高清多媒体接口HDMI 原理及测试方法12182012

单片机原理及接口技术第3章习题答案.docx

1>指令：CPU 根据人的意图来执行某种操作的命令指令系统：一台计算机所能执行的全部指令集合机器语言：用二进制编码表示，计算机能直接识别和执行的语言汇编语言：用助记符、符号和数字来表示指令的程序语言高级语言：独立于机器的，在编程时不需要对机器结构及其指令系统有深入了解的通用性语言 2、见第1题 3、操作码［目的操作数］［,源操作数］ 4、寻址方式寻址牢间立即数寻址程序存储器ROM 直接寻址片内RAM 低128B 、特殊功能寄存器寄存器寻址工作寄存器R0 R7、A 、B 、C 、DPTR 寄存器间接寻址片内RAM 低128B 、片外RAM 变址寻址程序存储器（@A+PC,@A+DPTR ）相对寻址程序存储器256B 范围（PC+偏移量）位寻址片内RAM 的20H-2FH 字节地址、部分SFR 5、SFR ：直接寻址，位寻址，寄存器寻址；片外RAM ：寄存器间接寻址 A, 40H ；直接寻址（40H ） A RO, A ；寄存器寻址（A ） - RO Pl, #0F0H ；立即数寻址 0F0—P1 A, @R0 ；寄存器间接寻址（（RO ）） - A P2, Pl ；直接寻址（Pl ） ->P2 最后结果：(RO) =38H, (A) =40H, (PO) =38H, (Pl) = (P2) =0F0H, (DPTR) =3848H, (18H) =30H, OOH) =38H, (38H) =40H, (40H) =40H, (48H) =38H 注意：?左边是内容，右边是单元 7、用直接寻址，位寻址，寄存器寻址 8、 MOV A,DATA ;直接寻址2字节1周期 MOV A,#DATA ;立即数寻址 2字节1周期 6、MOV MOV MOV MOV MOV MOV MOV MOV MOV @R0,30H ；直接寻址（3UH ）（RO ） DPTR,#3848 ；立即数寻址 3848—DPTR 40H,38H ；直接寻址（38H ） ->40H R0,30H ；直接寻址（30H ） ->R0 P0,R0 ；寄存器寻址（RO ） PO 18H, #30H ；立即数寻址 30->18H MOV MOV

IDDQ测试原理及方法

电流测试 1 电流测试简介功能测试是基于逻辑电平的故障检测，逻辑电平值通过测量原始输出的电压来确定，因此功能测试实际上是电压测试。电压测试对于检测固定型故障特别是双极型工艺中的固定型故障是有效的，但对于检测CMOS 工艺中的其他类型故障则显得有些不足，而这些故障类型在CMOS 电路测试中是常见的对于较大电路，电压测试由于测试图形的生成相当复杂且较长，因而电流测试方法被提出来电流测试的测试集相当短，这种测试方式对于固定型故障也有效。 CMOS 电路具有低功耗的优点，静态条件下由泄漏电流引起的功耗可以忽略，仅表示，Q 代表静态在转换期间电路从电源消耗较大的电流。电源电压用V DD （quiescent) ，则IDDQ 可用来表示MOS电路静态时从电源获取的电流，对此电流的测试称为IDDQ 测试，这是一种应用前景广泛的测试。 IDDQ 测试概念的提出时间并不很长，但自半导体器件问世以来，基于电流的测量一直是测试元器件的一种方法，这种方法即所谓的IDDQ 测试，用在常见的短接故障检测中。自从Wanlsaa 于1961 年提出CMOS 概念, 1968 年RCA 制造出第一块CMOS IC 和1974 年制造出第一块MOS 微处理器以来，科研人员一直研究CMOS 电路的测试，而静态电流测试则作为一项主要的参数测量1975 年Nelson 提出了IDDQ 测试的概念和报告，1981 年M.W Levi 首次发表了关于VLSI CMOS 的测试论文，这就是IDDQ 测试研究的开端。其后，IDDQ 测试用来检测分析各种DM0S 缺陷，包括桥接故障和固定型故障1988 年W.Maly 首次发表了关于电流测试的论文, Levi, Malaiya, C.Crapuchettes, M.Patyra , A .Welbers 和S.Roy 等也率先进行了片内电流测试的研究开发工作，这些研究奠定了IDDQ 测试的基础、1981 年Philips semiconductor 开始在SRAM 产品测试中采用片内IDDQ 检测单元，其后许多公司把片内IDDQ 检测单元用在ASIC产品中，但早期的IDDQ 测试基本上只为政府、军工资助的部门或项目所应用。直到20 世纪80 年代后期，半导体厂商认识到IDDQ 测试是检测芯片物理缺陷的有效方法，IDDQ 测试才被普遍应用, CAD 工具也开始集成此项功能。目前，IDDQ 测试也逐渐与其他DFT结构，例如扫描路径测试、内建自测试、存储器测试等，结合在一起应用。20 世纪80 年代，电流测量基本上是基于片外测量电路的，80 年代末片上电流传感器的理论和设计方法得以提出，随后这方面所开展的理论和方法研究纷纷出现，IEEE Technical Committee on Test Technology 于1994 年成立一个称做QTAG ( Quality Test Action Group ) 的技术组织，其任务是研究片上电流传感器的标准化问题，但该组织得出了电流传感器不经济的结论，因此，1996 年结束标准化研究工作，目前电流传感器的研究主要针对高速片外传感器。 IDDQ 测试是源于物理缺陷的测试，也是可靠性测试的一部分1996 年SRC (Semiconductor Research Corporation ）认定IDDQ 测试是20 世纪90 年代到 21 世纪主要的测试方法之一。IDDQ 测试已成为IC 测试和CAD 工具中一个重要内容，许多Verilog/HDL 模拟工具包含IDDQ 测试生成和故障覆盖率分析的功能。 IDDQ 测试引起重视主要是测试成本非常低和能从根本上找出电路的问题（缺陷）所在。例如，在电压测试中，要把测试覆盖率从80％提高10% ，测试图形一般要

微机原理及接口第九章作业答案

“微机系统原理与接口技术”第九章习题解答（部分） 1. 什么是并行接口和串行接口？它们各有什么作用？答：并行接口是指接口与外设之间按字长传送数据的接口，即4位、8位或16位二进制位同时传送；而串行接口是指接口与外设之间依时间先后逐位传送数据的接口，即一个时刻只传送一个二进制位。并行接口传送速度较快，但在远距离传送数据时成本高，损耗大，且平行数据线之间干扰大，所以并行接口一般适用于近距离的高速传送，而串行接口则适用于远距离传送。 2. 试画出8255A与8086CPU连接图，并说明8255A的A0、A1地址线与8086CPU的A1、A2地址线连接的原因。答：8255A与8086CPU的连线图如下图所示：题9-2图 8086系统有16根数据线，而8255只有8根数据线，为了软件读写方便，一般将8255的8条数据线与8086的低8位数据线相连。8086在进行数据传送时总是将总线低8位对应偶地址端口，因此8086CPU要求8255的4个端口地址必须为偶地址，即8086在寻址8255时A0脚必须为低。实际使用时，我们总是将8255的A0、A1脚分别接8086的A1、A2脚，而将8086的A0脚空出不接，并使8086访问8255时总是使用偶地址。 4. 简述8255A工作在方式1时，A组端口和B组端口工作在不同状态（输入或输出）时，C端口各位的作用。答：8255A 的A、B口工作在方式1时，C端口各位的使用情况如下表所示：

注：带*的各中断允许信号由C口内部置位／复位操作设置，非引脚电平。 5. 用8255A控制12位A/D转换器，电路连接如下图所示。设B口工作于方式1输入，C 口上半部输入，A口工作于方式0输入。试编写8255A的初始化程序段和中断服务程序（注：CPU采用中断方式从8255A中读取转换后的数据）。题9-5图答：设8255的A、B、C及控制端口的地址分别为PORTA、POA TB、PORTC和PCON，则一种可能的程序段实现如下：主程序：; 初始化8255A …… MOV AL, 10011110B ; 设置8255A的工作方式控制字 OUT PCON, AL MOV AL, 00000101B ; 设置C口置位/复位控制字，使INTEA（PC2）为 OUT PCON, AL ; 高电平，允许B口中断 MOV AL, 00000010B ; 设置C口置位/复位控制字，使PC1（IBF B）输出 OUT PCON, AL ; 低电平，启动第一次A/D转换 …… 中断服务程序：; 取数，并自动启动下一次A/D转换 …… MOV AL, 00000011B ; PC1（IBF B）输出高电平，停止A/D转换 OUT PCON, AL IN AL, PORTC ; 先取高4位转换值 MOV AH, AL MOV CL, 4 SHR AH, CL ; 将高4位转换值放到AH的低端 IN AL, PORTB ; 取低8位转换值放到AL中 MOV AL, 00000010B ; PC1（IBF B）输出低电平，再次启动A/D转换 OUT PCON, AL …… IRET 6. 用8255A作为CPU与打印机接口，8255的A口工作于方式0，输出；C口工作于方式0。8255A与打印机及CPU的连线如下图所示。试编写一程序，用查询方式将100个数据送打印机打印（8255A的端口地址及100个数据的存放地址自行设定）。

测试流程及测试理论方法

测试流程及测试理论方法一、测试流程 1.软件开发流程：需求分析—>概要设计—>详细设计—>编码开发—>测试—>维护 2.测试流程为：单元测试/集成测试—>系统测试/自动化测试—>性能测试—>验收测试 3.目标： 3.1制定完整且具体的测试路线和流程，为快速、高效和高质量的软件测试提供基础流程框架。 3.2最终目标是实现软件测试规范化、标准化、自动化。 4.测试流程说明： 5.测试需求分析测试需求是整个测试过程的基础；确定测试对象以及测试工作的范围和作用。用来确定整个测试工作（如安排时间表、测试设计等）并作为测试覆盖的基础。而且被确定的测试需求项必须是可核实的。即，它们必须有一个可观察、可评测的结果。无法核实的需求不是测试需求。所以我现在的理解是测试需求是一个比较大的概念，它是在整个测试计划文档中体现出来的，不是类似的一个用例或者其他. ·测试需求是制订测试计划的基本依据，确定了测试需求能够为测试计划提供客观依据；

·测试需求是设计测试用例的指导，确定了要测什么、测哪些方面后才能有针对性的设计测试用例； ·测试需求是计算测试覆盖的分母，没有测试需求就无法有效地进行测试覆盖。 5.1测试方法与规范 5.1.1测试方法随着软件技术发展，项目类型越来越多样化。根据项目类型应选用针对性强的测试方法，合适的测试方法可以让我们事半功倍。以下是针对目前项目工程可以参考的测试方法： ?β测试（beta测试）--非程序员、测试人员 β测试，英文是Betatesting。又称Beta测试，用户验收测试（UAT）。 β测试是的多个用户在一个或多个用户的实际使用环境下进行的测试。开发者通常不在测试现场，Beta测试不能由程序员或测试员完成。当开发和测试根本完成时所做的测试，而最终的错误和问题需要在最终发行前找到。这种测试一般由最终用户或其他人员完成，不能由程序员或测试员完成。 ?α测试（）--非程序员、测试人员 α测试，英文是Alphatesting。又称Alpha测试. Alpha测试是由一个用户在开发环境下进行的测试，也可以是公司内部的用户在模拟实际操作环境下进行的受控测试，Alpha测试不能由该系统的程序员或测试员完成。

接口原理第三章作业

第三章作业 3.33.指出8086/8088下列指令中存储器操作数物理地址的计算表达式。 (1) MOV AL,[DI] PA=DS*16+DI (2) MOV AX,[BX +SI] PA=DS*16+BX+SI (3) MOV [BX+DI],AL PA=DS*16+BX+DI (4) ADD AL,ES:[BX] PA=ES*16+BX (5) SUB AX,[2400H] PA=DS*16+2400H (6) ADC AX,[BX+DI+1200H] PA=DS*16+BX+DI+1200H (7) MOV CX,[BP+SI] PA=SS*16+BP+SI (8) INC BYTE PTR[DI] PA=DS*16+DI 3.34指出8086/8088下列指令的错误 (1)MOV [SI],IP 8086不允许将IP的值直接存入内存，改正MOV AX,IP在MOV [SI],AX (2)MOV CS,AX 8086不允许将AX的值直接存入代码段寄存器，代码段不能做目的操作数 (3)MOV BL,SI+2 源、目的字长不一致 (4)MOV 60H,AL 立即数不能做目的操作数 (5)PUSH 2400H PUSH 的源操作数不能是立即数 (6)INC [BX] INC对内存操作时要指明是字节还是字 (7)MUL -60H 立即数不能作为MUL的目的操作数 (8)ADD [2400H],2AH 2AH是字节，而[2400H]是字，不匹配 (9)MOV [BX].[DI] 源，目的不能同时为存储器寻址方式 (10)MOV SI,AL

3.36阅读下列程序段，指出每条指令执行以后有关寄存器的内容 MOV AX,0ABCH AX=0ABCH DEC AX AX=0ABBH AND AX,00FFH AX=00BBH MOV CL,4 CL=04H SAL AL,1 AL=F6F MOV CL,AL CL=F6H ADD CL,78 CL=DDH PUSH AX AX=00F6H POP BX BX=00F6H 3.42某程序段为： 2000H：304CH ABC: MOV AX,1234H . . . 2000H: 307EH JNE ABC 解：JNE ABC占两个字节，所以执行JNE时，IP=3081H 304CH-3081H=-34H=[10110100]源=[11001011]反 =[11001100]补=CCH 3.71设计一个程序段，将DH中的最左三位清零，尾部改变DH中的其它位，结果存入BH中解：AND DH,1FH MOV BH,DH

角度测量的原理及其方法

角度测量的原理及其方法角度测量原理一、水平角测量原理地面上两条直线之间的夹角在水平面上的投影称为水平角。如图 3-1所示，A、B、O为地面上的任意点，通OA和OB直线各作一垂直面，并把OA和OB分别投影到水平投影面上，其投影线Oa和Ob 的夹角∠aOb，就是∠AOB的水平角β。如果在角顶O上安置一个带有水平刻度盘的测角仪器，其度盘中心O′在通过测站O点的铅垂线上，设OA和OB两条方向线在水平刻度盘上的投影读数为a1和b1，则水平角β为： β= b1 - a1(3-1) 二、竖直角测量原理在同一竖直面内视线和水平线之间的夹角称为竖直角或称垂直角。如图3-2所示，视线在水平线之上称为仰角，符号为正；视线在水平线之下称为俯角，符号为负。

图3-1 水平角测量原理图图3-2 竖直角测量原理图如果在测站点O上安置一个带有竖直刻度盘的测角仪器，其竖盘中心通过水平视线，设照准目标点A时视线的读数为n，水平视线的读数为m，则竖直角α为： α= n - m (3-2) 光学经纬仪一、DJ6级光学经纬仪的构造它主要由照准部(包括望远镜、竖直度盘、水准器、读数设备)、水平度盘、基座三部分组成。现将各组成部分分别介绍如下：１．望远镜望远镜的构造和水准仪望远镜构造基本相同，是用来照准远方目标。它和横轴固连在一起放在支架上，并要求望远镜视准轴垂直于横轴，当横轴水平时，望远镜绕横轴旋转的视准面是一个铅垂面。为了控制望远镜的俯仰程度，在照准部外壳上还设置有一套望远镜制动和

微动螺旋。在照准部外壳上还设置有一套水平制动和微动螺旋，以控制水平方向的转动。当拧紧望远镜或照准部的制动螺旋后，转动微动螺旋，望远镜或照准部才能作微小的转动。２．水平度盘水平度盘是用光学玻璃制成圆盘，在盘上按顺时针方向从0°到360°刻有等角度的分划线。相邻两刻划线的格值有1°或30′两种。度盘固定在轴套上，轴套套在轴座上。水平度盘和照准部两者之间的转动关系，由离合器扳手或度盘变换手轮控制。３．读数设备我国制造的DJ6型光学经纬仪采用分微尺读数设备，它把度盘和分微尺的影像，通过一系列透镜的放大和棱镜的折射，反映到读数显微镜内进行读数。在读数显微镜内就能看到水平度盘和分微尺影像,如图3-4所示。度盘上两分划线所对的圆心角，称为度盘分划值。在读数显微镜内所见到的长刻划线和大号数字是度盘分划线及其注记，短刻划线和小号数字是分微尺的分划线及其注记。分微尺的长度等于度盘１°的分划长度，分微尺分成６大格，每大格又分成10，每小格格值为1′，可估读到0.1′。分微尺的0°分划线是其指标线，它所指度盘上的位置与度盘分划线所截的分微尺长度就是分微尺读数值。为了直接读出小数值，使分微尺注数增大方向与度盘注数方向相反。读数时，以在分微尺上的度盘分划线为准读取度数，而后读取该度盘分划线与分微尺指标线之间的分微尺读数的分数，并估读

(完整版)单片微型计算机原理与接口技术髙锋课后答案第3章

第3章【单片机的指令系统】思考与练习题解析【3—1】什么是指令及指令系统? 【答】控制单片机进行某种操作的命令称为“指令”。单片机就是根据指令来指挥和控制单片机各部分协调工作。指令由二进制代码表示，指令通常包括操作码和操作数两部分：操作码规定操作的类型，操作数给出参加操作的数或存放数的地址。所有指令的集合称为“指令系统”。80C51单片机的指令系统专用于80C51系列单片机，是一个具有255种操作码(OOH～FFH，除A5H外)的集合。【3—2】80C51单片机的指令系统具有哪些特点? 【答】80C51单片机的指令系统容易理解和阅读。只要熟记代表33种功能的42种助记即可。有的功能如数据传送，可以有几种助记符，如MOV、MOVc、MOVX。而指令功能助记符与操作数各种寻址方式的结合，共构造出111种指令，而同一种指令所对应的操作码可以多至8种(如指令中Rn对应寄存器R0～R7)。 80C51单片机的指令系统具有较强的控制操作类指令，容易实现“面向控制”的功能；具有位操作类指令，有较强的布尔变量处理能力。【3—3】简述80C51指令的分类和格式。【答】80C51的指令系统共有111条指令，按其功能可分为5大类：数据传送类指令(28条)、算术运算类指令(24条)、逻辑运算类指令(25条)、控制转移类指令(17条)和布尔操作(位)类指令(17条)。指令的表示方法称之为“指令格式”，其内容包括指令的长度和指令内部信息的安排等。在80C51系列的指令系统中，有单字节、双字节和三字节等不同长度的指令。 ·单字节指令：指令只有一个字节，操作码和操作数同在一个字节中。 ·双字节指令：包括两个字节。其中一个字节为操作码，另一个字节是操作数。 ·三字节指令：操作码占一个字节，操作数占两个字节。其中操作数既可能是数据，也可能是地址。【3—4】简述80C51的指令寻址方式，并举例说明。【答】执行任何一条指令都需要使用操作数，寻址方式就是在指令中给出的寻找操作数或操作数所在地址的方法。 80C5l系列单片机的指令系统中共有以下7种寻址方式。 ①立即寻址。在指令中直接给出操作数。出现在指令中的操作数称为“立即数”，为了与直接寻址指令中的直接地址相区别，在立即数前面必须加上前缀“#”。例如：MOV DPTR，#1234H ；1234H为立即数，直接送DPTR ②直接寻址。在指令中直接给出操作数单元的地址。例如：MOV A，55H ；55H是操作数单元的地址，55H单元内的数据才是操作数，取出后送累加器A ③寄存器寻址。在指令中将指定寄存器的内容作为操作数。因此，指定了寄存器就能得到操作数。寄存器寻址方式中，用符号名称来表示寄存器。例如：INC R7 ；R7的内容为操作数，加1后再送回R7 ④寄存器间接寻址。在指令中给出的寄存器内容是操作数的地址，从该地址中取出的才是操作数。可以看出，在寄存器寻址方式中，寄存器中存放的是操作数；而在寄存器间接寻址方式中，寄存器中存放的则是操作数的地址。寄存器间接寻址须以寄存器符号名称的形式表示。为了区别寄存器寻址和寄存器间接寻址，在寄存器间接寻址中，应在寄存器的名称前面加前缀“@”。例如：ORL A．@Ro；当R0寄存器的内容是60H时，该指令功能是以RO寄存器的内容60H为地址，将60H地址单元的内容与累加器A中的数相“或”，其结果仍存放在A中。

《单片机原理及接口技术(第2版)张毅刚》第3章习题及答案

《单片机原理及接口技术》（第2版）人民邮电出版社第3章 8051指令系统与编程基础思考题及习题3 1．说明伪指令的作用。“伪”的含义是什么？常用伪指令有哪些？其功能如何? 答：伪指令是程序员发给汇编程序的命令，只有在汇编前的源程序中才有伪指令，即在汇编过程中的用来控制汇编过程的命令。所谓“伪”是体现在汇编后，伪指令没有相应的机器代码产生。常用伪指令及功能如下： ORG（ORiGin）汇编起始地址命令；END(END of assembly)汇编终止命令；EQU（EQUate）标号赋值命令；DB（Define Byte）定义数据字节命令；DW（Define Word）定义数据字命令；DS（Define Storage）定义存储区命令；BIT 位定义命令 2．解释下列术语：手工汇编，机器汇编，反汇编答：手工汇编：通过查指令的机器代码表（表3-2），逐个把助记符指令“翻译”成机器代码，再进行调试和运行。这种人工查表“翻译”指令的方法称为“手工汇编”。机器汇编：借助于微型计算机上的软件(汇编程序)来代替手工汇编。通过在微机上运行汇编程序，把汇编语言源程序翻译成机器代码。反汇编：将二进制的机器码程序翻译成汇编语言源程序的过程称为“反汇编”。 3．下列程序段经汇编后，从1000H开始的各有关存储单元的内容是什么？ ORG 1000H TAB1 EQU 1234H TAB2 EQU 3000H DB "MAIN" DW TAB1，TAB2，70H 答：从1000H开始的各有关存储单元的内容(16进制)如下： 4DH，41H，49H，4EH，12H，34H，30H，00H，00H，70H 4．设计子程序时应注意哪些问题？答：编写子程序时应注意以下问题：子程序的第一条指令前必须有标号。主程序调用子程序，有如下两条子程序调用指令：

微机原理和接口技术张颖超叶彦斐第3章习题答案解析

习题 1．指出下列指令中操作数的寻址方式 (1) MOV BX, 20H (2) MOV AX, [1245H] (3) MOV DX, [SI] (4) MOV 100[BX], AL (5) MOV [BP][SI], AX (6) MOV [BX+100][SI], AX (7) MOV [1800H], AL (8) MOV [SI], AX 答：源操作数目的操作数 1 立即寻址寄存器寻址 2 直接寻址寄存器寻址 3 寄存器间接寻址寄存器寻址 4 寄存器寻址寄存器相对寻址 5 寄存器寻址基址加变址寻址 6 寄存器寻址相对基址加变址寻址 7 寄存器寻址直接寻址 8 寄存器寻址寄存器间接寻址 2. 判断下列操作数寻址方式的正确性，对正确的指出其寻址方式，错误的说明其错误原因：(1) [AX] (2) [SI+DI] (3) BP (4) BH (5) DS (6) [BL+44] (7) [BX+BP+32] (8) [DX] (9) [CX+90] (10) [BX*4] (11) BX+90H (12) SI[100H] 答： (1) 错误，AX不能用于访问内存单元 (2) 错误，两个变址寄存器SI和DI不能同时用于内存单元的有效地址 (3) 正确，寄存器寻址方式 (4) 正确，寄存器寻址方式 (5) 正确，寄存器寻址方式 (6) 错误，寄存器BL不能用于表示内存单元的有效地址 (7) 错误，BX和BP都是基址寄存器，不能同时用于内存单元的有效地址 (8) 错误，DX不能用于表示内存单元的有效地址 (9) 错误，CX不能用于表示内存单元的有效地址 (10)错误，16位寄存器不能乘以比例因子 (11) 错误，没有这样的寻址方式 (12) 错误，书写方式不对，应该写成100H[SI] 3. 已知DS=2000H，ES=1000H，SS=1010H，SI=1100H，BX=0500H，BP=0200H，请指出下列源操作数字段是什么寻址方式？源操作数字段的物理地址是多少？ (1) MOV AL, [2500H] (2) MOV AX, [BP] (3) MOV AX, ES:[BP+10] (4) MOV AL, [BX+SI+20]

飞针测试原理

飞针测试机原理三句离不开本行,今天给大家介绍下各种测试机的测试原理,我们公司代理的是日本的MICROCRAFT公司生产的EMMA飞针测试机,就是正常检测一块PCB板的开,短路情况. 飞针测试的开路测试原理和针床的测试原理是相同的，通过两根探针同时接触网络的端点进行通电，所获得的电阻与设定的开路电阻比较，从而判断开路与否。但短路测试原理与针床的测试原理是不同的。由于测试探针有限（通常为4∽32根探针），同时接触板面的点数非常小（相应4∽32点），若采用电阻测量法，测量所有网络间的电阻值，那么对具有N个网络的PCB而言，就要进行N2/2次测试，加上探针移动速度有限，一般为10点/秒到50点/秒，不同的测试方法有：充/放电时间（Charge/discharge rise time）法、电感测量(Field measurement)法、电容测量(Capacitance measurement)法、相位差(Phase difference)和相邻网(Adjacency)法、自适应测试(Adaptive measuring)法等等。 1.1充/放电时间法每个网络的充/放电时间（也称网络值，net value）是一定的。如果有网络值相等，它们之间有可能短路，仅需在网络值相等的网络测量短路即可。它的测试步骤是，首件板：全开路测试→全短路测试→网络值学习；第二块以后板：全开路测试→网络值测试，在怀疑有短路的地方再用电阻法测试。这种测试方法的优点是测试结果准确，可靠性高；缺点是首件板测试时间长，返测次数多，测试效率不高。最有代表性的是MANIA公司的SPEEDY机。 1.2电感测量法

表面能的测试原理、方法、步骤

表面能的测试原理、方法、步骤界面能可分为固气界面能(也称固体表面能，以下皆称为固体表面能)、气液界面能(也称液体表面能，以下皆称为液体表面能)和固液界面能。其中固体表面能的测定对多孔材料、焊接、涂料、分子筛等领域的理论研究和生产实践具有重要指导作用；液体表面能的测定则与清洁剂的制造、泡沫分离、润湿、脱色、乳化、催化等技术密切相关；而固液界面能主要在涉及固液接触的领域，如油漆、润滑、清洁、石油开采等领域应用广泛。一、表面能的测试方法就测量方式而言，液体表面能可以直接通过仪器设备测得，而固体表面能和固液界面能却只能通过其他方法间接地计算获得。而又因为固液界面能、固体表面能、液体表面能三者之间存在某种关系，所以求得固体表面能后，固液界面能的计算问题会迎刃而解。目前测量固体表面能的方法主要有劈裂功法、颗粒沉降法、熔融外推法、溶解热法、薄膜浮选、vander Waals Lifshitz理论以及接触角法等。其中，劈裂功法是用力学装置测量固体劈裂时形成单位新表面所做的功(即该材料的表面能#的方法)。溶解热法是指固体溶解时一些表面消失，消失表面的表面能以热的形式释放，测量同一物质不同比表面的溶解热，由它们的差值估算出其表面能的方法。薄膜浮选法、颗粒沉降法均用于固体颗粒物质表面能的测量，而不适用于片状固体表面能的测量。熔融外推法是针对熔点较低的固体的测量方法，具体方法是加热熔化后测量液态的表面能与温度的关系，然后外推至熔点以下其固态时的表面能。此法假设固态时物质的表面性质与液态时相同，这显然是不合理的。Vander Waals Lifshitz理论在固体表面能计算方面虽有应用，但不够精确。接触角法被认为是所有固体表面能测定方法中最直接、最有效的方法，这种方法本质上是基于描述固液气界面体系的杨氏方程的计算方法。二、固体表面能测试原理在非真空条件下液体与固体接触时，整个界面体系会同时受到固体表面能液体表面能和固液界面能作用，使得液体在固体表面呈现特定的接触角（见图1）。提出了著名的杨氏方程（1）式来描述它们之间的关系：

微机原理与接口技术第3章作业答案 (2)

《微机原理与接口技术》第3章作业答案 1. 简要分析8086的指令格式由哪些部分组成，什么是操作码？什么是操作数？寻址和寻址方式的含义是什么？8086指令系统有哪些寻址方式？【解答】8086的指令格式由操作码和操作数字段组成。操作码：要完成的操作。操作数：参与操作的对象。寻址：寻找操作数或操作数地址的过程。寻址方式：指令中给出的找到操作数或操作数地址采用的方式。 8086指令系统的寻址方式主要有立即数寻址、寄存器寻址、存储器寻址和I/O端口寻址。其中，存储器寻址可进一步分为直接寻址、寄存器间接寻址、寄存器相对寻址、基址变址寻址、相对基址变址寻址；I/O 端口指令IN和OUT使用的端口寻址方式有直接寻址和间接寻址。 2. 设(DS)=2000H，(ES)= 2100H，(SS)= 1500H，(SI)= 00A0H，(BX)= 0100H，(BP)= 0010H，数据变量V AL 的偏移地址为0050H，请指出下列指令的源操作数字段是什么寻址方式？它的物理地址是多少？ (1) MOV AX，21H (2) MOV AX，BX (3) MOV AX，[1000H] (4) MOV AX，V AL (5) MOV AX，[BX] (6) MOV AX，ES：[BX] (7) MOV AX，[BP] (8) MOV AX，[SI] (9) MOV AX，[BX+10] (10) MOV AX，V AL[BX] (11) MOV AX，[BX][SI] (12) MOV AX，V AL[BX][SI] 【解答】 (1) MOV AX，21H 立即寻址，源操作数直接放在指令中 (2) MOV AX，BX 寄存器寻址，源操作数放在寄存器BX中 (3) MOV AX，[1000H] 直接寻址，EA = 1000H，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋1000H = 21000H (4) MOV AX，V AL 直接寻址，EA = [V AL] = 0050H，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋0050H = 20050H (5) MOV AX，[BX] 寄存器间接寻址，EA =（BX）= 0100H，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋0100H = 20100H (6) MOV AX，ES：[BX] 寄存器间接寻址，EA =（BX）= 0100H，PA =（ES）×10H＋EA = 2100H×10H＋0100H = 21100H (7) MOV AX，[BP] 寄存器间接寻址，EA =（BP）= 0010H，PA =（SS）×10H＋EA = 1500H×10H＋0010H = 15010H (8) MOV AX，[SI] 寄存器间接寻址，EA =（SI）= 00A0H，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋00A0H = 200A0H (9) MOV AX，[BX+10] 寄存器相对寻址，EA =（BX）＋10D = 0100H＋000AH= 010AH，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋010AH = 2010AH (10)MOV AX，V AL[BX] 寄存器相对寻址，EA =（BX）＋[V AL]= 0100H＋0050H= 0150H，PA =（DS）×10H＋EA = 2000H×10H＋0150H = 20150H (11)MOV AX，[BX][SI] 基址变址寻址，EA = （BX）＋（SI）= 0100H＋00A0H = 01A0H，PA = （DS）×10H＋EA = 2000H×10H ＋01A0H = 201A0H (12)MOV AX，V AL[BX][SI]

集成电路测试原理及方法资料

H a r b i n I n s t i t u t e o f T e c h n o l o g y 集成电路测试原理及方法简介院系：电气工程及自动化学院姓名： XXXXXX 学号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX

摘要随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法

目录一、引言 (4) 二、集成电路测试重要性 (4) 三、集成电路测试分类 (5) 四、集成电路测试原理和方法 (6) 4.1.数字器件的逻辑功能测试 (6) 4.1.1测试周期及输入数据 (8) 4.1.2输出数据 (10) 4.2 集成电路生产测试的流程 (12) 五、集成电路自动测试面临的挑战 (13) 参考文献 (14)

一、引言随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑﹑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。二、集成电路测试重要性随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销售的良性循环，树立企业的良好形象都是至关重要的。次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿，所以应寻求的是质量和经济的相互制衡，以最小的成本满足用户的需要。作为一种电子产品，所有的芯片不可避免的出现各类故障，可能包括：1.固定型故障；2.跳变故障；3.时延故障；4.开路短路故障；5桥接故障，等等。测试的作用是检验芯片是否存在问题，测试工程师进行失效分析，提出修改建议，从工程角度来讲，测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。

北京交通大学《微机原理与接口技术》作业答案

目录《微机原理与接口技术》第一章作业 (2) 一、书上P22 作业题2、3、7 (2) 《微机原理与接口技术》第二章作业 (2) 一、书上P59 作业题2、5、6、9、14 (2) 《微机原理与接口技术》第三章作业 (3) 一、书上P95 作业题4、5、6、7、10、11、12、13、14、15、16、17、18、22、27 ............................................................................................... (4) 《微机原理与接口技术》第四章作业 (8) 一、课本P155 8、12、13、14 (8) 《微机原理与接口技术》第五章作业 (10) 一、作业P180 2、5、7、8、9、10 (11) 《微机原理与接口技术》第六章作业 (13) 一、P207: 1，3，5，10，14。18，19，20 (13) 《微机原理与接口技术》第七章作业(一) (17) 一、P268: 3, 6 , 7, 10 , 11 , 12 (17) 《微机原理与接口技术》第七章作业(二) (20) 一、P268: 15 , 16 , 19，21，25 (20) 《微机原理与接口技术》第八章作业 (24) 一、P292 6 、7 (24)

《微机原理与接口技术》第一章作业一、书上P22 作业题2、3 、7 2.完成下列数制之间的转换。（1）01011100B=92D （3）135D=B （5）B=262Q=B2H 3.组合型BCD码和非组合型BCD码有什么区别写出十进制数254 的组合型BCD数和非组合型BCD数。答：组合型 BCD码的储存格式用一个字节存放 2 位BCD码，高4 位表示十进制的十位数，低 4 位表示十进制的个位数，数值表示范围为0~99；非组合型的储存格式是用一个字节的低 4 位存放 1 位 BCD码，高四位可以为0 或任意数，数值表示范围为0~9。 254D 的组合型BCD码：0000 254D的非组合型BCD码：00000010 00000101 00000100 7. 计算机中为什么采用补码的形式储存数据当计算机的字长n=16 时，补码的数据表示范围是多少答：是为了便于进行加减运算，简化机器硬件结构。当n=16 时，补码表示数值的范围是+32767~-32768 。《微机原理与接口技术》第二章作业一、书上P59 作业题 2 、 5 、 6 、9 、14 2、8086 标志寄存器包含哪些状态标志位试说明各状态标志位的作用. 答： 6 个状态标志位： CF(Carry Flag) ——进位标志位。当执行一个加法( 或减法 ) 运算，使最高位产生进位 ( 或借位) 时，CF为 1；否则为0。 PF(Parity Flag) ——奇偶标志位。该标志位反映运算结果中 1 的个数是偶数还是奇数。当指令执行结果的低8 位中含有偶数个 1 时，PF=1；否则PF=0。 AF(Auxiliary carry Flag) ——辅助进位标志位。当执行一个加法( 或减法) 运算，使结果的低 4 位向高 4 位有进位 ( 或借位) 时，AF=1；否则AF=0。 ZF(Zero Flag) ——零标志位。若当前的运算结果为零，ZF=1；否则ZF=0。 SF(Sign Flag) ——符号标志位。它和运算结果的最高位相同。 OF(Overflow Flag) ——溢出标志位。当补码运算有溢出时，OF=1；否则OF=0。

微机系统原理与接口技术第三章习题解答.

微机系统原理与接口技术 ”第三章习题解答 1．下列各条指令是否有错？如果有，请指出错误之处并改正。 1） MOV DS ， 1000H 2） MOV [100] ，23H 3） ADD AX ， [BX ＋BP ＋6] 4） PUSH DL 5） IN AX ， [3FH] 6） OUT 3FF H ，AL 7） LES SS ， [SI] 8） POP [AX] 9） IMUL 4CH 10) SHL BX ， 5 11) INT 300 12) XCHG DX ， 0FFFH 答：（ 1）错误。不允许直接向段寄存器送立即数，可改为： MOV AX ， 1000H MOV DS ， AX （ 2）错误。该指令在语法上是对的，即可以把一个立即数送入一个存储单元；但是如果考虑实际编译，则第一操作数前应加上 BYTE PTR 或 WORD PTR 说明，否则汇编程序会因不能确定操作数长度而指示出错。可改为： MOV BYTE PTR [100] ， 23H （ 3）错误。不能同时使用两个基址寄存器 BX 、 BP 进行间接寻址，可改为： ADD AX ，[BX ＋DI ＋6] （ 4）错误。堆栈操作应以字为单位进行，而 DL 是一个字节。可改为： PUSH DX （ 5）错误。在输入 /输出指令中， 8 位端口地址应直接写在操作数处。可改为： IN AX ，3FH （ 6）错误。端口地址 3FFH 已超出 8 位二进制表示范围， 16 位端口地址应用 DX 。可改为： MOV DX ， 3FFH OUT DX ， AL （ 7）错误。 LES 指令的目操作数应该是通用寄存器，不能是段寄存器。可改为： LES AX ， [SI] （ 8）错误。 AX 不能用于间接寻址，间接寻址只能用 BX 、BP 、SI 、DI 四个寄存器之一。可改为： POP [BX] （ 9）错误。立即数不能做乘法指令的操作数，可改为： MOV BL ，4CH MOV CL ，5 IMUL BL 10）错误。当逻辑移位的次数大于 1 时，应该用 CL 指示次数。可改为：

测试的基本理论和方法

【转】浅谈软件测试的基本理论与方法随着软件应用领域越来越广泛，其质量的优劣也日益受到人们的重视。质量保证能力的强弱直接影响着软件业的发展与生存。软件测试是一个成熟软件企业的重要组成部分，它是软件生命周期中一项非常重要且非常复杂的工作，对软件可靠性保证具有极其重要的意义。在软件的测试过程中，应该应用各种测试方法，以保证产品有一个较高较稳定的质量。根据不同的生产过程进行不同的测试，包括黑盒测试、cc霜白盒测试、携程网酒店预定功能测试、系统测试、压力测试、安装/卸载测试、兼容性测试、α 测试、β 测试等。软件测试是整个软件开发过程中一段非常重要的阶段，在测试过程中如能按照测试的基本过程来进行测试，软件的质量能有所保障。我做了一个半月的测试，就现在的感觉而言，其实做测试必开发却是是轻松了一点，不是那么的累脑子，但是测试也是很深的一门学问，针对于不同的公司，产品不一样，所要求的测试的技术也不一样。有的公司测试很轻松，但是有的公司测试也是经常加班熬通宵的 1软件测试基础信息技术的飞速发展，使软件产品应用到社会的各个领域，软件产品的质量自然成为人们共同关注的焦点。不论软件的生产者还是软件的使用者，均生存在竞争的环境中，软件开发商为了占有市场，必须把产品质量作为企业的重要目标之一，以免在激烈的竞争中被淘汰出局。用户为了保证自己业务的顺利完成，当然希看选用优质的软件。质量不佳的软件产品不仅会使开发商的维护难度和用户的使用本钱大幅增加，还可能产生其他的责任风险，造成公司信誉下降，继而冲击股票市场。在一些关键应用(如民航订票系统、银行结算系统、证券交易系统、自动飞行控制软件、军事防御、核电站安全控制系统等) 中使用质量有问题的软件，还可能造成灾难性的后果。软件危机曾经是软件界甚至整个计算机界最热门的话题。为了解决这场危机，软件从业职员、专家和学者做出了大量的努力。现在人们已经逐步熟悉到所谓的软件危机实际上仅是一种状况，那就是软件中有错误，正是这些错误导致了软件开发在本钱、进度和质量上的失控。有错是软件的属性，而且是无法改变的，由于软件是由人来完成的，所有由人做的工作都不会是完美无缺的。问题在于我们如何避免错误的产生和消除已经产生的错误，使程序中的错误密度达到尽可能低的程度。 1.1软件测试的概念软件测试是为了发现错误而执行程序的过程。或者说，软件测试是根据软件开发各阶段的规格说明和程序的内部结构而精心设计一批测试用例（即输进数据及其预期的输出结果），并利用这些测试用例去运行程序，以发现程序错误的过程。