材料测试方法 复习题

材料测试方法 复习题
材料测试方法 复习题

1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次?分别可以用什么方法分

析?

化学成分分析(元素分析):谱学法:①常规方法(平均成分):湿化学法 、光谱分析法②先进方法(种类、浓度、价态、分布 ):电子探针、俄歇电子能谱、光电子能谱、X 射线荧光光谱等 晶体结构分析(物相分析):衍射法:主要包括X 射线衍射、电子衍射、中子衍射、射线衍射等;

显微结构分析(显微形貌分析):显微法:主要包括光学显微镜、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜、 原子力显微镜、场离子显微镜等; 2.X 射线与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用?(说出三种以上分析方法及原理)

3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用?(说出四种以上分析方法及原理) 4.什么是(主)共振线、分析线、灵敏线、最后线?

共振线:是指电子在基态与任一激发态之间直接跃迁所产生的谱线。

主共振线:电子在基态与最低激发态之间跃迁所产生的谱线则称为主共振线。 灵敏线:原子光谱中最容易产生的谱线,一般主共振线即为灵敏线

最后线:当样品中某元素的含量逐渐减少时,最后仍能观察到的几条谱线。它也是该元素的最灵敏线。

5.原子发射光谱定性分析基本原理和定量分析的依据及定性、定量分析方法。 定性分析:基本原理:如果样品中有某些元素存在,那么只要在合适的激发条件下,样品就会辐射出这些元素的特征谱线,在感光板的相应位置上就会出现这些谱线。检出某元素是否存在,必须有2条以上不受干扰的最后线与灵敏线。分析方法:常采用摄谱法,通过比较试样光谱与纯物质光谱或铁光谱来确定元素的存在。即标准试样光谱比较法和铁光谱比较法

定量分析:依据: 据此式可以绘制

校准曲线,进行定量分析。分析方法:校正曲线法和标准加入法 6.原子吸收光谱的基本原理与分析方法。

基本原理:当入射辐射的能量等于原子中的电子由基态跃迁到较高能态所需要的能量时,原子就要从辐射场中吸收能量,产生共振吸收,电子由基态跃迁到激发态,同时伴随着原子吸收光谱的产生。由于各元素的原子结构和外层电子的排布不同,元素从基态跃迁至第一激发态时吸收的能量不同,因而各元素的共振吸收线具有不同的特征。原子吸收光谱位于紫外区和可见区。 分析方法:标准曲线法和标准样加入法

7.红外光谱分析的基本原理、方法及应用。

基本原理:分子的振动具有一些特定的分裂的能级。当用红外光照射物质时,该物质结构中的质点会吸收一部分红外光的能量。引起质点振动能量的跃迁,从而使红外光透过物质时发生了吸收而产生红外吸收光谱。被吸收的特征频率取决于物质的化学成分和内部结构。每一种具有确定化学组成和结构特征的物质,都应具有特征的红外吸收谱图(谱带位置、谱带数目、谱带宽度、谱带强度)等。当化学组成和结构特征不同时,其特征吸收谱图也就发生了变化。 方法:根据红外光谱的特征吸收谱图对物质进行分析鉴定工作,按其吸收的强度来测定它们的含量。 应用:1)、有机化学领域,无机化合物、矿物的红外鉴定;2)、利用红外光谱可以测定分子的键长、键角大小,并推断分子的立体构型,或根据所得的力常数,间接得知化学键的强弱,也可以从简正振动频率来计算热力学函数等;3)、主要用途:对物质作定性分析和定量分析。

8.拉曼光谱分析的基本原理及应用。什么斯托克斯线和反斯托克斯线?什么是拉曼位移?

基本原理:按照量子理论,光的散射是光量子与分子碰撞的结果;分为:弹性散射和非弹性散射。

弹性散射:光量子与分子不交换能量,因而光量子的能量和频率保持不变。非弹性散射:光量子与分子之间有能量交换。有两种情况:(1)分子处于基态振动能级,与光子碰撞后,从光子中获取能量达到较高的能级。若与此相应的跃迁能级有关的频率是ν1,那么分子从低能级跃到高能级从入射光中得到的能量为h ν1,而散射光子的能量要降低到h ν0-h ν1,频率降低为ν0-ν1。(2)分子处于振动的激发态上,并且在与光子相碰时可以把h ν1的能量传给光子,形成一条能量为h ν0+h ν1和频率为ν0+ν1的谱线。

通常把低于入射光频的散射线ν0-ν1称为斯托克斯线。高于入射光频的散射线ν0+ν1称为反斯托克斯线。ν1称为拉曼位移,拉曼位移的大小取决于分子振动跃迁能级差。

9.X 射线荧光光谱定性、定量分析的基本原理,什么是基本体吸收效应?如何消除?

定性分析——根据波长或能量确定成分;定量分析——根据强度确定成分含量。 基本体吸收效应:试样的吸收系数与其成分有关,当试样的化学成分变化时,其吸收系数也随之改变。

元素A 的荧光X 射线强度不但与元素A 的含量有关,还与试样内其他元素的种类和含量有关。

吸收包括两部分:一次X 射线进入试样时所受的吸收和荧光X 射线从试样射出时所受的吸收。

吸收的多少与X 射线的波长和试样中各元素的含量、吸收系数及其吸收限有关。 采用实验校正法、数学校正法消除

10. 波谱仪与能谱仪的展谱原理及特点。

11. XPS 的分析原理是什么?

XPS 的测量原理是建立在Einstein 光电效应方程基础上的,光电子动能为:E c =hv- E B -(-w ) 式中hv 和-w 是已知的,E c 可以用能量分析器测出,于是E B 就知道了。同种元素的原子,不同能级上的电子E B 不同,所以在相同的hv 和-w 下,同一元素会有不同能量的光电子,在能谱图上,就表现为不止一个谱峰。其中最强而又最易识别的就是主峰,主要用主峰来进行分析。不同元素,元素各支壳层的E B 具有特定值,所以用能量分析器分析光电子的E c ,便可得出E B ,对材料进行表面分析。

12. XPS 的应用及特点,XPS 中的化学位移有什么用?

X 射线光电子能谱主要应用:分析表面化学元素的组成、化学态及其分布,特别是原子的价态、表面原子的电子密度、能级结构。即元素定性分析(元素以及该元素原子所处的化学状态)、定量分析、化合物结构鉴定、表面分析、深度分布分析

特点:最大特点是可以获得丰富的化学信息,它对样品的损伤是最轻微的,定量也是最好的。

(1)可以分析除H 和He 以外的所有元素,可以直接得到电子能级结构的信息。 (2) 它提供有关化学键方面的信息,即直接测量价层电子及内层电子轨道能级,而相邻元素的同种能级的谱线相隔较远,互相干扰少,元素定性的标志性强。(3) 是一种无损分析。

(4) 是一种高灵敏超微量表面分析技术。分析所需试样约10-8

g 即可,绝对灵敏

度高达10-18

g ,样品分析深度约2 nm 。

它的缺点是由于X 射线不易聚焦,因而照射面积大,不适于微区分析。

XPS 中的化学位移作用:由于原子处于不同的化学环境里而引起的结合能位移称为化学位移。原子核附近的电子受核的引力和外层价电子的斥力,当失去价电子而氧化态升高时,电子与原子核的结合能增加,射出的光电子动能减小。化学位移的量值与价电子所处氧化态的程度和数目有关。氧化态愈高,则化学位移愈大。这种化学位移与氧化态有关的现象,在其他化合物中也是存在的,利用这一信息可研究化合物的组成。

13. 俄歇电子能谱分析的原理、应用及特点。 原理:原子K 层电子被击出,L 层电子(L2)向K 层跃迁,其能量差ΔE=EK-EL2可能不是以产生一个K 系X 射线光量子的形式释放,而是被邻近的电子(L2)所吸收,使这个电子受激发而成为自由电子,这就是俄歇效应,这个自由电子就称为俄歇电子。,俄歇电子的能量与参与俄歇过程的三个能级能量有关。ΔE =E K -E L2-E L2 能量是特定的,与入射X 射线波长无关,仅与产生俄歇效应的物质的元素种类有关。

应用:1)材料表面偏析、表面杂质分布、晶界元素分析;2)金属、半导体、复合材料等界面研究;

3)薄膜、多层膜生长机理的研究;4)表面的力学性质 (如摩擦、磨损、粘着、断裂等)研究;

5)表面化学过程(如腐蚀、钝化、催化、晶间腐蚀、氢脆、氧化等)研究;6)集成电路掺杂的三维微区分析;7)固体表面吸附、清洁度、沾染物鉴定等。 特点:1)作为固体表面分析法,其信息深度取决于俄歇电子逸出深度(电子平均自由程)。对于能量为50eV-2keV 范围内的俄歇电子,逸出深度为0.4-2nm ,深度分辨率约为l nm ,横向分辨率取决于入射束斑大小。 2)可分析除H 、He 以外的各种元素。3)对于轻元素C 、O 、N 、S 、P 等有较高的分析灵敏度。4)可进行成分的深度剖析或薄膜及界面分析。

14. 扫描隧道显微镜基本原理及特点、工作方式。

基本原理:量子力学认为:电子波函数ψ向表面传播,遇到边界,一部分被反射(ψR ),而另一部分则可透过边界(ψT ),从而形成金属表面上的电子云。粒子可以穿过比它能量更高的势垒,这个现象称为隧道效应。尖锐金属探针在样品表面扫描,利用针尖-样品间纳米间隙的量子隧道效应引起隧道电流与间隙大小呈指数关系,获得原子级样品表面形貌特征图象。

特点:1)STM 结构简单。2)其实验可在多种环境中进行:如大气、超高真空或液体(包括在绝缘液体和电解液中)。3)工作温度范围较宽,可在mK 到1100K 范围内变化。这是目前任何一种显微技术都不能同时做到的。4)分辨率高,扫描隧道显微镜在水平和垂直分辨率可以分别达到0.1nm 和0.01nm 。因此可直接观察到材料表面的单个原子和原子在材料表面上的三维结构图像。5)在观测材料表面结构的同时,可得到材料表面的扫描隧道谱(STS ),从而可以研究材料表面化学结构和电子状态。6)不能探测深层信息,无法直接观察绝缘体。 工作方式:恒电流模式:扫描时,在偏压不变的情况下,始终保持隧道电流恒定;

恒高模式:始终控制针尖在样品表面某一水平高度上扫描,随样品表面高低起伏,隧道电流不断变化。

15. 原子力显微镜工作原理及应用。

工作原理:原子力显微镜是一种类似于扫描隧道显微镜的显微技术,它的仪器构成(机械结构和控制系统)在很大程度上与扫描隧道显微镜相同。如用三维压电扫描器,反馈控制器等。它们的主要不同点是扫描隧道显微镜检测的是针尖和样品间的隧道电流,而原子力显微镜检测的是针尖和样品间的力。

应用:原子力显微镜对所分析样品的导电性无要求,已成为表面科学研究的重要手段,在金属、无机、半导体、电子、高分子等材料中得到了广泛应用。(一)几十到几百纳米尺度的结构特征研究 (二)原子分辨率下的结构特征研究(三)在液体环境下成像对材料进行研究(四)测量、分析表面纳米级力学性能(吸附力、弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力等)(五)实现对样品表面纳米加工与改性

16. 什么是离子探针?离子探针的特点。

离子探针微区分析仪,简称离子探针。在功能方面离子探针与电子探针类似,只是以离子束代替电子束,以质谱仪代替X 射线分析器。利用细小的高能(能量为1~20keV )离子束照射在样品表面,激发出正、负离子(二次离子); 利用质谱仪对这些离子进行分析,测量离子的质荷比(m/e )和强度,确定固体表面所含元素的种类及其含量。

特点:1)可作同位素分析;2)可对几个原子层深度的极薄表层进行成分分析。利用离子束溅射逐层剥离,得到三维的成分信息;3)一次离子束斑直径缩小至微米量级时,可拍摄特定二次离子的扫描图像。并可探测极微量元素(50ppm );4)可高灵敏度地分析包括氢、锂在内的轻元素,特别是可分析氢。 17. 场离子显微镜的成像原理。

当成像气体进入容器后,受到自身动能的驱使会有一部分达到阳极附近,在极高的电位梯度作用下气体原子发生极化,即使中性原子的正、负电荷中心分离而成为一个电偶极子。

极化原子被电场加速撞击样品表面,气体原子在针尖表面作连续的非弹性跳动。 尽管样品的尖端表面呈半球形,可是由于原子的不可分性使得这一表面实质上是由许多原子平面的台阶所组成,处于台阶边缘的原子总是突出于平均的半球形表面而具有更小的曲率半径,在其附近的场强亦更高。

当弹跳中的极化原子陷入突出原子上方某一距离(约0.4nm )的高场区域时,若气体原子的外层电子能态符合样品中原子的空能级能态,该电子将有较高的几率通过“隧道效应”而穿过表面位垒进入样品,从而使成像气体原子变为正离子——场致电离 。

此时,成像气体的离子由于受到电场的加速而径向地射出,当它们撞击观察荧光屏时,即可激发光信号。

18. 什么是穆斯堡尔效应?穆斯堡尔谱的应用。 无反冲核γ射线发射和共振吸收现象称为穆斯堡尔效应。

lg lg lg I b c A =+lg lg I c -

原子核(发射体)从激发态跃迁到基态,发射出具有能量为E(能级差)的γ 光子.这一γ光子在通过同种元素处于基态的原子核(吸收体)时,将被原子核吸收。吸收体中的原子核吸收了γ光子的能量便可跃迁到激发态,这就是原子核的共振吸收。

应用:(一)分析化学的工具。可用于测定矿石、合金和废物中的总含铁量和总含锡量。(二)在金属材料研究中的应用。穆斯堡尔核作为试探原子,能获得原子尺度内微观结构的信息,是研究钢的淬火、回火,有序-无序转变、时效析出、固溶体分解等过程的动力学,晶体学和相结构等问题的有效工具。(三)磁性材料研究。可用于判断各种磁性化合物结构的有效手段。可用于测定反铁磁性的奈尔点、居里点和其它各种类型的磁转变临界点;也可用于测定易磁化轴,研究磁性材料中的非磁性相。(四)生物学和生物化学的应用。可用于研究包括红血蛋白、肌红蛋白、氧化酶、过氧化酶、铁氧还原蛋白和细胞色素等范围极广的含铁蛋白质的结构和反应机理研究。(五)地质、考古方面,穆斯堡尔谱学也是一种有用的“指纹”工具。

19.核磁共振的基本原理及共振条件。

20.DTA的基本原理,DTA在材料研究中有什么用处?

原理:在程序控制温度下,测量物质与参比物(基准物)的温度差随时间或温度变化。当试样发生任何物理或化学变化时,所释放或吸收的热量使样品温度高于或低于参比物的温度,从而相应地在差热曲线上得到放热或吸热峰。

用处:1、凡是在加热(或冷却)过程中,因物理-化学变化而产生热效应的物质,均可利用差热分析法加以研究。合金相图的建立、玻璃及陶瓷相态结构的变化、非晶晶化动力学的研究、凝胶材料烧结进程研究2、可用于部分化合物的鉴定3、依据差热分析曲线特征,如各种吸热与放热峰的个数、形状及位置等,可定性分析物质的物理或化学变化过程,还可依据峰面积半定量地测定反应热。21.影响差热曲线形态的因素主要有哪些?

(一)实验条件的影响1.升温速率的影响。程序升温速率主要影响DTA曲线的峰位和峰形,升温速率越大,峰位越向高温方向迁移以及峰形越陡。2.气氛的影响3.参比物的影响(二)仪器因素的影响。仪器因素是指与热分析仪有关的影响因素,主要包括:加热炉的结构与尺寸、坩埚材料与形状、热电偶性能及位置等。(三)样品的影响1.样品用量的影响。通常用量不宜过多,因为过多会使样品内部传热慢、温度梯度大,导致峰形扩大和分辨率下降。2.样品形状及装填的影响。样品形状不同所得热效应的峰的面积不同,以采用小颗粒样品为好,通常样品应磨细过筛并在坩埚中装填均匀。3.样品的热历史的影响。许多材料往往由于热历史的不同面产生不同的晶型或相态,以致对DTA 曲线有较大的影响

22.DSC的基本原理及应用。

DSC(差示扫描量热法)是在程序控制温度下,测量输入给样品和参比物的功率差与温度之间关系的一种热分析方法。

应用:差示扫描量热法与差热分析法的应用功能有许多相同之处,但由于DSC 克服了DTA以ΔT间接表达物质热效应的缺陷,分辨率高、灵敏度高等优点,因而能定量测定多种热力学和动力学参数,且可进行晶体微细结构分析等工作。样品焓变的测定、样品比热的测定、研究合金的有序—无序转变、

23.相干散射与非相干散射及对衍射的贡献。

24.光电效应、荧光辐射、俄歇效应,荧光产率与俄歇电子产率。

光电效应:在外界光的作用下,物体(主要指固体)中的原子吸收光子的能量,使其某一层的电子摆脱其所受的束缚,在物体中运动,直到这些电子到达表面。如果能量足够、方向合适,便可离开物体的表面而逸出,成为光电子。

荧光辐射:处于激发态的原子,要通过电子跃迁向较低的能态转化,同时辐射出被照物质的特征x射线,这种由入射x射线激发出的特征x射线,称为二次特征x射线(荧光x射线)此种辐射又称为荧光辐射

俄歇效应:原子K层电子被击出,L层电子(L2)向K层跃迁,其能量差ΔE=EK-EL2可能不是以产生一个K系X射线光量子的形式释放,而是被邻近的电子(L2)所吸收,使这个电子受激发而成为自由电子,这就是俄歇效应

荧光产率与俄歇电子产率:在激发原子的去激发过程中,存在两种不同的退激发方式:一种是俄歇跃迁过程;另一种是荧光过程。俄歇跃迁几率(P A)与荧光产生几率P X之和为1:P A+P X=1 当元素的原子序数小于19时(即轻元素),俄歇跃迁几率(PA)在90以上。直到原子序数增加到33时,荧光几率才与俄歇几率相等。

25.产生衍射的必要条件(布拉格方程)及充分条件。

26.晶粒大小与X射线衍射线条宽度的关系。

27.物相定性分析、定量分析的原理。

28.扫描电镜二次电子像与背散射电子像。

29.扫描电镜图像衬度(形貌衬度、原子序数衬度)。

30.什么是电子探针?电子探针的原理及工作方式。

材料研究与测试方法复习题答案版

材料研究与测试方法复习题答案版

复习题 一、名词解释 1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。 2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。 3、Moseley定律:对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。 4、相对强度:同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。 5、积分强度:扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。 6、明场像暗场像:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。 7、透射电镜点分辨率、线分辨率:点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异; 9、衍射衬度:由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异;10相位衬度:入射电子收到试样原子散射,得到透射波和散射波,两者振幅接近,强度差很小,两者之间引入相位差,使得透射波和合成波振幅产生较大差异,从而产生衬度。 11像差:从物面上一点散射出的电子束,不一定全部聚焦在一点,或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面,结果图像模糊不清,或者原物的几何形状不完全相似,这种现象称为像差 球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的 像散:由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差 色差:由于成像电子的波长(或能量)不同而引起的一种像差 12、透镜景深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,物平面可沿透镜轴移动的距离 13、透镜焦深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,像平面可沿透镜轴移动的距离 14、电子衍射:电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时,被晶体中原子散射,各散射电子波之间产生互相干涉现象。它满足劳厄方程或布拉格方程,并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度,λ为入射电子束波长,R是透射斑点与衍射斑点间的距离。 15、二次电子:二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子。

2016广工研究生测试技术复习提纲答案

1.简答题(每小题8分,5道小题,共40分) 2.分析和设计题(2道小题,共30分) 3.计算题(每小题15分,2道小题,共30分) 第一部分: 1. 信号与信息的区别,测量、计量、测试的区别。 答:信息 消息、情报或知识,信息是物质世界的运动状态与转换方式,是物质 的本质属性。 信号物理量,物质,具有能量。信号是信息的载体,信息总是蕴涵在信号之中, 并依靠信号来传输。 测量确定被测对象量值的实验过程。 计量单位统一和量值准确的测量一般称为计量。 测试具有试验性质的测量或者说测量和试验的结合。 2.测量方法和测量误差的分类。 测量方法分为:a 按是否直接测定被测量的原则,测量方法可分为直接测量和间 接测量;b 按被测量是否直接和已知的同种量进行比较的原则,可分为直接比较 测量和间接比较测量; c 按传感器是否和被测物体产生机械接触,可分为接 触测量和非接触测量;d 按测量条件,可分为等精度测量和不等精度测量。F 按 被测量是否随时间变化的原则可分为:动态测量和静态测量。 测量误差的分类 :根据测量误差的统计特征不同,可分为系统误差、随机误差 和粗大误差; 按照误差的产生原因不同,可分为器具误差、方法误差、调整误 差、观测误差和环境误差和测量对象误差; 按照误差的表示方法不同,可分为 绝对误差、相对误差、引用误差和分贝误差。 3.测量结果如何表达?计算 ○ 1基于误差极限的表达式为:max 0δ±=x x ,max δ为极限误差 ○2基于t 分布的表达式:如果测量值x 服从正态分布N (u , ),则测量样本x 的基于t 分布的测量结果的表达式为:∧±=x t x x δβ0 (置信概率为β),该表达 方式受到测量值所服从的概率分布的限制。 ○ 3基于不确定度的表达方式:测量结果=样本平均值±不确定度 n s x x x x ±=±=∧δ0 不确定度可用样本平均值x 的标准偏差x δ来表征

材料物理专业《材料分析测试方法A》作业

材料物理专业《材料分析测试方法A 》作业 第一章 电磁辐射与材料结构 一、教材习题 1-1 计算下列电磁辐射的有关参数: (1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); (2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 1-5 下列原子核中,哪些核没有自旋角动量? 12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。 1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明(001)、(002)和(003)面,并据此回答: 干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布?为什么? 1-9 已知某点阵∣a ∣=3?,∣b ∣=2?,γ = 60?,c ∥a ×b ,试用图解法求r *110与r *210。 1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带? )331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。 二、补充习题 1、试求加速电压为1、10、100kV 时,电子的波长各是多少?考虑相对论修正后又各是多 少? 第二章 电磁辐射与材料的相互作用 一、教材习题 2-2 下列各光子能量(eV )各在何种电磁波谱域内?各与何种跃迁所需能量相适应? 1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。 2-3 下列哪种跃迁不能产生? 31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。 2-5 分子能级跃迁有哪些类型?紫外、可见光谱与红外光谱相比,各有何特点? 2-6 以Mg K α(λ=9.89?)辐射为激发源,由谱仪(功函数4eV )测得某元素(固体样品) X 射线光电子动能为981.5eV ,求此元素的电子结合能。 2-7 用能级示意图比较X 射线光电子、特征X 射线与俄歇电子的概念。 二、补充习题 1、俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同?为什么? 2、简述X 射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 第三章 粒子(束)与材料的相互作用 一、教材习题 3-1 电子与固体作用产生多种粒子信号(教材图3-3),哪些对应入射电子?哪些是由电子 激发产生的?

材料现代测试方法

一,名词解释 1,化学位移:共振频率发生了变化,在谱图上反映出了谱峰位置的移动。 2,特征吸收峰:通常把能代表基团存在,并有较高强度的吸收谱带称为基团频率,其所在的位置一般又称为特征吸收峰。 3,熔融指数:指在一定的温度下和规定负荷下,10min内从规定直径和长度的标准毛细管内流出的聚合物的熔体的质量,用MI表示,单位为g/10min。 4,平衡熔点:理论上将在熔点温度附近经长时间结晶得到的晶体完全熔融的温度称之为该聚合物的平衡熔点 5,普适标准曲线:流力学体积与保留体积的关系曲线具有普适性。 6,依数性:依数性是指溶液的热力学性质只与溶质的数量有关而与其性质、种类无关 7,基频性:分子吸收红外辐射后,由基态振动能级(v=0)跃迁至第一振动激发态(v=1)时,所产生的吸收峰 8,入口效应:聚合物熔体在流入一个直径较小的口模时,在管道入口处流线出现收敛,压力降突然增大。 二,填空 1,溶液的依数性包括沸点上升, 冰点下降, 蒸气压和渗透压。高分子溶液只有在浓度极低的情况下才近似与理想溶液的依数性相同利用依数性测得的分子量为数均分子量 2,测定链结构的方法有X射线衍射法、电子衍射法、中心散射法、裂解色谱-质谱、紫外吸收光谱、红外吸收光谱、拉曼光谱、微波分光法、核磁共振法、顺磁共振法、荧光光谱、偶极距法、旋光分光法、电子能谱等。测定聚集态结构的方法有X射线小角衍射、电子衍射法、电子显微镜、光学显微镜、原子力显微镜、固体小角激光光散射等。测定结晶度的方法有X射线衍射法、电子衍射法、核磁共振吸收、红外吸收光谱、密度法、热分析法。测定高聚物取向程度的方法有双折射法、X射线衍射法、圆二色性法、红外二色性法。相对分子质量的测定方法:溶液光散射法、凝胶渗透色谱法、粘度法、扩散法、超速离心法、溶液激光小角散射法、渗透压法、气相渗透压法、沸点升高法、端基滴定法。支化度的测定方法:化学反应法、红外光谱法、凝胶渗透色谱法、粘度法。交联度测定方法:溶胀法、力学测定法。相对分子质量分布的测定方法:凝胶渗透色谱法、熔体流变行为、分级沉淀法、超速离心法。 3,高聚物的力学性能主要是测定材料的强度和模量以及变形。材料本体粘流行为主要是测定粘度以及切变速率的关系、剪应力与切变速率的关系等。采用的仪器有旋转粘度计、熔融指数测定仪、各种毛细管流变仪。材料的热性能主要测材料的导热系数、比热容、热膨胀剂系数、耐热性、耐燃性、分解温度等。测试仪器有:高低温导热系数测定仪、差示扫描量热仪、量热计、线膨胀和体膨胀测定仪、马丁耐热仪、热失重仪、硅碳耐燃烧试验机。材料的电学性能主要测材料的电阻、介电常数、介电损耗角正切、击穿电压。采用仪器有高阻计、电容电桥介电性能测定仪、高压电击穿试验机。 测定材料的密度,采用密度计法和密度梯度管法。测定透光度采用透光度计。测定透气性采用透气性测定仪。测定吸湿性采用吸湿计。测定吸音系统采用声衰减测定仪。 三,问答 1,红外光谱如何表示?峰强、峰位、峰数受什么因素的影响? 答:横坐标:波数(υ)400~4000 cm-1;表示吸收峰的位置。 纵坐标:透过率(T%),表示吸收强度。T↓,表明吸收的越好,故曲线低谷表示是一个好的吸收带。 峰位——化学键的力常数越大,原子折合质量越小,键的振动频率越大,吸收峰将出现在高波数区;反之,出现在低波数区。

材料研究与测试方法复习题答案版

复习题 一、名词解释 1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。 2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。 3、Moseley定律:对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。 4、相对强度:同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。 5、积分强度:扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。 6、明场像暗场像:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。 7、透射电镜点分辨率、线分辨率:点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异; 9、衍射衬度:由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异;10相位衬度:入射电子收到试样原子散射,得到透射波和散射波,两者振幅接近,强度差很小,两者之间引入相位差,使得透射波和合成波振幅产生较大差异,从而产生衬度。 11像差:从物面上一点散射出的电子束,不一定全部聚焦在一点,或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面,结果图像模糊不清,或者原物的几何形状不完全相似,这种现象称为像差 球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的 像散:由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差 色差:由于成像电子的波长(或能量)不同而引起的一种像差 12、透镜景深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,物平面可沿透镜轴移动的距离 13、透镜焦深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,像平面可沿透镜轴移动的距离 14、电子衍射:电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时,被晶体中原子散射,各散射电子波之间产生互相干涉现象。它满足劳厄方程或布拉格方程,并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度,λ为入射电子束波长,R是透射斑点与衍射斑点间的距离。 15、二次电子:二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子。

机械工程测试技术基础复习提纲

Chapter 1 1、信号的三种分类方法及其定义 (1)确定性信号与随机信号。若信号可表示为一个确定的时间函数,因而可确定其任何时刻的量值,这种信号称为确定性信号(分为周期信号,非周期信号);随机信号是一种不能准确预测未来瞬时值,也无法用数学关系式来描述的信号。 (2)连续信号和离散信号。若信号数学表示式中的独立变量取值是连续的,为连续信号;若独立变量取离散值,为离散信号。 (3)能量信号和功率信号。电压信号x(t)加到电阻R上,其瞬时功率P(t)=x2(t)/R。把信号x(t)的平方x2(t)及其对时间的积分分别称为信号的功率和能量。 2、周期信号频谱的三个特点 (1)周期信号的频谱是离散的(2)每条谱线只出现在基波频率的整数倍上,基波频率是诸分量频率的公约数(3)各频率分量的谱线高度表示该谐波的幅值或相位角。 3、傅里叶变换的性质(P30 表1-3) 时域 频域 δ(t)? 1 (单位瞬时脉冲)(均匀频谱密度函数) 1 ?δ(f)(幅值为1的直流量)在(f=0处有脉冲谱线) δ(t-t0)?e-j2πfto δ函数时移t0 (各频率成分分别相移2πfto 角) ej2πfot ?δ (f-f0) (复指数函数)(将δ(f)频移到f0) 正、余弦函数的频谱密度函数: 由sin2πf0t=j(e-j2πfot-ej2πfot)/2,cos2πf0t=(e-j2πfot+ej2πfot)/2,变换为sin2πf0t?j[δ(f+f0)-δ(f-f0)]/2,cos2πf0t? [δ(f+f0)+δ(f-f0)]/2

第 2 页 共 7 页 5、各态历经平稳随机过程定义及其性质 定义:平稳随机过程是指其统计特征参数不随时间而变化的随机过程。 性质:当取样在时间轴上作任意平移时,随即过程的所有有限维分布函数是不变的。 6、随机信号的主要特征参数及其含义 参数:(1)均值、方差和均方值(2)概率密度函数(3)自相关函数(4)功率谱密度函数。 含义:均值μx 表示信号的常值分量,方差σx2描述随机信号的波动分量,均方值φ2描述随机信号的强度。概率密度函数表示信号幅值落在指定区间的概率。自相关函数,假如x(t)是某各态历经随机过程的一个样本记录,x (t+τ)是时移的样本,在任何t=ti 时刻,从两个样本上可以分别得到两个值x(ti )和x (ti +τ),而且x(t) 和x (t+τ)具有相同的均值和标准差。功率谱密度函数,.对于具有连续频谱和有限平均功率的信号或噪声,表示其频谱分量的单位带宽功率的频率函数。 习题1-3求指函数x (t )=Ae-at (a>0,t ≥0)的频谱。 解:指函数的频谱 x (t )=X (f )? ∞∞ -x (t )e-j2πftdt=? ∞ Ae-ate-j2π ftdt=A/(a+j2πf) 习题1-6求指数衰减振荡函数x (t )=e -at sinw 0t 的频谱。 解:指数衰减振荡函数的频谱x (t )=X (f )?∞ ∞-x (t )e -j2πft dt=?∞ (e -at sin2πf 0t )e -j2πft dt=?∞0 e -at 2j (e -j2πfot - e j2πfot )e -j2π ft dt=2 j ( ) π()π(fo -f j2a 1-fo f 2j a 1+++) Chapter 2 1、测试装置的静态特性参数有哪几个?各自的含义? 参数及含义:(1)线性度,测量装置输入、输出之间的关系与理想比例关系(即理想直线关系)的偏离程度(2)灵敏度,单位输入变化引起的输出变化,通常使用理想直线的斜率作为测量装置的灵敏度值(3)回程误差(迟滞),描述测量装置同输入变化方向有关的输出特性(4)分辨力, 引起测量装置的输出值产生一颗可察觉变化的最小输入量(被测量)变化值称为分辨力(5)零点漂移和灵敏度漂移,零点漂移是测量装置的输出零点偏离原始零点的距离;灵敏度漂移则是由于材料性质的变化引起的输入与输出的关系(斜率)的变化。总误差是零点漂移与灵敏度漂移只和。 2、传递函数的分母由什么决定?分子由什么决定? 传递函数H (s )=Y (s )/X (s ),分母X (s )取决于系统的结构。分母中s 的最高次幂n 代表系统微分方程的阶数。分子Y (s )则和系统同外界之间的关系。如输入(激励)点的位置、输入方式、被测量及测点布置情况有关。 3、一阶系统的传递函数、频率响应函数、幅频特性和相频特性 传递函数:H (s )=1/(τs+1),频响函数:H (w )=1/(j τw+1),幅频特 性:A (w )= 2 w 11 ) (τ+,ψ(w )=-arctan (τw ),负号表 示输出信号滞后于输入信号。 4、二阶系统的传递函数、频率响应函数、幅频特性和相频特性 传递函数:2 n n 2 2 n s 2s s H ωξωω++=)(,频响函 数: n 2n j 2]- 1[1 H ωωξωωω+= )()(,幅频 特性: 2 n 222n 4]1[1 A )()( )(ωωξωωω++= ,相频特性: 2 n n -12-arctan ) ()( )(ωωωω ξωψ= 5、实现不失真测试的条件 设有一个测量装置,其输出y (t )和输入x (t )满足y (t )=A0x (t-t0),

ch05材料分析测试方法作业答案

第五章 X 射线衍射分析原理 一、教材习题 5-2 “一束X 射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能 产生衍射”,此种说法是否正确? 答:不正确。(根据劳埃一维方程,一个原子列形成的衍射线构成一系列共顶同轴的衍射圆锥,不仅镜面反射方向上才有可能产生衍射。) 5-3 辨析概念:X 射线散射、衍射与反射。 答:X 射线散射:X 射线与物质作用(主要是电子)时,传播方向发生改变的现象。 X 射线衍射:晶体中某方向散射X 射线干涉一致加强的结果,即衍射。 X 射线反射:晶体中各原子面产生的反射方向上的相干散射。与可见光的反射不同,是“选择反射”。 在材料的衍射分析工作中,“反射”与“衍射”通常作为同义词使用。 5-4 某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:( 43,43,1)和(4 1 ,41,2 1 ),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。 答:根据题意,可画出二个同类原子的位置,如下图所示: 如果将原子(1/4,1/4,1/2)移动到原点(0,0,0),则另一原子(3/4,3/4,1)的坐标变为(1/2,1/2,1/2),因此该晶体属布拉菲点阵中的斜方体心点阵。 对于体心点阵: ])1(1[)()2/2/2/(2)0(2L K H L K H i i f fe fe F ++++-+=+=ππ

???=++=++=奇数时 ,当偶数时; 当L K H 0,2L K H f F ?? ?=++=++=奇数时 ,当偶数时; 当L K H L K H f 0,4F 22 或直接用两个原子的坐标计算: ()()()()()()()3 31112()2()4444211111122()222442 111 2() 4421 (2)2 11111111i h k l i h k l i h k l i h k l i h k l h k l i h k l h k l h k l F f e e f e e f e f e f ππππππ++++??++++ ? ??++++++++++??=+ ? ????=+?????? ??=+-?? ?? =+-?? ??=+-±?? 所以 F 2=f 2[1+(-1)(h +k +l )]2 因此,(100)和(221),h +k +l =奇数,|F |2=0;(110)、(211),h +k +l =偶数,|F |2=4f 2。 5-7 金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、 ( 21,21,0)、(21,0,21)、(0,21,21)、(41,41,41)、(43,43,41 )、(43,41,43)、(41,43,4 3),原子散射因子为f a ,求其系统消光规律(F 2 最简表达式),并据此说明结构消光的概念。 答:金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、(1/2,1/2,0)、(1/2,0,1/2)、(0,1/2,1/2)、(1/4,1/4,1/4)、(3/4,3/4,1/4)、(3/4,1/4,3/4)、(1/4,3/4,3/4),可以看成一个面心立方点阵和沿体对角线平移(1/4,1/4,1/4)的另一个面心立方点阵叠加而成的。

(完整word版)教案-材料现代分析测试方法

西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名:张宝述 课程名称:材料现代分析测试方法 课程代码:11319074 授课对象:本科专业:材料物理 授课总学时:64 其中理论:64 实验:16(单独开课) 教材:左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社,2000 材料学院教学科研办公室制

2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子(束)与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1.理解概念:(电子的)最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射;掌握概念:散射角(2 )、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流(电子)、透射电子、二次离子。 2.了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3.掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4.掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5.掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6.了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点:电子的散射,电子与固体作用产生的信号。难点:电子与固体的相互作用,离子散射,溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号(教材图3-3),哪些对应入射电子?哪些是由电子激发产生的? 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同? 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多,而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当,这是为什么? 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4

材料分析测试技术复习题 附答案

材料分析测试技术复习题 【第一至第六章】 1.X射线的波粒二象性 波动性表现为: -以波动的形式传播,具有一定的频率和波长 -波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象 粒子性突出表现为: -在与物质相互作用和交换能量的时候 -X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射 2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限 定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱 λ∞,波?当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ 0开始直到波长无穷大长连续分布 ?随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ 0处)向短波端移动 ?λ 0 正比于1/V, 与靶元素无关 ?强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)

?单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述) 短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。 3.连续x射线谱产生机理 【a】.经典电动力学概念解释: 一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。 【b】.量子理论解释: * 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱 * 存在ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出λ0=1.24/ V (nm) (V为电子通过两极时的电压降,与管压有关)。 * 一般ev≥h υ,在极限情况下,极少数电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子 4.特征x射线谱的特点 对于一定元素的靶,当管压小于某一限度时,只激发连续谱,管压增高,射线谱曲线只向短波方向移动,总强度增高,本质上无变化。 当管压超过某一临界值后,在连续谱某几个特定波长的地方,强度突然显著

《建筑材料与检测》复习提纲及题库

《建筑材料与检测》复习 考试说明: 一.考试形式及试卷结构 考试方法(闭卷)。 试卷满分(为100分,考试时间120分钟)。 题型比例 名词解释题16% 单项选择题30% 简答题24% 计算题30% 二、考试题型 ①名词解释题。(每题4分,共16分) 钢材的屈强比—— 混凝土碳化—— ②单项选择题(每题2分,共30分) 1、衡量建筑材料是否轻质高强的主要指标是()。 A、比强度 B、韧性 C、强度 D、强度等级 2、在水泥的生产过程中,下列各项不是水泥生料的成分的是()。 A、石灰石 B、粘土 C、石膏 D、铁矿粉 ③简答题(每题6分,共24分) 1、简述PVC(聚氯乙烯)塑料的特点与应用 2、分析水灰比的大小不同,对混凝土的和易性、强度的影响? ④计算题(每小题15分,共30分)

复习参考题: A 类题目(名词解释题) 模块1:材料的孔隙率、比强度、憎水材料、亲水材料 模块3:终凝时间、水泥体积安定性 模块4:徐变、混凝土的流动性、混凝土碳化、化学收缩、最佳砂率(合理砂率)、混凝土配合比 模块6:石灰爆裂、泛霜 模块7:木材平衡含水率、木材纤维饱和点 模块8:Q235-A?F 、Q235-B·b 、钢材的屈强比、钢材的疲劳破坏、钢材的冷弯 模块9:大气稳定性 B 类题目(单项选择题) 模块1: 1、材料吸水后将材料的( )提高。 A 、耐久性 B 、强度和导热系数 C 、密度 D 、体积密度和导热系数 2、衡量建筑材料是否轻质高强的主要指标是( )。 A 、比强度 B 、韧性 C 、强度 D 、强度等级 3、含水率为10%的湿砂220g ,其中水的质量为( )。 A 、19.8g B 、22g C 、20g D 、20.2g 4、当材料的润湿角为( )时,称为亲水性材料。 A 、>90° B 、≤90° C 、>180° D 、≤180° 5、塑料(如玻璃钢)与一般传统材料(钢材)比较,其( )高。 A 、比强度 B 、抗拉强度 C 、抗压强度 D 、弹性模量 6、当材料的软化系数( )时,可以认为是耐水材料。 A 、>0.70 B 、>0.75 C 、>0.80 D 、>0.85 模块2: 1、( )浆体在硬化初期,体积发生微小膨胀。 A 、生石灰 B 、建筑石膏 C 、水泥 D 、三合土 2、建筑石膏的抗压强度,比下列材料中的( )高。 A 、水泥 B 、石灰 C 、花岗岩 D 、烧结砖 3、建筑用石灰的保管期不宜超过( )。 A 、一个月 B 、二个月 C 、三个月 D 、六个月 4、气硬性胶凝材料的硬化特点是( )。 A 、只能在水中硬化 B 、只能在空气中硬化 C 、先在空气中硬化,然后移至水中硬化 D 、能在水中、空气中硬化,但更利于在空气中硬化

材料现代分析测试方法复习题

材料现代分析测试方法 复习题 Document number:WTWYT-WYWY-BTGTT-YTTYU-2018GT

《近代材料测试方法》复习题 1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次分别可以用什么方法分析 答:化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法(平均成分):湿化学法、光谱分析法 ——先进方法(种类、浓度、价态、分布):X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析:X射线衍射、电子衍射 显微结构分析:光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2.X射线与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用 答:除贯穿部分的光束外,射线能量损失在与物质作用过程之中,基本上可以归为两大类:一 部分可能变成次级或更高次的X射线,即所谓荧光X射线,同时,激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中,包括相干散射和非相干散射。此外,它还能变成热量逸出。 (1)现象/现象:散射X射线(想干、非相干)、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 (2)①光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产

生光电效应。 应用:光电效应产生光电子,是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。 应用:X射线被物质散射时,产生两种现象:相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用 答:当电子束入射到固体样品时,入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用,发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程,相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。(1)现象/规律:二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射线 (2)获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4.光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应,荧光产率与俄歇电子产率。特征X射线产生机理。 光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产生光电效应。

材料测试技术复习知识点

判断题: 滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。(×) 满足布拉格方程时,各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。(√) 当物平面与物镜后焦平面重合时,可看到形貌像。(×) 原子序数Z越大的原子,其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。(×) TG曲线上基本不变的部分叫基线。(√) 有λ0的X射线光子的能量最大。(√) 衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。() 调节中间镜的焦距,使其物平面与物镜的像平面重合,叫衍射方式操作。(×) 蒙脱石脱层间水后,晶格破坏,晶面间距增加。(对) 当高速电子的能量全部转换为x射线光子能量时产生λ0,此时强度最大,能量最高。(×) 弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推,与衍射峰曲线相交的点。(×) 减弱中间镜的电流,增大其物距,使其物平面与物镜的后焦平面重合,叫衍射方式操作。(√) SEM一般是采用二次电子成像,这种工作方式叫发射方式。(√) 基线是ΔΤ=0的直线。(×) 连续X射谱中,随V增大,短波极限值增大。(×) 凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。(×) 色差是由于能量非单一性引起的。(√) 当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时,可看到形貌像。(×) 非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。(√) 填空题: 请按波长由短到长的顺序对X射线,可见光,红外线,紫外线进行排练:X射线<紫外线<可见光<红外线。 X射线本质上是一种电磁波。 波可以绕过障碍物继续传播,这种现象叫做波的衍射。 相对于波长而言,障碍物的尺寸越大,衍射现象越不明显。 系统消光包括点阵消光和结构消光。 X射线衍射分析时,晶胞的形状和尺寸与衍射线的分布规律有关;原子的种类及其在晶胞中的位置与衍射线的强度有关。X射线衍射分析时,衍射线的低角度线和高角度线中比较重要的是低角度线,强线和弱线更重要的是强线。 在扫描电镜中,可以利用会聚透镜和电磁透镜两种透镜对电子进行会聚。 在波谱仪和能谱仪中,能同时测量所有元素的是能谱仪,定量分析准确度高的是波谱仪。 扫描电镜的二次电子像和背散射电子像中,分辨率较高的是二次电子像,形成原序数衬度的是背散射电子像。 吸收限的应用主要是:合理的选用滤波片材料害人辐射源的波长(即选阳极靶材料)以便获得优质的花样衍射。

武汉理工大学材料研究与测试方法复习资料样本

第一章X射线 一、 X射线的产生? 热阴极上的灯丝被通电加热至高温时, 产生大量的热电子, 这些电子在阴阳极间的高压作用下被加速, 以极快速度撞向阳极, 由于电子的运动突然受阻, 其动能部分转变为辐射能, 以X射线的形式放出, 产生X射线。 二、 X射线谱的种类? 各自的特征? 答: 两种类型: 连续X射线谱和特征X射线谱 连续X射线谱: 具有从某一个最短波长( 短波极限) 开始的连续的各种波长的X射线。它的强度随管电压V、管电流i和阳极材料原子序数Z的变化而变化。指X射线管中发出的一部分包含各种波长的光的光谱。从管中释放的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同, 绝大多数电子要经历多次碰撞, 产生能量各不相同的辐射, 因此出现连续X射线谱特征X射线谱: 也称标识X射线谱, 它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的, 这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk(激发电压)时才能产生, 而这种谱线的波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关, 只取决于阳极材料, 不同元属制成的阳极将发出不同波长的谱线, 并称为特征X射线谱 三、什么叫K系和L系辐射? 当k层电子被激发, L、 M、 N。。壳层中的电子跳入k层空位时发出X射线的过程叫K 系辐射, 发出的X射线谱线分别称之为Kα、 Kβ、 Kγ…谱线, 它们共同构成了k系标识X 射线。 当L层电子被激发, M、 N。。壳层中的电子跳入L层空位时发出X射线的过程叫L系辐射, 发出的X射线谱线分别称之为Lα、 Lβ…谱线, 它们共同构成了L系标识X射线。 四、何谓K α射线? 何谓K β 射线? 这两种射线中哪种射线强度大? 一般X射线衍射用的是哪 种射线? Kα是L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线, Kβ射线是M壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线, Kα比Kβ强度大, 因为L层电子跳入K层空位的几率比M层电子跳入

大学材料科学实验复习提纲

粒径 原理:(重要) 沉降法是根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。大颗粒的沉降速度较快,小颗粒的沉降速度较慢,沉降速度与粒径的关系由Stokes定律来描述,按公式计算: I 9T1 —F r 一X 1 J [2g (Yk-V t) ] J t 式中: r =颗粒半径厘米 n =沉降液粘度泊,即克/厘米?秒 Y k =颗粒比重克/厘米3 丫t =沉降液比重克/厘米3 H =沉降高度(沉降液面到称盘底面的距离)厘米 t = 沉降时间秒 g = 重力加速度980厘米/秒2 当测出颗粒沉降至一定高度H所需之时间t后,就能算出沉降速度V、颗 粒半径r 思考题:(重要) 1.粒度测量过程中应注意哪些问题? ①仪器打开后,至少预热15min后,再进行下一步操作。 ②粉体搅拌需均匀、充分 ③天平“去皮”直至显示“ +”后才可采集数据,尽量在去皮的同时采集数据 ④采集数据时,挂钩不能用力下压,应轻挂挂钩,以免损坏仪器内部传感器 2.根据试样重复测试的三次测试数据,分析测试结果中数据误差产生的原因。 ①样品搅拌不均匀 ②沉降时间不充分 ③天平“去皮”和点击“沉降曲线采集”间有一定时间间隔,未同时进行 3.常用的测定颗粒粒度的方法有哪些?沉降法测定颗粒粒径的基本原理以及与哪些因素有关?什么是平均粒径和中位径? 筛析法、沉降法、显微镜法、光透视法 沉降法是根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。故与温度、颗粒分散和悬浮液的均匀性有关 平均粒径:样品的总粒径和与全部颗粒数的比值,即粒径的平均值中位径:一个样品的累计粒度分布百分数达到50%寸所对应的粒径。 注意事项:(重要) 1.根据待测粉体样品大致颗粒度选择仪器,本实验所用仪器可测10卩m左右粉体 2.测量之前粉体需进行分散,分散方法:搅拌、超声分散、加电解质等 3.实验开始前需已知:粉体密度、沉降液密度、沉降液粘度 4.沉降液一般由水、酒精、甘油调配而成,选择合适的沉降液以便于控制沉降的速度

材料现代分析测试方法复习

XRD X 射线衍射 TEM 透射电镜—ED 电子衍射 SEM 扫描电子显微镜—EPMA 电子探针(EDS 能谱仪 WPS 波谱仪) XPS X 射线光电子能谱分析 AES 原子发射光谱或俄歇电子能谱 IR —FT —IR 傅里叶变换红外光谱 RAMAN 拉曼光谱 DTA 差热分析法 DSC 差示扫描 量热法 TG 热重分析 STM 扫描隧道显微镜 AFM 原子力显微镜 测微观形貌:TEM 、SEM 、EPMA 、STM 、AFM 化学元素分析:EPMA 、XPS 、AES (原子和俄歇) 物质结构:远程结构(XRD 、ED )、近程结构(RAMAN 、IR )分子结构:RAMAN 官能团:IR 表面结构:AES (俄歇)、XPS 、STM 、AFM X 射线的产生:高速运动着额电子突然受阻时,随着电子能量的消失和转化,就会产生X 射 线。产生条件:1.产生并发射自由电子;2.在真空中迫使电子朝一定方向加速运动,以获得 尽可能高的速度;3.在高速电子流的运动路线上设置一障碍物(阳极靶),使高速运动的电 子突然受阻而停止下来。 X 射线荧光:入射的X 射线光量子的能量足够大将原子内层电子击出,外层电子向内层跃迁, 辐射出波长严格一定的X 射线 俄歇电子产生:原子K 层电子被击出,L 层电子如L2电子像K 层跃迁能量差不是以产生一 个K 系X 射线光量子的形式释放,而是被临近的电子所吸收,使这个电子受激发而成为自由 电子,即俄歇电子 14种布拉菲格子特征:立方晶系(等轴)a=b=c α=β=γ=90°;正方晶系(四方)a=b ≠c α=β=γ=90°;斜方晶系(正交)a ≠b ≠c α=β=γ=90°;菱方晶系(三方)a=b=c α=β=γ≠90°;六方晶系a=b ≠c α=β=90°γ=120°;单斜晶系a ≠b ≠c α=β=90°≠ γ;三斜晶系a ≠b ≠c α≠β≠γ≠90° 布拉格方程的推导 含义:线照射晶体时,只有相邻面网之间散 射的X 射线光程差为波长的整数倍时,才能 产生干涉加强,形成衍射线,反之不能形成 衍射线。λθn d hkl =sin 2 讨论 1.当λ一定,d 相同的晶面,必然在θ相 同的情况下才能获得反射。 2.当λ一定,d 减小,θ就要增大,这说 明间距小的晶面,其掠过角必须是较大的,否则它们的反射线无法加强,在考察多晶体衍射 时,这点由为重要。 3.在任何可观测的衍射角下,产生衍射的条件为:d 2≤λ,但波长过短导致衍射角过 小,使衍射现象难以观测,常用X 射线的波长范围是0.25~0.05nm 。 4.波长一定时,只有2/λ≥d 的晶面才能发生衍射—衍射的极限条件。 X 射线衍射方法:1.劳埃法,采用连续的X 射线照射不动的单晶体,用垂直入射的平板底片 记录衍射得到的劳埃斑点,多用于单晶取向测定及晶体对称性研究。2.转晶法:采用单色X 射线照射转动的单晶体,并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录,特点是入射线波长不 变,靠旋转单晶体以连续改变个晶体与入射X 射线的θ角来满足布拉格方程。转晶法可以确 定晶体在旋转轴方向的点阵周期,确定晶体结构。3.粉末法,采用单色X 射线照射多晶试样, 利用多晶试样中各个微晶不同取向来改变θ角来满足布拉格方程。用于测定晶体结构,进行 物相定性、定量分析,精确测量警惕的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小。 谢乐公式:30.890.89cos cos N d L λ βθθ==说明了衍射线宽度与晶块在反射晶面法线方向上尺度

材料分析方法考试复习题

一、名词解释(30分,每题3分) 1)短波限: 连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展,该波长最小值称为短波限。P7。 2)质量吸收系数 指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量,这样就摆脱了密度的影响,成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。P12。 3)吸收限 吸收限是指对一定的吸收体,X 射线的波长越短,穿透能力越强,表现为质量吸收系数的下降,但随着波长的降低,质量吸收系数并非呈连续的变化,而是在某些波长位置上突然升高,出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。 4)X 射线标识谱 当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时,在连续谱的某些特定的波长位置上,会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱,它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值,此波长可作为阳极靶材的标志或特征,故称为X 射线标识谱。P9。 5)连续X 射线谱线 强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。P7。 6)相干散射 当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇,光量子不足以使原子电离,但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动,这样的电子就成为一个电磁波的发射源,向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射,因为各电子所散射的射线波长相同,有可能相互干涉,故称相干散射。P14。 7)闪烁计数器 闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光,并通过光电管进行测量。P54。 8)标准投影图 对具有一定点阵结构的单晶体,选择某一个低指数的重要晶面作为投影面,将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。P99。 9)结构因数 在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2 HKL F 的平方成正比,结构振幅

材料测试方法复习--考研复试

总复习题(考试范围) 1).X射线衍射在材料分析测试方面有哪些具体的应用? 1、单晶材料的晶体结构分析:晶体的对称性和取向方位、晶体缺陷、晶体的完整性 2、物相分析:何种物质、含量多少 3、相图及固溶度测定:晶格常数随固溶度变化规律 4、多晶体晶粒大小、应力和应变:图谱线形和宽化程度 2)X射线的本质是什么?获得X射线的方法有哪些? 本质是一种电磁波,具有波粒二象性:X射线一方面具有波动的性质,有一定的频率和波长,反映物质运动的连续性;另一方面具有粒子性,是具有一定能量光子的粒子流,反映物质运动的分立性。这种波动性与粒子性相互并存的性质称为X射线的波-粒二象性。X射线具有很强的穿透物质的能力,经过电场和磁场时不发生偏转,当穿过物质时X射线可被偏振化,可被吸收而使强度衰减,它能够使空气或其它气体电离,能激发荧光效应,使照相底片感光,并能杀死生物细胞与组织等。是一种能量载体 3)X射线的产生条件 1.产生并发射自由电子(例如加热钨灯丝发射热电子); 2.在真空中(一般为10-6毫米汞柱)迫使自由电子朝一定方向加速运动,以获得尽可能高的速度; 3.在高速电子流的运动路程上设置一障碍物(阳极靶),使高速运动的电子突然受阻而停止下来。这样,靶面上就会发射出X射线 4).简述X射线管的基本原理。 5).滤波片的作用是什么?应该怎样选择? ?X射线滤波片作用(filter):是Kβ谱线及连续光谱的强度尽量减弱,提高分析精度滤波片厚度控制原则:太厚吸收太多,太薄作用不明显。一般使Kα与Kβ的比为600:1,此时Kα的强度将降低30~50% ?材料选择:①filter片:Z target<40,Z f=Z t-1 ?②Z t≤Z sample+1 ?如:分析Fe用Co或Fe靶而不用Ni ?安全:重金属吸收常用Pb 6)试证明:倒格矢⊥正点阵同指数晶面,其中倒格矢长度等于晶面间距的倒数。 7)写出求解公式:I)已知同一晶带的两晶面指数,求晶带轴; II)已知两晶带轴平行于同一晶面,求此晶面指数。 8)试推导劳厄方程及布拉格定律,解释其物理意义。 A;设有波长为入的单色X射线照射到一个原子列上,由所有原子散射出来的x射线在某一方向上一致加强的条件是:每对相邻原子在这方向上散射波的光程差等于波长的整数倍。即: B:X射线与晶体内原子的作用,可以将晶体的衍射现象看作是由晶体某些晶面的“镜面反射”的结果。但不是任意的晶面,根据波的物理性质,只有当波程差为波长的整倍数时,才产生衍射。根据几何关系有:d× sinθ×2=波程差 由此可得:2dsinθ=nλ 反射波与入射X射线所形成的角度θ和该晶面面距d 以及入射线的波长λ 符合与上式时,才能产生反射。n为任意正整数,称为衍射级数。n取1时为一级衍射。 通常称:2dsinθ=λ为布拉格方程,是晶体衍射的基础 9)布拉格方程的应用 上述布拉格方程在实验上有两种用途 首先,利用已知波长的特征X射线,通过测量θ角,可以计算出晶面间距d;这种工作叫做结构分析 其次,利用已知晶面间距d的晶体,通过测量θ 角,从而计算出未知X射线的波长.后一种方法就是X射线光谱学 10)简述XRD研究方法、条件及其应用范围。 11)试述影响X射线的衍射线束强度的主要因素。 影响X射线强度因子主要有五项 1).结构因子2).角因子(极化因子和洛仑兹力)3).多重性因子4).吸收因子5).温度因子 12)用德—拜相机测定某晶体的晶面间距,已知X射线的波长为0.2085nm,相机半径为57.3mm,测得两衍射线间的距离为180mm。求此晶体的晶面间距。

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