《电子产品环境与可靠性试验》杂志20122013、20172018年增刊出版和征订信息
中国电子产品可靠性与环境实验
考察产品在湿度变化环境中的适应性，如防潮、 防水等性能。
机械环境适应性评估
振动环境
评估产品在振动环境中的 稳定性、可靠性和性能。
冲击环境
考察产品在冲击作用下的 结构完整性和功能稳定性 。
跌落与碰撞
研究产品在跌落和碰撞过 程中的抗损伤能力。
电磁环境适应性评估
静电放电
评估产品在静电放电环境中的抗静电 性能，确保产品不会因静电而损坏或 失效。
改进措施
根据测试结果分析，采取相应的改进措施，提高产品的可靠性和稳定性。
05
环境实验对电子产品可靠性的 影响
环境因素对电子产品可靠性的影响
温度
温度变化可能导致电子产品的性 能下降，如过热或过冷都会对电
子产品的正常运行产生影响。
湿度
湿度过高可能导致电子产品内部结 露，从而引发电路故障；湿度过低 则可能使电子产品表面产生静电， 影响其正常运行。
环境实验流程与规范
流程
样品准备、实验前检查、实验过程监控、数据记录与分析、 结果评估与报告编写等
规范
遵循相关国家标准、行业标准和实验室规范，确保实验结果 的准确性和可靠性
03
电子产品环境适应性评估
气候环境适应性评估
高温环境
评估产品在高温环境下的性能、稳定性和安全性 。
低温环境
评估产品在低温环境下的性能、启动特性和安全 性。
定期维护保养
定期对电子产品进行维护保养，如清洁、除尘、更换耗材等，以保 持产品性能和可靠性。
正确使用
用户应按照产品说明书正确使用电子产品，避免过度使用或不当使 用导致产品损坏。
及时报修
如发现电子产品出现故障或性能下降，应及时联系厂家或专业维修机 构进行报修，以避免问题扩大或造成更严重的后果。
2013年《电子产品环境与可靠性试验》杂志增刊出版信息
湘潭 师 范 学 院 学 报 ．２ ０ ０ ８（ ３ ０ ） ：５ ８ — ６ ０ ．
备 和多保 障设 备排 队系 统模 型 ．设 计算 例进 行计算
并运 用仿 真方 法进 行验证 ．较好地 解决 了实 际 的使
【 ７ 】叶梧 ，苏 文 ，黄廉 辉 ． 爱 尔 朗排 队 系统 的 瞬 态分 析 ｌ Ｊ １ ．
范畴 ．推动 科技 工作 的不 断创新 和持 续发展 ．起 到
的 国内外公 开发行 、可 靠性行 业 内具有 权威性 、影 响力 的 专业 科技 期 刊—— 《 电子产 品可 靠性 与环 境 试验 》杂 志以增 刊 的形 式 ，预定 在 ２ ０ １ ３年 １ １ 月出
版一 期增 刊。 欢迎 订 阅 ，请与本 刊发 行部 联系 。
Ｌ ｏ ｇ ｉ ｓ ｔ ｉ ｃ ｓ Ｍａ ｎ ａ ｇ ｅ ｍ ｅ ｎ ｔ Ｇ ａ ｍｅ［ Ｒ 】．ｕ ． Ｓ ．Ａ ｉ ｒ Ｆ ｏ ｒ ｃ ｅ Ｐ ｒ ｏ ｊ ｅ ｃ ｔ
ＲＡＮＤ ｒ ｅ ｓ ｅ ａ ｒ ｃ ｈ ｍｅ ｍｏｒ ａ ｎｄ ｕｍ ， １ ９５ ８．
３ 结 束 语
基 本作 战单元 的使 用保 障设备 配置 问题 ．是从
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电子产品的环境适应性与可靠性测试
电子产品的环境适应性与可靠性测试随着科技的快速发展，电子产品在我们的生活中扮演着越来越重要的角色。
为了确保电子产品的质量和性能，环境适应性与可靠性测试是必不可少的一环。
本文将详细介绍电子产品在环境适应性与可靠性测试中的步骤和内容，以帮助读者更好地了解这一过程。
一、环境适应性测试的步骤和内容：1. 确定测试目标：在进行环境适应性测试之前，首先需要明确测试的目标。
比如，测试电子产品在不同的温度、湿度、震动等环境条件下的工作能力和可靠性。
2. 设计测试方案：根据测试目标，设计合理的测试方案。
方案应包括测试环境的选择、测试方法和测试指标等内容。
例如，根据电子产品的特性，选择温度范围为-40℃至85℃、湿度范围为10%至95%的环境条件进行测试。
3. 准备测试设备：根据测试方案，准备相应的测试设备。
例如，需要温度和湿度控制设备、振动台和数据采集仪等。
4. 进行测试：将待测的电子产品放置在确定的测试环境中，并按照测试方案进行测试。
测试过程中需要记录相关数据，如工作温度、湿度、震动频率等。
5. 分析测试结果：根据测试数据，对测试结果进行分析。
判断电子产品在不同环境条件下的适应性和可靠性。
如果发现问题，需要进行进一步的分析和改进。
二、可靠性测试的步骤和内容：1. 确定测试目标：可靠性测试旨在评估电子产品的长期稳定性和可靠性。
测试目标应该明确，例如测试产品在规定时间内的无故障运行时间。
2. 设计测试方案：设计合理的可靠性测试方案。
方案应包括测试时间、测试环境和测试方法等内容。
例如，测试时间可选择1000小时，测试环境为标准工作温度和湿度条件。
3. 准备测试设备：根据测试方案，准备相应的测试设备。
例如，需要长时间运行的测试设备、数据采集仪和故障记录系统等。
4. 进行测试：将待测的电子产品放置在已确定的测试环境中，并按照测试方案进行测试。
测试过程中需要记录相关数据，如运行时间、故障发生次数等。
5. 分析测试结果：根据测试数据，对测试结果进行分析。
探究对军工电子产品环境试验的几点思考
探究对军工电子产品环境试验的几点思考田野（中航工业洛阳电光设备研究所河南洛阳 471009）摘要：本文对军工电子产品环境试验的几种形式着重进行了介绍，从不同方面阐述了环境应力筛选试验、环境试验和可靠性试验的差别，并着力探讨了环境试验中各实验项目的顺序，对军工电子产品的定型试验进行了推荐。
关键词：可靠性试验；环境试验；军工电子产品中图分类号：TP311 文献标识码：A 文章编号：1671－7597（2013）0120208－01环境工程的重中之重是环境试验，目前已经被逐渐应用于于被设定的环境下，在规定的时间内完成指定功能的几率，环产品研发、储存、生产等各个领域，可以说它是确保产品环境境应力筛选试验的试验目的主要是通过对军工电子产品施加环适应性的主要途径。
然而在实际的生产生活中，对于环境试验境应力，对产品元件和工艺引起的故障进行甄别和剔除，进而仍旧存在着这样或者那样的问题，针对这些问题，文章主要从大大降低产品的失效率，达到规定的数值。
军工电子产品环境试验的角度，就环境应力筛选试验、环境试2）试验类型，对于环境试验，其主要采用的是单、多因验和可靠性试验之间的差别及联系进行了深层次的探讨，并且素组合的试验方式，并且使之以常规的顺序作用于产品，环境对于环境试验中项目的实施顺序进行进一步探究。
试验1 环境试验的类别我们知道，环境试验是保障产品环境适应程度的主要措施，同时它也是对军工电子产品在运输、储存以及对环境的适应能力的试验。
下面我们将对环境试验的主要类别进行相关介绍。
1）现场运行试验，该试验指的是将试验的样品放置于具有代表性的使用现场，譬如：海洋、沙漠、极热地区、极寒地区等，同时使其处于运行状态，现场运行试验的费用相对较多。
虽然现场运行试验仍然具有很多不足的地方，但其能真正反映出实际使用的情况，可以说该试验是人工模拟试验的根基，更是验证人工模拟试验质量的重要途径。
2）自然曝露试验，该试验指的是将产品放置于具有代表性的自然环境条件下使用或者存放，譬如一些炎热气候的室外、室内，或者一些污染严重的重工业区域。
电子产品环境试验与可靠性评定标准
电子产品环境试验与可靠性评定标准一、引言电子产品在不同的环境条件下使用，如温度、湿度、振动、冲击等，其可靠性表现可能会有所差异。
因此，为了保证电子产品的质量和稳定性，需要制定相应的环境试验与可靠性评定标准。
本文将针对电子产品环境试验与可靠性评定标准进行系统的分析和论述，以期为相关行业提供参考和指导。
二、电子产品环境试验标准1. 温度试验温度试验是对电子产品在不同温度环境下的性能进行测试，常见的试验方法包括高温试验、低温试验和温循试验。
标准要求电子产品在不同温度条件下应能正常工作，并在温度变化时不发生失效等问题。
2. 湿度试验湿度试验是对电子产品在不同湿度环境下的性能进行测试，以确定产品的耐湿性和防潮性。
试验方法包括高湿试验和低湿试验，标准要求电子产品在湿度环境下能保持正常工作，并且不发生腐蚀、氧化等问题。
3. 振动试验振动试验是对电子产品在振动环境下的可靠性进行评定，以模拟产品在运输或使用过程中所受到的振动冲击。
标准要求电子产品能够在不同频率和振幅的振动条件下保持正常工作，并且不发生松动、断裂等问题。
4. 冲击试验冲击试验是对电子产品在冲击环境下的可靠性进行评定，以模拟产品在跌落或碰撞等突发情况下的表现。
标准要求电子产品能够承受一定程度的冲击力，并在冲击后能正常工作，不出现失效或损坏等问题。
5. 盐雾试验盐雾试验是对电子产品在盐雾环境下的耐腐蚀性进行评定，特别适用于海洋环境或有腐蚀性气体环境下的产品。
标准要求电子产品在盐雾环境下能保持正常工作，并且不出现腐蚀或氧化等问题。
三、电子产品可靠性评定标准1. 寿命评定寿命评定是对电子产品在正常使用过程中的使用寿命进行评估。
通过对产品进行长时间持续工作测试，标准要求产品能够在预定的时间范围内正常工作，不出现过早失效等问题。
2. 可靠性指标评定可靠性指标评定是对电子产品在各种环境条件下的可靠性参数进行测定和计算，如失效率、失效时间等指标。
标准要求电子产品的可靠性指标能够满足特定的要求，以确保产品在使用过程中能够稳定可靠地工作。
《电子产品环境与可靠性试验》杂志2012、2013年增刊出版和征订信息
贝 ⅡＡ ｌ ＝ ２ ６ ． １ ８（ １ ０ ／ ｈ ） 、Ａ ２ ＝ ５ ２ ． ２ ４（ １ ０ ， ｈ ） 、Ａ ３ ＝ １ ５ ７ ． ７ ６（ １ ０ ） 、Ａ ４ ＝ １ ３ ． ７ ４（ １ ０ ） 。
【 ５ ］曾 天 翔 ． 电 子 设 备 测 试 性 及 诊 断技 术 ［ Ｍ】． 北 京 ：航 空
工 业 出版 社 ．１ ９ ９ ６ ．
袋 毋 姆 零
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信 息 与 动 态
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《 电 子 产 品 环 境 与 可靠 性 试 杂 志２ ０ １ ２ 、 ２ ０ １ ３ 年
增 刊出 版和 征订信息
信息 化 部 电子 第 五研 究 所 主办 的 国内外 公 开 发行 、
随 着工 业 和信 息化 科技 与产 品的迅 速发 展 ．质
量 与可 靠性 的科 学 技术 渗透 到工 业 和信 息化 的各 个
领域 ．可靠 性 与环境 适 应性 问题 也 越来 越受 到 广泛 的关 注 为 了扩 大 可靠 性 与环境 适 应性 技术 的应 用
『 ４ ］国 防 科 学 技 术 工 业 委 员 会 ． 装备测 试性工 作通 用要 求 ：
ＧＪ Ｂ ２ ５ ４ ７ Ａ一 ２ ０ ｏ ９ ｆ Ｓ １．
ｌ ｇ Ａ ３ ＝ ２ ． ３ ９ ８ ＋ １ ． ７ － ０ ． ６ －１ ． ３ ＝ ２ ． １ ９ ８
ｌ ４ ＝ ２ ． ３ ９ ８ ＋ １ ． ７ — ０ ． ６ — ２ ． ３ ６ ＝ １ ． １ ３ ８
鉴 和促 进 的作用 ：并 解 决文 稿积 压 过多 、文 章发 表
《电子产品环境与可靠性试验》杂志2012-2013、2017-2019年增刊出版和征订信息
第4期确性。
4结束语本文基于失效物理仿真验证方法,采用TCAD 软件对模拟CMOS集成电路的SEL效应进行了仿真研究。
研究表明,基于失效物理的TCAD仿真结果和实际辐照评价试验结果是吻合的。
因此,基于失效物理的仿真验证方法为模拟CMOS集成电路的SEL评估提供了一个新的思路,在抗辐照集成电路研制过程中采用这一技术可以及时地获得器件的抗SEL设计效果,提高模拟集成电路抗辐照设计和评价的效率和能力。
参考文献:[1]ARTOLA L,ROCHEET N.Analysis of angular depen⁃dence of single-event latchup sensitivity for heavy-ion irradiations of hbox0.18-muhboxm CMOS technology [J].IEEE Transactions on Nuclear Science,2015,62 (6):2539-2546.[2]GREGORY R,FAROKHIROM A,SCHEICK L,et al. Heavy ion induced single-event latchup screening of inte⁃grated circuits using commercial off-the-shelf evalua⁃tion boards[C]//2016IEEE Radiation Effects Data Work⁃shop(REDW),Portland,2016:1-7.[3]ARTOLA L,ROCHE N,HUBERT G,et al.Analysis of angular dependence of single-event latchup sensitivity for heavy-ion irradiations of CMOS technology[J].IEEE Transactions on Nuclear Science,2015,62(6):2539-2546.[4]KATO T,MATSUYAMA H.Impact of deep p-well structure on single event latchup in bulk CMOS[C]// International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices(SISPAD),Washington,2015: 365-368.[5]KOLASINSKI W A,BLAKE J B,ANTHONY J K,et al. Simulation of cosmic ray induced soft errors and latch-up in integrated circuit computer memories[J]. IEEE Transactions on Nuclear Science,1979,26(6): 5087-5091.[6]JOHNSON G H,PALAU J M,DACHS C,et al.A re⁃view of the techniques used for modeling single-event ef⁃fects in power MOS FETs[J].IEEE Transactions on Nu⁃clear Science,1996,43(2):546-560.[7]WOODRUFF R L,RUDECK P J.Three dimensional nu⁃merical simulation of single event upset of an SRAM cell [J].IEEE Transactions on Nuclear Science,1993,40 (6):1795-1803.[8]于孝忠,吕国刚,张觐,等.核辐射物理学[M].北京:原子能出版社,1986.罗俊:模拟CMOS集成电路SEL仿真验证研究随着工业和信息化科技与产品的迅速发展,质量与可靠性的科学技术渗透到工业和信息化的各个领域,可靠性与环境适应性问题也越来越受到广泛的关注。
试析电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设
试析电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设随着电子产品的普及和广泛应用，对其环境和可靠性的要求也越来越高。
电子产品环境与可靠性试验室主要用于对电子产品进行各种环境和可靠性测试，以保证产品在各种不同的环境条件下的正常运行和长期稳定性。
建设一个高效运行的电子产品环境与可靠性试验室体系非常重要。
电子产品环境与可靠性试验室的建设需要考虑实验所需的设备和设施。
需要具备各种不同的环境试验设备，如温湿度试验箱、盐雾试验箱、冷热冲击试验箱、振动台等。
还需要配备一些可靠性试验设备，如可靠性寿命测试设备、可靠性加速试验设备等。
这些设备和设施的选型和配置需要根据实际需求进行选择，以满足不同产品的测试要求。
电子产品环境与可靠性试验室的运行体系需要建立适当的管理机制和流程。
需要建立科学的实验计划和实验流程，明确每个试验的目的、方法和步骤。
需要建立试验数据的管理和分析系统，及时记录试验数据，并进行分析和归纳，以便于对产品性能进行评估和改进。
还需要建立合理的实验设备的维护保养机制，确保设备的正常运行和长期稳定性。
电子产品环境与可靠性试验室的运行体系还需要重视人员培训和技术支持。
需要培养一支具备专业知识和实验技能的试验人员队伍，以保证试验的准确性和可靠性。
需要建立一个良好的技术支持和交流平台，与相关的研究机构、行业组织和供应商建立合作关系，及时了解最新的试验方法和技术，以不断提升试验水平和服务质量。
电子产品环境与可靠性试验室的建设需要遵循相关的质量管理标准和规范。
ISO 9001质量管理体系、ISO 17025实验室认可体系等。
这些标准和规范可以提供一套完整的质量管理体系和操作流程，以确保试验结果的准确性和可靠性，并提高试验室的竞争力和信誉度。
电子产品环境与可靠性试验室的运行体系建设是一个综合性的工程，需要考虑设备与设施、管理体系、人员培训和技术支持等多个方面。
只有建立一个高效运行的试验体系，才能满足电子产品的环境和可靠性测试需求，提高产品质量和可靠性，增强企业的竞争力。
试析电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设
试析电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设
电子产品环境与可靠性试验室是为了保证电子产品在各种应力环境下的稳定性和可靠性而设立的。
在电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设中，需要考虑如何确保试验室设备的正常运行、如何保证试验数据的准确性和可靠性以及如何提升试验室的整体效率和管理水平。
首先，电子产品环境与可靠性试验室需要拥有一系列测试设备，如温度试验箱、湿热试验箱、盐雾试验箱、振动试验机等。
这些设备应该按照一定的标准进行选型、采购和安装，并配备相应的控制软件和监测仪器以及安全保障措施。
此外，也需要定期对试验设备进行维护和修理，避免因设备故障而导致试验失败的情况发生。
其次，为了保证试验数据的准确性和可靠性，需要建立一套完善的试验程序和标准化的数据处理流程。
试验程序应该明确试验目的、条件和周期等细节，并制定完整的记录和报告流程。
数据处理流程应该包括数据采集、校准和分析等环节，以保证测试数据的精确性和客观性。
同时，也需要建立试验数据的存档管理系统，方便日后数据的查阅和分析。
最后，为了提升试验室的整体效率和管理水平，需要建立科学的管理模式和人员培训机制。
试验室管理应该包括试验计划管理、设备管理、试验数据管理和试验人员管理等方面，以保证试验工作的有序而高效进行。
人员培训应该覆盖试验操作技能、试验数据处理和试验管理等方面，以提升人员整体素质和能力。
综上所述，电子产品环境与可靠性试验室运行体系建设是一个复杂的系统工程，需要从试验设备、试验流程和管理机制等方面全面考虑，才能实现试验室运行效率和质量的提升。
同时，需要密切关注电子产品的技术发展和市场需求，不断优化试验方法和流程，以适应不断变化的市场环境。
《电子产品可靠性与环境试验》14件作品获第五届广东省期刊优秀作品奖
由广东省期刊协会主办,广东省委宣传部、广东省新闻出版广电局指导的2020年“第五届广东省期刊优秀作品评选活动”是自2015年举办的“第四届广东省期刊优秀作品评选活动”以来,时隔5年后再次举办的大规模评选活动,是广东省期刊界的一大盛事。
参选范围作品根据性质分为优秀文章、优秀封面设计、优秀版式设计、优秀栏目策划、优秀美术作品等共五大类。
评选活动历时半年多,已于2020年10月落下帷幕。
本次优秀作品评选活动共收到全省382家期刊和150家侨刊乡讯推荐的3461件作品。
《电子产品可靠性与环境试验》杂志选送14件作品进行参选,14件作品全部获奖,收获颇丰。
《电子产品可靠性与环境试验》杂志的14件获奖作品包括一等奖2项、二等奖5项、三等奖7项。
具体的获奖情况如表1所示。
在此,本刊编辑部对获奖作者表示热烈祝贺,对主管、主办、协办和支撑单位的大力支持,以及广大作者和读者的热心投稿和订阅表示衷心的感谢!今后我们将继续努力,取得更好的成绩来答谢朋友们的支持和厚爱!《电子产品可靠性与环境试验》编辑部奖项类别作品名称作者责任编辑期号一等奖栏目策划《可靠性物理与失效分析技术》肖虹肖虹、谷湘琼2018年第3期一等奖文章《我国电子元器件国军标体制必须改革》郑鹏洲肖虹、谷湘琼2016年第3期二等奖文章《基于AFI 树的CPAS 整体安全性工程方法》吴蕾、林军、李冬、杨春晖肖虹、谷湘琼2017年第4期二等奖文章《可靠性强化试验技术在伺服系统中的应用研究》潘广泽、刘文威、李小兵、杨剑锋、袁婷、袁泽谭肖虹、谷湘琼2018年第1期二等奖文章《基于NL 模型的光电加速度计加速试验方法研究》黄铎佳、胡湘洪、张蕊、沈峥嵘、赵振峰、张博文、连晓棠肖虹、谷湘琼2019年第4期二等奖文章《定数截尾下两参数Birnbaum-Saunders 疲劳寿命分布的统计分析》王蓉华、顾蓓青、徐晓玲肖虹、谷湘琼2019年第6期二等奖封面设计封面沈毅毅肖虹、谷湘琼2017年第4期三等奖文章《智慧院所环境下的“六性”系统工程》张剑伟、尚斌、刘舜鑫、潘勇肖虹、谷湘琼2017年第1期三等奖文章《物联网传感器可靠性测试与评价标准的构建》过峰、赵介军、聂义肖虹、谷湘琼2017年第6期三等奖文章《笔记本电脑用锂离子电池组失效分析》尤万龙、杨春丽、胡坚耀、刘晓臣肖虹、谷湘琼2018年第3期三等奖文章《国产高可靠固态厚膜熔断器脉冲老化寿命研究》彭昌文、杨舰、孙鹏远、雷巧林、杨成肖虹、谷湘琼2018年第4期三等奖文章《带液冷产品的可靠性强化试验应用研究》黄永华、朱泽、赵振峰、沈峥嵘、李锴肖虹、谷湘琼2019年第1期三等奖文章《某型号厨电产品可靠性试验设计及失效分析》王洪涛、艾晶、黄莉婷、夏江、岳亚蛟、徐华伟、刘斌辉、刘嘉祁、彭琦肖虹、谷湘琼2019年第1期三等奖美术作品《优秀美术作品作品(内页美术作品作品)》赖燕熔肖虹、谷湘琼2020年第1期电子产品可靠性与环境试验ELECTRONIC PRODUCT RE L IABIL I TY AND ENVI R ONMENTAL TESTING可靠性与环境适应性标准信息与行业动态《电子产品可靠性与环境试验》14件作品获第五届广东省期刊优秀作品奖表1《电子产品可靠性与环境试验》杂志获奖作品DIANZI CHANPIN KEKAO X ING YU HUANJ I NGSHIYAN。
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2019年
电子产品可靠性与环境试验
后轴承由于润滑不良而磨损,导致问题出现。
针对制冷效果不良问题采用了质量稳定的管道
氮气或露点符合要求的瓶装气。
针对转速下降问
题,对润滑方式进行了改进。
3.2指标通过情况
在空空导弹中,采用指数型定时截尾公式对可
靠性指标通过情况进行评估。
MTBF L=2T
χ21-α(2r+2)(1)
式(1)中:MTBF L———产品平均故障间隔时间的单侧置信下限;
T——
—累计产品试验时间;
r——
—累计产品试验责任故障次数;
χ21-α(2r+2)———自由度n=2r+2、下侧概率值(即置信度)1-α的χ2分布分位数,其值查自χ2分布表。
若排除气源问题,按1次责任故障来计算,则评估后的MTBF=143.6h;若按2次故障来计算,则MTBF=100.5h,均大于文中提出的100h的指标要求。
这说明改进型产品的可靠性是有保证的,按现有产品的研制状态,是能满足指标要求的。
同时本试验也发现了两个问题,通过及时地采取措施,避免了后续鉴定试验中问题反复出现。
4结束语
本文对某型产品在研制阶段开展的可靠性摸底试验进行了规划,在设计过程中,遇到了一系列新的问题,部分问题在型号上无法借鉴,为此,依据产品的研制特点,对试验结果影响较大的因素如受试产品状态确定、试验统计方案和综合环境试验条件进行了一系列的分析和验证,制定了比较合理的试验条件、试验方案,促进了试验的顺利开展。
通过试验,验证了产品的可靠性水平,发现了产品中存在的薄弱环节,为后续试验提供了借鉴。
参考文献院
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[6]曹顺安,李平.可靠性强化试验在机载设备验收试验中
的应用[J].电子产品可靠性与环境试验,2016,34 (1):1-5.
随着工业和信息化科技与产品的迅速发展,质量与可靠性的科学技术渗透到工业和信息化的各个领域,可靠性与环境适应性问题也越来越受到广泛的关注。
为了扩大可靠性与环境适应性技术的应用范畴,探讨技术发展趋势,推动科技工作的不断创新和持续发展以及成果交流,起到总结、提高、借鉴和促进的作用;并解决文稿积压过多、文章发表周期过长的问题,由工业和信息化部主管、工业和信息化部电子第五研究所主办的国内外公开发行、可靠性与环境适应性领域中具有权威性、影响力的专业科技期刊——
—《电子产品可靠性与环境试验》杂志在2012年5月、2013年11月、2017年7月和2018年9月以增刊的形式,出版论文集。
增刊所收录的论文,专业性强、技术先进、内容和信息丰富、设计精美,欢迎订阅。
》编辑部
《电子产品环境与可靠性试验》杂志2012-2013、2017-2018年增刊出版和征订信息
CHANPIN KEKAO X ING YU HUANJ I NG SHIYAN。