钢板超声波测厚仪

OU1600

钢板超声波测厚仪

使用说明书

沧州市欧谱检测仪器有限公司

CANGZHOU OUPU TESTING INSTRUMENT CO.,LTD

OU1600钢板超声波测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。

OU1600型钢板超声波测厚仪针对钢板、钢管、不锈钢生产加工企业特别重新设计电路与探头，使本测厚仪精度与稳定性更能满足用户需求，从而实现高精度加工与生产。

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

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https://www.360docs.net/doc/2514251956.html, OU1600超声波测厚仪一、概述

OU1600型超声波测厚仪是智能型超声波测厚仪，采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

1.1 技术参数

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

测量范围：(0.75～300)mm（钢中），公制与英制可自由转换；声速范围：(1000~9999) m/s：

分辨率：0.1mm/0.01可选;

示值精度：±(0.5%H+0.04)mm; H为被测物实际厚度

测量周期：单点测量时每秒钟4次、扫描模式每秒钟10次；

存储容量：可存储20组（每组最多100个测量值）厚度测量数据工作模式：具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式

单位制：公制或者英制（可选）

工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池）

持续工作时间：大于100h（不开背光时）

通讯接口：RS232,可与微型打印机或PC连接

外形尺寸：150mm×74mm×32 mm

整机重量：245g

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1.2 主要功能

●适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、

玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；

●可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；

●具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正；

●已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；

●具有耦合状态提示功能；

●有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；

●有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；

●具有自动休眠、自动关机等节电功能；

●带有RS232接口，可以方便、快捷地与PC机进行数据交换。

可以连接到微型打印机（厂家指定型号）打印测量报告。

●可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、

测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；

●小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、

冲击和电磁干扰；

1.3 工作原理

本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，精确地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。

H=n×t2

式中：H－测量厚度； v－材料声速；

t－超声波在试件中往返一次的传播时间。

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1.4 仪器配置

表1.1 仪器配置

序号名称数量备注

标准配置1主机1台2探头（5MHz）1只3耦合剂1瓶4ABS仪器箱1只5随机资料1份6AA(5号)尺寸碱性电池2只7

可选配置9粗晶探头（2MHz）

10微径探头（7MHz）

11高温探头（5MHz）

12微型打印机1台计算机上应用13打印线缆1条

14数据管理软件1套

15通讯线缆1条

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表1.2 探头选择

名称型号频率

(MHz)

探头

直径

测量范围

（钢）mm

最小管径

mm特性描述

粗晶探头N02 2.514

3.0～300.0

40mm以下

(灰铸铁HT200)

20用于铸铁等粗

晶材质的测量

标准探头N05510 1.0～230.0Φ20×3.0通用标准探头N05/90°510 1.0～230.0Φ20×3.0通用

微径探头N07760.75～80.0Φ15×2.0用于薄壁及小弧面的测量

高温探头HT55143～20030用于温度小于300℃的材料

的测量

1.5 工作条件

环境温度：操作温度－20℃～＋50℃；

存储温度：-30℃～＋70℃

相对湿度≤90％；

周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘。

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二、结构与外观 1.外壳 2.键盘

液晶屏 4.发射插座

接收插座 6 校准厚度块

通讯插座8.超声探头

铭牌10.电池仓盖

: OU1600

: 2 X 1.5V

www.oupu17com Tel:0317-*******

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2.1 主显示界面

仪器开机后会自动进入主显示界面，如下图所示：

增益指示

耦合指示最小捕获指示

厚度界限设置

电量指示

探头频率

主显示区域

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OU1600超声波测厚仪https://www.360docs.net/doc/2514251956.html, 2.2 键盘定义

三、测量前的准备

3.1 仪器准备

新购仪器请参照装箱单仔细查对仪器及附件，不全时请及时与厂家联系。

3.2 探头选择

根据被测对象的厚度及形状来选择探头。

选择的依据请参考本手册1.4的表1.2：探头选择。

3.3 被测工件的表面处理

若被测体表面很粗糙或锈蚀严重，请用以下方法处理：

●在被测体表面使用耦合剂；

●利用除锈剂、钢丝刷或砂纸处理被测体表面

●在同一点附近多次测量

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四、仪器使用

4.1 仪器开、关机

1) 将探头插头插入仪器探头插座中；2) 按

键，伴随着开机蜂鸣声，仪器屏幕显示开机画面后自动进入测量界面，并显示当前仪器中设置的声速值，此时仪器的各参数为上次关机前使用的参数；3) 在开机状态下，按

键可以实现关机操作。

4.2

声速调节

当已知材料的声速时，可以利用仪器提供的声速调节功能，并依据附表中的参考声速值，调整仪器的内置声速值。操作方法为：如果当前屏幕显示为厚度值，按

键进入声速状态，屏幕将

显示当前声速存储单元的内容。每按一次，声速存储单元变化一次，可循环显示五个声速值。如果希望改变当前显示声速单元的内容，用或键调整到期望值即可，同时此值将存入该单元。

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4.3 设置探头频率

按

键移动光标到频率设置上，如下图，按改变探头

频率。

4.4 测量厚度

先设置好声速，然后将耦合剂均匀涂于被测区域，将探头与被测材料表面紧密耦合，屏幕将显示被测区域的测量厚度。当探头与被测材料良好耦合时，屏幕将显示耦合标志，如果耦合标志闪烁或无耦合标志则表示耦合状况不好。移开探头后，耦合标志消失，厚度值保持。如图:

注意当探头与被测材料耦合时，显示耦合标志。如果耦合标志闪烁或不出现说明耦合不好4.5 声速测量

在被测材料的声速未知时，可利用仪器提供的声速测量功能计算材料的声速值。请注意，利用这一功能时，请用户使用与被测材料同质的厚度块先用游标卡尺或千分尺测量试块，准确读取厚度值，然后进行声速测量。

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具体操作过程如下：

1) 首先进行一次探头零点校准;

2) 将探头与已知厚度试块耦合，直到显示出一厚度值;3) 拿开探头,用或键将显示值调整到实际厚度值;

4) 按

键即可显示出被测声速，同时该声速被存入当前声速

存储单元;

声速测量必须选择足够厚度的测试块，推荐最小壁厚为20.0mm,进行声速测量时应关闭最小值捕捉和二点校准功能。

例如：若测量厚度为28.0mm 材料的声速，操作如下

4.6 设置测量报警界限

当测量值低于报警下限或高于报警上限时，蜂鸣器鸣响，操作如下:1) 按

键移动光标到 ALARM;

2) 按键显示上次设置的高或低报警设置值，用或设

置新的下限或上限;3) 退出报警界限设置按

键,

键，或者启动一次测量。

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4.7 菜单操作

仪器的主要设置功能通过菜单进行操作。按

键移动光标到 MENU 按

键显示主菜单。

4.7.1 系统设置

1) 测量单位: 公制/英制2) 接收增益: 低/高

增益【低】档主要用于测量散射大、声吸收小的粗晶材料如：铸铝、铸铜等金属铸件。.

3) 显示精度: 0.1mm(低) 0.01mm(高)4) 最小捕获测量方式关/开

最小测量值捕捉是捕捉一组测量值中最小的数值。当探头与工件耦合时，显示实际测量值，当探头抬起时，显示刚才测量中的最小值，并且最小值标志【MIN 】闪烁几秒，如果在【MIN 】闪烁期间继续测量，前面的测量值将继续参加最小值捕捉，【MIN 】停止闪烁后再进行测量，重新进行最小测量值捕捉。

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2. 当打开最小测量值捕捉功能时，退出设置后显示屏上有【MIN 】指示。

按

键可退到上层菜单，按

键

或进行测量，退出设置状态。5) 两点校准: 关/开

两点校准可以同时校准探头零点和材料声速，从而提高厚度测量精度。选择与被测物的材料、声速及曲率相同的两个标准试块，其中一个试块的厚度尽可能接近测量范围的下限（试块A ），另一个试块的厚度等于或略高于使用中实际测量范围的上限（试块B ）。操作步骤为：1. 进行二点校准之前应先关闭最小值捕捉功能。2.

必须删除以前的校准数据操作如下：按

进入设置菜单，按键进入【存储管理】

中的【删除校准数据】。

3. 进入【系统设置】打开二点校准功能。5. 按

键返回主显示界面。

6. 在测量厚度的状态下按进入两点校准方式，屏幕提示校

准薄片(试块A)【Thin Calibration 】。

7. 测量薄片。用或调整测量值到标准值。然后按键屏幕提示校准厚片(试块B)【Thick Calibration 】。

8. 测量厚片(试块B)。用或调整测量值到标准值。