （2）位数：最小位数、最大位数、最小位数-1最大位数+1、输入超长值、输入整数（3）异常值、特殊字符：输入空白（NULL）、空格或 "~!@#$%^&*()_+{}|[]\:"<>?;',./?;:'-=等可能导致系统错误的字符、禁止直接输入特殊字符时，尝试使用粘贴拷贝查看是否能正常提交、word中的特殊功能，通过剪贴板 拷贝到输入框，分页符，分节符类似公式的上下标等、数值的特殊符号如∑，㏒，㏑，∏，+，-等、 输入负整数、负小数、分数、输入字母或汉字、小数（小数前0点舍去的情况，多个小数点的情况）、首位为0的数字如01、02、科学计数法是否支持1.0E2、全角数字与半角数字、数字与字母混合、16进制，8进制数值、货币型输入（允许小数点后面几位）、（4）安全性检查：不能直接输入就copy 3、日期型输入框： （1）合法性检查：(输入0日、1日、32日)、月输入[1、3、5、7、8、10、12]、日输入[31]、月输入[4、6、9、11]、日输入[30][31]、输入非闰年，月输入[2]，日期输入[28、29]、输入闰年，月输入[2]、日期输入[29、30]、月输入[0、1、12、13] (2)异常值、特殊字符：输入空白或NULL、输入~！@#￥%……&*（）{}[]等可能导致系统错误的字符 （3）安全性检查：不能直接输入，就copy，是否数据检验出错？ 4、信息重复:在一些需要命名,且名字应该唯一的信息输入重复的名字或ID,看系统有没有处理,会否报错,重名包括是否区分大小写,以及在输入内容的前后输入空格,系统是否 作出正确处理. 二、搜索功能 若查询条件为输入框，则参考输入框对应类型的测试方法 1、功能实现：</p><h2>实验一存储器实验</h2><p>实验一存储器实验 1．FPGA中LPM_ROM定制与读出实验 一．实验目的 1、掌握FPGA中lpm_ROM的设置，作为只读存储器ROM的工作特性和配置方法。 2、用文本编辑器编辑mif文件配置ROM，学习将程序代码以mif格式文件加载于 lpm_ROM中； 3、在初始化存储器编辑窗口编辑mif文件配置ROM； 4、验证FPGA中mega_lpm_ROM的功能。 二．实验原理 ALTERA的FPGA中有许多可调用的LPM (Library Parameterized Modules)参数化的模块库，可构成如lpm_rom、lpm_ram_io、lpm_fifo、lpm_ram_dq的存储器结构。CPU中的重要部件，如RAM、ROM可直接调用他们构成，因此在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB可以构成各种结构的存储器，lpm_ROM是其中的一种。 lpm_ROM有5组信号：地址信号address[ ]、数据信号q[ ]、时钟信号inclock、outclock、允许信号memenable，其参数都是可以设定的。由于ROM是只读存储器，所以它的数据口是单向的输出端口，ROM中的数据是在对FPGA现场配置时，通过配置文件一起写入存储单元的。图3-1-1中的lpm_ROM有3组信号：inclk——输入时钟脉冲；q[23..0]——lpm_ROM的24位数据输出端；a[5..0]——lpm_ROM的6位读出地址。 实验中主要应掌握以下三方面的内容： ⑴lpm_ROM的参数设置； ⑵lpm_ROM中数据的写入，即LPM_FILE初始化文件的编写；</p><p>⑶lpm_ROM的实际应用，在GW48_CP+实验台上的调试方法。 三．实验步骤 （1）用图形编辑，进入mega_lpm元件库，调用lpm_rom元件，设置地址总线宽度address[]和数据总线宽度q[]，分别为6位和24位,并添加输入输出引脚，如图3-1-1设置和连接。 （2）设置图3-1-1为工程。 （3）在设置lpm_rom数据参数选择项lpm_file的对应窗口中（图3-1-2），用键盘输入lpm_ROM配置文件的路径（rom_a.mif），然后设置在系统ROM/RAM读写允许，以便能对FPGA中的ROM在系统读写。 (4) 用初始化存储器编辑窗口编辑lpm_ROM配置文件（文件名.mif）。这里预先给出后 面将要用到的微程序文件：rom_a.mif 。rom_a.mif中的数据是微指令码（图3-1-3）。 （5）全程编译。 （6）下载SOF文件至FPGA，改变lpm_ROM的地址a[5..0]，外加读脉冲，通过实验台上的数码管比较读出的数据是否与初始化数据(rom_a.mif中的数据)一致。 注：下载sof示例文件至实验台上的FPGA，选择实验电路模式仍为NO.0，24位数据输出由数码8至数码3显示，6位地址由键2、键1输入，键1负责低4位，地址锁存时钟CLK由键8控制，每一次上升沿，将地址锁入，数码管8/7/6/5/4/3将显示ROM 中输出的数据。发光管8至1显示输入的6位地址值。</p><h2>软件检验测试的各种方法介绍</h2><p>2.集成测试</p><p>集成测试，英文是Integration Testing。 集成测试是指一个应用系统的各个部件的联合测试，以决定他们能否在一起共同工作并没有冲突。部件可以是代码块、独立的应用、网络上的客户端或服务器端程序。这种类型的测试尤其与客户服务器和分布式系统有关。一般集成测试以前，单元测试需要完成。 集成测试是单元测试的逻辑扩展。它的最简单的形式是：两个已经测试过的单元组合成一个组件，并且测试它们之间的接口。从这一层意义上讲，组件是指多个单元的集成聚合。在现实方案中，许多单元组合成组件，而这些组件又聚合成程序的更大部分。方法是测试片段的组合，并最终扩展进程，将您的模块与其他组的模块一起测试。最后，将构成进程的所有模块一起测试。此外，如果程序由多个进程组成，应该成对测试它们，而不是同时测试所有进程。 集成测试识别组合单元时出现的问题。通过使用要求在组合单元前测试每个单元，并确保每个单元的生存能力的测试计划，可以知道在组合单元时所发现的任何错误很可能与单元之间的接口有关。这种方法将可能发生的情况数量减少到更简单的分析级别 3.冒烟测试 冒烟测试，英文是Smoke testing。 冒烟测试的名称可以理解为该种测试耗时短，仅用一袋烟功夫足够了。也有人认为是形象地类比新电路板基本功能检查。任何新电路板焊好后，先通电检查，如果存在设计缺陷，电路板可能会短路，板子冒烟了。</p><p>冒烟测试的对象是新编译的每一个需要正式测试的软件版本，目的是确认软件基本功能正常，可以进行后续的正式测试工作。冒烟测试的执行者是版本编译人员。 4.系统测试 系统测试，英文是System Testing。 系统测试是基于系统整体需求说明书的黑盒类测试，应覆盖系统所有联合的部件。系统测试是针对整个产品系统进行的测试，目的是验证系统是否满足了需求规格的定义，找出与需求规格不相符合或与之矛盾的地方。 系统测试的对象不仅仅包括需要测试的产品系统的软件，还要包含软件所依赖的硬件、外设甚至包括某些数据、某些支持软件及其接口等。因此，必须将系统中的软件与各种依赖的资源结合起来，在系统实际运行环境下来进行测试。 5.回归测试 回归测试，英文是Regression testing。 回归测试是指在发生修改之后重新测试先前的测试以保证修改的正确性。理论上，软件产生新版本，都需要进行回归测试，验证以前发现和修复的错误是否在新软件版本上再次出现。 根据修复好了的缺陷再重新进行测试。回归测试的目的在于验证以前出现过但已经修复好的缺陷不再重新出现。一般指对某已知修正的缺陷再次围绕它原来出现</p><h2>CAD测量连续线段长度的简单办法</h2><p>测量CAD图中多条线段长度的简单办法 由于在Cad中没有连续测量线段长度的命令，多数人都是利用查询直线命令，将线段一段一段的测量再通过计算器相加，很是麻烦，现介绍两种更为简单实用的多线段测量方法。 1.利用PL命令测量多条线段长度： 使用多段线（pline)命令快捷健pl，连续在测量点上画线，再用(li st)快捷健li命令点这条线确认就会出现该线的属性，可以看到该线段的总长度和该线段区域的面积。 2.利用PE命令测量线段多条线段的长度： 输入：PE回车确认，M回车确认，连续点选要测量的线段后回车确认，Y回车确认，J（闭合）回车二次确认，若线段出现闭合需要再输入O 将闭合打开。此时所有欲测量的线段已经连接为一条多线段，再输入 li(list)，就可以看到线段的总长度和该线段区域的面积了。</p><p>附录：需要熟记的CAD常用快捷键 一、常用功能键 F1: 获取帮助 F2: 实现作图窗和文本窗口的切换 F3: 控制是否实现对象自动捕捉 F4: 数字化仪控制 F5: 等轴测平面切换 F6: 控制状态行上坐标的显示方式 F7: 栅格显示模式控制 F8: 正交模式控制 F9: 栅格捕捉模式控制 F10: 极轴模式控制 F11: 对象追踪式控制 二、常用字母快捷键 A: 绘圆弧 B: 定义块 C: 画圆 D: 尺寸资源管理器 E: 删除 F: 倒圆角 G: 对相组合 H: 填充 I: 插入 S: 拉伸 T: 文本输入</p><p>W: 定义块并保存到硬盘中 L: 直线 M: 移动 X: 炸开 V: 设置当前坐标 U: 恢复上一次操做 O: 偏移 P: 移动 Z: 缩放 AA: 测量区域和周长(area) AL: 对齐(align) AR: 阵列(array) AP: 加载*lsp程系 AV: 打开视图对话框(dsviewer) SE: 打开对相自动捕捉对话框ST: 打开字体设置对话框(style) SO: 绘制二围面( 2d solid) SP: 拼音的校核(spell) SC: 缩放比例 (scale) SN: 栅格捕捉模式设置(snap) DT: 文本的设置(dtext) DI: 测量两点间的距离 OI：插入外部对相 三、常用CTRL快捷键 Ctrl+A:全选 Ctrl+B: 栅格捕捉模式控制(F9)</p><h2>回归测试流程</h2><p>回归测试流程 一、回归测试概念和目的 回归测试是指修改了旧代码后，重新进行测试以确认修改没有引入新的错误或导致其他代码产生错误。 在软件生命周期中的任何一个阶段，只要软件发生了改变，就可能给该软件带来问题。软件的改变可能是源于发现了错误并做了修改，也有可能是因为在集成或维护阶段加入了新的模块。当软件中所含错误被发现时，如果错误跟踪与管理系统不够完善，就可能会遗漏对这些错误的修改；而开发者对错误理解的不够透彻，也可能导致所做的修改只修正了错误的外在表现，而没有修复错误本身，从而造成修改失败；修改还有可能产生副作用从而导致软件未被修改的部分产生新的问题，使本来工作正常的功能产生错误。同样，在有新代码加入软件的时候，除了新加入的代码中有可能含有错误外，新代码还有可能对原有的代码带来影响。因此，每当软件发生变化时，我们就必须重新测试现有的功能，以便确定修改是否达到了预期的目的，检查修改是否损害了原有的正常功能。同时，还需要补充新的测试用例来测试新的或被修改了的功能。为了验证修改的正确性及其影响就需要进行回归测试。 回归测试作为软件生命周期的一个组成部分，在整个软件测试过程中占有很大的工作量比重，软件开发的各个阶段都会进行多次回归测试。在渐进和快速迭代开发中，新版本的连续发布使回归测试进行的更加频繁，而在极端编程方法中，更是要求每天都进行若干次回归测试。因此，通过选择正确的回归测试策略来改进回归测试的效率和有效性是非常有意义的。 二、回归测试范围 在进行回归测试的时候，必须确定回归测试的范围，具体表现为： 1.测试所有修改或修正的功能模块 2.测试与被修改的模块相关的模块 3.测试所有新增加的功能模块 4.测试整个系统。 表现1,2,3中只是进行了部分的回归测试，这样的测试时不健全的，因为在软件系统中，对本地代码的修改可能对整个系统都产生副作用。</p><h2>相变点测试方法</h2><p>TC11钛合金相变点的测定与分析 采用计算法、差示扫描量热法和连续升温金相法3种手段计算和测定了TC11两相钛合金(α+β)/β相变点。计算法由于各元素及杂质元素含量对相变点的影响值是在一个含量范围内的计算值，因此计算的相变点与实测值是接近的；差示扫描量热法由于钛合金和坩埚的化学反应，产生相变滞后现象，导致所测相变温度过高；而连续升温金相法由于淬火温度间隔选择较小，测量的准确性较高，因此更能准确测量TC11钛合金相变温度。 采用sTA449c 一同步热分析仪测量钛及钛合金相变温度，其参比样品为粉末状23A l O ，升温速度为10℃1min -?；保护氩气流量为45 m1 1min -?。测试前，应先在两个样品坩埚内放人等量23A l O 粉末，测定仪器基线符合规定后，即可开始测定正式样品DSC 曲线。 采用连续升温金相法测定相变温度。试样尺寸为10 mm ×10 mm ×10 mm ；在加热试样时为了保证热透，保温时间为60 min 。淬火温度选择范围为990~1040℃，淬火温度间隔为10℃，然后将试样水淬。其中间转移速度不超过2S 。将淬火后的试样制成金相观察试样，在放大倍数为500倍的光学显微镜观察试样组织变化。 2．1计算法测定相变温度 根据各元素对钛相变温度的影响推算出相变点的公式为： /T αββ+相变点 =885℃+Σ各元素含量x 该元素对相变点的影响 (1) 式中885℃为计算时纯钛的相变点。 2．2差示扫描量热法测定相变温度 差示扫描量热法测定钛及钛合金相变温度是借助于同步热分析仪将待测试样与另一参比试样在完全相同的条件下加热(或冷却)，根据两者温差与温度或时间的变化关系(DSC 曲线)，对物质状态进行判定。图2为差示扫描量热法测得TC11钛合金相变点的DSC 曲线。对于α+β型及亚稳定β型钛合金，(α+β)→β转变是一个持续过程，在DSC 曲线上，相变完成表现为基线迁移；同时，由于钛有极高的化学活性，在高温下与氧、氮、坩埚(23A l O )等物质反应，在DSC 曲线上产生不同的峰值，从而使分析判定难度加大。 对于Tcll 钛合金而言，α-Ti →β-Ti 转变是一个吸热反应。当温度在1060℃时，峰值明显。表明相变温度在1060℃左右。由于TCll 钛合金与坩埚(23A l O )化学反应放热，并且测量过程中不断加热，导致热滞后现象产生，推迟了α相向β相转 变，使差示扫描量热法测得的相变温度过高。 2．3连续升温金相法测定相变温度 首先选择淬火温度范围，确定淬火温度间隔为10℃。加热保温然后水淬。最后观察不同淬火温度的试样在光学显微镜下的组织变化。将仍残留初生α相的淬火温度和与该温度最邻近、初生α相消失的温度之间的平均温度确定为相变温度。 在淬火温度为1030℃时，初生α相仍然存在；当淬火温度达到1040℃时，在试样中已看不到初生α相，观察到的全部是针状的马氏体，表明淬火温度已经达到了相变点温度。因此判定Tc11钛合金的相变点在1030~1040℃之间，其相变点的平</p><h2>保护装置实用调试技巧</h2><p>RCS-978主变保护装置调试方法 一、装置铭牌对数： 装置型号：RCS-978 版本号：1.10 CPU 校验码：F1565E26 管理序号：SUBQ 00090844 二、装置调试技巧： 变压器参数计算: 项目 高压侧（I 侧） 中压侧（II 侧） 低压侧（III 侧） 变压器全容量e S 180MV A 电压等级e U 220kV 115kV 10.5kV 接线方式 Y 0 Y 0 Δ-11 各侧TA 变比TA n 1200A/5A 1250A/5A 3000A/5A 变压器一次额定电流 472A 904A 9897A 试验项目 一、 纵差保护定值检验 1、差动速断定值校验 2、差动启动值校验 3、比率制动特性校验 4、二次谐波制动特性校验 计算数值：各侧额定 电流 计算公式：nTA Un S Ie **3 其中：S 为容量，Un 为各侧额定电压，nTA 为各侧额定电流 计算数据：I 1e =180*103/(1.732*220*240)=1.96A I 2e =180*103/(1.732*115*250)=3.61A I 3e =180*103/(1.732*10.5*600)=16.5A 各侧平衡 系数k 高压侧（I 侧） 中压侧（II 侧） 低压侧（III 侧） 4.000 2.177 0.476 试验项目一 差动速断定值校验 整定定值 (举例) 差动速断电流定值：5Ie ， 试验条件 1. 硬压板设置：投入主保护压板 1LP2、退出其他功能压板 2. 软压板设置：投入主保护软压板 3. 控制字设置：“差动速断”置“1” 计算方法 计算公式：I=m*I zd 注：m 为系数 计算数值： 单相校验法： 高压侧Izd=5I 1e =5*1.96*1.5=14.7A</p><h2>软件回归测试管理技术</h2><p>软件回归测试管理技术 随着计算机网络的飞速发展，基于海量数据的分布式应用系统的规模也不断扩大，随之而来的是应用系统的开发过程变得日益冗长和复杂，给系统及时投入运行以及保持良好的可靠性、健壮性等方面带来了困难。如何有效利用回归测试手段来加速应用系统开发的过程、提高应用系统的可靠性和健壮性，是一个具有普遍意义和实用意义的研究课题。本文紧密依据软件回归测试的特点，研究并实现了自动回归测试管理系统ARTM(Automatic Regression Test Manager)。此系统为测试工作的各个步骤分布在整个软件生命周期中提供支持，实现开发工作和测试工作协调并发进行；为自动回归测试提供支持，提供多种测试策略，提高回归测试效率；实现对分布式程序的回归测试。 本文的主要贡献体现在以下几个方面： 1)提出了一种全新的测试模型(R模型)，克服了V、X等测试模型的缺陷，将测试过程分布到软件生命周期各阶段中，使软件开发过程可以灵活地实现回溯，支持软件测试过程同开发过程并发进行的软件工程思想，提高开发效率：对回归测试中软件基线版本的控制进行了深入研究，借鉴数据库系统事务处理思想提出了版本事务模型VTM，充分考虑了回归测试中版本控制的问题；其中着重阐述了如何将R模型应用于ARTM：2)分析测试用例库的特点，实现了测试用例库的有效管理和维护；对自动回归测试过程进行了有效的控制，实现了对自动测试过程的自动控制。将测试计划作为模板进行保存，以用于以后自动回归测试；对测试结果进行了处理和挖掘，以多种方式形成测试报告。基本实现了测试过程自动化； 3)对回归测试策略进行了深入研究和比较，实现了在回归测试中灵活应用各种回归测试策略。提出并实现了一种新的构建对象依赖集的方法TDSC，更加精确地构建回归测试用例套件(Test Suite)； 4)提出并实现了C／S分布式回归测试模型，满足了分布式软件回归测试的需求。</p><h2>程序存储器 指令寄存器 程序计数器(PC,IP) 地址寄存器的区别与联系</h2><p>先明白定义再说区别和原理： 1、程序存储器(program storage) 在计算机的主存储器中专门用来存放程序、子程序的一个区域。 2、指令寄存器（IR ）：用来保存当前正在执行的一条指令。当执行一条指令时，先把它从内存取到数据寄存器（DR）中，然后再传送至IR。指令划分为操作码和地址码字段，由二进制数字组成。为了执行任何给定的指令，必须对操作码进行测试，以便识别所要求的操作。指令译码器就是做这项工作的。指令寄存器中操作码字段的输出就是指令译码器的输入。操作码一经译码后，即可向操作控制器发出具体操作的特定信号。 3、程序计数器（PC）：为了保证程序(在操作系统中理解为进程)能够连续地执行下去，CPU必须具有某些手段来确定下一条指令的地址。而程序计数器正是起到这种作用，所以通常又称为指令计数器。在程序开始执行前，必须将它的起始地址，即程序的一条指令所在的内存单元地址送入PC，因此程序计数器</p><p>（PC）的内容即是从内存提取的第一条指令的地址。当执行指令时，CPU将自动修改PC的内容，即每执行一条指令PC增加一个量，这个量等于指令所含的字节数，以便使其保持的总是将要执行的下一条指令的地址。由于大多数指令都是按顺序来执行的，所以修改的过程通常只是简单的对PC加1。 当程序转移时，转移指令执行的最终结果就是要改变PC的值，此PC值就是转去的地址，以此实现转移。有些机器中也称PC为指令指针IP（Instruction Pointer） 4、地址寄存器：用来保存当前CPU所访问的内存单元的地址。由于在内存和CPU之间存在着操作速度上的差别，所以必须使用地址寄存器来保持地址信息，直到内存的读/写操作完成为止。 当CPU和内存进行信息交换，即CPU向内存存/ 取数据时，或者CPU从内存中读出指令时，都要使用地址寄存器和数据缓冲寄存器。同样，如果我们把外围设备的设备地址作为像内存的地址单元那样来看待，那么，当CPU和外围设备交换信息时，我们同样使用地址寄存器和数据缓冲寄存器。</p><h2>自动连续测试的有效性及自动测试系统Word文档</h2><p>自动连续测试的有效性及自动测试系统 电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展。这就要求在尽量缩短产品开发时间的同时，必须确保产品的可靠性及安全性。为了达到这个目的，就必须要更有效、更正确地实施环境试验。爱斯佩克公司为了满足这些要求，将环境试验与电气特性测试相结合，设计开发了能够通过在环境试验条件下对试样特性连续测试，实时把握试料特性和判定异常状况的各种自动测试系统。在此对自动测试系统的有效性及其部分构成作以下介绍。 1. 前言 为使电子设备小型轻量，电子行业正致力于半导体IC封装件及电子零部件的微型化。同时，在封装领域也在开发能够使高密度封装成为可能的合成电路板，研究针对封装件的连接方法和结合材料。再者为提高产品市场竞争力，不仅在性能、成本上，而且还必须考虑环境保护以及现代社会各种限制因素，诸如要采用无铅焊接技术、遵守焊剂VOCS(Volatile Organnic Compounds)规定、开发环保型印刷电路板等。于是开发课题增多，既要缩短开发时间，又要确保产品可靠性就变得越来越重要了。在这种情况下，势必需要使用对可靠性及安全性能够作出高效、准确的测试手段。 本公司在开发研制自动测试系统时，将其与通常用在性能确认和可靠性评价的环境试验装置相组合，实现了在进行环境试验的同时，又能够连续自动测试试样电气特性；通过对实时数据的抽样，发现其中的故障及不良状况。下面将论述在试验环境中连续自动测试试样的电气特性的有效性，并结合具体实例介绍这一测试系统。 2.测试评价的最新要求为缩短开发时间，确保这些高性能且复杂化产品的可靠性，就必须考虑比现在更有效且更准确的评价方法。如图(略)所示。 2-1如何进行省力高效的试验评价 为了高效率地进行评价工作，首先应缩短测试评价所需的时间。其次是缩短试验作业工序所需的时间，以及通过重新审视评价的判定方法以缩短试验时间。例如在寿命试验的情况下，最普通的评价方法是根据每隔一定时间所测定的数据，来判断故障情况以及试样间的优劣状况。这时，用于判断的试验数据的测试间隔越短，对寿命以及异常的判断也就越快，同时试验时间也能缩短。而且这时若能够做加速寿命试验，那么试验时间的短缩效果就更明显了。在后面，我们将对试验作业工序的省力化，通过连续测试而得来的</p><h2>计算机存储器——内存和外存</h2><p>计算机存储器——内存和外存 引言：存储器是计算机的第二个子系统。它有一个重要的特性——无限可复制性，即其 存放的数据被取出后，原来存放的数据依然存在，所以可以被反复利用。本报告将从存储器的原理、分类、功能和发展状况等方面进行探究分析。 摘要：在计算机的组成结构中，有一个很重要的部分，就是存储器。存储器的主要功能 是存储程序和各种数据，并能在计算机运行过程中高速、自动地完成程序或数据的存取。其是具有“记忆”功能的设备，是计算机智能化的重要保证。存储器（Memory）是计算机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据。计算机中全部信息，包括输入的原始数据、计算机程序、中间运行结果和最终运行结果都保存在存储器中。它根据控制器指定的位置存入和取出信息。有了存储器，计算机才有记忆功能，才能保证正常工作。那么现有存储器的种类有哪些、它们又有哪些各自不同的性能及它们是如何在计算机中发挥存储作用的呢？为了理清楚以上问题，我做了有关于计算机内存与外存的相关研究。 关键词：存储器内存 RAM ROM 外存 正文： 存储器，英文名称为Memory，顾名思义，是一种用于存储信息的仪器，常用于计算机中的数据储存，计算机工作所需的所有数据都被存储在存储器中，包含原始数据、计算过程中所产生数据、计算所需程序、计算最终结果数据等等。存储器的存在才使得计算机有了超强的记忆能力。由此可见存储器对于计算机之重要性。 在介绍存储器原理之前，先解释一些重要名词。 存储位：存放一个二进制数位的存储单元，是存储器最小的存储单位，或称记忆单元存储字：一个数(n位二进制位)作为一个整体存入或取出时，称存储字 存储单元：存放一个存储字的若干个记忆单元组成一个存储单元 存储体：大量存储单元的集合组成存储体 存储单元地址：存储单元的编号 字编址：对存储单元按字编址 字节编址：对存储单元按字节编址 寻址：由地址寻找数据，从对应地址的存储单元中访存数据。</p><h2>通用的功能测试方法</h2><p>一 输入框 1字符型输入框： （1）字符型输入框：英文全角、英文半角、数字、空或者空格、特殊字符“~！@#￥%……&*？[]{}”特别要注意单引号和&符号。禁止直接输入特殊字符时，使用“粘贴、拷贝”功能尝试 输入。 （2）长度检查：最小长度、最大长度、最小长度-1、最大长度+1、输入超工字符比如把整个文章拷贝过去。 （3）空格检查：输入的字符间有空格、字符前有空格、字符后有空格、字符前后有空格 （4）多行文本框输入：允许回车换行、保存后再显示能够保存输入的格式、仅输入回车换行，检查能否正确保存（若能，检查保存结果，若不能，查看是否有正常提示）、 （5）安全性检查：输入特殊字符串 （null,NULL, ,javascript,<script>,</script>,<title>,<html>,<td>）、输入脚本函数(<script>alert("abc")</script>)、doucment.write("abc")、<b>hello</b>） 2数值型输入框： （1）边界值：最大值、最小值、最大值+1、最小值-1 （2）位数：最小位数、最大位数、最小位数-1最大位数+1、输入超长值、输入整数 （3）异常值、特殊字符：输入空白（NULL）、空格或"~!@#$%^&*()_+{}|[]\:"<>?;',./?;:'-=等可能导致系统错误的字符、禁止直接输入特殊字符时，尝试使用粘贴拷贝查看是否能正常提交、word中的特殊功能，通过剪贴板拷贝到输入框，分页符，分节符类似公式的上下标 等、数值的特殊符号如∑，㏒，㏑，∏，+，-等、 输入负整数、负小数、分数、输入字母或汉字、小数（小数前0点舍去的情况，多个小数点的情况）、首位为0的数字如01、02、科学计数法是否支持1.0E2、全角数字与半角数字、数字与字母混合、16进制，8进制数值、货币型输入（允许小数点后面几位）、 （4）安全性检查：不能直接输入就copy 3日期型输入框： （1）合法性检查：(输入0日、1日、32日)、月输入[1、3、5、7、8、10、12]、日输入[31]、月输入[4、6、9、11]、日输入[30][31]、输入非闰年，月输入[2]，日期输入[28、29]、输入闰年，月输入[2]、日期输入[29、30]、月输入[0、1、12、13]</p><h2>内存储器和外存储器的区别</h2><p>记忆 内存，也称为内存存储器，通常也称为主存储器，是计算机的主要组成部分，与外部存储器不同。 存储器是计算机的重要组成部分之一，是与CPU通信的桥梁。 计算机中的所有程序都在内存中运行，因此存储器的性能对计算机有很大的影响。 内存，也称为内存，用于在CPU中临时存储操作数据，并与硬盘等外部存储器交换数据。 只要计算机在运行，CPU就会把需要计算的数据传送到内存中进行计算，然后在计算完成后，CPU将结果传送出去， 存储器的运行也决定了计算机的稳定运行。存储器由存储器芯片、电路板和金手指组成。 分类 一般来说，微型计算机的存储器包括磁芯存储器和半导体存储器，</p><p>微型计算机的存储器是半导体存储器。 半导体存储器可分为随机存取存储器（RAM）， 只读存储器也称为读写存储器。 1随机存取存储器 随机存取存储器 随机存取存储器（RAM）是一种可以随机读/写数据的存储器，也称为读/写存储器。Ram有以下两个特点：第一，它可以读写。 读出时原始存储内容不会损坏， 原始存储器的内容只有在写入时才被修改。 其次，RAM只能用于信息的临时存储。一旦电源关闭，就可以读取电源 存储的内容会立即消失，即不稳定。 Ram通常由MOS半导体存储器组成， 根据数据存储机制，可分为动态RAM和静态RAM。</p><p>DRAM是高度集成的，主要用于大容量存储。SRAM具有存取速度快的特点，主要用于高速缓冲存储器。 2只读存储器 ROM是只读存储器。顾名思义，它只能阅读原始内容， 用户无法再编写新内容。原始存储内容由制造商使用掩蔽技术编写， 永远保存。它通常用于存储特殊的固定程序和数据。 只读存储器是一种非易失性存储器， 不需要额外的电源来保存信息，并且不会因为电源故障而丢失信息。 根据内容是否可以在线重写，可以分为两类：不能在线重写的ROM和可以在线重写的ROM。 不能在线重写的ROM包括mask ROM、prom和EPROM； 在线可擦只读存储器包括EEPROM和Flash ROM。 三。CMOS存储器（互补金属氧化物半导体存储器）</p><h2>回归测试</h2><p>回归测试 软件回归测试及其实践本文描述了软件回归测试的概念和进行回归测试的基本步骤，介绍了可用于回归测试的测试用例库的维护方法，给出了几种可以可保证回归测试效率和有效性的回归测试策略，总结了回归测试时应该注意的一些实际问题。 目录</p><p>得到一个软件的基线版本时，用于基线版本测试的所有测试用例就形成了基线测试用例库。在需要进行回归测试的时候，就可以根据所选择的回归测试策略，从基线测试用例库中提取合适的测试用例组成回归测试包，通过运行回归测试包来实现回归测试。保存在基线测试用例库中的测试用例可能是自动测试脚本，也有可能是测试用例的手工实现过程。 回归测试需要时间、经费和人力来计划、实施和管理。为了在给定的预算和进度下，尽可能有效率和有效力地进行回归测试，需要对测试用例库进行维护并依据一定的策略选择相应的回归测试包。 1、测试用例库的维护 为了最大限度地满足客户的需要和适应应用的要求，软件在其生命周期中会频繁地被修改和不断推出新的版本，修改后的或者新版本的软件会添加一些新的功能或者在软件功能上产生某些变化。随着软件的改变，软件的功能和应用接口以及软件的实现发生了演变，测试用例库中的一些测试用例可能会失去针对性和有效性，而另一些测试用例可能会变得过时，还有一些测试用例将完全不能运行。为了保证测试用例库中测试用例的有效性，必须对测试用例库进行维护。同时，被修改的或新增添的软件功能，仅仅靠重新运行以前的测试用例并不足以揭示其中的问题，有必要追加新的测试用例来测试这些新的功能或特征。因此，测试用例库的维护工作还应包括开发新测试用例，这些新的测试用例用来测试软件的新特征或者覆盖现有测试用例无法覆盖的软件功能或特征。 测试用例的维护是一个不间断的过程，通常可以将软件开发的基线作为基准，维护的主要内容包括下述几个方面。 (2)、删除过时的测试用例 因为需求的改变等原因可能会使一个基线测试用例不再适合被测试系统，这些测试用例就会过时。例如，某个变量的界限发生了改变，原来针对边界值的测试就无法完成对新边界测试。所以，在软件的每次修改后都应进行相应的过时测试用例的删除。 (3)、改进不受控制的测试用例 随着软件项目的进展，测试用例库中的用例会不断增加，其中会出现一些对输入或运行状态十分敏感的测试用例。这些测试不容易重复且结果难以控制，会影响回归测试的效率，需要进行改进，使其达到可重复和可控制的要求。 (4)、删除冗余的测试用例</p></div>
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