材料研究与测试方法复习题答案版

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材料测试技术课后题答案

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大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比,在哪两方面有其优越性?答:①提高X射线强度:②缩短了试验时间2、何为特征X射线谱?特征X射线的波长与(管电压)、(管电流)无关,只与(阳极材料)有关。

答:由若干条特定波长的谱线构成。

当管电压超过一定的数值(激发电压V激)时产生。

不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。

因此叫特征X射线。

什么是Ka射线?在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线?答:L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,称之为Ka射线。

Ka射线的强度大约是K 6射线强度的5倍,因此,在实验中均采用Ka射线。

Ka谱线又可分为Kal和Ka 2, K a 1的强度是K a 2强度的2倍,且Kal和Ka 2射•线的波长非常接近,仅相差0.004A左右,通常无法分辨,因此,一般用Ka来表示。

但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。

AI是面心立方点阵,点阵常数a=4.049A,试求(111)和(200)晶面的面间距。

计算公式为:dhkl=a (h2+k2+l2)-l/2答:dlll=4.049/(12+12+12)-l/2=2.338A:d200=4.049/(22)-l/2=2.0245A说说不相干散射对于衍射分析是否有利?为什么?答:有利。

不相干散射线由于波长各不相同,因此不会互相干涉形成衍射,所以它们散布于各个方向,强度一般很低,它们在衍射工作中只形成连续的背景。

不相干散射的强度随sin 0/'的增大而增强,而且原子序数越小的物质,其不相干散射愈大,造成对衍射分析工作的不利影响。

6、在X射线衍射分析中,为何要选用滤波片滤掉KB射线?说说滤波片材料的选取原则。

实验中,分别用Cu靶和M。

靶,若请你选滤波片,分别选什么材料?答:(1)许多X射线工作都要求应用单色X射线,由于Ka谱线的强度高,因此当要用单色X 射线时,一般总是选用Ka谱线。

但从X射线管发出的X射线中,当有Ka线时,必定伴有KB 谱线及连续光谱,这对衍射工作是不利的,必须设法除去或减弱之,通常使用滤波片来达到这一目的。

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案

期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案一、选择题(每题2分,共20分)1. 下列哪一项不是材料现代测试分析方法?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 光学显微镜(OM)C. 质谱仪(MS)D. 能谱仪(EDS)2. 在材料现代测试分析中,哪种技术可以用于测量材料的晶体结构?A. X射线衍射(XRD)B. 原子力显微镜(AFM)C. 扫描隧道显微镜(STM)D. 透射电子显微镜(TEM)3. 下列哪种测试方法主要用于分析材料的表面形貌?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 透射电子显微镜(TEM)C. 原子力显微镜(AFM)D. 光学显微镜(OM)4. 在材料现代测试分析中,哪种技术可以用于测量材料的磁性?A. 振动样品磁强计(VSM)B. 核磁共振(NMR)C. 红外光谱(IR)D. 紫外可见光谱(UV-Vis)5. 下列哪种测试方法可以同时提供材料表面形貌和成分信息?A. 扫描电子显微镜(SEM)B. 原子力显微镜(AFM)C. 能谱仪(EDS)D. 质谱仪(MS)二、填空题(每题2分,共20分)1. 扫描电子显微镜(SEM)是一种利用_____________来扫描样品表面,并通过_____________来获取样品信息的测试方法。

2. 透射电子显微镜(TEM)是一种利用_____________穿过样品,并通过_____________来观察样品内部结构的测试方法。

3. 原子力显微镜(AFM)是一种利用_____________与样品表面相互作用,并通过_____________来获取表面形貌和力学性质的测试方法。

4. 能谱仪(EDS)是一种利用_____________与样品相互作用,并通过_____________来分析样品成分的测试方法。

5. 振动样品磁强计(VSM)是一种利用_____________来测量样品磁性的测试方法。

三、简答题(每题10分,共30分)1. 请简要介绍扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其在材料测试中的应用。

材料研究方法试卷A答案

材料研究方法试卷A答案

材料研究方法试卷A答案The document was finally revised on 2021一、名词解释(每题5分,共20分)1、短波限各种管电压下的连续X射线谱都具有一个最短的波长值,该波长值称为短波限。

2、光电效应光电效应是入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞时产生的物理效应。

当入射光量子的能量足够大时,可以从被照射物质的原子内部(例如K壳层)击出一个电子,同时外层高能态电子要向内层的K空位跃迁,辐射出波长一定的特征X射线。

这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。

3、相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇,光量子不足以使原子电离,但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动,这样的电子就成为一个电磁波的发射源,向周围辐射电磁波,这些散射波之间符合波长相等、频率相同、位相差相同的光的干涉条件,故称相干散射。

4、球差球差即球面像差,是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差。

二、简答题(每题10分,共40分)1、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片?答:实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。

选择滤波片的原则是X射线分析中,在X射线管与样品之间一个滤波片,以滤掉Kβ线。

滤波片的材料依靶的材料而定,一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。

分析以铁为主的样品,应该选用Co或Fe靶的X射线管,它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。

2、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点?答:外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定,并作曲线图。

外标法适合于特定两相混合物的定量分析,尤其是同质多相(同素异构体)混合物的定量分析。

内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析,其目的是为了消除基体效应。

材料研究与测试方法复习题答案版

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复习题一、名词解释=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。

1、系统消光: 把由于FHKL2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。

3、Moseley定律:对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。

4、相对强度:同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。

5、积分强度:扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。

6、明场像暗场像:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。

7、透射电镜点分辨率、线分辨率:点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。

8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异;9、衍射衬度:由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异;10相位衬度:入射电子收到试样原子散射,得到透射波和散射波,两者振幅接近,强度差很小,两者之间引入相位差,使得透射波和合成波振幅产生较大差异,从而产生衬度。

11像差:从物面上一点散射出的电子束,不一定全部聚焦在一点,或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面,结果图像模糊不清,或者原物的几何形状不完全相似,这种现象称为像差球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的像散:由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差色差:由于成像电子的波长(或能量)不同而引起的一种像差12、透镜景深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,物平面可沿透镜轴移动的距离13、透镜焦深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,像平面可沿透镜轴移动的距离14、电子衍射:电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时,被晶体中原子散射,各散射电子波之间产生互相干涉现象。

它满足劳厄方程或布拉格方程,并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度,λ为入射电子束波长,R是透射斑点与衍射斑点间的距离。

材料分析测试方法部分习题答案黄新民

材料分析测试方法部分习题答案黄新民

材料分析测试方法课后习题答案1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。

X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。

X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。

X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。

最内层能量最低,向外能量依次增加。

根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。

由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以Kß的能量大于Ka的能量,Ka能量大于La的能量。

因此在不考虑能量损失的情况下:(1)CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)(2)CuKß能激发CuKa荧光辐射;(Kß>Ka)(3)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”?答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

材料研究方法课后习题与答案

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材料研究方法课后习题答案第一章绪论1. 材料时如何分类的?材料的结构层次有哪些?答:材料按化学组成和结构分:金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料材料的结构层次有:微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。

2.材料研究的主要任务和对象是什么?有哪些相应的研究方法?答:任务:研究、制造和合理使用各类材料。

研究对象:材料的组成、结构和性能。

研究方法:图像分析法、非图形分析法:衍射法、成分谱分析。

成分谱分析法:光谱、色谱、热谱等;光谱包括:紫外、红外、拉曼、荧光;色谱包括:气相、液相、凝胶色谱等;热谱包括:DSC、DTA等。

3.材料研究方法是如何分类的?如何理解现代研究方法的重要性?答:按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图形分析法;按工作原理,前者为显微术,后者为衍射法和成分谱分析。

重要性:1)理论:新材料的结构鉴定分析;2)实际应用需要:配方剖析、质量控制、事故分析等。

第二章光学显微分析1.区分晶体的颜色、多色性及吸收性,为何非均质体矿物晶体具有多色性?答:颜色:晶体对白光中七色光波选择吸收的结果。

多色性:由于光波和晶体中的振动方向不同,使晶体颜色发生改变的现象。

吸收性:颜色深浅发生改变的现象称为吸收性。

光波射入非均质矿物晶体时,振动方向是不同的,折射率也是不同的,因此体现了多色性。

2.什么是贝克线?其移动规律如何?有什么作用?答:在两个折射率不同的物质接触处,可以看到比较黑暗的边缘,称为晶体的轮廓。

在轮廓附近可以看到一条比较明亮的细线,当升降镜筒时,亮线发生移动,这条较亮的细线称为贝克线。

移动规律:提升镜筒,贝克线向折射率答的介质移动。

作用:根据贝克线的移动规律,比较相邻两晶体折射率的相对大小。

3.什么是晶体的糙面、突起、闪突起?决定晶体糙面和突起等级的因素是什么?答:糙面:在单偏光镜下观察晶体表面时,可发现某些晶体表面较为光滑,某些晶体表面显得粗糙呈麻点状,好像粗糙皮革一样这种现象称为糙面。

材料研究方法课后题答案.docx

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第]章1、 材'料是如何分类的?材料的结构层次有哪些?答:材料按化学组成和结构分为:金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料:按性能特征分为:结构材料、功能材料;按川途分为:建筑材料、航空材料、电子材料、半导体材料、生物材料、医川材料。

材料的结构层次有:微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。

2、 材料研究的主要任务和对象是什么,有哪些相应的研究方法?答:任务:材料研究应着垂于探索制备过程前后和使川过程中的物质变化规律,也就是在此基础上探明材料的 组成(结构)、合成(工艺过程)、性能和效能及其Z 间的相互关系,或者说找出经一定工艺流程获得的材料的组 成(结构)对于材料性能与川途的影响规律,以达到对材料优化设计的口的,从而将经验性工艺逐步纳入材料科 学与工程的轨道.研究对象和相应方法见书第三页表格。

3、 材料研究方法是如何分类的?如何理解现代研究方法的重要性?答:按研究仪器测试的信息形式分为图像分析法和非图像分析法;按工作原理,前者为显微术,后者为衍 射法和成分谱分析。

第2章1、简述现代材料研究的主X 射线实验方法在材料研究屮有那些主要应川? 答:现代材料研究的主X 射线实验方法在材料研究中主要佇以下儿种应丿山(1) X 射线物相定性分析:用于确定物质中的物相组成(2) X 射线物相定量分析:用于测定某物相在物质中的含量(3) X 射线晶体结构分析:用于推断测定晶体的结构 2、试推导Bragg 方程,并对方程中的主要参数的范围确定进行讨论. 答:见书第97页。

1 X 射线衍射试'验主要有那些方法,他们各有哪些应用,方法及研究对象.答:方法及样晶的制备简单,所以,在科学研究和实际生产中的应川不可缺少;而劳厄法和转晶法主要应川于单晶 体的研究,特别是在晶体结构的分析中必不可少,在某种场合下是无法替代的。

第3章1、如何提高显微镜分辨本领,电子透镜的分辨本领受哪些条件的限制?答:分辨木领:指显微镜能分辨的样需上两点间的最小距离;以物镜的分辨木领来定义显微镜的分辨木领。

材料分析测试方法练习与答案

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第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B)A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称(A )A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。

()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。

()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。

()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电子、热、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束,具有波粒二象性性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。

习题1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

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材料研究与测试方法复习题答案版复习题一、名词解释1、系统消光: 把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。

2、X射线衍射方向: 是两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。

3、Moseley定律:对于一定线性系的某条谱线而言其波长与原子序数平方近似成反比关系。

4、相对强度:同一衍射图中各个衍射线的绝对强度的比值。

5、积分强度:扣除背影强度后衍射峰下的累积强度。

6、明场像暗场像:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。

7、透射电镜点分辨率、线分辨率:点分辨率表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。

8、厚度衬度:由于试样各部分的密度(或原子序数)和厚度不同形成的透射强度的差异;9、衍射衬度:由于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同形成的衍射强度的差异;10相位衬度:入射电子收到试样原子散射,得到透射波和散射波,两者振幅接近,强度差很小,两者之间引入相位差,使得透射波和合成波振幅产生较大差异,从而产生衬度。

11像差:从物面上一点散射出的电子束,不一定全部聚焦在一点,或者物面上的各点并不按比例成像于同一平面,结果图像模糊不清,或者原物的几何形状不完全相似,这种现象称为像差球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的汇聚能力不同造成的像散:由于透镜磁场不是理想的旋转对称磁场而引起的像差色差:由于成像电子的波长(或能量)不同而引起的一种像差12、透镜景深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,物平面可沿透镜轴移动的距离13、透镜焦深:在不影响透镜成像分辨本领的前提下,像平面可沿透镜轴移动的距离14、电子衍射:电子衍射是指当一定能量的电子束落到晶体上时,被晶体中原子散射,各散射电子波之间产生互相干涉现象。

它满足劳厄方程或布拉格方程,并满足电子衍射的基本公式Lλ=Rd L是相机长度,λ为入射电子束波长,R是透射斑点与衍射斑点间的距离。

15、二次电子:二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子。

含量变化的特征X射线强度沿试样扫描线的分布。

面扫描分析:电子束在样品表面作光栅扫描时,得到该元素的面分布图像。

二、简答题1、X射线谱有哪两种基本类型?各自的含义是什么?两种类型:连续X射线谱和特征X射线谱连续X射线谱:指X射线管中发出的一部分包含各种波长的光的光谱。

从管中释放的电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同,绝大多数电子要经历多次碰撞,产生能量各不相同的辐射,因此出现连续X射线谱特征X射线谱:也称标识X射线谱,它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的,这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk(激发电压)时才能产生,而这种谱线的波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只取决于阳极材料,不同金属制成的阳极将发出不同波长的谱线,并称为特征X射线谱2、X射线是怎么产生的?连续X射线谱有何特点?热阴极上的灯丝被通电加热至高温时,产生大量的热电子,这些电子在阴阳极间的高压作用下被加速,以极快速度撞向阳极,由于电子的运动突然受阻,其动能部分转变为辐射能,以X射线的形式放出,产生X射线。

连续X射线谱:具有从某一个最短波长(短波极限)开始的连续的各种波长的X射线。

它的强度随管电压V、管电流i和阳极材料原子序数Z的变化而变化。

3、3.何谓Kα射线?何谓Kβ射线?这两种射线中哪种射线强度大?哪种射线波长短?X射线衍射用的是哪种射线?为什么Kα射线中包含Kα1和Kα2?Kα是L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,Kβ射线是M壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线;Kα比Kβ强度大,因为L层电子跳入K层空位的几率比M 层电子跳入K层空位的几率大;Kβ波长短;X射线衍射用的是Kα射线;Kα射线是由Kα1和Kα2组成,它们分别是电子从L3和L2子能级跳入K层空位时产生的。

4、晶体对X射线的散射包括哪两类?四种基本类型的空间点阵是什么?晶体对X射线的散射有相干散射和不相干散射。

简单立方、体心立方、面心立方、底心立方。

5、结构因子的概念结构因子的绝对值为一个晶胞的想干散射振幅与一个电子的想干散射振幅的比值。

结构因子只与原子的种类,数目和在晶胞中的位置有关,而不受晶胞形状和大小的影响。

6、布拉格方程的表达式、阐明的问题及所讨论的问题?布拉格方程:2dsinθ=nλd为晶面间距,θ为入射束与反射面的夹角,λ为X射线的波长,n为衍射级数。

讨论:1、sinθ=nλ/2d 由sinθ≤1,得到nλ≤2d,n最小值为1,因而λ≤2d。

说明X射线的波长必须小于晶面间距的二倍,才能产生衍射现象;2、由nλ≤2d,得到d≥λ/2,因而只有那些晶面间距大于入射X射线波长一半的晶面才能发生衍射;(d hkl/n)*sinθ=λ,令d hkl/n=d HKL,则2d HKL sinθ=λ,得到d HKL=d hkl/n,因而把(hkl)晶面的n级反射看成为与(hkl)晶面平行,面间距为d HKL=d hkl/n的晶面的一级反射。

3、原子面对X射线的衍射并不是任意的,而是具有选择性的。

4、一种晶体结构对应独特的衍射花样。

7、晶体使X射线产生衍射的充分条件是什么?何谓系统消光?充分条件是同时满足布拉格方程和F HKL≠0.系统消光:把由于F HKL=0而使衍射线有规律消失的现象称为系统消光。

8、粉晶X射线衍射卡片(JCPDS或PDF卡片)检索手册的基本类型有哪几种?字母索引:按物质英文名称的字母顺序哈那瓦尔特索引:8条强线按d值相对强度递减顺序排列芬克索引:8条最强线以按d值递减顺序排列9、在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时,应特别注意优先考虑的问题有哪些?衍射仪用粉末试样的粒度是多少?(1)d值比相对强度更为重要,核对时d值必须相当符合,一般只能在小数点后第二位有分歧;(2)重视小角度区域的衍射线,即低角度的d值比高角度的d值更重要;(3)强线比弱线重要;(4)特征线(即不与其它线重叠的线)重要;(5)结合其它信息,如成份、热处理过程等等;(6)借助其它分析测试方法共同表征。

优先考虑小角度区域的衍射线,强线及特征线。

粉末粒度是10~40μm.10、电子束与物质相互作用可以获得哪些信息?a,透射电子b,二次电子c,背散射电子d,特征X射线e,阴极荧光f,俄歇电子g,吸收电子11、扫描电镜的原理?扫描电镜的放大倍数是如何定义的?原理:电子枪发射电子,经会聚称为微细电子束,在扫描线圈驱动下,在试样表面扫描,于试样相互作用,产生二次电子,二次电子信号被探测器收集转换为电讯号,经视频放大后,输入到显像管,得到反映试样表面的二次电子像。

扫描电镜的放大倍数:电子束在荧光屏上扫描振幅与入射电子束在样品表面的扫描振幅之比12、简述电子透镜像差及产生的原因?a,球差——由于电磁透镜近轴区和远轴区对电子束汇聚能力不同引起。

b,色差——由于成像电子波长不同引起。

c,轴上像散——由于透镜磁场不是理想旋转对称磁场引起。

d,畸变13、透射电子显微图象包括哪几种类型?相位衬度、质厚衬度、衍射衬度14、散射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来观察什么?散射衬度也称为质厚衬度,它是指穿过样品且散射角度小的那些电子即弹性散射所形成的衬度,散射衬度与样品的密度、原子序数、厚度等因素有关。

这种图像主要用来观察非晶试样和复形膜样品所成图像。

15、衍射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来观察什么?衍射衬度是由晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。

根据衍射衬度原理形成的电子图像称为衍射衬度像。

利用这种图像可观察晶体缺陷,如位错、层错等。

16、何谓明场象?何谓暗场象?中心暗场像与偏心暗场像哪个分辨率高?明场象是指用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗象,无衍射的为明象。

暗场像指用物镜光栏挡去透射束及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像。

因为偏心暗场像衍射束偏离光轴,暗场像朝一个方向拉长,分辨率低;中心暗场像无畸变,分辨率高。

17、何谓二次电子?扫描电镜中二次电子象的衬度与什么因素有关?最适宜研究什么?二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子,二次电子的衬度与两个因素有关:(1)入射电子的能量,入射电子能量在2-3KW时,二次电子发射系数达到最大,衬度明显(2)入射电子束在试样表面的倾斜角度,因为δ(θ)=δ0/cosθ,当倾斜角度增加时,二次电子发射系数增大,衬度也明显。

二次电子像也最适宜观察试样的表面形貌。

18、何背散射电子?扫描电镜中背散射电子象的衬度与什么因素有关?最适宜研究什么?背散射电子是指入射电子与试样的相互作用经多次散射后,重新逸出试样表面的电子。

背散射电子衬度与试样的形貌及成分有关,因为背散射电子的产额随试样原子序数的增大而增大,其来自试样表面几百纳米的深度范围。

背散射电子衬度最适宜观察试样的平均原子序数兼形貌。

19、什么是X射线的能谱分析和波谱分析?其方法有几种?用聚焦电子束照射在试样表面待测微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长或能量的特征X射线,用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱,若利用特征X射线的波长不同来展谱,即为波谱分析,若利用特征X射线的能量不同来展谱,即为能谱谱分析。

分析方法:定点分析、线扫描分析、面扫描分析20、在差热分析曲线上一个峰谷的温度主要用什么来表征?哪个受实验条件影响小?主要用外推始点温度和峰值温度来表征。

其中外推始点温度受实验条件影响小。

21、如何确定外推始点温度及为何用外推始点作为DTA曲线的反应起始温度?曲线开始偏离基线那点的切线与曲线最大斜率的切线的交点。

该交点是最接近热力学的平衡温度。

22、影响差热曲线主要因素有哪些?内因:晶体结构、阳离子电负性、离子半径及电价、氢氧离子浓度。

外因:加热速度、试样形状、称量及装填、气氛和压力、试样粒度。

23、分子振动吸收红外辐射必须满足哪些条件?拉曼散射产生的条件?红外吸收:(1)振动频率与红外光谱段某频率相等;(2)振动分子有偶极矩变化。

拉曼散射:(1)分子中某个基团的振动频率与单色光频率一致(2)分子的极化率改变。

24、红外吸收光谱的产生,主要是由于分子中什么能级的跃迁?振动或转动能级25、H2O和CO2分子中有几种振动形式?红外光谱分析步骤及石膏红外谱图分析?H2O:对称伸缩振动、非对称伸缩振动、剪式弯曲振动CO2:对称伸缩振动、非对称伸缩振动、弯曲振动26、红外光谱与拉曼光谱的比较?相同点:两光谱都属于分子振动光谱不同点:○1、两光谱的光源不同:拉曼光谱用单色光很强的激光辐射,频率在可见光范围;红外光谱用的是红外光辐射源,波长大于1000nm的多色光○2、产生机理不同:拉曼光谱是分子对激光的散射,强度由分子极化率决定,其适用于研究同原子的非极性键振动,红外光谱是分子对红外光的吸收,强度由分子偶极矩决定,其适用于研究不同原子的极性键的振动。

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