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MSA测量系统(三性)分析报告-精华

MSA测量系统(三性)分析报告-精华

JT/C-7.6J-003
1 目的 為了配備並使用與要求的測量能力相一致的測量儀器,通過適當的統
計技術,對測量系統的五個特性進行分析,使測量結果的不確定度已知, 為準確評定產品提高品質保證。 2 適用範圍
適用於公司使用的所有測量儀器的穩定性、偏移和線性的測量分析。 3 職責 3.1 檢驗科負責確定過程所需要的測量儀器,並定期校準和檢定,對使用的 測量系統分析,對存在的異常情況及時採取糾正預防措施。 3.2 工會負責根據需要組織和安排測量系統技術應用的培訓。 3.3 生產科配合對測量儀器進行測量系統分析。 4 術語 4.1 偏倚
的特殊原因影響。
6.2 偏移的分析研究
6.2.1 進行研究-控制圖法
1)如果均值-極差圖用於測量穩定性,其
偏倚
據可以用來進行偏倚評價。在偏倚被評價之前,
控制圖分析應該表明測量系統處於穩定狀態。
2)取得一個樣件,並且建立其與可追溯到
相關標準的參考值。如果不能得到這個參考值,
選擇一個落在生產測量範圍中間的的生產件,
H0:b=0 截距(偏倚)=0
如果下式成立,則不能被否定
b
[√ ] t =
1 gm
+
x2
Σ(xi—x)2
s
≤t gm——2,1——a/2
範例-線性
某工廠質檢員對某過程引進了一套新測量系統。作為 PPAP 的一部分,需要對 測量系統的線性進行評價。根據已檔化的過程變差描述,在測量系統的全部工作 量程範圍內選擇了 5 個零件。通過對每個零件進行全尺寸檢驗,從而確定它們的 參考值。然後由主要操作者對每個零件測量 12 次。在分析零件是隨機抽取的。
再現性是由不同的評價人,採用相同的測量儀器,測量同一零件的同 一特性的測量平均值的變差。 5 測量系統分析作業準備 5.1 確定測量過程需要使用的測量儀器以及測量系統分析的範圍。

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测量系统分析参考手册目录第一章通用测量系统指南 (1)第一章一第一节 (2)引言、目的和术语 (2)测量数据的质量 (2)目的 (3)术语 (3)术语总结 (4)真值 (9)第一章—第二节 (10)测量过程 (10)测量系统的统计特性 (11)变差来源 (13)测量系统变异性的影响 (15)对决策的影响 (15)对产品决策的影响 (16)对过程决策的影响 (17)新过程的接受 (18)过程设定/控制(漏斗实验) (20)第一章—第三节 (22)测量战略和策划 (22)复杂性 (22)确定测量过程的目的 (22)测量寿命周期 (23)测量过程设计选择的准则 (23)研究不同测量过程方法 (24)开发和设计概念以及建议 (24)第一章—第四节 (25)测量资源的开发 (25)基准协调 (26)先决条件和假设 (26)量具来源选择过程 (27)详细的工程概念 (27)预防性维护的考虑 (27)规范 (28)评估报价 (28)可交付的文件 (29)在供应商处的资格 (30)装运 (31)在顾客处的资格 (31)文件交付 (31)测量系统开发检查表的建议要素 (33)第一章—第五节 (37)测量系统变差的类型 (37)定义及潜在的变差源 (38)测量过程变差 (45)位置变差 (45)宽度变差 (49)测量系统变差 (53)注释 (55)第一章—第六节 (57)测量不确定度 (57)总则 (57)测量的不确定度和MSA(测量系统分析) (57)测量的溯源性 (58)ISO表述测量中不确定度的指南 (58)第一章—第七节 (59)测量问题分析 (59)第二章测量系统评定的通用概念 (61)第二章—第一节 (62)引言 (62)第二章—第二节 (63)选择/制定试验程序 (63)第二章—第三节 (65)测量系统研究的准备 (65)第二章—第四节 (68)结果分析 (68)第三章- 简单测量推荐的实践 (69)第三章- 第一节 (70)试验程序示例 (70)第三章- 第二节 (71)计量型测量系统研究- 指南 (71)确定稳定性的指南 (71)确定偏倚的指南- 独立样本法 (73)确定偏倚的指南- 控制图样本法 (76)确定线性的指南 (78)确定重复性和再现性的指南 (84)极差法 (85)均值极差法 (86)均值图 (89)极差图 (90)链图 (91)散点图 (92)振荡图 (93)误差图 (93)归一化直方图 (94)比较图 (96)数值的计算 (97)数据结果的分析 (101)方差分析法(ANOV A) (103)随机化及和统计独立性 (103)第三章- 第三节 (109)计数型测量系统研究 (109)风险分析法 (109)解析法 (119)第四章- 复杂测量系统实践 (126)第四章- 第一节 (127)复杂的或非重复的测量系统的实践 (127)第四章- 第二节 (129)稳定性研究 (129)S1:单个零件,每个循环单一测量 (129)S2:n≥3个零件,每循环单一测量 (130)S3:从稳定过程中大量取样 (132)S4:分割样本(通用),每循环单一样本 (133)S5:试验台 (133)第四章- 第三节 (135)变异性研究 (135)V1:标准GRR研究 (135)V2:p≥2台仪器的多重读数 (135)V3:平分样本(m=2) (136)V4:分割样本(通用), (136)V5:与V1一样用于稳定化的零件 (137)V6:时间序列分析 (137)V7:线性分析 (138)V8:特性(性能)随时间的衰变 (138)V9—V2:同时用于多重读数和P≥3台仪器 (138)第五章- 其他测量概念 (139)第五章- 第一节 (140)量化过度的零件内变差的影响 (140)第五章- 第二节 (141)均值极差法-附加处理 (141)第五章–第三节 (148)量具性能曲线 (148)第五章–第四节 (154)通过多次读数减少变差 (154)第五章–第五节 (156)GRR的合并标准偏差法 (156)附录 (164)附录A (165)附录B (170)GRR对能力指数Cp的影响 (170)公式 (170)分析 (170)图形分析 (170)附录C (173)d2*表 (173)附录D (174)量具R(重复性)的研究 (174)附录E (175)使用误差修正术语替代PV计算 (175)附录F (176)P.I.S.M.O.E.A误差模型 (176)术语 (179)样表 (184)M.S.A手册用户反馈过程 (187)序号题目页码1控制原理和驱动兴趣点 (15)2偏倚研究数据 (75)3偏倚研究–偏倚研究的分析 (76)4偏倚研究- 偏听偏信倚的稳定性研究分析 (78)5线性研究数据 (81)6线性研究- 中间结果 (92)7量具研究(极差法) (85)8方差(ANOV A)表 (106)9方差分析%变差和贡献 (106)10ANOV A法和均值极差法的比较 (107)11ANOV A法报告 (107)12计数型研究数据表 (111)13测量系统示例 (127)14基于测量系统形式的方法 (128)15合并标准偏差分析数据表 (160)16方差分量的估算 (165)17 5.15σ分布 (166)18方差分析(ANOV A) (167)19ANOV A结果列表(零件a&b) (168)20观测和实际Cp的对比 (172)序号题目页码1长度测量溯源链的示例 (8)2测量系统变异性–因果图 (14)3不同标准之间的关系 (40)4分辨力 (41)5过程分布的分组数量(ndc)对控制和分析活动的影响 (42)6过程控制图 (44)7测量过程变差的特性 (45)8偏倚和重复性的关系 (56)9稳定性的控制图分析 (72)10偏倚研究–偏倚研究直方图 (75)11线性研究–作图分析 (82)12量具重复性和再现性数据收集表 (88)13均值图–“层叠的” (89)14均值图–“不层叠的” (90)15极差图–“层叠的” (91)16极差图–“不层叠的” (91)17零件链图 (92)18散点图 (92)19振荡图 (93)20误差图 (94)21归一化直方图 (95)22均值- 基准值图 (96)23比较图 (96)24完整的GR&R数据收集表 (99)25GR&R报告 (100)26交互作用 (105)27残留图 (105)28过程举例 (110)29灰色区域与测量系统有联系 (110)30具有Pp=Ppk=1.33的过程 (116)31绘制在正态概率纸上的计数型量具性能曲线 (124)32计数型量具性能曲线 (125)33(33 a & b)测量评价控制图 ......................................................................................... 144&145 34(34 a & b)评价测量过程的控制图法的计算 ............................................................. 146&147 35无误差的量具性能曲线. (151)36量具性能曲线–示例 (152)37绘制在正态概率纸上的量具性能曲线 (153)38(38a, b & c)合成标准偏差研究图形分析...............................................................159,162,163 39观测的与实际的Cp(基于过程) . (171)40观测Cp与实际Cp(基于公差) (172)第一章通用测量系统指南第一章- 第一节引言、目的和术语测量数据的使用比以前更频繁、更广泛。

MSA测量系统分析参考手册(doc 204页)

MSA测量系统分析参考手册(doc 204页)

内部资料严禁翻印测量系统分析参考手册第三版1990年2月第一版1995年2月第一版;1998年6月第二次印刷2002年3月第三版©1990©1995©2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有测量系统分析参考手册第三版1990年2月第一版1995年2月第一版;1998年6月第二次印刷2002年3月第三版©1990©1995©2002版权由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有本参考手册是在美国质量协会(ASQ)及汽车工业行动集团(AIAG)主持下,由戴姆勒克莱斯勒、福特和通用汽车公司供方质量要求特别工作组认可的测量系统分析(MSA)工作组编写,负责第三版的工作组成员是David Benham(戴姆勒克莱斯勒)、Michael Down (通用)、Peter Cvetkovski(福特),以及Gregory Gruska(第三代公司)、Tripp Martin(FM 公司)、以及Steve Stahley(SRS技术服务)。

过去,克莱斯勒、福特和通用汽车公司各有其用于保证供方产品一致性的指南和格式。

这些指南的差异导致了对供方资源的额外要求。

为了改善这种状况,特别工作组被特许将克莱斯勒、福特和通用汽车公司所使用的参考手册、程序、报告格式有及技术术语进行标准化处理。

因此,克莱斯勒、福特和通用汽车公司同意在1990年编写并以通过AIAG分发MSA手册。

第一版发行后,供方反应良好,并根据实际应用经验,提出了一些修改建议,这些建议都已纳入第二版和第三版。

由克莱斯勒、福特和通用汽车公司批准并承认的本手册是QS-9000的补充参考文件。

本手册对测量系统分析进行了介绍,它并不限制与特殊生产过程或特殊商品相适应的分析方法的发展。

尽管这些指南非覆盖测量系统通常出现的情况,但可能还有一些问题没有考虑到。

这些问题应直接向顾客的供方质量质量保证(SQA)部门提出。

MSA手册_(新)

MSA手册_(新)
5
● 再现性 √ 由不同的评价人使用相同的量具,测量一个零 件的一个特性的测量平均值的变差。 √ 在对产品和过程进行鉴定时,误差可能是评价 人、环境(时间)或方法 √ 通常指 A.V- 评价人变差(appraiser variation) √ 系统间(条件)误差 √ 在 ASTM E456-96 包括:重复性、实验室、环 境及评价人影响
控制图法,方差分析(ANOVA),回归分析法
替代的方法 白皮书---可上网查询,网址

章节 三
三 四
三、四
三、四

注:关于 GRR 标准差的使用
2
目录
第一章 测量系统总指南 第 A 节 引言、目的及术语
引言 目的 术语 第 B 节 测量过程 测量系统 测量系统变差的影响 第 C 节 测量策划和计划
灵敏度 √ 可以导致测量有用的输出信号的最小输入 √ 通常被描述为一种测量单元 ● 参考值(reference value) √ 某一个物品的可接受数的值 √ 需要一个可操作的定义 √ 常被用来替代真值使用 ● 真值(true value ) √ 某一物品的真实数值 √ 不可知且无法知道的
1 见第一章第五节术语定义和讨论
● 灵敏度(sensitivity)
√ 能导致可探测到的输出信号的最小输入
√ 测量系统对被测特性变化的感应度
√ 取决于量具设计(分辨力)、固有质量(OEM)
使用期间的维修,以及测量仪器与标准的操作
情况

通常被描述为测量单元
● 一致性(consistency)
√ 随时间重复性变化的程度 √ 一致的测量过程是在宽度(变差)方面处于统
术语汇总 1
标准(standard)
● 用于比较的可接受偏倚 ● 验收标准 ● 一已知的值,在不确定度(uncertainty)的指南范

MSA培训资料

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观测平均值
14
为你量身定做的培训教材
造成过份偏倚的可能原因
仪器需要校准 仪器、设备或夹紧装臵的 磨损 磨损或损坏的基准,基准 出现误差 校准不当或调整基准的使 用不当 仪器质量差─设计或一致 性不好 线性误差 应用错误的量具 不同的测量方法─设臵、 安装、夹紧、技术 测量错误的特性 量具或零件的变形 环境─温度、湿度、振动 、清洁的影响 违背假定、在应用常量上 出错 应用─零件尺寸、位臵、 操作者技能、疲劳、观察 错误
5/3
8 9 10 11 12
10/3
15/4
25/3
9/4
20 21 22 23 24
10/4
1
2
3
4
5
6
7
13
14
15
16
17
18
19
25
-4 -5 -4 -3 -3 -1 -3 -3 -3 -3 -5 -4 -2 -2 -4 -4 -2 -4 -5 -5 -5 -3 -3 -4 -3 -3 -2 -6 -3 -2 -3 -4 -4 -3 -5 -1 -2 -2 -4 -3 -1 -3 -6 -5 -1 -3 -4 -5 -5 -5 -4 -1 -3 -3 -4 -2 -5 -1 -5 -5 -5 -1 -5 -5 -5 -2 -5 -5 -3 0 -4 -4 -4 -3 -3 -3 -1 -5 -4 -1 -6 -5 -3 -5 -3 -2 -3 -1 -3 -3 -3 -4 -1 -4 -3 -2 -5 -1 -3 -2 -5 -6 -3 -4 -5 -4 -4 -5 -2 -4 -3 -2 -3 -4 -4 -2 -3 -4 -3 -2 -6 -3 -2 -2 -4

MSA教材最新版(共116张)

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■确定或否认过程是以稳定的方式操作并符合顾客 规定的目标。这种检查行为本身就是过程。
第12页,共116页。
12
6.测量系统的统计特性
1)足够的分辨率和灵敏度。 2)是统计受控制的。 3)产品控制,变异性小于
公差。
4)过程(guòchéng)控制:
▲显示有效的分辨率.
▲变异性小于制造过程变差.
第13页,共116页。
7.6.1测量系统分析
■为分析在各种测量和试验设备系统测量结果存在的变差,应 进行适当统计研究。
■此要求必须适用于在控制计划中提出的测量系统。 ■所用的分析方法及接收准则,应符合与顾客关于测量系统分
析的参考手册的要求.。 ■如果得到(dé dào)顾客批准,也可采用其它分析方法和接收准则。 PPAP手册中规定: ■对新的或进的量具测量和试验设备应参考MSA手册进行变差
需改善
•如果测量的方式不对,那么好的结果可能被测为坏的结果,坏的结果也可能被 测为好的结果,此时便不能得到真正的产品或过程特性。
9
第9页,共116页。
4.测量(cèliáng)数据的质量
■数据的质量:取决于从处于稳定条件下进行操作的测 量系统中,多次测量的统计特性.
■数据质量最通用的统计特性: ▲准确度 ( Accuracy ) X→μ或称偏移(BIAS): 量测实际值与工件真值间之差异,是指数据相对基准(标准) 值的位置。
7
第7页,共116页。
2.术语
■测量(cèliáng)定义为赋值(或数)给具体事物以表示它们之间
关于特定性的关系。这个定义由美国标准局(NBS)C. cccEisenhart1963)首次提出。赋值过程定义为测量过ccc
程,而赋予的值定义为测量值。

MSA培训教材_2013最新版

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测量系统变差
材料
操作者
培训
样本采集 习惯
样本准备
人机工程
方法
检验方法
视力
标准
技巧
分辨率
重复性 偏倚
校准
线性
照明
工具
环境
震动
温度
湿度
测量
这是测量系统的一些 变差,你还能够想起 其他的吗?
MSA – 测量战略和策划
出发点
APQP的设计阶段
• 精通测量系统的工程师有责任决定检验和试 验并且指定合适的测量设备
10
10
解:1 偏倚% 0.05 100% 7.1%
2
0.7
3 判断:7.1%<10% 结论:该测量系统的偏倚可以接收。
重复性与再现性(均值极差法)
2、重复性(Repeatability)
测定步骤:
①考察测量过程是否稳定?选几个零件,每零件重复测量m次, 建立R图。观察稳态受控?若判为失控,寻找原因、定纠正措施使 R图进入稳态。
定义 – 稳定性
位置变差
稳定性(或漂移),是测量系统在某持续时间内测
量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值的总变

• 偏移随时间的变化
稳定性
• 一个稳定的测量过
时间2
程是关于位置的统
计受控
时间1
定义 –重复性
• 重复性定义:同一评价人,采用 同一测量仪器,多次测量同一零 件的同一特性时获得的测量值变 差
3
K2 0.7071 0.5231
1000.22963.1.14610
20.04%
n = 零件数 r = 实验次数 重复性和再现性(GRR)
GRR EV 2 AV 2

MSA测量系统分析课件(PPT 59张)

MSA测量系统分析课件(PPT 59张)

17.02.2019
24
MSA
重復性分析---示例
從生產過程中選取5件樣品。選擇兩名經常進行該測量的評價人參與研究。 每一位評價人對每個零件測量三次,測量結果記錄在數據表格上(見表1) 。
零件 試驗 1 2 3 評價人1 1 2 3 4 5 評價人2 1 2 3 4 5
217 220 216 216 216 218
217 214 216 216 212 219 216 212 220
216 216 216 219 216 215 220 220 216
216 220 212 220 212 220
X 平均值: 216.3 218.0 216.3 212.7 218.3 216.3 極差: 1.0 4.0 1.0 2.0 4.0
的值確定的。一般地,斜率越低,量具線性越好;相的斜率越大,量具
線性越差。
如果測量系統為非線性,查找這些可能原因:
1)在工作範圍上限和下限內儀器沒有正確校準; 2)最小或最大標準值的誤差; 3)磨損的儀器; 4)儀器固有的設計特性。
17.02.2019
23
MSA
重復性分析(Repeatability)再現性
重復性(再現性)
測量過程的重復性意味著測量系統自身的變異是一致的。儀器自
身以及零件在儀器中位置變化導致的測量變差是重復性誤差的兩個一 般原因。由于子組重復測量的極差代表了這兩種變差,極差圖將顯示 測量過程的一致性。如果極差圖失控,通常測量過程的一致性有問題 。應調查識別為失控的點的不一致性原因加以糾正。唯一的例外是前 面討論過的當測量系統分辨率不足時出現的情況。 如果極差圖受控,則儀器變差及測量過程在研究期間是一致的。
n
b=Σ
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Cascadable Silicon Bipolar MMIC␣Amplifiers Technical Data
Features
•Cascadable 50 Ω Gain Block • 3 dB Bandwidth:DC to 1.2 GHz •High Gain:
18.5 dB Typical at 0.5 GHz •Unconditionally Stable (k>1)•Cost Effective Ceramic Microstrip Package
MSA-0135, -0136
35 micro-X Package [1]
Description
The MSA-0135 is a high perfor-mance silicon bipolar Monolithic Microwave Integrated Circuit
(MMIC) housed in a cost effective,microstrip package. This MMIC is designed for use as a general
Typical Biasing Configuration
R
V CC > 7 V
IN
OUT
Note:
1.Short leaded 36 package available upon request.
purpose 50 Ω gain block. Typical
applications include narrow and broad band IF and RF amplifiers in industrial and military applica-tions.
The MSA-series is fabricated using HP’s 10 GHz f T , 25␣GHz f MAX ,silicon bipolar MMIC process which uses nitride self-alignment,ion implantation, and gold metalli-zation to achieve excellent performance, uniformity and reliability. The use of an external bias resistor for temperature and current stability also allows bias flexibility.
Available in cut lead version (package 36) as MSA-0136.
MSA-0135, -0136 Absolute Maximum Ratings
Parameter
Absolute Maximum [1]
Device Current
40 mA Power Dissipation [2,3]200 mW RF Input Power
+13 dBm Junction Temperature 200°C Storage Temperature
–65 to 200°C
Thermal Resistance [2,5]:
θjc = 150°C/W
Notes:
1.Permanent damage may occur if any of these limits are exceeded.
2.T CASE = 25°C.
3.Derate at 6.7 mW/°C for T C > 170°C.
4.Storage above +150°C may tarnish the leads of this package making it difficult to solder into a circuit.
5.The small spot size of this technique results in a higher, though more accurate determination of θjc than do alternate methods. See MEASUREMENTS section “Thermal Resistance” for more information.
G P Power Gain (|S 21|2) f = 0.1 GHz dB 18.0
19.0∆G P Gain Flatness f = 0.1 to 0.6 GHz
dB ±0.6f 3 dB 3 dB Bandwidth GHz
1.2Input VSWR f = 0.1 to 3.0 GHz 1.3:1Output VSWR f = 0.1 to 3.0 GHz 1.3:1
NF 50 Ω Noise Figure
f = 0.5 GHz dB 5.5P 1 dB Output Power at 1 dB Gain Compression f = 0.5 GHz dBm 1.5IP 3Third Order Intercept Point f = 0.5 GHz dBm 14.0t D Group Delay f = 0.5 GHz psec 160V d Device Voltage
V 4.5
5.0 5.5
dV/dT
Device Voltage Temperature Coefficient
mV/°C
–9.0
Notes:
1.The recommended operating current range for this device is 13 to 25 mA. Typical performance as a function of current is on the following page.
MSA-0135, -0136 Electrical Specifications [1], T A = 25°C
Symbol
Parameters and Test Conditions: I d = 17 mA, Z O = 50 Ω
Units
Min.
Typ.
Max.
VSWR
MSA-0135, -0136 Typical Performance, T A = 25°C
(unless otherwise noted)
–55
–25
+25
+85
+125
P 1 d B (d B m )
G p (d B )
G p (d B )
TEMPERATURE (°C)
Figure 4. Output Power at 1 dB Gain Compression, NF and Power Gain vs.
CaseTemperature, f = 0.5 GHz, I d = 17 mA.
FREQUENCY (GHz)
Figure 6. Noise Figure vs. Frequency.
FREQUENCY (GHz)
Figure 5. Output Power at 1 dB Gain Compression vs. Frequency.
MSA-0135, -0136 Typical Scattering Parameters (Z = 50 Ω, T = 25°C, I = 17 mA)
35 micro-X Package Dimensions
DIA.
.006 ± .002
.15 ± .05。

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